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Controle Estatístico de Processos (Cep)
Controle Estatístico de Processos (Cep)
e
s
N de Amostras
Fig. 7.3: Carta de controle
LIMITE INFERIOR DE CONTROLE (LIC) e LIMITE SUPERIOR DE CONTROLE (LSC): So
os limites do processo de fabricao. Eles indicam a regio de variao do processo
de fabricao. LIC e LSC refletem aquilo que o processo de fabricao capaz de
realizar. Estes limites so calculados pelas equaes:
n x LSC / 3 + =
=
x
3 + x
(7.1)
n x LIC / 3 =
=
x
x 3
(7.2)
onde
x
n / =
(7.3)
x a mdia das amostras, o desvio padro da populao e
x
o desvio
padro experimental. Os dois parmetros x e referem-se populao total. Este
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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procedimento utilizado sempre que for dada a norma de controle, ou seja, desde que
x e sejam conhecidos.
x
x
No Confundir os limites do projeto (D
MX
, D
MIN
) com os limites do processo de
fabricao (LSC e LIC). Os limites do processo devem atender os limites
especificados no projeto t
processo
= LSC-LIC < t
projeto
= D
MX
- D
MIN
DISTRIBUIO NORMAL: uma distribuio contnua e simtrica, cujo grfico tem a
forma de "sino" (Fig. 7.4). tambm conhecida como distribuio de Gauss. A
distribuio normal representa o resultado de atuao conjunta de causas aleatrias,
sendo fundamental no CEP
MDIA: a mdia aritmtica das grandezas observadas. Tem-se:
a mdia de todos os conjuntos das amostras ("mdia das mdias") e
a mdia de de cada conjunto de amostras.
Se a curva de distribuo normal for resultante da anlise de um processo de
fabricao 100% das peas fabricadas estaro sob a curva.
AMPLITUDE: a medida mais simples de disperso dos valores medidos. a diferena
entre o maior e o menor valor observado. R a amplitude para cada conjunto de
valores e R a amplitude mdia.
DESVIO PADRO (): medida de disperso que considera todos os valores medidos
(de toda a populao), dando uma boa idia dos desvios das observaes em relao
mdia. O desvio padro indica valores mais exatos da disperso do que a amplitude.
calculado pela equao
( )
1
2
=
n
x x
(7.4)
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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x
o valor mdio das n amostras e x Valor medido (mm).
Influncia do Desvio Padro: O desvio padro determina a largura da Curva de
distribuio normal. Maiores valores de significa maior largura da curva de
distribuio normal, ou seja, maior disperso do processo. Fisicamente, o desvio
padro a distncia entre a mdia e o ponto de inflexo da curvatura da curva de
distribuio normal (Fig.7.4)
x
2 > 1
1
2
Fig. 7.4: Influncia do desvio padro na curva de Gauss
Para uma determinada curva de distribuio normal, pode-se determinar vrias
porcentagens de peas, em torno da mdia, que devem ser abrangidas pela curva de
distribuio normal, em funo do desvio padro (Tab. 7.1).
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-137-
Tab. 7.1: Porcentagem de peas abrangidas em funo do desvio padro.
Intervalo Porcentagem das
Peas (%)
x0,67
50,00
x1
68,26
x1,96
95,00
x2
95,46
x3
99,73
x3,09
99,80
x4
99,99
Assim, se se traar uma rea sob a curva com variao de x3, isto englobaria
99,73% de todas as peas produzidas, como mostra a Fig. 7.5.
x
99.73%
Fig. 7.5: Distribuio normal com processo dentro de 3
PADRES DO PROCESSO: O processo de fabricao avaliado atravs da aptido do
processo ou da mquina em se fabricar componentes dentro dos limites especificados.
Convencionou-se que um processo ou equipamento capaz, quando 99,73% das
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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peas produzidas estejam dentro das dimenses especificadas no projeto, ou seja,
estejam dentro do desvio 3 + x , a partir da mdia.
t
processo
= LSC - LIC Corresponde a 99,73% de todas as peas produzidas.
A partir destas definies bsicas pode-se comparar os resultados obtidos pelo
processo de fabricao com aqueles especificados pelo projeto:
O componente, de acordo com a especificao do projeto deve ter dimenses
variando entre D
MX
e D
MIN
ou d
MX
e d
MIN
.
O resultado do processo de fabricao fornecido pela curva do processo (curva
normal) e tem limites compreendidos entre LIC e LSC.
A fig. 7.6 mostra vrios casos distintos possveis de ocorrer com o processo de
fabricao:
7.6a: O processo apresenta disperso adequada e est corretamente centrado. As
peas produzidas esto dentro dos campos de tolerncias especificadas no
projeto;
7.6b: O processo tem um erro de ajustagem (centragem), porm apresenta uma boa
disperso em relao mdia. Deve-se ajustar o processo;
7.6c: O processo est corretamente ajustado, mas apresenta disperso exagerada em
relao aos limites especificados. Sero produzidos componentes com
dimenses superiores e inferiores aquelas especificadas no projeto;
7.6d: O processo est incorretamente ajustado e apresenta disperso exagerada em
relao aos limites especificados. Sero produzidos componentes com
dimenses fora das especificaes do projeto;
7.6e: O processo est corretamente ajustado e tem boa disperso, porm a qualidade
do processo muito superior s necessidades do produto.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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x
x
x
x
x
Dmn
(dmn)
Dmx
(dmx)
Dmn
(dmn)
Dmn
(dmn)
Dmn
(dmn)
Dmn
(dmn)
(a) (b)
(c) (d)
(e)
Dmx
(dmx)
Dmx
(dmx)
Dmx
(dmx)
Dmx
(dmx)
Fig. 7.6: Comparao entre as especificaes do projeto e o processo de fabricao
7.2.1 Anlise das Cartas de Controle
PROCESSO SOB CONTROLE OU ESTVEL: Quando todos os pontos esto em torno da
mdia. Isto significa uma estabilidade do processo e que o processo est produzindo
componentes de boa qualidade (Fig. 7.7a)
PROCESSO FORA DE CONTROLE OU INSTVEL: Quando existirem pontos acima do
LSC e/ou pontos inferiores ao LIC. Isto significa que o processo est produzindo
componentes fora de especificaes (Fig. 7.7b).
