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Prova 2
Prova 2
medida VR IR VD ID LN
1 1.0000 4.3540 493.346 2.5210 0.9247
2 2.0000 8.7030 551.009 7.2450 1.9803
3 3.0000 13.0350 551.592 12.1100 2.4940
4 4.0000 17.3880 595.202 17.0260 2.8347
5 5.0000 21.7410 608.368 21.9530 3.0889
25
20
15
Column B
i_R VS V0
10
0
1.0000 2.0000 3.0000 4.0000 5.0000
3.5
2.5
2
LN
1.5 Column F
0.5
0
493.346 551.009 551.592 595.202 608.368
VD
LN vs VD
700
600
500
400
Column D
300
200
100
0
2.5210 7.2450 12.1100 17.0260 21.9530
Resistor
4.3459 0.0065 Coeficientes -- b1 e b0
0.00215019379 0.00713138603 Incertezas-padrão dos Coeficientes
0.99999926563 0.00679950979 Coeficiente de Determinação (r^2)
4085114.66691 3 Escore - F (ou Estatística-F)
188.8684681 0.0001387 Soma dos Quadrados da Regressão
Ir=vr/r
teste f
alpha_f 0.005
p_f 2.670939E-10
0.005
teste t
k(99,5%) 7.453318505
score t (b0) 0.9115
valor esperado de R =230 score t (b1) 1803.63929
experimental= 229,93
alpha
p_F 2.670939E-10
Diodo
Coeficientes -- b1 e b0
Incertezas-padrão dos Coeficientes
Coeficiente de Determinação (r^2) Incerteza-padrão da regressão (Se)
Escore - F (ou Estatística-F) Graus de liberdade dos resíduos
Soma dos Quadrados da Regressão Soma dos Quadrados dos Resíduos
TESTE T
K(99,5%)
0.704059678
0.4978453727
Err:502
0.01833812533 -8.0030587205 Q14 ln(1001)/18,33
0.00274562899 1.54128957973
0.93698720465 0.24821588308
44.6093781199 3
2.74843395417 0.18483337383
TESTE F B 19.33381608
alpha_f 0.005
p_f 0.0068446
TESTE F
alpha_f 0.005
p_f 13.358
18.33812533
5.149995952
Err:509
0.377 Volts