1. Identifique-se na parte inferior desta capa.

Caso se identifique em qualquer outro local

deste caderno, voc ser eliminado do Concurso.

2. Este Caderno contm, respectivamente, duas questes discursivas, uma proposta de

redao e trinta questes de mltipla escolha, assim distribudas: 01 a 20 >
Conhecimentos Especficos; 21 a 30 > Conhecimento Geral de Informtica. No destaque
nenhuma folha.

3. Nas questes discursivas e na redao, voc ser avaliado exclusivamente por aquilo que
escrever dentro do espao destinado a cada resposta, no devendo, portanto, ultrapass-
lo.
4. Cada questo de mltipla escolha apresenta apenas uma opo de resposta correta.

5. Verifique se o caderno est completo e sem imperfeies grficas que possam dificultar a
leitura. Detectado algum problema, comunique-o, imediatamente, ao fiscal.
6. Escreva de modo legvel. Dvida gerada por grafia, sinal ou rasura implicar reduo de
pontos durante a correo.
7. Voc dispe de, no mximo, quatro horas para responder as questes (mltipla escolha e
discursivas), elaborar, em carter definitivo, a Redao e preencher a Folha de
Respostas.
8. O preenchimento da Folha de Respostas de sua inteira responsabilidade.

9. Antes de retirarse definitivamente da sala, devolva ao fiscal este Caderno e a Folha de

Respostas.

Nome (em letra de forma) N da Inscrio

N da turma Assinatura
 Tcnico de Laboratrio / Microscopia Eletrnica
Questo Discursiva 1

A anlise de amostras biolgicas por microscopia eletrnica de varredura requer

mtodos apropriados de preparao para anlise em alto vcuo ou a utilizao de um
microscpio eletrnico que opere em modo ambiental.
A) Por que so necessrias rotinas especiais de preparao para a anlise de
amostras biolgicas com o microscpio eletrnico de varredura?
B) Qual o procedimento tecnicamente correto de preparao de amostras biolgicas
para anlise em alto vcuo?
C) Por que o modo ambiental permite a anlise de amostras biolgicas sem preparao
especial?
D) Qual a diferena entre os resultados obtidos a partir de uma amostra biolgica em
microscopia eletrnica de varredura em modo alto vcuo e em modo ambiental?

Para rascunho desta questo, utilize o verso da capa.

RESPOSTA

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 1

2 UFRN Concurso Pblico / maio 2004
 Tcnico de Laboratrio / Microscopia Eletrnica
Questo Discursiva 2

O microscpio eletrnico de varredura (MEV) funciona com base em interaes que

ocorrem entre um feixe de eltrons e a matria (amostra). As radiaes resultantes
dessas interaes so captadas, medidas e analisadas para fornecer informaes
acerca do material que est sendo analisado.
A) Descreva a natureza da interao envolvida na gerao dos dois tipos principais de
eltrons utilizados para produo de imagens em um MEV e dos raios-X utilizados
na microanlise qumica por energia dispersiva.
B) Cite as principais caractersticas da anlise realizada com cada um desses sinais.

Para rascunho desta questo, utilize a pgina 2.

RESPOSTA

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 3

4 UFRN Concurso Pblico / maio 2004
 Tcnico de Laboratrio / Microscopia Eletrnica
Redao

Devido s exigncias de um mundo em constantes transformaes, muitas profisses

tendem a desaparecer ou modificar-se. Mas tambm haver aquelas que permanecero
na linha do tempo. Em seu ponto de vista, qual das profisses atuais, mais
provavelmente, ter sua permanncia assegurada neste sculo? Por qu?

Para expressar seu ponto de vista sobre as questes apresentadas, produza um texto
acerca do tema a profisso do futuro.

Atente ainda para o fato de que seu texto dever apresentar um ttulo, ser coeso e
coerente, estar escrito em lngua culta padro e conter, no mnimo, 20 (vinte) linhas.

No assine o texto produzido e, para rascunho, utilize a pgina 4.

ESPAO DESTINADO AO TEXTO DISSERTATIVO QUE SER AVALIADO

Ttulo

10

11

12

13

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 5

 14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

24

25

26

27

28

29

30

31

32

33

34

35

6 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

 Tcnico de Laboratrio / Microscopia Eletrnica
Conhecimentos Especficos > 01 a 20

Para rascunho, utilize qualquer espao em branco, a partir desta folha.