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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Mdia
LSC
LIC
Tempo
(a) - Estvel (b) - Instvel
Tempo
LIC
Mdia
LSC
Fig. 7.7: Estabilidade e instabilidade do processo
REGRAS DE INSTABILIDADES: Servem para verificar se existem variaes sistemticas
atuando no processo. As variaes sistemticas existiro se ocorrer pelo menos uma
das seguintes regras:
1. Regra: Existncia de pelo menos um ponto acima do LSC ou abaixo do LIC.(Fig.
7.8)
LIC
Mdia
LSC
Fig. 7.8: 1. Regra de instabilidade
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-141-
2. Regra: Existncia de uma sequncia de 7 ou mais pontos consecutivos, todos
acima ou abaixo da linha mdia LM.(Fig. 7.9)
x
LSC
LIC
1
2 4
3
5
6
7
1
2
3
4
5
6
7
Fig. 7.9: 2. Regra de instabilidade
3. Regra: Existncia de uma sequncia de 7 ou mais pontos consecutivos que
cresam ou decresam continuamente (Fig. 7.10);
x
LSC
LIC
1
2
4
3
5
6
7
1
2
3
4
5
6
7
Fig. 7.10: 3. Regra de instabilidade
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-142-
4. Regra: Existncia de uma sequncia de 8 ou mais pontos consecutivos fora do
intervalo de 1/3 em torno da mdia e de qualquer lado (Fig. 7.11);
x
LSC
LIC
1
2
4
3
5
6
7
8
1/3
1/3
Fig. 7.11: 4. Regra de instabilidade
5. Regra: Considere 5 pontos consecutivos. A existncia de 4 pontos (dos 5
considerados) situados no mesmo lado em relao linha mdia e fora do intervalo de
1/3 em torno da linha mdia (Fig. 7.12);
x
LSC
LIC
1
2
4
3
5
1/3
1/3
Fig. 7.12: 5. Regra de instabilidade
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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6. Regra: Considere 3 pontos consecutivos. A existncia de 2 pontos (dos 3
considerados) situados no mesmo lado em relao linha mdia e fora do intervalo de
2/3 em torno da linha mdia (Fig. 7.13);
x
LSC
LIC
1
2
3
2/3
2/3
Fig. 7.13: 6. Regra de instabilidade
7. Regra: Existncia de oscilaes cclicas, normalmente devido interferncia de
outro processo (Fig. 7.14);
x
LSC
LIC
Fig. 7.14: 7. Regra de instabilidade
8. Regra: Existncia de 15 ou mais pontos consecutivos contidos em um intervalo de
1/3 em relao mdia. (Fig. 7.15). Esta regra indica que houve uma melhoria no
7. Controle Estatstico de Processos CEP
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processo. Os limites de controle devem ser recalculados para evitar que o processo
retorne condio anterior.
x
LSC
LIC
1
2 4
3
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
1/3
1/3
Fig. 7.15: 8. Regra de instabilidade
7.3 Controle Estatstico do Processo por Variveis
7.3.1 Cartas de Controle
Inicialmente deve ser construida as cartas de controle. Trabalha-se sempre com duas
cartas de controle: Cartas das mdias e cartas de disperso. Tem-se dois tipos distintos
de cartas de disperso: Desvio padro e amplitude.
A anlise das cartas feita aos pares:
x
- R (mdia
/amplitude) ou
x
- s (mdia / Desvio Padro).
CARTAS DAS MDIAS
Geralmente a norma de controle ( x e ) desconhecida. Neste caso, os parmetros
devem ser estimados a partir de dados do processo de fabricao. Esta estimativa
deve-se basear, de preferncia, em no mnimo k = 25 amostras de n = 4 elementos ou
k = 20 amostras de n = 5 elementos.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-145-
Exemplo: Deve-se retirar 5 peas de um processo de fabricao de hora em hora,
durante 24 horas, perfazendo k= 24 amostras de 5 elementos cada!
Estimativa da Mdia: A estimativa da mdia x deve ser calculada pela mdia geral
ou pela mdia das mdias. Calcula-se a mdia para cada amostra 1 x , 2 x , ..., k x ,
onde 1 x a mdia da primeira amostra, 2 x da segunda amostra e assim por diante.
Calcula-se ento a mdia das mdias x , que a mdia aritmticas das k-mdias i x .
Estimativa do Desvio Padro: Deve-se calcular o desvio padro para cada amostra
s
1
, s
2
,...s
k
. Calcula-se ento o desvio padro mdio ( s )
K
s s s s
s
K
+ + + +
=
...
3 2 1
(7.5)
Onde s
1
o desvio padro da primeira amostra, s
2
da segunda e assim por diante.
Os limites de controle baseados no desvio padro (s) ficam
s A x LSC
1
+ =
(7.5a)
s A x LIC
1
=
(7.5b)
O parmetro A
1
determinado na Tab. 7.2, Pg. 149, em funo do tamanho da
amostra n.
A estimativa do desvio padro de toda a populao feita por:
2
c
s
=
(7.6)
onde c
2
um fator de correo da estimativa, determinado em funo do tamanho n
da amostra (Tab. 7.2, Pg. 149).
Estimativa da Amplitude: Deve-se calcular a amplitude R para cada amostra R
1
,
R
2
,...R
k
. Calcula-se ento a amplitude mdia R
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-146-
K
R R R R
R
K
+ + + +
=
...
3 2 1
(7.7)
Onde R
1
a amplitude da primeira amostra, R
2
da segunda e assim por diante.
Os limites de controle baseados na amplitude R ficam
R A x LSC
2
+ =
(7.8a)
R A x LIC
2
=
(7.8b)
O parmetro A
2
determinado na Tab. 7.2, Pg. 149, em funo do tamanho da
amostra n.
Se n 10, a estimativa do desvio padro de toda a populao pode ser feita por
2
d
R
=
(7.9)
onde d
2
um fator de correo da estimativa, determinado em funo do tamanho n
da amostra (Tab. 7.2, Pg. 149).
Esta estimativa do pelo R s deve ser realizada com, no mximo, n = 10
elementos.
