A Robustez de um Sistema de

Distribuio e a Alocao de Medidores

de Qualidade da Energia Eltrica Frente
aos Afundamentos de Tenso
Thais Reggina Kempner
kempner@usp.br

Prof. Dr. Mrio Oleskovicz

So Carlos, 20 de Maio de 2013

 ESTRUTURA

Introduo s Variaes de Tenso de Curta Durao - VTCD

Afundamentos de Tenso

Etapas de Desenvolvimento da Pesquisa

Mtodo das Posies de Falta

A Robustez de um SD: Aplicao e resultados

A Alocao de Medidores de QEE

Concluses

2
 INTRODUO S VTCD
Localizao do defeito + condies do sistema = afundamento ou
uma elevao, ou ainda, a completa perda da tenso (interrupo).
Dependendo da sua durao, podem ser designadas como:
 instantneas (0,5 30 ciclos);
 momentneas (30 ciclos 3 s); e
 temporrias (3 s 1min).
So causadas por:
 condies de defeitos (curtos-circuitos);
 partida ou parada de grandes cargas;
 falhas de equipamentos; ou
 manobras de rede. 3
 AFUNDAMENTOS DE TENSO

Dentre todos os distrbios de QEE os afundamentos de tenso

merecem ateno especial, pois embora menos severos, so mais
frequentes, ocasionando maiores danos ao sistema.

Determinar a intensidade dos afundamentos de tenso de vital

importncia para estabelecer a influncia e a propagao deste
distrbio sobre todas as barras do sistema de distribuio.

Como este distrbio aleatrio e imprevisvel, seria necessrio

um longo e oneroso perodo para sua monitorao. Neste
sentido, advm a importncia da utilizao de uma metodologia
que obtenha estimativas vlidas e confiveis deste distrbio.
4
 AFUNDAMENTOS DE TENSO

O afundamento de tenso uma reduo da tenso, em um

determinado local do SEP, para valores entre 0,1 e 0,9 p.u. da
tenso eficaz seguida por uma posterior recuperao aps um
curto perodo de tempo (t 1 min.).

Figura: Ilustrao de um afundamento de tenso monofsico. 5

 SENSIBILIDADE DOS EQUIPAMENTOS

Regio A - Regio de operao normal ou imunidade;

Regio B - Regio de susceptibilidade; e
Regio C - Regio de sensibilidade. 6
ETAPAS DE DESENVOLVIMENTO DA PESQUISA

Visualizao
Comparao
Anlise
Alocao
Obtenodatima
rea
da dos
grfica
de
Afetada
resultados
Matrizmedidores
da Tenso
de MTDF
e rea
utilizando
Expostaaum
Durante ou de
algoritmo
Falta Vulnerabilidade
(MTDF) branch and bound 7
 MTODO DAS COMPONENTES SIMTRICAS

A partir das equaes de Carson e pelo mtodo de reduo de

Kron obtm-se a matriz de impedncia trifsica.

1
Z p Zm Zm z p = ( zaa + zbb + zcc )
Z aa Z ab Z ac 3

[ Z abc ] = Zba Zbb Zbc [ Z abc ] = Z m Z p Z m
1
Z Z
ca cb cc Z Z Z
m m p Z zm = ( zab + zbc + zca )
3

8
 MTODO DAS COMPONENTES SIMTRICAS

Aplicando as equaes abaixo, a matriz Zabc pode ser

transformada em uma matriz de impedncia de sequncia.
Z 00 Z 01 Z 02 1 1 1 1 1 1
1
[T ]1 1 2

1
[ Z 012 ] = [T ] .[ Z abc ].[T ] = Z10 Z11 Z12 [T ] = 1 2
3
1 2 1 2

Z Z
20 21 22 Z
= e j120

Ou pode ser obtida de forma direta:

Z 00 0 0

z11 = z 22 = z p z m [ Z 012 ] = 0 Z11 0
z00 = z p + 2 z m
0 0 Z 22
9
 MATRIZ IMPEDNCIA DE BARRA

A partir do algoritmo de modificao ou adio de uma matriz

Zbarra j existente possvel caracterizar o sistema completo
pela adio independente de cada nova linha desejada.

Cada linha selecionada deve pertencer a um dos trs tipos:

 Linha da barra de referncia para uma nova barra;

 Linha de uma barra existente para uma nova barra; e

 Linha entre duas barras j includas no sistema.