01. Um dos parmetros de desempenho da fonte de eltrons empregada em

microscpios eletrnicos de varredura (MEVs) o brilho da imagem associado
intensidade do feixe. O FEG (field emission gun) e os filamentos de tungstnio (W)
e de hexaboreto de lantnio (LaB 6 ), em funo do feixe gerado por cada uma
dessas fontes, apresentam brilhos distintos, seqenciados por ordem crescente
como
A) LaB 6 FEG W.
B) W LaB 6 FEG.
C) FEG - LaB 6 W.
D) W FEG - LaB 6

02. O grfico abaixo ilustra o comportamento tpico da corrente de emisso em funo

da corrente do filamento de tungstnio, que pode ser ajustada no microscpio
eletrnico de varredura.
Corrente de emisso

A B C D
Corrente do filamento de tungstnio

Filamentos de tungstnio operam a altas temperaturas para que haja emisso de

eltrons e conseqente produo de um feixe. O ajuste da corrente do filamento de
tungstnio deve garantir vida til longa a esse componente e estabilidade do feixe,
mesmo sob pequenas variaes na temperatura do filamento. A fim de satisfazer
essas condies, o operador deve ajustar a corrente do filamento
A) para o valor A, que est situado na regio do grfico onde a corrente de emisso
varia linearmente com a corrente do filamento.
B) para o valor D, que garante saturao e prolongamento da vida til do filamento.
C) para o valor B, que corresponde ao pico de saturao do filamento.
D) para o valor C, que corresponde ao menor valor da corrente de saturao.

03. A funo do cilindro de Wehnelt, localizado em canhes de eltrons do tipo triodo,

consiste essencialmente em
A) acelerar os eltrons para o interior da coluna do MEV.
B) emitir eltrons primrios atravs de efeito eletrosttico.
C) direcionar os eltrons emitidos para dentro do canho.
D) reduzir a corrente do feixe que colide com a amostra.

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 7

04. A acelerao do feixe de eltrons primrios que ocorre na coluna tico-eletrnica
do microscpio eletrnico de varredura devida existncia de uma elevada
diferena de potencial entre os seguintes componentes dessa coluna:
A) filamento e nodo.
B) filamento e cilindro de Wehnelt.
C) cilindro de Wehnelt e lente objetiva.
D) nodo e amostra.

05. A principal causa do astigmatismo, aberrao originada nas lentes eletromagnticas

do microscpio eletrnico de varredura, est diretamente associada ao seguinte
aspecto:
A) variao da energia dos eltrons secundrios.
B) atuao de campo magntico no-simtrico nas lentes.
C) variao da trajetria dos eltrons retroespalhados.
D) reduzido dimetro do feixe primrio de eltrons.

06. Detectores de eltrons secundrios do tipo Everhart-Thornley so recobertos por

uma fina camada de metal (normalmente alumnio) para que um potencial atrativo,
V 1 , da ordem de 10 kV seja aplicado a ele. A fim de prevenir que o potencial
aplicado ao detector desloque o feixe incidente ou cause astigmatismo, uma gaiola
de Faraday montada na entrada desse tipo de detector e a ela aplicado um
potencial V 2 . A respeito desse potencial aplicado gaiola de Faraday, correto
afirmar:
A) V 2 igual a -150 V, valor que corresponde configurao padro de eficincia
mxima para coleta de eltrons secundrios por detectores do tipo Everhart-
Thornley.
B) V 2 igual ao potencial de aterramento para evitar sobrecarga de eltrons
retroespalhados no detector, garantindo eficincia mxima de deteco de
eltrons secundrios.
C) V 2 pode ser ajustado pelo operador dentro de uma faixa tpica entre +300 V e -
150 V para selecionar a coleta ou no de eltrons secundrios.
D) V 2 pode ser ajustado pelo operador dentro de uma faixa tpica entre 0 e +300 V
para selecionar a eficincia desejada na repulso de eltrons retroespalhados.

8 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

07. Na coluna do microscpio eletrnico de varredura, apresentado esquematicamente
na figura a seguir, observa-se a presena de uma lente condensadora e de uma
lente objetiva.

