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Gesto pela qualidade

Controle estatstico
do processo

Para quem uma empresa obtenha um Certificado de Qualidade, necessrio que ela
adote procedimentos baseados em Normas de qualidade como a ISO 9000.

O alcance dessa meta depende, principalmente, de que as pessoas envolvidas no


processo, tenham conhecimentos bsicos de Controle Estatstico do Processo (CEP)
que uma ferramenta muito usada na empresas na busca da Qualidade.

Considerando esses aspectos, esta unidade apresenta conceitos e noes bsicas


referentes ao CEP. So descritos os objetivos do CEP, sua importncia para a melhoria
da qualidade, mostrando os tipos de grficos utilizados, como constru-los e como
fazer sua anlise no controle do processo.

Conceitos bsicos de CEP

Controle: fazer algo se comportar dentro dos limites preestabelecido.

Estatstica: a parte da matemtica que nos permite tirar concluses a partir de uma
srie de dados observados.

Processo: a combinao necessria entre homem, materiais, mquinas,


equipamentos e o meio ambiente para fabricar um produto.

Tipos de variaes
Nunca dois elementos fabricados, so exatamente iguais.

Existem dois tipos de variaes:


Variao aleatria.
Variao casual.

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Variao aleatria
Fazem parte da natureza do processo, esto sempre presentes, devem ser diminudas
e controladas

Exemplos:
Desgaste da ferramenta.
Material heterogneo.

Variao casual
So de certa forma imprevisveis. Quando detectados devem ser eliminados
rapidamente.

Exemplos:
Quebra da ferramenta.
Obstruo do canal de alimentao da mquina.

Tipos de controle

Podemos controlar a pea de duas maneiras:


Controle por variveis.
Controle por atributos.

Controle por variveis


o controle baseado nas medidas das peas.

Exemplo: espessura, peso, dureza, comprimento, etc.

Controle por atributo


Entende-se por atributo, toda variao de padro sem se fazer medidas numricas.

Exemplos: em um amostra de 100 peas, 12 esto com defeito.

Definies
Elementos (x): a unidade considerada para estudo estatstico. Exemplo: uma pea,
um conjunto, um indivduo.

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Populao: o conjunto de todas as peas produzidas por um processo de


fabricao. Exemplo: produo de garrafas de cerveja de uma fbrica.

Lote: o conjunto de peas produzidas por um processo de fabricao num intervalo


de tempo. Exemplo: produo de garrafas do dia 09/10/1998.

Amostra: o conjunto de peas retiradas do lote para estudo estatstico.

Tamanho da amostra: o nmero de elementos existentes na amostra,


representada pela letra n.

Amostragem (N): o nmero de amostras consideradas para estudo.


Exemplo: 12 amostras de 5 elementos cada. N = 12.

Grfico de controle: a projeo grfica do comportamento do processo. Os grficos


de controle podem auxiliar a distinguir as variaes causais e aleatrias.

Os grficos so elaborados pelos prprios operadores da produo e as anlises so


feitas pelos operadores ou supervisor local, indicando ou no a necessidade de uma
ao corretiva.

No controle estatstico, estes grficos so tambm chamados de carta de controle.

Limites de controle: so fronteiras da regio onde esto compreendidas as variaes


aleatrias.

Construo do grfico

Clculo da mdia da amostra ( x ); soma-se os valores encontrados na amostra e


divide-se pelo nmero de elementos: Exemplo:
Seja a amostra: 12; 13; 15; 20 e 10.

12 13 15 20 10
x 14
5

Clculo da amplitude da amostra (R): a diferena entre o maior e o menor valor


encontrado na amostra. Exemplo:

Seja a amostra: 4,4; 2,8; 4,2; 3,4 e 2,6

R = 4,4 - 2,6 = 1,8

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Preenchimento da carta de controle


A carta de controle deve conter as seguintes informaes:
A identificao pea.
A caracterstica a ser controlada.
A especificao da engenharia.
A descrio da operao.
A identificao da estao ou mquina.
A rea ou departamento.
As observaes quando necessrio.

