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Sistema de

Testes e Ensaios
de Proteção
OMICRON

Adimarco Representações e Serviços Ltda


Rio de Janeiro
SETEMBRO – 2005
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Setembro / 2005

Sistema de Teste e Ensaios de


Proteção OMICRON
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 Adimarco Representações e Serviços LTDA

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© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA Sistema deTeste e Ensaios de Proteção OMICRON
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Cap 01 : A Adimarco Representações


e Serviços LTDA
Resumo A OMICRON Eletronics é uma companhia
internacional que desenvolve, fabrica e vende
Este texto apresenta a Adimarco equipamentos de testes com a mais sofisticada
Representação e Serviços LTDA. Sua relação com tecnologia para a realização dos mais avançados
a Omicron eletronics e suas atividades. testes de proteções elétricas, medidores de
energia e transdutores utilizados em sistemas
elétricos. Combinando inovação, avançadas
1. A ADIMARCO tecnologias e um software com soluções criativas
a OMICRON alcançou o status de líder mundial
A Adimarco Representações e Serviços nesse nicho de mercado.
LTDA. atua desde 1988 com o firme Contando com uma equipe de
compromisso de levar até o cliente o que de profissionais altamente qualificados, com larga
melhor existe quanto à implementação de experiência no mercado, complementados com
soluções de alta tecnologia e custos adequados. consultores de renome nacional e internacional, e
Para tal, realiza uma rigorosa seleção de aliado aos equipamentos de última geração, a
suas representadas de forma a garantir seu Adimarco cumpre sua missão básica de oferecer
padrão de excelência, tanto no fornecimento de serviços com um alto padrão de qualidade e
equipamentos quanto na prestação de serviços. confiabilidade. Este sistema de trabalho permite
A Adimarco opera em dois segmentos uma ampla capacitação técnica de prestação de
distintos: Aviação e Setor Elétrico, sendo para o serviços e consultorias
segundo figura como uma das grandes parceiras
de empresas do setor elétrico nacional e
empresas prestadoras de serviços com a
representação distribuição exclusiva da OMICRON
Eletronics no Brasil.

Figura 2 – Prestação de serviço Adimarco –


Qualidade e Alta Tecnologia

1.1. Recursos Materiais

Testes e ensaios em relés de proteção são


Figura 1 – Omicron – Inovação, avançadas
realizados utilizando-se a mala de teste de relés
tecnologias e soluções criativas.
OMICRON CMC 256-6 EP (Precisão Estendida). A
precisão extremamente alta dos amplificadores

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

de tensão e corrente da CMC 256-6 EP ideal para


a calibração e teste dos mais novos relés e Teste e ensaios em equipamentos de
medidores de energia (classe acima de 0.2S de subestação são realizados com sistema de teste
acordo com a norma IEC687, 0 .. 300V trifásico); primário multifuncional para comissionamento e
as características adicionais da CMC 256-6 EP Manutenção de Subestações – CPC 100 – o único
provêm uma solução completa para sistema mundial que permite o teste
desenvolvimento e aplicações especiais, tais automatizado de transformadores de potencia,
como: testes de tipo, testes de aceitação, TC’s, TP’s, teste de resistência entre outros.
calibração de dispositivos, ou teste de Fornece mais de 800 A e 2000 V. Possui um PC
performance de produtos. integrado. A rotina do software testa grande
parte dos equipamentos da subestação, criando
automaticamente relatórios configuráveis. O
design compacto (29 Kg) e o software inovador
poupam tempo de teste e minimiza o custo de
transporte. Correntes e tensões analógicas
podem ser medidas com uma precisão muito
alta. O medidor de O troca automaticamente de
faixa de µO para kO permitindo uma grande
variedade de aplicações. Medição de resistência
de aterramento. O teste em equipamentos não
convencionais como bobinas Rogowski ou
sensores de corrente completam o espectro de
testes.

Figura 3 – Prestação de serviço Adimarco –


utilização de sistemas de teste OMICRON

Quando se realizam testes ponta a ponta


dos esquemas de proteção de linhas, são
necessárias várias partidas simultaneamente. A
CMGPS é uma unidade baseada em sincronização
GPS que e usada com os equipamentos de teste
CMC.
O CMGPS recebe os sinais dos satélites do
sistema de posicionamento global (GPS) e
proporciona uma saída no tempo especificado
pelo usuário. Este sinal de clock é usado como
entrada de trigger para a partida da unidade
CMC. O CMGPS foi desenvolvido para cumprir os
requisitos de testes de campo, porque o receptor
de GPS normal tem algumas desvantagens Figura 5 – Teste e ensaios em equipamentos de
(tamanho, peso, funcionamento complicado). subestação
1.2. Áreas de Atuação

Ø Manutenção Preventiva, teste e ensaios em


relés de proteção;
Ø Comissionamento de novas instalações
Ø Teste de aceitação em painéis de controle e
proteção
Ø Calibração de medidores e transdutores
Ø Testes ponta a ponta em linhas de
transmissão
Figura 4 – CMGPS OMICRON

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Parte I: Conceitos e Definições

Aplicação de arquivos de faltas


§ § Resistências e Continuidade do
com eventos transitórios que LTC
contêm sinais analógicos de § Resistência de enrolamento
tensões e correntes
simultaneamente nas duas pontas 2. A OMICRON ELETRONICS
da LT, sincronizada via GPS.
OMICRON eletronics é uma companhia
Ø Medidas de baixa resistência µΩ (contatos,
conectores “buswire”); internacional que provê soluções inovadoras para
testes primários e secundários.
Ø Teste e ensaio em Equipamentos: Combinando inovação, tecnologia de
q Transformadores de Corrente indutivos ponta, e soluções criativas de software, A
(TC) OMICRON tem conseguido o status de líder
§ Corrente secundária com mundial dentro deste nicho de mercado. Com
magnitude e ângulo (erro de vendas em mais de 100 países, escritórios na
ângulo do TC) Europa, Estados Unidos e Ásia, e uma rede
§ Relação de transformação com mundial de distribuidores e representantes, a
erro em valor percentual OMICRON tem verdadeiramente construído uma
§ Polaridade nos terminais do TC reputação como fornecedor da mais alta
§ Burden em VA e fator de qualidade.
potência (cos ϕ) Os testes automatizados e a capacidade de
§ Tensão secundaria em documentação das soluções de teste OMICRON
magnitude e ângulo são importantes benefícios à luz das mudanças
§ Curva de excitação do TC das condições de mercado, resultando em
§ Resistência do enrolamento organizações reestruturadas que requerem “fazer
§ Determinação do escoamento mais com menos”.
da corrente fluindo através do Hoje, os produtos OMICRON giram em
isolamento torno de conceitos de testes que provê soluções
q Transformadores de Potencial para muitos desafios criados por estas tendências
indutivos (TP) competitivas de mercado. A integração de um
§ Relação de transformação com hardware leve e confiável com um software
erro em valor percentual flexível e amigável se chama OMICRON Test
§ Polaridade nos terminais do TPC Universe.
§ Burden em VA do secundário e Serviços na área de Consultoria,
fator de potência (cos ϕ) comissionamento, teste de relés e treinamento,
§ Corrente secundaria em faz com que a OMICRON tenha uma gama
magnitude e ângulo completa de produtos.
§ Resistência do enrolamento A especialização dos testes em sistemas
§ Determinação do escoamento elétricos de potência junto com uma liderança
da corrente fluindo através do visionária permite a OMICRON continuar com
isolamento desenvolvimentos inovadores de seu sistema de
q Transformadores de Potencial testes para satisfazer às novas necessidades que
Capacitivos (TPC) os clientes necessitam para o século XXI.
§ Relação de transformação com
erro em valor percentual 3. CURSOS ADIMARCO
§ Polaridade nos terminais do TPC
§ Burden em VA do secundário e
fator de potência (cos ϕ) O curso de utilização da caixa de teste
§ Valores de Impedâncias internas OMICRON é fundamental para habilitar os
co TPC (R, L e C); usuários a um conhecimento pleno e melhor
§ Corrente secundaria em aproveitamento do equipamento e de seu
magnitude e ângulo software.
q Transformadores de Potência
O material didático é preparado por
§ Relação de transformação (por equipe especializada, com larga experiência no
Tap) setor elétrico, visando abordar os aspectos da
instalação e equipamentos do cliente, utilizando-

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Parte I: Conceitos e Definições

se os procedimentos de testes nos relés indicados Os cursos são estruturados segundo a


pelo cliente como base do material apresentado necessidade do cliente ou já preparados como
no curso. Para tal, o cliente deve disponibilizar, nossos cursos de catálogo, entre eles:
não só a documentação técnica, mas também os § Sistema digital de teste de proteção de
equipamentos necessários. sistemas elétricos
§ Proteção de sistemas elétricos – testes e
ensaios
§ Proteção de Máquinas elétricas
§ Proteção de linhas de transmissão
§ Proteção de transformadores
§ Manutenção de equipamentos elétricos

4. CONTATOS

ADIMARCO Representações e Serviços Ltda.


Av das Américas 500 - Bloco 21 - Sala 336
Barra da Tijuca
22640-100- Rio de Janeiro - RJ – BRASIL
Figura 6 – Aulas expositivas e testes práticos
Eng Marcelo Paulino
Departamento Técnico-Comercial
Após o curso, os participantes do curso estarão
aptos a utilizar com desenvoltura o equipamento. Ph: 55 21 2494 7140
Além dos cursos de utilização da caixa de Fax:55 21 2494 7141
teste OMICRON, a Adimarco oferece vários email: marcelo@adimarco.com.br
cursos, sempre visando oferecer ao cliente
soluções a custos adequados.

Figura 7 – Aulas práticas in company

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Parte I: Conceitos e Definições

Cap 02 : Característica de Hardware


Resumo

Este capítulo descreve as características


dos equipamentos OMICRON, mostrando os
diferentes tipos de hardware associado a cada
modelo.

1. CARACTERÍSTICAS GERAIS

A linha CMC da OMICRON consiste de


equipamento de teste trifásico para qualquer tipo
de proteção elétrica (21, 24, 25, 27, 32, 37, 46, Figura 1 – Equipamento CMC156
47, 50, 51, 55, 59, 60, 62, 67, 68, 76, 78, 79,
81, 85, 86, 87g e 87gt, 92), controlado por um A geração de sinais é executada
microcomputador. digitalmente (Tecnologia DSP). A conversão D/A
Possui conversor Digital / Analógico de 16 de 16-bit resulta em um sinal de alta qualidade
bits. O amplificador de tensão é autoprotegido inclusive para pequenas amplitudes.
contra curto-circuito e sobrecarga e o Em adição as seis saídas da seção de
amplificador de corrente é protegido contra a amplificação, seis canais independentes com
abertura intencional da corrente ou sobrecarga. baixo nível de sinal estão disponíveis na parte
O equipamento é digital assim como sua própria traseira da unidade. Eles podem ser usados para
calibração. Possui um autocheque da calibração controlar amplificadores externos, para aplicações
para não necessitar de padrão externo de que necessitem mais que três fases de tensões ou
referência. correntes. Por exemplo, o teste em proteções
diferenciais, ou aplicações que necessitem de
correntes, tensões e potências de saída maiores
1.1. CMC 156 que as disponíveis na CMC156. Os sinais de baixo
O equipamento possui um peso de nível podem também ser usados para o teste de
aproximadamente 9.8 Kg, e seus hardwares equipamentos que tenham entradas de baixo
contem os seguintes elementos: nível, tais como adaptadores de fibra ótica.

§ Uma seção de geração de sinal que


1.2. CMC 256
provê doze canais independentes
§ Uma seção de amplificação com três
amplificadores de tensão e três de O equipamento CMC 256 é disponível em
corrente, duas versões. CMC 256-6 com seis fases com
§ Uma seção de temporização numérica saída de corrente de 6 x 12.5 A e com três fases
de alta precisão com dez entradas CMC 256-3 com saída de corrente de 3 x 25 A.
binárias para detecção de seqüência de
contatos Comparando à CMC 156, a CMC 256 oferece as
§ Uma seção de medição analógica com seguintes características adicionais:
duas entradas analógicas para a - Saída de Tensão de 0 a 300 V:
medição de sinais de transdutores
§ Quatro relés de saída Para testes em relés de proteção que necessitem
§ Circuitaria completa de controle de de altas tensões (acima de 600 V fase-terra) na
sistema industria, medidores e transdutores de medição.

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Parte I: Conceitos e Definições

1-fase AC (L-L) 1 x 0 ... 250 V


- Quatro controles independentes da tensão de DC (L-N) 1 x 0 ... ± 125 V
saída 0 a 300 V:
Potência
Por exemplo, para o teste conveniente de 3-fases AC (L-N) 3 x 50 VA até 125 V
dispositivos de sincronismo ou geradores com 1-fase AC (L-N) 1 x 100 VA até 125 V
tensão residual 1-fase AC (L-L) 1 x 100 VA até 250 V
AC (L-N) 1 x 90 W até ± 125 V
- Saída de Correntes 6 x 12,5 A ou 3 x 25 A: Resolução 6 mV
Alta potência para o teste de relés Precisão <0.025% típ.(<0.1%gar.)
eletromecânicos sem o amplificador adicional. Distorção (THD+N) <0.015% típ. (<0.05%
Seis correntes de saída (CMC 256-6); permite o gar.)
teste na proteção diferencial de transformadores
de dois enrolamentos sem o adicional Geradores/Amplificadores de Corrente
amplificador externo de corrente.
Faixa de Ajuste
- Fonte DC independente (0 a 264V, 50 W): 3-fase AC (L-N) 3 x 0 ... 12.5 A
1-fase AC (3L-N) 1 x 0 ... 21 A
Por exemplo, para Relé de potência. DC (3L-N) 1 x 0 ... ± 30 A (Se controlado via
software Windows)
- Entrada de medida analógica: (com o opcional
EnerLyzer) Potência
3-fase AC (L-N) 3 x 40 VA
Suprindo todas as dez entradas binárias com 1-fase AC (L-L) 1 x 80 VA
funções de medidas analógicas para tensões dc (L-N) 1 x 60 W
acima de 600 V e correntes (utilizando clamps de Resolução 500 µA
corrente). Amplitude, freqüência, fase, medição Precisão <0.02 % típ. (<0.1 % gar.)
de potência, gravação e analise dos sinais Distorção (THD+N) <0.03% típ. (<0.07% gar.)
transitórios, trigger de eventos, etc. Saída de sinais de baixo nível
Faixa de Ajuste 6 x 0 ... 5 Vrms
Saída de corrente max. 2 mA
Resolução 250 µV
Precisão <0.025 % típ. (<0.1% gar.)
Distorção (THD+N) <0.015% típ. (<0.05%
gar.)
Isolação SELV

2.1.2. Dados comuns aos geradores

Faixa de freqüência
sinais senoidais 10 ... 1000 Hz
sinais transitórios DC ... 3.1 kHz
Figura 2 – Equipamento CMC256-6 e notebook Resolução da freqüência 5 µHz
de controle Precisão da freqüência/der.± 0.5 ppm / ± 1 ppm
2. ESPECIFICAÇÕES TÉCNICAS faixa angulo de fase - 360° ... + 360°
resolução de fase 0.001°
2.1. Especificações Técnicas CMC 156 Erro de Fase <0.02°típ(<0.1°gar.)até 50/60
Hz
2.1.1. Seção Gerador/amplificador
Conexões
Tensão Gerador/Amplificador
Saída Amplificador soquete banana de 4mm ou
Faixa de Ajuste
de amplificador combinado
3-fases AC (L-N) 3 x 0 ... 125 V
de 8 pinos

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Parte I: Conceitos e Definições

Sinais de Baixo Nível Soquete combinado de 16


pinos Saídas Binárias

Todos doze geradores são ajustáveis Numero 4


independentemente em amplitude, fase e Tipo Contato seco – controlado
freqüência. Não é necessário o chaveamento de via software
ajustes. Todas as saídas de tensão e corrente Capac. interrupção AC Vmax: 250 Vac
estão protegidas contra sobrecarga e curto- Imax: 8 A,
circuito, e são protegidas contra sinais Pmax: 2000 VA
transitórios externos de alta tensão e Capac. interrupção DC Vmax: 300 Vdc,
sobretemperatura. (Indicação via mensagem de Imax: 8 A,
erro no software). Os circuitos do Pmax: 50 W
Gerador/Amplificador estão galvânicamente Conexão soquetes banana 4 mm
separados.
2.1.4. Geral
2.1.3. Seção de Temporização/Medição
Fonte de alimentação
Entradas Binárias V nominal de entrada 110 - 240 Vac, 1-fase
Quantidade 10 entradas V permissível de entrada 99 ... 264 Vac
Critério de Trigger Troca de posição dos Freqüência Nominal 50/60 Hz
contatos sem potencial ou Faixa Admissível 47 - 63 Hz
tensão DC até 250 V; O Consumo < 600 VA
nível de trigger pode ser Conexão soquete Standard Ac (IEC 60320)
ajustado via software
Tempo de resposta 120 µs Condições Ambientais
isolação Galvânica Separados galvânicamente Temp. de operação 0...+50°C(+32...+122°F)
dos amplificadores. Dois Temp. de armazenagem -25.+70°C(-13.+158°F)
grupos galvânicamente Faixa de umidade umidade relativa 5...95%,
separados. sem condensação
Máximo tempo de medição Infinito (se Vibração I EC 68-2-6 (20 m/s2 até
controlado via 10 ... 150 Hz)
software Windows) Choque IEC 68-2-27 (15g / 11ms meia seno)
Conexões soquetes banana 4 mm ou EMC CE conforme (89/336/EEC)
via soquete combinado Emissão EN 50081-2, EN 61000-3-2/3FCC
Sub parte B da Parte 15 Classe A
Entradas do Contador de 100 kHz Imunidade EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/6
Numero 2 Segurança EN 61010-1, EN 60950+A1
Histerese de tensão 2V IEC 61010-1, UL 3111-1
Max. tensão de entrada ± 30 V CAN/CSA-C22.2 No 1010.1
Isolação SELV Certificações TÜV-GS; UL, CUL
Conexões via soquetes na parte Peso 9.8 kg (21.6 lb.)
traseira da unidade Dimensões 343x145x268mm(13.5“x5.7“x10.6“)
(Largura x Altura x Profundidade,
Entrada de medição de corrente DC sem alça)
Faixa de Medição 0 ... ± 20 mAdc
Precisão erro <0.05% gar. Autodiagnóstico do hardware durante a
Conexão soquetes banana 4mm ou operação do equipamento. Supervisão
via soquete combinado automática das saídas de tensão e corrente.
Conexão ao PC via porta paralela para impressora
Entrada de medição de Tensão DC
Faixa de Medida 0 ... ± 10 Vdc 2.2. CMC 156 EP (Precisão estendida)
Precisão erro <0.05% gar.
Conexão soquetes banana 4mm ou via
soquete combinado

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Parte I: Conceitos e Definições

Quando atualizado com a opção EP 1-fase ac (3L-N) 2 x 210 VA até 22.5 A


(Precisão estendida), o equipamento de teste 1-fase ac (L-L) 2 x 140 VA até 7.5 A
CMC 156 se converte em um instrumento ideal dc (3L-N) 2 x 235 W até ± 17.5 A
para testar medidores de energia de classe 0.26, Resolução 500 µA
de acordo com a norma IEC687 (certificado PTB)
sem um medidor adicional de referência. Essa Faixa 12.5 A
grande precisão também faz do CMC 156 EP Faixa de Ajuste
ideal para os fabricantes de relés para a execução 3-fase ac (L-N) 6 x 0 ... 1.25 A
de testes de tipo. A principal diferença com o
equipamento CMC 156 standard é uma adicional Potência
comutação automática do limite de corrente do 3-fase ac (L-N) 6 x 12.5 VA até 1.25 A
amplificador assegurando um incremento na Resolução 50 µA
precisão em toda a faixa.
Grupo A e B em série Conexão externa
2.3. Especificações Técnicas CMC 256 (IL2A - IL2B)
Potência
1-fase ac (IL1A-IL1B) 280 VA até 7.5 A (40 Vrms)
2.3.1. Seção Gerador/amplificador
Geradores/Amplificadores de Corrente –
Tensão Gerador/Amplificador CMC256-3 ou CMC256-6 com Amplificadores de
Faixa de Ajuste Corrente grupo A e B em paralelo.
4-fase ac (L-N) 4x0..300V(VL4(t)automaticamente
Calculo:VL4=(VL1+VL2+VL3)*C Faixa 25 A
ou programação livre Faixa de Ajuste
1-fase ac (L-L) 1 x 0 ... 600 V 3-fase ac (L-N) 3 x 0 ... 25 A
dc (L-N) 4 x 0 ... ± 300 V 1-fase ac (3L-N) 1 x 0 ... 75 A
dc (L-N) 1 x 0 ... ± 35 A
Potência
3-fase ac (L-N) 3 x 85 VA até 85 ... 300 V Potência
VL4 ac (L-N) 1 x 85 VA até 85 ... 300 V 3-fase ac (L-N) 3 x 140 VA até 15 A
4-fase ac (L-N)4 x 50 VA até 75 ... 300 V 1-fase ac (L-L) 1 x 280 VA até 15 A
1-fase ac (L-N)1 x 150 VA até 75 ... 300 V 1-fase ac (L-N) 1 x 420 VA até 45 A
(Típico. 200VAaté100..300V) dc (3L-N) 1 x 470 W até ± 35 A
1-fase ac (L-L) 1 x 150 VA até 150 ...600 V
dc (L-N) 1 x 360 W até ± 300 V Faixa 2,5 A
Precisão <0.025% Típ. (<0.1% gar.) Faixa de Ajuste
até 30 ... 300 V 3-fase ac (L-N) 3 x 0 ... 2.5 A
Distorção (THD+N)2 <0.015% Típ.(<0.05% gar.)
Faixa da tensão de saída 150 V, 300 V Potência
Resolução 5 mV em 150 V faixa 3-fase ac (L-N) 3 x 25 VA
10 mV em 300 V faixa Resolução 100 µA / 1 mA em 2.5 A / 25 A faixa

Geradores/Amplificadores de CorrenteCMC256-6 Geradores/amplificadores de Corrente:


Precisão <0.03% Típ. (<0.1% gar.)
Amplificadores de Corrente grupo A e/ou B Distorção (THD+N)2 <0.025% Típ.
(<0.07% gar.)
Faixa 12.5 A Max. Concordância tensão A, B 10 Vrms ,
Faixa de Ajuste 15 Vpk
3-fase ac (L-N) 6 x 0 ... 12.5 A
1-fase ac (3L-N) 2 x 0 ... 37.5 A Baixo nível de saída “LL out 1-6”
dc (3L-N) 2 x 0 ... ± 17.5 A Faixa de Ajuste 6 x 0 ... 10 Vpk
(LL out 1-6)
Potência Max corrente saída 1 mA
3-fase ac (L-N) 6 x 70 VA até 7.5 A Precisão <0.025% Típ.

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Parte I: Conceitos e Definições

(<0.07% gar.) Conexão Soquete banana 4 mm


até 1 ... 10 Vpk na parte frontal do
Resolução 250 µV painel
Distorção (THD+N)2 <0.015% Típ.
(<0.05% gar.) Protegidos contra curto circuitos, e
isolados galvânicamente de todos outros grupos,
Isolação SELV sinal de indicação de sobrecarga
Usabilidade usada completamente independente Seção de Temporização/Medição
das saídas dos amplificadores internos
Entradas Binárias
Dados dos Geradores
Quantidade 10 entradas
Freqüência faixa Critério de trigger Troca de posição dos
Sinal senoidal 10 ... 1000 Hz contatos sem potencial ou tensão DC
Sinal Transitório dc ... 3.1 kHz Características 0 ... ± 600 Vdc threshold,
Freq.Precisão/variação ± 0.5 ppm / ± 1 ppm ou contato seco
Freq. resolução < 5 µHz Resolução de threshold ± 2 mV, ± 20 mV,
Faixa de angulo de fase -360° ... +360° ± 200 mV, ± 2 V,
Resolução de fase 0.001° ± 20 V faixa 100 mV,
Erro de fase <0.02°Típ. (<0.1° gar.) até 50/60Hz 1 V, 10 V, 100 V,
Largura de Banda (-3dB) 3.1kHz 600 V(rms.)
Taxa de amostragem 10 kHz
Conexão Resolução 100 µs
Saída do Amplificador Todos sinais soquete Max. tempo medida Infinita
banana parte frontal painel; Saída VL1..VL3 e N
e Saída IL1-IL3 e N do grupo A em soquete Função contador <3 kHz,
combinado 8 pinos largura do pulso>150µs
isolação galvânica 5grupos(2+2+2+2+2)
Baixo sinal saída Max. tensão de entrada 600Vrms (850Vpk)
“LL out 1-6” Soquete combinado 16 pinos Conexão Soquete banana 4 mm
(Lado de Traz) na parte frontal do
painel (combinado com
Todas as tensões e correntes dos geradores entradas analógicas )
são continuamente e independentemente
ajustáveis em amplitude, fase e freqüência. Todas Contador de entrada 100 kHz
saídas de corrente e tensão são completamente Numero 2
garantidos contra curto-circuito e sobrecarga e Max. cont. freqüência 100 kHz
protegidos contra sinais transitórios de alta Largura do Pulso >3 µs
tensão e sobretemperatura (indicado no software Threshold Tensão 6V
via mensagem de erro). Os circuitos do Histerese de tensão 2V
gerador/amplificador e circuitos principais são Max. Tensão entrada ± 30 V
galvânicamente separados. Os circuitos de Isolação SELV
entrada de corrente, tensão, auxiliar dc e Conexão Soquete 16 pinos
binário/análogos são galvânicamente separados combinado
de todos outros. (lado de traz)

Fonte Auxiliar DC Saídas Binárias

Faixa da tensão de saídas 0 ... 264 Vdc, 0.2 A Relés


0 ... 132 Vdc, 0.4 A Quantidade 4
0 ... 66 Vdc, 0.8 A Tipo Contato seco
Potência max. 50 W controlado via software
Precisão Erro < 2% Típico. Capacidade interr. Ac Vmax:300Vac,Imax: 8A,
(< 5% gar.) Pmax: 2000 VA

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Capacidade interr. dc Vmax:300Vdc,Imax: 8A, canais.


