Boletim Eletrnico da ABRACOR Nmero 6. Maio de 2012.

A FSICA APLICADA ANLISE E ESTUDO DOS OBJETOS DO

PATRIMNIO HISTRICO E ARTSTICO
Mrcia de Almeida Rizzutto
Graduada em Fsica pela Universidade de So Paulo em 1986, Mestre em 1989 e doutora em 1994
em Fsica Nuclear Bsica (Estrutura Nuclear) tambm pela Universidade de So Paulo. PsDoutorado em Fsica Nuclear Aplicada com Aceleradores na Universidade de So Paulo, em Fsica
Nuclear Experimental no Istituto Nazionale de Fisica Nucleare (Sezione di Padova/Itlia) e em
Arqueometria na Universidade de Sassari (Itlia). Atualmente professora/doutora da Universidade
de So Paulo e desenvolve pesquisas principalmente na rea de Fsica Nuclear Aplicada com
Aceleradores utilizando mtodos de feixes inicos para anlise e caracterizao de materiais. O
principal tema atual de sua pesquisa Arqueometria utilizando diferentes anlises no destrutivas.
Contato: rizzutto@if.usp.br

Introduo
Os museus renem em seus acervos um importante patrimnio histrico e cultural com
diferentes colees de obras artsticas, objetos, documentos iconogrficos e textuais
nacionais e internacionais, de valor cultural e etnolgico imensurvel. Essas obras so
constitudas de materiais diversos, o que acarreta uma problemtica para a sua
conservao. Os museus possuem laboratrios de conservao e restauro que buscam
recursos tcnico-cientficos para a melhor caracterizao, identificao e conservao
destes acervos. Deste modo, para entender os materiais e suas modificaes ao longo do
tempo h necessidade um estudo sistemtico dos acervos para auxiliar as reas de
conservao e restauro e assim determinar diretrizes com embasamento tcnico-cientfico.
A estreita colaborao entre pesquisadores das cincias exatas, conservadores,
restauradores, curadores e historiadores da arte tem sido eficaz e de grande valia para a
pesquisa cientfica nos diferentes museus do mundo. Estudos sistemticos com tcnicas
cientficas em obras de arte so rotineiramente realizados na Europa e Estados Unidos h
algumas dcadas. No Brasil, alguns trabalhos cientficos sistemticos neste tema s
comearam no final da dcada de 1990. Um estudo sistemtico e metdico em uma obra de
arte, documento textual, ou objeto arqueolgico nos ajuda a compreender os materiais e
tcnicas empregadas na sua produo e o que aconteceu com ele(s) ao longo do tempo.
Interpretar as informaes obtidas atravs das anlises cientficas, concomitantemente com
o conhecimento da sua trajetria, nos permite situar o objeto no contexto de sua prpria
poca, e compreend-lo hoje na sua dimenso material.
Dentro deste intuito de anlises sistemticas e metodologias fsicas, o Grupo de Fsica
Aplicada com Acelerados do Instituto de Fsica da Universidade de So Paulo (GFAA-IF),
desde 2003 tem realizado anlises e estudos de objetos de arte e do patrimnio artstico e
cultural. Inicialmente os estudos destes objetos eram restritos aos mtodos no destrutivos
utilizando-se os feixes de ons do Laboratrio de Anlise de Materiais (LAMFI) [1] que
permite a caracterizao dos elementos qumicos presentes nos objetos de arte.
As tcnicas atmico-nucleares atualmente utilizadas pelo grupo de Fsica aplicada com
aceleradores (GFAA-IF) so a de emisso de Raios X ou Gama Induzida por Partculas
(PIXE e PIGE) e a tcnica de Fluorescncia de Raios X por Disperso de Energia (EDXRF).
Estas tcnicas atmico-nucleares so teis para identificar e caracterizar os elementos
qumicos presentes nas camadas superficiais de materiais de diversas naturezas como

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metais, cermicas e pigmentos utilizados pelos artistas nas pinturas de cavalete entre
outros.
As atuais anlises feitas com os mtodos atmico-nucleares baseados em feixes inicos
foram expandidas para outras tcnicas de anlise como Fluorescncia de Raios X, muito
adequada para anlises in situ, com o equipamento porttil recentemente obtido pelo grupo
[2] e anlise por imageamento digital de alta resoluo (luz visvel, fluorescncia de
ultravioleta e reflectografia de Infravermelho e radiografias). Estas tcnicas acopladas
permitem estudar e entender melhor os objetos do patrimnio cultural e artstico examinando
os seus componentes principais, seu estado de conservao e caractersticas do processo
criativo do artista. Estas anlises no-destrutivas esto sendo desenvolvidas de forma
rotineira e vrios trabalhos j esto sendo desenvolvidos entre o GFAA e os museus da
USP e a Pinacoteca do Estado de So Paulo [3,4,5,6,7].

