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Metalografia
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Definio
Metalografia o ramo da
engenharia
estruturas

que
e

as

estuda

as

propriedades

dos metais e suas ligas.

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O exame metalogrfico procura

relacionar a estrutura do material
com as propriedades fsicas e com
o processo de fabricao, sendo
que este exame pode ser:

Macrogrfico

Microgrfico

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MACROGRAFIA
Objetivo
Obter uma informao ampla da
pea,

facilitar

micrografia

determinar a regio crtica para

anlise detalhada.

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A macrografia consiste no exame do

aspecto

de

uma

superfcie

plana

seccionada de uma pea ou amostra

metlica, devidamente polida e atacada
por

um

reagente

adequado.

Por

seu

intermdio tem-se uma ideia de conjunto,

referente homogeneidade do material,

distribuio

natureza

de

falhas,

impurezas; ao processo de fabricao.

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Algumas das heterogeneidades mais

comuns nos metais:
Vazio: causado pelo resfriamento lento;

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Segregao: causadas pelas impurezas

e outros metais;
Dendritas: formao de gros de vrios
tamanhos;

Forma Irregular de segregao

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Trincas:

devido

tenses

excessivas no resfriamento;

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ZTA: Zona Termicamente Afetada

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Seleo da amostra
Cuidados a observar:
Saber o que realmente o cliente deseja
e o fim a que se destina a pea
Em qualquer hiptese altamente
prudente proceder a um exame detido da
pea sob diversos pontos de vista, como o
aspecto da fratura, a existncia de marcas
de pancadas, grinpamentos, vestgios de
soldas,
azulamento
por
aquecimento,
porosidades, rebarbas, trincas, polimentos
locais,
enferrujamento,
corroses,
desgastes,
marcas
punonadas,
entortamentos etc., antes de determinar
cortes ou extrao de amostras ou de corpos
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Na
apreciao
dos
sinais
encontrados, preciso muita ateno
para no confundir aqueles que
possivelmente j existiam na pea ,
antes do evento que deu motivo ao
estudo, e que podem conduzir a alguma
pista para as investigaes, com os
que possam ter sidos ocasionados pela
aplicao de ferramentas para retirar a
pea de onde estava instalada, ou
ento, ocasionados por quedas, ou
durante o transporte.
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Preparao da amostra
I. Escolha

da

seco

ser

estudada (Direo do corte);

II. Preparao

da

amostra

superfcie (lixamento/polimento);
III. Ataque com reagente qumico
adequado;
IV. Interpretao dos resultados;
V. Documentao.

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Preparao da amostra
I. Escolha da seco a ser estudada
(Direo do corte)

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Mquina de corte com disco abrasivo

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Defeitos e possveis causas durante a operao de corte

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II. Preparao da superfcie

(Embutimento/lixamento/polimento);

Embutimento

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Lixamento

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Escolha da seco:

I- Transversal (Macro)
Naturezas do material;
Homogeneidade da seco;
Intensidade da segregao;
Forma de disposio das bolhas;
Existncia de restos de vazios;
Profundidade e uniformidade da carbonetao;
Profundidade de descarbonetao;
Profundidade de tmpera;
Incluses.
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II- Longitudinal (Macro)

Processos de fabricao;
Anlise de cordo de solda;
Caldeamento

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Preparao da superfcie
Cuidados:
Mudana da estrutura;
Aquecimento no superior a 100C;
Presso excessiva (encruamento);
Lixamento;
Ataque qumico.
Obs.:

Em

funo

de

variaes

estruturais ou qumicas o material ser

mais ou menos atacado .

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Embutimento
A

quente:

quente

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As resinas para embutimento a

apresentam

baixa

viscosidade,

contrao, boa adeso amostra e resistncia

a

ao

de

propriedades

agentes

qumicos,

mecnicas

bem

como

adequadas

para

aplicaes especficas.

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Embutimento
A

frio:

So

polimerizveis,
qumicas

atendimento
necessidades
metalogrfico,

resinas
com

propriedades

mecnicas
das
de

auto-

mais

para
diversas

embutimento,
mineralgico,

cermico e petrogrfico.
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Lixamento
Objetivo
Eliminar

as

imperfeies

da

superfcie da amostra (ex.: oxidao,

rebarbas, arranhados profundos, etc.).
Pode ser, de acordo com:
- Operao (manual ou mecnico)
- Meio (a seco ou mido)

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Lixamento
Para
a

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preparao

de

uma

superfcie plana, isenta de deformaes

plsticas e mecnicas necessrio um
correto lixamento, deve-se comear da
lixa

mais

grossa

para

mais

fina,

mudando a direo do lixamento em 90.