RESUMO: Para estabelecer a carta de controle das mdias, quando os parmetros
x e so desconhecidos, deve-se observar os seguintes passos:
1. Medir n elementos de de hora em hora. Obtem-se k amostras com n itens.
Geralmente n= 4 ou 5 e k = 20 ou 25.
2. Calcular x e marcar a linha mdia LM=LC= x .
3. Calcular R se n 10, determinar os limites de controle x A
2
R
Se n>10, calcular s e determinar os limites de controle x A
1
s
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-147-
CARTAS DE DISPERSO
Um processo no pode ser controlado apenas pelos valores mdios produzidos.
fundamental conhecer uma medida de disperso da caracterstica controlada em
torno da mdia. Deve-se utilizar assim uma carta de controle de disperso em
conjunto com a carta das mdias. Pode-se controlar a disperso atravs do desvio
padro amostral s ou pela amplitude R.
Controle da disperso pelo desvio padro:
Caso I: Se a norma de controle conhecida, ou seja conhecido o parmetro .
A linha mdia calculada pela equao
LM=
s
= c
2
(7.10)
Os limites de controle so calculados pelas equaes
LIC = B
1
(7.11a)
LSC = B
2
(7.11b)
Os coeficentes C
2
, B
1
e B
2
esto mostrados na Tab. 7.2, Pg 149, em funo do
nmero de elementos n
Caso II: A norma de controle no conhecida, ou seja o parmetro deve ser
estimado.
A linha mdia calculada pela equao
LM=
s
=s (7.12)
Os limites de controle so calculados pelas equaes
LIC = B
3
s (7.13a)
LSC = B
4
s (7.13b)
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-148-
Os coeficientes B
3
e B
4
esto mostrados na Tab. 7.2 Pg. 149, em funo do
nmero de elementos n
Controle da disperso pela Amplitude:
a carta de controle da disperso pela amplitude a mais utilizada pela sua
simplicidade. Alm disto, tem-se resultados satisfatrios se n10.
Caso I: A norma de controle conhecida, ou seja conhece-se o parmetro .
A linha mdia calculada pela equao
LM=
R
= d
2
(7.14)
Os limites de controle so calculados pelas equaes
LIC = D
1
(7.15a)
LSC = D
2
(7.15b)
Os coeficientes d
2
, D
1
e D
2
esto mostrados na Tab. 7.2, Pg. 149, em funo do
nmero de elementos n
Caso II: A norma de controle no conhecida, ou seja o parmetro deve ser
estimado.
A linha mdia calculada pela equao
LM=
R
=R (7.16)
Os limites de controle so calculados pelas equaes
LIC = D
3
R (7.17a)
LSC = D
4
R (7.17b)
Os coeficientes D
3
e D
4
esto mostrados na Tab. 7.2, Pg. 149, em funo do
nmero de elementos n
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-149-
Tab. 7.2: Constantes estatsticas (n = Nmero de elementos da amostra)
(n) A
1
A
2
d
2
c
2
B
1
B
2
B# B4
D
3
D
4
2 3,760 1,880
1,128 0,564 0 1,843 0 3,267 0 3,267
3 2,394 1,023
1,693 0,724 0 1,858 0 2,568 0 2,575
4 1,880 0,729
2,059 0,798 0 1,808 0 2,266 0 2,282
5 1,596 0,577
2,326 0,841 0 1,756 0 2,089 0 2,115
6 1,410 0,483
2,534 0,869 0,026 1,711 0,030 1,970 0 2,004
7 1,277 0,419
2,704 0,888 0,105 1,672 0,118 1,882 0,076 1,924
8 1,175 0,373
2,847 0,903 0,167 1,638 0,185 1,815 0,136 1,864
9 1,094 0,337
2,970 0,914 0,219 1,609 0,239 1,761 0,184 1,816
10 1,028 0,308
3,078 0,923 0,262 1,584 0,284 1,716 0,223 1,777
Exemplo:
1. Deve ser controlada a resistncia mecnica de um componente. Durante a sua
fabricao mediu-se a resistncia de 5 componentes (n=5), de hora em hora,
perfazendo um total de 20 amostras (k=20). A Tabela 7.3 mostram os
resultados. Analise o processo.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-150-
Tab. 7.3: Valores de Resistncia medidos
Limites Especificados no Projeto:
R
MAX
= 147 Mpa; R
MIN
= 133 Mpa
Valores em Mpa
Amostra
x
1
x
2
x
3
x
4
x
5
Mdia Amplitude
R
Desvio
Padro s
1 143 137 145 137 138 140,0 8 3,7417
2 141 142 147 140 140 142,0 7 2,9155
3 142 137 145 140 132 139,2 13 4,9699
4 137 147 142 137 135 139,6 12 4,8785
5 137 146 142 142 140 141,4 9 3,2863
6 145 144 146 148 149 146,4 5 2,0736
7 137 145 144 137 140 140,6 8 3,7815
8 144 142 143 135 144 141,6 9 3,7815
9 140 132 144 145 141 140,4 13 5,1284
10 132 135 136 130 141 134,8 11 4,2071
11 137 142 142 145 143 141,8 8 2,9496
12 142 142 143 140 135 140,4 8 3,2094
13 136 142 140 139 137 138,8 6 2,3875
14 142 144 140 138 143 141,4 6 2,4083
15 139 146 143 140 139 141,4 7 3,0496
16 140 145 142 139 137 140,6 8 3,0496
17 134 147 143 141 142 141,4 13 4,7223
18 138 145 141 137 141 140,4 8 3,1305
19 140 145 143 144 138 142,0 7 2,9155
20 145 145 137 138 140 141,0 8 3,8079
Mdia Geral: 140,76 8,70 3,520
Como n=5<10, optou-se por trabalhar com a amplitude mdia R . Deve-se
trabalhar assim com as cartas
x
- R (mdia /amplitude)
Na Tab. 7.3 foram calculados para cada amostra k, a mdia x , a amplitude R e o
desvio padro s. Alm disto, na Tab. 7.3 tambm esto calculados os valores da
mdia x = 140,76 Mpa e da amplitude mdia R = 8,70 Mpa.
