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Clculo da Intensidade no
Mtodo de Rietveld
y ci = y bi + S p L kp . m . F kp . F kp ( 2i 2 kp ) P kp . A p
Rudo de
fundo
Escala
Perfil do pico
Multiplicidade
Absoro
Orientao preferencial
Lorentz-Polarization
Fator de estrutura
k ... representa o plano difratado, os ndices de Miller, (h k l)
Roberto R. de Avillez, 2013
Funes simtricas
Gauss
Lorentz
Voigt
Pseudo-Voigt
Pearson
Funes assimtricas
Split-Pseudo-Voigt
Split-Pearson VII
x=2 2 K
Funo de Gauss
wG = fwhm
ln 2 1
4 ln 2 x 2
G( x)=2
exp
2
wG
wG
2
wL
Funo de Lorentz
w L = fwhm
L( x)=
4x
1+ 2
wL
Gauss
Lorentz
Voigt
2 ln 2 w
V ( x)= 3/ 2 2L
wG
et
ln 2
wL
+
wG
)(
4 ln 2
x
t 2
wG
dt
Pseudo-Voigt
01
Funo de Cagliotti
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Gaussiana
Lorentziana
Voigt
Pseudo-Voigt
Pearson VII
Raio do gonimetro
Comprimento e largura da
fenda de coleta
comprimento e largura da
fonte
Fendas Soller
ngulo de divergncia
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Comprimento da fenda
Largura da fenda:
ngulo de sada
largura do alvo
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Convolues
Roberto R. de Avillez, 2013
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J. Bergmann e R. Kleenberg,
1986.
BGMN
A forma dos picos
determinada pela simulao
da passagem do raios-X por
cada dispositivo presente no
caminho ptico entre a fonte e
o detector.
R. W. Cheary e A. Coelho,
1992
TOPAS Academic, Bruker
Convoluo de cada efeito
presente em todo o processo
de difrao:
Comprimento e largura da
fenda do detector;
comprimento e largura da
fonte;
Fendas Soller;
Fendas de divergncia e de
anti-espalhamento;
Perfil do raio-X emitido.
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Parmetros Fundamentais
(Cheary e Coelho)
INSTRUMENT (G)
Equatorial Plane
Target width
Divergence slit plane
Receiving slit angle
TA
FDS,VDS
SW
Axial Plane
Soller slit(s)
Target length
Receiving slit length(rs)
PS, SS
SOUL
SL
SAMPLE (S)
Equatorial Plane
Absorption
Sample thickness
Tilt
Axial Plane
Sample length
MICROSTRUCTURE (P)
AB
ST
Crystallite size
Micro strain
RMS Strain
CS
MS
STR
SAML
Y (2 )=(W G Eq G Ax ) S P U + Bkg
Espectro da radiao
Roberto R. de Avillez, 2013
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