Canho de
Eltrons

Lente condensadora

Abertura

f
2 Lente objetiva

Amostra

Quando a distncia de trabalho manualmente aumentada pelo operador, o que

ocorre com a corrente da lente objetiva e como essa alterao afeta a profundidade
de foco? Considere que a intensidade da lente condensadora permanece constante.
A) Reduo da corrente da lente objetiva, diminuindo sua distncia focal, f 2 . Em
conseqncia, o ngulo de convergncia, 2 , aumenta e a profundidade de foco
diminui.
B) Reduo da corrente da lente objetiva, aumentando sua distncia focal, f 2 . Em
conseqncia, o ngulo de convergncia, 2 , diminui e a profundidade de foco
aumenta.
C) Aumento da corrente da lente objetiva, ampliando sua distncia focal, f 2 . Em
conseqncia, o ngulo de convergncia, 2 , aumenta e a profundidade de foco
diminui.
D) Aumento da corrente da lente objetiva, reduzindo sua distncia focal, f 2 . Em
conseqncia, o ngulo de convergncia, 2 , aumenta e a profundidade de foco
aumenta.

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 9

08. A figura a seguir ilustra, esquematicamente, uma coluna tico-eletrnica de um
microscpio eletrnico de varredura.

Filamento

Cilindro de Wehnelt

nodo

Lentes
condensadoras

Posio 1 Lente objetiva

Posio 2
Amostra

Nesse esquema, um detector de eltrons retroespalhados do tipo estado slido

deve ser colocado
A) na posio 2, pois ela representa a regio de maior eficincia de coleta de
eltrons retroespalhados.
B) na posio 1, pois ela representa a regio de maior eficincia de coleta de
eltrons retroespalhados e favorece a formao de imagens de contraste
topogrfico.
C) na posio 2, pois, devido baixa energia dos eltrons retroespalhados, o
detector deve estar posicionado diretamente sobre a amostra.
D) na posio 1, pois o sobrepotencial aplicado ao detector em relao ao potencial
de aterramento seleciona a coleta de eltrons, eliminando rudos eletrnicos
oriundos de eltrons secundrios.

09. Detectores de eltrons retroespalhados do tipo estado slido so constitudos por dois
diodos: um superior, denominado A, e outro inferior, denominado B. O tipo de contraste
da imagem obtida por esse tipo de detector depende da configurao de coleta dos
diodos selecionada pelo operador. A esse respeito, correto afirmar que
A) o contraste topogrfico favorecido quando a coleta feita na configurao de
diodos A+B.
B) o contraste composicional favorecido quando a coleta feita na configurao
de diodos A+B.
C) o contraste composicional favorecido quando a coleta feita na configurao
de diodos A-B.
D) o contraste topogrfico no pode ser obtido por detectores de eltrons
retroespalhados do tipo estado slido.

10 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

10. Na figura a seguir, tem-se uma imagem de uma microestrutura obtida por meio de microscopia
eletrnica de varredura. destacada na imagem a presena das fases A, B, C e D.

Fase C

Fase B Fase D

Fase A

A respeito dessa imagem, assinale a opo que corresponde ao tipo de detector

utilizado para sua obteno e ordem crescente correta do nmero atmico (Z) do
elemento qumico predominante das fases identificadas.
A) Detector de eltrons secundrios; ordem crescente de Z: A - D B - C.
B) Detector de eltrons retroespalhados; ordem crescente de Z: A D B C.
C) Detector de eltrons retroespalhados; ordem crescente de Z: C B D A.
D) Detector de eltrons secundrios; ordem crescente de Z: C B D A.

11. Deseja-se analisar, em microscpio eletrnico de varredura (MEV), a seo

transversal de uma amostra cermica de carbeto de silcio (SiC) sobre a qual se
depositou um filme metlico de ouro, com cerca de 10 m de espessura conforme
representao esquemtica a seguir.
ouro

SiC

O usurio necessita avaliar a morfologia das fases presentes, os contrastes

composicionais, e realizar microanlise quantitativa das fases por energia
dispersiva. Para esse fim, as principais etapas de preparao para a amostra so:
A) corte transversal embutimento lixamento - polimento ataque qumico -
contato eltrico na montagem da amostra no MEV com fita de carbono.
B) corte transversal embutimento lixamento - polimento recobrimento com
ouro contato eltrico na montagem da amostra no MEV com tinta base de
prata.
C) corte transversal embutimento - lixamento - polimento ataque qumico
recobrimento com carbono contato eltrico na montagem da amostra no MEV
com fita de carbono.
D) corte transversal embutimento - lixamento polimento recobrimento com
platina contato eltrico na montagem da amostra no MEV com fita de carbono.

