IV Seminrio da Ps-Graduao em

Engenharia Mecnica Unesp - Bauru

DINMICA NO LINEAR, CAOS E CONTROLE NA

MICROSCOPIA DE FORA ATMICA
RICARDO NOZAKI
Aluno do Programa de Ps-Graduao em Engenharia Mecnica Unesp Bauru
Prof. Dr. JOS MANOEL BALTHAZAR
Orientador Depto de Engenharia Mecnica Unesp Bauru
RESUMO
O sistema de microscopia de fora atmica se tornou um instrumento popular e til para medir as
foras intermoleculares com resoluo atmica que pode ser aplicado em eletrnica, anlises
biolgicas, engenharia de materiais, semicondutores, etc. Este trabalho estuda o comportamento da
dinmica no-linear da ponta da sonda causada pelo tipo da amostra e os modos de funcionamento
de um microscpio de fora atmica. Utilizando-se de simulaes numricas, busca-se uma soluo
analtica aproximada, atravs do mtodo de perturbao de mltiplas escalas e teoria de controle
linear timo consegue-se um bom entendimento do trabalho feito e explicado a seguir.
Este trabalho est dividido em trs partes, na primeira parte apresentou-se o problema, mostrando a
necessidade de se controlar o comportamento catico no sistema a ser estudado. Mostrou se o
funcionamento do microscpio atmico com todas suas variveis de funcionamento. Foram geradas
as equaes de movimento e os resultados so obtidos atravs de integraes numricas das
equaes de movimento, obteve-se oscilaes regulares e irregulares (caticos), os quais dependem
da escolha dos parmetros do sistema. Foram produzidos os retratos de fase, expoentes de
Lyapunov, FFT, grfico de energia, etc. Na segunda parte do trabalho, utilizou-se o mtodo das
mltiplas escalas, efetuou-se a busca de uma soluo analtica aproximada para o movimento
estacionrio do sistema, que foi obtida atravs da anlise de tcnicas de perturbaes. Houve a
necessidade de transformar a fora de Van der Waals em uma srie para a realizao do mtodo.
A terceira parte dedicada aplicao de uma tcnica de controle linear timo para a supresso do
movimento catico do sistema estudado.
Palavras chave: Microscopia de fora atmica, Tcnicas de Perturbao, fora de Van der Waals,
Controle Linear timo.

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1. INTRODUO
Este o primeiro trabalho realizado que aborda o assunto de microscopia de fora atmica na rea de
dinmica no linear e caos no Brasil e representa o incio de um estudo na rea de NEMS (Nano-eletromechanical-system) dentro do grupo de pesquisas do professor Doutor Jos Manoel Balthazar.
Com o passar do tempo houve a necessidade de se criar diversas tcnicas para observao de detalhes
ampliados de superfcies, como, por exemplo, as lentes, usado em um microscpio ptico, inventado no
sculo XVIII, para o uso na medicina, engenharia, e pesquisas em geral. Neste sculo, foram
desenvolvidos mtodos de visualizao baseados em feixes de ons ou de eltrons, mas a idia dos
microscpios de sonda totalmente diferente.
Os microscpios eletrnicos so carssimos e, requerem muito trabalho na preparao das amostras e sua
utilizao.
por isso que os microscpios de varredura por sonda ou SPM (scanning probe microscope), isto ,
sem utilizao de eltrons e, sim de uma micro-ponteira que varre a amostra, tm-se tornado to populares
nos ltimos 20 anos.
Seu princpio de funcionamento muito simples e a sua melhor propriedade, no compartilhada com
nenhum outro aparelho de observao nessa escala, a viso da superfcie dos objetos em trs dimenses.
De um modo simplificado, um (AFM) composto basicamente por uma ponta ou sonda, que varre a
superfcie da amostra em estudo.
Mede-se a fora de interao entre os tomos da ponta e os da superfcie e, utilizando recursos
computacionais, os resultados so transformados em imagens da amostra.
Essas foras so de vrios tipos, mas fundamentalmente resumem-se a foras atrativas de Van der
Waals, de origem qumica, que agem a distncias entre 100 e algumas unidades de nanmetros
(1nanmetro) e, foras repulsivas que provm do princpio de excluso de Pauli e, que agem quando a
ponta aproxima-se muito da superfcie e, os tomos da sonda e da amostra esto to prximos que
comeam a se repelir [1].
O principal objetivo norteador do estudo consiste em apresentar e formalizar, dentro de uma abordagem
matemtica e fsica, o estudo da dinmica dos componentes de um microscpio de fora atmica,
mostrando e buscando solues para se obter uma melhor imagem atravs de uma sonda que faz a
topografia da amostra, isto , uma sonda que determina analiticamente as medidas de rea e permetro
com variaes no relevo, e ainda represent-as graficamente em imagens.
Para se chegar a este objetivo busca-se formalizar uma quantidade de ferramentas tericas.
Esta formalizao toma como referncia as tcnicas de perturbao de mltiplas escalas, expoentes de
lyapunov, rbitas homoclinicas, teoria de Melnikov, dinmica no linear apresentadas no livro
Perturbation Methods e o Nonlinear Oscilations de Ali Hasan Nayfeh.

