UNIVERSIDADE .....................................................

REA DAS CINCIAS EXATAS E DA TERRA

ENGENHARIA DE PRODUO MECNICA

RELATRIO DE ATIVIDADES PRTICAS

.................,
2011

RELATRIO DE ATIVIDADES PRTICAS

Relatrio de atividades prticas de Materiais de Construo Mecnica I, do curso

de Engenharia de Produo Mecnica, rea das Cincias Exatas e da Terra, da
Universidade..................... Campus de ..............
Orientador: .................................

.........................,

2011
RESUMO

Quando no estado slido, o material bruto pode ser um gro ou uma

partcula fina. Sobre o material bruto se desenvolve um ou mais processos de
fabricao para que finalmente tenhamos o componente desejado, na forma
correta, dimensional, conforme tolerncia exigida pelo projeto, acabamento
superficial, alm de vrias propriedades intrnsecas ao material tais como:
resistncia mecnica, ductibilidade, tenacidade, propriedades trmicas e at
mesmo eletromagnticas.
A escolha do material a ser utilizado depende muito da aplicao
requerida, mas tambm dos processos de transformao disponveis para tal,
alm de uma anlise custo-benefcio onde se relaciona as propriedades
desejadas e os meios de produo a serem utilizados.
Um tcnico em mecnica deve conhecer os materiais, bem como suas
caractersticas e propriedades para que saiba associar a especificao correta
que garanta os requisitos do projeto e que sejam executveis (usinveis
moldveis etc.).
Palavras chave Tratamento trmico realizado - Ensaio de dureza - Ensaio de
trao
- Anlise metalogrfica
LISTA DE ILUSTRAES

Figura 1Ilustrao de modos de iluminao em microscpio tico para metalografia.

Figura 2 Esquema da operao de um MEV
Figura 3 Espectrmetro de emisso tica
Figura 4 - Amostra
Figura 5 Amostra pronta para a anlise microscpica.
Figura 6 Lixamento da superfcie a ser analisada
Figura 7 Polimento com feltro da superfcie a ser analisada
Figura 8 - Secagem da amostra.
Figura 9 - Amostra sendo submitida ao ataque qumico do Nital.
Figura 10 - Amostra sendo submetida ao ensaio de dureza.
Figura 11 - Metalografia da amostra SAE 8640.
Figura 12 Metalografia da amostra SAE 8620
Figura 13 Metalografia da amostra SAE 1045
Figura 14 Metalografia da amostra SAE 1020
Figura 15 Metalografia da amostra de Ferro Fundido Nodular
Figura 16 - Ferro Fundido Cinzento.
Figura 17 - Ferro Fundido Branco.

LISTA DE TABELAS

Tabela 1 - Dureza do material a partir do centro do eixo

Tabela 2 - Dureza do material na parte externa do eixo

LISTA DE SIGLAS
Kg - quilograma
mm - milmetro
s - segundos
HB Dureza Brinell
HK Dureza Knoop
HV Dureza Vckers
In - Polegada
ASTM - Sociedade Americana para Testes e Materiais
XIX Sculo dezenove
XX Sculo Vinte
MET - Microscpio Eletrnico de Transmisso
MEV Microscpio Eletrnico de Varredura
SUMRIO

1. INTRODUO

2. FUNDAMENTAO TERICA
2.1 AOS
2.2 TRATAMENTOS TRMICOS
2.3 FALHAS
2.4 FRATURA FRGIL
2.5 FRATURA DCTIL
2.6 DUREZA
2.6.1 Ensaios de dureza Rockwell
2.6.2 Ensaio de dureza Brinell
2.6.3 Ensaios de microdureza Knoop e Vickers
2.7 ENSAIO DE TRAO
2.8 METALOGRAFIA
2.8.1 Metalografia qualitativa
2.8.2 Metalografia quantitativa
2.8.3 Macrografia
2.8.3.1 Preparo de corpos-de-prova para Macrografia
2.8.4 Micrografia
2.8.5 Microscopia tica
2.8.5.1 Preparao de amostras para Microscopia tica
2.8.6 Microscopia eletrnica
2.8.6.1 O Microscpio Eletrnico de Varredura
2.8.6.2 Microscopia Eletrnica de Transmisso
2.9 ESPECTROMETRIA
2.9.1 Espectrometria de emisso tica
3.1 ESFOROS ENVOLVIDOS ANLISE SEM CLCULOS
3.2 FOTOGRAFIA DAS AMOSTRAS
3.3 MATERIAL ENVOLVIDO
3.4 RESULTADOS E DISCUSSO
4 CONCLUSO
5 BIBLIOGRAFIA

1.

INTRODUO

Desde os primrdios da evoluo o ser humano utiliza-se de diversos

tipos de materiais para a fabricao de utenslios, materiais os quais foram
descobertos por acaso pelo homem. Atravs dos muitos anos o homem foi
capaz de aperfeioar e estudar esses materiais dando sim uma aplicao muito
mais ampla. Em ordem crescente de complexidade, pode-se citar alguns
exemplos de materiais utilizados pelo homem:
Pedras, madeiras e fibras; Bronze, ferro e outros metais; Borrachas e
polmeros; Compostos cermicos, novas ligas, materiais compsitos. A busca
do material adequado para uma determinada aplicao pode trazer como

resultado uma vasta lista de possibilidades. A escolha deve visar fatores tais
como:
Propriedades (mecnicas, fsicas, qumicas, etc); Custo; Vida til;
Facilidade de obteno e manipulao.
A cincia dos materiais busca a relao existente entre a estrutura dos
materiais e suas propriedades. A estrutura de um material est relacionada ao
arranjo interno de seus componentes, seja ao nvel atmico, microscpico ou
macroscpico. A estrutura de um material depende de seu processamento.
Havendo alteraes estruturais, havero tambm modificaes nas
propriedades do material e, conseqentemente, em sua performance .
A partir da segunda guerra mundial as indstrias perceberam a falta de
materiais adequados para determinadas operaes. Grande parte dos
problemas vistos naquela poca se dava ao mau emprego deles que
consequentemente proporcionavam uma fratura do material antecipadamente.
.

