Você está na página 1de 36

1

UNIVERSIDADE DE CAXIAS DO SUL


Curso: Engenharia de Produo Professor: Ademar Galelli
Disciplina: PRO0201 Controle de Qualidade

CONTROLE ESTATSTICO DO PROCESSO
GRFICOS / CARTAS DE SHEWHART OU GRFICOS / CARTAS DE CONTROLE

ATRIBUTOS

1. FRAO DEFEITUOSA (Grfico p):

Considere-se a frao defeituosa p = d/n, onde d o nmero de itens defeituosos presentes em
uma quantidade n de itens, sendo que um item tem duas possibilidades (ou defeituoso ou no
defeituoso).
Baseado na distribuio binomial com = p e o =
p p
n
(1 )


LSC = p + 3
p p
n
(1 )
LC = p LIC = p - 3
p p
n
(1 )


Um bom estimador de p :
p
=
d
n
i
i
k
i
i
k
=
=

1
1

Desta forma, os limites de controle podem ser calculados substituindo-se p por
p
.

- n deve ser grande o suficiente para que um defeituoso apenas no ultrapasse o limite
superior de controle.
- no caso de n ser varivel, existem trs alternativas:

a) utilizar um n mdio (desde que a diferena entre um n e outro no seja maior do que
20%):
n
=
n
k
i
i
k
=

1
LSC =
p
+ 3
p p
n
(1 )
LC =
p
LIC =
p
- 3
p p
n
(1 )


b) calcular limites de controle para cada amostra:

LSC
i
=
p
+ 3
p p
n
i
(1 )
LC =
p
LIC
i
=
p
- 3
p p
n
i
(1 )


c) calcular um z (parmetro da distribuio normal padronizada) para cada amostra e
fazer um grfico normal padronizado:


( )
Z
i
=
p p
p - p
n
i
i
1

2

2. NMERO DE DEFEITUOSOS (Grfico np):

LSC = n
p
+ 3
) (1 p p n
LC: n
p
LIC = n
p
- 3
) (1 p p n


Este grfico s pode ser utilizado para tamanho de amostra constante.

3. NMERO DE DEFEITOS (Grfico c):
- baseado na distribuio de Poisson:
p x =
e c
x
-c x
( )
!
com = c e o = c
- considerando
k
c
c
k
i
i
=
=
1
a taxa mdia de defeitos de uma determinada populao:

LSC =
c
+ 3 c LC =
c
LIC =
c
- 3 c

- a unidade de inspeo deve ser constante: um nico produto, um grupo de cinco ou dez
produtos, 100 m de tecido, quatro m
2
de chapa, etc.

4. NMERO DE DEFEITOS POR UNIDADE (Grfico u):

- considerando u = c/n o nmero de defeitos por unidade de uma determinada amostra:

LSC =
u
+ 3
/n u
LC =
u
LIC =
u
- 3
/n u


onde

=
=
=
k
i
i
k
i
i
n
c
u
1
1


- no caso do tamanho da amostra ser varivel, existem trs alternativas:
a) utilizar um n mdio (desde que a diferena entre um n e outro no seja maior do que
20%):

n
n
k
i
i
k
=
=

1
LSC =
u
+ 3 u / n LC =
u
LIC =
u
- 3 u / n

b) calcular limites de controle para cada amostra:

LSC
i
=
u
+ 3 i
/n u
LC =
u
LIC
i
=
u
- 3 i
/n u


c) calcular um z (parmetro da distribuio normal padronizada) para cada amostra e
fazer um grfico normal padronizado:

Z
u
u n
i
i
=
u
i

3

VARIVEIS


1. MDIAS E AMPLITUDES (Grfico
X
R)

LSC
X
= X + A
2
R
LC
X
= X LIC
X
= X - A
2
R


LSC
R
=
R
D
4
LC
R
=
R
LIC
R
=
R
D
3


2. ELEMENTOS INDIVIDUAIS E AMPLITUDES MVEIS (Grfico XMR)

o
x
=
MR
d
2
MR
i+1
= |X
i+1
- X
i
| para n = 2; MR=X
maior
-X
menor
para n = 3, 4, 5 ...

LSC
X
=
X
MR
d
+ 3
2
LC
X
=
X
LIC
X
=
X
MR
d
3
2


LSC
MR
=D
4
MR
LC
MR
=
MR
LIC
MR
= D
3
MR


Por medida de segurana, os limites para o grfico XMR podem ser estabelecidos a 2o.


3. MDIAS E DESVIOS PADRES (Grfico
X
S)

O desvio padro das amostras pode ser estimado por: S =
1
) (
1
2

=
n
x x
n
i
i


e o desvio padro do processo (todos os elementos individuais) por: o =
S
c
4


LSC
X
= X + A
3
S
LC
X
= X LIC
X
= X - A
3
S


LSC
S
=B
4
S
LC
S
=
S
LIC
S
= B
3
S



4
CAPACIDADE DE PROCESSO


Considerando uma especificao definida pelo LSE (limite superior de especificao) e pelo
LIE (limite inferior de especificao), e um processo com mdia e desvio padro o, pode-se calcular
os seguintes ndices:


a) Capacidade potencial (Cp): Cp =
LSE LIE
6o


No considera o deslocamento da mdia do processo com relao especificao.


b) Capacidade real (Cpk): Cpk = MIN (Cps ; Cpi)


Cps =
LSE
o 3
Cpi =

o
LIE
3


Considera o deslocamento da mdia do processo com relao especificao.

Interpretao:
Cpk < 1 - processo incapaz (produz muito fora da especificao)
1 s Cpk < 1,33 - processo relativamente capaz (produz razovel
percentual fora da especificao)
Cpk > 1,33 - processo capaz (produz itens fora da especificao em
nveis aceitveis)

Uma medida de interpretao de Cp ou (Cpk) : P =
1
100
Cpk
|
\

|
.
|
, que significa o percentual da
especificao que utilizado pelo processo.

n
x x
= =
2
x
d
R
= =


5


6
Grfico p - Exerccio 1 - Primeira Parte

Uma fbrica de suco concentrado de laranja est enfrentando problemas de vazamento nas
latas. Para estudar o problema, 30 amostras de 50 latas cada foram retiradas em intervalos de meia hora
num perodo contnuo de funcionamento da mquina envazadora, envolvendo trs turnos de trabalho.
Construir um grfico preliminar para ver se o processo est sob controle ou no.

Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
1 12 16 8
2 15 17 10
3 8 18 5
4 10 19 13
5 4 20 11
6 7 21 20
7 16 22 18
8 9 23 24
9 14 24 15
10 10 25 9
11 5 26 12
12 6 27 7
13 17 28 13
14 12 29 9
15 22 30 6
7
Grfico p - Exerccio 1 - Segunda Parte

Na meia hora da amostra nmero 15, constatou-se que um novo lote de latas (fornecidas
por terceiros) foi utilizado. E na meia hora da amostra 23, um operador relativamente inexperiente
trabalhou temporariamente com esta mquina. No h outras informaes relevantes sobre as
outras amostras. Recalcular os limites de controle e a linha central do novo grfico.

Grfico p - Exerccio 1 - Terceira Parte

A gerncia no est satisfeita com a performance deste processo. Por isso, solicita um
estudo para melhorias a serem implementadas imediatamente. Aps os ajustes julgados
adequados, a mquina volta a funcionar e outras 24 amostras do mesmo tamanho so retiradas
(veja tabela abaixo) e representadas no grfico. O processo continua sob controle?

Amostra no. Nmero De
Defeituosos
Frao
Defeituosa
31 9
32 6
33 12
34 5
35 6
36 4
37 6
38 3
39 7
40 6
41 2
42 4
43 3
44 6
45 5
46 4
47 8
48 5
49 6
50 7
51 5
52 6
53 3
54 5
8
Grfico p - Exerccio 1 - Quarta Parte

De posse do grfico com os novos limites de controle, mais cinco turnos se passaram,
durante os quais mais 40 amostras do mesmo tamanho foram coletadas (dados na tabela a seguir)
e representadas no grfico. O processo est sob controle? O que voc sugeriria para a empresa
fazer?


Amostra
no.
Nmero De
Defeituosos
Frao
Defeituosa

Amostra
no.
Nmero De
Defeituosos
Frao
Defeituosa
55 8 .160 75 5 .100
56 7 .140 76 8 .160
57 5 .100 77 11 .220
58 6 .120 78 9 .180
59 4 .080 79 7 .140
60 5 .100 80 3 .060
61 2 .040 81 5 .100
62 3 .060 82 2 .040
63 4 .080 83 1 .020
64 7 .140 84 4 .080
65 6 .120 85 5 .100
66 5 .100 86 3 .060
67 5 .100 87 7 .140
68 3 .060 88 6 .120
69 7 .140 89 4 .080
70 9 .180 90 4 .080
71 6 .120 91 6 .120
72 10 .200 92 8 .160
73 4 .080 93 5 .100
74 3 .060 94 6 .120
9
Grfico p - Exerccio 2

Trincas superficiais apresentam-se como o maior problema num determinado processo de
fabricao de velas de ignio para motores a combusto. Para estudar o problema, foi decidido
construir um grfico de controle para a frao defeituosa. Durante um turno de trabalho, 25
amostras de 100 velas cada uma foram coletadas e inspecionadas, cujos dados esto na tabela a
seguir

Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
1 1 16 3
2 6 17 2
3 3 18 4
4 1 19 4
5 3 20 4
6 2 21 2
7 0 22 5
8 2 23 2
9 4 24 6
10 1 25 3
11 5
12 4
13 5
14 4
15 3

Utilize os dados coletados para construir o grfico de controle para a frao defeituosa. O
processo est sob controle?
No turno de trabalho seguinte, mais 15 amostras de 100 velas cada uma foram coletadas
(dados na tabela a seguir). Calcular as fraes defeituosas e plot-las no grfico construdo com as
primeiras 25 amostras. O que se pode dizer do processo neste momento?

Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
26 9 34 9
27 9 35 3
28 8 36 13
29 1 37 8
30 7 38 6
31 5 39 5
32 7 40 8
33 8
10
Grfico p - Exerccio 3

Um processo de fabricao de chaves est sob estudo. Amostras de 150 chaves foram
coletadas e inspecionadas, e o nmero de chaves defeituosas est na tabela a seguir. Construir um
grfico de controle para a frao defeituosa. O processo parece estar sob controle? Se no estiver,
assumir que causas assinalveis foram encontradas para os pontos fora de controle e recalcular os
limites de controle. O processo agora est sob controle ou no?

Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
Amos-
tra No.
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
1 8 11 6
2 1 12 0
3 3 13 4
4 0 14 0
5 2 15 3
6 4 16 1
7 0 17 15
8 1 18 2
9 10 19 3
10 6 20 0





Grfico p - Exerccio 4

Toda a produo diria de computadores de uma determinada unidade produtiva foi
inspecionada durante 10 dias. Os dados coletados esto na tabela a seguir. Construir um grfico de
controle para a frao defeituosa. O processo est sob controle?

