UNIVERSIDADE FEDERAL DE SANTA MARIA

ESP 1045 MATERIAIS ELETRNICOS E ELTRICOS

RICHARD SIQUEIRA DA ROSA

ALGUMAS TCNICAS DE CARACTERIZAO DE MATERIAIS

Santa Maria
2017
Introduo

A caracterizao microestrutural de um material est relacionada com as

propriedades do mesmo. Uma caracterizao microestrutural desejvel envolve
a determinao da estrutura cristalina, composio qumica, quantidade,
tamanho, forma e distribuio das fases. A determinao da natureza,
quantidade (densidade) e distribuio dos defeitos cristalinos tambm , em
muitos casos, necessria. Alm disso, a orientao preferencial das fases
(textura e microtextura) e a diferena de orientao entre elas tambm tm
estreita relao com o comportamento dos materiais. As espcies presentes na
microestrutura apresentam caractersticas bastante diferenciadas e exigem um
nmero relativamente grande de tcnicas complementares para a sua
caracterizao.

Objetivo

Este relatrio busca o entendimento sobre algumas das formas de

caracterizao dos materiais, bem como a determinao de algumas de suas
propriedades relacionadas a essas caractersticas.
Desenvolvimento

A determinao da estrutura cristalina normalmente envolve a utilizao

de tcnicas de difrao, tais como difrao de raios-X, eltrons ou nutrons. A
composio qumica das fases e microrregies pode ser estudada com uma
dezena de tcnicas, sendo que as mais utilizadas so anlises de raios-X por
comprimentos de onda ou por disperso de energia, espectroscopia de eltrons
Auger e microssonda inica utilizando espectroscopia de massas. A
quantidade, tamanho, morfologia e distribuio das fases e defeitos cristalinos
so estudados com auxlio de microscopia ptica (MO), eletrnica de varredura
(MEV), eletrnica de transmisso (MET). Em menor extenso, mas em uma
faixa exclusiva de alto aumento e excelente resoluo, encontra aplicao a
microscopia de campo inico (MCI). Alm das tcnicas diretas mencionadas
acima, existem dezenas de tcnicas indiretas tais como dureza e resistividade
eltrica, que so medidas de propriedades dos materiais sensveis s
modificaes microestruturais dos mesmos.

a microscopia ptica permite a anlise de grandes reas em curto

espao de tempo, alm de ser de utilizao simples, rpida e pouco
dispendiosa;

a microscopia eletrnica de varredura, por apresentar excelente

profundidade de foco, permite a anlise com grandes aumentos de superfcies
irregulares, como superfcies de fratura;

a microscopia eletrnica de transmisso permite a anlise de defeitos e

fases internas dos materiais, como discordncias, defeitos de empilhamento e
pequenas partculas (precipitados muito finos, de dimenses nanomtricas) de
segunda fase, defeitos estes no observveis por MO ou por MEV.

a microscopia de campo inico, por apresentar excelente resoluo,

permite estudos difceis de serem realizados com as outras tcnicas, tais como
observao de defeitos puntiformes, aglomerados de tomos de soluto
("cluster") e anlise da "estrutura" de contornos e de interfaces.
 Os arranjos atmicos em slidos cristalinos podem ser descritos por uma
rede de linhas designada por rede espacial. Cada rede espacial pode ser
descrita especificando as posies atmicas numa clula unitria repetitiva.
Dependendo do comprimento dos eixos das clulas unitrias e dos ngulos
entre eles, podem identificar-se sete sistemas cristalogrficos. Nestes sete
sistemas, possvel definir, com base no arranjo dos tomos nas clulas
unitrias, um total de 14 sub-redes (clulas unitrias). As clulas unitrias das
estruturas cristalinas mais habituais nos metais so: cbica de corpo centrado
(CCC), cbica de faces centrada (CFC) e hexagonal compacta (HC) (que
uma variante compacta da estrutura hexagonal simples).

Concluso

Ao longo trabalho, entendemos algumas das caractersticas que determinam

propriedades aos materiais, como as estruturas cristalinas, bem como as
formas de determinao dessas caractersticas, atravs de microscpios e
outras ferramentas de pesquisa..