DIFRAO DE RAIOS-X

Srgio Pezzin
PGCEM - UDESC
2010

Difrao de Raios-X

Difrao de Raios-X

No se pode resolver espaamentos

Espaamento a distncia entre planos de tomos
paralelos.

Difrao de Raios-X
Gerao de Raios-X

Os Raios-X so gerados quando uma partcula de alta energia

cintica rapidamente desacelerada (Bremsstrahlung) ou por
captura eletrnica .

O mtodo mais utilizado para produzir raios-X fazendo com que

um eltron de alta energia (gerado no ctodo do tubo catdico)
colida com um alvo metlico (nodo).

Quando esse eltron atinge o alvo (I), um eltron da camada K de

um tomo do material liberado na forma de fotoeltron (II),
fazendo com que haja uma vacncia nessa camada. Para ocupar o
espao deixado por esse eltron, um outro eltron de uma
camada mais externa passa camada K (III), liberando energia na
forma de um fton de Raio-X (IV).

A energia desse fton corresponde diferena de energia entre as

duas camadas.

Difrao de Raios-X
Gerao de Raios-X

Difrao de Raios-X
Gerao de Raios-X

Difrao de Raios-X
Gerao de Raios-X

Difrao de Raios-X

Difrao de Raios-X
Mtodo do P

Difrao de Raios-X
Single Crystal

Os mtodos cristalogrficos permitem determinar as posies relativas

de todos os tomos que constituem a molcula (estrutura molecular) e a
posio relativa de todas as molculas na cela unitria do cristal.

Difrao de Raios-X
Os tomos e molculas podem se arranjar em
estruturas cristalinas ou amorfas.

Podemos predizer a densidade (da parte cristalina) de

um material desde que saibamos a massa molecular, raio
de girao e geometria cristalina.

Pontos, direes e planos cristalogrficos so

especificados em termos de ndices cristalogrficos.

Difrao de Raios-X
Materiais podem ser constituidos de cristais nicos
(single crystals) ou serem policristalinos.
As propriedades geralmente variam com a orientao do
cristal nico (i.e., so anisotrpicas), mas so geralmente
no-direcionais (i.e., isotrpicas) em materiais policristalinos
com domnios (ou gros) orientados aleatoriamente.
Alguns materiais podem ter mais que uma estrutura
cristalina. Isto conhecido como polimorfismo (ou
alotropia).
A difrao de raios-X usada para determinar a
estrutura cristalina, o espaamento interplanar e o grau
de cristalinidade.

Raios-X para Determinao da

Estrutura Cristalina
Os raios-X incidentes difratam a partir dos planos cristalinos.
1

1
g

in
2
m
co s
in ray
X-

distncia
extra
percorrida
p/ onda 2

de
te
ct
or
s
y
ra
X

g
ut

ng
i
o

A medida do ngulo
crtico, c, permite
computar a distncia
interplanar, d.

As reflexes devem
estar em fase para gerar
um sinal detectvel
Adapted from Fig. 3.19,
Callister 7e.

espaamento
entre
planos

X-ray
intensity
(from
detector)

n
2 sin c

Perfil de um Difratograma de Raios-X

z

Intensity (relative)

c
a
x

y (110)

a
x

c
b

a
x

(211)

(200)

Diffraction angle 2

Difratograma do ferro policristalino (BCC)

Adapted from Fig. 3.20, Callister 5e.

Cristalinidade em Polmeros

Cristalinidade em Polmeros

Cristalinidade em Polmeros

Cristalizao de Polmeros

Estrutura cristalina - Morfologia

Modelo da Micela franjada - Staudinger (1920)
Teoria das lamelas (~1950)
Estrutura esferultica - MOLP
Shish Kebab
determinao direta - Difrao de raios-X
tipo e abundncia de defeitos - difcil de
determinar

Cristalizao de Polmeros

Modelo da Micela Franjada

Cristalizao de Polmeros

Morfologia de polmeros

Cristalinidade em Polmeros

Cristalizao de Polmeros

Condies de Cristalizao
estrutura molecular regular e relativamente
simples
liberdade para mudanas conformacionais
agentes de nucleao
velocidade de resfriamento - gradiente de T
presso de moldagem (secundria)
estiramento do polmero durante processo.

Difrao de Raios-X

Difrao de Raios-X

Difrao de Raios-X

Difrao de Raios-X

Cristais de Polietileno

Cristais de Polietileno

Difrao X Espalhamento
O fenmeno de difrao de raios-x envolve
uma mudana de 90o da polarizao do feixe
difratado em relao ao incidente
Espalhamento no existe correlao de
polarizao entre o feixe de sada e o incidente
No espalhamento nenhuma nova onda
excitada, apenas o feixe de raios-x incidente
refletido pela densidade eletrnica das fases
presentes na amostra.

Difrao de Baixo ngulo

SAXS
Incidncia razante
Varredura do detector
Penetrao do feixe apenas em
espessura de poucos micrmetros
Percorre o espao recproco de forma
distinta varredura -2

Anlise do Alargamento do
perfil de difrao
A anlise do alargamento do perfil de
difrao constitui uma tcnica valiosa
para o conhecimento da estrutura e
parmetros fsicos de materiais
cristalinos, como:
tamanho mdio de cristalitos,
microdeformao e
heterogeneidade.

Determinao do tamanho de
cristalito e microtenso
Cristalitos ou domnios de difrao correspondem
a regies coerentes de difrao, nas quais no
existe diferena de orientao cristalogrfica entre
as clulas unitrias.
A limitao destes domnios coerentes de difrao
provocada por defeitos superficiais tais como:
falha de empilhamento e
microtrincas.