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SEMICONDUTORES
SEMICONDUTORES
Parte Analgica
Ademarlaudo Barbosa
1 eV
6 eV
ISOLANTE
Valncia
SEMICONDUTOR
Conduo
Proibida
CONDUTOR
Interseco
ni T
3/ 2
Eg
2 kT
Eltron em excesso
Buraco em excesso
(a)
(b)
Fig. 30: Dopagem de semicondutores: (a) impureza tipo n, (b) impureza tipo p
Uma juno p-n obtida quando se fabrica um semicondutor tipo-p
justaposto a um tipo-n. Na regio de interface entre os dois, haver tendncia
dos eltrons a migrar para a regio tipo-p, e dos buracos a migrar para a regio
tipo-n. Dessa forma a regio tipo-n torna-se carregada positivamente por haver
capturado buracos, e a regio tipo-p torna-se carregada negativamente por
haver capturado eltrons. Um campo eltrico portanto se estabelece, com uma
diferena de potencial tipicamente da ordem de 1V.
I = I o e kT 1
Io
(64)
eV
kTo
= Ke
chamada de
V
0,6 Volts
no
podemos
obter
analiticamente
funo
de
transferncia
Na Fig. 24 est mostrado o mais simples dos circuitos com diodo. Uma
fonte de tenso alternada, de freqncia fixa e amplitude Ve (>Vo) aplicado
entrada do diodo. O resistor representa uma carga, e tambm um limitador de
corrente. Seu valor deve ser tal que a corrente que passa pelo circuito (Vs/R)
seja inferior a corrente mxima (Imax) suportvel pelo diodo. Imax uma das
especificaes fornecidas pelo fabricante.
Como visto em 3.2, haver passagem de corrente quando a polarizao
do diodo estiver no sentido favorvel (Ve>0). Isto ocorre a cada meio ciclo de
onda, de modo que a tenso de sada reproduz a parte positiva da tenso de
entrada, a menos da queda de potencial sobre o diodo (Fig. 41). Assim o diodo
cumpre a funo de retificar o sinal de entrada, eliminando sua parte negativa.
Ve
Vs
Ve
Vs
D2
D1
Ve
Vs
D3
D4
R
Vs
D2
D1
L
Vs
Ve
D3
D4
C
Fig. 35: Gerador de nvel de tenso a partir de uma fonte de corrente alternada
3.3.3 Diodo Zener, Fonte de Tenso
Vz
V fonte
R fonte
1
R fonte
V=Vz
Rcarga
f ( x) = Kx +
K
2
x 2 + K6 x 3 + ...
I=
a2
2
V(t)=[2+Sin2t]Sin1t
1=10 2
L1 C1
L1 C1
V(t)
1||2
0
-1
-2
-3
0
20
40
60
80
100
L1 C1
1||2
RC<<1
Vs
pnp
npn
Junes
Smbolo
Circuito
b
e
c
b
b
e
Ic
Ie
I b I b
(60)
Regio de Operao
VCE
I C = I S e VT 1 , com VT =
kT
e
(61)
(62)
ic =
I C
V BE
v BE +
I C
V CE
v CE
ic =
I B
VBE
v BE +
I C
VCE
v CE
Definindo agora:
r=
VBE
I B
, e =
VCE
I C
(63)
Chegamos a:
ic = r v BE + 1 v CE
r, e so parmetros intrnsecos do transistor que definem suas
caractersticas de funcionamento dinmico. r e tm dimenso de resistncia
eltrica. Podemos ver pela Fig. 41 que, na regio de operao, equivale a
uma resistncia de valor muito elevado, j que IC praticametne no varia com
VCE. Neste contexto, admitindo que a base seja o terminal de entrada, r
equivale a uma resistncia de entrada intrnseca ao transistor:
iC
v BE =
v BE
iB
(64)
V BE
I C
I e VT
I + I S IC
= S
= C
v BE
VT
VT
VT
VT
IB
26 mV
I B ( mA)
41. Esta
(b)
Emissor
Coletor
Base
(c)
Coletor
Emissor
Emissor
Coletor
Base
ve
Vs
RE
v e = [r + ( + 1)RE ]i B
v s = RE i E = ( + 1)RE iB
Av =
vs
ve
( +1)RE
r + ( +1)RE
Donde:
Ai =
is
ie
= +1
ve
ie
vb
iB
[r + ( +1)R E ]i B
iB
= r + ( + 1)R E R E
v
is
(b)
r/(+1)
r
ve (=vB)
vs (=vE)
iB
vs (=vE)
iE
RE
iE
ve (=vB)
iE
RE
vs =
RE
r
+1
+ RE
ve =
( + 1 )R E
r + ( + 1 )R E
ve
Zs =
ri B
iE
riB
( +1)iB
r
+1
VCC
(a)
(c)
(b)
RC
RC
vs
ve
VCC
RC
vs
ve
RE
vs
ve
RE
Fig. 45: Modo coletor comum, com (a) e sem (b) resistor de emissor, e com
capacitor de desacoplamento (c).