Materiais e Mtodos
As anlises realizadas pelo GFAA com feixes inicos utilizam feixes de prtons de energia
de dezenas de MeV (Milhes de eltrons-Volts) que so produzidos em um acelerador de
partculas. Uma nova linha de feixe externo foi construda e instalada no laboratrio LAMFI
para anlises de objetos artsticos, histricos e arqueolgicos especificamente em ar,
seguindo a proposta de Lahanier [8] sobre que caractersticas os mtodos de anlise devem
ter:
No-destrutivos - pois devem respeitar a integridade fsica do objeto. Vrios
especialistas frequentemente priorizam as investigaes dos objetos de valores que
podem ser feitas com anlises que no resultam em nenhum dano ao objeto. E
geralmente preferem os mtodos que eliminam completamente a retirada de amostras;
Rpidos - pois deste modo vrios objetos similares podem ser analisados
comparativamente ou um nico objeto pode ser analisado em diferentes pontos em sua
superfcie. Este procedimento permite discernir entre as tendncias gerais dos dados ou
dos pontos analisados;
Universal - de modo que possa ser aplicado em muitos materiais e objetos de qualquer
forma e dimenso e possa ser analisado com o mnimo de pr-tratamento de amostra;
Verstil - de tal modo que possa fornecer anlises localizadas (reas micromtricas) e
gerais para verificao de heterogeneidade;
Sensvel - pois deve ser capaz de determinar concentraes baixas de vrios elementos
ao mesmo tempo, isto , ser capaz de determinar os elementos majoritrios e traos
que servem como impresses digitais destes;

Mutielementar - capaz de determinar o mximo de elementos qumicos

simultaneamente. A determinao da composio qumica dos diferentes materiais
como pedras, vidros, cermicas, papis, madeira, camadas de corroso em objetos
metlicos, incrustaes em objetos, pinturas e mudanas de cor nas superfcies das
pinturas so alguns dos exemplos de problemas a serem resolvidos pelas diferentes
tcnicas fsico-qumicas.
No arranjo externo, o feixe de prtons ultrapassa uma janela de alumnio, atingindo as
amostras no ar. Na interao deste feixe inico com uma amostra, vrios processos podem
acontecer como o retro-espalhamento do prprio on, a emisso de radiao
eletromagntica como luz (ionluminescncia), radiao X (PIXE) e radiao gama (PIGE).
Nesta canalizao foi priorizada a utilizao de mtodos no-destrutivos, e para a realizao
dos experimentos so usados diferentes detectores, cada um com sua especificao
(detectores de partcula para medidas RBS), detectores para radiao gama (GeHp e NaI),

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detectores de radiao X (Si-PIN (RX1 e RX2)), detector para medidas de luminescncia,

lasers para posicionamento da amostra e uma webcam para monitoramento - todos
posicionados para focarem um mesmo ponto da amostra como pode ser visualizado na
figura 1.