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 11

12. Para determinar-se a distribuio de tamanhos de partculas e a morfologia de um
p cermico por meio de microscopia eletrnica de varredura em alto-vcuo, a
seqncia tecnicamente recomendada de preparao de amostra consiste em
A) distribuir um volume adequado de p em porta-amostra metlico, colocar o
porta-amostra na cmara do microscpio e estabelecer contacto eltrico do p
com a cmara.
B) distribuir um volume adequado de p sobre fita de carbono de dupla face aderida
ao porta-amostra metlico, recobrir o p com filme de ouro e inserir a amostra na
cmara do microscpio.
C) embutir o p em resina de cura a frio, lixar, polir e realizar ataque qumico;
recobrir a amostra com filme de ouro, colocar a amostra na cmara do
microscpio e fazer contato eltrico da resina com o microscpio.
D) embutir o p em resina de cura a frio, polir e realizar ataque qumico; colocar a
amostra na cmara do microscpio e estabelecer contato eltrico da resina com
o microscpio.

13. Em uma amostra contendo os elementos A e B, ser realizada uma microanlise

por energia dispersiva. Um parmetro fundamental nessa anlise a tenso de
acelerao do feixe primrio, devendo esta ser ajustada para que uma
sobrevoltagem permita a identificao dos elementos da amostra (A e B). Esse
ajuste deve considerar
A) a relao entre a energia do feixe primrio e a maior energia de excitao dentre
os elementos que compem a amostra (A ou B).
B) a diferena entre a energia de excitao K do elemento A e a energia de
excitao K do elemento B.
C) o fator de correo da fluorescncia e o fator de correo do nmero atmico
dos elementos A e B.
D) a maior diferena entre a energia de excitao K e L para o elemento A ou
para o elemento B.

14. Um p foi analisado por microscopia eletrnica de varredura. As imagens abaixo (A

e B) foram obtidas utilizando-se os parmetros de anlise detalhados nas barras de
informaes visualizadas nas prprias micrografias. Para ambas, foram realizados
ajustes de foco e astigmatismo.

Imagem A Imagem B

A partir dessas imagens, possvel afirmar que

12 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

 A) a imagem B foi obtida com dimetro de feixe (spot) igual ao da imagem A,
estando a diferena de resoluo associada interferncia de eltrons
retroespalhados na imagem A.
B) a imagem B foi obtida empregando-se dimetro de feixe (spot) maior que a
imagem A, permitindo melhor definio das partculas de menor tamanho.
C) a imagem B foi obtida com dimetro de feixe (spot) igual ao da imagem A,
estando a diferena de resoluo associada variao da distncia de trabalho
entre as duas micrografias.
D) a imagem B foi obtida empregando-se dimetro de feixe (spot) menor que a
imagem A, garantindo melhor definio das partculas do p.

15. Um usurio do microscpio eletrnico de varredura est interessado em analisar a

morfologia das partculas de um p. Essas partculas possuem dimetro mdio
equivalente da ordem de 100 nm, sendo, portanto, necessrios aumentos acima de
cem mil vezes (x 100.000). A obteno de imagens ntidas nessa faixa de aumentos
requer
A) o ajuste do dimetro do feixe para valores mais altos em relao aos utilizados
para obteno de imagens com resolues mais baixas, a fim de que eltrons
incidam em toda a rea a ser analisada, sem que haja varredura.
B) a retrao do detector EDS para que raios-X caractersticos no interfiram na
coleta dos eltrons retroespalhados que formaro a imagem de alta resoluo.
C) a retirada do detector de eltrons retroespalhados, quando instalado, para evitar
coliso com o porta-amostra inclinado e posicionado em curta distncia de
trabalho.
D) o ajuste da distncia de trabalho para valores mais altos em relao aos
normalmente utilizados para obteno de imagens com resolues mais baixas e
a inclinao do porta-amostra a fim de que a varredura seja panormica.

