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C6pia impressa
CENWIN
) NB-1326
Controle estatistico para preven@io e
detec@io de desvios da qualidade,
durante processes de fabrica@o, por
meio de grhficos
CDU:
ABNT-Assocla~ao
Brasllelra
de
Normas Tkhicas
pelo Sistema
621.3:519.248
NOV./I
990
Procedimento
Registrada
no INMETRO
NBR 3 - Norma Brasileira
coma NBR
Registrada
11469
Origem:
Projeto 03:056.02-016/88
CB-03 - Cornit& Brasileiro
de Eletricidade
CE-3:056.02
- Comissao
de Estudo de Controle
e Certificaoao
da Qualidada
NB-1326
Control chart techniques
for prevention
and detection
and quality
deviations
when manufacturing
Procedure
Esta Norma foi baseada
na BS 2564/l 985
Palavras-chave:
Controle
de qualidade.
Estatistica
SUMhO
2 Documentos
1 Objetivo
2 Dacumentos
complementares
3 Definigbes
4 Generalidades
5 Graficos de controle por variaveis
6 Graficos de controte poratributos
7 Interpretagao
dos greficos de controle
6 Capabilidade
ANEXOA-Testesparedeterminag~odecausasespeciais
em graficos de controle
ANEXO B -Tab&s
ANEXO C - Figures
Na aplicagk
TE-298
1.1 Esta Norma destina-se a servirde guia para a utilizag& do controle estatistico
do process0 par meio de
gtificos.
1.2 Esta Norma se aplice para prevengao e detecgao de
problemas da qualidade dumnte o processo de fabricag&o para apresenter
informagks
essenciais sobre a
qualidade final e corn0 meio auxiliar pare o julgamsnto do
estado de controle alcangado. Faz referencia, em panicular, aos metodos de coletar, ordenar, registrar e analisar OS dados de ensaios de uma forma planejada. pare
preven@o e detecgao de desvios daqualidade
causados
por perturbagdes
no processo.
complementares
consultar:
Terminologia
BS 5703
Guide to data analysis and quality control
usfng cusum charts and tabulations
3 Defini@es
OS termos tecnicos utiiizados
de 3.1 a 3.3 e na TB-298.
3.1 Causa
I Objetivo
1 23 paginas
comum
do processo
processo produzirunidades
con a especificagao.
doprodutoem
Cpiaimpressa
no autorizada
C6pia
pelo Sistema CENWIN
NB-1326/1990
c) medidas
4 Generalidades
4.1 Todo processo apresenta
variabilidade.
desta variabilidade
podem serde dois tipas:
As causas
de propor@o
- fm@o defeituosa
- defeitos
(p);
par unidade
(u);
a) causas especiais;
d) medidas
de quantidade
b) causas comuns.
4.2 Urn processo 6 considerado
sob controk estatistico
quando todas as causas especiais
fOram eliminadas,
apresentando
some&
causas comuns.
4.3 Uma causa especial pode ser atribuida
B falta de
uniformidade
dos insumos que COmpdem
0 processo,
quais sejam, mat&a-prim,
m%ade-obra, ndquina, m&do,
meio ambiente.
nljmero
de defeituosas
ntimero
de defeitos
de controk
b) gr&fico de controk
4.4 0 controk
estatistico
do processo B uma t&znica
baseada na teoria estatistica
que tern corn0 objetivos
pnncipais:
a) eliminar
as causes especlals;
a variabilidade
media (x);
mediana
b) medidas
da
par variGveis;
par atributos.
comumente
utilizadas
s&a:
OS seguintes
tipos de grificos
a) par variSvei,
- x
s (mgdia
e desvio-padrHo);
x - R (media e amplitude);
- X R (median?.
e amplitude);
b) par atributo,
- p (fra@o
np (ntimero
defeituosa);
de defeituosas);
- u (defeitos
par unidade);
- c (ntimero
de defeitos).
(xl;
de dispen&o
desvio-padrao
- amplitude
Bs medidas
do processo.
a) medidas
quanta
de itens defeituosos;
4sOsdadosdesubgrupos
devemserregistradosem
urn
grifico de controk que contern dois segmentos de retas
parakks horizontais. que determinam OS limites de mntrok
do processo, e urn segment0 de reta horizontal, que COTresponde ao valor m6dio.
4.9 As medidas
(c).
4.10 OS grificos
de controle,
qualidade,
podem ser:
a) grifico
(np);
(R);
(s);
4.13 Normalmente,
OS subgrupos S&J retimdos de forma
mcional em fun&
do tempo. Entretanto,
o m&do
de
gr8cos de controk pode seraplkado
igualmente a divis&s
de subgr~pos
baseados em fatores t&nicos que afetem a
fabricago,
taiscomoo
operador, a mequinaoua
mat&iaprima.