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Defeitos e possveis causas durante a operao de lixamento

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O ataque
Objetivo:
Revelar
a
microestrutura
e
os
constituintes da amostra, possibilitando
maior entendimento das suas propriedades.
O ataque pode ser por:
Imerso
Aplicao
Impresso
direta
(Impresso
de
Baumann)
Quanto ao tempo:
Longo ou profundo
Rpido ou superficial
Quanto temperatura:
A frio
A quente
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Interferncias no comportamento
do ataque:
Variao
da
composio
do
material
(concentrao
de
impurezas);
Variao
de
estrutura
(deformao a frio);
Variao
de
cristalizao
(granulometria grosseira, textura
acicular, gradiente trmico).
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Principais

reagentes

para

macrografia:
Iodo;
cido Sulfrico;
Heyn (Cloreto Cupro-Amoniacal);
cido clordrico;
Fry (cido clordrico + gua +
Cloreto Cprico)
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Principais reagentes para a micrografia

Nota: Estes reagentes so basicamente

solues diludas de cidos orgnicos ou

inorgnicos, lcalis, ou outras solues de
natureza complexa. Como foi verificado
anteriormente, a seleo final de uma
soluo,

para

fazer

parecer

um

desenvolvimento da estrutura, depende da

composio e condies estruturais do
metal ou da liga.

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Tempo de Ataque

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I.Fator importante para o ataque correto a um

corpo de prova a seleo do reagente que
melhor se adapte composio qumica e
condio fsica do metal;
II. Controle conveniente do tempo de ataque
para que se produza um grau de contraste
apropriado entre os diferentes componentes da
estrutura;
III.Limpeza da superfcie atacada.
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Tempo de Ataque

OBS: O tempo de ataque depende da

estrutura em questo e da ampliao que
se deseja na fotografia. Conforme o
reagente escolhido, o tempo de ataque
variar de poucos segundos at alguns
minutos, ou dias.

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Recomendaes:
No
necessrio

atacar
para

mais
fazer

que

aparecer

o
o

detalhe significativo;
Um
satisfatrio

grau
para

de
uma

contraste
micrografia

com pequeno aumento geralmente

excessivo para uma melhor definio
da estruturas em ampliaes muito
maiores;

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Recomendaes:
Desejando-se
contraste,

um

alto

prefervel

obt-lo

por meios fotogrficos a recorrer

a um ataque profundo, pois este
ocultar os detalhes mais finos
da estrutura;
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Recomendaes:
Se

um

corpo

insuficientemente
contraste),

de

prova

for

atacado

(pouco

prefervel

poli-lo

novamente no disco acabador e ataclo novamente com cido superior, a um

ataque

levado

efeito,

outro

posterior;
NOTA: No tocar com coisa alguma
numa superfcie j atacada e fotografProf

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INTERPRETAO
DOS
RESULTADOS
(Macro)
Quando ataca mais a estrutura:
Regies encruadas;
Regies temperadas ou temperadas e
revenidas;
Granulao grosseira.
Quando ataca mais a composio
qumica:
Regies com maior teor de carbono;
Regies com maior teor de fsforo;
Regies com maior quantidade de
incluses
no
metlicas,
principalmente enxofre e fsforo.
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IDENTIFICAO

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Tcnica de polimento, repolimento e

ataque, servem para definir o defeito:
Regies ricas em carbono desaparecem
com um leve repolimento;
Regies

ricas

em

impurezas,

principalmente incluses de S e P, sofrem

um

ataque

profundo

escurecendo

mais,

permanecendo assim mesmo aps um leve

polimento;
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IDENTIFICAO
Regies

com

granulao

grosseira

aparecem como mosaicos de lado escuro

(parte clara e parte escura);
Regies

com

temperadas

tmpera
revenidas,

branda
ficam

ou
mais

brilhantes que o resto da amostra aps

um repolimento;
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Interpretao das Micrografias