Dia Unidades
Produzidas
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
1 80 4
2 110 7
3 90 5
4 75 8
5 130 6
6 120 6
7 70 4
8 125 5
9 105 8
10 95 7
11
Grfico p - Exerccio 5 - Tamanho de amostra varivel

O processo de fabricao da tampa do porta-malas de um automvel (modelo hatch,
econmico) passou por uma completa reestruturao. O novo processo iniciou a operao em
escala piloto e est sendo controlado por um grfico para frao defeituosa. Todas as unidades
produzidas num turno so inspecionadas (gerando uma amostra) e os dados resultantes esto na
tabela a seguir.
Construir trs grficos de controle, calculando limites de controle:
a) utilizando o tamanho mdio das amostras;
b) para cada amostra (utilizando o tamanho de cada amostra);
c) transformando cada observao no seu correspondente valor de uma distribuio normal
padronizada.
Qual a concluso para cada um dos grficos?
Por que possvel chegar a esta concluso?
Amos-
tra No.
Tamanho
da Amostra
Nmero de
Defeituosos
Frao
Defeituosa
LIC
i
LSC
i
z
i
1 238 11
2 245 18
3 270 17
4 207 15
5 251 11
6 254 15 .059 .028 .129 -1.14
7 236 19 .081 .026 .131 .13
8 245 20 .082 .027 .130 .19
9 246 35 .142 .027 .130 3.74
10 269 14 .052 .029 .127 -1.60
11 223 7 .031 .024 .132 -2.61
12 246 42 .171 .027 .130 5.40
13 262 14 .053 .029 .128 -1.50
14 258 15 .058 .028 .128 -1.21
15 232 20 .086 .025 .131 .45
16 219 9 .041 .024 .133 -2.05
17 263 23 .087 .029 .128 .55
18 244 11 .045 .027 .130 -1.93
19 274 21 .077 .030 .127 -.10
20 245 37 .151 .027 .130 4.24
21 233 16 .069 .026 .131 -.55
22 267 18 .067 .029 .128 -.66
23 254 20 .079 .028 .129 .03
24 264 16 .061 .029 .128 -1.07
25 253 34 .134 .028 .129 3.32
26 290 22 .076 .031 .126 -.15
27 231 9 .039 .025 .131 -2.23
28 227 40 .176 .025 .132 5.49
29 234 18 .077 .026 .131 -.08
30 253 15 .059 .028 .129 -1.13

12
Grfico c - Exerccio 1 - Primeira Parte
Um novo processo de fabricao de circuitos impressos est sendo implementado em uma
determinada fbrica. Vinte e seis sucessivas amostras de 100 circuitos foram coletadas e
inspecionadas, resultando nos dados da tabela abaixo. Construir um grfico preliminar para ver se
o processo est sob controle ou no.

Amostra
no.
Nmero de
Defeitos
Amostra
no.
Nmero de
Defeitos
1 21 14 19
2 24 15 10
3 16 16 17
4 12 17 13
5 15 18 22
6 5 19 18
7 28 20 39
8 20 21 30
9 31 22 24
10 25 23 16
11 20 24 19
12 24 25 17
13 16 26 15

Grfico c - Exerccio 1 - Segunda Parte
Um novo inspetor trabalhou na coleta da amostra nmero 6 e no levou em considerao
vrios tipos de defeitos. Aconteceu um problema de temperatura na mquina de soldar quando foi
coletada a amostra nmero 20. O problema foi corrigido imediatamente. No h outras
informaes relevantes sobre as outras amostras. Recalcular os limites de controle e a linha central
do novo grfico.
Grfico c - Exerccio 1 - Terceira Parte
Outras 20 amostras de 100 circuitos so inspecionadas (veja tabela abaixo) e representadas
no grfico. O processo continua sob controle?

Amostra
no.
Nmero de
Defeitos
Amostra
no.
Nmero de
Defeitos
27 16 37 18
28 18 38 21
29 12 39 16
30 15 40 22
31 24 41 19
32 21 42 12
33 28 43 14
34 20 44 9
35 25 45 16
36 19 46 21
13
Grfico c - Exerccio 2

Os dados da tabela a seguir referem-se ao nmero de defeitos constatados na inspeo de
22 amostras de 1.000 metros de cabo telefnico cada. O processo se apresenta sob controle
estatstico? Considerando ser este um estudo inicial, que procedimento voc sugere para
estabelecer um grfico de controle para a produo futura?

Amostra
no.
Nmero de
Defeitos
Amostra
no.
Nmero de
Defeitos
1 1 12 6
2 1 13 9
3 3 14 11
4 7 15 15
5 8 16 8
6 10 17 3
7 5 18 6
8 13 19 7
9 0 20 4
10 19 21 9
11 24 22 20



Grfico c - Exerccio 3 - Quatro caractersticas

Na produo de um certo produto qumico, lquido, aparecem impurezas que
comprometem a qualidade final do produto. Quatro destas impurezas so as mais importantes e
so alvo de um estudo. Decidiu-se construir grficos de controle para o nmero de partculas de
impurezas detectadas em amostras de um litro do produto cada. Os resultados das primeiras 50
amostras esto na tabela abaixo. Construir grficos de controle para cada uma das impurezas e um
grfico para a soma delas. Comente sobre cada um dos grficos.

Amostra
no.
Impureza
1
Impureza
2
Impureza
3
Impureza
4
1 6 0 0 9
2 0 1 5 9
3 4 2 2 8
4 1 2 0 1
5 3 0 2 7
6 1 5 1 5
7 2 0 0 7
8 3 1 1 8
9 4 2 3 9
10 0 0 0 3
11 3 0 4 13
12 2 2 3 8
13 3 3 4 6
14 1 3 3 5
15 3 2 2 8
14
16 2 0 2 7
17 3 1 1 1
18 4 0 3 10
19 1 0 3 6
20 5 0 3 4
21 1 3 1 9
22 1 5 4 4
23 3 4 1 5
24 3 4 8 12
25 2 3 2 7
26 3 0 3 7
27 9 8 3 8
28 5 3 6 8
29 5 2 0 8
30 5 1 1 4
31 3 1 1 11
32 6 2 1 5
33 2 2 1 5
34 2 0 3 8
35 0 0 3 4
36 4 3 3 9
37 4 0 3 6
38 1 1 4 4
39 2 1 1 6
40 4 5 2 5
41 2 4 4 9
42 6 0 1 6
43 2 1 0 5
44 8 0 0 4
45 2 1 1 8
46 1 1 0 5
47 1 4 2 10
48 5 0 5 8
49 1 1 1 5
50 3 0 1 5