Carta de controle das mdias:
Os limites de controle so calculados pelas Equaes (7.8a) e (7.8b). O valor de
A
2
=0,577 determinado na Tab. 7.2 com n=5.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-151-
LSC=140,76 + 0,577 8,70 = 145,78 Mpa
LIC = 140,76 0,577 8,70 = 135,74 Mpa.
Mdia
LSC
LIC
x
0 2 6 4 8 10 12 14 16 18 22 20 24
Amostra
134
136
140
138
142
148
144
146
Observa-se que as amostras de nmero 6 e 10 esto fora dos limites de controle.
Eles devem ser eliminados e novos limites recalculados. Aps a excluso destas duas
amostras obteve-se os novos valores de x = 140,78 Mpa e da amplitude mdia
R = 8,78 Mpa
Os limites de controle recalculados so:
LSC=140,78 + 0,577 8,78 = 145,85 Mpa
LIC = 140,78 0,577 8,78 = 135,71 Mpa.
A estimativa do desvio padro obtida pela Eq. (7.9), com d
2
= 2,326 (Tab. 7.2,
pg.149, n=5). Assim = 8,78 / 2,326 = 3,77 Mpa
Estabelece-se assim a norma de controle para o processo com os
parmetros x = 140,78 Mpa e = 3,77 Mpa
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-152-
Observe: Os limites LSC e LIC podem ser calculados usando-se o desvio padro
x
em
torno da mdia. Assim, a capacidade pode ser calculada por
x
p
t
C
6
=
(7.18)
Por conveno o processo considerado capaz quando C
p
1,33.
C
p
1,33 significa que o desvio padro (
x
) e a especificao (8
x
Quando C
p
1,33 significa que o processo est operando dentro de 75% da
tolerncia especificada no projeto (ou seja, tem 25% de folga).
C
p
= 1,0 significa que a tolerncia do proceso de fabricao (LSC-LIC) igual
tolerncia do projeto. Neste caso o desvio padro experimental do processo igual
a um sexto da tolerncia do projeto. O processo no tem nenhuma folga
operacional O processo no capaz!
1,00 C
p
< 1,33 significa que apesar de produzir peas dentro das
especificaes, o processo no tem a folga operacional mnima necessria.
O processo no capaz!
Exemplo 2: Um eixo tem a seguinte especificao de projeto: 120d9
O processo de fabricao produziu peas com as seguintes
caractersticas:
x
= =
x
p
t
C
Como C
p
> 1,33, diz-se que o processo tem capacidade potencial ( capaz!)
Os limites naturais do processo de fabricao so:
LSC =
x
x 3 +
= 119,810 + 3 x 0,010 = 119,840 mm;
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-158-
LIC =
x
x 3
= 119,810 - 3 x 0,010 = 119,780 mm.
Comparando-se os limites do processo com o limite especificado tem-se
689 , 0
087 , 0
010 , 0 6
6
=
= =
t t
LIC LSC
x
ou seja, o processo est trabalhando dentro de uma faixa correspondente a 68,9% da
tolerncia especificada. Observe que 1/c
p
= 1/1,45 = 0,689.
OBSERVE:
125 , 0
8
1
1149 , 0
087 , 0
010 , 0
= < = =
t
x
menor que um oitavo da tolerncia do projeto.
A Fig. 7.16 mostra estes cculos em forma de grfico:
119,810
dmx = 119,880 mm
dmn = 119,793 mm
Dimenses
(mm)
119,780
119,840
Peas
Refugadas
X
Fig. 7.16: Grfico do exemplo 2
Atravs da anlise grfica da Fig. 7.16, observa-se que o processo est produzindo
algumas peas com dimenses inferiores ao d
min
= 119,793mm e atingindo valores de
at 119,780 mm (LIC). Assim, apesar do C
p
= 1,45 > 1,33, o processo no
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-159-
capaz! Ele produz peas que no atendem s especificaes. Este processo atenderia
s especificaes desde que a sua mdia ( x = 119,810 mm) coincidisse com a mdia
da especificao (M = 119,837 mm). O processo est deslocado no sentido do d
min
(a
mdia do processo menor que a mdia nominal ou da especificao).
O processo seria capaz se estivesse centrado!
Pode-se concluir atravs deste exemplo que o ndice de capabilidade C
p
no
suficiente para indicar a capacidade de um processo. Deve-se verificar a ajustagem da
curva, ou seja, deve ser feita uma comparao entre a mdia nominal de projeto e a
mdia das peas produzidas pelo processo de fabricao.
ndice de Capabilidade Centrado do Processo (C
PK
)
A capabilidade centrada do processo informa se o processo est centrado em torno da
mdia nominal de projeto. Tem-se os ndices de capabilidade centrados
x
MX
x D
Cpks
3
=
(7.19)
x
MIN
D x
Cpki
3
=
(7.20)
onde Cpks o ndice de capabilidade superior e Cpki o ndice de capabilidade inferior.
D
mx
e D
min
so as dimenses limites para furo e para eixos.
A capabilidade do processo o resultado de menor valor calculado pelas
Eqs. (7.19) e (7.20).
Um processo tem boa capabilidade centrada quando o seu valor for superior a 1,33,
ou seja, Cpk > 1,33!
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-160-
O processo estar centrado quando Cpki = Cpks! Se o Cpki < Cpks o
processo estar deslocado no sentido do D
min
. Ao contrrio, se o Cpks < Cpki o
processo estar deslocado no sentido do D
mx
.
O mximo valor do Cpk ser o valor do Cp Cpk Cp
Exemplo 3: Continuao do exemplo anterior Eixo 120d9.
Clculos das capabilidades centradas:
333 2
010 0 3
810 119 88 119
3
,
,
, ,
=
=
x
MX
x D
Cpks
567 , 0
010 , 0 3
793 , 119 810 , 119
3
=
=
x
MIN
D x
Cpki
A capabilidade centrada do processo C
pk
= 0,567 < 1,33. (o menor
valor) O Processo no apresenta boa capabilidade centrada, logo no
capaz!