Cpia no autorizada
C6pia impressa pelo
Sistema CENWIN
NB-I 326/I 990
altera@es
bzisicas
no processo
de
b) alter.?& se possivel,
c) proceder
100%.
os limites de especifica@o;
$ retifica$Bo
da qualidade
de controle
pr&ticas:
$ inspe@o
estatistico
5 Grhficos de controle
por varihels
Cpia no autorizada
C6pia
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pelo Sistema
CENWIN
NB-132611990
de controle
pars mCdias
mbveis
entre OS gkficos
de controle
par
da tidia.
Akm disso, no gr&fico da mediana, OS valores
individuais sao geralmente
registrados
graficamente
e
conseqtientemente
a dispe&o
dos valores individuais B
mais facilmente percebida, fomecendo
uma melhorconfigura@o do andarnento do pro-o.
Entretanto, a estimativa
da m&die do processo, obtida do grifico da mediana, 6
menos eficaz que a obtida no gtifico da mbdia. Corn0
resultado disso, o intewalo entre os limites de controk
para a mediana B maior do que pam a mhdia, podendo
corn isso reduzir a eficigncia do wntrole do processo.
5.x 0 g&co de controk da amplitude B mais ficil de ser
usado que o do desvio-padtio
que exige c~lculos mak
complexes. Entretanto, o desvio-padrio
B urn estimador
mais eficiente da variabilidade
do processo
do que a
ampkde,
especialmznte quardo cada sutgrupo amosbado
tern umtamanho
maiorque 8. Emcontraposi@o,
o grifico
de controle do desvio-padrao B mews sensivel em detectar
varia@zs
devido a causes especiais quando urn valor
individual no subgrupo difere muito dos outros. 0 gr6fico
de controle do desvio-padrso,
devido a sua complexidade,
C utilizado somente para processes automatizados,
porqw
todos OS c&ulos
podem ser programados
e efetuados
automaticamente,
enquanto que 0 gr.Sfico da amplitude,
devido~simplicidadedec.Slculo,
tern-se tornadoo metodo
mais comum de medida da dispersso.
5.4 Grhficos
de controle
cumulativos
de controle
par atributos
quatro
tipos
de
defeituosa);
b) gtifico
np (ntimero
de defeituosas);
c) gtifico
u (defeitos
por unidade);
d) gtifico
c (ntimero
de defeitos).
de grificos
C6pia impressa
Cpia no autorizada
NB-1326/1990
7 InterpretqCo
relative
B posi@o
petmite determinar
se a
de
Cpia no autorizada
C6pia
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pelo Sistema
CENWIN
NB-1326/1990
R3 0 irdice de cap&Made
do ~casso
(Cp) 6 determiwx+z
pela raz&o do valorda amplitude entre OS limites de espe
cfiica@o pare a dispenHo
do processo (ver Figura 9 do
Anexo C). Adisperstio
do processo 6 normalmente fixada
em seis vezes o desvio-padrso.
6.4 Em geral, o processo deveria ester centrado no valor
nominal da espectiica@o.
Entretento, isto pode n80 ser
economicamente
vi&e1 se OS estudos de capabilidade
revelerem urn indice de capabilidade
do processo menor
que 1. Emcontraposi@o.
seo processo t&rum
indice de
capabilidade
maior que 1 e a sue media estivet descentralizada, o processo dew ser ajustado no valor nominal
da especifica@o
a fim de evitar o refuge.