15
Grfico u - Exerccio 1 - Tamanho de amostra varivel
A instalao de teto solar em automveis est sujeita a vrios tipos de defeitos. Para
estudar o comportamento do processo de instalao, decidiu-se controlar o processo atravs de um
grfico para mdia de defeitos por unidade (grfico u). Devido a problemas de produo e de mo-
de-obra, em cada turno de trabalho so coletadas e inspecionadas amostras de tamanhos
diferentes. Os dados resultantes de 27 turnos de trabalho esto na tabela a seguir.
Construir trs grficos de controle:
a) calculando o tamanho mdio das amostras;
b) calculando limites de controle para cada amostra;
c) transformando cada observao no seu correspondente valor de uma distribuio normal
padronizada.
Qual a concluso para cada um dos grficos?
Por que possvel chegar a esta concluso?
Amostra
no. (i)
Tamanho da
amostra (n)
No.de defeitos
(c)
u
(defeitos / unidade)
LIC
i
LSC
i
z
i
1 16 23 1.44 0.491 2.245 0.24
2 20 30 1.50 0.584 2.153 0.50
3 26 35
4 8 12
5 22 29
6 29 35 1.21 0.717 2.020 -0.74
7 31 50 1.61 0.738 1.998 1.16
8 13 15 1.15 0.395 2.341 -0.66
9 28 36 1.29 0.705 2.031 -0.37
10 23 38 1.65 0.637 2.100 1.16
11 19 24 1.26 0.563 2.173 -0.39
12 23 32 1.39 0.637 2.100 0.09
13 14 24 1.71 0.430 2.306 1.11
14 29 34 1.17 0.717 2.020 -0.90
15 27 38 1.41 0.693 2.044 0.17
16 15 25 1.67 0.462 2.274 0.99
17 22 26 1.18 0.620 2.116 -0.75
18 22 24 1.09 0.620 2.116 -1.11
19 14 22 1.57 0.430 2.306 0.65
20 16 17 1.06 0.491 2.245 -1.05
21 22 33 1.50 0.620 2.116 0.53
22 16 21 1.31 0.491 2.245 -0.19
23 14 18 1.29 0.430 2.306 -0.26
24 5 9 1.80 -0.201 2.938 0.83
25 13 18 1.38 0.395 2.341 0.05
26 19 26 1.37 0.563 2.173 0.00
27 10 12 1.20 0.259 2.478 -0.45
E = 516 706

16
Grfico u - Exerccio 2 - Tamanho de amostra varivel

Uma fbrica de papel monitora as imperfeies na produo diria de bobinas de papel
atravs de um grfico u (nmero de defeitos por unidade). Os dados resultantes de 20 dias de
produo esto na tabela a seguir.
Construir trs grficos de controle:
a) calculando o tamanho mdio das amostras;
b) calculando limites de controle para cada amostra;
c) transformando cada observao no seu correspondente valor de uma distribuio normal
padronizada.
Qual a concluso para cada um dos grficos?
Por que possvel chegar a esta concluso?

Amostra
no. (i)
n No. defeitos
(c)
u (defeitos /
unidade)
LIC
i
LSC
i
z
i
1 18 12 0.67 0.109 1.293 -0.17
2 18 14 0.78 0.109 1.293 0.39
3 24 20
4 22 18
5 22 15
6 22 12 0.55 0.165 1.236 -0.87
7 20 11 0.55 0.139 1.262 -0.81
8 20 15 0.75 0.139 1.262 0.26
9 20 12 0.60 0.139 1.262 -0.54
10 20 10 0.50 0.139 1.262 -1.07
11 18 18 1.00 0.109 1.293 1.52
12 18 14 0.78 0.109 1.293 0.39
13 18 9 0.50 0.109 1.293 -1.02
14 20 10 0.50 0.139 1.262 -1.07
15 20 14 0.70 0.139 1.262 0.00
16 20 13 0.65 0.139 1.262 -0.27
17 24 16 0.67 0.188 1.213 -0.20
18 24 18 0.75 0.188 1.213 0.29
19 22 20 0.91 0.165 1.236 1.17
20 21 17 0.81 0.153 1.249 0.60
E = 411 288

17
Grfico u - Exerccio 3 - Tamanho de amostra varivel, trs defeitos

A inspeo final numa fbrica de motores para caminhes visa detectar, visualmente, trs
tipos de problemas: escorrimento na pintura (c
1
), identificao fora de esquadro (c
2
) e nmero de
srie mal gravado (c
3
). Com o objetivo de investigar o alto ndice destes problemas, decidiu-se
elaborar grficos de controle para estas trs caractersticas. Os dados observados durante 25 dias
esto na tabela a seguir (cada dia foi coletada uma amostra e inspecionada).
Construir quatro grficos de controle, um para cada varivel e um para o acumulado das
trs. Considerar um tamanho de amostra mdio.
Qual a concluso para cada um dos grficos?


Dia(i) n c
1
u
1
c
2
u
2
c
3
u
3
c
tot
u
tot
1 105 3 2 4 9
2 101 5 1 5 11
3 102 3 2 5 10
4 95 4 1 7 12
5 100 3 3 3 9
6 98 2 1 3 6
7 102 1 2 2 5
8 101 3 3 5 11
9 97 0 2 1 3
10 100 3 1 2 6
11 106 4 1 3 8
12 101 6 1 3 10
13 103 3 1 4 8
14 96 5 4 5 14
15 101 5 1 3 9
16 101 8 1 2 11
17 98 6 2 3 11
18 103 7 1 4 12
19 104 6 1 1 8
20 100 5 3 5 13
21 100 9 6 4 19
22 99 7 4 2 13
23 102 5 6 4 15
24 105 8 5 2 15
25 102 10 6 1 17

18
Exerccio - Grfico para Elementos Individuais e Amplitudes Mveis (XMR)
Primeira Parte

A viscosidade de uma tinta uma caracterstica importante que deve ser controlada. Um
processo de fabricao de determinada tinta acontece em bateladas individuais, que demoram seis
horas para serem concludas. Desta maneira, as amostras das tintas so individuais e esto na
tabela abaixo. Construir um grfico de controle para a viscosidade e verificar se o processo est
sob controle ou no.
Amostra
no.
Viscosidade
X
Amplitude
Mvel (MR)
1 33.75
2 33.05
3 34.00
4 33.81
5 33.46
6 34.02
7 33.68
8 33.27
9 33.49
10 33.20
11 33.62
12 33.00
13 33.54
14 33.12
15 33.84