Pmax: 50 W Indicação sobrec. Entrada sim
Conexão Soquete banana 4 mm Proteção entrada sim
na parte frontal do Max. tensão entrada 600 Vrms (850 Vpk)
painel Isolação galvânica 5 grupos (2+2+2+2+2)
Conexão Soquete banana 4 mm na
Transistor parte frontal do painel
Quantidade 4 (combinado com entradas
Típico Saída com transistor analógicas)
coletor aberto
Taxa de atualização 10 kHz Geral
Imax 5 mA
Conexão Soquete combinado 16 Fonte de potência
pinos (lado de traz) Entrada tensão nominal 110 - 240 Vac, 1-fase
Entrada perm. Tensão 99 ... 264 Vac
Medição entrada Tensão DC e Corrente DC Freqüência Nominal 50/60 Hz
Faixa perm. freqüência 45 - 65 Hz
Faixa med tensão entrada 0 ... ± 10 V consumo2 de Potência 1.2 kVA até 115 V
Faixa med corrente entrada 0 ... ± 1 mA, 1.6 kVA até 230 V
0 ... ± 20 mA Taxa de corrente 10 A
Precisão < 0.003% Típico. Conexão Soquete ac standard (IEC 60320)
(<0.02% gar.)
Conexão Soquete banana 4 mm na parte Condições Ambientais
frontal do painel
Temp.de funcionamento 0..+50°C(+32..+122°F)
Entradas de medidas analógicas ac+dc Temp de armazenam.-25..+70°C(-13..+158°F)
(opcional, em conexões com EnerLyzer) Faixa de umidade Rel. umidade 5...95%,
sem condensação
Tipo ac+dc tensão de Vibração IEC 68-2-6 (20 m/s2 até
Entrada analógica 10 ... 150 Hz)
Quantidade 10 Choque IEC 68-2-27 (15g / 11ms meio seno)
Faixa entrada nominal 100 mV, 1 V, 10 V, EMC CE conforme (89/336/EEC)
100 V, 600 V (rms) Emissão EN 50081-2, EN61000-3-2/3
Amplitude – Precisão < 0.06% Típ. FCC Sub parte B da Part 15 Classe A
(<0.15% gar.) Imunidade EN 50082-2, IEC 61000-4-2/3/4/6
Largura de banda dc ... 10 kHz Segurança EN 61010-1, EN 60950+A1
Freqüência amostragem 28.44kHz, IEC 61010-1, UL 3111-1
9.48 kHz, 3.16 kHz CAN/CSA-C22.2 No 1010.1
Impedância de entrada 500 kW // 50 pF Certificações TÜV-GS; UL, CUL
Peso 15.7 kg (34.8 lb.)
Buffer entrada transitória 3,5 s para todos os dez Dimensões 450x145x390mm(17.7”x5.7”x15.4”)
canais de entrada com freqüência de
amostragem de 28 kHz ou 316 s com uma canal Miscelânea
e 3 kHz de freqüência de amostragem Conexão com PC Porta paralela
IEEE1284-C conector)
Clamps de Corrente Clamp de corrente com CMC 56/156 SW-Compatibilidade
tensão de saída ou shunt Windows - SW (Test Universe)
externo e clamp de corrente Indicação sinal (LED) >42V para AUX-dc,
standard. e saída de tensão
Funções de medição Idc, Vdc, Iac, Vac,, fase, Soquete aterramento Soquete banana 4 mm
freqüência, potência, na parte de traz do
energia, harmônicos, painel
capacidade de gravação de
transitórios em todos os

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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Autodiagnóstico do hardware após cada As especificações diferem da CMC 256-6 nos


partida. Supervisão automática das saídas de seguintes valores:
tensão e corrente durante o teste
Corrente geradores/amplificadores
2.4. CMC 256-6 EP (Precisão estendida) Precisão Erro <0.02 % Típico. (<0.05% gar.)

Tensão geradores/amplificadores
O CMC 256-6 é também disponível com a Precisão Erro <0.02 % Típico. (<0.05% gar.)
opção de hardware EP (precisão estendida). A
precisão extremamente alta dos amplificadores Dados gerais dos geradores
de tensão e corrente da CMC 256-6 EP é ideal Erro de Fase <0.005° Típico. (<0.02° gar.)
para a calibração e teste dos novos medidores de até 50/60 Hz
energia (classe acima de 0.25 de acordo com a Variação Temp. 0.0025% / °C
norma IEC687, 0 ... 300V trifásico); para a o
desenvolvimento de aplicações especiais, testes Potência de saída
de tipo, testes de aceitação, calibração de Precisão5 Erro <0.05% Típico. (<0.1% gar.)
dispositivos, ou demonstração de produtos, as relativo aos valores ajustados (Erro
características adicionais da CMC 256-6 EP relativo) até 0.1 … 12.5 A
provêm uma solução completa. (amplificador corrente grupo A ou B,
A opção EP pode ser encomendada 50/60 Hz) e 50 … 300 V
juntamente com uma nova unidade CMC 256-6, Variação Temp. <0.001%/°C Típ.
ou com uma CMC 256-6 já existente, podendo (<0.005%/°C gar.)
ser atualizada para incluir esta opção.

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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Cap 03 : Introdução ao Software


OMICRON Test Universe
Resumo software fácil de usar, baseado no ambiente
Windows e que proporciona flexibilidade e
Este capítulo apresenta o software de completa adaptabilidade a diferentes aplicações
comando e análise do sistema Omicron de testes de teste.
de proteção, o OMICRON TEST UNIVERSE. A flexibilidade é proporcionada com os
Apresenta suas ferramentas gerais de testes, bem distintos pacotes de software, onde a
como descreve a filosofia aplicada nos adaptabilidade é conseguida utilizando-se de
procedimentos de testes que serão abordados ao diversas maneiras combinações diferentes dos
longo do curso. componentes dos pacotes do software. Cada
pacote contém uma seleção de módulos de teste
orientados por função. Os módulos de teste
1. O SOFTWARE OTU podem operar de modo autônomo para teste
simples ou podem estar concatenados com
O OMICRON Test Universe esta projetado outros módulos em um documento de teste do
para realizar testes em dispositivos de proteção e Control Center (plano de teste, dependendo do
medida, tanto pelas companhias elétricas, assim pacote de software que compõe o sistma de
como pelas companhias fabricantes de relés. teste) para testes completos multifuncionais.
Consiste em um hardware sofisticado e um

Figura 1 – Página inicial do software OMICRON TEST UNIVERSE

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
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Parte I: Conceitos e Definições

2. INSTALAÇÃO DO SOFTWARE
OMICRON TEST UNIVERSE 2.0

A OMICRON tem enviado, gratuitamente,


aos usuários de seus equipamentos os UPDATE’s
do software OMICRON TEST UNIVERSE.
Em 2003 a versão 1.61 é introduzida no
mercado. A partir deste ano os UPDATE’s seriam
fornecidos através de Service Realeses.
Em 2004 a versão 2.0 é introduzida no
mercado. Caracterizando um novo sistema de
teste, o Software de controle OMICRON Test
Universe 2.0 traz um novo sistema de
Figura 2 – Tela de escolha do idioma do software
configuração de teste utilizando os arquivos
a ser instalado
XRIO, construindo testes automatizados
utilizando as aplicações mais simples do sistema
5) O sistema de instalação é automático,
de teste.
bastando o usuário seguir as instruções
Este novo sistema é apresentado neste
das telas de instalação.
curso.
Lembramos que todos os arquivos de teste
gerados nas versões anteriores podem ser
utilizados na versão 2.0. E que os arquivos
gerados pela nova versão não poderão ser
utilizados nas versões anteriores.
Assim, recomendamos que:

1) Para instalar a versão 2.0 do software,


deve-se desinstalar a versão atualmente
em uso. Figura 3 – O software possui um assistente de
instalação para ajudá-lo a tarefa.
2) Por segurança, deve-se realizar um backup
dos arquivos de teste e arquivos RIO
gerados pelo usuário. Lembre-se que os 6) Estarão habilitados os módulos de
diretórios onde são armazenados os software relativos ao equipamento do
arquivos dependem do idioma no qual o usuário. Novas licenças poderão ser
software foi instalado. (Por exemplo, adicionadas ao sistema conforme a escolha
<C:\My documents\Omicron Tests> ou do usuário.
<C:\Meus documentos\ Testes
OMICRON>).

3) Nas versões antigas o arquivo de licença


<Omicron.lic> era entregue em um
disquete 1.44’’ com um executável para
instalar a licença antes da instalação do
software principal. Nas versões 1.61 e 2.0
a licença está contida no CD do software
principal, ou seja, ele instalará
automaticamente a licença durante o
procedimento de instalação do software
principal.

4) Com a execução do programa de


instalação, escolhe-se o idioma do
software a ser instalado. Figura 4 – Setup Wizard.

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

7) Com o software instalado, o usuário


Configuração de Hardware:
poderá modificar ou reparar componentes
§ Definição das saídas
instalados, ou ainda desinstalar o binárias/analógicas do CMC
software. § Definições das entradas
(resposta do objeto de
teste)
§ Definição das conexões
entre o objeto a ser testado
e o CMC.

Módulo de teste:
§ Definição da estrutura de
teste
§ Escolha dos pontos a
serem testados
§ Geração automática de
relatório do teste

3.1. Teste Modular

Organizado pela função de proteção do


Figura 5 – Modificar, reparar ou remover o objeto a ser testado.
programa.
3.2. Teste Automático.

3. A LEI DE OHM DA OMICRON Utilização de métodos matemáticos,


eliminando a necessidade de programação, ou a
A lei de Ohm da Omicron é um anagrama realização de macros.
das siglas conforme mostrado a seguir: Utiliza o PC para registro de dados,
cálculos, relatórios, etc., potencializando a
Objeto sob teste interface com o usuário.
Omicron Control Center (fácil
Hardware procedimento de teste para equipamentos
Módulo de teste multifunção)

4. A UTILIZAÇÃO DO HELP
Cada vez que se realiza um teste deve-se
especificar (ou ter especificado previamente no A utilização do HELP consiste em uma
documento de teste) os dados necessários para poderosa ferramenta de ajuda. De uma forma
realização do teste dentro dos três passos geral, seu conteúdo pode ser acessado de
descritos. qualquer parte do programa pelo botão de
acesso rápido indicado na figura abaixo. Depois
de pressionado, aparecerá um ponto de
Parâmetro do objeto de teste: interrogação (?) junto ao ponteiro do windows.
§ Configurações do objeto a Ao clicar com o ponteiro sobre qualquer ponto
ser testado, da tela aparecerá um quadro com texto
§ Informações do sistema
relacionado à área marcada. O texto poderá
original do objeto a ser
testado, conter hypertextos que direcionará a busca por
§ Informações gerais. mais informações. Um exemplo de acesso é
mostrado na figura 6.

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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Figura 6 – Localização do botão de acesso rápido ao HELP na tela do QuickCMC.

5. SOFTWARES DE USO GERAL de sinais desequilibrados, variação de freqüência,


indicação de sobrecarga na tela, dentre outras.
A tela principal do módulo de software
5.1. QuickCMC QuickCMC é mostrada na figura 6.

O QuickCMC é uma ferramenta tão fácil de 5.1.1. Características do QuickCMC


usar como um painel de um controle manual,
mas que proporciona muita mais flexibilidade. § Controle e ajuste de 12 amplificadores,
Todas as funções do hardware da OMICRON são onde cada sinal é individualmente ajustado
acessíveis aos usuários na tela do PC. Este em amplitude, fase e freqüência.
enfoque gráfico proporciona não somente § Os valores de tensão e correntes podem
números, como também o diagrama vetorial das ser introduzidos por meio do teclado ou
tensões e corrente de forma gráfica. do mouse.
O QuickCMC proporciona uma definição § O modo de teste pode ser escolhido pelo
simples dos ajustes e controles dos usuário: rampa manual (passo a passo) ou
amplificadores que são usados para gerar sinais automática
de teste. Isto é conseguido introduzindo valores § Medidas simples das entradas binárias
numéricos ou posicionando, com o mouse, os (primeira transição de estado para cada
fasores de I e V no diagrama vetorial. Por isso, entrada após ultima troca da saída, mostra
todas as características dos amplificadores da a inclinação e tempo)
OMICRON podem ser usadas, tais como: geração

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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

§ Os resultados do teste são armazenados limites, como o valor de partida mínimo ou níveis
em relatório para uso posterior. Tal de histerese em mudanças de estado.
relatório pode ser personalizado em estilo Também podem ser realizadas tarefas
e conteúdo. automáticas que permitem o teste de funções
§ Freqüência: CC, 10-1000 Hz para todos os simples ou complexas. A flexibilidade deste
geradores. módulo permite que duas rampas com variáveis
§ Indicação de sobrecarga na tela. diferentes sejam executadas simultaneamente de
§ As respostas do rele de proteção ou as forma sincronizada assim como a execução de
saídas do transdutor de medição é uma seqüência de até cinco segmentos
supervisionada e uma medição de tempo é consecutivos de rampa, conforme mostrado na
realizada. As entradas analógicas são figura 8.
apresentadas em gráficos e as entradas Todos os valores especificados assim como
binárias têm os seus contatos secos e as tolerâncias admissíveis da rampa principal
molhados monitorados. podem ser determinadas. Conseqüentemente, a
geração automática da avaliação do teste pode
5.2. Ramping ser realizada imediatamente após a execução,
resultando em uma analise rápida e segura por
parte do usuário.
Este módulo de software define e gera
rampas de amplitude, fase ou freqüência para as
saídas de corrente e tensão, determina valores

Figura 7 – Entrada dos dados do teste - Ramping.

5.2.1. Características do RAMPING § Duas rampas simultâneas de duas variáveis


independentes
§ Definição de até cinco segmentos de
§ Testes automáticos usando a seqüência de rampas consecutivos
rampa § Controle visual dos valores de saídas

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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

§ Apresentação dos resultados dos testes ser definida. Isto pode ser usado para checar a
com avaliação automática correta operação dos relés.
§ Repetição dos testes de rampa ou Dentro de um estado, até 12 sinais podem
seqüências de rampa ser ajustados independentemente em amplitude,
§ Cálculo da razão dos valores de duas fase e freqüência. O diagrama vetorial pode ser
rampas simultâneas (por exemplo, V/Hz ou usado para verificação visual dos ajustes das
V/I) saídas. Uma visão global dos dados é
apresentada em uma tabela. A “visão detalhada”
5.3. STATE SEQUENCER proporciona toda a informação sobre um estado
específico.
Acrescentando-se à definição individual de
O State Sequencer é uma ferramenta cada estado uma seqüência de condições de pré-
muito flexível para a determinação de tempos de falha, falha e pós-falha podem ser definidas, para
operação e de seqüências lógicas temporizadas. testar relés de distância introduzindo a
Um “estado” é definido pelas condições impedância da falha.
das saídas (tensões e correntes, saídas binárias) e Dentro da seqüência de estados que
uma condição de finalização do estado. Vários definem o teste, medições de tempo a executar
estados podem ser correlacionados entre si para podem ser especificadas para a correta operação
definir uma seqüência de teste. A transição de do relé. Por exemplo, espera-se que um relé
um estado ao próximo pode ocorrer depois de opere logo após dois ciclos da ocorrência do
um tempo pré-fixado ou depois de uma condição estado de falta. Tempos de disparo individuais e
de disparo nas entradas binárias do CMC, ou seus desvios (positivo/negativo) podem ser
após um pulso de sincronização via GPS ou especificados para cada condição de medição. Se
depois de acionar uma tecla. Baseado nesta a medição de tempo está dentro do range, a
seqüência de estados, a medida de tempo pode avaliação é aprovada, caso contrário, é
desaprovada.

Figura 10 – Definição dos estados e condições de saída– State Sequencer

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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Cap 04 : Definindo o Hardware no


Teste e Ajustes do Relatório
Resumo Com o equipamento de teste CMC ligado
e conectado no laptop, ao acionar o ícone da
Este capítulo aborda passo a passo a configuração de hardware, o sistema reconhecerá
montagem das configurações de hardware para automaticamente o hardware conectado ao
execução de testes com o Sistema de Teste sistema, mostrando seu número de série e
OMICRON, mostrando suas opções e modelo.
procedimentos para configuração e
armazenagem de informações. Também mostra o
ajuste para confecção automática dos relatórios
de teste.

1. CONFIGURAÇÃO DE HARDWARE

Conforme mostrado no capítulo anterior, o


segundo passo da nossa Lei de OHM é a
configuração do hardware para o teste, onde
teremos:

§ Definição das saídas binárias/analógicas do


CMC Figura 2 – A tela Geral
§ Definições das entradas (resposta do
objeto de teste) Caso o usuário esteja realizando testes
§ Definição das conexões entre o objeto a simulados ou preparando os arquivos de teste
ser testado e o CMC. off-line, poderá escolher qual o equipamento que
irá configurar através da tela “Geral”.
Para acessar as telas de Note que, quando o teste é realizado
configuração de hardware, escolha o off-line, aparece uma lista de pontos de
ícone Configuração de Hardware no interrogação no lugar do número de série do
menu, ou acesse através do menu Parâmetros/ equipamento. Isto denota a falta de conexão do
Configuração de Hardware conforme mostra a sistema de teste com o hardware.
figura 1:
1.1.1. A Tela Detalhes

Clicando no botão Detalhes é aberta uma


caixa de dialogo onde a configuração desejada
para o teste pode ser ajustada.

Figura 1 – Acesso à configuração de hardware

1.1. A tela Geral


Figura 3 – Botão Detalhes

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

A seguir são mostradas algumas opções


possíveis para a configuração do equipamento de
teste.

SAÍDA DE CORRENTE 6X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms


Figura 8 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE TENSÃO - 4X300V;85VA@85V;1Arms


Figura 4 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE CORRENTE 3X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms


Figura 9 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE TENSÃO - 2X600V;150VA@150V;1Arms


Figura 5 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE CORRENTE 3X12,5A;70VA@7,5A;10Vrms


Figura 10 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE TENSÃO -1X600V;150VA@150V;1Arms


Figura 6 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE CORRENTE 1X37,5A;420VA@22,5A;20Vrms


Figura 11 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE TENSÃO 1X300V;150VA@75V;2Arms


Figura 7 – Configuração de Hardware

SAÍDA DE CORRENTE 1X75A;420VA@45A;10Vrms


Figura 12 – Configuração de Hardware

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Os valores de garantia no manual do


hardware são validos por 1 ano da data da ultima
calibração em fábrica.

SAÍDA DE CORRENTE 1X12,5A;280VA@7,5A;40Vrms


Figura 13 – Configuração de Hardware

1.1.2. Aviso de Verificação de Fiação Figura 16 – Dados de Calibração

A seguir apresentamos um checkbox , na 1.1.4. Importar e Exportar a Configuração de


figura 14, que permite o chaveamento para “on” Hardware
ou “off” da mensagem de advertência da fiação.
Se estiver ativa lembrará você de checar Usando a função “Importar/Exportar”,
fisicamente a fiação de seu hardware toda vez mostrada na figura 17, é permitido ler / escrever
que você mudar os ajustes da fiação no software. arquivos OHC. Arquivos OHC contem todas as
informações que podem ser ajustadas na
configuração de hardware.
Desta forma a configuração de hardware
pode ser facilmente transferida entre diferentes
Figura 14 – Checagem da fiação
documentos do OMICRON Control Center.

1.1.3. Busca de Hardware e Informação sobre


calibração
Figura 17 – Importar e Exportar configuração de
Busca...
hardware
A opção Busca..., mostrada na figura 15,
em Dispositivo de teste conectados, possibilita 1.2. Entradas Binárias / Analógicas
que o software busque por dispositivos
conectados. Normalmente isto não é necessário As entradas binárias/analógicas são fixas
para executar a busca manual, porque o software para o numero de entradas 1 a 10 como no
o executa automaticamente, conforme já painel frontal do dispositivo de teste.
observado. Essas entradas podem ser configuradas
Se diferentes dispositivos são encontrados de acordo com a aplicação.
dentro da busca, informações incompatíveis de A figura 18 mostra a tela de configuração.
configuração serão perdidas.
1.2.1. Contatos secos

Na linha Função selecione Binário para as


Figura 15 – Dispositivos de teste conectados entradas que você quer configurar.
Na linha Livre de Potencial habilite os
Calibração... checkboxes usados para as entradas que você
quer configurar.
Também na figura 15, acionando o botão Para as unidades CMC 256, podemos
Calibração... é aberta uma caixa de diálogo, ajustar cada uma das entradas para seco ou
mostrada na figura 16 onde a ultima calibração molhado, para as unidades CMC 156 ou CMC 56
em fábrica do dispositivo de teste OMICRON é somente grupos podem ser ajustados (1-4 e 5-
mostrada. 10).

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Figura 18 – Tela de configuração das entradas binárias/analógicas.

1.2.2. Sensibilização por Potencial entrada do contador de freqüência no painel


frontal do equipamento de teste.
Na linha Livre de Potencial, habilite os
Na linha Função selecione Binário para as checkboxes usados para as entradas que você
entradas que você quer configurar. quer configurar.
Na linha Livre de Potencial, desabilite os
checkboxes usados para as entradas que você
quer configurar. 1.2.4. Contador de Pulsos – Contatos
Na linha Faixa Nominal, ajuste a tensão Molhados
nominal do seu sinal. Se você deseja ajustar a
mesma tensão nominal para todas as entradas Na linha Função selecione Contador para
use o menu contextual (botão direito do mouse). as entradas que você quer configurar.
Se o valor nominal é modificado, o limiar Na linha Livre de Potencial, desabilite os
de operação é ajustado em 0,7 vezes o novo checkboxes usados para as entradas que você
valor nominal automaticamente. quer configurar.
Na linha Limiar (Threshold) ajuste o valor Na linha Faixa Nominal, ajuste a tensão
do limiar de operação, ou seja, o valor de tensão nominal do seu sinal. Se você deseja ajustar a
onde o contato muda de estado. mesma tensão nominal para todas as entradas
Se você deseja ajustar o mesmo valor de use o menu contextual (botão direito do mouse).
limiar para todas entradas do grupo, use o menu Na linha Limiar (Threshold) ajuste o valor
contextual (botão direito do mouse). do limiar de operação, ou seja, o valor de tensão
onde o contato muda de estado.
1.2.3. Contador de Pulsos – Contatos Secos Na linha Limiar (Threshold) ajuste o valor
do limiar de operação, ou seja, o valor de tensão
onde o contato muda de estado.
Na linha Função selecione Contador para
as entradas que você quer configurar.
A contagem de freqüência é limitada a 3 1.2.5. Leitura de Sinais de Tensão
kHz. Para freqüências acima de 100 kHz use a

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Na linha Função selecione Tensão para as através do menu contextual. (botão direito do
entradas que você quer configurar. mouse).
Na linha Faixa Nominal, ajuste faixa de Na linha Faixa Nominal, ajuste faixa de
entrada adequada ao seu sinal. entrada adequada ao seu sinal.

1.2.6. Leitura de Sinais de Corrente 1.3. Saídas Analógicas

Na linha Função selecione Corrente para Na tela Saídas Analógicas são


as entradas que você quer configurar. configuradas os canais de saída de tensão e
Na linha Relação do Clamp de Corrente corrente, anteriormente escolhidos em Detalhes.
entre com a relação do clamp (livremente entre
1µV/A a 1V/A) ou selecione um valor típico

Figura 19 – Tela de configuração das saídas analógicas.

Configurando o Relatório de Teste podendo ser criados e salvos novos modelos de


acordo com as necessidades do usuário.
Selecionando a opção Parâmetros /
Relatório no menu principal, a caixa de diálogos
Ajustes do Relatório é aberta. Ela permite
escolher as seguintes opções para o relatório de
teste.

Figura 21 – Opções de Relatório

Figura 20 – Menu de ajuste Relatório 1.3.1. Formulários de Relatório


A figura 21 mostra as opções de
configuração padrão existente para a elaboração Mudanças realizadas no relatório através
dos relatórios de teste, sendo elas: do botão Definir... são gravadas em um modelo
local, salvo como parte integrando do arquivo de
§ Short Form (OCC Short) teste onde os ajustes foram feitos.
§ Long Form (OCC Long) Existe também o Formulário de Relatório
onde cada novo teste utiliza as definições de
Essas duas opções são modelos já ajuste do relatório criadas pelo usuário.
definidos para o relatório. Clicando na opção A localização do Formulário de Relatório
Definir.., é possível adicionar ou deletar é mostrada na caixa de dialogo Definir Relatórios.
informações a serem inseridas no relatório, Você pode apagar os ajustes das definições do
relatório de qualquer teste, para utilizar estas do
Formulário de Relatório, clicando no botão

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Deletar, ou adicionar uma nova configuração com o botão Adicionar....

Figura 22 – Tela Definir Relatórios

Acionando o botão Ajustar como Padrão, No OMICRON Control Center (OCC) são
todos os ajustes do arquivo são estabelecidos utilizados esses dois modelos (longo e curto)
como padrão de relatório. Novas mudanças feitas como padrão. O mesmo não ocorre para outros
manualmente através do ajuste dos itens que modelos criados pelo usuário.
compõem o relatório são perdidas quando é No OCC é possível acionar um simples
escolhido um modelo pré-gravado. comando de forma a ajustar para todos módulos
de teste o uso do Formulário Longo ou o
1.3.2. Selecionando um Formulário OCC Formulário Curto, especificando o ajuste para
cada modulo de teste individualmente. Neste
caso, as definições dos ajustes para os relatórios
Selecionando o ajuste Formulário Curto no OCC são definidas aqui para serem usadas.
(OCC Curto) o relatório resumido será definido
como ajuste corrente. Similarmente, selecionando
Formulário Longo (OCC Longo) o ajuste de 1.3.3. Exportando o Relatório
relatório longo será definido como ajuste
corrente. Esta caixa de diálogo é aberta acionando
O nome do Formulário ajustado para em Arquivo | Exportar Relatório... para permitir
Formulário Curto é seguido pelo comentário que o relatório seja exportado em uma variedade
(OCC Curto), enquanto o nome do Formulário de formatos. A figura 23 mostra o menu com a
ajustado para Formulário Longo é seguido pelo opção Exportar Relatório...
comentário (OCC Longo). O ajuste do relatório
não pode ser o mesmo (longo e curto) ao mesmo
tempo.
Esta diferenciação é realizada para
utilização do módulo de teste dentro do
OMICRON Control Center.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 04 : Definindo o Hardware de Teste e Ajustes do Relatório 23
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Arquivos exportados no formato TXT são


simplesmente textos. Formatações e gráficos
serão perdidos. Os módulos de testes são
mostrados somente como textos.
Arquivos exportados no formato RTF
contem gráficos e formatação pré-ajustada de
tabelas. Este é o formato adequado para registro
relatório completo para ser editado em editores
de texto como MS-Word.

Figura 23 – Exportando o Relatório

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Cap 05 : Gerenciando os Arquivos de


Licença dos Equipamentos
Resumo 4. Com a execução do programa de
instalação, escolhe-se o idioma do software
Este texto apresenta a estrutura de busca e a ser instalado.
manipulação dos arquivos de licença do sistema
de teste da OMICRON para os equipamentos
Trata dos aplicativos para Gerenciamento de
Licenças, tanto na versão 1.61, quanto na versão
2.0, apresentadando e descrevendo suas
características.

1. INSTALAÇÃO DA VERSÃO OTU 1.61

A licença para instalação da versão 1.61 é


diferente das licenças utilizadas para a instalação
de versões anteriores.
Lembramos que todos os arquivos de teste
gerados nas versões anteriores podem ser Figura 1 – Tela de Instalação OTU 1.61
utilizados na versão 1.61. E que os arquivos
gerados pela nova versão não poderão ser 5. O sistema de instalação é automático,
utilizados nas versões anteriores. bastando o usuário seguir as instruções das
Assim, recomendamos que: telas de instalação.

