Piezoeletricidade na Microscopia de Fora Atmica (AFM)

Piezoeletricidade na Microscopia de Fora Atmica (AFM)

Eduardo Mendes, Jssica Nantes, Marcel Sugimoto, Natalia de Sousa, Natlia Melato
Professor: Hugo Suffredini, CCNH
Campus Santo Andr , SP
Resumo
Sobre o mundo da Qumica Moderna se observa a importncia crucial de modelos
de microscpios de alto desempenho que permitem uma visualizao ampla e
detalhada de certos tipos de materiais. Neste projeto a nfase foi dada ao
Microscpio de Fora Atmica (do ingls,AFM, atomic force microscopy)) com o
intuito de observar a capacidade de uma cermica com propriedades especiais,
nomeada de piezoeltrica (ou seja, capacidade de transformar energia mecnica
em eltrica quando houver uma deformao mecnica) e demostrar o
funcionamento e importncia desta para microscopia AFM. Para tanto, realizou-se
uma experincia com a finalidade de gerar tenso atravs da deformao da
cermica piezoeltrica. Assim, foi lanado um basto de ferro (com uma altura prdeterminada) sobre a placa. Tal propriedade permite o funcionamento do
microscpio.

INTRODUO
O AFM composto por uma ponta de
prova (sonda) que executa uma varredura
sobre a superfcie de uma amostra, onde
esta ponta esta acoplada a um cantilever
flexvel que possui um pequeno elemento
piezoeltrico para conduzir o feixe de laser
que incidido sobre o cantilever, volta para
um espelho e alcana um fotodetector que
mede as deflexes da amostra gera
imagens que podem ser em at 3D.
O sistema consiste, alm da sonda,
de um cristal piezeltrico que responsvel
pela varredura da superfcie da amostra. As
sondas de AFM podem ser encontradas em
trs diferentes geometrias: piramidal,
tetradrica e cnica.
medida que a ponta da sonda
aproxima-se da superfcie da amostra,
ocorrem interaes fracas do tipo de Van
der Waals entre os tomos da ponta da

sonda e da amostra. Quando a sonda

move-se sobre a superfcie, a fora de
interao resultante entre a sonda (a ponta
da sonda) e a superfcie faz com a sonda
sofra uma variao em posio e altura.
Existe uma tendncia da ponta da
sonda em deslocar os tomos da superfcie,
o que resulta na ao de foras repulsivas
entre a ponta da sonda e a superfcie da
amostra;
Um dispositivo ptico contendo um
feixe de laser e um detector (diodo) mede
as variaes na posio da sonda, com
uma resoluo de 1 nm e as foras atrativas
e repulsivas existentes no sistema,
resultando na formao da imagem
topogrfica da superfcie da amostra,
fornecendo inclusive dados quantitativos
sobre propriedades tais como a medida da
rugosidade
mdia
da superfcie
e
rugosidade mdia quadrtica (desvio
padro).

IX Simpsio de Base Experimental das Cincias Naturais da Universidade Federal do ABC - 12 e 13 de agosto de 2011

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Este procedimento realizado na

presena de ar ou um lquido, no
necessitando de procedimentos complexos
para a preparao da amostra.
O material piezoeltrico muito
importante
para
a
atuao
deste
microscpio, pois, ao exercer uma presso
no material sua estrutura pode ser
deformada, gerando pequenos dipolos, e o
material est polarizado. Esta polarizao
gera um campo eltrico e pode ser usada
para transformar a energia mecnica em
energia eltrica.
Figura 03: Fora entre a ponta da sonda e a
amostra em funo da distncia entre elas.

OBJETIVO

Figura 01: Imagem acima retrata o modelo de um

microscpio de fora atmica ou AFM.

Comprovar que a varredura na

superfcie do material a ser caracterizado
em um Microscpio de Fora Atmica
(AFM), feita por intermdio de um sistema
piezoeltrico, com deslocamento nas
posies x, y e z, com preciso de dcimo
de Angstron, o que se d atravs da
variao da tenso aplicada no mesmo,
atravs de um agente mecnico.

METODOLOGIA
Para observar as propriedades
descritas no objetivo, utilizou seis placas de
Cermicas Piezoeltricas com 35mm de
dimetro cada (figura 04)

Figura 02: Diagrama de

microscpio de fora atmica.

funcionamento

do
Figura 04: Placas Piezoeltricas.

Em tais placas foi lanado um basto

de ferro a uma altura de aproximadamente
70mm com a finalidade de gerar uma
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deformao mecnica e por fim produzir a

energia eltrica, no qual foi utilizado um
multmetro para medir a tenso provocada
por cada choque entre a cermica e o
basto. O basto foi lanado a altura de
70mm diversas vezes, com o intuito de
realizar medies de tenso, obtendo o
clculo de varincia de resultados e desvio
padro do experimento.

RESULTADOS E DISCUSSO
Como resultado do experimento, obteve-se
o seguinte grfico:

CONCLUSES
Aspectos topogrficos so determinados
pelo AFM atravs do rastreamento da
superfcie da amostra por uma fina agulha
("tip") montada em um cantilever (sonda).
Interaes ocorrendo entre a ponta da
sonda e a superfcie da amostra (foras de
Van der Waals) causam uma deflexo da
sonda, a qual monitorada por meios
pticos e usada para ajustar a posio de
um material piezoeltrico que suporta a
amostra. A variao da altura do material
piezoeltrico comumente usada para
formar a imagem topogrfica da superfcie.

REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
1. Scanning Probe Microscopy
Training Notebook Digital
Instruments, Veeco Metrology Group
- 2000 / verso 3.0

Figura 05: Grfico representando a tenso obtida em

decorrncia da deformao mecnica gerada pelo choque
do basto de ferro com a placa piezoeltrica.

Com um clculo simples foi obtida a

Energia gravitacional, que transformada
em eltrica:
E=m.g.h, em que m=0,39kg; g=9,8m/s2;
h=0,07m, logo E= 0,267 J
Contudo, devido disperso da Energia
Mecnica em Trmica, Sonora e Eltrica, os
dados ficaram extremamente variados em
que se pode observar atravs da diferena
de tenso demonstrado no grfico acima.

2. Site
http://www.revistapolimeros.org.br/P
DF/v7n4a05.pdf acessado em
05/08/11.
3. Site http://www.demet.ufmg.br
acessado em 05/08/11.

AGRADECIMENTOS
Agradecemos o Professor Hugo
Suffredini pela pacincia e ateno que nos
foi dedicado para a realizao do projeto.

Apesar da diferena entre os pontos do

grfico, a varincia mdia de 0,324 e o
desvio padro do experimento de 0,57.

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