VC = VCC RC I C
v s = RC iC
Av
RC iC
RE iC
= RCE
R
R
i
R
Av = [r +(C+1)RB E ]iB = r +( +C1)RE
RC
r
vB
iB
[r + ( +1)RE ]iB
iB
= r + ( + 1)RE
Notamos que Ze pode apresentar valor tanto mais elevado quanto maior
for o valor de RE. Entretanto, j que Av depende inversamente de RE, aumentar
a impedncia de entrada implica reduzir o ganho.
Caso RC represente a prpria carga conectada sada do emissor
comum, a variao de tenso de coletor devida presena da carga tem
origem na resistncia intrnseca da juno base-coletor, definida em (63). A
corrente fornecida carga ic, portanto:
Zs
iC
iC
Zs =
(RC || )ic
iC
= RC ||
ve (=vB)
iC
iC
vs (=vC)
||RC
ve (=vB)
RC
(a)
vs (=vC)
iC
iC
(b)
Conforme mostrado na Fig. 47, no modo base comum o sinal entra pelo
terminal emissor, e sai pelo terminal coletor. A base conectada a uma tenso
de referncia constante, comum ao coletor e ao emissor.
Caso desprezemos a corrente de entrada em comparao com a
corrente de emissor, chegamos seguinte avaliao para Av e Ai:
Ai =
iC
iE
= ( +1B)iB 1
( )|| R
r
+1
rRE
( +1)RE + r
r
+1
VCC
RC
vs
I[emissor]
I[entrada]
VBB
ve
RE
rRE2
rRE + r + RE ( +1) E
i =
rRE2 ( +1)
rRE + r + RE ( +1) B
RC iB
ve
RC [ rRE + r + RE ( +1)]
rRE2 ( +1)
Rs
C
ve
Ze
= vves
+ +
ZE
RC
= Av
ZE
RC
1)]
E r RE (
Ai = [ rR
[ r + RE ( +1)] RC
(se RC a carga)
Z s = || RC
Ze
Zs
Coletor comum
r + ( + 1)RE RE
Emissor comum
r + ( + 1)R
Base comum
rRE
( +1)RE + r
r
+1
r
+1
Av
Ai
Ap
( +1)RE
r + ( +1)RE
+1
ou RC||
r +( +C1)RE
ou RC||
RC [ rRE + r + RE ( +1)]
rRE2 ( +1)
+ +
1)]
E r RE (
[ rR
[ r + RE ( +1)] RC
2 RC
r + ( +1)R E
[ rRE + r + RE ( +1)]2
[ r + RE ( +1)]rRE2 ( +1)
Fig. 48: Resumo das propriedades de montagens bsicas com transistores bipolares
(a)
(b)
n
ID
Ruptura (pinchoff)
(VGS)1
(VGS)2
(VGS)3
Regio de Operao
VDS
I D = I DSS 1 + VVGST
(65)
a tenso de
I D = I D (VGS ,VDS )
dI D =
I D
VGS
i D = sv GS + 1 v DS
I D
VGS
VDS
I D
1
s
v GS
iD
(66)
3.7.1 Canal p
I D = I DSS 1 VVGST
(67)
ID
n-FET
p-FET
IDSS
IDSS
VT
VT
VGS
VGS
Substrato
D
Canal
de depleo se estende sobre todo o canal. Tambm pode ser obtido um pFET. Neste caso a regio do canal formada por um semicondutor dopado
com impureza tipo p, e trabalha-se com VGS0.
S
SiO2
n
p
SiO2
p
Substrato
(a)
Substrato
(b)
Fig. 53: Esquemas para depletion MOSFET (a) e enhanced MOSFET (b)
Suponha-se agora que o canal n suprimido, como mostrado na Fig. 53
(b) e que o substrato seja um semicondutor tipo-p. Nesta situao, quando
VGS>0 os portadores de carga do substrato (p) so repelidos e comea a
formao de uma regio desprovida de portadores de carga na superfcie entre
o substrato e o xido de silcio. Acima de uma tenso limite, VGSVT, comea a
passagem de corrente entre source e dreno (desde que haja polarizao VDS,
ou seja, que o transistor esteja polarizado em sua regio de operao).
Transistores operando sob esse regime so denominados enhancement
MOSFETs.
Voltando ao caso da Fig. 53 (a) e supondo que o substrato seja um
semicondutor tipo-p, notamos que para VGS>0 a espessura do canal (n) ter
sido ocupada pela regio de depleo, e comea se formar uma regio de
depleo (desprovida de portadores de carga) no substrato, pelo mesmo
processo que ocorre no enhancement MOSFET. Portanto pode haver
passagen quando VGS>0. Finalmente so possveis os trs comportamentos da
curva ID(VGS) especificados na Fig. 54.
ID
ID
ID
IDSS
VT
VT
Depletion n-FET
VT
VGS
VGS
VGS
Enhancement
n-MOSFET
Enhancement &
depletion n-MOSFET
RG
RS
Notamos que vs=-RDiD, e que vevGS. Como, pela definio (66) iD=svGS,
o ganho em tenso dado por:
Av = sR D
V
s = VIGSD = 2 IVDSS
1 + VGST
T
RG
RS
vs
ve
= 1+ sRS S v s =
sR
RS
1
+ RS
s
ve