1. Para instalar a versão 1.61 do software,


deve-se desinstalar a versão atualmente em
uso.

2. Por segurança, deve-se realizar um backup


dos arquivos de teste e arquivos RIO
gerados pelo usuário. Lembre-se que os Figura 2 – Istalando versão 1.61
diretórios onde são armazenados os
arquivos dependem do idioma no qual o
software foi instalado. (Por exemplo,
<C:\My documents\Omicron Tests> ou
<C:\My documents\ Testes OMICRON>).

3. Nas versões anteriores o arquivo de licença


<Omicron.lic> era entregue em um
disquete 1.44’’ com um executável para
instalar a licença antes da instalação do
software principal. Na versão 1.61 a licença
está contida no CD do software principal,
ou seja, ele instalará automaticamente a
licença durante o procedimento de
instalação do software principal. Figura 3 – Início da Instalação – Setup Wizard

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 05: Gerenciando os Arquivos de Licença dos Equipamentos 25
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

6. Estarão habilitados os módulos de 7. Com o software instalado, o usuário


software relativos ao equipamento do poderá modificar ou reparar componentes
usuário. Novas licenças poderão ser instalados, ou ainda desinstalar o software.
adicionadas ao sistema conforme a escolha
do usuário. 1.1. Procurando Arquivos de Licença
na Versão 1.61

A versão 1.61 possui o aplicativo SCAN


LIC. Ele possibilita ao usuário buscar e visualizar
quaisquer licenças.
A figura 5 mostra a tela de trabalho do
SCAN LIC.
O usuário utiliza o botão “Browse...” para
direcionar a busca, escolhendo o diretório onde
se encontar o arquivo de licença requerido.
Depois é só clicar em “Scan Folder” para
que o aplicativo leia todas as licenças que
encontar naquele diretório.
O conteúdo das licenças é mostrado na
Figura 4 – Opções na Instalação tela na parte inferior.

Figura 5 – Tela do Scan Lic

1.2. Adicionando Arquivos de Licença Uma vez identificado o arquivo com o


ScanLic, o usuário pode adiconar essa licença ao
na Versão 1.61
arquivo de licença principal do seu sistema de
teste.

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

Para tal ele irá usar o utilitário AddLIC. 2. O usuário pode entrar manualmente com
Uma vez iniciado, o AddLIC ira’ oferecer duas os códigos da nova licença.
opções, mostradas na figura 6:
Uma vez escolhida a primeira opção, basta
1. O usuário pode inserir uma nova licença o usuário direcionar o local onde está o arquivo
através de um arquivo <omicron.lic>; da nova licença e clicar em “Next”.

Figura 6 – Tela inicial AddLic

Figura 7 – Tela de busca do AddLic

2. O GERENCIADOR DE LICENÇA NO 2.0 Ele busca os arquivos de licença OMICRON


armazenados no hard disk(s) do computador e
mostra seu conteúdo.
O Gerenciador de Licença combina a Ele combina as informações das licenças
funcionalidade de um aplicativo de licença, uma de difrentes arquivos dentre de uma licença
ferramenta para manipulação e um editor de pricipal no arquivo <Omicron.lic>. Além disso
licenças. pode-se adicionar licenças manualmente.

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

2.1. Procurando Arquivos de Licença de Licenças irá procurar automaticamente nesse


na Versão 2.0 folder e em todos os subfolders.
Se o usuário quiser procurar em todo hard
disk, basta digitar a letra correspondente ao
Entre o caminho e localização do folder
drive, por exemplo C:\.
que contem o arquivo procurado no campo
"Search in" e clique em "Search". O Gerenciador

Figura 8 - O gerenciador de licença

O campo "Search in" salva o seleção mais Exitem dois campos na parte inferior da tela do
recente. gerenciador de licenças que mostram todo
Outra opção é clicar em "Browse" para conteúdo das licenças.
navegar entre toda a estrutura do folder.
Selecionar um forder e clicar em "Search”. O campo no lado inferior esquerdo mostra
Todo arquivo de licença encontrado é os equipamentos cujas licenças estão nos
listado em campo próprio. arquivos, e seus respectivos números de
A arquivo da licença pricipal (Master série, como mostrado na figura 9.
License) não precisa ser buscada. Como ela está
presente no hard disk, ela sempre será mostrada O campo inferior direito mostra o
conteúdo da liença do equipamento
3. CONTEÚDO DO ARQUIVO DE selecionado no campo mostrada na
figura 10. Cada linha representa um
LICENÇA
módulo de teste habilitado para
Clique no arquivo de licença escolhida no trabalhar no equipamento selecionado.
campo das licenças.

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

No campo superior é apresentada uma


lista onde é escolhida um arquivo de
licença. O arquivo selecionado é
combinado com o arquivo de licença
pricipal e novos módulos de teste podem
ser agregados a licença. Se uma licença
relaciona com um módulo ou com a
licença inteira já existir, a nova licença irá
sobrepor a antiga.

Nota: O conteudo combinado é unidirectional,


isto é, somente a combinação de uma arquivo de
licença dentro do arquivo da licença principal é
possível, mas não o contrário. Entretanto,
Figura 9 – Equipamentos e números de série dependendo do arquivo de licença selecionado,
este botão e o correspondente item do meno
pode ser desabilitado

Correspondente ao item do menu: Edit |


Delete File

Figura 10 – Conteúdo da licença


Deleta o arquivo de licença selecionado.
CUIDADO: Qualquer arquivo de licença
3.1. Combinando Arquivos de Licença principal pode ser deletada. Uma vez
no Arquivo de Licença Principal deletado a licença, ela não poderá ser
(Master License) –campo superior restaurada da Lixeira do Windows
(Windows Recycle Bin).
Correspondente ao item do menu: File |
Open File and Merge… 3.2. Menu Contextual (botão direito
do mouse)

Em todos os campos, um clique no botão


direito do mouse abre um menu contextual. Os
itens desse menu corresponde a uma barra de
Navega entre a estrutura do folder e ferramentas e um menu de comandos.
seleciona um arquivo de licença escolhido.
O arquivo selecionado é combinado com o
arquivo de licença pricipal <Omicron.lic>.
Entradas de arquivos duplicados para um
mesmo equipamento deve ser evitado,
pois a nova licença irá sobrepor a antiga.

Correspondente ao item do menu: Edit |


Merge File
Figura 11 - Menu Contextual

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte I: Conceitos e Definições

3.3. Escolhendo os dados a serem Será realizada um cópia do arquivo de


mostrados licença para a aplicação padrão de e-mail de seu
computador.
Nos dois campos inferiores de listagem são
mostrados dados que podem ser mostrados em
ordem ascendente pelo tipo de
equipamento,número de série e nome dos
módulos de software. Para fazer organizar a
amostragem, clique no repectivo item (p. ex.
Device).

3.4. Seleção de visualização das


licenças por versão Figura 13 - Enviando Licença por e-mail para
OMICRON
Iniciando o software Test Universe 2.0,
uma cópia do código da licença é introduzida. 4. CONSIDERAÇÕES FINAIS
Em uma mesma licença pode ser adicionada
diferentes versões da licença do software TU, ou
seja, em uma mesma licença principal (Master O usuário deve sempre lembrar que:
License) estão armazenadas diferentes versões do
software ( p. ex., 1.6 ou 2.0). O sistema de teste é composto por
Esta mesma licença principal pode ser hardware e software, onde este último é
usada em diferentes computadores com habilitado por uma licença única. Ou
diferentes vesões de software sem a necessidade seja, para operar com um determinado
da exportação e uso de diferentes arquivos de equipamento é necessário ter a licença
licença principal. deste equipamento.
Um combo box apresenta um filtro para as
diferentes versões, mostrada na figura a seguir. O que determina a quantidade de
equipamentos que um computador ou
notebook pode operar é a quantidade de
licenças adicionadas.

As licenças devem ser usadas com as


versões corretas de software. Licenças de
uma determinada versão só podem ser
usadas com o software instalado nesta
mesma versão.

Importante: Todos os arquivos de teste


Figura 12 - seleção da versão do software
gerados nas versões mais antigas
poderão ser utilizados nas versões mais
Pode-se especificar que seja mostrada
novas. Os arquivos gerados por versões
todas as licenças de todas as versões ou somente
mais novas não poderão ser utilizados
aquela versão da escolha do usuário.
nas versões anteriores.

3.5. Enviando sua Licença principal Caso o usuário tenha dois equipamentos
para OMICRON por e-mail com softtware de versões diferentes e
deseje trabalhar com um só computador,
No caso de precisar enviar o arquivo de ele deve instalar as duas versões neste
licença principal para o suporte técnico da computador. Isso só é possível
OMICRON para análise, selecione o menu File | particionando-se o HD e instalando dois
Send Master License File…. sistemas operacionais separados.

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Cap 06 : QuickCMC
Resumo a) Ajuste a tensão para não usada e a
corrente para 3 x 12,5 A, como mostrado
Este texto mostra passo a passo a na figura 1. Confirme a seleção clicando
montagem dos procedimentos de teste utilizando em OK.
o módulo de teste QuickCMC. A metodologia
adotada consiste em se realizar um teste da b) Clique em Saídas Analógicas;
função (50/51), demonstrando as características
do software.

1. DADOS DO RELÉ

Para efeito didático propomos um ajuste Figura 2 – Saidas analogicas


de um relé de sobrecorrente (50/51) fictício.
Lembramos que os procedimentos adotados c) Defina os nomes para cada sinal de
podem ser usados para quaisquer testes. corrente, adicionando-os na coluna
Etiqueta, por exemplo IA, IB, IC, IN e
Ajustes do relé Valores Fase-Neutro
Valor de Pickup 0,36 x Inom ou 1,8 A
Jumpers.
Curva Característica Very Inverse (VI)
Dial de Tempo 1 d) O terminal de conexão no relé pode ser
Pickup Instantâneo (I>>) 5,5 x Ipickup especificado na terceira coluna.
Tolerância para Pickup/Dropout ± 5% = ± 0,9 A
Tabela 1 – Dados do relé e) Selecione com um clique do mouse,
marcando um “X” nas colunas para IA, IB,
2. CONFIGURAÇÃO DE HARDWARE IC e IN. Assim são especificadas as saídas
analógicas do CMC que são conectadas
São apresentados os procedimentos para com o terminal do relé.
efetuar a configuração de hardware, ou seja, as
ligações entre o relé a ser testado e o f) Caso uma determinada coluna seja
equipamento de teste CMC. desmarcada, o canal analógico
correspondente será desabilitado.

g) Clique em Entradas Binárias/Analógicas

Figura 3 - entradas binarias


Figura 1 – detalhes

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

h) Defina a entrada binária 1 como “Inicio” , tensão, o nível de trigger para cada
entrada binária 2 como “Disparo”, entrada entrada pode ser especificado
binária 3 como “Disparo L3” e entrada separadamente (no caso do CMC256!).
binária 4 como “entr.bin 4”. Em Etiqueta
preencher como “Inicio”, “Trip L-L”, “Trip 3. TESTE DE VALORES DE PICKUP L-N
L-N” e “Inst.

i) Selecione com X as respectivas entradas a) Entre com as correntes 1, 2 e 3 iguais a


binárias (conforme ligação) zero

j) Defina as entradas binárias de 1 a 4 como b) No campo “Passo/Rampa” na opção


Livre de Potencial através da seleção do “Saída” , selecione a opção I1
check box. Se utilizarmos contatos com

Figura 4 – Tela de teste QuickCMC

c) No campo “Grandeza” escolha a opção g) Clique no botão “On/Off” – F5 para ligar a


“Magnitude”. saida de corrente da CMC 256-6

d) No campo “Taman” preencha o valor h) A fase A de corrente irá aumentar


0,020 A (Passo) gradativamente até que a entrada binária
do sinal de trip “Início”opere.
e) No campo “Tempo” entre com o valor de
1,00 s i) Isso irá acontecer para o valor de corrente
da figura acima (1.8 A). Para anexar este
f) Marque a opção “Passo Auto” dado ao relatório de teste, clique em “Add
to report”:

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 06: QuickCMC 32
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

c) Isto irá acontecer para o valor de corrente


de 1,720 A, para anexar este dado ao
relatório de teste, clique em “Adicionar ao
Relatório”.

Figura 5 – Botão Adicionar ao Relatório 5. TESTE DA CURVA DE CORRENTE X


TEMPO (L-N)
j) No campo “Titulo” digite Teste PickUp
Fase-Neutro, insira os comentários no a) A figura a seguir mostra o teste para 2 x
campo “Comentário” , e em seguida Ipickup.
classifique o resultado do teste como
“Aprovado” ou “Reprovado”. b) Desmarque as entradas binárias 1 e 2
deixando a caixa com o trigger somente
para o trip fase neutro.
4. TESTE DE VALORES DE DROPOUT L-N
c) Clique no botão “On/Off – F5” para ligar
a) Clique na seta abaixo na tela do QuickCMC as correntes de saída da CMC 256

b) A fase A de corrente irá diminuir d) Clique no botão “Segurar Valores” para


gradativamente até que a entrada binária congelar a saída da CMC na configuração
do sinal de Trip “Início” desopere. presente.

Figura 6 – Tela de teste QuickCMC

e) Entre agora com o valor de 3,6 A no f) Clique novamente no botão “Segurar


campo da fase A Valores” para descongelar a saída da CMC
e aplicar a nova configuração.

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

g) Observe a resposta da entrada binária 3


para o tempo de trip.

h) Para capturar os dados do teste para o


relatório, clique no botão “Adiconar o
Relatório”.

i) Reseteie a corrente para 0 A, e repita o


teste usando 3 X Ipickup (5,4 A) e 4 X
Ipickup (7,2 A)

6. TESTE DE PICKUP INSTANTÂNEO Figura 7 - Modos de Ajuste

a) Desmarque a entrada binária 3 e marque a Para uma rede trifásica teremos no


entrada binária 4 Instantâneo) máximo 9 modos de ajuste disponíveis:

b) No campo “Passo” na opção “Saída” , a) Direto (Fase-Neutro) - mostra a entrada de


selecione a opção I1 parametros para VL1E, VL2E, VL3E, IL1,
IL2, IL3, VF, IF, f1, f2, f3, f4, f5, f6.
c) No campo “Grandeza” escolha a opção I1
b) Fase-Fase (simetrica) - mostra a entrada de
d) No campo “Size” preencha o valor 0,05 A parametros para VLL, VN, IL1, IL2, IL3, VF,
(Passo) IF, f

e) No campo “Tempo” entre com o valor de c) Componentes Simétricras - mostra a


1s. entrada de parametros V1, V2, V0, I1, I2,
I0,f
f) Selecione a caixa “Auto-Passo”
d) Potência (V constante) - mostra a entrada
g) Clique no botão “On/Off -F5” para ligar a de parametros paraP, Q, P1, P2, P3, Q1,
saída de corrente da CMC 256. Q2, Q3, VL1E, VL2E, VL3E, f

h) Clique na seta acima. O teste irá iniciar até e) Valôres de Falta - mostra a entrada de
o trigger parar o teste. parametros para VF, IF, Delta Phi, tipo de
falta
i) Observe o resultado do teste :
f) Z-I const. (impedância de falta absoluta, se
o O Pickup instantaneo é 9,9 A constante fault impedance absolute, If
constante) mostra a entrada de
o O tempo de operação parametros para falta tipo, [Z], Phi, X, R, If
instantâneo é de 0,08 s.
g) Z-V const. (Impedância de falta absoluta,
j) Para capturar o dado do teste, clique em Vf constante) mostra a entrada de
“Adicione ao Relatorio” parametros para falta tipo, [Z], Phi, X, R, Vf

7. VISUALIZAÇÃO DO TESTE h) Z%-I const. (Impedância de falta relativa, If


constante) mostra a entrada de
parametros para falta tipo, Z%, Phi(Z), If
7.1. Saídas Analógicas Ref. Z comp.linha, todas zonas, Z1-Zx),
Ref. Phi (constante relativa)
Na combo box “Modos de Ajuste” é feita a
seleção de acordo com sua escolha.

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

i) Z%-V const. (Impedância de falta relativa, Desligar no trigger para a rampa


Vf constante) mostra a entrada de automática quando o trigger ocorre e desliga as
parametros para falta tipo, Z%, Phi(Z), Vf saídas da CMC.
Ref. Z (comp. linha, todas zonas, Z1-Zx), O Atraso posterga o desligamento após o
ref. Phi (constante, relativa) trigger e desliga as saídas da CMC. O Atraso
simula uma pausa mecânica após o trigger no
7.2. Botão Liga/Desliga teste do relé.

Nota: O Atraso está disponível mesmo quando


o “Desligar no trigger” não estiver ativo, pois o
atraso também determina o tempo no qual a
medida permance ativa.

O gráfico e a tabela a seguir mostram o


comportamento para diferentes aplicações do
botão “Desligar no Trigger”.

Figura 8 - Liga ou Desliga a saída analógica

7.3. Desligar no Trigger

Figura 9 – Desligar Trigger

Pode desligar as fontes de tensão e


corrente de duas maneira: Ambas
imediatamente ou com um tempo de atraso
especificado. Figura 10 – Desligar o Trigger

Modo Padrão Procedimento


1. Desligar no Trigger - Marcado Trigger - Imediato
Delay - 0 seg

2. Desligar no Trigger - Marcado Trigger - A rampa é parada e o sinal


Delay = 5 seg mantido por 5 segs. O evento somente é
mostrado no final do tempo (atraso). No
caso de mudanças de UI quando utilizamos
o "atraso", o atraso é completamente
repetido e o trigger é mostrado no final.

3. Desligar no Trigger - Desmarcado Trigger - A rampa para imediatamente e


Delay - 0 seg mantem a saída até o ultimo passo.
O evento somente é mostrado após
o tempo de atraso.

Tabela 1 – Modos de Trigger

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 06: QuickCMC 35
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Nota: Se nenhuma entrada binária / Trigger for 3. Terceira Coluna: A ativação da entrada
selecionada quando o QuickCMC desligar no binária será considerada para o trigger.
trigger (mesmo se essa opção for selecionada), Neste caso, a função do trigger pode ser
mas mantem os valores de saída e medida de de parar a janela de medida de tempo,
tempo até que o botão OFF for pressionado. para a rampa ou de ativar o "Ligar no
Desligar no Trigger e Atraso somente para leitura Trigger". Ela também mostra o tempo das
assun qye a saída ON for clicada. entradas entre uma mudança no sinal de
entrada e um trigger.
7.4. Entradas Analógicas 4. Quarta Coluna: Slope da entrada binária
no trigger (Para Cima/Para Baixo)
Na caixa Entradas Analógicas, os valores 5. Quinta Coluna: Tempo entre a partida da
das entradas DC para Tensão (VDC) e Corrente saída e a partida do ultimo step da rampa.
(IDC) são mostrados.
No relatório para o passo do teste, os
valores para as entradas DC no instante do
trigger são mostrados. Se não acontece o trigger,
voce pode adicionar o valor de qualquer tempo.

Figura 11 – Entradas Analógicas

Nota : O nome da entrada analógica assinalado


na Configuração de Hardware é mostrado na tela
de teste.

Figura 12 - Entradas Binárias


7.5. Entradas Binárias
Os tempos são sempre mostrados se as
O "LED" do monitor de entrada binária entradas binárias são habilitadas na Configuração
mostra o estado do sinal de corrente de entrada. de Hardware. Uma vez que as cindições de
O slope do sinal (subida ou descida) é trigger são reunidas, outras medidas são feitas
mostrado, e o tempo passado entre momento até transcorrer o tempo de atraso.
que a saída é ligada e a mudança de estado da No Pulse Ramp, no caso do trigger estar
entrada binária é mostrado. dentro do tempo de reset, o tempo é medido da
Não somente o tempo de trigger pode ser partida do estado de falta.
medido mas tambem o tempo entre o trigger até Algumas aplicações usam as novas
o tempo de atraso ter passado é mostrado. funcionalidades das entradas binárias.
Os nomes mostrados definido na
Configuração de Hardware são mostrados na
interface do usuário. 7.6. Verificação do Tempo de Trip
O tempo pode ser mostrado como
segundos ou ciclos de acordo com o usuário. Verifica o tempo de pick-up e Trip com um
disparo.
1. Primeira Coluna: Nome definido pelo Verifica o tempo de pick-up e Trip com
usuário para a entrada binária. uma rampa normal
Verifica o "threshold" com o Pulse Ramp
2. Segunda Coluna: Status da entrada binária

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 06: QuickCMC 36
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

7.7. Saídas Binárias As saídas binárias são controladas pelo


botão Liga/Desliga
O dispositivo é ajustado para 0 com a O nomes mostrados definidos na
caixa de verificação em branco, e é ajustada para Configuração de Hardware são agora refletidos
1 com a caixa marcada. na interface do usuário.

8. CONCLUSÕES

O QuickCMC é uma ferramenta


extremamente útil para as mais diversas
aplicações, pois tem-se o perfeito controle de
todas as entradas e saídas da mala de teste.
Sua utilização será determinada pelo
usuário segundo sua necessidade.

Figura 13 – Saídas Binárias

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 06: QuickCMC 37
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Cap 07 : Ramping
Resumo 2.1. No modulo Ramping Vista do Teste,
mostrado na figura 1, defina quatro rampas
Este texto mostra passo a passo a consecutivas clicando no ícone
montagem dos procedimentos de teste utilizando correspondente Quatro Rampas de Teste
o módulo de teste Ramping. A metodologia
adotada consiste em se realizar um teste da 2.2. Selecione IA no menu “drop-down” Sinal.
função (50/51), demonstrando as características
do software. 2.3. Selecione Amplitude no menu “drop-down”
Função.

1. DADOS DO RELÉ 2.4. Use a toolbar de navegação para mudar de


estado.
É utilizado como exemplo o mesmo relé
do capítulo anterior.

2. TESTE DE PICKUP E DROPOUT Figura 1 – toolbar para navegação


INSTANTÂNEO

Figura 2 – configuração das rampas

2.5. Entre com os dados para a avaliação


conforme mostrado a seguir.

Figura 3 – Configuração dos valores nominais e tolerâncias

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 07: Ramping 38
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2.6. Escolha a opção Geral na Vista de Teste e 2.7. Selecione Estado 1 Sinal 1 no campo Cálculo
entre com o número de repetições que você de Relação. O Cálculo de Relação
deseja. Se optar por “0x” o teste será automaticamente irá calcular o pickup e o
executado uma única vez. dropout do relé.

Figura 4 – Tela Geral

2.8. Todos os valores estáticos durante a saída


da rampa são definidos no Saídas 2.9. Para o estado 1 entre com IA =1,6 A, como
Analógicas na Vista de Detalhe. Os valores mostrado acima.
da rampa são mostrados com fundo cinza;
os valores estáticos são mostrados em 2.10.Para o estado 2 entre com IA = 2 A
fundo branco ou amarelo. Você pode editar
os valores estáticos manualmente. 2.11.Para o estado 3 entre com IA = 0 A

2.12.Para o estado 4 entre com IA = 9 A

2.13.É necessário informar os contatos que irão


operar para o pickup e para o dropout do
relé. No exemplo acima, o contato de
partida é conectado na entrada binária 1 e
chamado de partida.

2.14.Selecione a opção Trigger na Vista de


Detalhe

2.15.Habilite as condições de trigger


selecionando Condição Trigger bin. As
condições de trigger são definidas
individualmente para cada estado da
rampa.

Figura 5 – Saídas Analógicas

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2.16.Durante o estado 1, o contato de partida irá 2.18.Na opção Passo atrás, se designarmos um
fechar (passando do estado 0 para o estado valor para Tempo retardo, assim que
1). Conseqüentemente, a condição de ocorrer o pick-up do relé, a rampa irá parar
trigger deve ser ajustada para Partida = 1 e manter aplicado o valor estático
para o estado 1. correspondente ao pick-up, durante o
intervalo de tempo ajustado em Tempo
retardo, conforme mostrado na figura 6.

Figura 5 – Parar rampa ativado com ajuste de


Tempo retardo.

2.19.A opção Passo atrás habilita a sub-rampa


para ser executada sendo possível uma
maior precisão em ensaios de pickup.

Figura 4 – Trigger

2.17.No campo Trigger ativado selecione a opção


Parar rampa. Desta forma, a rampa será
parada após a condição de trigger
acontecer, acelerando o teste.

Figura 6 – Atuação do Passo atrás

2.20.Ajuste a condição de trigger Partida = 0


para o estado 2

2.21.Para o estado 3 não selecione nenhum


Figura 5 – Parar rampa ativado trigger

:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

2.22.Ajuste a condição de trigger “Inst = 0” e


“Start = X” para o estado 4. Marque a caixa Essa ferramenta, além de possibilitar a
de verificação “stop ramp State” para os medida de tempos de atuação do sistema, é
estados 2 e 4, deixando-os sem delay time. adequada para a obtenção dos valores de
amplitude (pickup, dropout, etc.) do sistema de
3. CONCLUSÕES proteção testado.

:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Cap 08 : State Sequencer


Resumo Caso a configuração já tenha sido feita em
um teste anterior e exportada como arquivo
Este texto mostra passo a passo a OHC, pode-se usa-lo novamente usando a função
montagem dos procedimentos de teste utilizando Importar, mostrada na figura 01.
o módulo de teste State Sequencer. A
metodologia adotada consiste em se realizar um
teste da função (50/51), demonstrando as
características do software. Figura 01 – Importar e Exportar configuração de
hardware
1. O SEQUENCIADOR DE ESTADOS
4. TESTE DE PICKUP E DROPOUT
O State Sequencer é um seqüenciador de
estados utilizado para construir qualquer tipo de a) Ajuste a corrente da fase A para 1,6 A.
falta (evolutiva, religamento, etc.) ou perturbação
(abertura de uma fase, perda de potencial, etc.) e b) Escolha a opção Trigger em Vista de
provar o relé sob estas condições. Detalhes
Durante a execução do teste todas as
mudanças das entradas do equipamento devem
são monitoradas. Dispõe de oscilografia e
diagramas vetoriais para uma análise mais
detalhada da prova, com capacidade de até 100
estados.

2. DADOS DO RELÉ

Para efeito didático propomos um ajuste


de um relé de sobrecorrente (50/51) fictício.
Lembramos que os procedimentos adotados
podem ser usados para quaisquer testes.

Ajustes do relé Valores Fase-Neutro


Valor de Pickup 0,36 x Inom ou 1,8 A
Curva Característica Very Inverse (VI)
Dial de Tempo 1
Pickup Instantâneo (I>>) 5,5 x Ipickup
Tolerância para Pickup/Dropout ± 5% = ± 0,9 A
Tabela 1 – Dados do relé

3. CONFIGURAÇÃO DE HARDWARE
Figura 2 – Condições de trigger
Os procedimentos para efetuar a
configuração de hardware são os mesmos c) Em Condição Trigger Bin. selecione a
apresentados no capítulo 05, item 2- logica “1” para a condição de trigger
Configuração de Hardware. PARTIDA

:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

m) Ajuste todas correntes em zero e o tempo


d) Clique no ícone Novo Estado ou selecione para 1s.
Editar | Inserir estado... . Sera copiado o
estado 1 com todos seus ajustes para o n) Desmarque a caixa “Condição Trigger Bin.,
estado 2. deixando somente Tempo máx. do estado
ativo.

o) São montados os estados cujas


características são resumidas na Tabela 2.