2. FUNDAMENTAO TERICA

AOS
Segundo Chaverini, ao uma liga metlica formada essencialmente
por ferro e carbono, com percentagens deste ltimo variando entre 0,008 e
2,11%. Distingue-se do ferro fundido, que tambm uma liga de ferro e
carbono, mas com teor de carbono entre 2,11% e 6,67%. O carbono um
material muito usado nas ligas de ferro, porm varia com o uso de outros
elementos como: magnsio, cromo, vandio e tungstnio. O carbono e outros
elementos qumicos agem com o agente de resistncia, prevenindo
o deslocamento em que um tomo de ferro em uma estrutura cristalina para
passa para outro. A diferena fundamental entre ambos que o ao, pela
sua ductibilidade, facilmente deformvel por forja, laminao e extruso,
enquanto que uma pea em ferro fundido muito frgil.
1.

2. TRATAMENTOS TRMICOS
Segundo (http://www.ggdmetals.com.br/aco-construcao-mecanica/sae-8640/ , 2013),
podemos temos os seguintes conceitos dos tratamento trmicos a seguir;
Recozimento:

O tratamento deve ser feito na temperatura prxima de 830C por

no mnimo 1 hora para cada 25 mm. Resfriar lentamente no forno at 300C
e a seguir em ar calmo.
Normalizao:

O tratamento deve ser feito na temperatura prxima de 860

880C por no mnimo 1 hora para cada 25 mm. Resfriar ao ar. Em casos
especiais pode se utilizar ar forado.
Tmpera: Austenitizar em temperatura entre 840 860C. Aquecer por
1 hora para cada 25 mm de espessura. Resfriar em leo ou polmero de

tmpera. O resfriamento em polmero conduz a menor variao dimensional e

maior homogeneidade microestrutural.
Revenimento:

Deve ser realizado imediatamente aps a tmpera quando

a temperatura atingir cerca de 70C. A temperatura de revenimento deve ser
selecionada de acordo com a dureza especificada para o componente. Para
isto utilizar a curva de revenimento orientativa abaixo. Manter na temperatura
de revenimento por no mnimo 1 hora para cada 25 mm de espessura e utilizar
no mnimo por duas horas. No revenir no intervalo de temperatura entre 230370C por causa da possibilidade de induzir fragilidade ao revenido. Curva de
TemperabilidadeAs informaes contidas neste catlogo so orientativas,
dependendo da caracterstica da matria prima e das condies de teste.
Nitretao:

Este ao pode ser nitretado para elevar a resistncia ao

desgaste pelo endurecimento superficial. A dureza mxima depende da
condio prvia de tratamento trmico. Componentes beneficiados antes da
nitretao tero melhor caracterstica de endurecimento atingindo dureza
mxima prxima de 800 HV. Recomenda-se profundidade de endurecimento
entre 0,30 e 0,60 mm.
Tmpera Superficial: Pode

ser realizada por processo de chama ou

induo para durezas superiores a 50 HRC.
3. FALHAS

So diversas as causas das falhas, mas os fundamentos das mesmas

so: fratura (dctil e frgil), fluncia e fadiga.
Segundo Callister (2008), fratura dctil um modo de fratura
acompanhado por uma extensa deformao plstica macroscpica, e fratura
frgil, uma fratura que ocorre por meio de propagao rpida de uma trinca e
sem uma deformao macroscpica aprecivel.
Callister (2008) classifica fluncia como uma deformao permanente
dependente do tempo que ocorre sob tenso; e fadiga como falha em nveis de
tenso relativamente baixos, de estruturas submetidas a tenses cclicas e
oscilantes.
4. FRATURA FRGIL

Conforme Callister (2008) a fratura frgil ocorre sem qualquer

deformao aprecivel e pela rpida propagao de uma trinca. A direo do
movimento da trinca aproximadamente perpendicular direo da tenso
aplicada e produz uma superfcie de fratura relativamente plana.
As superfcies de fratura dos materiais que falharam de uma maneira
frgil iro possuir os seus prprios padres de distino e estaro ausentes
quaisquer sinais de uma deformao plstica generalizada, cita Callister
(2008).

Para a maioria dos materiais cristalinos frgeis, a propagao da trinca corresponde ruptura
sucessiva e repetida de ligaes atmicas ao longo de planos cristalogrficos especficos. Tal
processo denominado clivagem. Esse tipo de fratura chamado de transgranular, uma vez
que as trincas das fraturas passam atravs dos gros (Callister, 2008).

De acordo com Callister (2008) em algumas ligas a propagao das

trincas se d ao longo dos contornos de gro essa fratura denominada
intergranular. Esses tipos de fraturas resultam normalmente aps a ocorrncia
de processos que enfraquecem ou fragilizam as regies dos contornos de
gros.
5. FRATURA DCTIL

Segundo Callister (2008), as superfcies da fratura dctil iro possuir as

prprias caractersticas distintas tanto no nvel macroscpico quanto no
microscpico.
O processo de fratura ocorre normalmente em vrios estgios. Em
primeiro lugar, aps o incio do empescoamento pequenas cavidades se
formam no interior da seo transversal. Em seguida na medida em que a
deformao prossegue esses microvasios aumentam se aproximam e
coalescem para formar uma trinca elptica a qual possui o seu maior eixo em
uma direo perpendicular da aplicao da tenso. A trinca continua a
crescer em uma direo paralela ao seu eixo principal por esse processo de
coalescimento de microvazios. Finalmente a fratura ocorre pela rpida
propagao de uma trinca ao redor do permetro externo do pescoo por meio
de deformao cisalhante e num ngulo de aproximadamente 45 em relao
ao eixo de trao esse o ngulo no qual a tenso de cisalhamento mxima,
coforme Callister (2008).
6. DUREZA

Callister (2008) cita dureza como a medida da resistncia de um material

deformao de sua superfcie de indentao ou por abraso.

1.

Ensaios de dureza Rockwell

Conforme Callister (2008) os ensaios Rockwell constituem o mtodo

mais comumente utilizado para medir a dureza. Vrias escalas diferentes
podem ser utilizadas a partir de combinaes possveis de penetradores e
diferentes cargas, o que permite o ensaio de virtualmente, todas as ligas
metlicas.
Os penetradores incluem esferas de ao endurecidas, com dimetros de 1/16 1/8 1/4 e 1/2 de
polegada, e um penetrador cnico de diamante, usado para os materiais mais duros (Callister,
2008).