Exerccio - Grfico para Elementos Individuais e Amplitudes Mveis (XMR)
Segunda Parte

Outras 15 amostras foram coletadas (15 novas bateladas). Continuar a construo do
grfico de controle. O processo continua sob controle ou no?
Amostra
no.
Viscosidade
X
Amplitude
Mvel
16 33.50
17 33.25
18 33.40
19 33.27
20 34.65
21 34.80
22 34.55
23 35.00
24 34.75
25 34.50
26 34.70
27 34.29
28 34.61
29 34.49
30 35.03
19
Grfico das Mdias (
X
) e Amplitudes (R) - Exerccio 1 - Primeira Parte

Um processo de fabricao de anis de pisto de um motor est sendo analisado. Deseja-se
controlar o dimetro interno dos anis. Para isso, foram coletadas 25 amostras de 5 anis cada e o
dimetro interno foi medido, em milmetros, resultando na tabela a seguir.
Construir um grfico de controle
X
R e verificar se o processo est sob controle ou no.


Amostra
no.
x1 x2 x3 x4 x5 mdia amplitude
1 74.030 74.002 74.019 73.992 74.008
2 73.995 73.992 74.001 74.011 74.004
3 73.988 74.024 74.021 74.005 74.002
4 74.002 73.996 73.993 74.015 74.009
5 73.992 74.007 74.015 73.989 74.014
6 74.009 73.994 73.997 73.985 73.993 73.996 0.024
7 73.995 74.006 73.994 74.000 74.005 74.000 0.012
8 73.985 74.003 73.993 74.015 73.988 73.997 0.030
9 74.008 73.995 74.009 74.005 74.004 74.004 0.014
10 73.998 74.000 73.990 74.007 73.995 73.998 0.017
11 73.994 73.998 73.994 73.995 73.990 73.994 0.008
12 74.004 74.000 74.007 74.000 73.996 74.001 0.011
13 73.983 74.002 73.998 73.997 74.012 73.998 0.029
14 74.006 73.967 73.994 74.000 73.984 73.990 0.039
15 74.012 74.014 73.998 73.999 74.007 74.006 0.016
16 74.000 73.984 74.005 73.998 73.996 73.997 0.021
17 73.994 74.012 73.986 74.005 74.007 74.001 0.026
18 74.006 74.010 74.018 74.003 74.000 74.007 0.018
19 73.984 74.002 74.003 74.005 73.997 73.998 0.021
20 74.000 74.010 74.013 74.020 74.003 74.009 0.020
21 73.988 74.001 74.009 74.005 73.996 74.000 0.021
22 74.004 73.999 73.990 74.006 74.009 74.002 0.019
23 74.010 73.989 73.990 74.009 74.014 74.002 0.025
24 74.015 74.008 73.993 74.000 74.010 74.005 0.022
25 73.982 73.984 73.995 74.017 74.013 73.998 0.035
E = 1850.028 0.569
Mdia =


20
Grfico das Mdias (
X
) e Amplitudes (R) - Exerccio 1 - Segunda Parte

Outras 15 amostras do mesmo tamanho foram coletadas (ver tabela a seguir) e assinaladas
na continuao do grfico. O processo continua sob controle?


Amostra
no.
x1 x2 x3 x4 x5 mdia amplitude
26 74.012 74.015 74.030 73.986 74.000
27 73.995 74.010 73.990 74.015 74.001
28 73.987 73.999 73.985 74.000 73.990
29 74.008 74.010 74.003 73.991 74.006 74.004 0.019
30 74.003 74.000 74.001 73.986 73.997 73.997 0.017
31 73.994 74.003 74.015 74.020 74.004 74.007 0.026
32 74.008 74.002 74.018 73.995 74.005 74.006 0.023
33 74.001 74.004 73.990 73.996 73.998 73.998 0.014
34 74.015 74.000 74.016 74.025 74.000 74.011 0.025
35 74.030 74.005 74.000 74.016 74.012 74.013 0.030
36 74.001 73.990 73.995 74.010 74.024 74.004 0.034
37 74.015 74.020 74.024 74.005 74.019 74.017 0.019
38 74.035 74.010 74.012 74.015 74.026 74.020 0.025
39 74.017 74.013 74.036 74.025 74.026 74.023 0.023
40 74.010 74.005 74.029 74.000 74.020 74.013 0.029

21
Grfico das Mdias (
X
) e Amplitudes (R) - Exerccio 2

Um processo de produo, por injeo, do suporte de sustentao dos faris de um
determinado tipo de automvel est sendo estudado na caracterstica peso. Foram coletadas 44
amostras, de 5 peas cada uma, a cada hora de trabalho (dados na tabela a seguir). Construir um
grfico de controle para este processo e verificar se o mesmo est sob controle ou no. O que se
pode fazer com os limites de controle calculados?