Figura 1. Fotografia da canalizao do feixe externo com os diferentes detectores

montados. Na parte inferior temos em detalhe a nova montagem dos detectores acoplados.
Luminescncia por ons (Ion Luminescence - IL) um fenmeno de luminescncia que
induzido por partculas de um feixe de ons energticos quando da interao destes com
material slido. Ao contrrio dos processos que produzem raios X ou raios gama, em que os
eltrons internos ou o ncleo so envolvidos no processo, a luminescncia geralmente
relacionada com os eltrons de valncia da camada mais externa do tomo. A luz emitida
neste processo devido s recombinaes das camadas eletrnicas externas dos tomos
do material. Assim, o processo de luminescncia quimicamente, opticamente e
eletronicamente sensvel ao estado qumico dos ons, e das condies locais de ligao
qumica na amostra, ou ainda das condies da rede cristalina. As medidas IL podem
fornecer informaes sobre a forma qumica do material, permitem a identificao de alguns
elementos e terras-raras com o limite de alguns ppm. O sistema de IL atualmente utilizado
no Laboratrio LAMFI composto por dois conjuntos de sistema da Ocean Optics com
intervalo de comprimento de onda na faixa de 200 a 840nm que estende de UV at o IR
prximo.
As vantagens do uso de um arranjo de feixe externo esto nas medidas imediatas, pois no
h necessidade de preparao das amostras, bem como nas medidas de objetos de
diferentes tamanhos e formas complexas, permitindo fcil manuseio destas amostras. Como
as medidas so realizadas em ar, e no em vcuo, no h problemas trmicos ou de
ressecamento que causariam danos nas amostras e h, ainda, a possibilidade de medidas
de pequenas reas da ordem de 3-4 mm2.
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Em conjunto com as anlises com feixes inicos e XRF, tem-se utilizado o diagnstico por
imagens para as anlises dos objetos do patrimnio histrico e artstico. As tcnicas de
imageamento aplicadas em obras de arte so feitas atravs da obteno de imagem com
luz visvel, reflectografia de infravermelho prximo (NIV), fluorescncia visvel com radiao
de ultravioleta (UV), luz rasante, luz transmitida e radiografia digitalizada. O imageamento
tem desempenhado um papel importante na avaliao do estado de conservao das
pinturas e auxilia no diagnstico de eventuais anomalias e/ou caractersticas do processo de
construo, detectando desenhos subjacentes e alteraes do prprio artista, e no exame
de autenticidade [9,10].
A Reflectografia de Infravermelho (IV) - uma tcnica ptica no destrutiva na qual a
imagem obtida atravs de uma cmera digital com sensor CCD e um filtro IV, acoplado
lente. A imagem observada resulta da conjuno dos fenmenos de reflexo, absoro e
transmisso da camada superficial revelando peculiaridades escondidas. A visualizao dos
desenhos depende de dois aspectos: contraste e transparncia. O contraste est
relacionado ao material utilizado no desenho, e a refletividade com a base de preparao. A
transparncia est relacionada com a camada pictrica e depende da composio dos
pigmentos. Quando o meio utilizado para o desenho base de carbono, a sua absoro
do IV alta, deste modo aumenta a diferena da refletividade com a base de preparao,
evidenciando caractersticas escondidas, neste caso, possvel que o desenho seja bem
visvel, mesmo que a capa pictrica seja pouco transparente.
Fluorescncia Visvel de Ultravioleta (UV) - Como cada cor ou composto emite sua prpria
fluorescncia quando irradiada, a imagem obtida por UV de uma pintura pode revelar
informaes no antes observadas a olho nu de um modo surpreendente. Manifesta-se na
forma de luzes coloridas, de frequncia fraca com tendncias para tons violceos que so
caractersticos dos materiais. Os tons de fluorescncia de uma pintura no so de fcil
interpretao, mas podem auxiliar na identificao das reas de retoque, bem como de
certos pigmentos e/ou os diferentes tipos de vernizes. A anlise da imagem por UV pode ser
capaz de propiciar as primeiras avaliaes qualitativas das alteraes morfolgicas e
qumicas da superfcie de uma pintura. reas mais recentemente retocadas se apresentam
tipicamente mais escuras sob a iluminao UV. A emisso UV induzida resultado de vrios
fatores como: a fonte de luz UV utilizada, o pigmento/corante, o meio de ligao, camada de
verniz (se houver), a sua interao com o material e o seu envelhecimento.
As informaes da anlise de fluorescncia UV sobre um objeto so obtidas sem
necessidade de entrar em contato direto com este, atravs do fato que os materiais
empregados refletem, absorvem e emitem radiao eletromagntica de maneira que
depende de sua composio molecular. Este mtodo de diagnstico usado principalmente
para observar a superfcie de uma pintura, revelar a presena de camadas antigas de
vernizes e mostrar que onde h uma falta de fluorescncia podem existir reas retocadas ou
recm-pintadas. No entanto, com mais esforo, a fluorescncia induzida por UV visvel, por
sua prpria natureza, poderia nos dizer mais sobre a real composio qumica e
conservao dos materiais da pintura.
A radiografia - uma tcnica que aplicada ao estudo de objetos de arte e arqueolgicos
devido facilidade de revelar detalhes escondidos na camada interna, da composio e
estrutura interna das esculturas e/ou objetos. Uma grande vantagem desta tcnica
analisar o interior dos objetos sem destru-los, como por exemplo, cermicas, madeiras,
metais, pinturas, etc. O processo de anlise atravs de imagem de radiografia permite
tambm responder questes relacionadas ao processo de manufatura de determinado
objeto, bem como o estado de conservao do objeto, como nas peas de cermica do MAE
analisadas para visualizar seus processos de manufatura [6,11]. As imagens com
radiografias digitalizadas so feitas em colaborao com o Laboratrio de Dosimetria do
Departamento de Fsica Nuclear do Instituto de Fsica da USP. O sistema consiste de um
tubo de raios X Philips MG 450 com intervalo de tenso (varivel) de 20 a 420 kV e corrente