Estado Fase A Fase B Fase C Trigger


Figura 3 – Botão Novo Estado
1 1,6 A 0,0 A 0,0 A Start = 1
2 1,7 A 0,0 A 0,0 A Start = 1
3 1,8 A 0,0 A 0,0 A Start = 1
4 1,9 A 0,0 A 0,0 A Start = 1
5 1,8 A 0,0 A 0,0 A Start = 0
6 1,7 A 0,0 A 0,0 A Start = 0
7 1,6 A 0,0 A 0,0 A Start = 0
8 0A 0,0 A 0,0 A Nenhum
Tabela 2 – Condições de trigger

p) Selecione a opção Ativar visualização de


medida, mostrada na figura 5 a seguir.

Figura 4 – Botão Novo Estado Figura 5 – Opção Ativar visualização de medida

e) Edite o tempo do estado 2 para “0,2 s” q) Na primeira linha da Visualização de


Medidas.
f) Incremente os valores de corrente de 0,1 A
para IA mantendo IB e IC iguais a zero. p1) Na primeira coluna, entre com o
nome para o teste “L-L PUV”.
g) Repita os itens d a f e incremente os
valores de corrente da fase A até 1,9 A p2) Na segunda coluna, Ignorar antes,
ajuste para Estado 2. Isto significa
h) Clique em Novo Estado ou selecione Editar que todos os estados antes desta
| Inserir estado... para criar o estado 5 referência serão ignorados.

i) Decresça o valor de corrente de 0,1 A para p3) Na coluna Iniciar deve ser ajustado
a fase A para Estado 2. Isto indica o primeiro
estado onde a corrente muda e o relé
j) Mude a lógica de trigger PARTIDA para da trip.
lógica “0” .
p4) Na coluna Parar o ajuste para Partida
k) Repita os itens h e j até a corrente IA for 0>1. Isto indica que a entrada binária
igual a 2,0 A. Partida passa do estado lógico “0”
para o estado lógico “1”.
l) Clique em Novo Estado ou selecione Editar
| Inserir estado... para criar o estado 8 p5) Tnom é ajustado para “0,400 s

:
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Figura 6 – Leitura de Tempos – vista de medidas

5. LEVANTAMENTO DA CURVA
State Fase A Fase B Fase C Trigger
CORRENTE x TEMPO
Pre falta 2 x L-N 0,0 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X
2 x PUV L-N 3,6 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1
a) Os procedimentos para realização do teste Pre falta 3x L-N 0A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X
3 x PUV L-N 5,4 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1
são os mesmos aplicados a determinação Pre falta 4 x L-N 0A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =X
de Pickup. 4 x PUV L-N 7,2 A 0,0 A 0,0 A Trip L-N =1
Dead state 0A 0,0 A 0,0 A Nenhum

b) São montados os estados cujas Tabela 3 – Dados de teste


características são resumidas na Tabela 3.

Figura 3 – Leitura de Tempos – vista de medidas tempo-corrente

6. TESTE DE PICKUP INSTANTÂNEO Inst L-N #1 9,9 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1


Inst L-N #1 10 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1
Tabela 3 – Pickup Instantâneo
a) Os procedimentos para realização do teste
são os mesmos aplicados a determinação
de Pickup.

b) São montados os estados cujas


características são resumidas na Tabela 2.

State Fase A Fase B Fase C Trigger


Inst L-N #1 9,7 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1
Figura 4 – Leitura de Tempos – vista de medidas
Inst L-N #1 9,8 A 0,0 A 0,0 A Inst = 1
pickup instantâneo

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7. CONCLUSÕES Desde a simples determinação de uma


curva tempo-corrente, até sua utilização em
O seqüenciador de estados OMICRON é a ensaios mais elaborados, como o Ponta a Ponta,
ferramenta ideal para a medida de tempo entre o State Sequencer mostra-se de fácil manuseio,
dois estados. Entretanto pode ser utilizada no promovendo a repetibilidade dos eventos e
manuseio de diversas condições de teste onde a determinação dos tempos de atuação do sistema
variação das grandezas aplicadas ao relé seja de proteção.
necessária.

:
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Cap 09 : Overcurrent
Resumo Nome e endereço da subestação onde o
elemento esta localizado.
Este capítulo aborda passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da 1.3. Bay
função sobrecorrente. (50/51), utilizando o
módulo de teste Overcurrent. São destacados Entre com o endereço e o nome do bay
todas os itens de parametrização do teste, onde o elemento esta localizado
mostrando as opções de configuração.
1.4. Valores Nominais
1. PARÂMETROS DA PROTEÇÃO DE
SOBRECORRENTE Entre com os valores nominais (tensão,
corrente, freqüência, corrente primária e tensão
Iniciando o primeiro passo da Lei de OHM primária e numero de fases)
descrita no capítulo 3 acessando o ícone Para o teste de relés convencionais, a
Parâmetros do equipamento em teste, conforme corrente nominal (1 ou 5 A) deve ser ajustada
mostra a figura 1. aqui.

1.5. Tensão Residual/Fator de Corrente

Esses parâmetros somente são relevantes


se o relé tem transformadores de potencial /
corrente separados para a tensão / corrente
residual (para o aumento da sensibilidade).
Figura 1 - Parâmetros do equipamento em teste - A relação desses transformadores
localização separados em relação à relação dos
transformadores das fases é expressa com um
São apresentados passo a passo os itens fator que será ajustado aqui.
da tela Ajuste do Dispositivo. O ajuste padrão é:
Esta é uma tela de registro geral dos dados
do ensaio, como as informações do relé, de sua
VLN 1,732
localização e classificação, da função a ser = (1)
testada, dentre outros. Também são ajustados os VN 3
valores de tensões e correntes do sistema.
É importante ressaltar que esta tela, de uso como a tensão de fase forma a tensão residual na
geral, sempre estará presente nos outros conexão delta aberto, e
módulos de software.
IN
1.1. Dispositivo =1 (2)
I nom

Entrada de dados do elemento protegido Esses fatores são suportados pelos


módulos de Distancia e Distancia Avançado.
1.2. Subestação

:
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Figura 1 – Ajustes do dispositivo

1.6. Limites 1.7. Filtros Debounce/Deglitch


Entre com os tempos de Debounce e
Neste item são ajustados os máximos Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses
valores de tensão e corrente que o dispositivo de valores são usados onde os sinais do algoritmo
teste é capaz de fornecer (máximos valores de suavização são implementados.
possíveis são determinados pela configuração de
hardware ajustada pelo usuário).

1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal após o filtro

Figura 2 – Debounce ou Deglich time

:
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2. PROTECTION DEVICE Pontos fora da faixa ou out of range, ou


pontos que estão fora da faixa de tempo, são
considerados Aprovados, para permitir a
2.1. Tolerância de Corrente avaliação automática do teste.
Se alguns pontos não puderem ser
A tolerância da corrente é definida como testados por alguma razão, o software adiciona a
tolerância absoluta e relativa. mensagem correspondente no relatório.
A tolerância de corrente relativa é O software considera o conjunto de
definida em % da corrente de pickup nominal, e testes como aprovado se todos pontos forem
a tolerância de corrente absoluta é definida em avaliados com aprovados.
I/In. Para efeito da avaliação automática do
Para cada ponto a ser testado, o módulo teste e uma rápida avaliação visual após a
de teste selecionará o maior de dois intervalos realização do teste, o software utiliza ícones,
para ser a tolerância valida. A tolerância de apresentados a seguir.
corrente tem influencia na avaliação do teste no
caso de pontos de testes que estão dentro das
bordas da região de trip (± ITOL).

2.2. Avaliação do teste de


sobrecorrente

Para avaliação do teste, o software


compara cada ponto do tempo de operação de
resposta do relé durante o teste (tempo atual)
com o tempo de operação nominal.
Se o tempo de operação atual esta
dentro do tempo especificado de tolerância, o
ponto é avaliado como Aprovado caso contrário Figura 4 – Simbologia da avaliação automática
como Reprovado.
Para pontos que estão dentro das regiões
2.3. Tolerância de Tempo
das bordas de trip (dentro da faixa de +ITOL e -
ITOL), a faixa de tempo de operação permitida é
menor ou maior que o tempo permitido para As tolerâncias de tempo são definidas
ambos intervalos, como mostrado a seguir. como tolerâncias absolutas e relativas.
A mesma influência da tolerância de A tolerância de tempo relativa é definida
corrente no intervalo de tempo resultante, em % do tempo de trip nominal.
aplicado ao ponto onde a característica tende ao O intervalo de tempo resultante é definido
infinito. pelo tempo de trip nominal menos uma
percentagem e pelo tempo de trip nominal mais
a percentagem definida.
A tolerância de tempo absoluta é definida
em segundos.
Para a avaliação do teste, o software
selecionará o maior de dois intervalos de tempo.
Na borda da região de trip, o intervalo de tempo
combinado é valido.
Quando os pontos de teste são ajustados,
As faixas de tempo permitidas são desenhadas
como linhas verticais no diagrama I / t para cada
ponto.
Figura 3 – Tolerâncias de Zona

:
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Para faltas monofásicas (no exemplo


mostrado na figura 5 - falta A-N), a corrente de
teste ITEST é aplicada na fase faltosa (no exemplo
IA). As outras duas correntes são ajustadas para a
corrente de carga com 120 graus de defasagem.
A tensão para a fase faltosa é igual à
tensão de falta selecionada. As outras duas fases
são ajustadas para valores nominais, com 120
graus de defasagem.
Os valores mostrados serão considerados
pelo dispositivo de teste.

VA = Tensão de falta ∠ 0°
VB = Tensão Nominal ∠ -120°
VC = Tensão Nominal ∠ 120°
IA = ITEST ∠ j
IB = Corrente de carga ∠-120° + j
Figura 4 – Avaliação pelas tolerâncias IC = Corrente de carga ∠ 120° + j

2.4. Seleção do Grupo de Falta

Os parâmetros correspondentes do grupo


de falta são mostrados dependendo qual grupo é
selecionado.
Esses grupos podem ser editados na caixa
Fault Group Parameters.
Existem quatro grupos de faltas disponíveis
no software :

§ Line – Neutral
Define os parametros para falhas
monofásicas (A-N, B-N, C-N) Figura 5 – Falta Monofásica
§ Line – Line FALTAS BIFÁSICAS
Define os parametros para falhas bifásicas
(A-B, B-C, C-A) e falhas trifásicas. Para falhas bifásicas (no exemplo falta B-
C), a corrente de teste ITEST é aplicada das duas
§ Negative Sequence correntes das fases afetadas ( no exemplo IB e IC )
Define os parametros para faltas de com 180 graus de defasagem.
sequencia negativa (I2). As tensões formam um sistema
balanceado e são ajustadas para valores
§ Zero Sequence nominais. O arranjo dos vetores é mostrado no
Define os parametros para faltas de exemplo a seguir.
sequencia zero (I0). Os valores mostrados serão considerados
pelo dispositivo de teste:
Para cada grupo de faltas, os parâmetros dos
grupos precisam ser preenchidos separadamente. VA = Tensão de falta ∠ 0°
VB = Tensão Nominal ∠ -120°
2.4.1. Modelos de Falta VC = Tensão Nominal ∠ 120°
IA = 0
FALTAS MONOFÁSICAS IB = ITEST ∠ -90° + j
IC = ITEST ∠ 90° + j

:
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com 120 graus de defasagem entre elas. As


correntes IB e IC são trocadas, de forma que
apareça a corrente de seqüência negativa.
Todas tensões têm tensões iguais ã
tensão de falta com 120 graus de defasagem. As
defasagnes dos fasores VB e VC são trocadas, de
forma que esteja configurada a seqüência
negativa.

Figura 6 – Falta Bifásica

FALTAS TRIFÁSICAS

Para faltas trifásicas, a corrente de teste


ITEST é aplicada em todas fases, com 120 graus de
defasagem entre elas.
As tensões são iguais a tensão de falta Figura 8 – Seqüência Negativa
selecionada.
Os valores mostrados serão considerados
pelo dispositivo de teste.

VA = Tensão de falta ∠ 0°
VB = Tensão Nominal ∠ 120°
VC = Tensão Nominal ∠ -120°
IA = ITEST ∠ j
IB = ITEST ∠ 120° + j
IC = ITEST ∠ -120° + j

SEQÜÊNCIA ZERO

Para as faltas de seqüência zero, a


corrente de teste ITEST é aplicada em todas fases,
Figura 7 – Falta Trifásica com 0 graus de defasagem. As correntes estão
em fase com as outras. Desta forma, a corrente
Os valores mostrados serão considerados de seqüência zero aparece igual a ITEST
pelo dispositivo de teste. selecionado.
As tensões são iguais as tensões de falta,
VA = Tensão de falta ∠ 0° com 0 graus de defasagem, as tensões estão em
VB = Tensão Nominal ∠ -120° fase com as outras. Desta forma, a tensão de
VC = Tensão Nominal ∠ 120° seqüência zero aparece, igual a tensão da falta
IA = ITEST ∠ j selecionada.
IB = Corrente de carga ∠-120° + j Os valores mostrados serão considerados
IC = Corrente de carga ∠ 120° + j pelo dispositivo de teste:

SEQÜÊNCIA NEGATIVA VA = Tensão de falta ∠ 0°


VB = Tensão de falta ∠ 0°
Para falta de seqüência negativa, a
VC = Tensão de falta ∠ 0°
corrente de teste ITEST é aplicada em todas as fases
IA = Itest/3 ∠ j

:
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IB = Itest/3 ∠ j O último estado da falta até a condição de


IC = Itest/3 ∠ j trigger ser encontrada ou o máximo tempo de
falta ter transcorrido.
O estado de pós-falta é projetado para
permitir o reset do objeto testado. Durante o
estado de pós-falta, existem duas possibilidades:

§ cada uma das tensões nominais no sistema


balanceado com corrente zero, ou
§ ambas tensões e correntes serão ajustadas
Figura 9 – Seqüência Zero para 0.

Isto pode ser ajustado com o parâmetro


Conexão TP na tela de parametrização.A duração
2.5. Comportamento Direcional
do estado de pós-falta pode ser ajustada atuando
do “Delay Time”.
Este ajuste influencia a tensão de saída. Se
este parâmetro é ajustado para :
2.6. Conexão Ponto de Neutro TC
§ Direcional: Tensões serão consideradas
segundo o tipo de falta selecionada e o A conexão dos TC’s somente é relevante
estado da corrente na seqüência de shot. para relés de sobrecorrente direcionais. Isto
influencia a defasagem entre as correntes e
§ Não-Direcional: Nenhuma tensão de saída tensões.
aparecerá Se este parâmetro é ajustado para:

A seqüência de shot consiste em pré-falta, § Em direção à linha, A corrente possui uma


falta e pós-falta. O detalhamento de cada estado defasagem em relação a tensão ajustada
de teste, ou a transição de um estado par o pelo parâmetro ângulo (I) na caixa direção
próximo é mostrado abaixo. na página de parametrização da Falta.

§ Em direção à barra, A corrente tem uma


defasagem da tensão A corrente possui
uma defasagem em relação a tensão de
um angulo (I) + 180 graus.

Figura 9 – Comportamento de Falta

Durante o estado de pré-falta, todas


tensões são ajustadas para o sistema balanceado,
com magnitude igual á tensão nominal, e Ajuste
de VA igual a 0 graus.
A duração do estado de pré-falta pode ser
ajustado no Tempo de Pré-falta; se for ajustado
para zero, nenhum estado de pré-falta é
considerado.
Durante o estado de falta, as correntes e
tensões são consideradas de acordo com o ajuste
do tipo de falta ou a aplicação do modelo de Figura 10 - Exemplo de Conexão: Conexão Ponto
falta (item 2.4) (L-N, L-L,L-L-L, I2, I0). de Neutro TC em direção a barra

:
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Figura 11 – Dispositivo de proteção

2.7. Parâmetros I/t do Grupo de Falta 3. DEFINIÇÃO DA CARACTERÍSTICA


Selecionado
Os elementos desta caixa dependem do
Nesta caixa, os parâmetros do grupo de ajuste do grupo de falta e do tipo da
falta selecionados podem ser ajustados. Para caracteristica.
mostrar ou editar os parâmetros de diferentes Como padrão é associada a caracteristica
grupos de falta, o grupo de falta necessita ser de tempo inversa.
selecionado na caixa de seleção do grupo de O nome do grupo de falta é mostrado na
falta. parte superior esquerda desta caixa.
Cada região de trip (I>, I>>, I>>>) pode Se desejar mudar o grupo de falta, é
ser ativada ou desativada pela marcação ou não necessário mudar para a página de parâmetros
do “checkbox “ . de sobrecorrente.
Como padrão, as regiões I> e I>> são
ativadas e a região I>>> é desativada. 3.1. Definição da Equação
O tempo de trip para as regiões de trip Característica
(I>, I>>, I>>>) pode ser ajustados.
Para a região de trip I> o ajuste de tempo Pode-se escolher dentre das seguintes
também é representado. opções para definir a equação característica:
O tempo de trip em segundos para a
característica de tempo definido ou o index da
curva de tempo (dial de tempo) usados para o
teste da característica de tempo inverso.
Figura 12 – Opções para Equação Característica

:
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Copiar - Pressione este botão para abrir um Basta acesssar o botão Novo para abrir
dialogo, onde a característica de diferentes uma janela e escolher a nova característica,
grupos de falta pode ser copiada para o grupo de conforme mostra a figura 13.
falta selecionado.

Novo - Pressione este botão para abrir uma nova


caixa de dialogo, onde a nova característica pode
ser criada para o grupo de falta corrente
selecionado.

Pré-definido - Pressione este botão para abrir


uma caixa de dialogo, onde uma característica
predefinida pode ser escolhida para o grupo de
falta corrente selecionado. O módulo de teste de
sobrecorrente tem quatro características pré-
definidas :

§ Definite Time Figura 13 – Nova característica


§ IEC Normal Inverse
§ IEC Very Inverse Para os fatores dos relés de uma planta,
§ IEC Extremely Inverse favor consultar o manual do relé ou pergunte ao
fabricante do mesmo.
Essas características não podem ser Após a escolha na tela mostrada na figura
modificadas. Também, a característica pode ser 13, basta preencher os valores dos fatores das
definida pelo usuário. equações, conforme mostrado nas figuras 14 e
As características predefinidas IEC seguem 15.
as equações IEEE standart.
A tabela a seguir mostra os parâmetros
usados.

Característica A B P Q K1 K2
IEC Normal Inverse 0.14 0.0 0.02 1 0 0
IEC Very Inverse 13.5 0.0 1.0 1 0 0
IEC Extremely Inverse 80.0 0.0 2.0 1 0 0
Tabela 1 – Parâmetros das curvas

Importar - Pressione este botão para abrir uma


caixa de dialogo, onde a característica pode ser
importa de um arquivo DCC. Figura 14 – Termos da Equação Característica
IEEE extendida
3.2. Termos da Equação Característica

Estes sãos os fatores das equações para a


definição de cada uma das características inversas
na equação IEEE entendida (fatores A, B, P, Q, K1
e K2) ou da característica I²T (fatores A, Q, P)
representando a equação IEEE padrão.
Estes fatores são necessários para ajustar a
característica de acordo com a especificação do
fabricante.
Figura 15 – Termos da Equação Característica
IEEE padrão

:
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3.3. Índice de tempo (Time Index) 5. FALTA

O índice de tempo é mostrado. Para 5.1. Ajustes de Falta


muda-lo, vá para a pagina de parâmetros de
sobrecorrente e mude o valor na coluna de
tempo da região de trip I>. 5.1.1. Tempo Máximo Absoluto e Tempo
Máximo Relativo
4. PARAMETRIZAÇÃO DO TESTE
A máxima duração da falta pode ser
ajustada com sendo um valor absoluto em
4.1. Tipo de Falta Tempo max, ou como um valor relativo em
percentual do máximo tempo de trip em Tmax
Clicando em uma destas opções realtivo.
selecione o tipo de falta. O ajusta para o tipo de
falta é um ajuste de teste geral e, portanto válido
para todos os pontos definidos na tabela abaixo.
De acordo com o ajuste do tipo de falta, o
modelo de falta apropriado é usado para o
calculo dos valores de teste. Modelos de falta
para falhas monofásicas, bifásicas, trifásicas,
falhas com seqüência negativa e seqüência zero
estão disponíveis.

4.2. Corrente de Teste - ITEST

A corrente de teste ITEST para um ponto


de teste simples pode ser especificada aqui pela
entrada do valor desejado.
Clicando o botão esquerdo do mouse no
diagrama da característica de sobrecorrente o
valor correspondente é transferido para este
campo. O ponto de teste pode ser adicionado
pressionando o botão Adiconar. O valor pode ser
especificado em MTS ou em Corrente absoluta
(Veja Vista/Correntes Absolutas).

Figura 17 – Configurações de Falta

O máximo tempo de trip é ajustado na


caixa Tolerância de Tempo na tela de
parametrização de sobrecorrente, Dispositivo de
Proteção. Ver item 2.3.
O ajuste percentual deverá ser
adicionado ao máximo tempo de trip (P.ex. o
valor de 10% resultará em um máximo tempo de
falta de 1,10 x Tmax).
O sistema sempre utiliza a menor dos
Figura 16 – Correntes Absolutas
dois valores de tempo. O sistema permite o teste
através de uma larga faixa de corrente e tempo
Para adicionar um ponto de teste clique
de operação sem danificar o relé.
o botão esquerdo do mouse no diagrama de
sobrecorrente pressionando a tecla Ctrl.

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5.1.2. Corrente de Carga 6. GERAL

Esta corrente será considerada para 6.1. Teste de Pick up


todas fases durante o estado de pré-falta na
seqüência de shot.
Durante o estado de falta esta corrente Na tela de parâmetros gerais, o teste de
somente será considerada para as fases sem falta pickup pode ser ativado. Se o teste de pickup é
para faltas monofásicas. habilitado, ele será executado antes do primeiro
ponto da tabela de teste. O teste de pickup é
projetado para determinar os limites de operação
5.2. Ajustes Adicionais do objeto sob teste. Em passos, a corrente é
aumentada/diminuída. Em cada passo, o valor
5.2.1. Tempo de Pré-Falta considerado corresponde ao tipo de falta
selecionado.
Durante o estado de pré-falta, todas
tensões são ajustadas para o sistema balanceado,
com magnitude igual à tensão nominal, e ajuste
de VA em 0 graus.
A duração do estado de pré-falta pode ser
ajustada em T de pré-falta; se este ajuste for 0, o
estado de pré-falta não é considerado.

5.2.2. Tempo de Atraso

O estado de pós-falta é projetado para


permitir o reset do objeto testado. Durante o
estado de pós-falta, existem duas possibilidades:

§ cada uma das tensões nominais no sistema


balanceado com corrente zero, ou
§ ambas tensões e correntes serão ajustadas
para 0.

Isto pode ser ajustado com o parâmetro


Conexão do TP na tela de parametrização.
A duração do estado de pós-falta pode
ser ajustada no item Tempo de Atraso. Figura 18 – Configurações de Falta - GERAL

5.3. Direção A tensão, se habilitada, será também


considerada de acordo com o ajuste da tensão de
falta.
5.3.1. Tensão de Falta, Ângulo, Tensão Se a pré-falta é selecionada, o programa
Nominal irá aplicar os valores de pré-falta durante o
tempo de pré-falta, para que o relé seja
Como a tensão de falta será usada para preparado para o teste.
formar a tensão de fase de falta, depende do Para a avaliação automática, o teste será
modelo de falta correspondente. O angulo (I) é o sempre considerado como aprovado.
angulo entre as tensões e correntes no estado de Entretanto, se o teste de Pickup/Dropout é
falta. Com a tensão nominal é também usada o único teste selecionado no modulo, então o
para o calculo da falta, ela é mostrada aqui. teste somente será aprovado se os valores de
pickup e dropout forem encontrados com êxito.

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Existem dois tipos de teste, com a Isto causará a operação do contato de


determinação de pickup e dropout com e sem o partida. Se o contato de partida não estiver
contato de partida, ou seja, para relés digitais ou operado após o tempo assinalado em Resolução
eletromecânicos. o teste será cancelado.
A corrente de teste será reduzida em
6.1.1. Determinação do pickup/dropout em degraus com tamanho de (0.01 x IPICKUP), até o
contato de partida abrir ou até o valor de (0.8 x
relés com contato de partida
IPICKUP ) ser alcançado.
Se o contato não é aberto, os valores de
INFORMAÇÕES GERAIS SOBRE O TESTE DE PICKUP pickup/dropout não podem ser determinados e o
teste é cancelado. Se o contato abre, o valor da
Para este teste, é necessário que o corrente é gravado como o valor de dropout do
contato geral de partida seja designado. relé.
Caso contrário, o modulo de teste ira
reportar hardware insuficiente e o teste não será DETERMINAÇÃO DO VALOR DE PICKUP
executado.
O estado de pré-falta não é relevante Usando o mesmo tamanho de passo e
para este teste e, portanto não será considerado. tempo, até que o contato de partida opere ou o
valor de (1.15 x IPICKUP.) seja alcançado.
DETERMINAÇÃO DO VALOR DE DROP-OUT Se o contato de partida não esta ativo, o
teste será cancelado, e somente o valor de
Para determinar o valor de drop-out, o dropout será gravado.
modulo partirá a corrente de falta para (1.15 x Entretanto, o valor para que o contato
IPICKUP.). de partida opere é gravado como o valor de
pickup do relé.