Com esse sistema, um nmero de dureza determinado pela diferena

na profundidade de penetrao resultante de aplicao de uma carga inicial
menor seguida por uma carga principal maior, a utilizao de uma carga menor
aumenta a preciso de ensaio. Com base nas magnitudes de ambas as cargas,
a menor e a principal, existem dois tipos de ensaio: rockwell e rockwell
superficial. Os ensaios superficiais so realizados com frequncia para corposde-prova mais finos.
2. Ensaio de dureza Brinell
De acordo com Callister (2008) nos ensaios de Brinell, assim como nas
medidas Rockwell, um penetrador esfrico e duro forado contra a superfcie
do metal testado.
O dimetro do penetrador de ao endurecido (ou de carbeto de tungstnio) de 10,00 mm. As
cargas padres variam entre 500 e 3000 kg, em incrementos de 500 kg. Durante um ensaio, a
carga mantida constante por um tempo especificado (entre 10 e 30 s). Os materiais mais
duros exigem a aplicao de cargas maiores (Callister,2008).

O numero de dureza Brinell, HB, tanto da magnitude de carga quanto

do dimetro de impresso resultante. Esse dimetro medido com um
microscpio especial de baixo aumento, utilizando uma escala que est
gravada na sua ocular. Dimetro medido ento convertido no nmero HB
apropriado com o auxlio de uma tabela, com essa tcnica, empregada em
uma nica escala.

3. Ensaios de microdureza Knoop e Vickers

Segundo Callister (2008) para cada ensaio, um penetrador de diamante
muito pequeno e com geometria piramidal forado contra a superfcie do
corpo-de-prova. As cargas aplicadas so muito menores do que para os
ensaios Rockwell e Brinell. A impresso resultante observada e medida em
um microscpio, essa medida ento convertida em um nmero de dureza.
Os nmeros de dureza Knoop e Vickers so designados por HK e HV,
respectivamente, e as escalas de dureza para ambas as tcnicas so
aproximadamente equivalentes. Ambos so bem adequados para a medida da
dureza em regies pequenas e selecionadas de um corpo-de-prova, alm
disso, o mtodo Knoop usado para o ensaio de frgeis tais como os
cermicos (Callister,2008).
7. ENSAIO DE TRAO

O ensaio de trao um dos ensaios mecnicos de tenso

deformao mais empregado na analise de materiais. O processo consiste em

uma amostra que se deformara ate a fratura pelo aumento gradativo da fora
de trao que aplicada uniaxialmente ao longo do eixo. Habitualmente o
corpo de prova circular, com uma diferena de dimetro no centro, em casos
remotos utilizado padres retangulares. Segundo especificaes o corpo de
prova tem dimenses pr determinada (Callister,2008).
O dimetro padro de aproximadamente 12.8mm (0,5in), enquanto o comprimento da seo
reduzida deve ser de, pelo menos, quatro vezes esse dimetro, sendo comum a utilizao de
um comprimento de 60mm (2,0 in). (Callister,2008).

Segundo Callister, 2008 o corpo de prova fixado pelas extremidades nas

garras da maquina a qual exerce uma fora de modo a alongar o corpo de
prova a uma taxa constante, ao mesmo tempo em que se mede a carga
instantnea que esta sendo aplicada e tambm os alongamentos resultantes.
Desse modo ento, os ensaio de trao so transcritos para um computador o
qual apresenta um grfico de tenso - deformao do corpo de prova.
Importante ressaltar que a seo transversal da pea esta diretamente
associada ao esforo que a mquina ir fazer para determinar o grfico. Por
exemplo, se for colocado um dimetro com o dobro do primeiro ensaio a carga
para realizar a mesma deformao ter que ser o dobro da primeira
(Callister,2008).

8. METALOGRAFIA
Segundo Colpaert (2008), o estudo da morfologia e estrutura dos metais.
A metalografia uma rea da materialografia que alm do estudo dos materiais
metlicos, compreende a plastografia (materiais plsticos ou polmricos) e a
ceramografia (materiais cermicos).
De acordo com Colpaert (2008), para a realizao da anlise, o plano de
interesse da amostra cortado, lixado, polido e atacada com reagente qumico,
de modo a revelar as interfaces entre os diferentes constituintes que compe o
metal.

1.

Metalografia qualitativa

Segundo Colpaert (2008), a descrio qualitativa do sistema

compreende uma lista das carcatersticas existentes neste sistema assim como
alguma qualificao destas caractersticas. As sees de gros, interfaces e
linhas aparecem, nas imagens bidimensionais, no microscpio como reas,
linhas e pontos.
Segundo DeHoff, a maior utilidade da avaliao do estado qualitativo da
microestrutura , possivelmente, detectar quais caractersticas esto ausentes
da linha de caracterisitcas possveis.
2. Metalografia quantitativa

O objetivo da metalografia quantitativa determinar o tamanho mdio

dos gros, a porcentagem de cada fase constituinte do material, a forma e o
tipo de incluses no metlicas, a forma e o tipo da grafite, no caso de ferros
fundidos e outros dados especficos de cada liga.
Como quase todas as propriedades mecnicas dos aos dependem do
tamanho do gro, estimativas do tamanho de gro esto entre as medidas mais
importantes da metalografia quantitativa. As medidas mais comuns para o
tamanho de gro so a interseo linear mdia, e o tamanho de gro ASTM,
dado por um nmero calculado a partir da interseco linear (Colpaert, 2008).
Segundo Colpaert (2008), h diversos mtodos para medir o nmero de
gros por unidade de rea em uma seo de uma amostra metalogrfica.
Os mtodos planimtricos, propostos no final do sculo XIX por Sauveur
e desenvolvidos no comeo do sculo XX por Jeffries envolvem a contagem do
nmero de gros dentro de uma rea conhecida, normalmente um crculo.
Equipamentos automticos de processamento de imagem podem empregar o
mtodo planimtrico (Colpaert, 2008).
De acordo com Colpaert (2008), alternativamente, o mtodo de
interseo, proposto por Heyn, emprega uma linha de comprimento conhecido
e conta o nmero de vezes que esta linha intercepta um contorno de gro.
Segundo Colpaert (2008), para garantir a mesma probabilidade de
interseo com contornos de gros orientados em todas as direes, a linha
empregada , frequentemente, um crculo. O nmero de intersees pemite
calcular a interseo linear mdia e a rea mdia de contornos de gro por
volume, assim como o nmero que representa o tamanho de gro ASTM.
Para que os resultados sejam significativos necessrio um tamanho mnimo de amostra (50
gros, em alguns mtodos). Resultados experimentais confirmam que amostras de tamanho
inferior conduzem a estimativas incorretas do tamanho de gro (Colpaert, 2008)
.