16. Uma amostra metlica constituda principalmente por ferro (Z = 26), cromo (Z = 24)
e nquel (Z = 28), em que Z representa o nmero atmico do elemento em questo,
foi submetida microanlise por energia dispersiva, resultando no grfico abaixo.

[4]
600
Intensidade

400
[2]

200 [1]
[5]
[3] [6]

0,0 2,0 4,0 6,0 8,0

Energia (KeV)

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 13

 A seqncia numerada de picos (1 a 6) corresponde, respectivamente, a
A) [1] Ni K - [2] Fe K - [3] Fe K - [4] Cr K - [5] Cr K - [6] Fe L.
B) [1] Cr K - [2] Fe K - [3] Fe K - [4] Fe L - [5] Cr K - [6] Ni K.
C) [1] Fe L - [2] Cr K - [3] Cr K - [4] Fe K - [5] Fe K - [6] Ni K.
D) [1] Fe L - [2] Ni K - [3] Fe K - [4] Fe K - [5] Cr K - [6] Cr K.

17. A mesma rea de uma amostra metlica foi submetida microanlise quantitativa
por energia dispersiva aplicando-se diferentes voltagens de acelerao do feixe de
eltrons. Os demais parmetros de ajuste do microscpio e do detector
permaneceram constantes para as duas anlises realizadas. Os resultados obtidos
para cada anlise encontram-se na tabela abaixo, juntamente com os fatores de
correo adotados pelo mtodo ZAF.

Anlise 1 Voltagem do feixe: 25,00 kV

Peso% Razo de Z A F
Intensidades, K
Si 0,54 0,0020 1,1074 0,3348 1,0018
Cr 18,67 0,2157 0,9949 0,9842 1,1798
Mn 0,89 0,0087 0,9784 0,9940 1,0089
Fe 71,60 0,6878 0,9985 0,9512 1,0114
Ni 8,31 0,0710 1,0175 0,8398 1,0000
Total 100,00

Anlise 2 Voltagem do feixe: 15,00 kV

Peso% Razo de Z A F
Intensidades, K
Si 0,59 0,0039 1,1440 0,5716 1,0009
Cr 18,57 0,2099 0,9979 0,9940 1,1394
Mn 1,12 0,0111 0,9796 0,9978 1,0065
Fe 71,09 0,7031 0,9978 0,9826 1,0087
Ni 8,62 0,0823 1,0126 0,9432 1,0000
Total 100,00

A partir dessa tabela, correto afirmar:

A) o aumento da voltagem do feixe de 15,00 kV para 25,00 kV promoveu a reduo
da concentrao de mangans na amostra.
B) o fator de correo de fluorescncia do nquel o maior responsvel pelo erro
estatstico das anlises.
C) a anlise realizada com voltagem 25,00 kV no requer a utilizao dos
parmetros de correo para a obteno da composio qumica.
D) a diminuio da voltagem do feixe de 25,00 kV para 15,00 kV reduziu a absoro
de raios-X do silcio pela amostra.

14 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

18. Uma amostra de titnio puro foi submetida microanlise por energia dispersiva
resultando no grfico abaixo de intensidade de raios X em funo da energia, em
unidades de keV. Alm dos picos correspondentes ao titnio, percebeu-se a
presena de um outro pico, identificado na figura como Pico A e que, segundo
informao do usurio, no corresponde a nenhuma impureza presente na amostra.
Nova anlise foi realizada com a mesma amostra, ajustando-se os parmetros do
microscpio de forma a reduzir a taxa de contagem durante a microanlise por
energia dispersiva, verificando-se, ento, que o Pico A no estava mais presente.

Ti K

Ti K
Intensidade

Pico A

3,40 3,90 4,40 4,90 5,40 5,90 6,40 6,90 7,40 7,90 8,40 8,90 9,40

Energia (keV)

Com base nas informaes acima, correto afirmar que o Pico A corresponde ao
A) efeito de reabsoro de raios X da amostra.
B) pico soma do titnio K + K.
C) pico correspondente ao titnio L.
D) pico soma do titnio K.