Figura 19 – Determinação do valor de Pickup e Dropout com contato de partida

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Caso o relé opere, o valor é gradualmente DETERMINAÇÃO DO VALOR DE PICKUP


reduzido até 0.8 x IPICKUP, caso não haja a
desoperação do contato o teste é cancelado. O módulo de teste ocasiona o trip no relé
pelo método da falta à valores de IPICKUP (valores
de trip). Esta falta será processada com sendo um
ponto de teste normal.
Entretanto, ela terá um tempo de trip
nominal, e o máximo tempo de falta derivado. Os
valores de falta (após a pré-falta, se escolhida),
são aplicados ao relé até ocorrer trip ou até o
máximo tempo de falta esgotar.
Para este caso particular, nenhum teste
para o tempo fora da faixa é feito. Se o relé não
dá trip dentro do máximo tempo de falta, o teste
de pickup é cancelado.
Depois que o trip é detectado, os
geradores serão desligados para a Resolução
adotada ou até a condição de trip não estar mais
presente.
Figura 20 - Valores de Pickup e Dropout não
Isto será reaplicado com valores de 1,15 x
encontrados.
IPICKUPS até que o relé atue com o trip novamente
ou decorra 3 segundos, quando o temporizador
USO DO CONTATO DE PARTIDA
expira.
Assim, a seqüência é repetida para valores
O módulo de teste segue os seguintes
de 1.14, 1.13 x IPICKUPS em diante, até que para
critérios:
um deles não atue o trip do relé. O último valor
para o qual ocorre a atuação de trip do relé é
§ Se o contato de partida é parte da
gravado como o valor de pickup.
condição de trigger, o módulo de teste irá
Se a seqüência alcança 0.8 x IPICKUPS
considerar o contato ativo e fechado ou
detectando trip para todos pontos, o valor de
ativo e aberto de acordo como foi definido
pickup não pode ser determinado e o teste é
na condição de trigger (1 ou 0
cancelado.
respectivamente).
§ Se o contato é definido como Não usado
DETERMINAÇÃO DO VALOR DE DROP-OUT
(X), o módulo de teste irá considerar
como contato fechado.
Após a determinação do valor de pickup,
1.15 x IPICKUPS é aplicado até o trip do relé operar
6.1.2 - Determinação dos valores de
ou passado o tempo de 10 segundos o
Pickup/Dropout para relés sem contato de
temporizador expira.
partida
Se o temporizador expirar, o valor de
dropout não pode ser determinado e o teste é
INFORMAÇÕES GERAIS SOBRE O TESTE DE PICKUP
cancelado.
Se o trip do relé opera, o módulo de
O algoritmo utilizado leva vantagem, pois
teste reduz o valor da falta em pasos de 0,01 x
considera a inércia de dispositivos
IPICKUP , com o passo de tempo igual ao adotado
eletromecânicos ao determinar os valores de
em Resolução, até que a condição de trip
pickup e dropout.
desapareça ou o alcance 0.8 x IPICKUP .
Para detectar o trip, o módulo de teste usa
No último caso, o valor de dropout não
a condição de trigger. Tal condição considera o
pode ser determinado, e o teste é cancelado.
trip no relé quando a entrada binária realizar a
Entretanto, o passo em que a condição
condição de trigger, ou cosidera o não trip
de trip desapareceu será gravado como valor de
quando isto não ocorrer.
dropout.

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Figura 21 - Determinação do valor de Pickup e Dropout sem contato de partida

Tempo máximo de falta

Figura 22 – Atuação do tempo máximo de falta

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Tempo de Resolução

Figura 21 – Atuação do tempo de resolução

Os contatos de TRIP e PARTIDA devem ser


pré-definidos poir estes contatos são necessários
para a realização do teste.
Para mudar a designação dos contatos
binarios de entrada deve-se acessar a
configuração de hardware (pressione Ctrl + H)
ou acesse o icone. Figura 22 – Acesso à Configuraçao de Hardware

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Cap 10 : Distance
Resumo
Nome e endereço da subestação onde o
Este capítulo aborda passo a passo à elemento esta localizado.
montagem dos procedimentos de teste da
função distância (21), utilizando o módulo de 1.3. Bay
teste Distance ou Advanced Distance. São
destacados todas os itens de parametrização do Entre com o endereço e o nome do bay
teste, mostrando as opções de configuração. onde o elemento esta localizado

1. PARÂMETROS DA PROTEÇÃO DE 1.4. Valores Nominais


DISTÂNCIA
Entre com os valores nominais (tensão,
Iniciando o primeiro passo da Lei de OHM corrente, freqüência, corrente primária e tensão
descrita no capítulo 3 acessando o ícone primária e numero de fases)
Parâmetros do equipamento em teste, conforme Para o teste de relés convencionais, a
mostra a figura 1. corrente nominal (1 ou 5 A) deve ser ajustada
aqui.

1.5. Tensão Residual/Fator de Corrente

Esses parâmetros somente são relevantes


se o relé tem transformadores de potencial /
corrente separados para a tensão / corrente
Figura 1 - Parâmetros do equipamento em teste - residual (para o aumento da sensibilidade).
localização A relação desses transformadores
separados em relação à relação dos
São apresentados passo a passo os itens transformadores das fases é expressa com um
da tela Ajuste do Dispositivo. fator que será ajustado aqui.
Esta é uma tela de registro geral dos dados O ajuste padrão é:
do ensaio, como as informações do relé, de sua
localização e classificação, da função a ser VLN 1,732
testada, dentre outros. Também são ajustados os = (1)
VN 3
valores de tensões e correntes do sistema.
É importante ressaltar que esta tela, de uso
geral, sempre estará presente nos outros como a tensão de fase forma a tensão residual na
módulos de software. conexão delta aberto, e

IN
1.1. Dispositivo =1 (2)
I nom
Entrada de dados do elemento protegido
Esses fatores são suportados pelos
módulos de Distancia e Distancia Avançado.
1.2. Subestação

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Figura 2 – Ajustes do dispositivo

1.6. Limites 1.7. Filtros Debounce/Deglitch


Entre com os tempos de Debounce e
Neste item são ajustados os máximos Deglitch para o Teste Object nestes campos. Esses
valores de tensão e corrente que o dispositivo de valores são usados onde os sinais do algoritmo
teste é capaz de fornecer (máximos valores de suavização são implementados.
possíveis são determinados pela configuração de
hardware ajustada pelo usuário).

1.. Sinal antes do filtro 2.. Sinal após o filtro

Figura 3 – Debounce ou Deglich time


2. AJUSTES DO SISTEMA

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O sistema de teste precisa conhecer alguns A figura 3 mostra a tela do Ajuste do


parâmetros gerais do dispositivo de proteção Sistema, ou seja, as características do sistema.
para efetuar o teste com sucesso. Esses
parâmetros são válidos para todas as zonas.

Figura 4 – Ajuste do Sistema

2.1. Ângulo da Linha Tensão Pós – Falta V = VN

Aqui são definidos ângulo da linha de


transmissão, e as conexões do TP e TC.

2.2. Conexão TP

Figura 6 – TP do lado da barra


2.2.1. Conexão do TP no lado da linha
2.3. Ponto neutro do TC
Tensão Pós – Falta V = 0 V
Em geral a corrente que flui em direção ao
objeto a ser protegido é definida com direção
para frente.
Para o relé de distância esta corrente flui
na direção da linha.
Para a corrente primária fluindo em
Figura 5 – TP do lado da linha direção da linha e aterrando os TC’s no lado da
2.2.2. Conexão do TP no lado da barra linha, a corrente secundária flui para o relé.

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Se os TC’s são aterrados no lado da barra,


a corrente flui para fora do relé para a mesma
corrente primária. Ela esta fluindo na direção
oposta ou tem 180 graus de defasagem.

Figura 9 – CB Trip

Figura 7 – TC aterrado do lado da linha

Figura 10 – CB Close

2.5. Tolerâncias

Valores típicos para o tempo e tolerância


da impedância para relés numéricos são de 5%
para a impedância relativa e 10% para o tempo
relativo.
Figura 8 – TC aterrado do lado da barra A tolerância para a impedância absoluta
deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerância de
Especificando a direção do aterramento tempo deve ser ajustada para 2.5 ciclos.
dos TC’s, as correntes de falta são injetadas na O tempo de trip é uma quantidade
direção correta. importante quando compara valores nominais e
atuais. Para realizar isto, o máximo valor derivado
2.4. Simulação de Disjuntor da tolerância de tempo absoluta ou relativa é
usado.
Para a tolerância do tempo de trip, o
Na seqüência de trip CB, a injeção das
maior entre cada tolerância de tempo, valor
quantidades para o teste é estendida após a
positivo ou negativo, absoluto ou relativo é
condição de trip ser recebida. Na seqüência de usado. A tolerância de tempo relativa atual é
fechamento CB, o início da quantidade de teste é determinada para cada tempo de trip gravado. Se
atrasado após o comando de fechamento CB ser a tolerância relativa não é requerida, especificar o
emitido. Ambos tempos são sempre aplicados. menor valor (p.ex. 0.1 %).
Os parâmetros 52a% e 52b% são usados
Para a avaliação do tempo de trip, o teste
para a simulação de contatos auxiliares de CB deve ser feito e o tempo de trip nominal é
para seqüências de trip e close. As figuras comparado. Se o desvio abaixar dentro da banda
mostradas abaixo mostram a dependência do de tolerância especificada o teste é classificado
tempo dos contatos 52a e 52b. como OK.
A simulação dos contatos auxiliares CB é
Para a tolerância da impedância o maior
somente aplicada se a simulação de CB é
valor entre a tolerância absoluta ou relativa é
selecionada na Vista do Teste e as saídas binárias usada. A faixa de tolerância relativa atual é
correspondentes são configuradas na determinada para cada zona sobre o angulo da
configuração do hardware. linha.

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Isto é aplicado somente para falhas


monofásicas entre fase e terra.
Vários caminhos ou definições para entrar
com esse fator são disponíveis para uma entrada
simples do parâmetro diretamente do ajuste do
relé.

Figura 11 – Configuração das Tolerâncias relativas


e absolutas
Figura 14 – Fator de Terra - Definições
A maior tolerância de impedância é
aplicada uniformemente (p.ex. paralelo a cada O software fornece as opções:
lado em toda direção ao redor da característica
nominal) para produzir a faixa de tolerância Z E 1  Z0 
mostrada. KL = =  − 1 (3)
Z L 3  Z1 

RE XE
e (4)
RL XL

Z0
(5)
Z1

Onde:

§ Z0 representa a impedância de seqüência


zero .
§ Z1 é a impedância de seqüência positiva
Figura 12 – Configuração das Tolerâncias das da LT.
zonas de proteção § ZE é o alcance para falhas a terra (sem
compensação).
2.6. Fator de Terra § ZL é o alcance para falha fase do relé.

O “grounding factor” (ou fator de 2.7. Separação de Resistência de Arco


compensação para falhas a terra) compensa a
diferença entre impedâncias de falha a terra e Quando calculamos a impedância a partir
impedância para falhas entre fases medida pelo da tensão e corrente medidas, alguns relés
relé. consideram a resistência de arco separadamente
da porção da impedância da linha.
O relé assume que qualquer valor de
impedância de falta que desvia do angulo de
impedância da linha é devido à resistência de
arco puramente resistiva.
Adicionalmente, estes relés consideram a
resistência de arco como uma resistência de loop
Figura 13 – Configuração do Grounding Factor (por exemplo, a resistência de arco total no loop

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de falta), e não como uma resistência de Em adição as entradas comuns em valores


seqüência positiva. secundários, às impedâncias podem também ser
Usando o diagrama do circuito equivalente entradas com valores primários. Isto é feito
para uma falha fase-terra, Temos : selecionando a caixa Impedância em Valores
Primários.
Z test = Z L + K L × Z L + R F (6) Selecione esta opção para entrar com as
impedâncias em valores primários. Estes valores
são convertidos para valores secundários
Onde
aplicando a seguinte equação :
§ Ztest é a impedância de loop. Porque o
Zsec = ( CTratio / PTratio ) * Zprim (9)
diagrama R/X é um diagrama de seqüência
positiva, Ztest poderá ser convertido numa
impedância de seqüência positiva. 2.9. Correção da Impedância 1 A/ I nom

§ ZL é a impedância de seqüência positiva Se a corrente nominal do relé é 5 A , o


de ZL(1 + kL). A resistência de arco RF cálculo da impedância é tratado diferentemente
precisa ser convertida para uma resistência para alguns relés. Se a equação para o calculo da
de seqüência positiva usando a função impedância usa “múltiplos da corrente nominal”
“Resistência de arco separada”: para determinar a impedância, esta opção deverá
ser selecionada
RF' = RF
(1 + K L ) (7)
Z=
Vtest
(10)
I test
A impedância de teste de seqüência I nom
positiva Ztest’ é igual à ZL + RF’, ou seja:
Se a equação da impedância calcula a
Z test = ZL + R 'F (8) impedância independentemente da corrente
nominal, esta opção não deverá ser selecionada.
que pode ser plotada no diagrama R/X. Ztest’é
então usada para calcular as quantidades para o 3. AJUSTE DE ZONA
teste, a serem injetadas usando a impedância
normal do relé.
Para faltas fase-terra somam o valor 3.1. Definições das Zonas de Proteção
RF/(1+kL) ao valor correspondente da
impedância ZL. ZL é derivado pela projeção da
As Zonas de proteção, caracterizadas pela
parte reativa de Ztest para o angulo da linha.
parametrização do relé a ser testado, podem ser
Finalmente Ztest’é usado em vez de Ztest para
inseridas no sistema de teste de duas formas:
calcular as quantidades do teste.
4 Importação do arquivo RIO
→ Exportado do programa de
parametrização do relé
→ Gerado por outros meios

4 Entrada Manual de cada ZONA


→ Formas predefinidas
→ Linhas e arcos
Figura 15 – Cálculo de Ztest
3.2. Características das Zonas de
2.8. Impedância em Valores Primários Proteção

4 Definições individuais para cada ZONA

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→ Nome, Label As tolerâncias para cada teste (fase-terra


→ Tipo (starting, tripping, …) AN-BN-CN , fase-fase AB-AC-BC e trifásico A-B-
→ Loop de Falta C), devem ser ajustadas nesta tela.
→ Forma e Alcance Valores típicos para o tempo e tolerância
§ Editor de Característica da impedância para relés numéricos são de 5%
→ Trip time para a impedância relativa e 10% para o tempo
→ Tolerâncias relativo.

Figura 16 – Tela Ajustes de Zona

A tolerância para a impedância absoluta características e ter acesso às ferramentas de


deve ser ajustada para 50 ohms e a tolerância de edição, conforme mostra a figura 17, a seguir.
tempo deve ser ajustada para 2,5 ciclos.

3.3. Editor de Características das Zonas


de Proteção

Com o editor de características das zonas


de proteção, o usuário pode inserir qualquer
característica, segundo qualquer parametrização
alocada no relé a ser testado.
O editor possui ferramentas com:

§ Características pré-definidas;
§ Lista de elementos

Na tela Ajuste de Zona, basta acionar o


botão Editar... para entrar no editor de Figura 17 – Editor de Características

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3.3.1. Características Pré-definidas

O editor possui características pré-


definidas de forma a facilitar a elaboração e
registro das zonas de proteção parametrizadas
em cada relé. Basta alterar os dados, por
exemplo, o ângulo de inclinação de um blinder, e
adequar os valores padrões à parametrização a
ser testada.
Figura 19 - Característica Lente ou Tomate

Figura 18 - Característica Mho


Figura 20 - Característica Quadrilateral

Figura 21 – Lista de elementos para editoração das características de zona

4. AJUSTES DE TESTE PADRÃO Estes ajustes são independentes dos


ajustes dos relés. Se os ajustes dos relés são
importados/exportados, estes ajustes não são
São incluídos na metodologia de teste. Os afetados.
“test settings” normalmente não precisam ser
redefinidos para cada novo teste.

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apenas uma entrada seja satisfeitas conforme


configurado.
Cada contato pode ser configurado da
seguinte forma:

1 Contato tipo NA
0 Contato tipo NF
X desabilitado
Tabela 1 – Opções de seleção de contatos

5.2. Selecionando os Ajustes para o


Teste
Figura 21 – Ajustes de Teste Padrão
Na tela de visualização do teste, selecione
5. PARAMETRIZAÇÃO DOS TESTES a opção Ajustes.

5.1. Ajustando o Trigger para o Teste


Figura 24 – Selecionando os Ajustes
Na tela de visualização do teste, selecione
a opção Trigger.
Alguns itens configurados nos Ajustes de
Teste Padrão aparecem aqui também para
melhor acesso do usuário.

Figura 22 – Selecionando o Trigger

Irão aparecer nesta opção todos os


contatos que foram definidos na configuração do
hardware do equipamento de teste, no item
Entradas binárias e analógicas.

Figura 25 – Tela de Configuração Ajustes

Figura 23 – Configuração de Trigger 5.2.1. Ajuste do tipo de teste


A opção E faz com que para haver sinal
As opções incluem testes com corrente,
de entrada para a caixa seja necessário que todas
tensão ou impedância constante. Utilizaremos a
as entradas sejam satisfeitas conforme
opção “Corrente Constante”.
configurado.
A opção OU faz com que para haver 5.2.2. Ajuste da corrente de teste
sinal de entrada para a caixa seja necessário que

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Como a opção utilizada foi a de corrente máximo offset negativo presente no


constante, usaremos 2A angulo de inicio da falta é igual a angulo
de impedância mais 90 graus.
5.2.3. Ajuste do tempo de pré falta e pós
4 Sem offset
falta
Neste modo o ângulo de inicio da falta é
igual ao angulo de impedância. Nenhuma
Pré falta = 0.5 s componente DC esta presente, fora para
faltas trifásicas, onde nenhuma offset DC
Máximo tempo de falta = 4 s (garantir que o esta presente na fase A.
máximo tempo de falta seja ajustado por um
tempo maior que o retardo do elemento de trip
do relé). 5.2.5. Permitir Redução de ITEST

Pós falta = 0.1 s (este ajuste deve ser aumentado Se o modelo de teste com corrente
para relés eletromecânicos para permitir que o constante é selecionado e a tensão de teste
relé opere o reset corretamente) calculada exceda a tensão nominal do relé, uma
mensagem Fora de Faixa (Out of Range) é
5.2.4. Ajuste do Início da Falta sinalizada.
Igualmente se o teste com tensão
constante é selecionado e a corrente calculada
O ângulo de fase da tensão e
exceda o máximo valor de corrente especificada
conseqüentemente o angulo da corrente de falha
para o relé a mesma mensagem é sinalizada.
através da opção Início da Falta pode ser
Se esta alternativa é selecionada, a
especificado.
tensão ou corrente de teste é automaticamente
Além da simulação da falta permanente, é
adaptada de forma a fazer o teste para qualquer
possível simular o comportamento do transitório
ZTESTE possível. A corrente ou tensão de teste
de offset DC que resulta da simulação do modelo
usada é mostrada no relatório.
especifico RL.
Para isso é necessário selecionar o
checkbox Offset DC. 5.2.6. Referência de Tempo
O ângulo especificado em f Início da Falta
é definido em referencia à tensão de curto Os seguintes ajustes são possíveis
circuito. Isto depende do tipo da falha
selecionada (monofásica, bifásica, trifásica). § Início de Falta
As seguintes opções são disponíveis : § Iniciando

4 Aleatório
O ângulo do inicio da falta é calculado
para cada teste aleatoriamente

4 Ângulo Fixo
O angulo de inicio da falta pode ser
livremente ajustado. Se a caixa DC-offset Figura 26 – Referência de Tempo
esta ativada, a simulação do DC-offset é
feita. O tempo de trip de um relé de proteção
é o tempo medido desde o inicio da falta até o
4 Maximo offset comando de trip do relé ser enviado. Este tempo
O ângulo de inicio da falta é escolhido tal é registrado como Referência de Tempo = Início
que o máximo positivo e o máximo da Falta.
negativo DC – offsets são simulados para Outro modo de medir o tempo do atraso
prevenir a saturação dos TC’s de entrada dos elementos é medir o tempo desde a partida
do relé. O máximo offset positivo presente do contato de pick-up até o comando de trip ser
no angulo do inicio da falta, é igual ao enviado.
angulo de impedância menos 90 graus. O

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Este é o tempo de atraso atual do Z1 ACT


temporizador interno, excluindo-se o tempo de
pick-up do relé, este tempo é registrado como Trip em t1
Referência de Tempo = Início da Falta. Trip em t2
Selecionando a referência de tempo
partida requer que um contato de partida do relé Max (Abs,rel)
seja conectado e configurado no sistema de
teste. Os sinais seguintes na configuração de Tolerance band
hardware são automaticamente identificados: Z1 nominal
START, START A, START B, START C. Figura 29 – Ajuste de resolução
Para relés de seleção de fase, a partida
de fase correspondente é usada para faltas Quando estiver efetuando um teste de
monofásicas e o contato de partida mais rápido é busca em uma característica nominal conhecida,
usado para faltas polifásicas. o disparo inicial para busca dos alcances de zona
são colocados no limite de tolerância do alcance
da zona.
Se a característica não for conhecida, que
seria o caso de nenhuma zona ser definida para o
relé, então os disparos iniciais são colocados em
distancias fixas, de acordo com o valor definido
no ajuste de Intervalo de Busca, na linha de
busca.
Se o alcance da zona é esperada entre dois
disparos, o teste é feito acima do valor
especificado de Intervalo de Busca.
Ainda que as zonas tenham sido definidas
Figura 27 – Referencia de Tempo para o relé, a opção de ignorar a característica
nominal pode ser usada para realizar o mesmo
procedimento da característica desconhecida.
5.2.7. Ignorar Características Nominal e
Resolução de Busca
5.2.8. Zonas Estendidas Ativas
No modo Busca, que será abordado a
frente, a precisão e o número de “shots” durante Inicialmente vamos definir o que são as
o teste depende do ajuste colocado em zonas de proteção:
Resolução de Busca.
4 Zona de Trip
É o tipo mais comum, tem um tempo de
trip correspondente a ele associado.

4 Zona de Partida
É normalmente exterior a todas as zonas
de trip, tem um tempo de pickup
associado. Se a zona de partida for
Figura 28 – Resolução de Busca dividida em elementos não direcionais e
direcionais (forward), é necessário entrar
A busca para o alcance de impedância com duas zonas separadas.
atual é parada, se a diferença da impedância
entre dois consecutivos disparos, ambos 4 Zona estendida
identificados em diferentes zonas, for menor que Similares às zonas de trip, entretanto
o ajuste de Resolução de Busca O maior de cada somente estão ativas se a opção Zonas
um dos valores de Resolução de Busca, (absoluto Estendidas Ativas estiver selecionada.
ou relativo) é aplicado. 4 Zona de não trip
Pode ser usada como zona de informação
(power-swing p.ex.), ou para definir seções

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de zonas de trip onde o trip não é A medição do tempo de trip é mostrada


permitido ( área de load encroachment). como resultado.
Uma comparação automática dos valores
Para testar as zonas de sobrealcance ou nominais e resultados do teste pode ser realizada
estendidas, as zonas relevantes devem primeiro se o módulo conhece os parâmetros do relé, ou
ser definidas como zonas estendidas na caixa de seja, se foram introduzidos no módulo de teste
dialogo no Ajustes de Zona, ver item 3.2. as características parametrizadas no relé.
O procedimento completo para teste é
descrito nos itens a seguir.

5.3.1. Definição dos pontos de teste

Primeiro defina o tipo de falta:

Figura 30 – Ajuste para Zona estendida

Selecionando Zonas Estendidas Ativas as


zonas estendidas são mostradas no plano R-X ao
lado da janela de ajustes. Os resultados do teste
são também comparados com as zonas definidas
como zonas estendidas.
Note que no relé, as zonas estendidas são
normalmente ativas somente por um período
Figura 32 – Tipos de falta
limitado de tempo (por exemplo durante o
religamento automático) ou trabalham em
É também possível definir os pontos de
conjunto com um contato de entrada do relé
teste como valores absolutos ou realtivos de
(por exemplo esquemas de teleproteção ou
impedância pela marcação no checkbox Relativa.
comando de fechamento manual para o CB).
Se uma saída binária for configurada como
Zonas Estendidas Ativas na configuração de
hardware, esta saída pode ser usada para simular
aquele contato do relé.
A temporização da saída binária pode ser
ajustada na pagina de configuração do trigger.
A simulação do contato e ajustes do
tempo podem somente ser acessados se as a
seleção das Zonas Estendidas estiver ativada. Figura 32 – Definição dos pontos de teste

Pontos de teste relativos estão situados


5.3. Selecionando a opção DISPARO
na linha especificada pelo angulo Phi e refere-se a
intersecção com a borda da zona nominal
Na tela de visualização do teste, selecione selecionada no “Zone drop down menu”.
a opção Disparo.

Figura 31 – Selecionando Disparo

O objetivo deste teste é checar os alcances


das zonas individuais e seus tempos de Trip
usando quaisquer pontos de teste, de acordo
com a escolha do responsável pelo teste.
Figura 33 – Pontos de teste relativos

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Figura 34 – Tela Teste Disparo

Para adicionar pontos de teste na lista de


pontos de teste para o tipo de falha selecionada,
clique em Adicionar.
Clicando em Adicionar à... pode-se
adicionar pontos de teste para diversos tipos de
falta.
Para remover pontos de teste da lista,
clique em Remover (para o tipo de falha
selecionado) ou Remove tudo... (para todos os
tipos de falha).
Figura 35 – Pop-up menu
Pode-se também selecionar os pontos de
teste no plano de impedância, com ajuda do
mouse: 5.3.2. Iniciando o teste de DISPARO

4 Acionando o botão esquerdo do A premissa básica para o sucesso do


mouse no plano de impedância, a teste é a correta configuração do hardware do
impedância daquele ponto do plano é dispositivo a ser testado e a definição das
selecionada e seu valor corretas condições de Trigger.
correspondente mostrado na janela
Ponto de Teste. Pressionando-se Teste com um “Shot” individual
Adicionar, este valor é registrado na
lista de pontos de teste. As correntes e tensões correspondentes ao
4 Pressione a tecla Ctrl e clique com o tipo de falta selecionada são aplicadas ao relé.
botão esquerdo do mouse no plano Para iniciar o teste acione ou selecione
de impedância para adicionar o ponto Teste  Teste único.
selecionado diretamente à lista de É também possível iniciar o teste
pontos de teste. diretamente do plano de impedâncias ou
4 Clicando no botão direito do mouse diagrama Z/t , pelo posicionamento do mouse no
no plano de impedâncias o menu plano de impedâncias e pressionando a tecla
contextual para o gráfico é aberto.

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Shift juntamente com o botão esquerdo do adaptada de forma a fazer o teste para qualquer
mouse”. Zteste possível. A corrente de teste (ou tensão)
usada é mostrada no relatório.
Teste com uma lista de “Shots” Quando o teste para grandes alcances
for executado, a corrente de teste injetada deverá
Para todos os tipos de faltas, as correntes e sempre ser maior que a mínima corrente de pick-
tensões correspondentes para cada shot definido up para o relé. Se o relé utiliza a tensão
no ponto de teste é aplicado ao relé. dependente da corrente de partida, assegure que
Para iniciar o teste clique em ou selecione a tensão de teste seja sempre menor que a
Teste  Iniciar/continuar. tensão ajustada de pick-up.
A execução do teste pode ser pausada
clicando em ou selecionando Teste  Pausa. ANÁLISE NA LISTA DE PONTOS DE TESTE

Clicando em ou selecionando Teste  Em adição aos parâmetros de teste (R, X,


Parar o teste é interrompido. Para limpar o Z, phi, I, V ...) os tempos atuais e nominais de trip
resultado do teste e permitir um novo teste clique são mostrados. De maneira a obter uma vista
em ou selecione Teste  Limpar. específica do usuário diferente da vista standard,
clique o botão direito do mouse na lista de
Lembre-se: Antes de um novo teste ser iniciado, pontos de teste para abrir um menu contextual
os resultados dos testes antigos devem ser podendo as colunas ser mostradas ou
limpos. escondidas. A largura das colunas pode também
ser ajustada.
5.3.3. Avaliação do teste de “Shot”

ANÁLISE DO TESTE NA TELA

A janela de resultados para o teste de


shot, contém informações sobre o tempo de trip
Figura 37 – Resultados
medido para a corrente do ponto de teste na lista
de pontos de teste e sobre o resultado da
Na primeira coluna o resultado é
avaliação automática.
mostrado imediatamente após a teste usando
diferentes símbolos. Esses símbolos são
§ aprovado
mostrados a seguir:
§ reprovado
§ não testado
§ fora de faixa (Zmin > |Z| > Zmax)
§ sobrecarga

Figura 36 – Resultados

Se o modelo de teste com corrente


constante é selecionado e a tensão calculada
excede a tensão nominal do relé, a mensagem
mostrada para este teste é Fora da Faixa.
Igualmente se a tensão de teste Figura 38 – Simbologia da avaliação
constante é selecionada e a corrente calculada
excede a máxima corrente especificada para o ANÁLISE GRÁFICA
relé, a mensagem mostrada para este teste é Fora
da Faixa. No plano de impedâncias, os pontos de
Se o checkbox é selecionado, a corrente teste são mostrados usando os mesmos símbolos
de teste (ou tensão) é automaticamente como nas colunas da lista dos pontos de teste. O

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progresso do teste pode ser facilmente 5.4. Selecionar a opção Verificação


monitorado. Clicando o botão direito do mouse
no plano de impedâncias o menu contextual é Na tela de visualização do teste, selecione
aberto para o gráfico que do acesso aos ajustes a opção Trigger.
do gráfico do plano de impedâncias.