O processo est produzindo peas cujas dimenses mdias esto deslocadas no
sentido do d
min
pois Cpki < Cpks. (Observe a Fig.7.16)
Concluso do exemplo: O processo, apesar de ter capabilidade potencial satisfatria
(Cp = 1,45), est incapaz por estar descentralizado (Cpk = 0,567) Cp > 1,33 e
Cpk < 1,33.
O ideal seria o processo ter Cp = 1,45 e C
pk
= 1,45. Isto seria obtido se a mdia do
processo ( x ) fosse igual mdia nominal de projeto (M). Esta diferena entre as
mdias pode ser calculada atravs do coeficiente de desvio k:
t
x M
k
| | 2
=
(7.21)
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-161-
onde M = (D
mx
+ D
min
)/2 e t a tolerncia especficada no projeto.
Exemplo 3: Continuao do exemplo anterior Eixo 120d9.
Clculo do k:
8365 119
2
793 119 880 119
,
, ,
=
+
= M
609 , 0
087 , 0
| 810 , 119 8365 , 119 | 2
=
= k
RESUMO DE CEP POR VARIVEIS:
C
P
est relacionado disperso do processo de fabricao.
C
Pk
est relacionado centralizao do processo de fabricao
A Fig. 7.17 mostra algumas variaes possveis de ocorrer, em funo da variao
do C
p
e do C
pk
.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-162-
Cp x Cpk
Cp Cpk
Dmn Dmx
1,0
1,5
2,0
1,0
1,5
2,0
0,7
0,7
0,3
1,0
1,0
0,5
0,7
1,33
1,33
Fig. 7.17: Influncia das variaes do Cp e Cpk na forma da curva do processo
Exemplo 4: Um processo de fabricao deve produzir furos 40H9. Durante a produo
foram retiradas e medidas os afastamentos de 5 peas de hora em hora, como mostra
a Tab. 7.6. Assim, no instante inicial retirou-se peas com os seguintes afastamentos
em m: 44; 28; 26; 42 e 35. Aps uma hora, repetiu-se a operao medindo-se os
afastamentos de 5 novas peas e assim por diante.
Determinar a Carta de Controle, ndices do Processo e fazer uma Anlise do Processo.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-163-
Tab. 7.6: Dados medidos e calculados - Exemplo 4
N da Valores dos Afastamentos medidos (m) Clculos (m)
Amostra A B C D E
x
R
1 44 28 26 42 35 35 18
2 40 42 16 34 33 33 26
3 20 40 58 40 42 40 38
4 30 48 24 26 32 32 24
5 32 30 24 24 30 28 8
6 60 28 28 38 36 38 32
7 32 40 20 22 26 28 20
8 38 30 36 18 28 30 20
9 30 46 10 44 35 33 36
10 46 22 24 36 32 32 24
11 32 40 34 42 37 37 10
12 34 52 48 16 40 38 36
13 50 40 54 16 40 40 38
14 26 38 38 20 28 30 18
15 42 52 42 54 50 48 12
16 46 44 26 10 34 32 36
17 36 20 14 32 28 26 22
18 28 30 34 38 30 32 10
19 32 20 40 36 32 32 20
20 28 34 10 36 27 27 26
21 32 42 44 36 46 40 14
22 34 36 32 27 36 33 9
23 48 32 34 46 35 39 16
24 40 36 20 32 32 32 20
25 34 38 37 34 32 35 6
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-164-
Soluo:
Especificao do Projeto: 40 H9 D
min
= 40,000mm; D
mx
= 40,062mm; t = 62m;
M = (D
mx
+ D
min
)/2 = 40,031mm
A
i
= 0,000mm; A
s
= 0,062mm = 62m
Valores analisados (do processo de fabricao): Calculados a partir dos valores das
dimenses das peas produzidas. Tem-se:
Para cada amostra de 5 peas calcula-se a mdia
x
e a amplitude R. Para a primeira
amostra, N=1 tem-se:
x
1 = 35m e R = 18m.
Calcula-se a mdia de todas as 25 mdias de afastamentos obtidas x = 34m.
Calcula-se a mdia de afastamentos das 25 amplitudes R = 21,56m.
Observe que mediu-se os afastamentos. Para a pea N = 4, letra A, obteve-se A
s
=
30m. Logo esta pea tem um dimetro D
mx
= 40,030mm. Para
x
= 34m, tem-se
D = 40,034mm.
Estimativa do Desvio Padro:
m
d
R
25 , 9
326 , 2
56 , 21
2
= = =
d
2
Tab. 7.2 Pg. 149 com n=5 d
2
= 2,326
Estabelece-se assim a norma de controle para o processo com os
parmetros x = 40,034 mm e = 0,00925 mm
CARTAS DE CONTROLE: Como n=5<10, optou-se por utilizar as cartas das mdias e
da amplitude ( x /R.)
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-165-
Carta de Controle das Mdias:
Limites do Processo:
Pode-se calcular por duas maneiras distintas:
mm R A D LSC 0465 , 40 02156 , 0 58 , 0 034 , 40
2
= + = + =
mm R A D LIC 021495 , 40 02156 , 0 58 , 0 034 , 40
2
= = =
ou,
mm D LSC
x
0464 , 40
5
0092 , 0
3 034 , 40 3 = + = + =
mm D LIC
x
02159 , 40
5
0092 , 0
3 034 , 40 3 = = =
Utilizando-se os dados acima, traou-se a carta de controle das mdias, como
mostrado na Fig. 7.18a.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-166-
Mdia
LSC
LIC
Dmx
Dmn
D
i
m
e
t
r
o
(
m
m
)
40,062
40,046
40,000
40,022
40,034
0 2 6 4 8 10 12 14 16 18 22 20 28 24 26
N de Amostra
Fig. 7.18a: Carta de Controle das mdias - Exemplo 4
Carta de Controle das Amplitudes
A linha mdia calculada pela Eq. 7.16
LM=
R
= R =21,56 m
Os limites de controle so calculados pelas equaes (7.17a) e (7.17b). Os
coeficientes D3=0 e D4=2,115(Tab. 7.2, Pg. 149, com n=5)
LIC = 0 * 21,56 = 0
LSC =2,115 * 21,56 = 0,0456mm
A Fig. 7.18b mostra a carta de controle das amplitudes.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-167-
Mdia
LSC
LIC
0 2 6 4 8 10 12 14 16 18 22 20 24
Amostra
0,000
0,005
0,015
0,010
0,045
0,040
0,050
0,020
0,035
0,025
0,030
A
m
p
l
i
t
u
d
e
M
d
i
a
(
m
m
)
Fig. 7.18b: Carta de Controle das Amplitudes Exemplo 4
Padres do Processo:
Capabilidade Cp: t/6
x
o
v
e
r
m
e
l
h
a
R
e
g
i
o
v
e
r
m
e
l
h
a
reg.
amarela
reg.
amarela
1/2 tolerncia
tolerncia
mn
Fig. 7.20: Grfico do Farol
O grfico consiste na curva de Gauss acrescida com as cores de um semforo. O
operador, como um motorista comum, deve ficar atento s cores que aparecerem.