Amostra
no.
x1 x2 x3 x4 x5 Mdia amplitude
1 167 169 187 160 180
2 186 178 172 153 170
3 155 143 171 170 152
4 195 180 168 167 169
5 168 194 169 183 170
6 165 157 148 161 162
7 167 159 174 173 162
8 171 163 181 165 182 172.4 19
9 145 161 171 164 166 161.4 26
10 156 174 170 177 182 171.8 26
11 161 156 171 187 161 167.2 31
12 159 148 157 162 170 159.2 22
13 167 179 166 197 186 179.0 31
14 179 167 166 181 180 174.6 15
15 157 167 166 162 159 162.2 10
16 178 176 164 165 153 167.2 25
17 169 172 180 176 191 177.6 22
18 167 172 173 163 165 168.0 10
19 159 150 172 157 163 160.2 22
20 165 168 161 169 162 165.0 8
21 182 165 193 172 167 175.8 28
22 164 181 165 166 162 167.6 19
23 154 153 162 171 161 160.2 18
24 170 143 168 170 166 163.4 27
25 181 196 169 166 165 175.4 31
26 167 165 168 166 187 170.6 22
27 159 168 167 163 174 166.2 15
28 170 186 167 161 166 170.0 25
29 159 156 186 158 172 166.2 30
30 172 176 177 161 171 171.4 16
31 186 165 169 193 170 176.6 28
32 159 172 162 169 176 167.6 17
33 192 164 167 176 163 172.4 29
34 168 167 166 189 159 169.8 30
35 173 164 155 174 176 168.4 21
36 160 180 181 169 181 174.2 21
22
37 167 164 170 147 162 162.0 23
38 179 177 174 175 173 175.6 6
39 170 175 193 169 171 175.6 24
40 170 166 167 162 164 165.8 8
41 176 156 157 157 166 162.4 20
42 153 180 170 167 163 166.6 27
43 178 187 164 163 167 171.8 24
44 166 179 181 178 170 174.8 15
E = 7437.0 965
Mdia =

23
Grfico das Mdias (
X
) e Amplitudes (R) - Exerccio 3

O processo de usinagem de uma pea est sendo estudado na caracterstica dimetro.
Foram coletadas 35 amostras de 5 peas cada uma e medidas. A tabela a seguir contm apenas os
trs ltimos dgitos de medidas que na realidade so 8,5xxx. Por exemplo, 205 significa 8,5205;
202 representa 8,5202. Construir um grfico de controle para este processo e verificar se o mesmo
est sob controle ou no. As amostras 6 e 16 referem-se a um perodo em que um operador
substituto e inexperiente operou a mquina. As amostras 1 e 11 foram coletadas no incio de turno
com a mquina tendo operado numa temperatura no adequada.
Amostra no. x1 x2 x3 x4 x5 mdia amplitude
1 205 202 204 207 205
2 202 196 201 198 202
3 201 202 199 197 196
4 205 203 196 201 197
5 199 196 201 200 195
6 203 198 192 217 196
7 202 202 198 203 202 201.4 5
8 197 196 196 200 204 198.6 8
9 199 200 204 196 202 200.2 8
10 202 196 204 195 197 198.8 9
11 205 204 202 208 204 204.6 6
12 200 201 199 200 201 200.2 2
13 205 196 201 197 198 199.4 9
14 202 199 200 198 200 199.8 4
15 200 200 201 205 201 201.4 5
16 201 187 209 202 200 199.8 22
17 202 202 204 198 203 201.8 6
18 201 198 204 201 201 201.0 6
19 207 206 194 197 201 201.0 13
20 200 204 198 199 199 200.0 6
21 203 200 204 199 200 201.2 5
22 196 203 197 201 194 198.2 9
23 197 199 203 200 196 199.0 7
24 201 197 196 199 207 200.0 11
25 204 196 201 199 197 199.4 8
26 206 206 199 200 203 202.8 7
27 204 203 199 199 197 200.4 7
28 199 201 201 194 200 199.0 7
29 201 196 197 204 200 199.6 8
30 203 206 201 196 201 201.4 10
31 203 197 199 197 201 199.4 6
32 197 194 199 200 199 197.8 6
33 200 201 200 197 200 199.6 4
34 199 199 201 201 201 200.2 2
35 200 204 197 197 199 199.4 7
E = 7008.600 270.000
Mdia =
24
Grfico das Mdias (
X
) e Amplitudes (R) - Exerccio 4

Uma fundio produz uma determinada pea cuja especificao 775 18 gramas para o
seu peso. Quarenta amostras de 5 peas cada uma foram coletadas e pesadas. Apenas os dois
ltimos dgitos das medidas foram anotados, uma vez que todas as medidas esto entre 700 e 799
gramas. Por exemplo, 79 representa 779 gramas e 82 representa 782 gramas. Construir um grfico
de controle para este processo e verificar se o mesmo est sob controle ou no.

Amostra x1 x2 x3 x4 x5 mdia amplitude
1 79 82 71 71 73
2 75 63 75 79 74
3 72 82 70 90 75
4 79 76 73 80 79
5 71 63 79 76 87
6 81 67 72 83 71 74.8 16
7 88 77 70 65 59 71.8 29
8 80 77 78 86 80 80.2 9
9 65 72 75 84 85 76.2 20
10 72 73 75 75 65 72.0 10
11 73 74 72 76 77 74.4 5
12 73 70 83 78 85 77.8 15
13 84 74 78 79 76 78.2 10
14 88 70 79 88 78 80.6 18
15 64 71 65 78 82 72.0 18
16 86 73 71 78 71 75.8 15
17 84 67 71 59 87 73.6 28
18 76 81 66 74 73 74.0 15
19 75 69 83 79 71 75.4 14
20 79 75 73 75 74 75.2 6
21 79 86 85 87 84 84.2 8
22 76 78 88 75 89 81.2 14
23 81 88 84 70 82 81.0 18
24 81 74 72 78 60 73.0 21
25 84 65 65 77 79 74.0 19
26 85 72 76 72 78 76.6 13
27 83 72 72 81 66 74.8 17
28 74 78 74 82 93 80.2 19
29 77 73 74 71 83 75.6 12
30 59 71 85 74 80 73.8 26
31 82 73 76 74 85 78.0 12
32 66 74 79 81 73 74.6 15
33 77 73 77 86 74 77.4 13
34 89 83 71 75 82 80.0 18
35 82 78 66 69 67 72.4 16
36 73 82 67 73 70 73.0 15
37 83 69 77 77 61 73.4 22
38 82 82 80 70 72 77.2 12
39 82 70 70 74 75 74.2 12
40 77 69 80 68 79 74.6 12
E = 3040.000 620.000
Mdia =

25
Grfico das Mdias (
X
) e Desvios Padres (S) - Exerccio 1
Grfico das Mdias (
X
) e Amplitudes (R)

Um processo de usinagem do rasgo para encaixe de uma chaveta est sob estudo da
varivel profundidade. A tabela a seguir contm apenas os trs ltimos dgitos de medidas, em
dcimos de milsimos de cm, que na realidade so 0,1xxx. Por exemplo, 501 significa 0,1501;
494 representa 0,1494.
Construir um grfico de controle
X
R e verificar se o processo est sob controle ou no.
Construir tambm um grfico
X
S e confirmar se o processo tambm est sob controle.