Figura 41 – Seleção de Check

O plano de impedâncias é usado com


vista para o teste. As tensões e correntes são
calculadas automaticamente.
O objetivo do teste é checar os alcances
e tempos de trip das zonas individuais acima e
abaixo do alcance. Isto é feito usando dois
disparos para cada zona. Esta é a principal
modificação no procedimento do teste de
disparo onde os pontos de teste são
automaticamente ajustados na linha de
checagem.
O resultado mostra o tempo nominal e
atual de trip bem como a sua avaliação. O teste
somente é possível se a característica nominal é
especificada.

Figura 39 – Análise gráfica 5.4.1. Definição das Linhas de Checagem

ANÁLISE NO RELATÓRIO DO TESTE

O relatório do teste é mostrado clicando


no botão ou selecionando a opção Vista 
Relatório.

Figura 40 – Exemplo de Resultados no Relatório

O exemplo acima mostra como o Figura 42 – Definição das linhas de Checagem


relatório de teste mostra os dados de cada ponto
de teste, os valores nominais e atuais dos tempos Deve-se selecionar o tipo de falta para o
de trip e a avaliação automática. O teste foi feito qual o teste será executado.
para falhas do tipo A-B e falhas trifásicas A-B-C.
Devido ao usuário poder modificar o ENTRADAS NUMÉRICAS
conteúdo do relatório para que contenha seus
requisitos especiais, informações adicionais A linha de verificação é definida por um
podem também ser mostradas após o teste ser ponto que consideramos ser sua origem e
completado. ângulo. Note na figura 42 que a origem pode ser

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definida em coordenadas polares ou 5.4.2. Inicio do teste de Verificação


retangulares.
O comprimento da linha de checagem A premissa básica para o sucesso do
pode ser definido até a impedância relativa ou teste é a correta configuração do hardware do
absoluta (relacionada para uma das zonas). dispositivo a ser testado e a definição das
corretas condições de Trigger.

TESTE AO LONGO DA LINHA DE CORRENTE

O teste é executado para o tipo de falha


selecionada e somente ao longo da linha de
verificação selecionada.
Para iniciar este teste clique em ou
seleciona Teste  Teste único no menu.
É também possível para iniciar o teste
diretamente do plano de impedâncias pelo
posicionamento do mouse no plano de
impedância e pressionando-se a. tecla Shift
juntamente com o botão esquerdo do mouse.
Figura 43 – Definição das linhas nas zonas de
proteção
TESTE AO LONGO DE VÁRIAS LINHAS
O teste será executado ao longo de várias
linhas de checagem. Assim, múltiplas linhas de Para todas as linhas especificadas, os
checagem podem ser adicionadas à lista de linhas tempos de trip para cada ponto de teste são
pela seleção da opção Adicionar. medidos um após o outro e comparados com os
Observe que a adição das linhas de valores nominais e atuais.
checagem está relacionada com o tipo de falha Para iniciar o teste clique em ou selecione
selecionada. Teste  Iniciar/continuar.
Se a linha de checagem for usada para A execução do teste pode ser pausada
vários tipos de falhas, selecione Adicionar à... clicando em ou selecionando Teste  Pausa.
Para remover linhas de check da lista,
clique em Remover (para o tipo de falha Clicando em ou selecionando Teste 
selecionada) ou Remover tudo (para vários tipos Parar o teste é interrompido. Para limpar o
de falhas). resultado do teste e permitir um novo teste clique
A opção Seqüência permite a entrada de em ou selecione Teste  Limpar.
várias linhas de checagem com passos de ângulos
uniformes usando o mesmo ponto de origem. Lembre-se: Antes de um novo teste ser iniciado,
os resultados dos testes antigos devem ser
SELECIONANDO NO PLANO DE IMPEDÂNCIAS limpos.

Botão esquerdo + arrastar (enquanto o botão 5.4.3. Avaliação do teste de Verificação


estiver pressionado) para definir a linha de
verificação. (use Adicionar para adicionar o item à
lista) Análise da lista de linhas de check

Ctrl + botão esquerdo + arrastar para adicionar Devido a cada linha incluir vários testes
a linha de verificação diretamente à lista de linhas de shots em diferentes zonas, não é possível
de verificação. mostrar resultados detalhados aqui. Em vez disso,
a origem e o angulo de busca são usados para
Clicando o botão direito do mouse no identificar o teste.
plano de impedâncias o menu contextual é A largura das colunas pode ser ajustada.
aberto para o gráfico que dá acesso aos ajustes Colunas podem também ser escondidas pela
do gráfico do plano de impedâncias. seleção da mesma e pelo botão direito do

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mouse. Um menu contextual é aberto que O relatório do teste é mostrado clicando


mostra as várias opções. no botão ou selecionando a opção Vista 
As colunas de estado mostram os Relatório.
resultados da avaliação de um específico teste de
check com diferentes símbolos, mostrados
abaixo.

Figura 48 – Exemplo de relatório

Na opção Relatório tem-se os resultados


detalhados do teste. Como o usuário pode
Figura 44 – Simbologia da avaliação especificar a informação que o relatório irá
conter, é também possível mostrar informações
ANÁLISE GRÁFICA adicionais após o teste ser completado.

No plano de impedâncias os pontos de 5.5. Selecionando a opção Busca


teste são mostrados usando os mesmos símbolos
como no teste de shot. O progresso do teste
Na tela de visualização do teste, selecione
pode ser monitorado pela visualização do teste
a opção Busca.
corrente em destaque.
Para a analise detalhada, diferente
opções são disponíveis. Clicando no botão direito
do mouse no plano de impedâncias um menu
contextual é aberto para o gráfico, permitindo, Figura 49 – Selecionando Busca
por exemplo, a mudança da vista.
5.5.1. Determinação dos shots.

O objetivo deste teste é determinar o exato


alcance das zonas individuais aplicando shots ao
longo de uma linha de busca.
O número de shots é calculado
automaticamente usando o valor parametrizado
em Resolução da Busca.
Os valores de impedância encontrados das
zonas são mostrados. Comparações automáticas
dos valores nominais e atuais podem ser feitas se
o módulo de teste é informado dos parâmetros
do relé.

5.5.2. Utilizando a Seqüência de Teste

A seguir são definidos os passos para a realização


Figura 47 – Análise gráfica de um teste em seqüência.

ANÁLISE NO RELATÓRIO DO TESTE

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a) Definir os valores do ângulo de inicio e do c) Definir o valor de Comprimento da linha


ângulo final. Ver figura 50. de teste. Este comprimento deve
ultrapassar somente uma vez a zona
testada. Recomendamos o ajuste relativo
ao comprimento da zona a ser testada,
preenchendo-se o valor de percentagem
de zona como 140% de Zona a ser
testada, de forma a ultrapassar
completamente a tolerância externa.

d) No campo tipos de falta escolher a opção


desejada. No caso de um teste completo,
basta assinalar todos.

e) Pressionar o botão OK

f) Os pontos a serem testados para os tipos


de faltas com as respectivas tolerâncias são
definidos segundo o especificado. A figura
Figura 50 – Selecionando Busca a seguir apresenta um exemplo do
resultado da aplicação desses
b) Definir o número de passos ou o Passo procedimentos, com um arquivo de teste
ângulo. Esses dados definem a quantidade ponto para ser utiizado.
de linhas de busca que serão realizadas.

Figura 51 – Tela de Busca pronto para teste

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Figura 51 – Tela de Busca – teste finalizado

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Cap 11 : Differencial e Advanced


Differencial
Resumo O grupo da a informação sobre a conexão
do objeto protegido, as possíveis conexões são :
Este texto mostra passo a passo à
montagem dos procedimentos de teste utilizando § Y (Estrela) ou
o módulo de teste Advanced Differencial. A § D (Delta)
metodologia adotada consiste em se realizar um
teste da função (87), demonstrando as 1.3. Número de Enrolamentos
características do software.
É configurado o número de enrolamentos
1. CONFIGURAÇÃO DO TESTE do elemento protegido.
DIFERENCIAL

São apresentados os itens da configuração


para o teste diferencial.

1.1. Objeto Protegido


Figura 3 – Número de enrolamentos
O objeto a ser protegido pelo dispositivo
de proteção é selecionado. O objeto protegido 1.4. Valores Nominais
pode ser um Transformador, Gerador, Motor ou
Barra.
O nome do enrolamento correspondente
pode ser alterado pelo usuário, para permitir uma
única designação para o elemento protegido.
Este nome é também automaticamente
destinado para os transformadores de corrente e
os transformadores de corrente de terra,
Figura 1 – Objeto Protegido correspondentes a esse enrolamento, em outras
janelas do software de teste.
1.2. Grupo Vetorial

É selecionado o número de enrolamentos


do transformador (somente selecionavel se o
transformador é ajustado como elemento
protegido).

Figura 4 – Valores Nominais


Figura 2 – Grupo Vetorial

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A Tensão nominal do enrolamento enrolamento se o startpoint é efetivamente


correspondente do elemento protegido,a aterrado para :
potencia nominal do enrolamento O lado da falta selecionada para o módulo
correspondente do elemento protegido e o “Diff Configuration”
Grupo vetorial do enrolamento correspondente O lado de referencia da característica “Diff
do elemento protegido são ajustados. Operating” ou o modulo de tempo “Diff
Trip”
Tipo Ajuste Referência fasorial
HV LV HV LV HV LV Startpoint grounding do enrolamento
D0 Y0 D Y0 0 0
correspondente do elemento protegido. Este
D0 Y 30 D Y1 0 30 lag
D0 Y 330 D Y 11 0 30 lead ajuste influencia o fluxo de corrente para falhas
Tabela 1 – Grupo Vetorial monofásicas a terra.

A seleção de faltas tipo monofásica no 1.5. Configuração do TC


módulo de teste não significa que a corrente de
terra (corrente de seqüência zero) seja simulada Se a caixa de verificação “Use Ground
corretamente. Current Measurement Inputs (CT)” está
Na verdade, o parâmetro “Startpoint selecionada, a corrente de seqüência zero do
grounding” é critico aqui. Isto significa que a enrolamento correspondente é simulada no
corrente de seqüência zero pode somente fluir no gerador de saída.

Figura 2 – Ground CT Nominal Values

Figura 3 – Valores nominais do TC

1.6. Dispositivo de Proteção a quantidade Ibias é determinado de acordo com


o fabricante do relé e não pode ser ajustado
arbitrariamente.
A quantidade Ibias algumas vezes se refere
como a quantidade de estabilização ou restrição
– e usada para comparar com a quantidade Idiff
para a decisão de trip. O método de calculo para

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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

para cada enrolamento de referencia,


dependendo o grupo vetorial para falhas
monofásicas ou bifásicas.
Os valores absolutos das correntes
medidas no transformador para o enrolamento
de referência pelo ajuste do grupo vetorial e
eliminação de seqüência zero são diferentes
devido a diferentes relações de enrolamentos do
Figura 4 – Cálculo de Ibias
transformador.
Siemens digital relay series
K1 = 1
7UT51...,
GEC digital relay series
(|Ip| +|Is|) / k1 K1 = 2
KBCH
SEL Schweitzer digital relay
K1 = 2
series SEL5
AEG digital relay series
K1 = 2
Figura 6 – Standardize using
(Ip + Is)/ k1
PQ7
Vários relés convencionais K1 = 1 Entretanto, os valores absolutos padronizados
das correntes nas extremidades para serem
K2 = 1
K1 = 2 comparadas são diferentes para cada fabricante
(|Ip| +|Is| GE Multilin digital Relay K1 = 3 de relé. A corrente nominal do objeto protegido
±k2) / k1 série SR745 (Trafo ou do TC do enrolamento com a maior potencia.
3
Esses parâmetros são essenciais e tem de ser
enrol.)
solicitados aos fabricantes de relés se houver
Max (|Ip| , |Is|) ELIN digitan relay serie DRS K1 = 1 alguma dúvida com relação a isso.
Tabela 2 – Tabela de Ibias Ajustes errados levam a testes indefinidos.

1.6.1. Relés sem compensação de


defasamento

O item “no Transformer Model


Figura 5 – Enrolamento de referência (deactivated)” deve ser marcado para testes em
relés diferenciais convencionais sem
O estabelecimento do enrolamento de compensação de defasamento
referência é usado para o cálculo da corrente de
teste de referência de Idiff e Ibias. Isto ocorre
para o teste da característica de operação e da
característica de tempo de trip. A falta será
sempre localizada no lado de referência.
As correntes medidas pelos relés
diferenciais são diferentes em valores absolutos e
fase sob operação normal e não podem ser
usados diretamente para o cálculo de Idiff e Ibias.
Entretanto, o relé de proteção tem de definir o Figura 7 – Tempos e Modelo do Transformador
enrolamento de referência para normalizar as
correntes para o mesmo defasamento e Test Max. Restringe o máximo tempo de teste
eliminação da corrente de seqüência zero. para proteger o relé.
Para que seja capaz de testar a Delay Time é o tempo entre sucessivos testes para
característica de operação esta referencia tem dar o tempo de reset do relé.
que ser definida para o módulo de teste. Em
princípio, não existem diferenças no lado do Estes são ajustes padrão para os
transformador que é definido como referência, parâmetros de teste atuais que podem ser
mas a distribuição de corrente nas fases e seus ajustados na pagina “General test parameters”.
valores absolutos e defasamentos são diferentes

:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Os parâmetros para o teste de relés


diferenciais convencionais, como a corrente
nominal do relé ( 1 ou 5 A), têm de ser ajustada
com o parâmetro I nom na “General Page”.
O ajuste dos dados para o transformador e
TC não tem influência no teste, mas eles são
representados no relatório. Figura 9 – Valores de Idif> e Idif>>

1.6.2. Eliminação de Seqüência Zero

Para transformadores com enrolamento


delta-estrela aterrado, a corrente de seqüência
zero irá fluir na direção do enrolamento de terra
para falha fase-terra.
Figura 10 – Valores de tempo de Idif> e Idif>>
Porque a corrente de seqüência zero não
flui no enrolamento delta, a corrente no relé tem
de ser compensada ou corrigida pelo desbalanço
causado pelo deslocamento angular sobre o
transformador.
A correção do angulo de fase pode ser
completada pelos TC’s de interposição (método
tradicional) ou com jumpers nos relés
(eletromecânicos ou estáticos) ou Figura 11 – Tolerâncias
computacionalmente para relés digitais.
O método usado para eliminação de 1.7. Characteristc Definition
seqüência zero é critico para o teste. Entretanto,
isto é necessário para selecionar o tipo de Os dados de Idif> e Idif>> são trazidos
eliminação de seqüência zero utilizada. da página “Protection Device” (ver item 1.6.3).
Os campos “Start point” e “End point” são
utilizados para a entrada do ponto de partida e
fim da linha (Um elemento da característica a ser
definida)
O campo de “Slope” calcula
automaticamente o slope do segmento de reta
parametrizado pelos pontos inicial e final.
Ainda pode-se configurar a inicialização
automática do novo ponto de partida após a
Figura 8 – Eliminação de seqüência zero adição de uma nova linha.
O usuário pode escolher que seja
A eliminação de corrente de seqüência mostrados os valores dos pontos definidos da
zero (somente relevante para falhas característica no gráfico e as linhas de grid.
monofásicas), pode se ajustada.

§ (IL –I0) – Corrente de linha de


seqüência zero
§ YD – Transformador de interposição
§ YDY – Transformador de interposição

1.6.3. Ajustes e Tolerâncias

Ajustes e tolerâncias do relé de acordo


Figura 12– Configurações do Editor de
com a planilha de dados do fabricante.
Característica

:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Para quase todos reles diferenciais digitais


o valor lxf = constante é aplicado. O bloqueio de
restrição harmônica é independente do valor
da corrente diferencial. Para relés diferenciais
convencionais, entretanto, o valor lxf = f(Idiff) é
aplicado. O bloqueio de restrição harmônica é
dependente do valor da corrente
diferencial.
Para lxf = constante – Linha reta

Para lxf = não constante – Curva devido à


concatenação de segmentos. Todos estes
segmentos são definidos individualmente pelas
suas coordenadas Start Idiff/In e Start Ixf/Idiff
também por End Idiff/In e End Ixf/Idiff.

Nota : No caso do relé permitir o ajuste de


atraso, note que este “time delay”(ajustado no
box “time delay”) deverá ser ajustado por mais
tempo que o tempo de teste maximo (como
mostrado na tabela “protection device”).

2. PARAMETRIZAÇÃO DOS TESTES


Figura 12 – Definição da característica diferencial
2.1. Test Data

Para o ajuste do teste de restrição


harmônicas.

Figura 14– configurações do editor de


característica

Itest – Corrente de teste


Figura 14– configurações da restrição harmônica
Add - Adiciona os valores de Itest à tabela de
teste.
Serve para definir as curvas harmônicas, a
Add Sweep - Adiciona a sequencia de valores de
faixa de tolerância e o atraso da restrição
Itest, começando com “Start Value”, o valor de
harmônica.

:
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Parte II: Sistema Automatizado de Teste

Itest é incrementado pelo “Step Size” até o valor Test Status - O Status do teste é mostrado em
de “End Value” . forma de Itest e Status.
Remove - Deleta os pontos de teste selecionados
na tabela. Test Assessment - O teste pode ser
Table -: Nesta tabela, entram os valores de manualmente classificado como “Passed” ou
Itest. Os valores nominais do “Failed”
correspondente ao valor de Idiff é mostrado
para comparação. 2.3. General
Pontos de teste podem ser adicionados
entrando no campo Itest e clicando o botão
Define quais enrolamentos serão testados e quais
“Add”.
enrolamentos estão no lado da falta e no lado da
O numero de pontos de teste podem ser
fonte.
adicionados pressionando o botão “Add Sweep”
Todos os testes são possíveis, onde o
e especificando a sequencia de pontos de teste.
enrolamento primário é envolvido. Por isso duas
2.2. Test possibilidades de teste resultam para
transformadores de dois enrolamentos e quatro
para transformadores de três enrolamentos.
Também ocorre o ajuste de “Load Side” e Iload –
I load é usado somente se o checkbox Iload é
marcado. Somente possível para o teste de
objetos com 3 enrolamentos.

Figura 15– configurações de Test

Data Input - É possível especificar quais valores


serão lidos/medidos. É possível escolher entre os
valores Primary ou Secondary ou Tertiary em
magnitude e angulo, ou valores de Idiff e Ibias.
Figura 16– configurações de General
Os campos de entrada mudam, por conseguinte.
Os dados preenchidos aqui serão incluídos do
relatório do teste.

:
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Parte III: Testes Especiais

Cap 12 : Testes com Transitórios


Advanced Transplay e Harmonics
Resumo 2.1. Ajustes Relé SEL387
Este texto mostra passo a passo a
montagem de exemplos dos procedimentos de SLOPE1 = 25%
teste utilizando o módulo de teste Advanced SLOPE2 = 75%
Transplay. Mostra também o exemplo de IRS1 = 3
O879 = 0,3
utilização do software Harmonics.
U87P = 5
INOMINAL = 5A
1. INTRODUÇÃO CTR1 = 120
CTR2 = 240
W1CTC = 0
O software Advanced Transplay é utilizado W2CTC = 0
para importar ou editar dados transitórios para a PCT2 = 25%
aplicação ao relé. Estes transitórios foram criados PCT5 = 45%
por uma simulação ou aquisitados valores reais
do sistema através de equipamentos como 2.2. Software Harmonics
RDP´s.
Os seguintes foramtos de arquivo são Utilizando o software harmonics, vamos
suportados : gerar 4 arquivos com a extensão .CFG.

§ CFG – Arquivo de configuração 2.2.1. Arquivo 1 – 24% de segundo


comtrade que contem a descrição da
harmônico
falta (nomes dos sinais, frquência de
amostragem, etc...)
§ DAT – Arquivo comtrade com exemplo
de valores da falta.
§ HDR – Contem dados texto que não
são usados pelo software.
§ Formato L4 com arquivos PL4
§ Formato TRF com arquivos TRF.

Vamos exemplificar a utilização do


software Advanced Transplay utilizando dois
exemplos mostrados a seguir.

2. APLICAÇÃO DE ARQUIVOS
COMTRADE GERADOS PELO
SOFTWARE HARMONICS PARA A
VERIFICAÇÃO DA RESTRIÇÃO DE
SEGUNDO E QUINTO HARMÔNICOS
NO RELÉ SEL 387.
Figura 1 - 24% de segundo harmônico

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

2.2.2. Arquivo 2 – 26% de segundo


harmônico

Figura 4 - 46% de segundo harmônico

Foram gerados quatro arquivos


Figura 2 - 26% de segundo harmônico
comtrade:

2.2.3. Arquivo 3 – 44% de quinto harmônico § HARM24%.cfg


§ HARM26%.cfg
§ HARM44%.cfg
§ HARM46%.cfg

2.3. Aplicação dos Arquivos Comtrade

Utilizamos agora o Advanced Transplay


para aplicarmos os arquivos Comtrade ao relé
SEL387, e analisarmos o desempenho do relé.
Primeiramente vamos iniciar o software Advanced
Transplay, e fazer todas as configurações
necessárias para a execução do ensaio.

2.3.1. Primeiro passo

Objeto a ser testado:

Figura 3 - 44% de segundo harmônico

2.2.4. Arquivo 4 – 46% de quinto harmônico.

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Figura 8 – Configuração das Entradas binárias

2.3.3. Terceiro Passo

Importa-se o arquivo de teste:

Figura 5 – Ajustes do dispositivo

2.3.2. Segundo Passo

Configuração do Hardware de Teste:

Figura 9 – Importar...

Escolhemos o arquivo HARM24%.cfg:

Figura 6 – Configuração de Hardware

Figura 10 – Arquivo de teste

Configuração da Mala Omicron :

Figura 7 – Configuração das Saídas Analógicas

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

A marca de estado será denominada


INICIO e foi inserida no instante t = 0,000 s.
Vamos agora aplicar o sinal Comtrade ao
relé SEL387.

Figura 11 – Vista de detalhe

Canal – Nesta coluna, os canais analógicos do


arquivo de dados que foi carregado, são
marcados como canais de saída da CMC. Essa
configuração pode ser alterada de acordo com a
necessidade do teste. Isto é feito clicando na
celula correspondente e selecionando o sinal da
lista.
Figura 14 – Aplicação de sinal
Escala – Nesta coluna, podemos entrar com um
fator de escala para o sinal de saída. Este fator Pode-se ativar a visualização de medida
permite aumentar ou diminuir a grandeza. para realizar a leitura do tempo de atuação do
relé.
Min e Max – Mostra os valores mínimo e máximo
do sinal analógico de acordo com a escala
escolhida.

Vamos agora inserir marcadores, para


efetuar a medição do tempo entre a aplicação do Figura 15 – Leitura do tempo de atuação
sinal e a operação do relé.
Concluímos que houve a atuação do relé
em aproximadamente 37 ms.
Repetimos os mesmos procedimentos para
os outros arquivos, e teremos como resultado a
operação do relé para o arquivo HARM44%.cfg e
a não operação do relé para os arquivos
HARM26%.cfg e HARM46%.cfg.

3. APLICAÇÃO DE ARQUIVOS
Figura 12 – Inserir marcadores COMTRADE AQUISITADOS POR UM
REGISTRADOR DIGITAL DE
PERTURBAÇÃO DURANTE UMA
OCORRÊNCIA NO SISTEMA
ELÉTRICO.

3.1. Descrição da Ocorrência

Houve falta monofásica envolvendo a fase


"C" de uma LT 345kV causada por provável
Figura 13 – Inserir marcadores descarga atmosférica. A falta foi localizada pela
oscilografia dos relés como sendo a 38% do

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

comprimento total da LT contados a partir do Z1P = 4.79 Z2P = 8.20


terminal A, e eliminada em 50ms pela atuação Z3P = 8.20 Z4P = 10.25
das proteções primária e secundária de distância 50PP1 = 1.00 50PP2 = 1.00 50PP3 = 1.00
para falhas à terra zona 1 em ambos os 50PP4 = 1.00
terminais. Z1MG = 4.79 Z2MG = 8.20 Z3MG = 8.20
Z4MG = 10.25
Análise Cronológica XG1 = 4.79 XG2 = 8.20
XG3 = 8.20 XG4 = 10.25
T0 RG1 = 4.79 RG2 = 8.40
Início da perturbação RG3 = 8.40 RG4 = 10.30
T1 = T0 + 42ms 50L1 = 0.50 50L2 = 0.50
Abertura do terminal A da LI 345kV 50L3 = 0.50 50L4 = 0.50
T2 = T0 + 50ms 50G1 = 0.50 50G2 = 0.50 50G3 = 0.50
Abertura do terminal B da LI 345kV 50G4 = 0.50
T3 = T0 + 3min 34seg k01M = 1.115 k01A =-2.64 k0M = 1.115
Atuação do ECE k0A =-2.64

3.2. Ajustes do Relé SEL321 3.3. Aplicação dos Arquivos Comtrade

RELID =21P-PRIMRIA Utilizamos o software Advanced Transplay


TRMID =LI 1 (21P) para aplicarmos o arquivo Comtrade aquisitado
Z1MAG = 6.84 Z1ANG = 84.81 Z0MAG = do RDP de uma das subestações ao Relé SEL321.
29.71 Z0ANG = 82.77
LOCAT = Y LL = 100.00 CTR = 600.0 3.3.1. Primeiro Passo
PTR = 3000.0
PMHOZ = 4 GMHOZ = 4 QUADZ = 4
DIR1 = F DIR2 = F Configuração do Objeto sob Teste
DIR3 = R DIR4 = F

Figura 16 – Objeto sob Teste

:
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Parte III: Testes Especiais

3.3.2. Segundo Passo

Configuração de Hardware de Teste:

Figura 17 – Configuração de Hardware

Figura 18 – Saídas Analógicas

Figura 19 – Entradas binárias

3.3.3. Terceiro Passo Comtrade que foi aquisitado pelo RDP da


Estação 1.
O arquivo foi nomeado IPS78_2003.cfg
Para realização do teste, importa-se o arquivo

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Figura 20 – Importação do arquivo

Figura 21 – Tela de teste

O próximo passo é selecionar no menu a


opção iniciar e em seguida selecionar a opção
“Inserir marcador de estado”.
Vamos nomear este estado como Inicio da
Falha. Observar que o tempo deste evento é
aproximadamente 486 ms.

