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Engenharia de
Qualidade I
ANÁLISE DE
CAPACIDADE
Introdução
✓Análise de capacidade:
LSNT = μ + 3σ
LINT = μ − 3σ
3σ 3σ
Incluem
99,73% da 0,9973
variável
LINT μ LSNT
• Selecionar fornecedores;
265 197 346 280 265 200 221 265 261 278 Intervalo de classe
Frequência Frequência relativa Frequência acumulada
205 286 317 242 254 235 176 262 248 250 [ )
263 274 242 260 281 246 248 271 260 265 170 190 2 0,02 0,02
307 243 258 321 294 328 263 245 274 270 190 210 4 0,04 0,06
210 230 7 0,07 0,13
220 231 276 228 223 296 231 301 337 298
230 250 13 0,13 0,26
268 267 300 250 260 276 334 280 250 257 250 270 32 0,32 0,58
260 281 208 299 308 264 280 274 278 210 270 290 24 0,24 0,82
234 265 187 258 235 269 265 253 254 280 290 310 11 0,11 0,93
299 214 264 267 283 235 272 287 274 269 310 330 4 0,04 0,97
215 318 271 293 277 290 283 258 275 251 330 350 3 0,03 1
100 1
Frequency
250 270 32 0,32 0,58 20
270 290 24 0,24 0,82
290 310 11 0,11 0,93 15
310 330 4 0,04 0,97
330 350 3 0,03 1
10
100 1
x = 264,06 s = 32,02
5
0
170 210 250 290 330
C11
264,06 3 32,02 = 264,06 96 psi
30
25
Frequency
20
10
0
170 210 250 290 330
C11
LSE − LIE
Cp = Cp só deve ser calculado quando o
6
processo está sob controle estatístico
✓Onde:
• LSE: Limite Superior de Especificação;
• LIE: Limite Inferior de Especificação.
1
P= 100%
C
p
1
P= 100%
1,68
P = 59,5%
ˆ LSE −
C ps =
3ˆ Para processos com somente especificação superior
ˆ − LIE
C pi =
3ˆ Para processos com somente especificação inferior
✓2,275% de
0,4
defeituosos;
0,3
✓22750 garrafas
Density
0,2 Z = −2
não-conformes por
milhão (ppm); 0,1
0,02275
0,0
-2 0
X
Especificações Especificações
bilaterais unilaterais
Processos existentes 1,33 1,25
processos novos 1,5 1,45
Segurança, força ou Valores mínimos recomendáveis.
parâmetro crítico, processo 1,5 1,45
existente
Segurança, força ou
parâmetro crítico, novo 1,67 1,6
processo
S= i =1
n −1
✓Nos índices Cp ˆ é o desvio-padrão within
Engenharia de Qualidade I 21 Prof. Ma. Kívia Mota Nascimento
Razão de capacidade do processo - Pp
✓Capacidade no
Minitab.
• Exemplo:
Capacidade do
processo de
fabricação de
semicondutores;
considerando a CQ
largura de fluxo
(μm).
✓ Capacidade no Minitab.