Fontes Chaveadas - Cap.

12

CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

J. A. Pomilio

12. CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

Apresentaremos aqui alguns aspectos que servem caracterizao do desempenho
das fontes chaveadas, bem como outros temas relacionados com o enquadramento do
equipamento dentro de normas internacionais de comportamento.
12.1 Requisitos de qualidade na alimentao de equipamentos sensveis
Especialmente para os equipamentos de computao, so estabelecidos limites em
termos da qualidade da energia a ele suprida. No existem, ainda, padres industriais
reconhecidos, no entanto, graas ao de grandes usurios (especialmente militares), a
CBEMA (Computer Business Equipment Manufacturers Association) adotou as curvas
mostradas na figura 12.1. Estas curvas aparecem na norma IEEE 446 como prtica
recomendada para sistemas de alimentao de emergncia, em aplicaes industriais e
comerciais.
As curvas definem um envelope dentro do qual deve estar o valor eficaz da tenso
suprida ao equipamento. Ou seja, quando os limites forem violados, o sistema de
alimentao ininterrupta deve atuar, no sentido de manter a alimentao dentro de valores
aceitveis.
Em outras palavras, se a tenso de alimentao estiver dentro dos limites no deve
ocorrer mal-funcionamentos do equipamento alimentado. Violaes dos limites podem,
ento, provocar falhas, que devem ser evitadas.
Via de regra, quem suporta a alimentao do equipamento na ocorrncia de falhas
de curta durao so as capacitncias das fontes de alimentao internas, de modo que,
eventualmente, mesmo violaes mais demoradas do que aquelas indicadas podem ser
suportadas.
Nota-se na figura 12.1 que, em regime, a tenso deve estar limitada a uma sobretenso de 6% e uma subtenso de 13%. Quanto menor a perturbao, maior a alterao
admitida, uma vez que os elementos armazenadores de energia internos ao equipamento
devem ser capazes de absorv-la. Assim, por exemplo, a tenso pode ir a zero por meio
ciclo, ou ainda haver um surto de tenso com 3 vezes o valor nominal (eficaz), desde que
com durao inferior a 100 s.
12.2 Tempo de sustentao da tenso de sada (Hold-up)
Este teste determina o intervalo de tempo no qual a sada capaz de manter a
corrente nominal de sada quando ocorre uma interrupo na alimentao.
Esta interrupo na alimentao do equipamento pode ter origem em manobras de
equipamentos alimentados pela mesma rede, causando uma queda na tenso CA (ou CC)
com durao maior que 1/2 ciclo (8,33 ms).
O desempenho esperado determina a energia a ser acumulada nos capacitores a
serem utilizados na entrada e na sada do equipamento, o que pode levar a valores muito
maiores do que os necessrios para a operao em regime, ou seja, apenas para reduzir a
ondulao de tenso advinda do chaveamento.
A figura 12.2 indica o procedimento de teste.

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12-1

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Figura 12.1 Envelope de tolerncia de tenso tpico para sistema de tecnologia da

informao (curva CBEMA superior e curva ITIC inferior).

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12-2

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CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

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+
Fonte

carga
nominal

sob teste

Vi

osciloscpio

Tenso de entrada
100%

0
Tempo de sustentao
Vo

Vomin

Figura 12.2 Teste para verificao do tempo de sustentao da tenso de sada.

12.3 Regulao de linha
O teste relativo chamada regulao de linha mede a alterao na tenso de sada
em resposta a uma mudana na tenso de entrada.
O teste se faz com a fonte operando carga nominal, ou seja, todas as sadas devem
estar fornecendo a corrente nominal. A tenso de sada medida (0,1% de preciso
mnima) em 3 situaes de tenso de entrada: mnima, nominal e mxima. A figura 12.3
mostra o arranjo para medio. A regulao de linha, dada em porcentagem :

Regula o de Linha =

Vomax Vomin
100
Voideal

(12.1)

onde Vomax e Vomin so medidas, respectivamente, mxima e mnima tenso de entrada.

+
Fonte
Vi
ajustvel

Carga
nominal

sob teste

Vo

Figura 12.3 Teste de regulao de linha.

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12-3

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CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

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12.4 Regulao de carga

Este teste mede a alterao na tenso de sada em resposta a uma mudana na

corrente mdia de cada sada da fonte.
O teste feito com tenso nominal na entrada. Cada sada medida com 50% e com
100% da corrente nominal.
Regula o de carga =

Vomax Vomin
100
Voideal

(12.2)

onde Vomax e Vomin so medidas, respectivamente, a 50% e 100% da carga nominal.

+
Fonte

1/2
carga
nominal

sob teste

Vi
nominal
-

1/2
carga
nominal

Vo

Figura 12.4 Teste de regulao de carga.