Para isso, dever seguir ao procedimento. Ele pegar amostras de tempos em
tempos e far a medida de duas peas.
Se ambas estiverem na regio verde, V EM FRENTE, ele continuar com o
processo normalmente.
Se uma ou duas peas estiverem na regio vermelha, PARE imediatamente o
processo e chame o responsvel.
Se uma ou duas peas estiverem na regio amarela, ATENO, faa a medio de
mais trs peas. Destes, se duas ou mais peas estiverem na regio verde,
continue o processo. Se duas ou mais peas estiverem na regio amarela chame
o responsvel.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-172-
A seguir, sero feitos os clculos para a construo do grfico do farol.
1 passo
Determinar a amplitude de tolerncia. (t = D
mx
- D
mn
)
2 passo
Dividir a tolerncia por quatro, ou seja, (D
mx
- D
mn
)/4.
3 passo
Marcar os valores no grfico como segue.
4 passo
Marcar as regies com as cores apropriadas
D
m
x
regio verde
R
e
g
i
o
v
e
r
m
e
l
h
a
R
e
g
i
o
v
e
r
m
e
l
h
a
reg.
amarela
reg.
amarela
1/4 tol. 1/4 tol. 1/4 tol. 1/4 tol.
1/2 tolerncia
tolerncia
D
m
n
L
I
L
S
Exemplo 7:
Construir um grfico de pr-controle para o processo de produo de um
equipamento BC121 na operao de chanfrar. Esse processo est com Cpk = 1,2.
Especificao (15,00 0,10 mm)
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-173-
1 passo
Determinar a amplitude de tolerncia:
t = D
mx
- D
mn
= 15,10 - 14,90 = 0,20 mm
2 passo
Calcular o valor de um quarto de tolerncia:
tolerncia = 0,20 / 4 = 0,05
3 passo
Calcular as linhas de controle no grfico:
Reg.
Vermelha
PARE
Dimetro > 15,105
15,10
Reg.
Amarela
OBSERVE
V
15,055< < 15,105
15,05
Reg. Verde V VV V V VV VV V VV 14,995< < 15,055
15,00
CONTINUE V V VV V VV 14,945< < 14,995
14,95
Reg.
Amarela
OBSERVE
14,895< < 14,945
Reg.
Vermelha
PARE
V
Dimetro < 14,895
9:00 11:00 13:00 15:00 9:00 11:00 13:00 15:00
14,90
7.4 Controle Estatstico de Processo por Atributos
O CEP por atributos utilizado para controlar variaes no mensurveis. Ele tem as
seguintes caractersticas:
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-174-
Nmero de variveis elevado;
Nmero de amostras bastante elevado;
Utiliza-se padres ou gabaritos do tipo passa/ no-passa, bom/ruim;
Deve ser definido um padro de qualidade para a avaliao e definio de bom/ruim,
conforme/no conforme;
Na maioria das vezes a inspeo visual ou com auxlio de instrumentos ticos.
No CEP por atributo o produto ou processo de fabricao classificado como
conforme ou no conforme, defeituoso ou sem defeito. Deve-se analisar as cartas
de controle.
Anlise de estabilidade: As cartas de atributo devem ser analisadas de maneira similar
s cartas por variveis (3 regras bsicas + 5 regras auxiliares).
Tipos de cartas de controle:
Carta C: Quantidade de defeitos;
Carta U: Quantidade de defeitos por unidade;
Carta NP: Quantidade de elementos defeituosos;
Carta P: Porcentagem de elementos defeituosos.
7.4.1 Carta C
Utiliza distribuio de Poisson.
Efetua a contagem de defeitos encontrados no processo ou produto. Ex.: Nmero de
arranhados e de amassados em uma porta, nmero de lmpadas queimadas, etc..
O tamanho da amostra n deve ser constante.
A mdia pode ser calculada pela equao:
=
=
+ + + +
=
K
i
i k
K
C
K
C C C C
C
1
3 2 1
...
(7.22)
C
1
,C
2
,C
3
so os nmeros de defeitos de cada uma das K amostras.
K o nmero de amostras.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-175-
Os limites do processo de fabricao so calculados pelas equaes:
C C LSC 3 + = (7.23)
e
C C LIC 3 = (7.24)
Exemplo 8: Uma fbrica produz 2450 automveis por dia. Diariamente 100 automveis
so selecionados aleatoriamente para um teste rigoroso. Aps 20 dias consecutivos
obteve-se os dados mostrados na Tab. 7.9.
Nmero de amostras K = 20; Nmero de elementos por amostra = 100 =cte.
Nmero de defeitos C
1
=15; C
2
=6, etc...
