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CENTRO TECNOLGICO
DEPARTAMENTO DE AUTOMAO E SISTEMAS
CURSO DE ENGENHARIA DE CONTROLE E AUTOMAO
SEMESTRE 2016/2
I. IDENTIFICAO DA DISCIPLINA
Cdigo: DAS5151
Crditos: 04
informao do eixo girante. Medio de fora: clulas de carga extensomtricas; clulas de carga
mecnicas; clulas de carga piezeltricas; clulas de carga baseadas em deslocamento. Medio de
deslocamento: transdutores resistivos e capacitivos; transdutores magnticos (eddy, LVDT, FLDT, efeito
Hall). Vlvulas: de regulagem de vazo e de regulagem de presso; principais tipos construtivos e suas
aplicaes; noes de dimensionamento de vlvulas com emprego do coeficiente de vazo; modos de
acionamento (motor, pneumtica, solenoide...). Converso A/D e D/A: tipos de conversores e
particularidades. Sistemas de aquisio e processamento de dados: sistemas de arquitetura fechada vs.
sistemas de arquitetura aberta; seleo do sistema adequado para determinada aplicao (placas de
aquisio de sinais, cDAQ, cRIO, PXI, CLP, VXI, SCXI, Pulse, MGC...). Principais protocolos de
comunicao e padres de rede empregados em instrumentao: RS232, RS485, USB, PGIB, Modbus,
SSI, GPIB...). Uso de microcontroladores e computadores para desenvolvimento de sistemas de aquisio
e controle: LabVIEW e Arduino. Anlise de circuitos de instrumentao com uso de circuitos
equivalentes de Thevenin. Tratamento analgico de sinais: circuito de um quarto de ponte; circuito de
meia ponte; circuito de ponte completa; amplificadores operacionais; amplificadores de instrumentao;
amplificadores de isolao. Rudos e interferncias em sinais de medio: modo srie (diferencial), modo
comum, formas de atenuar rudos em circuitos de instrumentao. Uso de eletrnica para acionamento de
motores CC e vlvulas: transistor, amplificador, ponte H, diodo de roda livre. Diagramas P&ID e seu uso
para documentao.
VI. METODOLOGIA DE ENSINO / DESENVOLVIMENTO DO PROGRAMA
A disciplina ser conduzida principalmente atravs de aulas expositivas dialogadas e de experimentos
prticos em aulas de laboratrio. A cada semana haver uma aula terica e uma aula experimental. As
aulas prticas sero desenvolvidas no laboratrio de instrumentao em grupos de no mximo trs alunos.
Ao longo da disciplina os alunos devem desenvolver um trabalho prtico e um trabalho de programao.
VII. METODOLOGIA DE AVALIAO
A avaliao ser realizada atravs de duas provas tericas, de exerccios prticos em laboratrio, de um
trabalho de LabVIEW e de um trabalho final. A mdia semestral ser a mdia ponderada das cinco notas:
= 0,251 + 0,252 + 0,3 + 0,1 + 0,1, com sendo a mdia das avaliaes obtidas durante o
semestre, a nota da prova = {1,2}, a nota do trabalho final, a nota do trabalho em LabVIEW e
a nota de exerccios. O trabalho final poder ser realizado em grupos de at trs alunos, mas dever ser
apresentado por apenas um integrante do grupo, sorteado no momento da defesa. O trabalho de LabVIEW
deve ser realizado individualmente.
VIII. AVALIAO FINAL
O(a) aluno(a) com frequncia suficiente e mdia das notas entre trs vrgula zero (3,0) e cinco vrgula
cinco (5,5) ter direito a uma nova avaliao no final do semestre que versar sobre todo o contedo
da disciplina, conforme o que dispem o 2 do Art. 70 e o 3 do Art. 71 da Resoluo n
17/Cun/97. Nesse caso, a mdia final ser calculada atravs da mdia aritmtica simples entre a mdia
das notas das avaliaes feitas durante o semestre e a nota obtida na nova avaliao. A nota mnima de
aprovao seis vrgula zero (6,0).