Figura 22 – Inserindo marcador

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

O passo seguinte é aplicarmos este sinal ao Podemos utilizar tambem a opção “Ativar
Relé e observarmos o desempenho do mesmo Visualização de Medida”, e medirmos o tempo
para esta ocorrência real do sistema elétrico. entre o Inicio da Falta e o instante da abertura do
Disjuntor.

Figura 23 – teste realizado

Figura 24 – medida de tempo

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Cap 13 : Teste Ponta a Ponta


Resumo comunicação, simulando as condições reais de
atuação de todo sistema de proteção.
Este trabalho descreve os procedimentos Os sistemas de teste foram estruturados
utilizados para a realização do teste ponta a com equipamentos de teste OMICRON,
ponta em diversos sistemas de proteção, sincronizados com unidades CMGPS. Um sinal de
sincronizados por sinais de satélite do sistema de clock é usado como referência para partidas
posicionamento global (GPS), utilizando sinais simultâneas dos equipamentos de teste nos
transitórios gerados por programas de simulação terminais da linha testada. Assim, foram
de redes elétricas ou adquiridos por meio de aplicados arquivos de transitórios de falta
registrador de perturbações. contendo sinais analógicos secundários de
tensões e correntes, gerados pelo programa de
simulação ATP ou através de equipamentos de
1. INTRODUÇÃO simulação do sistema elétrico, como o RTDS. Tais
arquivos são preparados de forma a possibilitar a
O Sistema Elétrico de Potência consiste de injeção simultânea desses sinais nos relés dos
uma extensa e complexa malha devido à terminais da LT testada
interligação de grandes centros de geração e
consumo de energia elétrica. 2. PROCEDIMENTO DO TESTE PONTA A
No caso de linhas de transmissão, o
PONTA
sistema de proteção com esquemas de
teleproteção é concebido utilizando-se relés, um
em cada ponta da linha de transmissão, e um Este método consiste no teste ponta a
sistema de comunicação entre eles. ponta, sincronizado por sinais de satélite do
Os padrões de teste e comissionamento sistema de posicionamento global (GPS),
aceitos atualmente são realizados com intuito de utilizando sinais transitórios gerados pelo ATP ou
testar a funcionalidade e as características da sistemas de simulação de rede. Com determinada
proteção. Os ensaios são realizados nos relés condição de falta aplicada em ambos relés, nas
individualmente nas duas pontas da linha de pontas da linha de transmissão,
transmissão. sicronizadamente, pode-se verificar a completa
Utilizando-se procedimentos e ferramentas funcionalidade de todo esquema de proteção da
adequadas, como equipamentos de teste linha.
microprocessados, tem-se obtidos bons Para execução de teste na proteção são
resultados, e a garantia da atuação desses relés, utilizados conjuntos de teste de injeção
dentro das características de parametrização dos secundária, largamente usados para executar
mesmos. testes de comissionamento e rotina com todos os
Entretanto tal procedimento traz a tipos de relés, mostrado na figura 2.
desvantagem de testar os relés individualmente Assim este procedimento é capaz de testar o
ou seja, não existe garantia de que todo o sistema completo como uma unidade, isto é,
sistema de proteção trabalhará em conjunto. testar os relés em cada ponta da linha de
Esta desvantagem pode ser superada com transmissão e o link de comunicação, com um
a aplicação de um método capaz de testar o teste simulando as condições reais de atuação de
sistema completo, isto é, testar os relés em cada todo sistema de proteção.
ponta da linha de transmissão e o link de Os testes ponta a ponta necessitam de
alguns requisitos dos conjuntos de testes, dentre
eles:

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Figura 1 – Configuração do teste ponta a ponta

a) Software para a modelagem das condições Os procedimentos adotados e os


de faltas conjuntos de teste CMC156/256 usados para
executar os testes fornecem todos os recursos
b) Equipamento de sincronia de tempo especificamente requisitados:

c) Software para a aquisição das respostas do § É totalmente controlado pelo PC.


sistema (acionamento de contatos, Sinais de falta podem ser pré-
medição de tempo de trip, etc.) carregados e serem injetados segundo
um sinal de disparo.

§ Possui 10 entradas binárias para


aquisição das respostas do sistema,
com uma taxa de amostragem
suficiente (10 kHz). Sinais de disparo
liberados pelos receptores GPS,
entretanto, podem ser captados com
uma exatidão de 120 us. Isto é mais
que suficiente, pois os tempos de
disparos típicos de um relé ocorrem
em torno de 20 ms.

§ Por meio de um software ou sistema


de simulação, a linha de transmissão a
Figura 2 – Utilização de conjuntos de teste de
ser testada pode ser modelada,
injeção secundaria
gerando correntes e tensões

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

disponíveis em forma de arquivos 2.1. Equipamentos utilizados


transitórios em formato padrão
COMTRADE ou PL4.
2.1.1. Equipamento de Teste Trifásico –
§ O sistema permite a realização de Fontes e Amplificadores
provas fora de linha (off line), ou seja,
permite executar uma prova de forma Para injeção de sinais secundários no
simulada, sem a necessidade de sistema de proteção foram utilizados
conectar o equipamento nem o relé de equipamentos OMICRON CMC156 e CMC256, e
proteção, desta forma todo o teste foi amplificador de corrente CMA156.
preparado no escritório.

Figura 3 – Equipamento de teste CMC 156 com amplificador

2.1.2. Unidade de Sincronização CMGPS está integrado com os módulos de teste (neste
caso utilizando o Advanced Transplay) e também
OMICRON
provê uma aplicação independente. Isto permite
o ajuste do primeiro pulso de saída, a freqüência
Quando se realizam testes ponta a ponta e a polaridade.
dos esquemas de proteção de linhas, são
necessárias várias partidas simultaneamente. A
CMGPS é uma unidade baseada em sincronização
GPS que e usada com os equipamentos de teste
CMC.
O CMGPS recebe os sinais dos satélites do
sistema de posicionamento global (GPS) e
proporciona uma saída no tempo especificado
pelo usuário. Este sinal de clock é usado como
entrada de trigger para a partida da unidade
CMC. O CMGPS foi desenvolvido para cumprir os
requisitos de testes de campo, porque o receptor
de GPS normal tem algumas desvantagens
(tamanho, peso, funcionamento complicado).
O CMGPS tipicamente esta pronto para Figura 4 – Unidade de Sincronização CMGPS
operação 5 minutos depois de ativado e emite
um pulso pôr minuto (1 sinal PPM). O pulso de Dois pulsos de tempo independentes estão
sincronização pode ser configurado de acordo disponíveis em conectores separados, em um
com a necessidade da aplicação. O software que conector de 16 pinos (saída Pulso 1) que está
conectado com o equipamento CMC (interface

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 13: Teste Ponta a Ponta 95
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

externa) e o outro em 2 conectores tipo banana P37.111/D11), PL4 (formato ASCII para PC) e TRF.
(saída Pulso 2). Permite a distribuição do sinal de cada canal de
tensão ou corrente a cada canal de saída do
2.2. Parametrização Arquivos de Teste equipamento, segundo a escolha do operador.
Marcadores podem ser ajustados para
com Advanced Transplay –
assinalar pontos significantes do oscilograma, tal
OMICRON como o ponto de início da falha, partida, disparo,
etc. Estes marcadores constituem a base para as
Advanced transplay é uma ferramenta medições de tempo.
utilizada para realizar testes com sinais O Advanced Transplay não só reproduz
transitórios utilizando o sistema CMC da sinais de tensão e de corrente como também
OMICRON. pode reproduzir sinais binários de um registro de
Arquivos de sinais transitórios obtidos dos faltas, utilizando as saídas binárias (transistor ou
registradores digitais de faltas ou de programas relé) do CMC. Sinais binários adicionais (por
de simulação de redes elétricas podem ser exemplo, sinais de envio/recebimento de
carregados, processados e reproduzidos com o esquemas baseados em comunicação) podem ser
Advanced Transplay. A resposta do relé que está agregados. A Figura 5 mostra a tela de um teste
sendo testado com estes sinais é gravada e já realizado com a oscilografia do sinal, a
avaliada. O relatório do teste é gerado simulação de sinais de disjuntores e a respostas
automaticamente. das entradas binárias.
O Advanced Transplay aceita os formatos
de arquivos COMTRADE (C37.111-1991 e

Figura 5 – Vista dos sinais de teste – Advanced Transplay – OMICRON

Durante a reprodução das faltas, os sinais relé de proteção. Se necessário, a reprodução


de tensão, corrente e binário são aplicados a um pode ser sincronizada via GPS ou por um pulso

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

de tempo aplicado através de uma entrada deste sinal. A Figura 6 mostra a tela de
binária. Podem ser configurados a data, o configuração do sistema de disparo e
instante de disparo e os intervalos de repetição sincronização.

Figura 6 – Vista do disparo do sistema de sincronização – Configuração do CMGPS

A resposta da proteção é medida e Medições relativas comparam a resposta


avaliada por meio de medições de tempo. do relé durante a reprodução do sinal e sua
Medições de tempo absoluto ou relativo são resposta original armazenada no registro
possíveis. (referência), ou seja, o operador define os valores
Medições de tempo absolutas são esperados e os intervalos de tolerância para cada
realizadas determinando-se os intervalos de tempo lido. O sistema devolve automaticamente
medida segundo os marcadores ajustados sobre e graficamente uma avaliação do ponto testado,
a oscilografia, que determinam, por exemplo, os conforme mostrado na Figura 7.
tempos de partida ou disparo do relé enquanto o
sinal é reproduzido.

Figura 7 – Visualização das medidas dos tempos de atuação do sistema de proteção após o teste

3. CONCLUSÕES O método apresentado oferece novas


possibilidades para teste de proteção e poderá
desempenhar um papel importante no que diz

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

respeito a temas como análise à distância para (6) O procedimento de teste criado pode ser
atendimento a clientes ou testes integrados entre utilizado para testes convencionais de rotina.
empresas fornecedoras e consumidores de De posse dos resultados obtidos nos teste de
energia elétrica. comissionamento, tem-se os valores reais das
Com os métodos tradicionais um teste atuações do sistema de proteção. Tais valores
dessa complexidade pode durar várias horas de podem ser incorporados aos procedimentos
trabalho intensivo de diversos especialistas, em de teste promovendo uma avaliação rápida e
ambos os locais de teste, pois relés de proteção confiável da performance do sistema.
digitais trazem benefícios significativos em todos
os aspectos dos sistemas de potência, porém eles (7) A análise detalhada mediante a injeção de
requerem maior sofisticação das instalações e uma falta no sistema pode ser realizada
principalmente uma qualificação diferenciada dos imediatamente após os testes, promovendo
profissionais envolvidos nas várias etapas do imediata correção das não conformidades
projeto até a manutenção destes sistemas encontradas. O processo pode ser facilmente
Isto posto, é exigida das equipes repetido até a obtenção do resultado
envolvidas uma qualificação superior abrangendo desejado.
noções de sistemas de potência, de
parametrização de relés, de operação de software
dedicado. 4. REFERÊNCIAS BIBLIOGRÁFICAS
Com os procedimentos adotados torna-se
possível que especialistas possam dar apoio a (1) OMICRON electronics; CMC software User
equipes de teste sem a necessidade de sua manual V1.5 – APROT.AE.3; July 2001;
presença física no local do teste, pois a
metodologia e procedimentos de teste podem ser (2) IEEE Standard C37.90.111 (1991); Common
facilmente executados pelas equipes locais. Format for Transient Data Exchange
O teste isolado de equipamentos, (COMTRADE);
instalações, painéis e sistemas de comunicação
comprovam sua validade e performance
separadamente. Entretanto, com a injeção de (3) PAULINO, M. E. de C.; Sistema Automatizado
faltas simuladas no sistema de proteção como de Teste de Proteção Elétrica – OMICRON,
um todo, cria-se a oportunidade de testar por Novas tecnologias para teste secundário em
completo o esquema de proteção. Pode-se testar, painéis de comando e proteção – Adimarco;
por exemplo, a integração dos sistemas de Maio 2002;
teleproteção, religamento monopolar, dentre
outros. Além disso, o procedimento de teste (4) PAULINO, M. E. de C.; Lima, R. C. De; Aoun,
criado poder ser utilizado para testes G. M.; Oliveira, R. C. de; Teste Ponta a Ponta,
convencionais de rotina. nas Proteções das Linhas de Transmissão
Dentre outras vantagens observadas, destacamos: Cachoeira Paulista-Itajubá e Itajubá-Poços de
Caldas 500 KV, Sincronizado por GPS,
(1) A performance dos relés, bem como as Utilizando Sinais Transitórios Modelados em
lógicas de teleproteção são verificadas. ATP.– XVII SNPTEE Seminário Nacional de
Produção e Transmissão de Energia Elétrica,
(2) Simplicidade na realização dos testes, com Uberlândia, MG; Outubro 2003;
número reduzido de conexões no painel

(3) Os testes foram realizados com


equipamentos convencionais já existentes nas
empresas.

(4) Toda a preparação foi feita off line, no


escritório.

(5) O teste foi realizado na fração do tempo que


seria necessário para o teste convencional.

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Cap 14 : Cheque de Polaridade


Resumo Este sinal tem características similares a um
sinal dente-de-serra com diferentes inclinações de
Este texto apresenta os procedimentos subida e descida.
para utilização do Polatity Check, instumento
para cheque de polaridade de uma instalação. 2. UTILIZANDO O CPOL

1. INTRODUÇÃO O cheque de polaridade é realizado com o


acessório CPOL, um portatil instrumento de uso
Para determinar a polaridade correta em muito fácil.
um circuito, o equipamento CMC injeta um sinal O esquema de utilização do CPOL é
de teste com polaridade especial em um ponto mostrado na figura 1.
pré determinado. Na outra ponta do circuito testado são
O sinal gerado pelo CMC pode ser tanto conectadas as pontas de prova do CPOL, que
de corrente como um sinal de tensão. indicará as condições do cirtuito, conforme
descrito a seguir.

Figura 1 – Esquema para cheque de polaridade

Se o CPOL detecta um sinal com LED vermelho


a mesma característica no ponto
testado, a polaridade é Se o CPOL detecta um sinal
considerada OK e é aceso um muito baixo, ambos os sinais
LED verde. são acesos ao mesmo tempo.
Como solução pode-se
Se o sinal dectado possui aumentar o nivel do sinal
características invertida ou injetado.
distorcida, o CPOL considera a
palaridade não OK, é aceso o

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 14: Cheque de Polaridade 99
SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Na figura 2 é mostrado em detalhe o


CPOL.
Se o usuário não tem certeza se a sua
medida esta correta, ele pode confirmar fazendo
a reversão na aplicação das pontas de prova do
CPOL. Neste caso, o outro LED irá acender.

3. A BATERIA DO CPOL

Se a bateria do CPOL
estiver baixa, os LEDs
começaram a piscar juntos

Pelo período eu os LED’s estiverem


piscando, as baterias proveram suficiente
potência para continuar operando. Entretanto, as
barterias devem ser trocadas assim que possível

CUIDADO:

Nunca operar o CPOL com o


compartimento de baterias aberto. Um nível
perigoso de tensão pode ocorrer no
compartimento da bateria se uma ponta de
prova tocar um ponto de teste com alta tensão
em potencial.

Figura 2 – CPOL – Polarity Checker

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Cap 15 : Enerlyzer

RESUMO protegidas em cada escala de medida até a tensão


de entrada Vrms = 600 V e de Vpico = ±850V.
O EnerLyzer é um software de módulo de Impedância de entrada: 500kO // 50pF em
medição que é parte do OMICRON Test Universe. É todas as escalas de medida.
projetado para trabalhar com o CMC 256, Proteção de sobrecarga: Vpico = ±850 V
convertendo suas entradas binárias em entradas de (Vrms = 600V) do potencial de terra de referência, de
medição analógicas. O CMC 256 é a única unidade uma outra entrada ou proteção de terra (protective
com potencialidade. Este capítulo apresenta os earth ground - PE).
procedimentos para utiliação do módulo de Devido às entradas analógicas do CMC 256
software Enerlyzer. serem entradas de tensão, as pontas de prova da
corrente ativa com saídas de tensão são usadas para
1 – INTRODUÇÃO medir correntes. Todas as pontas de prova devem
ser pontas de prova de corrente ativa com saída de
O EnerLyzer permite configurar tensão ou pontas de prova de corrente com um
individualmente qualquer ou todas as dez entradas shunt.
binárias do CMC 256 para transformar em entradas A precisão da medida atual é limitada à
analógicas para medição de tensões ou correntes. precisão do clamp na ponta de prova.
O CMC 256 tem um DSP independente para
executar a amostragem dos dados dos sinais da 2.1 – ENTRADA BINÁRIA/ANALÓGICA (1 - 10)
tensão ou da corrente. EnerLyzer pode executar a
análise e monitoração em tempo real do As dez entradas binárias são dividida em
componente de energia. EnerLyzer pode cinco grupos de dois, cada grupo separado
matematicamente combinar e avaliar os canais de galvanicamente dos outros. Conseqüentemente,
medição a fim conseguir: estes são convertidos em grupos de duas entradas
§ componentes DC quando EnerLyzer é usado.
§ valores eficazes (RMS)
§ valores de pico (Vpico, Ipico, …)
§ ângulos de fase com referência a um
dado sinal de entrada
§ potências aparente, reativa e real
§ diagramas de harmônicos
§ captura de sinais de entrada transitórios

O EnerLyzer funciona como um módulo de Figura 1: Entrada Binária/Analógica.


medição autônomo com dois modos de operação:
modo multímetro e modo gravação de transitórios. A captação de valores de medição com
troca de escala de cada dois canais ocorre em um
2 – DADOS DO HARDWARE DO CMC 256 estágio de entrada analógica AFE (Analog Front End)
que é separado galvanicamente dos outros estágios
Cada uma das dez entradas binárias na
da entrada.
seção ENTRADA BINÁRIA/ANALÓGICA do CMC 256
A largura de faixa nas entradas analógicas
pode ser configurada através do EnerLyzer para ser
pode variar de 0Hz (CC) a 10kHz. A taxa de
uma entrada analógica para tensões CC e CA até
amostragem pode ser trocada entre três valores
600V. As entradas são implementadas como
predefinidos: 28,4kHz, 9,48kHz e 3,16kHz.
entradas de tensão e têm cinco escalas de medida:
Os valores medidos são passados através de
100 mV, 1V, 10V, 100V e 600V. As entradas são
um amplificador de isolação à “Unidade de

© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 15 : Enerlyzer 101


SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Medição" e digitalizados com um conversor A/D.


Processamento adicional ocorre através de um
processador de sinal digital de ponto flutuante (DSP)
de alta performance.
Assim, potência aparente, potência reativa,
potência real, etc., podem ser fornecidas em tempo
real e ser transmitidas ao PC.

2.2 – MODO MULTÍMETRO

O modo multímetro é projetado para sinais


de medição de estado estacionário, tais como CC ou
senoidal. Medições como valores rms, deslocamento
de fase, freqüência, etc. podem ser feitas.
Os sinais de entrada são processados em
“tempo real” sem nenhum atraso intencional.

2.3 - GRAVAÇÃO DE TRANSITÓRIOS Figura 2: Definição do canal de tensão e corrente

Neste modo de operação, sinais transitórios


em até 10 canais de entrada podem ser capturados
O uso do canal pode ser especificado
sincronicamente. A captura começa sempre que
na fileira da função com menus em
uma condição de trigger é encontrada. As condições
cada canal de 1 a 10. Os canais
do trigger são configuradas facilmente no software
podem ser usados como entradas
EnerLyzer.
binárias, entradas contadoras,
Além disso, um tempo de offset para a
entradas da tensão ou entradas de
janela de captura ao ponto do tempo de trigger
corrente.
pode ser especificado. O atraso do trigger pode ser:

§ positivo (a gravação começa após o


ponto de tempo do trigger) A escala nominal pode ser
§ ou negativo (a gravação começa já especificada cada canal de tensão ou
antes do ponto de tempo do trigger). corrente. A escala nominal é o
máximo dinâmico (valor de pico) que
O comprimento máximo da captura é é esperado aparecer no canal.
dependente dos ajustes para a taxa de amostra e o
número de canais a serem capturados.
2.4 – CONFIGURAÇÃO DO HARDWARE Para cada canal de corrente, a
relação de clamp da corrente pode
Inicie o programa EnerLyzer a partir da ser especificada. Este ajuste na caixa
página inicial do OMICRON Test Universe. de diálogo Configuração de
A configuração do hardware é iniciada no Hardware deve combinar os ajustes
programa EnerLyzer ou pressionando o ícone ou no clamp de corrente atual.
selecionando “Parâmetro | Configuração de
Hardware”.
A mesma caixa de diálogo da configuração As entradas do CMC 256 foram planejadas
de hardware aparece da caixa de diálogo para sinais sinoidais. Assim, a escala nominal pode
Configuração da Medição quando o ícone de ser considerada Vrms. Junto com uma relação de
configuração é pressionado. A caixa de diálogo clamp, especifica quanto maiores os valores de pico
Configuração da Medição aparece quando o podem ser antes que o clipping ocorra. Isto é
botão Configuração é pressionado a partir da guia importante lembrar para os sinais não-senoidais que
Sinais ou da guia Potência do Modo Multímetro. podem estar dentro da escala nominal de Vrms mas
que pode ter valores de pico maiores.

© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 15 : Enerlyzer 102


SISTEMA DE TESTE E ENSAIOS DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte III: Testes Especiais

Especificar uma escala maior pode impedir referência para a medição da fase. (Pela definição,
clipping. Entretanto, fazer resultados em uma perda sempre mostra fase 0°).
de definição, porque a conversão analógica para No menu F2, você pode selecionar um segundo
digital tem somente 12-bits para representar a canal para a medição da freqüência.
escala inteira. O fator médio ajuda a suavizar sinais
A coluna da esquerda da caixa de diálogo ruidosos. Medir um sinal de estado permanente,
Configuração de Hardware é usada especificar o ajustando o fator médio para médio ou alto
sinal de entrada do Módulo de Teste. Os números aumenta a precisão. Se o sinal variar rapidamente
de índice n no Vn e In representam uma conexão ou tiver uma forma de onda complicada, é melhor
lógica em caixas de diálogo de potência desligar.
subseqüentes para determinar a Potência n real, A média aplica-se a todas as leituras (isto é,
aparente, e reative n. Ou seja, Potência2 é calculada RMS, fase, freqüência e potência). A média trabalha
de V2 e I2. Não é possível monitorar por exemplo "recordando" valores precedentes, usando a
os resultados de V1 e de I3. equação:
A segunda coluna da esquerda na caixa de
diálogo da Configuração de Hardware é usada Resultado = NovoValor * FatorMédio +
dar entrada em um Nome de Exibição para caixas ValorAntigo * (1 - FatorMédio)
de diálogo subseqüentes. Neste exemplo para
monitorar tensões e correntes, os nomes de exibição NovoValor: é o valor da nova amostra.
escolhidos são V a, V b, e V c para as tensões de
entrada e I a, I b e I c para as correntes de ValorAntigo: é o valor das amostras precedentes
entrada, como é mostrado na Figura 6-3. A parcela (que também tinham sido calculadas pela média).
restante da caixa de diálogo da Configuração de
Hardware é uma tabela para estabelecer conexões Resultado: é o valor recentemente calculado.
lógicas entre os sinais de entrada ou os nomes de
exibição e os canais físicos no CMC 256. Cada sinal FatorMédio: é o fator médio
de entrada pode ser atribuído a somente um canal e 1 = para nenhuma média,
vice-versa. 0,6 = para média de valor médio, e
A Figura 2 mostra um exemplo das 0,1 = para média elevada.
conexões lógicas e da fiação física planejada das
pontas de prova de tensão e dos clamps de corrente A taxa de amostragem determina a precisão
do CMC 256. Se a fiação real dos clamps de do sinal gravado. Se o sinal medido varia
corrente for diferente (por exemplo, se as entradas significativamente em tempo ou tem uma forma de
de corrente forem trocadas pelas entradas de onda complicada, aumentar a taxa de amostragem
tensão), as conexões lógicas podem ser usadas fazer ajudará a medir o sinal precisamente. Se o sinal for
as associações em vez dos cabos fisicamente no uma freqüência senoidal baixa, a taxa de
painel dianteiro do CMC 256. amostragem pode ser ajustada a uma taxa mais
baixa.
2.5 - AJUSTANDO O HARDWARE
Notas:
§ A taxa de amostragem deve ser ao menos
Ambas as guias Sinais e Potência
duas vezes a maior componente da
fornecem acesso às configurações do
freqüência a ser medida.
canal ao pressionar no botão
Configuração. Essa ação exibe a
§ Na caixa de edição da taxa Restaurar, entre
caixa de diálogo Configuração da
com um valor que determina a freqüência
Medição que permite que você mude
com que a informação na tela é atualizada.
a configuração da medição conforme
A taxa Restaurar refere-se aos parâmetros
necessário.
da tela do PC e não à amostragem real dos
sinais de entrada.
Selecione “Parâmetro | Configuração De
Hardware”. No menu F1 “Medição de Freqüência”,
§ Na versão Enerlyzer Lite só é habilitada a
selecione o primeiro canal que mede a freqüência.
opção Multímetro com a utilização das
Este canal é usado também como canal de
entradas 6, 8 e 10 para leituras analógicas.

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SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 16 : Modelo de Teste


Relé 7SJ63 (50/51)
Resumo elementos de tempo definido (instantâneos)
incluem dois elementos de fase chamados 50-2 e
Este texto mostra passo a passo a 50-1 e dois elementos de terra chamados 50N-2
montagem dos procedimentos de teste da e 50N-1. Os elementos de tempo inverso incluem
função sobrecorrente (50/51) do relé Siemens um elemento de fase chamado 51 e um
7SJ63 elemento de terra chamado 51N.

1. CONSIDERAÇÕES INICIAIS 1.1. Descrição da Proteção de


Sobrecorrente Instantânea (50,
A proteção de Sobrecorrente é a principal 50N)
função de proteção do relé 7SJ63.
Tal proteção pode ser habilitada ou Os elementos de sobrecorrente 50-2 e
desabilitada para faltas fase ou fase-terra, e pode 50N-2, fase e terra são comparados
ser configurada com varias curvas tempo x separadamente com os valores de pickup dos
corrente. elementos 50-2 e 50-N2. Valores de correntes
Existem quatro curvas de tempo definido acima dos valores são detectados e gravados
(elementos instantâneos com temporizadores dentro do relé. Após o término do tempo de
opcionais) e duas curvas tempo inverso. Os atraso acontece o trip.