12.5

Resposta dinmica variao de carga

Embora este parmetro no seja usualmente publicado, ele uma informao

interessante, especialmente para o projetista, uma vez que permite verificar o desempenho
do sistema de controle utilizado.
basicamente um teste para medir o tempo necessrio para que a realimentao
corrija a tenso de sada na ocorrncia de uma variao em degrau na carga.
Este um parmetro que pior nas fontes chaveadas do que nas lineares, dada a
limitao (ao inverso da freqncia de chaveamento) no mnimo tempo de resposta.
Em geral so necessrios alguns ciclos para que ocorra a correo desejada. Isto
ocorre principalmente por que o filtro de sada impede uma resposta rpida mudana na
carga, sendo necessrio algum tempo para que todo o sistema atinja o novo ponto de
operao e possa corrigir a sada.
Tempos muito longos podem indicar um ganho CC muito baixo e ainda uma
freqncia de corte muito reduzida. Quanto mais os parmetros do compensador so
ajustados para uma situao conservativa em termos de estabilidade, pior a resposta
dinmica.
A figura 12.5 mostra o arranjo para a realizao do teste.

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CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

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+
Fonte

1/2
carga
nominal

sob teste

Vi
nominal

1/2
carga
nominal
osciloscpio

carga
100%
50%
tempo de resposta

Vo

Figura 12.5 Teste de resposta dinmica variao de carga.

12.6 Teste de isolao

Este teste verifica se a isolao entre a entrada, chassis e sada(s) excede um valor
de tenso mnima especificado. As tenses de teste so, tipicamente, CA (50 ou 60Hz),
podendo ser substitudas por uma tenso CC com um valor equivalente ao pico da tenso
CA.
O propsito do teste assegurar que no exista possibilidade de que tenses
potencialmente letais advindas da rede ou do prprio equipamento atinjam o usurio final
do produto.
As reas crticas para este teste so as isolaes do transformador de potncia, o
espaamento entre as trilhas da placa de circuito impresso e a isolao para o chassi.
A falha detectada caso ocorra uma corrente acima da especificada durante a
aplicao da tenso ao equipamento.
Alguns cuidados devem ser tomados durante a verificao da isolao, com o
intuito de no danificar os componentes do equipamento. Por exemplo, os fios de entrada
devem ser curto-circuitados, bem como os de sada. O uso de tenso CC mais conveniente
por no permitir a ocorrncia de fugas pelo transformador (acoplamento capacitivo), o que
poderia danificar algum componente. A figura 12.6 mostra o teste com tenso aplicada
entre entrada e sada, enquanto na figura 12.7 tem-se o teste entre entrada e chassis.
Realiza-se tambm o teste entre chassis e sada.
Os componentes colocados entre os terminais de entrada ou de sada e o chassis
devem suportar uma tenso maior que a tenso de teste. Tais componentes so basicamente
os capacitores do filtro de IEM. Tambm aqui deve ser usada uma tenso CC.
A tenso de teste deve ser rampeada em um tempo sempre superior a 2 segundos, de
modo a evitar a induo de tenses elevadas no circuito.

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CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

Alta
Tenso
CC

+
Todas as
sadas e
retornos
curtocircuitados
conjuntamente

Fonte
sob teste

Entrada e retorno
curtocircuitados

J. A. Pomilio

Figura 12.6 Teste de alta tenso entre entrada e sada.

+

Todas as
sadas e
retornos
curto-circuitados
conjuntamente

Fonte
sob teste

Entrada e retorno
Curto-circuitados

Alta
Tenso
CC

Chassi/terra

Figura 12.7 Teste de alta tenso entre entrada e carcaa.

12.7 Interferncia Eletromagntica (IEM)

Dois tipos de interferncia devem ser considerados: a conduzida pela rede de

alimentao e a irradiada.
Diferentes normas, nacionais (VDE - Alemanha, FCC - EUA) e internacionais
(CISPR - IEC), determinam os valores limites admissveis para o rudo eletromagntico
produzido pelo equipamento. No Brasil, a adoo de normas especficas sobre este assunto
est em discusso, seguindo-se, em princpio, as normas IEC-CISPR [12-1] a [12-4].
Estas normas, alm dos limites de sinal irradiado ou conduzido, determinam os
mtodos de medida, os equipamento de teste e classificam os produtos a serem testados em
funo de suas caractersticas prprias e do local onde devem ser utilizados (CISPR 16).
Via de regra, as fontes chaveadas so elementos internos aos equipamentos, devendo-se
utilizar os limites e procedimentos explicitados para tal equipamento.
Os limites mais severos referem-se a produtos utilizados em ambientes "domstico"
(classe B), o que significa, que so alimentados por uma rede na qual existem usurios que
no so indstrias ou estabelecimentos comerciais. Ambientes industriais e comerciais tem
seus equipamentos includos na chamada classe A.
No que se refere IEM conduzida, equipamentos de informtica possuem suas
normas (CISPR 22), enquanto os aparelhos de uso industrial, cientfico e mdico (ISM),
so regulados pela CISPR 11. Aparelhos eletrodomsticos so controlados pela CISPR14.
De modo simplificado, os testes de IEM irradiada devem ser feitos em ambientes
anecicos, quer seja um campo aberto ou uma cmara especial. J as medidas de IEM
conduzida fazem uso de uma impedncia artificial de linha, sobre a qual se realiza a medida
dos sinais de alta freqncia injetados pelo equipamento.

