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superfície da amostra, obtém-se um sinal de imagem que é utilizado para modular o brilho na
tela de visualização [45].
Os microscópios deste tipo utilizam, no geral, tensões de aceleração entre 1 e 50kV e
opera utilizando tungstênio como fonte de elétrons. O elétron é focalizado sobre a amostra por
um conjunto de 3 lentes, sendo que sua aceleração se dá pela tensão criada entre a fonte de
elétrons e o anodo. Seja para a formação de imagens ou para análises físico-químicas, utiliza-
se um determinado volume de interação entre a amostra e o feixe incidente o que dependerá
do número de interação da amostra e da aceleração dos elétrons. Como resultado desta
interação, produzem-se fótons e elétrons que são captados pelos detectores e geram a imagem.
Para tal captura, as partículas e os raios eletromagnéticos resultantes da interação retornam à
superfície da amostra e atingem o detector. A resolução da imagem está associada a
profundidade máxima de detecção, ou seja, com a energia com a qual o produto da interação
atinge o detector [45].
A imagem resultante pode apresentar diferentes características em virtude de ser
obtida pela interação entre feixe de elétrons e a amostra, o que pode levar a diferentes sinais e,
dentre os sinais obtidos, destacam-se os elétrons secundários e os retroespalhados.
Os elétrons secundários apresentam baixa energia (<50 eV) e formam imagens de alta
resolução (3-5nm) e, nos MEV comerciais, apenas os elétrons secundários próximos à
superfície da amostra podem ser detectados, pois seu livre caminho-média é da faixa de 2-
20nm, sendo que são vulneráveis às mudanças topográficas da amostra. O contraste da
amostra e dado pela diferença em seu relevo, sendo o principal modo de formação de imagem
do MEV (Figura 14).
Figura 14: Microscopia de liga AZ31 em MEV captada via elétrons secundários e aumento de
500 vezes [33]
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Os elétrons retroespalhados, por sua vez, tem uma variação de energia que vai de
50eV até a energia do elétron incidentes (quando os elétrons sofrem colisão elástica, sendo
por isso provenientes das camadas mais superficiais da amostra). Quando estes elétrons são
captados, tem-se poucas informações acerca da profundidade, quando comparadas a
profundidade de penetração do feixe. Quando a imagem é gerada por elétrons resultantes de
camadas mais interiores da amostra (de uma região do volume de interação cujo diâmetro é
maior que o diâmetro do feixe primário) obtém-se não apenas imagens topográficas, como
também imagens da composição da amostra [45].
Além destes dois tipos de elétrons resultantes da interação do feixe eletrônico com a
amostra, pode-se obter os elétrons Auger, cuja energia é característica do elemento que a
emite e do tipo de ligação química. Sua energia é da ordem de 2keV e pode, por isso, ser
usada para análise elementar, sendo que sua profundidade de escape de interação é da ordem
de 0,2 a 2,0 nm. Além dos elétrons Auger, pode-se obter os elétrons transmitidos (que sofrem
espalhamento elástico (e são usados para gerar imagens nos MET – Microscópios Eletrônicos
e Transmissão) e os elétrons absorvidos que perdem sua energia na amostra e geram uma
corrente elétrica que precisa ser aterrada para não danificar a amostra [45].
separadamente e, uma vez modelados, geram um circuito elétrico equivalente, em que cada
componente representa uma parte do sistema eletroquímico real.
Um sistema eletroquímico relativamente simples, correspondente a um processo
corrosivo está representado na Figura 15, abaixo [48]:
E, além disso, ela pode ser explicada na forma de vetores, com componentes reais
resistivos (Z’) e imaginários reativos (Z’’), sendo:
Z= Z’ + j.Z” (15)
resistência pura, mas agora com o valor da solução somado ao valor da resistência do filme ou
camada óxida (Re+Rp). Quando o diagrama de Nyquist é construído, faz-se a extrapolação da
parte direita do semicírculo com o eixo horizontal, que corresponde à impedância real. O
diâmetro do semicírculo corresponde a resistência à polarização, que é equivalente a
resistência a transferência de carga. Quanto maior o raio desse semicírculo, maior Rp e menor
a taxa de corrosão [46,47,48].
O aumento da frequência gera o deslocamento para a esquerda, passando por ωmáx,
até se aproximar do eixo Z’, no ponto indicado por Re. Portanto, a partir desta representação é
possível determinar os valores de Re, Rp e Cdc, desde que sejam utilizadas freqüências
suficientes .