Colpaert (2008) cita que estas tcnicas permitem calcular um valor de

rea mdia dos gros interceptados pelo plano amostral. importante notar
que esta rea no a mdia da rea mxima de seo transversal de cada
gro, pois os planos amostrais no secionam os gros em sua maior rea.
Os mtodos experimentais podem ser utilizados de forma manual e de
forma automatizada, atravs de um sistema computadorizado de anlise de
imagens.

3. Macrografia
Segundo Colpaert (2008), a macrografia consiste no exame do aspecto
de uma pea ou amostra metlica, segundo uma seo plana devidamente
polida, e em geral, atacada por um reativo apropriado. O aspecto, assim obtido,
chama-se macroestrutura. O exame feito vista desarmada ou com auxlio
de uma lupa.

A palavra macrografia tambm empregada para designar os

documentos que reproduzem a macroestrutura, em tamanho natural ou com
ampliao mxima de 10 vezes.
1.

Preparo de corpos-de-prova para Macrografia

A tcnica do preparo de um corpo-de-prova de macrografia abrange as

seguintes fases:

Escolha e localizao da seo a ser estudada.

As principais sees realizadas em produtos semi-acabados e de
geometria regular so as sees longitudinais e transversais. A anlise de
algumas caractersticas macroestruturais em geral, realizada mais
adqeuadamente em um tipo especfico de seo. Algumas caractersticas
microestruturais para quais os cortes em seo transversal o preferido so,
por exemplo, verificao da homogeneidade do material ao longo de sua
seo, caracterizao da forma e intensidade de segregao (Colpaert, 2008).
Segundo Colpaert (2008), o corte longitudinal preferido quando se quer
verificar, por exemplo, se uma pea fundida, forjada ou laminada; avaliao
de soldas por frico, de topo.

Preparao de uma superficie plana e polida no lugar escolhido.

A obteno de uma superfcie adequada para o exame macrogrfico
compreende duas etapas: corte ou desbaste e polimento.
Segundo Colpaert (2008), o corte feito com serra ou com cortador de
disco abrasivo ou serra abrasiva, e localiza a superfcie a examinar. Quando
esses meios no sos viveis, recorre-se ao desbaste por usinagem ou por
esmeril comum, at atingir a regio de interesse para o exame.
J o polimento para o exame macrogrfico realizado com lixa. Lixas de
carboneto de silcio so as de emprego mais comum. Inicia-se o polimento em
direo normal aos riscos de usinagem ou de lixa grossa j existentes, at o
completo desaparecimento destes. Depois se passa para a lixa mais fina
seguinte, mudando de 90 a direo de polimento e continuando-o igualmente
at terem desaparecidos os riscos da lixa anterior, e assim por diante(Colpaert,
2008).

Ataque dessa superficie por um reagente qumico adequado.

Segundo Colpaert (2008), o contato do corpo-de-prova com o reativo
pode ser realizado de trs mtodos:

Ataque por imerso: a superfcie polida mergulhada em uma cuba

contendo certo volume de reagente.
Ataque por aplicao: uma camada de reativo aplicada sobre a seo
de estudo com auxlio de um pincel ou chumao de algodo.
Impresso direta de Baumann: uma folha de papel fotogrfico,
convenientemente umedecido com um reagente apropriado, aplicada sobre a
superfcie polida, e obtendo-se sobre ele um decalque da maneira como se
encontram distribudos os sulfetos, no ao.
De acordo com Colapert (2008), conforme sua durao e profundidade,
os ataques classificam-se em lentos ou profundos e rpidos ou superficiais.
Os ataques lentos visam obter uma corroso profunda no metal, com
relevo acentuado. O ataque pode durar horas e at mesmo dias. Por meio do
ataque rpido, com reativos fortes para esse fim, obtm-se o efeito desejado
em poucos minutos. Embora a corroso seja apenas superficial, produz,
entretanto, imagens suficientemente visveis.
4. Micrografia
Consiste no estudo dos produtos metalrgicos, com o auxlio do
microscpio, onde se pode observar as fases presentes e identificar a
granulao do material (Tamanho de gro), o teor aproximado de carbono no
ao, a natureza, a forma, a quantidade, e a distribuio dos diversos
constituintes ou de certas incluses.
Analise feita em um microscpio tico. Este tipo de microscpio possui
baixo campo focal, permitindo apenas a observao de superfcies
perfeitamente planas e polidas. Em razo disto, a preparao metalogrfica
tem grande importncia na qualidade de uma anlise Estes microscpios, em
geral, possuem sistemas de fotografia integrados, que permitem o registro das
anlises realizadas.
5. Microscopia tica

Segundo Colpaert (2008), emprega-se luz visvel que incide sobre a

amostra e refletida at o observador, como mostra o Esquema da Figura 1.

Figura 1Ilustrao de modos de iluminao em microscpio tico para metalografia.