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 15

19. O grfico abaixo mostra a regio, entre aproximadamente 5,0 e 8,5 keV, do
espectro de uma amostra contendo cobre (nmero atmico 29) obtido por energia
dispersiva de raios X, no qual se percebe a presena de um pico no identificado.

Cu K
Intensidade

5,40 6,30 7,20 8,10

Energia (keV)

Em funo de sua posio no grfico, correto atribuir esse pico ao

A) pico de fluorescncia interna do detector de Si-Li correspondente ao Cu K.
B) pico correspondente emisso Cu K.
C) pico K de partculas de zinco (nmero atmico 30) presentes na forma de
impurezas na regio analisada da amostra.
D) pico correspondente emisso K do ltio (nmero atmico 3) do detector de Si-
Li.

20. Na microanlise quantitativa por energia dispersiva de uma liga composta por ferro
(Z = 26) e nquel (Z = 28), em que Z representa o nmero atmico do elemento em
questo, a correo do efeito de fluorescncia de raios-X
A) no necessria, pois a energia crtica de ionizao do ferro bastante
diferente da energia crtica de excitao do nquel, no ocorrendo, portanto, o
efeito de fluorescncia.
B) no necessria, pois o nmero atmico do ferro muito prximo do nmero
atmico do nquel, no ocorrendo fluorescncia significativa do ferro ou do
nquel.
C) necessria, pois, sem essa correo, o pico do nquel tende a ser mais intenso
do que o real, em funo da fluorescncia do ferro por ftons caractersticos
provenientes do nquel.
D) necessria, pois, sem essa correo, tem-se um aumento na intensidade do
pico de ferro e uma reduo na intensidade do pico de nquel, em funo da
fluorescncia do ferro por ftons caractersticos provenientes do nquel.

16 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

 Tcnico de Laboratrio / Microscopia Eletrnica
Conhecimento Geral de Informtica > 21 a 30

21. No ____________, o aplicativo mais indicado para ___________arquivos e pastas

o ___________ ___________

Assinale a opo que completa, corretamente e na ordem, os espaos do texto

acima.
A) Word, proteger, Media Player.
B) Windows, compartilhar, Internet Explorer.
C) Windows, gerenciar, Windows Explorer.
D) Excel, personalizar, Outlook Express.

22. Considere as seguintes afirmativas, relacionadas aos elementos bsicos de um

sistema de computao:

I a CACHE uma memria intermediria de alta velocidade, entre a RAM e o

processador, utilizada para agilizar o processamento.
II A velocidade do processador (clock) medida em MB.
III A memria RAM, que serve para leitura e gravao, tem contedo voltil.
IV os componentes fsicos do computador so chamados de hardware.
V teclado, mouse e impressora so perifricos de entrada.

Assinale a opo cujas afirmativas so verdadeiras.

A) III, IV e V.
B) II, III e IV.
C) I, II e III.
D) I, III e IV.

23. Cada conta de e-mail tem um endereo nico, que dividido em duas partes: a
primeira usada para identificar a caixa postal de um usurio, e a segunda usada
para identificar a rede em cujo servidor reside esta caixa. Em
brancadeneve@floresta.com.br, por exemplo, brancadeneve a primeira parte e
floresta.com.br a segunda parte. Com relao s caixas de correio e endereos
eletrnicos, correto afirmar que
A) o software de e-mail no servidor remetente utiliza a segunda parte para selecionar
a rede de destino, e o software de e-mail da rede de destino utiliza a primeira
parte para identificar a caixa postal do usurio.
B) cada conta de e-mail poder ser utilizada por vrios usurios, bastando para isso
que todos estejam cadastrados nessa mesma rede
C) em um servidor de e-mail, apenas o e-mail da conta do administrador dever estar
associado a um endereo IP, nico vlido na Internet.
D) a primeira parte de uma conta de e-mail tambm denominada domnio, enquanto
a segunda parte poder ser chamada de Home Page.

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 17

24. A tabela abaixo representa os dados de uma planilha do Excel.

Sabendo-se que, na clula B7, foi digitada a frmula =SOMASE(C2:C6;PG;B2:B6)

e, em seguida, acionada a tecla Enter, e, na clula B8, foi digitada a frmula
=CONT.SE(C2:C6;PG) e, em seguida, acionada a tecla Enter, os valores que
devem aparecer nas clulas B7 e B8 so, respectivamente,

A) 950 e 2. C) 750 e 2.
B) 800 e 3. D) 650 e 3.