Amostra
no.
x1 x2 x3 x4 Mdia amplitude desvio
padro
1 501 501 494 496 498.000
2 505 493 509 497 501.000
3 497 486 503 500 496.500
4 507 507 503 494 502.750 13 6.1305
5 488 496 496 503 495.750 15 6.1305
6 505 505 505 488 500.750 17 8.5000
7 507 496 506 486 498.750 21 9.8446
8 490 501 494 505 497.500 15 6.7577
9 490 495 489 505 494.750 16 7.3201
10 490 493 497 491 492.750 7 3.0957
11 492 489 485 496 490.500 11 4.6547
12 496 503 511 499 502.250 15 6.5000
13 510 506 492 504 503.000 18 7.7460
14 503 492 496 497 497.000 11 4.5461
15 499 495 497 497 497.000 4 1.6330
16 493 500 500 494 496.750 7 3.7749
17 499 496 510 504 502.250 14 6.1305
18 505 492 505 493 498.750 13 7.2284
19 501 505 497 497 500.000 8 3.8297
20 498 507 496 506 501.750 11 5.5603
21 502 500 501 501 501.000 2 0.8165
22 496 492 504 505 499.250 13 6.2915
23 503 489 501 503 499.000 14 6.7330
24 490 498 494 509 497.750 19 8.1803
25 493 502 493 499 496.750 9 4.5000
26 498 503 490 486 494.250 17 7.6757
27 500 507 489 491 496.750 18 8.3417
28 497 502 499 506 501.000 9 3.9158
29 491 504 506 502 500.750 15 6.7020
30 502 493 500 501 499.000 9 4.0825
31 499 504 506 495 501.000 11 4.9666
32 503 497 502 493 498.750 10 4.6458
33 493 508 494 496 497.750 15 6.9462
34 496 495 509 496 499.000 14 6.6833
35 503 500 508 507 504.500 8 3.6968

E = 17454.250 439 201.8386
Mdia =

26
CONTROLE ESTATSTICO DO PROCESSO (CEP)
ASPECTOS ADMINISTRATIVOS

VARIABILIDADE

a) Causas especiais (assinalveis):
- processo fora de controle: alm das comuns, apresenta causas especiais (pontos fora
dos limites ou tendncias de pontos); devem ser corrigidas imediatamente;
normalmente a soluo do problema conta com a participao do operador e com a
ajuda do dirio de bordo;
- Exemplos de causas especiais:
- um ponto fora dos limites de controle;
- dois de trs pontos consecutivos alm do mesmo limite de advertncia ( 2o);
- quatro de cinco pontos consecutivos afastados mais do que um desvio padro (do
mesmo lado da linha central);
- oito pontos consecutivos num mesmo lado da linha central;
- oito pontos consecutivos em tendncia (todos para baixo ou todos para cima);
- qualquer comportamento no aleatrio (ciclos, pontos alternados acima e abaixo
da linha central).
- Obs.: os acontecimentos importantes de um processo devem ser registrados no dirio
de bordo ou espao apropriado. Qualquer suspeita de anomalia deve direcionar maior
ateno ao processo. Exemplos: oscilaes na tenso da rede eltrica, oscilaes na
temperatura ambiente, operador recm contratado, troca de turnos, manuteno,
regulagens, troca ou quebra de ferramentas, troca de material, mudana no processo,
alterao de formulao, etc.

b) Causas comuns (aleatrias, ao acaso):
- processo sob controle: apresenta apenas causas comuns;
- se o processo produz dentro das especificaes, no se deve tentar encontrar as causas
desta variabilidade, pois ela inerente ao processo e de difcil deteco;
- se o processo produz considervel quantidade de itens fora das especificaes, a
soluo pode no ser simples e pode demandar muito estudo e altos investimentos.

OBJETIVOS E VANTAGENS

Objetivos do CEP:
- monitorar (controlar) processos ou produtos;
- estimar parmetros para processos ou produtos;
- reduzir a variabilidade de processos ou produtos;
- oportunizar a participao do operador nas decises.

Vantagens do CEP:
- aumenta a produtividade;
- eficaz na preveno de defeitos;
- elimina ajustes desnecessrios;
- fornece valiosas informaes de diagnstico;
- fornece informaes e permite calcular capacidades de processos.

27
Capacidade de Processo - Exerccios 1 a 3

1. A caracterstica comprimento de uma determinada pea est sob estudo. O processo de
fabricao demonstra estar estvel, sob controle, e o comprimento das peas apresenta mdia igual
a 145,08 cm e desvio padro igual a 0,16 cm. A especificao para o comprimento da pea
145,00 0,50 cm.
a) qual a capacidade potencial deste processo (Cp)?
b) qual a capacidade real deste processo (Cpk)? O processo capaz?
c) qual o percentual de peas produzidas fora da especificao?





2. Um processo de injeo de plstico produz uma determinada pea cujo peso apresenta mdia
() igual a 80,5 g e desvio padro (o
X
) igual a 0,7 g para amostras de tamanho n=5. A
especificao para o peso das peas 80 4 g. Pergunta-se:
a) qual a capacidade potencial deste processo (Cp)?
b) qual a capacidade real deste processo (Cpk)? O processo capaz?
c) qual o percentual de peas produzidas fora da especificao?