Fonte: Colpaert (2008)

Diferentes tcnicas de iluminao podem ser empregadas na

microscopia tica. A iluminao obliqua ou inclinada pode ser usada para
ressaltar alguns aspectos da estrutura ou alterar a forma como o contraste
percebido. A iluminao mais comum a iluminao paralela ao eixo do
microscpio. De forma geral, estas formas de iluminao resultam em imagens

claras da regio plana ou no atacada da amostra em imagens escuras das

partes no-planas como trincas, poros etc., ou regies atacadas quimicamente
(Colpaert, 2008).
Em alguns casos excepcionais, podem ser empregadas objetivas capazes de iluminar a
superfcie do corpo-de-prova obliquamente com um feixe cnico, a chamada iluminao de
campo escuro. Os raios luminosos que incidem nas partes polidas no se refletem mais para
dentro da objetiva. Portanto, estas reas aparecem escuras. As partes atacadas, os bordos de
poros, arestas de trincas ou reas que no refletem a luz aparecem claras ou, s vezes,
brilhantes (Colpaert, 2008).

1.

Preparao de amostras para Microscopia tica

A tcnica de preparao de amostras para a realizao de um ensaio

microgrfico em microscpio tico pode ser divida nas seguintes fases:

Escolha e localizao da seo a ser estudada.

Consiste num processo similar ao usado para macrografia, o qual j foi
descrito anteriormente. Para a microscopia s necessrio levar em
considerao o peso da amostra, devido ao peso mximo suportado pela portaamostra do microscpio.

Obteno de uma superfcie plana e polida no local escolhido para

estudo.
Conforme Colpaert (2008), na preparao clssica, aps o corte com
serra, plaina, ou no torno, h duas opes principais: a amostra embutida em
plstico ou resina que permite maior firmeza e facilidade de manuseio, alm de
permitir medidas para a preservao das arestas durante o polimento ou a
amostra submetida diretamente a preparao. A preparao da superfcie de
interesse envolve o lixamento em lixadeiras motorizadas seguindo uma
sequncia de papeis de lixa de carboneto de silcio, com resfriamento e
lubrificao por gua.

Exame ao microscpio para a observao das ocorrncias visveis sem

ataque.
Segundo Colpaert (2008), o exame ao microscpio antes de realizar
qualquer ataque tem duas funes: a primeira permite avaliar a qualidade do
polimento realizado. Diversos defeitos de polimento podem influenciar o
resultado dos ataques qumicos e confundir a avaliao metalogrfica.
essencial que, antes de realizar um ataque, a qualidade do polimento seja
satisfatria. A segunda funo importante do exame microscpico sem ataque
avaliar caractersticas estruturais que so visveis nesta condio, tais como
incluses no metlicas, grafita, trincas, porosidade etc. embora muitas vezes
seja necessrio observar estas caractersticas tambm aps o ataque, a
observao sem ataque muito mais clara e objetiva e a ausncia das
informaes produzidas pelo ataque evita confuses na anlise.

Ataque da superfcie por reagente qumico adequado.

Colpaert (2008) cita que, o primeiro passo para a realizao do ataque

qumico a escolha do reagente a empregar. A seguir, necessrio observar
os cuidados de segurana do trabalho e cuidados ambientais relativo ao uso e
ao descarte do reagente selecionado. Por fim, determinados reagentes
somente so suficientemente ativos quando usados imediatamente aps a
preparao, enquanto outros podem ser estocados, desde que observadas
determinadas condies de temperatura e exposio ao meio ambiente.
O ataque propriamente dito feito, normalmente, agitando o corpo-deprova com a superfcie polida mergulhada no reativo. A durao do ataque
depende da concentrao do reativo e da natureza e estrutura do material a ser
examinado. O tempo mdio para aos comuns e ferros fundidos, empregandose reativos usuais, da ordem de 5 a 15 segundos.

Exame ao microscpio para a observao da microestrutura.

Registro do aspecto observado (fotografia).

6. Microscopia eletrnica
Segundo Colpaert (2008), a microscopia eletrnica aproveita o grande
numero de fenmenos de interao entre eltrons e metais, para extrais
informaes importantes de uma amostra. Em diversos fenmenos, eltrons
tm comportamento que pode ser descrito como radiao.
De acordo com Colpaert (2008), quando a amostra suficientemente
fina e a energia e a corrente do feixe so suficientemente elevadas, possvel
obter informaes dos sinais que atravessam a amostra. Estes sinais so
tipicamente os sinais analisados em microscpio eletrnico de transmisso. As
imagens observadas so o resultado da interao de um grande nmero de
eltrons com a amostra.
Os sinais que no atravessam a amostra podem ser empregados em
microscpio eletrnico de varredura. Em funo das interaes que os eltrons
tem com o material da amostra, uma regio significativamente maior do que a
rea de impacto do feixe, por ele excitada (Colpaert, 2008).
Todos os microscpios eletrnicos (tanto de transmisso como de varredura) tm, em comum,
a necessidade de ter uma fonte capaz de gerar um feixe de eltrons com energia e intensidade
compatvel e um conjunto de lentes capazes de focalizar e orientar este feixe sobre a amostra
(Colpaert, 2008).

Segundo Colpaert (2008), os microscpios eletrnicos de varredura tm

um conjunto de lentes capazes de fazer o feixe varrer a amostra e os
microscpios eletrnicos de transmisso tem um conjunto tico que processa
os feixes transmitidos e difratados de modo a obter a imagem desejada.

1.

O Microscpio Eletrnico de Varredura

Segundo Colpaert (2008), a principal caracterstica do microscpio

eletrnico de varredura que embora a iluminao seja feita com um feixe de
eltrons bastante focalizado, uma rea relativamente grande da amostra pode
ser observada, pois o feixe de eltrons varre a superfcie da amostra. medida
que o feixe varre a amostra sinais so gerados e coletados por um dos
detectores do microscpio e apresentados em uma tela com uma varredura
sincronizada com a varredura do feixe sobre a amostra. A relao entre a
dimenso varrida sobre a amostra, pelo feixe, e a dimenso varrida na tela,
representa o aumento nesse microscpio. Como esquematizado na figura 2.

