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"#$#
=
A análise de Weibull é uma técnica simples usada para analisar dados de campos
ou de ensaios, com o objetivo de avaliar o modo de falha exibido por um determinado
componente ou equipamento (Lafraia, 2006). Essa análise permite determinar a fase de
falhas prematuras (mortalidade infantil), a fase de falhas casuais ou aleatórias (taxa de
falha constante) e a fase de falhas por desgaste. A partir destas informações, pode-se
determinar a melhor política de manutenção e a análise de confiabilidade e vida. De
modo geral, a análise de Weibull procura determinar o coeficiente Ë mostrado na seção
anterior, a partir de dados de ensaios, e a partir desse valor identificar o comportamento
característico da taxa de falhas como mostrado anteriormente na Tabela 1. A análise
pode ser deduzida a partir da equação de probabilidade acumulada de falhas, tem-se
que:
ù
ù
Ë Ë
ù
ù
ù
Ùð Ë
A partir da regressão feita com os dados de ensaios, como mostrado na equação acima,
consegue-se o parâmetro de forma Ë . Desta forma, podemos correlacionar os valores de
ȕ com as classes de falha:
r
Considerando que n itens são testados e que o tempo para a falha de cada item é
anotado:
a) rdene os tempo para a falha em ordem crescente da falha 1,2,...,i,...,n.
b) Estime F(t), o percentual acumulado de falhas, através da expressão:
r
ù ! "#
"$
nde:
i = i - ésima ordem, ou número de ordem;
n = número de itens submetidos á falha durante o teste.
bs: A expressão acima para F(t) é conhecida como número de ordem médio.
Esta é uma expressão, entre muitas, que pode ser usada para dar melhor aproximação,
quando se usa número limitado de dados. Neste caso, a apresentaçaõ da probabilidade
de falha proporcional é insatisfatória.
Para o caso de dados censurados, a ordem de cada falha deverá ser reavaliada pois a
amostra eventualmente será diminuída. Isto pode ser feito calculado um incremento de
ordem baseado na equação abaixo:
ù %&!
%
ù '&! &%
Ö
=
z Tempos para a falha: 440, 270, 49, 700, 160 dias.
V
VV
VVVV
V
V V
F(t) = %
Tempo para (Ln(Ln(1/(1-
i acumulada de j(Ln(t))
falha (dias) F(t))))
falhas
1 49 12,9 3,8918 -1,9745
2 160 31,3 5,0752 -0,9727
3 270 50,0 5,5984 -0,3665
4 440 68,6 6,0868 0,1448
5 700 87 6,5511 0,7145
Ö
O VV
VVV VV V
VV
V V V !V
VV
"# VV$
V
r
Dez itens foram testados simultaneamente, mas o teste terminou antes de 10
dias. Até esta data, os tempos para falha foram 56, 7, 98, 40, 18, 29, 78 e três
sobreviventes.
V
V%V
VVVV
V V V
ê
O V%V
VVV VV V
VV
V V V !V
VV
"# VV$
V
Ö
Seis itens são submetidos a um teste, simultaneamente. Três itens falharam;
outros três, por um motivo qualquer, foram retirados do teste antes de falharem. Estes
itens foram censurados, isto é, retirados do teste antes da falha. s tempos para falha
foram (em dias) 72, 95, 140, 160, 180, 210.
V
Solução:
V&V
VVVV
V V V
rdem revisada F(t) revisado Vida j(Ln(t)) (Ln(Ln(1/(1-F(t))))
1 10,9 72 4,2766 -2,1592
2,2 29,5 140 4,9416 -1,0511
4,6 67,2 210 5,3471 0,1086
O V&V
VVV VV V
VV
V V V !V
VV
"# VV$
V
V
V
V
V
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