O diagrama de Bode permite calcular o logaritmo do módulo da impedância (|Z|) e o
ângulo de fase (φ) em função da frequência (ω) (Figura 17). Quando está submetida a altas
frequências, a resistência da solução domina a impedância e o log Re pode ser lido no eixo
vertical e, em frequências mais baixas, também contribui a resistência da transferência de
cargas (Re+Rp).
Quando dois metais são ligados e imersos em um eletrólito, tem-se uma diferença de
potencial inicial estabelecida entre eles e observa-se a diminuição desta diferença com o
decorrer do tempo, de modo que os valores de potencial do catodo e do anodo se aproximam
com variações de tensão positiva para o anodo e negativa para o catodo, e, estando estas
variações de potencial associadas à circulação de uma corrente elétrica, diz-se que ocorrem as
polarizações anódica e catódica, respectivamente [20].
Os valores de potencial nos eletrodos tendem a convergir e, neste caso, as reações de
oxidação e redução acontecem com igual intensidade, fazendo com que o fluxo de carga
mensurável seja nulo. A aplicação de uma sobretensão no anodo gerará um valor de corrente
anódica que é mensurável, estabelecendo-se assim reações de oxidação (corrosão).
Similarmente, a aplicação de uma sobretensão catódica gerará uma reação de redução [20,22]
As curvas de polarização potencionâmicas são provenientes de polarização por
ativação, pois envolvem a superação de uma energia de ativação para a ocorrência de
transferência eletrônica. Elas representam o efeito de todas as reações que acontecem durante
a polarização de um eletrodo e permitem avaliar o comportamento eletroquímico do material
em um intervalo de potenciais quee engloba Ecorr e os ramos catódico (cujos potenciais são
mais negativos que Ecorr) e anódico (cujos potenciais são mais positivos). A polarização é feita
utilizando uma fonte externa de potencial gerada por um potenciostato. O potenciostato gerará
uma variação de tensão no eletrodo de trabalho em relação ao eletrodo de referência em um
meio eletrolítico cuja condutividade pode ser moderada ou alta, possibilitando a medida da
corrente elétrica. O potencial aplicado varia continuamente durante a análise, daí o termo
potenciodinâmica. Como resultado, são obtidas curvas que podem ser semelhantes à figura
abaixo [22, 49, 50] (Figura 18)
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Nesta representação, o eixo das abscissas tem unidade em log da densidade de corrente
pois a Lei de Tafel tem natureza logarítmica. A definição da densidade de corrente de
corrosão (Icorr, cuja unidade é mA/cm2) é feita através de extrapolação dos ramos catódico e
anódico ao potencial de corrosão. A densidade de corrente de corrosão representa a densidade
de corrente relacionada à Ecorr. [20,22]
O comportamento previsto por Tafel não é frequentemente observado na prática
industrial, sendo substituído por outros métodos de análise eletroquímica. Se Ecorr for
observado muito próximo do potencial de equilíbrio de um dos eletrodos (em menos de 30
mV de diferença) a Equação de Tafel também não é valida [20,22,50].
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Referências:
[20] GENTIL, V. Corrosão. 6. ed. Rio de Janeiro, RJ: LTC, 2011. xv, 360 p., il. p
[22] WOLYNEC, S. Técnicas eletroquímicas em corrosão. [S.l: s.n.], 2003. Disponível em: <
https://docgo.net/detail-doc.html?utm_source=wolynec-tecnicas-eletroquimicas-pdf. Acesso em
02/06/2019.
[47] MELO, R. S.; MAIA, F. T. M. Avaliação do Uso de Circuitos Equivalentes na Análise por
Impedância Eletroquímica de Revestimentos Anticorrosivos. Revista de Engenharias da Faculdade
Salesiana, nº2, pp 2-9. 2016. Disponível em: <
http://www.fsma.edu.br/RESA/Edicao2/FSMA_RESA_2015_2_01.pdf>. Acesso em 07/02/2019.
[49] SILVA, B. P. Avaliação da resistência à corrosão em meio salino dos recobrimentos de ZrN
e ZrSiN depositados em aço inoxidável 304L por magnetron sputtering reativo.(Dissertação de
Mestrado). Universidade Federal de Minas Gerais, Belo Horizonte, MG, 2017. Disponível em: <
http://www.bibliotecadigital.ufmg.br/dspace/handle/1843/BUOS-AUPMXG>. Acesso em 11/07/2019.