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Basicamente ou resumidamente tem como problema o fator melhorar a resoluo da imagem varrida ou
examinada pela sonda do AFM. Para se melhorar a imagem proposto modelar matematicamente atravs
de equaes diferenciais, que representaro atravs de retratos, a dinmica do problema e buscar solues
para o momento em que a dinmica do AFM torna se um movimento catico.
Tem crescido o nmero de estudos abordando este assunto e os principais autores e artigos so os de
Binning, Gerber e Quate [1], Wang et al.[3], Jalili e Laxminarayana [2], Ashab [53],e Hu e Raman [55].
Para citar alguns dos melhores trabalhos do grupo de pesquisa do professor Doutor Jos Manoel Balthazar
pode-se indicar a leitura de Dinmica No Linear e Controle de um Sistema Vibratrio Modelado com
Memria de Forma e, Excitado por Fontes de Energia do Tipo Ideal e No Ideal de autoria de Vincius
Piccirillo [18] .
X. DEMAIS TPICOS (OBJETIVOS, MTODOS, REVISO TERICA, RESULTADOS,
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS E ETC)
O mtodo adotado o modelo Wang (2009)[3], considera-se a vibrao da viga e incluindo a nolinearidade da mola, obtm-se uma nova formulao:

X1 ' = X 2

a1a2

3
X 2 ' = a( X 1 + X 1 ) ( Z + X )2 a3 (a4 cos b a5 X 2 ) '
1

Isolando a acelerao temos:

X1 ' = X 2

3
X 2 ' = A(a1 X 1 + a2 X 1 ) ( Z + X ) 2 + C sin b

Onde
A=

a3 a 4
a1
a1 a 2
,B =
,C =
(1 a3 a5 )
(1 a3 a5 )
(1 a3 a5 )

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Para os parmetros utilizados a seguir, pode-se perceber o surgimento de caos na dinmica do sistema.

A=0.14668
B=0.17602
C=2.6364
Z1=2.5
a2 = 14.5
a1 = 1

Figura 4.1.1. Retrato de fase

Calcula-se a FFT do sistema para verificar se h diferentes picos de ressonncia, consequentemente,

indcio de caos.

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Figura 4.1.2. FFT do modelo matemtico

Figura 4.1.3. Expoentes de lyapunov

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Figura 4.1.4. Expoentes de lyapunov para um tempo de 100 mil pontos.

4.2

ENERGIA HAMILTONIANA

x1' = x2 =

x2' = A(a1 x 3 + a2 x )

H=

H
x2
B
H
=
( Z + x)2
x1

x22
x4
x2
B
+ A( a1 + a2 )
2
4
2
(Z + x)

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Figura 4.2.1. Energia nos primeiros 1000 segundos

BUSCA DA SOLUO ANALTICA APROXIMADA

5.1

MTODO DAS MLTIPLAS ESCALAS

Adota-se o mtodo das mltiplas escalas para a busca de uma soluo aproximada, para isso realizado
um balano de ordem da seguinte forma:
Na equao (5.1), fazemos x = u, onde o parmetro responsvel por este balano, Nayfeh (1980).
X& 1 = X 2

B
&
3
X 2 = A( a2 X 1 + a1 X 1 ) ( Z + X ) 2 + C sin b

(5.1)

Simplificando a equao, obtm-se:

V ( x ) / B = 0.1558874279 0.1094781936 x + 0.04283929315 x 2 -0.007615874336x 3

Figura 5.2.2. Funo Fora de Van der Waals aproximada pelo deslocamento.