Coletas de dados
A data da leitura.
A hora da leitura.
A identificao do operador.
A soma dos valores da amostra.
A mdia da amostra.
A amplitude da amostra.

Construo do grfico
A amostragem abaixo, foi obtida junto ao equipamento de teste de presso da bomba
de leo dos motores Famlia II - Monza.

As especificaes referentes aos ensaios so: 70 a 90 psi a 32000 rpm.

Clculo dos limites

Grfico das mdias

LC = X X = mdia das mdias


LSC = X A2. R R = mdias das amplitudes
LIC = X A2. R A2 = tabela I

Grfico das amplitudes

LC = R D4 = tabela I
LSC = D4 . R D3 = tabela I
LIC = D3 . R

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Valores padronizados para distribuio normal e variveis contnuas.

n A A2 D3 D4
2 2,121 1,880 0 3,127
3 1,732 1,023 0 2,575
4 1,500 0,729 0 2,282
5 1,342 0,577 0 2,115
6 1,225 0,483 0 2,004
7 1,134 0,419 0,076 1,924
8 1,061 0,373 0,136 1,864
9 1,000 0,337 0,184 1,816
10 0,949 0,308 0,223 1,777
11 0,905 0,285 0,256 1,744
12 0,866 0,266 0,284 1,716
13 0,832 0,249 0,308 1,692
14 0,802 0,235 0,329 1,671
15 0,775 0,223 0,348 1,652
16 0,750 0,212 0,364 1,636
17 0,728 0,203 0,379 1,621
18 0,707 0,194 0,392 2,608
19 0,688 0,187 0,404 1,596
20 0,671 0,180 0,414 1,586
21 0,655 0,173 0,425 1,575
22 0,640 0,167 0,434 1,566
23 0,626 0,162 0,443 1,557
24 0,612 0,157 0,452 1,548
25 0,600 0,153 0,459 1,541
N = tamanho da amostra

Capacidade do processo

a faixa da populao na qual se situam 99,73% das peas produzidas pelo processo.
Esses so os limites naturais do processo.

Assim: CP = X 3 . ou 6 . .

Contudo, para fins de avaliao do processo, temos que comparar a CP com as


especificaes ou padres do produto.

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Assim para a indstria automobilstica, um processo considerado capaz, quando o


seu desvio padro for igual ou menor que 1/8 de tolerncia especificada.

Os quatro principais casos que podemos encontrar o processo so:


Processo sob controle e capaz.
Processo sob controle mas incapaz.
Processo capaz mas fora de controle.
Processo incapaz e fora de controle.

ndice de capacidade do processo (ICP): dependendo de como o processo se


comporta, so requeridas aes especficas.

tolerncia
ICP
8.

= desvio padro

= (x x) 2
)
frmula exata
n 1

O processo considerado capaz para ICP > 100%.

Dependendo do valor ICP, o processo pode ser classificado em quatro nveis:

ICP % Nvel do processo Conceito


Excelente: altamente confivel, os
operadores do processo exercem completo
150% ou maior A
controle sobre o mesmo, pode-se utilizar o
pr-controle e a auto-inspeo.
Capaz: relativamente confivel, os
operadores do processo exercem completo
controle das operaes e o controle da
100 at 149% B
qualidade aplica monitoria e fornece
informaes para prevenir a deteriorao do
mesmo.
Relativamente incapaz: pouco confivel,
requer controle contnuo das operaes,
tanto pela manufatura como pelo controle de
75 at 99% C
qualidade para evitar constantes descontroles
e perdas devido a refugos, retrabalhos e
paralisaes.
Totalmente incapaz: o processo no tem
condies de manter as especificaes ou
Menor que 75% D
manter padres, por isso, requerido o
controle de 100% das peas fabricadas.

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Grfico de controle por atributo

Devido s caractersticas do processo, em certos casos, a distribuio dos dados s


ser do tipo contbil e no mensurvel.

Neste caso, em que no ser possvel realizar medies das caractersticas do


processo, recorre-se, ento, aos grficos de controle por atributo.

