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ENGP043
Segundo decimal de z
Parte inteira e primeiro
decimal de z
30
Rodrigo Vergne de Abreu Santos 150
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Resistncias e Cargas Normalmente Distribudas
30 50 100 149150
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
V
1,0
t
Valores
L excessivos
S podem causar fadig
0
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempoFadigas podem causar falhas futuras ao equipamento
Ruptura da barra
Barra de ferro
odrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
Carga tempo rea de
Curva S-N (Tenso nmero
falha
L Para carga L oudesuperior
ciclo) h uma falha
L1 imediata
Aps curva vermelha h
falhaPara uma carga L h uma falha no
1
Paraciclo
umaNcarga
1 L2 h uma falha no
L2 Paraciclo
umaNcarga L3 h uma falha no
2
Equipamento sujeito a carga
ciclo N3
L3
L acima de L so sujeitos a fadiga
Para carga L ou inferior a vida fadiga
indefinida rea de vida
fadiga indefinid
N1 N2 N3 rea de vida Ciclos, N
Rodrigo Vergne de Abreu Santos fadiga indefinida
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
Carga tempo
Curva S-N (Tenso nmero
L de ciclo)
Desgaste
acumulado
Abaixo de no h desgaste por fadiga. Tornando-se
seguro
Se o tempo de exposio acima de for curto no h
perigo.
Porm,
E assim,temos que determinar
determinar um tempo de
a confiabilidade.
operao
Rodrigo Vergne de Abreu Santos seguro. Tempo
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
A vida fadiga pode ser estimada atravs da regra de
Miner:
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
Exemplo: Os dados de carregamento num componente
indicam que trs
valores excederam o limite de resistncia fadiga, que de .
Estes valores
ocorrem durante
a operao nas seguintes
propores:
Tenso ()
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
Exemplo: Os dados de carregamento num componente
indicam que trs
valores excederam o limite de resistncia fadiga, que de .
Estes valores
ocorrem durante
a operao nas seguintes
propores:
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
Exemplo: Os dados de carregamento num componente
indicam que trs
valores excederam o limite de resistncia fadiga, que de .
Estes valores ocorrem durante a operao
nas seguintes
propores:
)
Tenso ()
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
Exemplo: Os dados de carregamento num componente
indicam que trs
valores excederam o limite de resistncia fadiga, que de .
Estes
valores ocorrem durante a operao
nas seguintes
propores:
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Mtodo da Interferncia para
Determinao da Confiabilidade
Anlise da interferncia Carga-Resistncia
Interferncia Carga-Resistncia Dependente do
tempo
Exemplo: Os dados de carregamento num componente
indicam que trs
valores excederam o limite de resistncia fadiga, que de .
Estes valores ocorrem durante a operao nas seguintes
propores:
)
Tenso ()
Rodrigo Vergne de Abreu Santos
Referncia
Manual de Confiabilidade,
Mantenabilidade e Disponibilidade
Joo Ricardo Lafraia
Introduo a Engenharia da
Confiabilidade Gilberto Piazza
Gesto Estratgica e Confiabilidade
Alan Kardec e Joo Ricardo Lafraia