10
 MATRIZ IMPEDNCIA DE BARRA

Adio de uma Impedncia de Linha da Barra de Referncia

para uma Nova Barra (STEVENSON, 1986).

1 2

11
 MATRIZ IMPEDNCIA DE BARRA

Adio de uma Impedncia de Linha de uma Barra Existente

para uma Nova Barra (STEVENSON, 1986).

1 2

3 4

12
 MATRIZ IMPEDNCIA DE BARRA
Adio de uma Impedncia entre Duas Barras Existentes
(STEVENSON, 1986).

13
 MATRIZ IMPEDNCIA DE BARRA

Como no foi inserida uma nova barra ao sistema, necessrio

a reduo da matriz quadrada.

Za

14
 MTODO DAS POSIES DE FALTA

Publicado por Conrad et al. (1991).

Obtm os afundamentos de tenso em todos os ns do sistema

para qualquer situao de falta nas barras.

Atravs desta metodologia possvel estimar a severidade dos

afundamentos de tenso sem a necessidade de longos perodos
de medio.

15
MTODO DAS POSIES DE FALTA

16
 MTODO DAS POSIES DE FALTA

Cada afundamento no n k, devido a uma falta trifsica em

qualquer n f est relacionada com a matriz de impedncia de
barra:

Z



Tkf = Tpf ( k )
(k , f )

Z
(f,f)

17
 MTODO DAS POSIES DE FALTA
Z 1,2 Z 1,8 Z 1,20 Z 1,37
0 1  1  1  1
Z 2 ,2 Z 8,8 Z 20 ,20 Z 37 ,37
Z 2 ,1 Z 2 ,8 Z 2 ,20 Z 2 ,37
1 0  1  1  1
Z 1,1 Z 8 ,8 Z 20 ,20 Z 37 ,37
  0     

Z 8,1 Z 8,2 Z 8,20 Z 8,37
1 1  0  1  1
M T DF= Z 1,1 Z 2 ,2 Z 20 ,20 Z 37 ,37
    0   

Z 20 ,1 Z 20 ,2 Z 20 ,8 Z 20 ,37
1 1  1  0  1
Z 1,1 Z 2 ,2 Z 8 ,8 Z 37 ,37

      0 

1 Z 37 ,1 1 Z 37 ,2  1
Z 37 ,8
 1
Z 37 ,20
 0
Z 1,1 Z 2 ,2 Z 8,8 Z 20 ,20

18
 MTODO DAS POSIES DE FALTA

Para uma falta trifsica a matriz TDF dada como:

[TDF ] = [Tpf ] [ Z
barra ](diag([ Z
barra ]))1 diag([Tpf ])

Se assumirmos as tenses pr-falta sendo 1 p.u.:

[TDF ] = [uns ] [ Z
barra ](diag([ Z
barra ])) 1

[Tpf ] Tenso pr falta
[Zbarra ] Matriz impedncia de barra
(Diag([Zbarra ]))-1 Matriz formada pelo inverso dos elementos da diagonal da matriz
impedncia de barra
[uns] Matriz cheia de uns de tal forma que a dimenso igual a dimenso de [Zbarra]
19
APLICAO E RESULTADOS

kVA kV-alta kV-baixa R(%) X(%)

Subestao 2,500 230 D 4.8 D 2 8

XFM - 1 500 4.8 D 0.48 D 0.09 1.81

Configuraes Fase Cabo Espaamento ID

721 ABC 1.000.000 AA, CN 515

722 ABC 500.000 AA, CN 515
723 ABC 2/0 AA, CN 515
724 ABC #2 AA, CN 515

20
 APLICAO E RESULTADOS
Para validar a metodologia proposta, implementou-se o sistema IEEE
de 37 barras no software ATP.
O menor valor RMS das trifsicas, simuladas via o software ATP, e
registrados em cada barramento do SD, foi armazenado a fim de
compar-lo com as magnitude da tenso resultante para cada
barramento, via o MPF.

0,196 p.u.

0,2 p.u.

0,184 p.u.

Figura: Tenses registradas na barra 36 quando simulado um curto-circuito trifsico na barra 30. 21
 APLICAO E RESULTADOS
Em aproximadamente 90% dos 1.296 casos analisados, o erro
calculado no ultrapassou 5%. Menos do que 3% dos casos
analisados apresentaram erros superiores a 7%.