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(varivel) de 0 a 15 mA. O sistema de raio X tambm possui acoplado um sistema de

processamento de imagens de alta qualidade.

Resultados e Discusso
Um exemplo de anlises feitas no LAMFI, com o arranjo de feixe externo (figura 2), a
anlise PIXE de 36 vasos cermicos arqueolgicos da Cultura Chimu pertencentes ao
acervo do Museu de Arqueologia e Etnologia da USP MAE/USP [6]. As anlises permitiram
identificar os elementos qumicos presentes na pasta cermica e superfcie das amostras.
Atravs da anlise estatstica multivariada e de componentes principais, foi possvel separar
as peas em dois grandes grupos: A e B, que possuem diferentes correlaes entre os
elementos qumicos identificados. Dentro do grupo B houve ainda uma separao entre 2
novos grupos denominados B1 e B2, sendo este ainda separado em B2a e B2b. A figura 3
mostra exemplos de agrupamento feitos nos diferentes grupos a partir da determinao dos
elementos qumicos com o mtodo PIXE. As amostras foram reunidas em grupos que
possuem quantidades semelhantes de um conjunto de elementos como Al, Ti, K e Si.

Figura 2. Imagens das medidas PIXE feitas com o arranjo de feixe externo para medidas de
cermicas Chimu do MAE/USP [6]

A aplicao de anlises simultneas de PIXE e ionluminescncia (IL) em algumas pedras

brasileiras como sodalitas (2 amostras) e jadeitas (5 amostras) foram realizadas utilizando
um feixe de prtons 2,4 MeV com uma corrente mdia de 5nA e tempo de aquisio de 5
minutos e um espectrmetro USB4000 (200-850 nm) [12]. As amostras de sodalitas e os
resultados das anlises realizadas podem ser vistas na figura 4 e 5. A amostra S1 possui
colorao azul com incrustaes brancas enquanto a amostra S2 possui cor azul escura e
preta sem incrustaes. No espectro PIXE (figura 4a) foram identificados os elementos Al,
Si, Cl, K, Ca, Mn e Fe, o pico de Ar esta relacionado ao argnio do ar.

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Grupo A

Grupo B1

Grupo B2a

Grupo B2b

Figura 3. Separao nos diferentes grupos de cermicas Chimu do MAE/USP em funo da

concentrao dos elementos qumicos Al,Ti, K e Si presentes, determinados por PIXE.

Figura 4. A) e B) Fotografias das amostras de pedras sodalitas estudadas com a tcnica

PIXE. C) Espectros PIXE das duas amostras estudadas (S1 e S2).

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O histograma da figura 5a mostra a relao das reas relativas obtidas nos espectros PIXE
em funo dos elementos detectados nas duas amostras. Todos os elementos apresentam
pouca variao nas amostras, somente o clcio apresentou significativa diferena na
amostra S1, provavelmente devido s incrustaes brancas existentes. O espectro IL (figura
5b) mostra picos luminescentes na regio de UV com os picos centrados em 358,07(14) nm
e 355,89(24) nm para S1 e S2 respectivamente, apesar da similaridade do comprimento de
onda possuem diferena significativa de intensidade de luz emitida.

Figura 5. A) Histograma com as reas relativas medidas com PIXE em funo dos
elementos determinados para as amostras de sodalitas S1 e S2. B) Espectro de intensidade
luminosa obtido pela tcnica de ionluminescncia para as amostras S1 e S2.