=
x
dos subgrupos
amosno estudo de cape-
Xi
x
k
k
nlimero
de subgrupos
amostrados
8.4.1 A porcentegem
de produtos sendo produzidos fore
dos limites de especifica$Bo
pode ser determinada
pelo
fator
conform
Tab&
4 do Anexo B, e @as seguintes
f&mules:
zj=
.x
dispersgo
2
? - limite inferior da especifica@.o
z=
disperseo
2
Onde:
Z,
Z,
IANEXOS
Cpia no autorizada
C6pia impressa
NB-1326/1990
pelo Sistema
CENWIN
7
ANEXO
A - Testes
para determinaqb
de causes
especlais
que 0s quatro
prim&a
testes sejam
LscK----px
------
B
A
LIC
de controle
em gr&ficos
LSC
----_
\
--------_
X
Teste
1 - Urn ponto
al&m da Zona A
for
M
de
Teste 2 - Now
pontos
seguidos
na Zona
Cpia no autorizada
C6pia
impressa
pelo Sistema
CENWIN
NB-1326/1990
LSC
_--------
LIC
---------
-------__
Teste 4 - Quatorze
pontos
alternativamente
para baixo
seguidos
continuamente
ou descendentes
seguidos
para clma e
--
Teste
LSC
seguidos
na
--
pontos
--
seguidas
na
_--------
LIC
---------
seguidos
em ambos OS lsdos
da llnha central sem nenhum
a Mona C
IANEXO B
C6pia impressa
NB-1326/1990
Cpia no autorizada
pelo Sistema
CENWIN
9
ANEXO
Tab&
1 - Fhmulas
para 05 calculus
usadas
Estimador
de
variabilidade
do processo
Gtifico
e
controle
B -Tab&s
dos
limites
de controle
Limites
Medidas
posi@o
de
x-s
par
variiveis
de controle
Medidas
disperse%
de
LSC=B,s
LIC=:-A,s
LSC
= x=+ Ad .S
k-s
LIC=B,&
2 Si
5=
LIc=:-A.s
k
i-R
LSC=x=+A,R
LIC
x-R
PI= -
z R)
k
b) k = mimer,
de subgrupos:
LX = limite superior de controle;
LIC = limite inferior de controle.
= ; -A,
LSC
= D, 6
LIC
= D, 6
LSC=K+&k
LIC
= ; -A*
Cpia no autorizada
C6pia
ICI
impressa
pelo Sistema
CENWIN
NE-1326/1990
Tab&
2 - Fatores
usados
nos c&x~los
dos limltes
Fatores
de controle
porvari6veis
C6pia
Cpia
no autorizada
pelo
Sistema
CENWIN
impressa
11
NB-I 326/1990
Tabela
3 - Fbrmulas
usadas
faara OS c~lculos
dos limites
de controle
Valor
registrado
no
g rifico
Tips de
gtifico
de
controk
Limit%
Inferior
p=
Pm
X di
rj=
p-3
\i
X:nl
Nlimero de
defeituosas
GrAfico np
c
$.I= -
u+3
\i
Nlimero
de defeitos
Grhfico c
i-3
2 c,
CT
NOtas:
VOLE. noczilculodolimite
a) c = mimero
de defeitos
b) d = mhero
de defeituosas
c)
n = nchero
de unidades
d)
h=
infetiordecontrole6abtidoum
enmntrado
negative.
em cada subgrupo;
enmntrado
exktentes
v%t
em cada subgrupo:
em cada subgrupo
amostrado;
Yi ,
-
= m&da
dos tamanhas
das subgrupos
amostiados
k
e)
k = nhwo
de subgrupos
amostrados
considerado
para o c.4culo.
e considerada
;
\r
il
Algumas
il
Z di
nb=
iu
de controle
FraGZ!O
defeituosa GrAfico P
Nlimero
de defeitos
Par unidade
Grifico u
par atributos
para
o &icu!o;
mntrole6
iguaj azero,
no autorizada
C6piaCpia
impressa
pelo Sistema CENWIN
12
Tab&
Z8 0
o,o
2,
4 - Porcentagem
NB-132611990
0.00
0,Ol
0,02
0,03
0,0-l
0,os
0,06
0.07
0,08
0.09
50,o
48,8
47,6
46,4
45.2
44,4
42.9
41,7
40,5
39,4
34,8
33,7
32,6
0.1
38,2
37,l
35,9
31,6
30.5
29.5
28.4
02
27,4
26,4
25.5
24,5
23,6
22,7
21,a
20.9
20,i
19.2
0,3
18,4
17,6
16,9
16,i
15,4
i4,7
14.1
!3,4
12,7
12,i
0,4
11,s
IO,9
IO,4
9.3
69
8.4
7,!2
7,s
7,j
%,I
38
0.5
687
6,s
53
56
5,3
5,O
4.7
4,4
0.6
3,6
3,4
3.1
2,9
2,7
2,6
2,4
2,:
2.1
13
0.7
I,8
I,7
1.5
I,4
I3
1.2
Ll
to
1.0
02
0.8
0,8
0,7
086
035
0,5
0.5
0,5
0.4
O,4
0,2
a1
02
0,2
0.2
02
0.1
0,l
0.1
0,1
0,1
0.9
0,4
Of3
03
0,3
1.0
0,1
0.1
0,1
0,1
IAN EXO c
C6pia
Cpia
no autorizada
pelo
Sistema
CENWIN
impressa
2x
= -
= 23,82
k = 25 subgrupos
27 7
Limite
superior
de controle
(LSCi
= itA,%)=
126,441
i-A,:)
= (21,2)
26 -
'1 s
Limile
inferior
Limite
superisr
de controle
de
(LIE,=
controle
(LSCs
= 6,
. s I = (3,431
3.
t;- 2.