PFTkf ATPTkf
ErroTkf = 100
ATPTkf

22
 APLICAO E RESULTADOS
Tenses remanescentes registradas em p.u., quando uma falta
foi simulada na barra 15.
Barra ATP MPF Barra ATP MPF
1 0,5438 0,5620 19 0 0
2 0,2304 0,2476 20 0 0
3 0,2304 0,2476 21 0 0
4 0,2304 0,2476 22 0 0
5 0,2304 0,2476 23 0 0
6 0,2304 0,2476 24 0 0
7 0,2304 0,2476 25 0,2304 0,2476
8 0,2304 0,2476 26 0,2304 0,2476
9 0,2304 0,2476 27 0,2304 0,2476
10 0,2304 0,2476 28 0,2304 0,2476
11 0,2304 0,2476 29 0,2304 0,2476
12 0,2304 0,2476 30 0,2304 0,2476
13 0,2304 0,2476 31 0,2304 0,2476
14 0 0 32 0,2304 0,2476
15 0 0 33 0,2304 0,2476
16 0 0 34 0,2304 0,2476
17 0 0 35 0,2304 0,2476
18 0 0 36 0,2304 0,2476

23
 APLICAO E RESULTADOS
O maior erro relativo registrado foi de 0,15%, sendo que em
33% dos casos analisados este erro foi inferior a 0,01%.

24
 APLICAO E RESULTADOS
Tenses remanescentes registradas em p.u., quando uma falta
foi simulada na barra 22.
Barra ATP MPF Barra ATP MPF
1 0,85950 0,85955 19 0,55753 0,55760
2 0,75891 0,75923 20 0,37550 0,37564
3 0,75891 0,75923 21 0,37550 0,37564
4 0,75891 0,75923 22 0 0
5 0,75891 0,75923 23 0 0
6 0,75891 0,75923 24 0 0
7 0,75891 0,75923 25 0,75891 0,75923
8 0,75891 0,75923 26 0,75891 0,75923
9 0,75891 0,75923 27 0,75891 0,75923
10 0,75891 0,75923 28 0,75891 0,75923
11 0,75891 0,75923 29 0,75891 0,75923
12 0,75891 0,75923 30 0,75891 0,75923
13 0,75891 0,75923 31 0,75891 0,75923
14 0,75891 0,75923 32 0,75891 0,75923
15 0,67656 0,67664 33 0,75891 0,75923
16 0,55753 0,55760 34 0,75891 0,75923
17 0,37550 0,37564 35 0,75891 0,75923
18 0,55753 0,55760 36 0,75891 0,75923
25
APLICAO E RESULTADOS

26
REA AFETADA

Barra Tenso [p.u.] Barra Tenso [p.u.]

1 0,910698 19 0,846487
2 0,846487 20 0,846487
3 0,759422 21 0,846487
4 0,671901 22 0,846487
5 0,642777 23 0,846487
6 0,596243 24 0,846487
7 0,549807 25 0,846487
8 0,468868 26 0,759422
9 0,468868 27 0,759422
10 0,468868 28 0,759422
11 0,468868 29 0,759422
12 0,468868 30 0,642777
13 0,846487 31 0,596243
14 0,846487 32 0,642777
15 0,846487 33 0,333417
16 0,846487 34 0
17 0,846487 35 0,333417
18 0,846487 36 0,468868
27
REA AFETADA (Limiar 0,9 p.u.)

28
REA AFETADA (Limiar 0,7 p.u.)

29
REA AFETADA (Limiar 0,5 p.u.)

30
REA EXPOSTA OU DE VULNERABILIDADE

Barra Tenso [p.u.] Barra Tenso [p.u.]

1 0 19 0,647956
2 0 20 0,679672
3 0 21 0,722238
4 0 22 0,759238
5 0 23 0,818313
6 0 24 0,770933
7 0 25 0,521886
8 0 26 0,199564
9 0,147409 27 0,291680
10 0,219441 28 0,416527
11 0,280301 29 0,385312
12 0,332391 30 0,192758
13 0,402017 31 0,168074
14 0,552092 32 0,700782
15 0,247683 33 0
16 0,447901 34 0
17 0,609213 35 0,07184
18 0,485774 36 0,326469

31
REA DE VULNERABILIDADE (Limiar 0,9 p.u.)

32
REA DE VULNERABILIDADE (Limiar 0,7 p.u.)

33
REA DE VULNERABILIDADE (Limiar 0,5 p.u.)

34
35
 0,420,630,72 0,640,730,56 0,7 0,89 0,71

1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25 27 29 31 33 35

36
 ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE

Devido s restries de recursos financeiros (aquisio), humano

(instalao e manuteno) e de processamento (coleta, registro e
armazenamento de dados) para a aplicaes que envolvam medidores
de QEE, justifica-se a importncia do estudo da alocao otimizada
de medidores.

