TESTES DE PERFORMANCE DE IEDS ATRAVS DE

ENSAIOS UTILIZANDO MENSAGENS GOOSE (IEC61850)

Resumo

Este trabalho apresenta os resultados obtidos em diversos

testes

envolvendo

seletividade

lgica.

Implementada

atravs de lgica de contatos ou atravs de mensagens

GOOSE, a reduo do degrau de tempo que garante a
seletividade lgica e a utilizao de tecnologia nacional
para realizar todos estes testes.

Introduo
Evoluo dos IEDs e das comunicaes entre dispositivos;
Novos Mtodos, Ferramentas e Recursos;
Comunicao (IEC61850)
Crescente
Desafio
p/
Cadeia
Comissionamento e Manuteno);

de

Proteo

(Estudos,

Ferramentas de anlise esttica e dinmica para avaliaes;

IEC61850 (GOOSE)
Padronizao
Interoperabilidade
Reduo nos custos de cabeamento
Troca de Informaes via Msg GOOSE
(Generic Object Oriented Substation Event)

Objetivos
Verificar:
A diferena de tempo entre trip via CONTATO
e trip via GOOSE
A performance da seletividade lgica via
GOOSE (Busca do degrau garantido)

Seletividade Corrente x Tempo

Convencional: degrau 300 a
400ms;
(Tolerncia de Erro do Rel +
Temp. Op. Disj + Erro
Projetista + Margem de
Segurana)
No necessita de troca de
informao;
Dificuldade: Rels com nveis
de curto circuito prximos;
Tempo da Falta: Longo

0,4s

Seletividade Lgica (Bloqueio)

Lgica: Degrau menor (50 a
150ms);
Necessita de troca de
informao;
Vantagem: Rels com nveis
de curto circuito equivalentes;
Tempo de Falta: Menor,
diminuindo o esforo trmico.
Degrau Reduzido

Circuito de entrada utilizado nos testes

A idia simulada no sistema acima ilustrar uma situao de

seletividade lgica entre o rel do ramal de entrada (7UT) e os rels
dos alimentadores (7SJ-1 e 2). Os testes realizados compararam o
tempo total entre o incio da falta e o tempo de trip do rel, alm das
condies de bloqueio (por Trip) necessrias na seletividade lgica.

Parmetros utilizados no teste

Funo

Funo 51

Funo
50-1

Funo
50-2

Parmetro

Rel 1: 7UT Rel 2: 7SJ Rel 3: 7SJ

Pickup

2A

1,3A

1,3A

Dial de tempo

0,5

0,5

0,5

Curva

IEC normal
inv.

IEC normal
inv.

IEC normal
inv.

Pickup

6A

6A

6A

Tempo definido

500ms

400ms

400ms

Pickup

10A

10A

10A

Tempo definido

100ms

0s

0s

Seqncia de Testes
Realizados
1 Teste: Sistema sem Seletividade Lgica
2 Teste: Seletividade Lgica via CONTATO
3 Teste: Comparativo entre os tempos de TRIP
por CONTATO e pela msg. GOOSE
4 Teste: Seletividade Lgica via GOOSE

te
1
Te
s

Esquema do Sist. Sem Seletividade Lgica

Sistema sem comunicao

te
1
Te
s

Resposta do Sist. Sem Seletividade Lgica

Teste da Funo 50-2 injetando 15A;
IEDs sem comunicao

Tempo de atuao do 7SJ e do 7UT sem bloqueio (D=93,8ms)

te
Te
s
2

Esquema de bloqueio utilizando lgica de

contatos

Funo de bloqueio ativa;

Tempo de seletividade: 100ms

te
2
Te
s

Resposta da Seletividade Lgica via Contato

Teste da Funo 50-2 injetando 15A;
IEDs com troca de informaes via Contato

O IED 7SJ atuou e bloqueou o trip do 7UT via CONTATO

Limite Encontrado: Tempo Seletividade 100ms (GARANTIDO)

te
3
Te
s

Teste comparativo entre os tempos de TRIP

por CONTATO e pela msg. GOOSE

Teste de performance de TRIP do rel 7SJ

te
3
Te
s

Teste comparativo entre os tempos de TRIP

por CONTATO e pela msg. GOOSE
A caracterstica do IED foi comparada em todas
suas funes de sobrecorrente:
51;
50-1;
50-2; (Com dois ajustes)
Garantir que no h perda de performance da
resposta do rel via CONTATO ou via GOOSE

te
3
Te
s

51

50-1

50-2

50-2

Comparativo entre os tempos de trip

pelo contato e pelo GOOSE
Corrente
[A]

Tempo do
Contato

Tempo do
GOOSE

TContato - TGOOSE

3,0

10,0678s

10,0632s

4,67ms

5,0

4,0335s

4,0286s

4,87ms

6,0

3,3362s

3,3316s

4,60ms

7,0

438,75ms

436,32ms

2,43ms

8,5

438,74ms

433,65ms

5,09ms

10,0

436,04ms

431,10ms

4,94ms

11,0

29,66ms

24,81ms

4,84ms

12,0

24,35ms

21,02ms

3,33ms

15,0

27,79ms

24,46ms

4,33ms

18,0

28,31ms

25,00ms

3,31ms

11,0

59,16ms

54,34ms

4,82ms

12,0

59,79ms

54,76ms

5,03ms

15,0

52,20ms

46,20ms

6,00ms

18,0

58,59ms

54,16ms

4,43ms

te
3
Te
s

Comparativo entre os tempos de trip

pelo CONTATO e pelo GOOSE
Teste da Funo 50-2 injetando 15A;

Teste comparativo de tempo entre a interface de contato e

mensagem GOOSE (D=6ms)

te
4
Te
s

Teste da seletividade lgica utilizando

mensagens GOOSE

Esquema de bloqueio utilizando rede ethernet

(IEC61850 GOOSE)

te
Te
s
4

Teste da seletividade lgica utilizando

mensagens GOOSE
Degrau de 100ms, OK???
Para o degrau de 100ms, lgica aprovada.
Testes reduzindo o degrau de seletividade.
Menor degrau de seletividade GARANTIDO: 50ms.
Metade do Tempo do Degrau via Contato

te
Te
s
4

Teste da seletividade lgica utilizando

mensagens GOOSE
Teste da Funo 50-2 injetando 15A;
IEDs com troca de informaes via GOOSE

O IED 7SJ atuou e bloqueou o trip do 7UT via GOOSE

Vantagens do Sistema de seletividade

via Msg GOOSE
GOOSE: Digital, tratada diretamente pelo processador
CONTATO: Atraso relativo a sensibilizao (leitura), scan rate
A comunicao redundante (duplo anel)
Sempre em teste, oferecendo maior confiana quanto ao
bloqueio;
Simplicidade obtida para o cabeamento ethernet;

Concluses
IEC61850
Reduo do Degrau de Seletividade via GOOSE: 50ms;

Simplifica: bloqueio entre dispositivos, intertravamento e transfer

trip, lgicas entre dispositivos e outras;
Trip via GOOSE mais rpida que via CONTATO;
Oferece segurana uma vez que a comunicao est sendo
testada o tempo todo;
No se limita ao numero de entradas e sadas binrias;
Mais Informaes, Melhor controle;
Fcil expanso e Econmico;

Obrigado!
Paulo Srgio Pereira Jnior

CONPROVE
ENGENHARIA

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