25. Considere as afirmativas abaixo relativas ao Excel

I possvel utilizar formatao condicional para destacar informaes

(utilizando cores distintas, por exemplo) de acordo com os valores existentes
nas clulas.
II Para calcular a soma de valores numricos na faixa de [A1:A10], a frmula
correta seria =soma(A1..A10) ou =soma(A1:A10).
III O recurso do Excel utilizado para concatenar seqncias de caracteres o
smbolo @ (arroba).
IV A criao de grficos em Excel pode ser feita na prpria planilha ou como um
objeto incorporado a uma planilha.

Assinale a opo cujas afirmativas so verdadeiras.

A) II, III e IV. C) I, II e III.
B) I, III e IV. D) I, II e IV.

26. A figura abaixo mostra cones disponveis na janela Impressoras do Microsoft

Windows 2000, numerados de 1 a 4.

1 2 3 4

A seqncia que identifica os cones na ordem de 1 a 4 :

A) impressora padro, impressora local, impresso para arquivo e impressora de
rede.
B) impresso para arquivo, impressora de rede, impressora padro e impressora
local.
C) impressora local, impresso para arquivo, impressora de rede e impressora
padro.
D) impresso para arquivo, impressora padro, impressora local e impressora de
rede.

18 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

27. Considerando a figura abaixo, analise as afirmativas que seguem.

I O endereo de e-mail da UFRN : www.ufrn.br

II Os quatro botes da barra de ferramentas (que se encontram no mesmo
alinhamento da caixa de texto onde est o endereo http://www.ufrn.br/)
indicam, respectivamente, voltar uma pgina, avanar uma pgina, recarregar a
pgina atual e parar carregamento da pgina atual.
III Como o boto est desabilitado, isso indica que a pgina atual foi

totalmente carregada ou teve seu carregamento cancelado.

IV Se clicarmos no tringulo inferior direito do boto , obteremos uma

listagem de todos os sites acessados nas sesses anteriores.

Assinale a opo cujas afirmativas so verdadeiras.

A) II e IV. C) I e IV.
B) II e III. D) III e IV.

28. Analise as seguintes afirmativas sobre o Word.

I Estilo o conjunto de caractersticas de formatao que podem ser

aplicadas ao texto de um documento para alterar sua aparncia.
II Uma tabela composta de linhas e colunas (de clulas) que podem ser
preenchidas com texto e elementos grficos.
III Atravs da opo Cabealho e Rodap do menu Exibir, possvel inserir a
data em todas as folhas de um documento.
IV A opo Marcadores e Numerao do menu Formatar serve para
numerar pginas de um documento.

Assinale a opo cujas afirmativas so verdadeiras.

A) II, III e IV.. C) I, II e III
B) I, III e IV. D) I, II e IV.

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 19

29. Analise as seguintes afirmativas referentes aos recursos do MS Word.

I possvel converter um texto em uma tabela.

II A opo Contar Palavras do menu Ferramentas serve apenas para contar o
nmero de palavras de um documento.
III Mantendo-se a tecla CTRL pressionada enquanto se clica com o boto
esquerdo do mouse sobre uma palavra de uma frase, seleciona-se apenas a
palavra.
IV Pode-se copiar ou colar o formato de uma palavra para outra usando-se
teclas de atalho.
V Aps a colocao de cabealho e rodap em um documento, possvel abrir
a rea de edio do cabealho ou rodap, com um clique duplo sobre
qualquer um deles.

Assinale a opo cujas afirmativas so verdadeiras.

A) I, IV e V.
B) I, III e V.
C) II, III e IV.
D) II, IV e V.

30. Para localizar informaes na internet, existem servios especializados em coletar e

disponibilizar referncias a endereos que contenham um conjunto de palavras-chave
normalmente solicitadas pelos usurios. Esses servios recebem a denominao de
A) mecanismos de busca.
B) download de arquivos.
C) upload de arquivos.
D) servios de acessos remotos.

20 UFRN Concurso Pblico / maio 2004

UFRN Concurso Pblico / maio 2004 21