 Quantos medidores precisam ser instalados?

 Onde os medidores devem ser instalados para garantir a maximizao

da observabilidade?

 Qual o limiar de tenso a ser definido?

37
 ALGORITMO BRANCH AND BOUND (BB)

O algoritmo BB se baseia na construo de uma rvore

fundamentada na Programao Linear Inteira (PLI) para
explorar o espao de busca.

O objetivo principal do algoritmo BB evitar o crescimento da

rvore inteira o mximo possvel. Para isso o algoritmo realiza
o crescimento da rvore pela seleo apenas dos ns mais
promissores.

38
 ALGORITMO BRANCH AND BOUND (BB)

1. Branching - Divide o problema original em subproblemas mais

simples de resolver, efetua-se parties no espao das solues.

39
 ALGORITMO BRANCH AND BOUND (BB)

2. Bouding Avalia os subproblemas, utilizando limitantes

calculados de forma a limitar o crescimento da rvore de
busca.

Para obter um limitante resolve-se o problema de uma forma

relaxada, ou seja, ignora-se algumas restries do problema
principal, visando torn-lo mais fcil de resolver.

Usualmente, relaxa-se as restries que impem que as

variveis sejam inteiras.
40
 ALGORITMO BRANCH AND BOUND (BB)

3. Sondagem ou poda Elimina os subproblemas que no podem

conduzir a uma soluo tima.

Durante a busca na rvore, os ns, considerados como

subconjuntos de solues, so analisados e podem ser podados
devido:

Infactibilidade
Limitante
Otimalidade
41
Exemplo de aplicao do algoritmo

42
 MATRIZ DE OBSERVABILIDADE BINRIA

Definindo-se um limiar de 0,9 p.u. tem-se:

0 0.73 0.87 0.93 0.97 0.98 1.00 1 1 1 0 0 0 0

0.39 0.93 0.95 1
0 0.83 0.94 0.96
1 1 0 0 0 0
1.00 0.47 0 0.96 0.93 0.93 0.92 0 1 1 0 0 0 0

MTDF = 0.75 0.72 0.27 0 0.91 0.91 0.94 MO = 1 1 1 1 0 0 0
0.94 0.95 0.33 0.49 0 0.90 0.90 0 0 1 1 1 0 0

0.70 0.67 0.69 0.73 0.31 0 0.91
1 1 1 1 1 1 0
0.97 0.97 0 0
0.83 0.98 0.47 0.23
0 1 0 1 1 1

43
 FUNO OBJETIVO

Determinar as posies que os medidores devero ser instalados

com o objetivo de minimizar o nmero de equipamentos
necessrios.

n
FObj = min c j x j j = 1, 2,3..., n
j =1

44
 VETOR DE MONITORAO

A deciso ou no pela instalao de um medidor em uma

determinada barra feita atravs do preenchimento de cada
uma das posies do vetor.

1, para instalao do medidor na barra j

X = [ x(1) x(2) x(3) ... x(n)]t x( j ) =
0, caso contrrio

45
 VETOR DE RESTRIO
Contabiliza o nmero de medidores que so sensibilizados para
um determinado defeito armazenado na Matriz Observabilidade.

VRe st . = MO t X

46
 RESTRIES

Garantem que todo sistema seja observvel.

Pelo menos um dos medidores deve ser sensibilizado para cada

um dos curto-circuitos simulados.
1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
1
x (1) 1
1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 0 1 0 x (2) 1
0
1 1 0 0 0 0 0 0 1 0 0 1 x (3) 1
x (4)
1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1
0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 0 0 1 x (5) 1
1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 0 1 x (6) 1

Re st = Vrest ( j ) 1 Re st = 0

1
0
1
1
0
0
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
0
0
0
0
1
0
0
1
0



x (8)

x (7) 1

1
0 0 0 1 0 1 1 1 1 1 1 1 1 x (9) 1
0 0 1 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1
x (10)
0 0 0 1 0 1 0 1 0 1 1 0 1 1
x (11)
0 1 0 0 0 0 1 0 1 1 1 1 0 x (12) 1
0 0 1 1 0 0 1 0 0 1 0 1 1
x (13) 1

47
ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE
RESULTADOS

1, quando o defeito simulado (coluna j )

faz com que a tenso na barra (linha i )

seja menor ou igual a 0,6 p.u. (MO 0,6 p.u.)