Exemplos: controle de uma caracterstica com calibrador passa no passa, inspeo


visual de defeito como cor:, falhas, conjunto incompleto, etc.

Existem quatro tipos de cartas


Carta np. Carta c.
Carta p. Carta u.

Carta np: pode ser usada quando se deseja controlar o n de peas defeituosas em
uma amostra de tamanho (n = constante).

Exemplo:

Amostras Tamanho da amostra nn Nmero de defeitos np


1 100 1
2 100 6
3 100 5
4 100 5
5 100 4

20 100 9

Clculo dos limites

p
np
n
LC p . n

LSC = p .n 3 p . n (1 - p )

LIC = p .n 3 p . n (1 - p )

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Construo do grfico

Amostras N Np
1 60 4
2 60 3
3 60 5
4 60 4
5 60 9
6 60 4
7 60 2
8 60 3
9 60 2
10 60 8
11 60 1
12 60 4
13 60 5
14 60 3
15 60 6
16 60 0
17 60 3
18 60 5
19 60 6
20 60 7

Soluo:

Carta p: utilizada para registro de frao ou porcentagem defeituosa da amostra. O


tamanho da amostra n, no precisa ser constante.

Amostra n np P= np/n np/n . 100


1 50 1 1/50 = 0,02 2%
5 50 2 2/50 = 0,04 4%
3 50 3 3/50 = 0,06 6%
4 50 3 3/50 = 0,06 6%
5 50 5 5/50 = 0,10 10%

20 50 2 2/50 = 0,04 4%

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Clculo dos limites

p
np LSC =
p (1 - p )
n p 3
n
LIC =
LC p p (1 - p )
p 3
n

Amostras

Carta c: para amostras de tamanho n constante, pode-se registrar o prprio nmero


de defeitos (c), encontrado na amostra.

Exemplo: numa linha de montagem, obteve-se os seguintes dados:

Amostra Pea 1 Pea 2 Pea 3 Pea 4 Pea 5 c


1 2 3 6 4 2 17
2 3 8 2 4 5 22
3 5 3 4 2 2 16
4 3 3 3 4 4 17
5 3 4 3 4 1 15

20 5 4 2 6 2 19

Clculo dos limites

LC c
LSC = c 3 c

LIC = c -3 c

Carta u: neste grfico registrada a mdia dos defeitos. O tamanho da amostra n


no precisa ser constante.

Exemplo
Pea 1 Pea 2 Pea 3 Pea 4 Pea 5 c U = c/n
Amostra
1 2 3 6 4 2 17 17/5 = 3,4
2 3 8 2 4 5 22 22/5 = 4,4
3 5 3 4 2 2 16 16/5 = 3,2
4 3 3 3 4 4 17 17/5 = 3,4
5 3 4 3 4 1 15 15/5 = 3

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20 2 3 4 5 3 17 17/5 = 3,4

Clculo dos limites

LC u
LSC = u A u
LIC = u A u

Anlise dos grficos de controle

Como vimos, os grficos fornecem informaes sobre o comportamento do processo.

Juntamente com o grfico, acompanha uma folha de ocorrncias ou dirio de bordo


onde anotado tudo o que acontece no processo, para que possamos identificar os
problemas e orientar sobre as aes corretivas.

Interpretao dos grficos

1 caso: um ponto fora do limite.

Deve-se procurar algo no processo que tenha causado o problema.

Quanto antes se detectar a causa, mais fcil ser a soluo

2 caso: pontos do mesmo lado da linha central.

Estas situaes caracterizam desvio no processo. Deve ser centralizado o processo,


antes de prosseguir.

3 caso: seqncia crescente ou decrescente de pontos

Procurar causas como: desgaste da ferramenta, fadiga do operador.

4 caso: pontos mximos aos limites.

Dois em cinco consecutivos, indicam mudana no processo ou viabilidade causal.

5 caso: pontos muito prximos do limite central.

Reduo das variaes aleatrias devido melhoria do processo.

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Novos limites devem ser determinados.

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