X1 ' = X 2

3
X 2 ' = A( a2 X 1 + a1 X 1 ) ( Z + X ) 2 + C sin b

X1 ' = X 2

3
2
3
X 2 ' = A(a2 X1 + a1 X1 ) B(0.1558874279 0.1094781936 X1 + 0.04283929315X1 -0.007615874336X1 ) + C sin b

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X1 ' = X 2

3
2
X 2 ' = 0.1274096484 X1 2.125519454 X1 0.02743930506 0.007540572380 X1 + C sin b

X1'= X 2

3
2
X 2 ' = J X 1 + H X 1 + L + IX 1 -C s in b

J= 0.1274096484
H= 2.125519454
L= 0.02743930506
I= 0.007540572380
C = -2.6364

''+ H 3 3 + I 2 2 + J + L C sin wt = 0

Para o quarto termo da expanso em srie de Taylor, obtm-se:

Figura 5.2.3 Retrato de fase com a nova Van der Waals

A nova fora de Van der Waals da forma:

f ( x) = (

1
2
3
4
5
3 .( x 1) + 4 .( x 1) 2 5 .( x 1) 3 + 6 .( x 1) 4 )
784 28
28
28
28

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Para x= :

''+ H 3 3 + I 2 2 + J + L Csin wt = 0

6
1 12 54
1 12 324 648
1

3 ( 1) + ( 3 + 4 )( 1)2 ( 3 + 4 5 )( 1)3 C sinwt = 0

2
2 28 28
6 28 28 28
28 28

' '+ A 3 3 + B

Figura 5.2.5. Retrato de fase para Para = 0.8

Figura 5.2.6. Retrato de fase para Para = 0.95

Para uma expanso da fora de Van de Waals em srie Taylor a partir da equao com os parmetros
abaixo teremos:

X 1' = X 2

B
'
3
X 2 = A(a1 X 1 + a2 X 1 ) ( Z + X ) + C.S in(t )

Com

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A =1
a1 = 1
a2 = 1
B = 0.1
C = 0.3
Tem-se a nova equao expandida.

X1' = X 2
'
2
3
X 2 = L '+ J ' X 1 + I ' X1 H ' X1 + C.S in(t )
L ' = 0.06324555321
J ' = 0.9873508894
I ' = 0.003794733193
H ' = 1.001264911
C ' = 0.3

Figura 5.2.7. Retrato de fase para A = 1, a1 = 1, a2 = 1, B = 0.1, C = 0.3

5.3

SOLUO ANALTICA APROXIMADA UTILIZANDO TCNICAS DE PERTURBAO

Sob certas circunstncias possvel obter solues analticas aproximadas das equaes diferenciais do
sistema na forma de sries de potncia.
Este pode ser o caso quando as equaes diferenciais so quase lineares ou fracamente no lineares, e
autnomas, isto , quando os termos que tornam o sistema no linear e no autnomos so relativamente
pequenos.
Tais termos, conhecidos como perturbaes, representam efeitos de segunda ordem identificados como
um pequeno parmetro multiplicando os termos no lineares e no autnomos.
Para tais sistemas possvel obter uma soluo em termos de sries de potncia para os pequenos
parmetros, em particular se o sistema harmnico, Meirovitch (1970), Nayfeh e Mook (1979).

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A tcnica para tratar este tipo de sistema fracamente no linear o mtodo de perturbao. Embora
Poisson tenha usado a tcnica de perturbao para investigar problemas de mecnica celeste, a teoria de
perturbao moderna atribuda a Poincar.