MO =
0, quando o defeito simulado (coluna j )

faz com que a tenso na barra (linha i )
no fique abaixo de 0,6 p.u. (MO > 0,6 p.u.)

48
 ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE
RESULTADOS

Limiar de
Nmero de monitores Barra de instalao
Tenso [p.u.]
0,9 1 2
0,8 2 15 e 36
0,7 2 16 e 32
0,6 3 17, 32 e 36
0,5 4 13, 24, 32 e 36
0,4 5 13, 24, 29, 32 e 35
0,3 7 13, 19, 24, 29, 32, 34 e 36
0,2 8 14, 19, 21, 23, 29, 32, 34 e 36
0,1 12 14, 19, 21, 23, 25, 28, 29, 30, 31, 32, 34 e 36
49
ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE
RESULTADOS

17

20
21
22
23
24

50
 ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE
RESULTADOS
Limiar de Nmero de
Outras solues de instalao dos monitores
Tenso solues

0,9 35 14 6
0,8 210 19,28 21,7
0,7 9 20,32 23,32
0,6 72 23,32,34 21,32,9
0,5 81 14,22,32,12 25,23,32,34
0,4 72 14,23,26,32,33 25,22,28,32,34
0,3 180 14,19,22,26,32,34,12 25,19,23,28,32,34,9
0,2 24 14,19,20,23,28,32,34,10 14,19,21,23,27,32,34,11
0,1 48 14,19,20,23,13,28,29,5,31,32,34,11 14,19,21,23,13,28,29,30,6,32,34,12

51
 ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE
RESULTADOS

Alocao:

{14, 23, 32 e 36}

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36

4 4 4 2 2 2 2 2 2 2 1 1 4 1 4 4 1 4 1 1 1 1 1 1 1 4 2 2 2 2 2 1 2 1 2 1 52
 ALOCAO DE MEDIDORES DE QEE
RESULTADOS

Barra 14

Barra 23

Barra 32

Barra 36

53
 CONCLUSES

Comprovou-se que o mtodo das posies de falta uma

excelente ferramenta para avaliar o desempenho mdio do SD
frente aos afundamentos de tenso visando a modelagem mais
simplificada da rede.
Portanto, o uso desta metodologia proporciona reduzir os
tempos de simulao, os custos com estudos e anlises,
tornando o processo de avaliao dos afundamentos mais fcil,
gil e eficiente.
Atravs da anlise da MTDF possvel ter uma viso compacta
da severidade e propagao dos afundamentos de tenso em
todas as barras do SD.
54
 CONCLUSES

Delimitando a rea afetada possvel estimar o comportamento

do SD em avaliao tornando o processo de deteco de faltas
mais rpido e eficaz, visto que diagnosticando o nmero ou as
barras afetadas pelo afundamento de tenso torna-se possvel
detectar o local de ocorrncia da falta.

Atravs da anlise da rea de vulnerabilidade e dispondo da

curva de sensibilidade dos processos industriais, torna-se vivel
orientar as indstrias quanto a suportabilidade dos seus
equipamentos frente aos afundamentos de tenso e indicar o
melhor local para a instalao de novos empreendimentos que
apresentam em sua planta industrial equipamentos sensveis.
55
 CONCLUSES
A instalao dos medidores em pontos estratgicos do SD
possibilitou a reduo do nmero de equipamentos de medio,
obtendo-se contudo, uma observabilidade mxima para os
nveis de tenso desejados.

Verificou-se que as solues timas no priorizam a alocao

dos equipamentos de medio na sada da subestao.

A alocao tima realizada, possibilita orientar as

concessionrias na aquisio de equipamentos de medio de
forma a atender os limites oramentrios da empresa.
56
 A Robustez de um Sistema de
Distribuio e a Alocao de Medidores
de Qualidade da Energia Eltrica Frente
aos Afundamentos de Tenso
Thais Reggina Kempner
kempner@usp.br

Obrigada!