Tab. 7.9: Dados medidos e calculados - Exemplo 8
Defeitos Amostras
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Porta difcil de fechar 3 2 4 0 2 7 0 0 2 0
Luz de freio c/ defeito 1 0 3 2 2 2 2 3 2 1
Farol estragado 7 2 2 5 2 3 1 3 4 4
Embreagem desregulada 0 0 0 3 1 0 0 0 1 3
Pintura arranhada 4 2 1 4 1 0 4 3 3 5
Total de defeitos (C) 15 6 10 14 8 12 7 9 12 13
N
0
de automveis
analisados
100 100 100 100 100 100 100 100 100 100
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-176-
Defeitos Amostras
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Porta difcil de fechar 3 2 4 2 2 3 0 1 2 0
Luz de freio c/ defeito 4 2 3 2 2 2 3 3 3 1
Farol estragado 2 2 2 5 2 3 1 3 4 3
Embreagem desregulada 2 2 2 3 1 3 3 3 1 0
Pintura arranhada 4 2 1 1 1 4 4 3 3 5
Total de defeitos (C) 15 10 10 13 8 15 11 13 13 9
N
0
de automveis
analisados
100 100 100 100 100 100 100 100 100 100
Mdia:
25 , 11
20
225
20
9 13 ... 8 14 10 6 15
= =
+ + + + + + +
= C
LSC = 11,25+3(11,25)
1/2
= 21,31; LIC = 11,25-3(11,25)
1/2
= 1,19;
Concluso: A carta de controle estvel.
A Fig. 7.21 mostra a carta de controle deste exemplo.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-177-
Mdia
LSC
LIC
N
d
e
D
e
f
e
i
t
o
s
0 2 6 4 8 10 12 14 16 18 22 20 24
Amostra
0
5
20
10
15
25
Fig. 7.21: Carta de controle por atributos - Exemplo 8
7.4.2 Carta U
Utiliza distribuio de Poisson.
Efetua contagem proporcional de defeitos existentes encontrados no processo, ou
seja, nmero de defeitos em relao ao total da amostra.
O tamanho da amostra n pode ser varivel
O nmero de defeitos proporcionais U pode ser calculada pela equao:
U = C (7.25)
n
onde C o nmero de defeitos de uma amostra e n o nmero de elementos de uma
amostra.
A mdia pode ser calculada pela equao
=
=
=
+ + + +
+ + + +
=
K
i
i
K
i
i
K
K
n
C
n n n n
C C C C
U
1
1
3 2 1
3 2 1
...
...
(7.26)
C
1
, C
2
, ...C
k
so os nmeros de defeitos em cada uma das K amostras. Cada amostra
tem um nmero n
i
de elementos.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-178-
Clculos dos limites:
(
(
+ =
n
U
U LSC 3
(7.27)
(
(
=
n
U
U LIC 3
(7.28)
onde
=
=
+ + + +
=
K
i
i K
K
n
K
n n n n
n
1
3 2 1
...
(7.29)
Exemplo 9: A Tab. 7.10 mostra os resultados obtidos de uma avaliao de um
processo de fabricao. Os dados foram coletados em 20 dias consecutivos.
Tab. 7.10: Dados medidos e calculados - Exemplo 9
Defeitos Amostras
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Trinca em solda 6 4 2 0 4 14 0 0 4 0
Pto. de solda c/ defeito 2 0 2 4 8 4 4 6 4 2
Pto. de solda faltando 8 0 2 8 4 6 0 6 0 0
Rebarbas 0 2 0 6 2 0 4 0 2 6
Amassados 8 4 0 0 6 2 2 0 0 4
Total de defeitos (C) 24 10 6 18 24 26 10 12 10 12
N
0
de elementos (n)
100 40 40 100 100 40 40 40 40 40
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-179-
Defeitos Amostras
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Trinca em solda 6 0 1 0 2 0 8 2 4 0
Pto. de solda c/ defeito 2 3 0 0 2 2 6 5 5 2
Pto. de solda faltando 4 0 2 0 2 0 5 0 0 0
Rebarbas 4 0 2 0 1 0 4 1 1 0
Amassados 8 2 1 2 1 2 7 0 0 0
Total de defeitos (C) 24 5 6 2 8 4 30 8 10 2
N
0
de elementos (n)
100 100 40 40 100 40 100 100 100 40
19 , 0
1340
258
40 100 100 ... 40 40 100
2 10 8 ... 6 10 24
= =
+ + + + + +
+ + + + + +
= U
Para n
1
= 100; n
2
= 40, etc e K = 20 pode-se calcular:
67
20
1340
20
40 ... 40 40 100
= =
+ + + +
= n
LSC e LIC Eqs. (7.27) e (7.28):
35 , 0
67
19 , 0
3 19 , 0 =
(
+ = LSC
03 , 0
67
19 , 0
3 19 , 0 =
(
(
= LIC
Clculo da Carta de Controle: Deve-se calcular a frao de defeitos por amostra - Eq (7.25)
u = c/n Amostra 1 u
1
= 24/100=0,24 u
2
= 10/40=0,25 etc...
A Fig. 7.22 mostra a carta de controle. A carta instvel, com 1 ponto acima do LSC e
tendncia de 11 pontos acima da linha mdia.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-180-
Mdia
LSC
LIC
F
r
a
o
d
e
D
e
f
e
i
t
o
s
0 2 6 4 8 10 12 14 16 18 22 20 24
Amostra
0,00
0,05
0,15
0,10
0,45
0,40
0,50
0,55
0,20
0,35
0,25
0,30
Fig. 7.22: Carta de controle por atributos - Carta U Exemplo 9
7.4.3 Carta nP
Utiliza distribuio binomial.
Efetua contagem de elementos defeituosos ou no-conformes na amostra.
Tamanho da amostra n constante , geralmente n 50.
Defeito X Elemento defeituoso: Uma pea pode ter vrios defeitos distintos. A
existncia de um ou mais defeitos torna uma pea defeituosa. Exemplo:
Parachoque Apresenta dois defeitos Amassado e riscado. O parachoque
uma pea defeituosa. O parachoque contem 02 defeitos!
Clculo da mdia:
=
=
+ + + +
=
K
i
i
K
nP
K
nP nP nP nP
nP
1
25 3 2 1 ...
(7.30)
onde np
1
, np
2
so os nmeros de elementos defeituosos de cada uma das
"k"amostras.
