Universidade Estadual de Campinas

Instituto de Qumica

QF732Fsico-Qumica Experimental II
Tema 2: Propriedades de Materiais
Experimento 2: Difrao de Raios-X
Data: 16/03/2017

Prof. Jssica Oliveira

PED Francine Scheffer

Grupo 8
Alexandre Dias RA: 134758
Brbara Corra Tudisco RA:145383
Helena Munhoz Erbolato RA: 148612
Tatiana Augusta de Souza RA: 148985
Introduo
Os raios X se tratam de uma radiao eletromagntica com energia mais alta e
comprimento de onda menor do que a luz visvel, e assim como qualquer radiao com
natureza ondulatria, ela pode ser absorvida, espalhada, refletida ou difratada1. Esta ltima
propriedade passou a ser utilizada como uma tcnica para caracterizar a estrutura interna de
slidos cristalinos e de polmeros.

Na tcnica de difrao, o comprimento de onda da radiao deve ser comparvel

com os espaamentos caractersticos do objeto que ir causar tal difrao, com isso, para
obter padres de difrao de camadas de tomos em um cristal, da ordem de 100 pm, a
onda na regio dos raios X so as mais adequadas2.

Os slidos cristalinos possuem um arranjo interno regular de tomos ou ons e

quando o feixe monocromtico dos raios X incide sobre os planos de difrao do retculo
desse cristal, pode ocorrer a reflexo do feixe e, a partir da lei de Bragg, pode-se relacionar
distncia entre planos, ngulo de incidncia e o comprimento de onda incidido.

2 = (Lei de Bragg)

Onde d = distncia entre planos, = ngulo entre feixe incidente e o plano, n =

nmero inteiro de comprimento de onda e = comprimento de onda do feixe.

Os slidos cristalinos podem ser classificados entre metlico, inico, reticular e

molecular.

Slidos metlicos so formados por ctions unidos por um mar de eltrons e so

maleveis, dcteis, lustrosos, condutores trmicos e eltricos.

Slidos inicos so formados pela atrao mtua de ctions e nios, so duros,

rgidos, quebradios, com pontos de fuso e ebulio altos e aqueles que so solveis em
gua formam solues condutoras.

Slidos reticulares so formados por tomos ligados covalentemente em todo o

slido, tambm so duros, rgidos e quebradios, o ponto de fuso muito alto e so
insolveis em gua.

1
 Slidos moleculares so formados por conjuntos de molculas mantidas por foras
intermoleculares, com pontos de fuso e ebulio baixos e so quebradios quando esto
puros.

Objetivo
O objetivo do experimento analisar por difratometria de raios-x a estrutura do
slido cristalino metlico (Ni), comparando com um material polimrico (celulose) e uma
nanopartcula (Fe).

Metodologia
Os experimentos foram realizados no laboratrio de difratometria de raios-x pela
tcnica Renata no equipamento. Foram analisadas amostras de nquel, celulose e
nanopartcula de ferro. Os dados dos difratogramas foram tratados no programa Origin,
para obter parmetros de cela unitria, distncia entre planos do cristal e densidade do
metal, para celulose, calculou-se grau de cristalinidade pelo mtodo de Segal3.

Resultados e Discusses

Foram plotados os difratogramas obtidos das amostras de Nquel, de celulose e da

nanopartcula de Ferro, representados pela linha preta presente, respectivamente, nas
Figuras 1, 2 e 3. A partir de dados da ficha cristalogrfica de cada produto obtido em
database, comparou-se, com linhas vermelhas em cada grfico, os valores dos picos.

2
Figura 1. Difratograma do metal nquel e dados da Ficha JCPDS #04-0850.

Figura 2. Difratograma da celulose e picos fornecidos.

3
Figura 3.Difratograma da nanopartcula de ferro/magnetita e dados da Ficha JCPDS #19-
0629.

Em relao ao Nquel, observou-se correspondncia do difratograma obtido com a

ficha cristalogrfica do sistema cbico, ao invs do hexagonal, confirmado pela literatura.4

Pode-se observar que para as trs amostras, os valores de 2 obtidos foram

correspondentes com os valores encontrados na database fornecida. Alm disso, o
difratograma do metal apresenta picos bem definidos, enquanto que o do polmero e da
nanopartcula so alargados e com bastante rudo.