A correta interpretao das texturas que
ocorre nos materiais matria que requer
larga experincia do operador. Dentre as
inmeras estruturas, citamos:
Incluses
a) Fsforo
Localiza-se na ferrita e somente pode ser
observada ao microscpio quando o seu teor
estiver acima de 1%. Forma estrias claras,
pois expulsa o carbono dessas regies.
A presena de fsforo causa fragilidade
aos aos e tambm melhora a usinabilidade;
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Interpretao das Micrografias

Incluses

b) Enxofre
Forma sulfeto de mangans a 1100oC,
apresentando-se sob a forma de polgonos,
glbulos ou formas arborescentes de
colorao cinzenta. O sulfeto de ferro
geralmente no aparece nos aos comuns;
caso acontea, ter colorao amarelada.
A presena de enxofre nos aos
facilita a usinabilidade.

c) Mangans
Semelhante ao enxofre
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Interpretao das Micrografias

Incluses

d) Silcio
O silcio no detectado ao microscpio.
e) Alumnio
Usado como desoxidante nos aos.
Forma com o oxignio Al2O3 (alumina) que se
apresenta ao microscpio sob a forma de
partculas negras esparsas ou agrupadas.
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Interpretao das Micrografias

f) Ferrita
Soluoslida de carbono noferro alfaOrigina-se na zona crtica- a forma estvel
a temperatura ambiente.
Apresenta-se ao microscpio em gros
claros com finos contornos pretos.
Identificao Metalogrfica
Apresenta-se ao microscpio como
gros brancoscom finos contornos pretos.
Arranha e deforma-se facilmente. Arestas
arredondadas. fortemente atrada pelo
m.
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Interpretao das Micrografias

g) Cementita
Carboneto de ferro Fe3C
Apresenta-se clara com contornos
pretos, chega a riscar o vidro.
Identificao metalogrfica
Apresenta-se como uma s massa e
no mostra subdiviso em gros. No
riscada, se apresenta precipitada, forma
umabaulamento. Possui cor amarelada.
Brilho
intenso.
Forma
bastonetes
ou
ndulos. Atacada com picrato de sdio em
ebulio se torna escura diferenciando da
ferrita.
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Interpretao das Micrografias

h) Perlita
Corresponde a lamelas de ferrita (88%)
e cementita (12%). As lamelas podem ser
planas, curvas ou ondeadas. A perlita se
apresenta escura ao microscpio.
As
lamelasso
mais
ou
menos
paralelas podendo ser planas, curvas
ondeadas, etc.. O afastamento entre elas
depende, entre outros fatores, da velocidade
de resfriamento e do ngulo segundo o qual
o gro de perlita cortado.
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Interpretao das Micrografias

h) Perlita
Identificao metalogrfica
Em aos com baixo carbono se localiza
em
geral
nos
contornos
da
ferrita,
aumentando-se o %C. Este quadro vai se
modificando at se tornar o constituinte
principal. So envolvidos ou quase, por rede
de ferrita ou cementita. Possui colorao
marrom, verdeou preta, dependendo do
ataque (reagente e tempo), aumento de
observao e estrutura da perlita. As
lamelas
s
podem
ser
vistas
com
ampliaes de mais de 200 X. Forma gros
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Interpretao das Micrografias

i) Martensita

Apresenta ao microscpio aspecto

acicular e escuro.

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Procedimentos de Exame ao Microscpio

Observar os seguintes cuidados ao
trabalhar com o microscpio:
iniciar a observao com a objetiva de menor
ampliao;
o foco para o microscpio monoscpico
conseguido aproximando-se a objetiva o mais
possvel da amostra, tomando-se o mximo de
cuidado para que no haja coliso entre esses
elementos e em seguida, com um dos olhos na
ocular, afastar lentamente o canho. Quando o
objeto estiver com em foco, utilizar o parafuso
de ajuste fino;
ao mudar-se de objetiva, afastar o canho do
microscpio da amostra para evitar coliso das
lentes das objetivas com a amostra.
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Dureza
Dureza dos
dos Microconstituintes
Microconstituintes (HB)
(HB)
Austenita
Austenita :: 300
300
Ferrita
Ferrita :: 80
80
Perlita
Perlita :: 200-250
200-250
Cementita
Cementita :: 700
700
Martensita
Martensita :: 500-650
500-650
Bainita
Bainita :: 400-500
400-500
Martensita
Martensita Revenida
Revenida :: 250-400
250-400
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BAINITA
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MARTENSITA

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