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12-6

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CARACTERIZAO DE FONTES CHAVEADAS

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12.7.1 IEM irradiada

As medidas de IEM irradiada so feitas, tipicamente, para freqncias de 30MHz a
1GHz. As normas VDE estabelecem tambm limites para a faixa entre 10kHz e 30MHz.
Tal procedimento, no entanto, no adotado pelas normas CISPR nem pela maioria das
normas nacionais, que definem apenas a faixa de freqncias mais elevadas.
Os equipamentos ISM so divididos em grupos. No grupo 1 tm-se aqueles nos
quais existe energia em rdio-freqncia intencionalmente gerada e/ou condutivamente
acoplada, a qual necessria para o funcionamento interno do equipamento. No grupo 2
tm-se aqueles nos quais existe energia em rdio-freqncia intencionalmente gerada e/ou
usada em forma de radiao eletromagntica para o tratamento de materiais ou eletroeroso.
O perfil relativo aos limites da classe A determinado pela diviso do espectro, em
funo da sua ocupao pelo sistema de comunicao. Quando houver uma faixa de uso
comercial, a o limite deve ser mais baixo. Por esta razo, este perfil pode ser diferente em
cada pas, adaptando-se utilizao real do espectro.
A captao dos campos eltrico e magntico emitidos pelo equipamento feita por
meio de antenas localizadas em posies normalizadas.
A figura 12.8 mostra os limites da norma CISPR 11 (equipamento ISM) para classe
B. Os limites entre 150 kHz e 30 MHz esto sob considerao.
A origem do rudo irradiado est na presena de componentes de alta freqncia
presentes nas tenses e correntes da fonte (ou mesmo de outros subsistemas do
equipamento). Tais componentes, associados a elementos parasitas (indutncias e
capacitncias), podem produzir fenmenos de ressonncia que potencializam os efeitos de
tal rudo. Para freqncias elevadas, os condutores nos quais circulam as correntes, ou os
terminais nos quais se tem tenso, atuam como antenas, irradiando para o ambiente.
Do ponto de vista do projeto da fonte, no existe uma sistemtica explcita para
minimizar tais problemas, pode-se, no entanto, tomar algumas precaues que visam evitar
o agravamento da situao.
Todos os caminhos nos quais circula corrente elevada devem ter o menor
comprimento possvel, o que implica na proximidade fsica entre os componentes de
potncia. Os elevados dv/dt e di/dt advindos do chaveamento devem ser minimizados por
meio de supressores e amaciadores.
Normalmente as fontes so colocadas dentro de caixas metlicas, as quais confinam
os campos magnticos produzidos (baseando-se na teoria da esfera Gaussiana). A
blindagem deve envolver todo o circuito que produz interferncia, formando um "curtocircuito" em torno a ele. Qualquer juno na blindagem deve ter uma resistncia de contato
muito baixa, sob o risco de se perder sua eficcia.

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12-7

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Limite
dB(uV)
50

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Medidas distncia de 10 m

40

37dB

30

10

30

100
300
Frequncia (MHz)