Caso o(a) aluno(a) no comparea a 75% da carga horria da disciplina estar automaticamente
reprovado com nota 0,0(zero), independentemente da sua mdia nas avaliaes individuais, conforme
disposto no Art. 69 2 da Resoluo 017/CUn/97.
Os(as) alunos(as) que eventualmente faltarem em alguma avaliao que for perdida por motivos
extremos, mediante justificativa dentro do prazo de 3 (trs) dias teis aps a avaliao, conforme
disposto no Art. 74 da Resoluo 017/CUn/97 podero solicitar na secretaria da coordenao de curso
de Engenharia de Controle e Automao o pedido de segunda chamada. Aps a anlise do pedido e seu
deferimento, os(as) alunos(as) podero realizar a avaliao de segunda chamada na data, no local e no
horrio definidos no cronograma.
IX. CRONOGRAMA:
Aula
1
Data
10/08
2
3
4
5
6
11-12/08
17/08
18-19/08
24/08
25-26/08
7
8
9
10
11
12
13
31/08
01-02/09
07/09
08-09/09
14/09
15-16/09
21/09
22-23/09
28/09
14
15
29-30/09
05/10
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
06-07/10
12/10
13-14/10
19/10
20-21/10
26/10
27/10
28/10
02/11
03-04/11
09/11
10-11/11
16/11
17-18/11
23/11
24-25/11
30/11
01-02/12
07/12
Contedo
Apresentao / Viso geral sobre caractersticas dinmicas de sistemas de
medio
LabVIEW: introduo, laos de repetio e deciso, indexao automtica
Reviso de eletrnica: diodos, LEDs, zener, transistores
LabVIEW: arrays, registradores de deslocamento, clusters, strings, variveis
Reviso de eletrnica: transistores (cont.), optoacopladores
LabVIEW: temporizao, arquivos, eventos / Proposta do tema do trabalho
final
Amplificadores operacionais reais e amplificadores de instrumentao
LabVIEW: aquisio de dados / Controle de luminosidade
Dia no letivo (Independncia do Brasil)
Controle de luminosidade / Entrega do trabalho de LabVIEW
Medio de temperatura
Medio de temperatura com termopares, termistores, termorresistores e CIs
Prova 1
Controle de uma planta HIL com Arduino
Tratamento de sinais: circuitos de ponte. Medio de deformao e tenso
mecnica
Circuitos de ponte para condicionamento de sinais (laboratrio)
Circuitos Equivalente Thevenin e Equivalente Norton: uso para anlise de
circuitos de instrumentao
Orientao para projeto final
Dia no letivo (Nossa Senhora Aparecida)
Primeira apresentao do projeto final
Converso A/D e D/A
Converso A/D e D/A (laboratrio)
Medio de fora, torque, deslocamento
Aula para uso no projeto final
Dia no letivo (Dia do Servidor Pblico)
Dia no letivo (Finados)
Aula para uso no projeto final
Sistemas de aquisio de dados e protocolos de comunicao para instrumentao
Segunda apresentao do projeto final
Rudos e interferncias
Aula para uso no projeto final
Rudos e interferncias
Aula para uso no projeto final
Prova 2
Terceira apresentao dos projetos finais (final)
Prova de recuperao
Local
EEL004
LIN
EEL004
LIN
EEL004
LIN
CTC204
LIN
LIN
CTC204
LIN
CTC204
LIN
CTC204
LIN
CTC204
LIN
LIN
CTC204
LIN
CTC204
Livre
Livre
LIN
CTC204
LIN
CTC204
LIN
CTC204
LIN
CTC204
2013.
Disponvel
em:
NATIONAL Instruments. How to learn NI LabVIEW. Austin: National Instruments, 2013. Disponvel
em: <http://www.ni.com/academic/labview_training/>. Acesso em: 17 fev. 2014.
SINCLAIR, Ian R. Sensors and transducers. 3. ed. Oxford: Newness-Elsevier, 2001. ISBN-13:
9780750649322. 256 p.