Figura 1 - Diagrama lógico para a proteção 50-2 e 50-N2.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 16: Modelo de Teste – Relé 7SJ63 (50/51) 104
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 - Diagrama lógico para a proteção 50-1 e 50-N1.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 16: Modelo de Teste – Relé 7SJ63 (50/51) 105
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

1.1 - PARAMETRIZAÇÃO DO RELÉ:

Figura 3 – Configuração do Relé – Habilitação de funções de Proteção

Figura 4 – Configuração da Função 50/51 Phase Ground

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 5 – Configuração da Função 50/51 Phase Ground

Figura 6 – Curvas parametrizadas no relé

2. PARAMETRIZAÇÃO DOS ARQUIVOS É configurada na tela Ajuste do Dispositivo


com os dados nominais do sistema e a descrição
DE TESTE
do equipamento ser testado.

Utilizando o software Overcurrent, são


apresentadas as telas de configuração do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 16: Modelo de Teste – Relé 7SJ63 (50/51) 107
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 6 – Ajuste do Dispositivo

Figura 7 – Dispositivo de Proteção

Na tela “Dispositivo de Proteção” estão as a ser testado, bem como a direcionalidade do


características do dispositivo de proteção, ou sistema de proteção.
seja, os dados parametrizados no relé, como as São definidos os parâmetros do grupo de
tolerâncias de tempo e corrente, o grupo de falta falta com as correntes de pickup e o dial de
tempo.

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

3. CONSTRUÇÃO DA CURVA 4. AJUSTES DO TESTE


CARACTERÍSTICA
São definidos os intervalos para aplicação
Para a definição da curva tempo-corrente, dos pontos de teste sobre a curva tempo-
parametrizando a atuação do relé, utiliza-se a corrente, definida no item anterior. A tela
opção de importar característica. Múltiplos mostra que deve-se definir o intervalo
de teste, ou seja, os valores iniciais e finais do
intervalo e o passo de aplicação dos pontos
dentre do intervalo definido.

Figura 11 – Definições dos pontos de teste

Automaticamente o software indica o número


total dos pontos a serem testados. Quanto o
Figura 9 – Opções de criação de novas operador aciona Add to Table, tais pontos são
características plotados na tela de teste.
Assim, a figura 11 mostra a tela de teste pronta
Através da opção “Importar” pode-se para executa-lo.
acessar a biblioteca com as curvas características A figura 12 mostra o teste executado.
fornecidas pelo software da OMICRON.

Opção Siemens VI
escolhida

Figura 10 – Definição da curva

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 16: Modelo de Teste – Relé 7SJ63 (50/51) 109
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Parte IV: Configurações de Teste

Tabela mostrando Teste executado sob


a avaliação dos a característica
pontos testados gráfica da função
50/51

Figura 12 – Teste executado

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 16: Modelo de Teste – Relé 7SJ63 (50/51) 110
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Parte IV: Configurações de Teste

Cap 17 : Modelo de Teste


Relé Micom P437 (50/51)
Resumo Veremos neste capitulo a conceituação da
função IDMT (Sobrecorrente Tempo Inverso) para
Este texto mostra passo a passo a o rele P437.
montagem dos procedimentos de teste da Mostraremos também a utilização do
função sobrecorrente (50/51) do relé Micom software de comunicação e a respectiva
P437. parametrazação da função para o ensaio com a
mala OMICRON.
1. AJUSTES E CÁLCULOS

Figura 1 – Função IDMT (Sobrecorrente Tempo Inverso)

Figura 2 – Logica da função IDMT (1)

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 3 – Cálculo da característica da função IDMT

Figura 4 – Curvas da característica da função IDMT

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 5 – Logica da função IDMT (2)

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 6 – Parametros de Ajuste

2. CONCEITUAÇÃO

Tabela 1 – Ajustes do relé P437

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 7 – tela de parametrização do relé


Resumo :
Iref,P = 1 x Inom = Tap
Ch.factor kt,p = 0,5 = Dial de Tempo
Characterist. P = IEC Very Inverse

3. CONSTRUÇÃO DA CURVA É configurada a tela Ajuste do Dispositivo,


CARACTERÍSTICA com os dados nominais do sistema e a descrição
do equipamento ser testado.
Utilizando o software Overcurrent, são
apresentadas as telas de configuração do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 8 – tela de Ajustes do Dispositivo

Figura 9 – tela do Dispositivo de Proteção


Na tela Protection Device são as as tolerâncias de tempo e corrente, o grupo de
características do dispositivo de proteção, como

:
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Parte IV: Configurações de Teste

falta a ser testado, bem como a direcionalidade • Corrente de Pickup


do sistema de proteção. • Dial de Tempo
São definidos os parâmetros do grupo de • Direcionalidade
falta com as correntes de pickup e o dial de • Grupo de Falta
tempo. • Tolerâncias do teste
Nesta tela devemos parametrizar os valores
ajustados no rele, tais como :

Figura 10 – Opções de características IEC

Figura 11 – Definição de característica


4. AJUSTES DO TESTE intervalo e o passo de aplicação dos pontos
dentre do intervalo definido.
São definidos os intervalos para aplicação Automaticamente o software indica o
dos pontos de teste sobre a curva tempo- número total dos pontos a serem testados.
corrente, definida no item anterior. A tela Add Quando o operador aciona Add to Table,
Multiple mostra que deve-se definir o intervalo de tais pontos são plotados na tela de teste.
teste, ou seja, os valores iniciais e finais do

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 17: Modelo de Teste – Relé Micom P437 (50/51) 117
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Parte IV: Configurações de Teste

Assim, a figura 13 mostra a tela de teste


pronta para executa-lo Figura 12 – Definições dos pontos de teste

Figura 13 – Tela de teste

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Cap 18 : Modelo de Teste


Relé Micom P343 (50/51)
Resumo

Este texto mostra passo a passo a


montagem dos procedimentos de teste da
função sobrecorrente (50/51) do relé Micom
P343. Onde:

1. FAIXAS DE AJUSTE T = Tempo de operação

K = Constante

I = Corrente Medida

Is = Ajuste de Corrente

α = Constante

L = Constante ANSI/IEEE (Zero para


curvas IEC e UK)

T = Múltiplo de tempo para curvas


IEC e UK

TD = Dial de tempo para curvas IEEE


/ US

Equação para as curvas IEC/UK

Múltiplos de tempo para curvas IEC / UK

Dial de tempo para curvas IEEE / US


Equação para as curvas IEEE/US

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Tabela 1 – Descrição das curvas segundo as normas apresentadas

2. DADOS PARA O TESTE I>2 Time Delay 0s

Função Ajuste 3. CONFIGURAÇÃO DO TESTE


I>1 Function IEC VInverse
I>1 Current Set 500 mA 3.1. Objeto a ser testado
I>1 Time Delay 0s
I>1 TMS 1
Conforme descrito no capítulo 08, são
I>1 Time Dial
preenchidos os dados do objeto a ser testado.
I>1 Reset Char DT
I>1 tRESET 0s
I>2 Function DT
I>2 Current Set 1,5 x In A

Figura 1 – Objeto sob teste

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2– Dispositivo de Proteção

Figura 3 – Definição da Característica


4. TESTE PRONTO

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 4 – Teste a ser realizado

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 18: Modelo de Teste – Relé Micom P343 (50/51) 122
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 19 : Modelo de Teste


Relé ZIV - ZLS (50/51)
Resumo è Alavanca de Tempo = 0,6
è Curva - IEC (VI)
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da è Ipickup = 1 A
função sobrecorrente (50/51) do relé ZIV.
2. CONSTRUÇÃO DA CURVA
1. AJUSTES E CÁLCULOS CARACTERÍSTICA

Neste caso a elaboração dos cálculos e a Utilizando o software Overcurrent, são


apresentação dos ajustes são relativamente apresentadas as telas de configuração do teste,
simples, sendo eles: relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.
É configurada a tela Ajuste do Dispositivo,
com os dados nominais do sistema e a descrição
do equipamento ser testado.

Tabela 1 – Configuração das saídas do relé

Figura 1 – tela de parametrização do relé

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 – tela de Ajustes do Dispositivo

Na tela Protection Device são as São definidos os parâmetros do grupo de


características do dispositivo de proteção, como falta com as correntes de pickup e o dial de
as tolerâncias de tempo e corrente, o grupo de tempo.
falta a ser testado, bem como a direcionalidade
do sistema de proteção.

Figura 3 – tela do Dispositivo de Proteção

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 19: Modelo de Teste – Relé ZIV ZLS (50/51) 124
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Para a definição da curva tempo-corrente, curva IEC VI (muito inversa), e de posse da tabela
parametrizando a atuação do relé, utilza-se a dos pontos de tempos correspondente a corrente
opção Curva Pré Definida – IEC Muito Inversa. aplicada, os dados são inseridos no software.
Definida a curva, segundo a
parametrização do relé a ser testado, no caso a

Figura 4 – Opções de características IEC

Figura 5 – Definição de característica

3. AJUSTES DO TESTE

São definidos os intervalos para aplicação


dos pontos de teste sobre a curva tempo-
corrente, definida no item anterior. A tela Add
Multiple mostra que deve-se definir o intervalo de
teste, ou seja, os valores iniciais e finais do
intervalo e o passo de aplicação dos pontos
dentre do intervalo definido.
Figura 6 – Definições dos pontos de teste

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 19: Modelo de Teste – Relé ZIV ZLS (50/51) 125
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Automaticamente o software indica o Assim, a figura 7 mostra a tela de teste


número total dos pontos a serem testados. pronta para executa-lo.
Quanto o operador aciona Add to Table, tais
pontos são plotados na tela de teste.

Figura 7 – Tela de teste

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 20 : Modelo de Teste


Relé Beckwith M3425A (51N)
Resumo
1. CONCEITUAÇÃO
Este texto mostra passo a passo a
montagem dos procedimentos de teste da É utilizada para a proteção de faltas à
função sobrecorrente (51N) do relé – Relé terra. A família de curvas abaixo obedecem a
Beckwith M3425A. norma IEC Very Inverse..

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 20: Modelo de Teste – Relé Beckwith M3425A (51N) 127
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

2. AJUSTES

3. TESTES

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Tabela mostrando
a avaliação dos
pontos testados
Teste executado sob
a característica
gráfica da função
51N

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 21 : Modelo de Teste


Relé SIEMENS 7SA611 (21)
RESUMO

Este texto mostra passo a passo à


montagem dos procedimentos de teste da
função distância (21) do relé 7SA611

1. CONEXÕES

É mostrado o diagrama de conexões do


relé 7SA611.

Figura 2 – Característica d relé 7SA611

2.1. Parametrização do Relé

2.1.1. Zona 1

Figura 1 – Diagrama de conexões

2. CONSTRUÇÃO DA CURVA
CARACTERÍSTICA

Utilizando o software Advanced Distance,


são apresentadas as telas de configuração do
teste, relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.
A característica parametrizada dos ajustes
de zona no relé 7SA611 é mostrada na figura 2,
a seguir.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 130
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

2.1.2. Zona 2

2.1.3. Zona 3

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 131
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

2.1.4. Zona 4

2.1.5. Zona 4 extendida

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 132
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

2.2. Ajustes do Dispositivo os dados parametrizados na ordem de ajuste do


relé.
A ordem de ajuste mostrada neste capítulo
É configurada a tela “Ajustes do figura apenas como exemplo didático. Através
Dispositivo”, com os dados nominais do sistema das ferramentas para ajustes de zona e edição da
e a descrição do equipamento ser testado. As característica da função 21, o testador pode
zonas de proteção são configuradas segundo os facilmente modifica-las.
procedimentos apresentados no capítulo 9, com

Figura 3 – Ajustes do dispositivo

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 133
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

2.3. Configuração de Hardware

Zona 1 Fase-Terra

Zona 2 Fase-Fase

2.4. Montagem da Curva Característica

Zona 1 Fase-Fase

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 134
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Zona 2 Fase-Terra Zona 4 Fase-Fase

Zona 3 Fase-Fase ona 4 Fase-Terra

Zona 3 Fase-Terra Zona Estendida Fase-Fase

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 135
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Zona Estendida Fase-Terra

2.5. Montagem das linhas de Teste

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 21: Modelo de Teste – Relé SIEMENS 7SA611 (21) 136
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 22 : Modelo de Teste


SEL 321 (21)
Resumo faltas, e pode ser configurada segundo as
características de proteção de zona escolhidas
Este texto mostra um exemplo de pelo usuário.
montagem da curva característica para o teste da Assim mostramos como exemplo a
função distancia (21) do relé SEL 321 montagem de algumas zonas de proteção da
função 21 do relé SEL321 segundo descrito no
capítulo 09.
1. CONSIDERAÇÕES INICIAIS

A proteção de distância pode ser


habilitada ou desabilitada para todos os tipos de

Figura 1 – Ajuste do Dispositivo

:
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SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

2. CARACTERÍSTICA DE ZONA 1 FASE-TERRA - QUADRILATERAL

Z1ANG = 86,52 Z1ANG = 86,52


RG! = 4 Z1MAG = 3,96

Figura 2 - Característica de Zona 1 Fase-Terra - Quadrilateral

:
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Parte IV: Configurações de Teste

3. CARACTERÍSTICA DE ZONA 1 FASE-TERRA - MHO

Z1MG = 3,96 Z1ANG = 86,52

Figura 2 - Característica de Zona 1 Fase-Terra – MHO

:
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Parte IV: Configurações de Teste

4. CARACTERÍSTICA SEL 321 – FUNÇÃO 21

Figura 3 Característica SEL 321 – função 21

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 23 : Modelo de Teste


Relé Micom P437 (21)
Resumo Veremos neste capitulo a conceituação da
função distância para o rele P437.
Este texto mostra passo a passo a Mostraremos também a utilização do
montagem dos procedimentos de teste da software de comunicação e a respectiva
função distância (21) do relé Micom P437. parametrazação da função para o ensaio com a
mala OMICRON.
1. CARACTERÍSTICA DE OPERAÇÃO DO
RELE

Figura 1 – Caracteristica de operação

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 – Elementos da caracteristica de operação

Figura 3 – Parametrização e ajustes do rele (1)

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 4 – Parametrização e ajustes do rele (2)

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 5 – Parametrização e ajustes do rele (3)

2. CONSTRUÇÃO DA CURVA É configurada a tela Ajuste do Dispositivo,


CARACTERÍSTICA com os dados nominais do sistema e a descrição
do equipamento ser testado.
Utilizando o software Distance, são
apresentadas as telas de configuração do teste,
relativas ao primeiro passo da Lei de OHM.

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 3 – Característica de operação do relé

ZONA 1 FASE-FASE

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

ZONA 1 FASE-TERRA

ZONA 2 FASE-FASE

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

ZONA 2 FASE-TERRA

ZONA 3 FASE-FASE

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

ZONA 3 FASE-TERRA

3.

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 24 : Modelo de Teste


Relé SEL587 (87)
Resumo 1. AJUSTES E CÁLCULOS
Os ajustes e cálculos da parametrização do
Este texto mostra passo a passo a montagem dos SEL587 são apresentados no anexo.
procedimentos de teste da função diferencial de
fase (87) do relé SEL587.
2. CONEXÕES E ESQUEMAS DO RELÉ

Figura 1 – Painel de conexões do relé SEL587

Figura 2 – Diagrama de ligação

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 3 – Diagrama lógico do relé

3. MONTAGEM DA CURVA CARACTERÍSTICA

Figura 4 – Característica de operação do relé

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Start Point1

Ibias = 0
Idiff = 0,3

End Point1

Ibias = 1,2
Idiff = 0,3

Figura 5 – Característica de operação do relé

3.1. Primeiro Ramo


Figura 6 – Primeiro Ramo da característica de
0,25 = CD / OC
operação do relé
0,25 = 0,3 / OC => OC = 1,2
IBIAS1 = 1,2

Figura 7 – Construção do primeiro ramo

3.2. Segundo Ramo AB = 0,75 => Idiff2 = 0,75


Start Point2
0,25 = AB / OB => 0,25 = AB / 3 Ibias = 1,2

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Idiff = 0,3

End Point2

Ibias = 3
Idiff = 0,75

Figura 8 – Segundo Ramo da característica de


operação do relé

Figura 9 – Construção do segundo ramo

3.3 – Terceiro Ramo


Ibias = 3
0,75 = (4 – 0,75) / (IBIAS3 - 3) Idiff = 0,75
IBIAS3 = 7,33 End Point3

Logo, Ibias = 7,33


Idiff = 4
Start Point3

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 10 – Construção do terceiro ramo

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Cap 25 : Modelo de Teste


Relé SIEMENS 7UT512 (87)
RESUMO 1126 Processing of zero sequence current of wind. 2 Io-
elimination

Este texto mostra passo a passo a 1600 TRANSFORMER DIFFERENTIAL PROTECTION DATA
1601 State of differential protection on
montagem dos procedimentos de teste da 1603 Pick-up value of differential current 0.20 I/InTr
função diferencial de fase (87) do relé 7UT512. 1604 Pick-up value of high set trip 8.0 I/InTr
1606 Slope 1 of tripping characteristic 0.25
1607 Base point 2 for slope 2 of tripping charact. 2.5 I/InTr
1608 Slope 2 of tripping characteristic 0.50
1. AJUSTES E CÁLCULOS 1610 State of 2nd harmonic restraint on
1611 2nd harmonic contend in the different. current 15 %
1612 Time for cross-blocking with 2nd harmonic 2 *1P
1613 Choice a further (n-th) harmonic restraint 5th
Os ajustes e cálculos da parametrização harmonic
do Relé 7UT512 são apresentados anexos. 1614 n-th harmonic contend in the differen. current 30 %
1615 Active time for cross-blocking with n-th harm. 2 *1P
1616 Limit IDIFFmax of n-th harmonic restraint 1.5 I/InTr
1617 Max. blocking time at CT saturation 8 *1P
2. MONTAGEM DA CURVA 1618 Min. restr. current for blocking at CT satur. 7.00 I/InTr
CARACTERÍSTICA 1625 Trip time delay of diff. current stage IDIFF> 0.00 s
1626 Trip time delay of diff. current stage IDIFF>> 0.00 s
1627 Reset delay after trip has been initiated 0.10 s

2.1. Ajustes 2100 BACK-UP OVERCURRENT PROTECTION


2101 State of back-up overcurrent protection on
2103 Pick-up value for high current stage I>> 30.00 I/In
2104 Delay time for I>> TI>> +* s
Settings Parameter set A
2111 Overcurrent time stage characteristic Normal
1100 TRANSFORMER DATA
inverse
1102 Rated voltage of winding 1 of transformer 138.0 kV
2112 Pick-up value of overcurrent time stage I> 30.00 I/In
1103 Rated apparent power of winding 1 40.0 MVA
2113 Delay time for I> TI> +* s
1104 Primary rated current of CT winding 1 300 A
2114 Pick-up value of overcurrent time stage Ip 1.44 I/In
1105 Starpoint formation of CT winding 1 Towards
2115 Time multiplier for Ip (inverse time IDMT) Tp 1.30 s
transformer
2116 Method of RMS calculation for IDMT Without
1106 Processing of zero sequence current of wind. 1 Without
harmonics
1121 Vector group numeral of winding 2 1
2118 Reset delay after trip has been initiated 0.10 s
1122 Rated voltage of winding 2 of transformer 13.8 kV
2121 Effective stage after manual closing of CB Ineffective
1123 Rated apparent power of winding 2 40.0 MVA
1124 Primary rated current of CT winding 2 2500 A
2900 MEASURED VALUE SUPERVISION
1125 Starpoint formation of CT winding 2 Towards
2903 Symmetry threshold for current monitoring 0.50 I/In
transformer
2904 Symmetry factor for current monitoring 0.50

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 1 – Painel de conexões do relé SEL587

3. MONTAGEM DA CURVA CARACTERÍSTICA

Figura 2 – Curva de Slopes – 7UT512

3.1. Primeiro Ramo Idiff = 0,2 (1603)

Ponto Final1
Ibias = 0,8
Idiff = 0,2

0,25 = AB / OB
Ibias1 = 0,2 / 0,25
Ponto Inicial1 Ibias1 = 0,8
Ibias = 0

:
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Parte IV: Configurações de Teste

3.2. Segundo Ramo 8 – 0,25 x Ibias2 = 9


Ibias2 = 5
Idiff2 = 1,25

Logo:
Ponto Inicial2
Ibias = 0,8
Idiff = 0,2 (1603)

Ponto Final2
Ibias = 5
Idiff = 1,25

0,5 = 8 / (Ibias3 – 2,5) 3.3. Terceiro Ramo


Ibias3 = 18,5
Ponto Inicial3
Ibias = 5
Idiff = 1,25
Ponto Final3
Ibias = 18,5
Idiff = 8 (1604)
0,25 = Idiff2 / Ibias2 (1) Resumindo:
0,5 = (8 – Idiff2) / (18,5 – Ibias2) (2)
8 – Idiff2 = 9,25 – 0,5 Ibias2 Idiff Ibias
PInicial Pfinal Pinicial Pfinal
De (1) Temos 1 0,2 0,2 0 0,8
2 0,2 1,25 0,8 5
3 1,25 8 5 18,5
Idiff2 = 0,25 x Ibias2
Tabela 1 – Resumo
Substituindo, Temos
Utilizando o software Omicron Test Universe,
módulo Advanced Diferential, temos :

Segundo Ramo

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Segundo Ramo

Terceiro Ramo

:
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Parte IV: Configurações de Teste

4. MONTAGEM DA CARACTERÍSTICA DE 4.2. Quinto Harmônico


RESTRIÇÃO HARMÔNICA

4.1. Segundo Harmônico

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Cap 26 : Funções Especiais de


Proteção: SWITCH ONTO FAULT
Relé SEL321
Resumo A lógica de SOTF (Switch Onto Fault)
permite especificar elementos para Trip por um
Este texto apresenta um exemplo de teste tempo ajustável após o fechamento do Disjuntor.
da função SOTF em um relé SEL 321 Esses elementos são especificados na
variável lógica chamada MTO.

1. CONSIDERAÇÕES INICIAIS

Figura 1 – Lógica de SOTF em um relé SEL321

Temos duas maneiras de trabalhar com


essa função : 2. REALIZAÇÃO DO TESTE
ENCLO = Y
Para o teste desta função criamos dois
Após o fechamento do disjuntor, a saída estados :
SOTFE é imediatamente ativada, essa saída No primeiro estado simulamos o disjuntor
permanece nessa condição pelo tempo ajustado aberto (saída binária 1 desativada), e tensões e
por SOTFD. correntes ajustadas em 0V e 0A respectivamente.
No segundo estado simulamos o
EN52A = Y fechamento do disjuntor (saída binária 1) ativada
e tensões e correntes com valores nominais.
Nesse caso, quando o disjuntor for Este sinal é injetado no relé e colhidas as
aberto, depois de decorrido o tempo ajustado em informações de sua atuação.
52AEND, a saída SOFTE é ativada. Essa saída A figura 2 mostra configuração dos
permanece nessa condição pelo tempo ajustado estados e a figura 3 mostra a oscilografia do teste
por SOTFD. realizado.

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 – Construção dos estados para teste da Lógica de SOTF

Figura 2 – Resultado de teste da Lógica de SOTF

2.1. Análise dos resultados § No instante do fechamento do disjuntor, o


sinal de SOTFE permanece por 522 ms,
aproximadamente 30 ciclos (ajuste de
§ No instante da abertura do disjuntor, o SOTFD).
sinal SOTFE foi imediatamente ativado.

:
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 27 : Funções Especiais de


Proteção: STUB – Relé SEL321
Resumo
a) No primeiro, simulamos a seccionadora de
Este texto apresenta um exemplo de teste linha fechada e aplicamos um valor de
da função SOTF em um relé SEL 321 corrente superior ao ajuste da unidade
50M.

1. CONSIDERAÇÕES INICIAIS b) No segundo, simulamos a abertura da


seccionadora de linha, e aplicamos um
A função STUB protege o trecho do valor de corrente inferior ao ajuste de
barramento, caso a seccionadora de linha estiver 50M.
aberta.
Essa lógica é definida na variável lógica c) No terceiro estado, simulamos a
MTU. seccionadora de linha aberta e aplicamos
um valor de corrente superior ao ajuste da
M1P + Z1G + Y + 67N1 + 51NT + 3P59 + unidade 50M.
50M*LP1 +\ Z2G*LP2 + M2P*LP2 + W*!SPTE +
ECTTT*LP1 A figura 2 mostra configuração dos
estados e a figura 3 mostra a oscilografia do teste
2. REALIZAÇÃO DO TESTE realizado.

Para o teste desta função utilizamos o


State Sequencer da OMICRON e criamos três
estados :

Figura 1 – Construção dos estados para teste da Lógica de STUB

:
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Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 – Resultado de teste da Lógica de STUB

2.1. Análise dos resultados


§ No terceiro estado, todas condições
necessária à ativação da lógica de STUB
§ Nos dois primeiros estado não houve saída foram satisfeitas.
de trip, como era de se esperar.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 27: Funções Especiais de Proteção: STUB – Relé SEL321 162
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DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Cap 28 : Funções Especiais de


Proteção: OUT OF STEP
Resumo Quando a impedância permanece entre as
zonas 5 e 6 por um tempo superior que OSBD, a
Este texto apresenta um exemplo de teste lógica do relé, bloqueia o trip por até dois
da função Out of Step – OOS – em um relé SEL segundos.
321 A característica OOS não afeta a proteção
de falta à terra.
É montada a característica quadrilateral
1. CONSIDERAÇÕES INICIAIS exemplificando a característica OOS, mostradas
na figura 1 e 2 a seguir.
A característica retangular usa impedância
de seqüência positiva e supervisão de
sobrecorrente.

Figura 1 – Característica quadrilateral da função OOS - interior

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 28: Funções Especiais de Proteção: Out of Step 163
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 – Característica quadrilateral da função OOS - exterior

2. REALIZAÇÃO DO TESTE No primeiro estado, a impedância


permanece fora da característica de oscilação por
um tempo de 500 ms.
Para o teste desta função utilizamos o No segundo estado, a impedância
State Sequencer da OMICRON e criamos três permanece entre a zona 6 e a zona 7 por um
estados. tempo superior a dois segundos.

Figura 2 – Resultado de teste da Lógica de OOS

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 28: Funções Especiais de Proteção: Out of Step 164
SISTEMA DE TESTE E ENSAIO DE PROTEÇÃO
DE SISTEMAS ELÉTRICOS OMICRON

Parte IV: Configurações de Teste

Figura 2 – Resultado de teste da Lógica de OOS

2.1. Análise dos resultados


sendo desativada após dois segundos de
Podemos observar que a saída OSB permanência da impedância entre a zona 5 e
(Bloqueio por oscilação) apareceu após 50.10 ms, zona 6.

:
© ADIMARCO Representações e Serviços LTDA CAP 28: Funções Especiais de Proteção: Out of Step 165

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