No inicio a tentativa de utilizar a tcnica de perturbao pelos astrnomos foi frustrada devido ao
surgimento de termos que aumentavam com o tempo.
Tais termos destroem a convergncia da soluo e so referidos como termos seculares. Uma grande
quantidade de mtodos de perturbao tem sido desenvolvida para tentar solucionar o problema do
aparecimento dos termos seculares, inclusive um mtodo atribudo a Poincar.
Outros mtodos que dedicam se a este tema, podem ser encontrados em Nayfeh e Mook (1979) e
Nayfeh (1980).
Assim, neste captulo o objetivo busca de uma soluo analtica aproximada para as equaes de
movimento de um oscilador AFM, a tcnica de perturbao adotada para a obteno da soluo analtica
o mtodo das mltiplas escalas (MME).
A escolha do mtodo depende do problema a ser analisado, o mtodo das mltiplas escalas (MME)
amplamente usado no caso ideal, Nayfeh e Mook (1979) e o mtodo da mdia no caso no ideal,
Kononenko (1969), mas excees so sempre possveis, como mostrado em Bolla et. al. (2007) e Fenili e
Balthazar (2007).
Este captulo apresenta resultados obtidos atravs de simulaes numricas da soluo analtica
aproximada obtida atravs do MME, com esses resultados, possvel ter um melhor entendimento da
dinmica no linear do sistema.
Observe que a equao uma funo f(, ).
Onde um pequeno parmetro e os pontos denotam a derivada com relao ao tempo adimensional t, e
u a varivel dependente adimensional. A funo f contnua.

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No mtodo das mltiplas escalas, a idia principal aplicar uma transformao na equao diferencial em
estudo, sendo ela linear ou no, gerando uma srie de equaes diferenciais lineares acopladas. Para
tornar mais explcito esta definio o mtodo define n variveis Tn de tempo, dadas por

Tn= nt

, logo

substituindo

T0 = t , T1 = t , T2 = 2t

Onde estas variveis so interpretadas como diferentes escalas de tempo (mltiplas escalas) e tomadas
como independentes, desde que o parmetro assuma um valor pequeno, =0.01.
Para estas diferentes escalas de tempo, observamos que as derivadas na varivel t tambm devem ser
reescritas em termos das derivadas de Tn na forma

=
+
+2
+ ... = D0 + D1 + 2 D2 ...
dt T0
T1
T2
d2
= D02 + 2 D0 D1 + ...
dt 2
dn
Dn =
dTn

'' + H

3 + I

+ J +

L =

C s in w t

substituindo

( D 0 + D 1 + 2 D 2 ) 2 + H 2 2 + I 2 + J + 2 L = 2 C sin w t

Resolvendo o quadrado da soma de trs termos

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2
3
2 2
4 2 2
2 3
2
2
2
(D02 + 2 DD
1 0 + 2 D0D2 + 2 DD
1 2 + D1 + D2 ) + H + I + J + L = Csin wt

J= 0.1274096484
H= 2.125519454
L= 0.02743930506
I= 0.007540572380
C = -2,6364
Reagrupando os termos da equao e separando as equaes por ordens, temos trs equaes separadas
por ordem zero, um e dois.
Sendo

= 0 (T1 , T2 , T3 ) + 1 (T0 , T1 , T2 ) + O ( 2 )
torna se
D02 0 + J 0 = 0
2
2
D0 1 + J 1 = 2 D1 D0 0 I 0
2
2
3
D0 2 + J 2 = 2 D0 D2 0 D1 0 2 D0 D11 H 0 2 I 0 1 L + C sin Wt

= a cos(t + ) + (

3
1
cos(2 j + 2 jT0 ) I )a2 + O( 2 )
12
2

= a cos(wt + ) + (

3
1
cos(2 jwt + 2 j ) I )a2 + O( 2 )
12
2

E substituindo achamos:

1
w = 1 + (4 I 2 )a 2 2 + ...
8
Obtem-se a rbita

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Figura 5.3.1. Orbita obtida atravs das mltiplas Escalas

Figura 5.3.2. Retrato de fase do AFM

APLICAO DO CONTROLE LINEAR TIMO PARA O SISTEMA

Definindo a trajetria desejada como a rbita peridica (5.3.1) obtida utilizando as tcnicas de
perturbao em:

= a cos( wt + ) + (

3
1
1
cos(2 jwt + 2 j ) I )a 2 + O ( 2 ) w = 1 + (4 I 2 )a 2 2 + ...
12
2
8
(7.3.13)

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Figura 7.4.1. rbita obtida da soluo analtica (6.1.1) obtida atravs do mtodo das mltiplas escalas e
considerando os valores dos parmetros;

= 0.14668; b = 0.17602; = 2.6364; a1 = 1; a2 = 1; a = 2, = 2 , = 0.01,

I ' = 0.003794733193, J ' = 0.9873508894

A matriz A e B tem a seguinte forma:

0
1

0
A=
B = 1

0.14668
0

E definindo:
250 0
Q=

0 20 ,

R = [ 0.1]

Utilizando o comando lqr do matlabr obtm-se:

113.2864 15.6654
p=
e k = [`15.6654 7.1646]
15.6654 7.1646

Substituindo em (7.4.11) obtm-se o controle:

u = 15.6654 y1 7.1646 y2

(7.4.14)

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Em relao a x pode ser escrito o controle acima:

u = 15.6654( x1 x%1 ) 7.1646( x2 x%2 )

(7.4.15)

Retrato de fase do microscpio atmico para o sistema (7.4.3), sem o controle (7.4.15), pode ser visto na
figura 7.3.2.

Fig. 7.4.2. Retrato de fase para o sistema (7.4.15)

difcil analisar analiticamente a matriz Q te caso. A prxima figura mostra a funo positiva
~
L(t ) = y T Qy calculada na trajetria tima.

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Fig. 7.4.3. L(t) calculado na trajetria tima

Nesta figura ns podemos ver o deslocamento da micro viga considerando t = [0:100] e t=[100,200)

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Fig. 7.4.4. Deslocamento da micro viga

Nesta figura, ns podemos ver o deslocamento da micro viga considerando a aplicao do controle
(7.4.15)
2.5
2
1.5
1
t
n
e
m
e
c
a
l
p
s
i
d

0.5
0
-0.5
-1
-1.5
-2
-2.5

10

20

30

40

50
t

60

70

80

90

100

Fig. 7.4.5. Deslocamento da micro viga com controle (7.4.15)

Nesta figura, ns podemos ver o retrato de fase da micro viga, considerando a aplicao do controle
(7.4.15)

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Fig. 7.4.6. Retrato de fase para o sistema com controle na trajetria (5.3.1)
Nesta figura ns podemos ver o retrato de fase da micro viga, considerando a aplicao do controle
(7.4.15), e o no que no foi aplicado controle (com e sem controle).

Fig. 7.4.7. Retrato de fase sem controle (preto) e com controle (verde) (7.4.15)

CONCLUSO

Foi utilizado o mtodo das mltiplas escalas (method of multiple scales) na busca de uma soluo
analtica aproximada do oscilador, isto , uma busca por uma rbita tima. Foram realizados ensaios
numricos de integrao direta das equaes de movimento, utilizando o integrador ODE113 do
MATLAB (Adams Bashforth Moulton) no sistema de equaes de primeira ordem, tomadas
como sendo as variveis de estado. Utilizou se como ferramentas o espectro de freqncia e
Expoente de Lyapunov de cada resposta para a caracterizao do sistema ter ou no movimentos

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regulares e irregulares para certos valores do parmetro de controle. E portanto, o objetivo desta
pesquisa foi mostrar situaes em que o microscpio de fora atmica operou com movimentos
caticos, e assim atravs de tcnicas de controle alterar o seu movimento catico em um movimento
previsto dentro de uma rbita. Para isso, desenvolvemos uma soluo analtica para mostrar a
melhor possvel rbita, e portanto controlar dentro de uma trajetria desejada. Ns usamos a tcnica
de perturbao desenvolvida por Nayfeh, e o controle linear timo por Rafikov e Balthazar. O
mtodo de controle linear timo foi muito bem sucedido, tornando o movimento catico igual
trajetria desejada
Agradecimento a CNPq.