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-181-
Clculo dos limites:
|
|
.
|
\
|
+ =
n
nP
nP nP LSC 1 3 (7.31)
|
|
.
|
\
|
=
n
nP
nP nP LIC 1 3 (7.32)
Exemplo 10:
Foi implantada uma carta CEP na liberao de uma linha de montagem, tendo sido
realizado uma coleta de dados dos elementos no-conformes, conforme Tab. 7.11:
Tab. 7.11: Dados medidos e calculados Exemplo 10
Elementos Defeituosos Amostras
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Porta agarrando
3 8 4 3 2 7 8 0 2 8
Vidro eltrico c/ defeito
5 0 6 2 2 2 2 3 6 11
Farol queimado
18 15 10 3 14 15 13 16 11 17
Pintura arranhada
4 2 8 4 6 1 4 3 3 7
Total de elem. defeituosos
30 25 28 12 24 25 27 22 22 13
N
0
de elementos
60 60 60 60 60 60 60 60 60 60
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-182-
Elementos Defeituosos Amostras
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Porta agarrando
3 2 4 4 2 3 5 4 2 0
Vidro eltrico c/ defeito
4 2 3 5 2 2 5 6 3 1
Farol queimado
15 14 11 9 17 10 10 12 7 6
Pintura arranhada
4 2 6 5 4 4 4 3 3 5
Total de elem. defeituosos
26 20 24 23 25 19 24 25 15 12
N
0
de elementos
60 60 60 60 60 60 60 60 60 60
Elementos Defeituosos Amostras
21 22 23 24 25
Porta agarrando
8 10 3 8 1
Vidro eltrico c/ defeito
2 0 4 1 5
Farol queimado
2 84 5 6 8
Pintura arranhada
3 6 5 1 1
Total de elem. defeituosos
15 24 17 16 15
N
0
de elementos
60 60 60 60 60
Clculos:
12 21
25
528
25
15 16 25 30
25
25 3 2 1
,
... ...
= =
+ + + +
=
+ + + +
= =
nP nP nP nP
nP LM
22 , 32
60
12 , 21
1 12 , 21 3 12 , 21 1 3 = |
.
|
\
|
+ =
|
|
.
|
\
|
+ =
n
nP
nP nP LSC
02 , 10
60
12 , 21
1 12 , 21 3 12 , 21 1 3 = |
.
|
\
|
=
|
|
.
|
\
|
=
n
nP
nP nP LIC
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-183-
Anlise: Carta estvel.
Mdia
LSC
LIC
N
m
e
r
o
d
e
D
e
f
e
i
t
o
s
0 2 6 4 8 10 12 14 16 18 22 20 24
Amostra
0
5
15
10
20
35
25
30
Fig. 7.23: Carta de controle por atributos - Carta nP Exemplo 10
7.4.4 Carta P
Utiliza distribuio binomial.
Efetua contagem proporcional de elementos defeituosos existentes, encontrados no
processo, ou seja, nmero de elemntos defeituosos em relao ao total da amostra.
O tamanho da amostra n pode ser varivel, geralmente n 50.
O nmero de elementos defeituosos proporcionais P pode ser calculada pela equao:
P = nP (7.33)
n
onde "nP" o nmero de elementos defeituosos de uma amostra e n o nmero de
elementos de uma amostra.
A mdia pode ser calculada pela equao
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-184-
=
=
=
+ + + +
+ + + +
=
K
i
i
K
i
i
n
nP
n n n n
nP nP nP nP
P
1
1
25 3 2 1
25 3 2 1
...
...
(7.34)
nP
1
, nP
2
, ... nP
k
so os nmeros de defeitos em cada uma das K amostras. Cada
amostra tem um nmero n
i
de elementos.
Clculos dos limites:
( )
(
(
+ =
n
P P
P LSC
1
3
(7.35)
( )
(
(
=
n
P P
P LIC
1
3
(7.36)
Exemplo 11:
O controle implantado pela pintura das portas de um automvel, apresentou um
nmero de portas defeituosas conforme os dados mostrados na Tab. 7.12.
Tab. 7.12: Dados medidos em portas Exemplo 11
Elementos Defeituosos Amostra
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Arranhado 0 1 2 2 0 1 1 1 1 2
Manchado 4 2 1 4 2 1 2 3 0 3
Escorrido 1 1 1 0 0 2 1 2 2 1
Bolhas 0 1 1 0 0 0 1 2 0 1
Total de Elem. Defeit 5 5 5 6 2 4 5 8 3 7
N Elementos 60 40 50 40 40 60 60 60 60 60
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-185-
Elementos Defeituosos Amostra
11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Arranhado 0 2 3 2 1 1 0 1 1 0
Manchado 2 1 5 4 5 1 2 1 0 0
Escorrido 2 4 0 0 0 2 1 0 0 1
Bolhas 0 2 0 1 0 0 1 0 0 1
Total de Elem. Defeit 4 9 8 7 6 4 4 2 1 2
N Elementos 60 60 40 40 40 40 60 60 60 50
Amostra Elementos Defeituosos
21 22 23 24 25
Arranhado 0 0 3 2 1
Manchado 2 0 4 1 1
Escorrido 2 1 0 0 0
Bolhas 1 2 0 1 1
Total de Elem. Defeit 5 3 7 4 3
N Elementos 50 40 40 50 60
a) Que tipo de carta devemos utilizar
b) Traar e analisar a carta de controle
a)
% , ,
...
...
...
...
7 9 0969 0
1280
124
60 40 60
3 5 5
25 4 3 2 1
25 4 3 2 1
= = =
=
+ + +
+ + +
=
+ + + + +
+ + + + +
= =
n n n n n
nP nP nP nP nP
P LM
2 , 51
25
1280
25
...
25 4 3 2 1
= =
+ + + + +
=
n n n n n
n
7. Controle Estatstico de Processos CEP
-186-
( ) ( )
% 1 , 22 2209 , 0
2 , 51
0969 , 0 1 0969 , 0
3 0969 , 0
1
3 = =
(
(
+ =
(
(
+ =
n
P P
P LSC
( ) ( )
0271 , 0
2 , 51
0969 , 0 1 0969 , 0
3 0969 , 0
1
3 =
(
(
=
(
(
=
n
P P
P LIC
O menor valor para carta por atributos zero.
0 = LIC
Anlise: A carta instvel, tendncia de sete pontos decrescentes.
Mdia
LSC
LIC
F
r
a
o
d
e
D
e
f
e
i
t
o
s
0 2 6 4 8 10 12 14 16
18 22 20
Amostra
0
5
15
10
20
25
Fig. 7.24: Carta de controle por atributos - Carta P Exemplo 11