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DEMA/UFPB

MICROSCOPIA ELETRÔNICA DE 
Ô
TRANSMISSÃO – MET (TEM)
TRANSMISSÃO –
TRANSMISSÃO  MET (TEM)
MET
DEMA/UFPB

Usa princípio parecido com a microscopia ótica mas 
usando elétrons ao invés de luz visível

Comparação entre Microscopia Ótica e Eletrônica de Transmissão
MET

DEMA/UFPB

Estrutura de um MET e 
Estrutura de um MET e
o caminho ótico
MET
DEMA/UFPB
Correlação entre tensão de aceleração e Resolução

Características dos canhões Æ Iguais aos dos MEVs
MET

DEMA/UFPB

IImagem feita no Microscópio Eletrônico do Laboratório 
f it Mi ó i El t ô i d L b tó i
Nacional de Luz Síncrotron. O contraste observado 
corresponde ao nível atômico
MET
DEMA/UFPB
MET
Preparação de amostras DEMA/UFPB

Amostras têm que ser finas Æ Finas ou Pó


(desaglomerado)

EEspessura máxima transmissível a elétrons acelerados com 
á i t i í l lét l d
uma tensão de 100 kV para diversos elementos. 
Porta amostras

DEMA/UFPB
MET
DEMA/UFPB

Porta‐amostras com grades de diferentes 
formas
MET
Preparação das amostras
DEMA/UFPB

Desaglomeração ou Afinamento

(Pré‐afinamento)
(
(Ultramicrotomi // 
Eletropolimento / 
Desbaste iônico)

Figure 3.8 Hand‐grinding jig for TEM


specimen preparation. A disc (S) is glued
to the center of the jig and the guide ring
(G) controls the amount of grinding.
Preparação das amostras

DEMA/UFPB
Preparação das amostras

DEMA/UFPB

Ion thinning process(a) dimple grinding; and (b) ion milling.
Preparação das amostras

DEMA/UFPB
MET ‐ Contrastes
MET 

Modos de Imagem DEMA/UFPB

Contraste de Massa ((também conhecido ppor


contraste de absorção)
Contraste de Difração

Contraste de Fase – Microscopia Eletrônica de


Transmissão de Elevada Resolução ‐ HRTEM

Contraste de Massa
Æ Diretamente relacionado a capacidade de
espalhamento de e‐ do material
Æ Assim,
A i é dependente
d d t dad densidade
d id d e da d espessura
Æ A abertura bloqueará os e‐ espalhados
MET
Contraste de Massa
DEMA/UFPB
MET
Contraste de Massa ‐ Tingimento
DEMA/UFPB

Figure 3.14 TEM image of PC‐


PBT polymer blends with
mass‐densityy contrasto The
specimen is stained with
RuO4
Contraste de Difração
ç

DEMA/UFPB
Campo Claro e Campo Escuro

DEMA/UFPB

ç Æ É muito
Contraste de Difração
sensível a rotação do porta‐
amostra
MET
Campo Claro e Campo Escuro
DEMA/UFPB
DEMA/UFPB
MET

O MET pode operar em modo de imagem e em DEMA/UFPB

modo de difração
Alteração
te ação do ca
caminho
o ót
ótico
co

Formação de imagem ou de rede de pontos


MET
Modo de Imagem ou Modo de Difração
DEMA/UFPB

Caminho Ótico ‐ Detalhamento
Modo de Imagem ou Modo de Difração

DEMA/UFPB
DEMA/UFPB

Padrões de difração típicos:  
Padrões de difração típicos:
a) região monocristalina; 
b) região policristalina;  
c) região amorfa.
região amorfa.
MET

DEMA/UFPB

Diferença nas informações obtidas com MET e com MEV
MET

DEMA/UFPB

Micrografias obtidas por microscopia eletrônica de transmissão de 
amostras de ball clay

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