1000

Figura 12.8 Limites de IEM irradiada para equipamento ISM, grupo 1, classe B
12.7.2 IEM conduzida pela rede
A principal motivao para que se exija um limitante para a IEM que um
equipamento injeta na rede evitar que tal interferncia afete o funcionamento de outros
aparelhos que estejam sendo alimentados pela mesma rede. Esta susceptibilidade dos
aparelhos aos rudos presentes na alimentao no est sujeita a normalizao, embora cada
fabricante procure atingir nveis de baixa susceptibilidade.
A medio deste tipo de interferncia feita atravs de uma impedncia (LISN Line Impedance Stabilization Network) colocada entre a rede e o equipamento sob teste,
cujo esquema est mostrado na figura 12.9. A indutncia em srie evita que os rudos
produzidos pelo equipamento fluam para a rede, sendo direcionados para a resistncia de
1k, sobre a qual feita a medio (com um analisador de espectro com impedncia de
entrada de 50). Os eventuais rudos presentes na linha so desviados pelo capacitor de
1F, no afetando a medio.
Esta impedncia de linha pode ser utilizada na faixa entre 150kHz e 30MHz, que a
banda normatizada pela CISPR. A faixa entre 10kHz e 150kHz definida apenas pela
VDE, estando em estudo por outras agncias. Nesta faixa inferior, a LISN implementada
com outros componentes, como mostrado na mesma figura 12.9.
Tambm so feitas as distines quanto aplicao e ao local de instalao do
equipamento. A figura 12.10 mostra estes limites para a norma CISPR 11 (equipamentos
ISM). O ambiente de medida composto basicamente por um plano terra sobre o qual
colocada a LISN. Acima deste plano, e isolado dele, coloca-se o equipamento a ser testado.
As elevadas taxas de variao de tenso presentes numa fonte chaveada e as
correntes pulsadas presentes em estgios de entrada (como nos conversores para correo
de fator de potncia) so os principais responsveis pela existncia de IEM conduzida pela
rede.
No caso das correntes pulsadas, esta razo bvia, uma vez que a corrente presente
na entrada do conversor est sendo chaveada em alta freqncia, tendo suas harmnicas
dentro da faixa de verificao de IEM conduzida.

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12-8

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.
Rede
CA

..

L1

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L2

9 a 150 kHz

C1

C2

C3

R1

R2

R3

Fonte
Vo

J. A. Pomilio

L1=250uH
L2=50uH
C1=4uF
C2=8uF
C3=250nF
R1=10
R2=5
R3=1k

150kHz a 30MHz
L1=0
L2=50uH
C1=0
C2=1uF
C3=100nF
R2=0
R3=1k

Analisador
de Espectro
(50 ohms)
Figura 12.9 Impedncia de linha normatizada (LISN).
dBuV
100
90
80
70
60

Classe A

50

Classe B

10k

100k

1M

10M

100M

f (Hz)

Figura 12.10 Limites de IEM conduzida pela norma CISPR 11 (equipamentos de uso
Industrial, Cientfico e Mdico - ISM)
A reduo dos nveis de IEM conduzida pode ser obtida com o uso de filtros de
linha [12.6]. Seu objetivo criar um caminho de baixa impedncia de modo que as
componentes de corrente em alta freqncia circulem por tais caminhos, e no pela linha.
Devem-se considerar 2 tipos de corrente: a simtrica e a assimtrica.
No caso de correntes simtricas (ou de modo diferencial), sua existncia na linha de
alimentao se deve ao prprio chaveamento da fonte. A figura 12.11 mostra esta situao.
A reduo da circulao pela linha pode ser obtida pelo uso de um filtro de segunda ordem,
com a capacitncia oferecendo um caminho de baixa impedncia para a componente de
corrente que se deseja atenuar. Os indutores criam uma oposio fuga da corrente para a
rede. Em 60Hz a queda sobre tais indutncias deve ser mnima.
J para as correntes assimtricas (ou de modo comum), como sua principal origem
est no acoplamento capacitivo do transistor com o terra, a reduo se faz tambm com um
filtro de segunda ordem. No entanto, o elemento indutivo deve ser do tipo acoplado e com
polaridade adequada de enrolamentos, de modo que represente uma impedncia elevada
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para correntes assimtricas, mas no implique em nenhuma impedncia para a corrente

simtrica. Os capacitores fornecem o caminho alternativo para a passagem de tal
componente de corrente.

rede

..

fonte

aterramento
Filtro de linha

Figura 12.11 Circuito tpico com filtro de linha.

12.8 Referncias Bibliogrficas:

[12.1] CISPR specification for radio interference measuring apparatus and measurement
methods. International Electrotechnical Comission, International Special
Committee on Radio Interference, CISPR 16, second edition, 1987.
[12.2] Limits ans methods of measurement of electromagnetic disturbance characteristics
of industrial, scientific and medical (ISM) radio-freqency equipment.
International Electrotechnical Comission, International Special Committee on Radio
Interference, CISPR 11, second edition, 1990.
[12.3] Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of
electrical lighting and similar equipment. International Electrotechnical Comission,
International Special Committee on Radio Interference, CISPR 15, fourth edition,
1992.
[12.4] Limits and methods of measurement of radio disturbance characteristics of
electrical motor-operated and thermal appliances for household and similar
purposes, electric tools and electrical apparatus. International Electrotechnical
Comission, International Special Committee on Radio Interference, CISPR 14, third
edition, 1993.
[12.5] Barbi, Ivo: Curso de fontes chaveadas, Florianpolis, 1987.
[12.6] Nave, Mark J.: Power Line Filter Design for Switched-Mode Power Supplies. Van
Nostrand Reinhold, New York, 1991.

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