Figura 2 Esquema da operao de um MEV

Fonte: Colpert (2008)

H dois tipos de eltrons atuantes na microscopia eletrnica de

varredura: eltrons secundrios e eltrons retroespelhados.
De acordo com Colpaert (2008), a distino energtica entre eltrons
secundrios e retroespelhados arbitrria. Eltrons secundrios so os

eltrons de baixa energia emitidos pela amostra. Por serem de baixa energia,
somente escampam de uma regio muito prxima superfcie da amostra. O
detector de eltrons secundrios , normalmente, colocado em posio ao lado
e acima da amostra e polarizado de forma a selecionar os eltrons que o
atingem por sua energia. As imagens obtidas com eltrons secundrios so
especialmente adequadas para a observao dos detalhes topogrficos.
Alguns eltrons, ao interagirem com os tomos da amostra, tm sua
trajetria alterada em praticamente 180, sem perder energia, em um
mecanismo similar a um choque eltrico. Estes eltrons retornam em direo
superfcie da amostra e, quando conseguem escapar da amostra, podem ser
captados em um detector que se situa em um plano praticamente normal ao
feixe incidente. Como o fenmeno de retroespelhamento fortemente
dependente do numero atmico dos tomos que compem a amostra, a
intensidade do sinal depende desta grandeza e a imagem obtida, portanto, traz
esta informao (Colpaert, 2008).
Como os eltrons retroespelhandos tm uma trajetria dentro do cristal
que esto amostrando, no seu caminho de volta a superfcie, sofrem, tambm,
difrao. Nas ultimas dcadas o aproveitamento da informao da difrao
sofrida pelos eltrons retroespelhados se tornou uma das ferramentas mais
importantes na analise da textura cristalogrfica, orientao relativa entre
cristais etc. (Colpaert, 2008).

2. Microscopia Eletrnica de Transmisso

Segundo Colpaert (2008), o microscpio eletrnico de transmisso

(MET) usa, para formao de imagem, os feixes eletrnicos que atravessam a
amostra. Para tal, as amostras devem ser submetidas a um processo de
preparao que envolve a produo de regies de espessura muito pequena.
Como em geral, opera-se, com aumentos bastante grandes, o volume do metal
que examinado no MET muito pequeno. Assim, este microscpio mais
utilizado para avaliar caractersticas gerais da estrutura do que
particularidades, uma vez que muito difcil garantir que reas de interesse
particular sejam efetivamente analisadas.
Nas imagens obtidas no MET possvel obter difratogramas (figuras de difrao) de partculas
extremamente pequenas e presentes no material; identificar a orientao cristalogrfica de
cada gro e estudar as relaes cristalogrficas entre as fases; possvel tambm identificar
as discordncias e sua orientao no metal (Colpaert, 2008).

9. ESPECTROMETRIA

A espectrometria um mtodo para identificar os diferentes tomos que

compe uma substncia. Um espectrmetro bombardeia uma substncia com
eltrons para produzir ons, ou tomos eletricamente carregados. Os ons
atravessam um campo magntico que curva suas trajetrias de modos diferentes,

dependendo de suas massas. O campo separa os ons em um padro

chamado espectro de massa. A massa e a carga dos ons podem ser medidas
por sua posio no espectro. Os cientistas identificam assim os elementos e
istopos presentes na amostra.
Existem vrios tipos de espectrometria como a de emisso tica, de raio X e
de tomos. Mas trataremos especificamente da espectrometria de emisso
tica.
1.

Espectrometria de emisso tica

Esta tcnica engloba uma srie de mtodos que se baseiam na emisso

de radiao caractersticas de elementos qumicos em contato com fontes
termicas ou eltricas, segundo (www.whitemartins.com.br, 2013).
Estas fontes excitam os tomos a nveis maiores de energia que a energia do estado
fundamental. Quando do estado excitado retornam ao estado fundamental, emitem uma
radiao caractersticas de comprimento de onda especfica para cada elemento, ou seja,
neste mtodo, uma centelha gerada entre a superfcie metlica da amostra e o eletrodo,
fazendo com que os elementos presentes no material evaporem e se excitem, emitindo sinais
luminosos caractersticos de cada elemento, permitindo desta forma, uma anlise
simultnea.Para esse processo utilizamos o argnio que tem como funo formar uma
atmosfera inerte na na cmara onde ocorre a excitao dos eltrons da amostra. Dependendo
do consumo, o fornecimento poder ser realizado na forma liquefeita, em recipiente criognico,
segundo (www.whitemartins.com.br,2011).

Segundo (www.labmat.com.br, 2013) este tipo de espectrometria utilizado

no controle da qualidade de indstrias siderrgicas, metalrgicas e fundies,
anlise de metais poluentes, produo de catalisadores, etc. So analisados os
seguintes elementos:
Bases de anlise:
Ferro
Cobre
Cobalto
Alumnio
Nquel
Elementos analisados: Carbono, Silcio, Nquel, Molibdnio, Cobre, Alumnio,

Cobalto, Ferro, Zinco, Zircnio, Chumbo, Arsnio, Csio, Cdmio, Prata,

Mangans, Fsforo, Enxofre, Cromo, Vandio, Tungstnio, Nibio, Titnio,

Estanho, Clcio, Magnsio, Antimnio.

Figura 3 Espectrmetro de emisso tica
Fonte: www.gnrbrasil.net

Caractersticas tcnicas de um espectrmetro tico:

Utiliza PC (software Met32) para controlar todas as suas funes, sendo o comando feito
atravs de fibras pticas via USB 2.0. O Solaris CCD Plus dispe de detectores digitais
eletrnicos com alta resoluo de 3.648 elementos ativos, at 16 CCD, dependendo da
aplicao, campo espectral de 140-800 nm, retculo hologrfico plano com luminosidade de
2.700 linhas/mm e distncia focal de 500 mm. Possui fonte de queima Spark-multifrequncia e
parmetros de excitao por computador,segundo (www.gnrbrasil.net, 2011).

1.

ESFOROS ENVOLVIDOS ANLISE SEM CLCULOS

Esforos de flexo e toro.

Flexo: Segundo Beer (1995) ocorre quando h carregamento

transversal entre os apoios. O esforo de flexo configura-se em uma pea,
quando esta sofre ao de cargas cortantes, que venham a originar um
momento fletor significativo.
Toro: De acordo com Beer (1995), se refere ao giro de uma barra
retilnea quando carregada por momentos (ou torques) que tendem a produzir
rotao sobre o eixo longitudinal da barra.
2. FOTOGRAFIA DAS AMOSTRAS

Figura 4 - Amostra
Fonte: O autor

Fotografia da amostra antes de ser submetida ao processo de

metalografia e ento a ansile microestrutural.