Figura 6. "So Lucas So Lucas Escrevendo o Evangelho, autor desconhecido, leo sobre
tela. Acervo da Pinacoteca do Estado de So Paulo, SP. (a) Fotografia antes do restauro,
(b) radiografia, (c) fotografia do detalhe do rosto e (d) radiografia do detalhe do rosto. Fotos:
E. M. Kajiya.

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As anlises com imageamento (fotografia com luz visvel, UV e radiografia) tm auxiliado a

observar o estado de conservao da obra e as alteraes que esta sofreu durante os anos
fornecendo novas ferramentas para o processo de restaurao como exemplificado nas
figuras 6 e 7.
Na figura 6, pode-se observar na radiografia melhores detalhes da veste do padre com o
livro, pois existem dobras que no esto mais observadas na fotografia inicial. Outro detalhe
que se pode notar o rosto do jovem padre da parte inferior do quadro que na fotografia
est alterada em comparao com a radiografia (fotos do detalhe do rosto).
As imagens com fluorescncia UV destacam as reas que foram restauradas ou sofreram
alteraes recentes, como pode ser observado na figura 7.

Figura 7. "So Lucas So Lucas Escrevendo o Evangelho, autor desconhecido, leo sobre
tela. Acervo da Pinacoteca do Estado de So Paulo, SP. (a) Fotografia de fluorescncia UV
depois do restauro, (b) fotografia com luz visvel depois do restauro. Fotos: E. M. Kajiya

As anlises com infravermelho esto se mostrando uma ferramenta poderosa para analisar
pinturas de cavalete, pois possibilitam detectar desenhos subjacentes realizados pelo artista
e no visveis a olho nu, um exemplo mostrado na figura 8 abaixo [13].

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Figura 8. "A adivinha, 1924, leo sobre Madeira, 45,7 x 45,8 cm, Autor: Achille Funi. Acervo
do Museu de Arte Contempornea da Universidade de So Paulo, So Paulo. (a) fotografia
com luz visvel, (b) fotografia com reflectografia de Infravermelho. Fotos: E. M. Kajiya

Concluses
As anlises com metodologias no destrutivas atmico-nucleares e imageamento tm
possibilitado estudar e analisar diferentes materiais existentes nas obras de arte e objetos
de valor histrico-cultural. As anlises no objetivam substituir os especialistas, como
conservadores e restauradores, alm dos pesquisadores de arte, mas sim trabalhar em
parceria e oferecer ferramentas para que possam auxiliar nos processos de restaurao e
conservao, interrompendo processos de degradao que possam estar ocorrendo, ou iro
ocorrer, em uma obra ou objeto de arte. Auxiliam tambm a compreender os mtodos e
materiais utilizados na produo de uma obra de arte, para melhor apreender como
armazen-la, de tal maneira que o meio externo exera pouca ou nenhuma influncia sobre
a obra. As informaes geradas permitem situar o objeto dentro do contexto de sua prpria
poca, e compreend-lo hoje como o vemos. Podemos tambm confrontar essas
informaes com o que j conhecido sobre as obras, com base em evidncias na histria
da arte. Este trabalho envolve a colaborao entre os especialistas de arte e cientistas de
um modo interdisciplinar fornecendo informaes importantes sobre os artistas e as obras,
dos diferentes acervos dos museus.

Agradecimentos
Gostaria de agradecer ao grupo de fsica aplicada com aceleradores, Dr. M.H. Tabacniks,
Dr. N. Added e aos alunos J.F. Curado, P.H.O.V. Campos, A. Caccione, pelos diferentes
trabalhos realizados em conjunto; equipe tcnica do LAMFI pelo auxlio no uso do
acelerador; conservadora e restauradora Elizabeth A. M. Kajiya pela valiosa colaborao
nos trabalhos; equipe de conservao e restauro da Pinacoteca do Estado de So Paulo
em nome de Valria Mendona e Dra. A. Magalhes do Museu de Arte Contempornea da
USP pela possibilidade de anlise das obras dos acervos destas instituies; Dra. Silvia

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Cunha Lima pela parceria nos trabalhos com o acervo do Museu de Arqueologia e Etnologia
da USP; Dra. Martha Aldred e Dra. Elisabeth Yoshimura pelo manuseio e autorizao de
uso do sistema de radiografia do Laboratrio de Dosimetria da USP. FAPESP e CNPq
pelo apoio financeiro nos projetos envolvidos.

Referncias Bibliogrficas
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