Para o polmero, isso ocorre pela presena da fase amorfa, que por no possuir
planos cristalogrficos bem definidos, difrata os Raios-X em outras direes gerando
interferncias na anlise. Para a nanopartcula, isso ocorre porque, como o material muito
pequeno, pode no se obter intensidade suficiente para os picos, o material no ter um
padro de difrao, ou at mesmo sofrer interferncia do vidro no porta amostra.

4
 A realizao da varredura em uma velocidade mais lenta e a utilizao de um
branco com o vidro pode ajudar a diminuir essas interferncias no difratograma. Alm
disso, caso a amostra seja muito irregular, necessrio macerar a amostra para torna-la
mais homognea e evitar o deslocamento de picos.

Abaixo, temos uma tabela com dados dos picos cristalinos do metal Nquel.

Tabela 1. Dados dos picos cristalinos do metal Nquel.

Picos 2 sen sen d (nm) h k l h + k+ l
1 44,505 22,252 0,3786 0,1433380 0,29 1 1 1 3
2 51,844 25,922 0,4382 0,1920192 0,34 2 0 0 4
3 76,366 38,183 0,6182 0,3821712 0,48 2 2 0 8
4 92,939 46,469 0,725 0,5256250 0,56 3 1 1 11
5 98,440 49,220 0,7572 0,5733518 0,58 2 2 2 12
6 121,922 60,961 0,8743 0,7644005 0,67 4 0 0 16
7 144,655 72,327 0,9528 0,9078278 0,73 3 3 1 19
8 155,632 77,816 0,9775 0,9555063 0,75 4 2 0 20

Considerando o nquel com estrutura cbica de face centrada, calculou-se um raio

atmico de 1,15 e uma densidade do retculo de 8,94 kg/m, foram usadas as equaes14
e 25, a seguir:

= 22( )

= ; = 3 ( )

A partir do difratograma da celulose, pode-se calcular um grau de cristalinidade de

91% para o polmero, pela seguinte equao3 (Equao 3).

002
100% = ( )
002

Segundo a literatura, esse mtodo de calcular o grau de cristalinidade melhor para

comparao entre amostra do que para determinao efetiva da porcentagem de
cristalizao da amostra.

5
Concluso
Neste experimento, pode-se observar melhor resoluo para amostras cristalinas em
comparao com polmeros e nanopartculas, pois amostras cristalinas possuem um maior
grau de empacotamento e uma estrutura tridimensional bem definida com poucos defeitos,
enquanto os polmeros, alm de no se empacotarem em cristais to grandes, costumam
possuir mais defeitos em sua estrutura e apresentarem-se na forma de slidos amorfos ou
semi-cristalinos (i.e., aqueles que possuem uma regio cristalina cercada por regies
amorfas).

Nota-se tambm, a robustez e preciso da tcnica: com exceo do difratograma da

nanopartcula, que apresentou grandes rudos e com isso dificuldades em se fazer uma
correspondncia vlida com a ficha cristalogrfica, os demais difratogramas possuram um
alto grau de correspondncia, permitindo assim uma concluso precisa sobre a natureza da
amostra analisada.

Assim, desde que se possua um slido adequado para a anlise, a tcnica de

Difrao de Raios X mostra-se eficiente na identificao e caracterizao de amostras
slidas, atravs da comparao dos difratogramas obtidos experimentalmente com dados de
uma database oficial.

Referncias Bibliogrficas
1. Whiston, C. X-raymethods, JonhWiley& Sons, London, 1987.
2. ATKINS, P.W.; JONES, Loretta. Princpios de qumica: questionando a vida moderna e o
meio ambiente. 3.ed. Porto Alegre: Bookman, 300 302, 2006.
3. Seagal,L.;Creely,J.J.;Martin,Jr.A.E.;Conrad,C.M.Anempiricalmethodforestimatingt
hedegreeofcrystallinityofnativecelluloseusingthex-raydiffractometer,
TextileResearchJournal,29,786-794,1962.
4. http://www.joinville.udesc.br/portal/professores/daniela/materiais/Aula_3___Estrutu
ra_Cristalinos.pdf
5. http://lqes.iqm.unicamp.br/images/vivencia_lqes_index_distancias_interplanares.pdf