Figura 5 Amostra pronta para a anlise microscpica.

Fonte: O autor

Amostra j submetida ao processo metalogrfico, pronta para ser

analisada microscpicamente.

3. MATERIAL ENVOLVIDO

Foram realizados testes de dureza no interior do componente mecnico

e na parte externa da pea. Realizaram-se trs testes para cada seo da pea
dos seguintes materiais:

Amostra de ao SAE 1020

Amostra de ao SAE 1045

Amostra de ao SAE 8620

Amostra de ao SAE 4340

Amostra de ferro fundido cinzento

Amostra de ferro fundido nodular

Amostra de ferro fundido branco

Aps estes ensaios realizou-se a metalografia do material. Inicio-se p
polimento utilizando-se uma sequncia crescente de lixas dgua (200, 320,
400 e 600), subsequentemente poliu-se a amostra. Para o polimento utilizou-se
oxido de alumnio. Esses processos esto demonstrados nas figuras 6 e 7.

Figura 6 Lixamento da superfcie a ser analisada

Fonte: O autor

Figura 7 Polimento com feltro da superfcie a ser analisada

Fonte: O autor

Depois de realizar todos os procedimentos de preparao das amostras

efetuou-se o ataque com Nital e analisou-se no microscpio.

Figura 8 - Secagem da amostra.

Fonte: O autor

Utilizou-se o secador de cabelo para acelerar o processo de secagem.

Figura 9 - Amostra sendo submitida ao ataque qumico do Nital.

4. RESULTADOS E DISCUSSO

Abaixo esto dispostos os dados dos ensaios de dureza.

Figura 10 - Amostra sendo submetida ao ensaio de dureza.

Aparelho de medio de dureza.

Marca DUROTWIN PLUS OT 20
Modelo MITUTOYO
Serial/patrimnio 036471
Condio de Uso BOA
1 tipo de ensaio HRC

Carga utilizada 150Kg

Penetrador PONTA DE DIAMANTE INDUSTRIAL

2 tipo de ensaio HRC SUPERFICIAL

Carga utilizada

45Kg

Penetrador PONTA DE DIAMANTE INDUSTRIAL

3 tipo de ensaio BRINELL

Carga utilizada 187,5 Kg

Penetrador ESFERA 2,5MM DE DIMETRO

Tabela 1 - Dureza do material a partir do centro do eixo

Centro do eixo (ncleo)

Teste
Amostra de ao SAE 1045
Sem tratamento

Dureza (HRC)
12,5

Amostra de ao SAE 1045

Temperado resfriado agua

49

Amostra de ao SAE 1045

Temperado resfriado leo

13,5

Amostra de ao SAE 1045

normalizado
HRC nula
Amostra de SAE 1020
Cementado resfriado gua

56

Amostra de SAE 1020

Cementado resfriado leo
44
Amostra de SAE 1020 Cementado resfriado ar

1,5
FONTE: O autor

Tabela 2 - Dureza do material na parte externa do eixo

Parte Externa (superfcie)

Teste
Amostra de ao SAE 1045
Sem tratamento

Dureza
16

Amostra de ao SAE 1045

Temperado resfriado agua

50,5

Amostra de ao SAE 1045

Temperado resfriado leo

18,5

Amostra de ao SAE 1045

normalizado
5
Amostra de SAE 1020
Cementado resfriado gua
60
Amostra de SAE 1020
Cementado resfriado leo

19

Amostra de SAE 1020 Cementado resfriado ar

4
FONTE: O autor

No experimento de tratamento trmico usou-se o ao SAE 1045 e SAE

1020 tratado por tmpera/cementao resfriado ao ar, agu e leo em que se
obteve os valores de dureza, mostrados na tabela acima.
Analisando este valor conclui-se que a forma de resfriamento vai
interferir diretamente na dureza final do material tratado, quanto mais rpido ele
for resfriado maior vai ser sua resistncia a perfurao, e que nota-se
nitidamente a diferena de dureza entre a suas superfcies e ncleo. E que
enquanto na Tmpera e Cementao o material torna-se mais duro, na
normalizao ocorre o processo inverso, atravs do alvio de tenses o material
fica mais mole.

A seguir as imagens da metalografia realizadacom microscpico:

Marca KONTROL
Modelo IM-713
Serial/Patrimnio 911839/035629
Condio de uso BOA
Aplicao MICROSCOPIA DOS MATERIAIS ANALIZADOS

Figura 11 - Metalografia da amostra SAE 8640.

Fonte: O autor

Obsvamos que este ao 8640 um dos aos de mdio carbono e baixa

liga mais utilizados. um ao para beneficiamento com temperabilidade mdia.
utilizado na fabricao de diferentes componentes mecnicos combinando
elevada resistncia mecnica combinada com resistncia fratura. Pode ser
nitretado para elevar a resistncia ao desgaste, temperado por apresentar a
quantidade
de
carbono
ideal.

Figura 12 Metalografia da amostra SAE 8620

Fonte: O autor

Ainda verifica-se a presena de perlita e ferrita, tal qual, so alguns dos

micro constituintes bsico do ao.
Com essas anlises percebeu-se que a pea de ao liga,
provavelmente SAE 8620, e percebeu-se tambm que a superfcie do
componente mecnico martensita, portanto, reunindo essas informaes

juntamente com os dados do teste de dureza notou-se que o material tem

tratamento trmico, tal qual cementao.
Segundo Chiaverini (1996) o processo de cementao consiste na
introduo de carbono na superfcie do ao, de modo a que este, depois de
convenientemente temperado, apresente uma superfcie muito mais dura.
necessrio que o ao, em contato com a substncia capaz de fornecer
carbono, seja aquecido a uma temperatura em que a soluo de carbono no
ferro seja fcil. Para isso a temperatura deve ser superior da zona critica,
onde o ferro se encontrar na forma alotrpica gama. A profundidade de
penetrao do carbono depende da temperatura e do tempo.
A cementao e posterior beneficiamento ligado ao nquel, cromo, e
molibdnio o que lhe confere melhor temperabilidade, por conter baixa
quantidade de carbono. A cementao utilizada para aumentar a resistncia
ao desgaste em um ncleo de boa resistncia mecnica e fratura. Aps
cementao a dureza superficial pode atingir 62 HRC.