. .
. . . . . . ..
...
inferior
de
controle
. . . . . . .. . .
. .
1 -
. . . . _.
H= 1.64
OLimite
Nota:
OS valores
a Tab&
1 -
2.
Grkfico
de controle
par varikeis
(x - s)
(LICs
= B,
s)=
(01
C6pia
14
Cpia no autorizada
impressa
pelo Sistema
CENWIN
NB- 1326/1990
z.
X=
XR
xx
~
k=
= 23,82
= 4,44
k = 25 subgrupos
27 x
Limite
superior
de
controle
lLSCX
=+A,i?i
i 126,38)
26
V
Limite
Limite
inferior
de
controle
superior
de
cantrole
I LICrX
(LSCR=
x:23,82
= 1 - A,
D4
RI = (9,391
..
El = (21,261
.. .
R=4,44
OJ
Nota:
Limite
OS valores
de 4,
D, B D, Go obtidos
Figura
a TaMa
inferior
de
controle
2.
2 - GrAflco
de controlc
par vari6veis
(x, R)
ILICR
= D,
ii)=
(0)
Cpia no autorizada
Cpia no autorizada
C6pia impressa
16
0 pracesso
precisa ser
reajustado quando il
ultrapassa
LSCX
VariaFdo
-1
devido
ciclo
a urna
couso
do processo
Linha da
tendencia
especial
I
Process0 reajustodo, os
limites precisam ser
reDosicionados.
LSCT(
= x+A
R +0,5hii
~Icji
=%-A
-0,5,AX
TI = difer&a
entre a media mdxima (51 m6x.l e a media
cada ciclo do processo.
R 6 a amplitude
m8dia.
Ax= Ax
m= nljmero
+ Ax
estd
m
+.
tabela
no Tabela
minima
. .Axn
de ciclos considerados
Figure 4 - Gr6fico de controle por varihels
(xmin.)
em
C6pia
impressa
Cpia
no autorizada
pelo
Sistema
CENWIN
17
NE-1326/1990
Fra@o
ni
defeituosa
(p)
Cpia no autorizada
C6pia
impressa
pelo Sistema
CENWIN
NB-1326/1990
18
defeituosa
ni
di
3w
300
0.0200
0.0225
8
13
9
400
0,06
SeqKmia
Flgura
5 - Gkfico
dos subgrupos
de controle
par atrlbutos
- Fra+o
defeltuosa
(p)
C6pia
Cpia no autorizada
pelo
Sistema CENWIN
impressa
NB-I 326/l
990
19
Ntimero
Figura
de defeituosas
(np)
10 11 ?2 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
Seqihcia
dos Subgrupos
6 - Gr6fico
de controle
par atributos
- Ntimero
de defeituosas
(np)
Cpia no autorizada
C6pia
20
impressa
pelo Sistema
CENWIN
N&1326/1990
/continua
Cpia no autorizada
C6pia
impressa
NB-I
326/l
pelo Sistema
CENWIN
21
990
22
23
24
25
O*
4 2 3 4 5 6 7 8 9 1044 4243144516471819~22122232425
Seqiikcia
Flgure
7 - Grilfico
de controle
dos subgrupos
par atributos
- N&mero
de defeitos
par unidade
(u)
Cpia no autorizada
C6pia
impressa
pelo Sistema
CENWIN
22
NB-1326/1990
Nlimero
Nota:
de defeitos
(c)
k = nLinler0 de *bgrpos.
607
60 .
40.
c
20 *
Flgura
IO 11 12 13 14 15 76 17 38 19 20 21 22 23 24 25
Seqiihcia
dos subgrupos
8 - Griflco
de controle
par atrlbutos
- Nlimero
de defeitos
(c)
Cpia no autorizada
C6pia
impressa
pelo Sistema
CENWIN
23
NB-132611990
Tolerrincia
DispersEo
especificada
I
Process0
cp-
LSE
Process0
LIE
cp=
Dispersao do processo
incapaz
- LIE
Dispersh
do processo
do process0
LIE
I
LS E
I
=x LIE
I
I
I
I LSE-i
j
I
I
I
)
Dispersfio
I
2
DispersZIo
2
z,
LSE
Posicionamento
processo
capaz
-
do
=x-LIE
Z,=
Disp/2
9 - indices
LSE-
=x
D isp/2
zs <
Figura
I
1
ZI-
de capabilidade
Zs
do processo
= Cpk
<