Figura 13 Metalografia da amostra SAE 1045

Fonte: O autor

Verifica-se que o SAE 1045 um ao para beneficiamento com

temperabilidade baixa, ou seja, baixa penetrao de dureza na seo
transversal, no se recomendando seu uso para sees superiores a 60 mm.
Nota-se que esta microestrutura mais escura em relao ao ao SAE 1020,
por ter maior concentrao carbono ocorrendo a formao de Ferrita. Possui
uma boa relao entre resistncia mecnica e resistncia fratura. utilizado
em geral com durezas de 180 a 300 HB. Para grandes sees utilizar o
tratamento trmico de normalizao.

Figura 14 Metalografia da amostra SAE 1020

Fonte: O autor

O SAE 1020 um dos aos ao carbono mais comum utilizado como

ao para cementao com excelente relao custo benefcio comparado com
aos mais ligados para o mesmo propsito. Nota-se a presena de Ferrita
sendo identificada como as partes pretas e Perlita parte branca. Possui
excelente plasticidade e soldabilidade. Aps cementao beneficiado, mas
possui menor capacidade de endurecimento.

Figura 15 Metalografia da amostra de Ferro Fundido Nodular

Fonte: O autor

Observa-se que a composio do ferro fundido vermicular muito similar

do cinzento. A grande diferena est na presena de magnsio. No
tradicional, o cinzento, no h magnsio, ou h quantidade muito pequena. No
vermicular, o elemento qumico tem de ser mantido em uma faixa bastante
estreita, entre 0,010% e 0,012%.
Pode- se enumerar algumas caractersticas tpicas que apontam para o
emprego de ferro fundido nodular:
excelente ductilidade (de at 20% em componentes recozidos);
tenacidade superior aos dos ferros fundidos brancos e cinzentos;
limite de escoamento mais alto que os demais ferros fundidos e aos
comuns;
melhor resistncia ao impacto e a fadiga que os ferros fundidos
cinzentos;

 baixa capacidade de absorver vibraes e

sua usinabilidade e a resistncia ao desgaste, que dependem,
basicamente, da microestrutura da matriz.

Figura 16 - Ferro Fundido Cinzento.

Fonte: O autor

Para os ferros fundidos cinzentos os teores de carbono variam entre 2,5

e 4,0%p, e os teores de silcio variam entre 1,0 e 3,0%p. Um ferro fundido com
um alto teor de silcio ( 2%p Si) sofre grafitizao to imediatamente que a
cementita (
) nunca se forma. Durante a solidificao surgem lamelas ou
flocos de grafita no metal.
O ferro fundido cinzento comparativamente fraco e frgil, com
ductilidade quase desprezvel, quando submetido trao, pois as
extremidades das lamelas ou flocos de grafita so afiadas e pontiagudas, e
podem servir como pontos de concentrao de tenses quando uma tenso de
trao externa aplicada. Mas os ferros cinzentos so eficientes no
amortecimento de energia vibracional, sendo indicados para aplicaes

expostas a vibraes, tais como as estruturas de base para mquinas e

equipamentos pesados.

Figura 17 - Ferro Fundido Branco.

Fonte: O autor

Apresentam a maioria do carbono (C) na forma de cementita (

) em
lugar de grafita. A superfcie fraturada dessa liga de colorao esbranquiada.
O ferro fundido branco extremamente duro, com fratura frgil e resistente
abraso.

4. CONCLUSO

Com o desenvolvimento deste relatrio, pode-se concluir que muito

importante conhecer os materiais e principalmente os tratamentos trmicos que

podem ser empregados nos aos. Verificou-se que esses fatores fazem parte
das principais caractersticas que um componente mecnico pode apresentar
para prolongar a vida til, conforme sua aplicao. Sendo assim, devemos
conhecer a composio qumica e estrutural do componente em questo e a
partir disso realizar os tratamentos trmicos necessrios que podem ser
aplicados ao ao, visando aprimorar suas propriedades mecnicas.
O ao em questo foi submetido ao tratamento termoqumico de
Cementao. Graas a isso, apresentou forte dureza em sua superfcie para
resistncia ao desgaste e ncleo tenaz para resistncia a esforos de toro e
flexo. Utilizando testes laboratoriais, como esforos fsicos os quais o material
foi submetido, admite-se que a flexo possa ter sido a principal causadora do
problema mecnico.
Ao final deste material podemos citar as possveis causas do problema.
Utilizando a metodologia adotada para os testes laboratoriais, bem como a
anlise de esforos fsicos os quais o material submetido, pressupem-se
algumas causas.

5. BIBLIOGRAFIA

BEER, F.P. e JOHNSTON, JR., E.R. Resistncia dos Materiais, Makron Books,
3 Ed., So Paulo, 1995.
CALLISTER Jr, WILLIAN D. Cincia e Engenharia de Materiais: Uma
Introduo. LTC. 8a ed. Rio de Janeiro. 2002.

CHIAVERINI. Vicente -AOS E FERROS FUNDIDOS- SETIMA EDIO-1996

-ASSOCIAO BRASILEIRA DE METALURGIA E MATERIAIS- ABM

CHOLLET H. M. Curso prtico para mecnicos: O motor e seus acessrios.

Hemus livraria editora. 1 Ed. So Paulo. 1981.

COLPAERT, Hubertus. Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns.

Edgard Blcher. So Paulo. 2008.

SCHADEK. Manual do motor uma introduo aos motores automotivos.

Catlogo tcnico.

http://www.eticalaboratorio.com.br/laboratorio-metalurgico/analise quimica/espectrometria-otica/

acesso dia 06/05/2012

www.gnrbrasil.net acesso dia 03/06/2012

http://www.labmat.com.br acesso dia 02/05/2012

http://www.professores.uff.br/salete/res1/aula13.pdf acesso dia 05/06/12

http://www.urisan.tche.br/~lemm/metalografia.pdf acesso dia 10/05/2012

www.whitemartins.com.br, acesso dia 16/05/2012