3. Grficos de controle devem ser construdos para um processo que faz o dimetro externo de um
cilindro cuja especificao de 4,500 0,050 cm. Trinta e cinco amostras de 5 cilindros cada
foram inspecionadas, resultando num somatrio das mdias igual a 157,85175 cm e num
somatrio de amplitudes igual a 2,18750 cm.
a) Calcule a linha central e os limites de controle para um grfico das mdias e das
amplitudes.
b) Assumindo que o processo esteja estvel, sua operao em condies normais dever
produzir que percentual de cilindros dentro da especificao de dimetro externo?
c) Se o processo for conduzido a operar centrado na mdia da especificao, sem alterao
na variabilidade, qual dever ser o percentual de cilindros dentro da especificao de dimetro
externo?

28
Capacidade de Processo - Exerccio 4

A. Um processo produz peas que devem atender especificao de espessura de 22,0 mm 0,1
mm. Atualmente o processo est estvel, operando sob controle de um grfico
X
R cujos
parmetros so:
LSC
X
= 22,084 mm
LIC
X
= 21,976 mm
n (tamanho das amostras) = 5
Com relao caracterstica de qualidade espessura, calcular o seguinte:
a) ndice de capacidade potencial do processo (Cp);
b) ndice de capacidade real do processo (Cpk);
c) o percentual de peas defeituosas (fora dos limites de especificao) produzidas por este
processo;







B. A gerncia do departamento de produo demonstra preocupao com os resultados
encontrados no item A. Ento solicita a voc fazer um estudo para reduo da quantidade de peas
defeituosas.
Voc decide apresentar o estudo em duas etapas:
- primeira: reduo no nmero de peas defeituosas pela simples centralizao do
processo, isto , regulando as mquinas para operarem com mdia igual ao centro da
especificao. Quais seriam os novos trs ndices (Cp, Cpk e % defeituosas)?
- segunda: aps centralizao do processo, reduo de 1/3 na sua variabilidade atravs de
regulagens e trocas de ferramentas mais freqentes. Quais seriam os novos trs ndices (Cp, Cpk e
% defeituosas)? Quais seriam os novos limites dos grficos
X
e R?






C. Considerando que o custo de retrabalho de uma pea defeituosa com espessura acima do LSE
R$ 10,00 e o custo de refugo de uma pea defeituosa com espessura abaixo do LIE R$ 100,00,
voc ainda proporia as sugestes da questo B? Ilustre o seu clculo para uma produo mdia
diria de 8.000 peas.
29
Capacidade de Processo - Exerccio 5

5. Um processo de envazamento de leite precisa atender a legislao que estabelece que o volume
mnimo em cada caixa deve ser de 1000 ml. Atualmente, o processo est sendo controlado por um
grfico de controle com linha central ( X ) igual a 1006,305 ml e desvio padro das mdias (o
X
)
igual a 1,437 ml para amostras de 5 caixas cada uma.
a) Se a fiscalizao decidir verificar o atendimento por parte da empresa com relao ao
item volume, qual a probabilidade da empresa levar uma multa? (Considerar que o inspetor pegar
uma caixa de leite ao acaso para fazer o teste.)
b) Se a empresa decidir que quer correr um risco de apenas 0,1% (isto , uma chance em
mil) de levar nova multa, qual deveria ser a regulagem da mquina envazadora (considerando a
mesma variabilidade)?
c) Repetir o clculo da letra b, mas para um risco de 0,01%.
d) Supondo que o equipamento de envazamento comece a apresentar problemas e a
variabilidade do processo se altere, passando a apresentar um desvio padro (o
X
) igual a 2,108 ml
(para amostras de 5 caixas cada), qual deveria ser a regulagem da mquina (mdia do processo)
para manter a probabilidade da multa em 0,01%?
e) Considerando as novas condies estabelecidas no item d, quais seriam os limites de
controle e as linhas centrais para os grficos das mdias e das amplitudes?
f) Considerando que o preo de venda do litro de leite igual a R$ 1,00 e que a empresa
beneficia 200.000 litros de leite por dia, qual seria o prejuzo da empresa ao passar das condies
estabelecidas na letra a para as da letra b, de b para c, e de c para d?

30
FERRAMENTAS PARA A QUALIDADE

1. FOLHA DE VERIFICAO / FORMULRIO PARA COLETA DE DADOS

2. GRFICO DE PARETO
Um restaurante est envolvido num processo de implementao de um programa de qualidade. Na
ltima semana foram coletados dados dos clientes, que se manifestaram sobre itens que os
deixaram insatisfeitos. Os dados esto na tabela abaixo. Construir um grfico de Pareto e
determinar as causas mais importantes de insatisfao.

Caracterstica Freqncia
Sabor da comida
Decorao
Preo
Rapidez
Temperatura ambiente
Rudo / barulho
Atendimento
Opes de pratos
Localizao do
restaurante

Estacionamento
Msica
Higiene
Outros

31
GRFICO DE PARETO

1. Colocar as caractersticas em ordem decrescente de freqncia absoluta.
2. Calcular as trs colunas (%, Freqncia Acumulada e % Acumulado).
3. Elaborar o grfico com as seguintes escalas:
- ordenadas (vertical) esquerda: freqncias (absoluta e acumulada);
- ordenadas (vertical) direita: percentual acumulado;
- abscissas (horizontal): caractersticas.
4. Tomar decises (por exemplo: atacar as causas de 50% dos problemas)

Caracterstica Freqncia % Freq. Acum. % Acum.



























32
3. DIAGRAMA DE ISHIKAWA (DIAGRAMA DE CAUSA E EFEITO OU DIAGRAMA
ESPINHA DE PEIXE)

4. PLANO DE AO (5W2H)

5. FLUXOGRAMA
Exemplo: doente num hospital.

6. HISTOGRAMA

7. DIAGRAMA DE DISPERSO
Correlao:
- positiva
- negativa
- no h correlao
- no h correlao linear (parablica, senoidal, exponencial, etc.)
Exemplo:

Peso (kg) Altura (m)




















r
n X Y X Y
n X X n Y Y
i i
i
n
i
i
n
i
i
n
i
i
n
i
i
n
i
i
n
i
i
n
=

|
\

|
.
|

(
(

|
\

|
.
|

(
(
= = =
= = = =


1 1 1
2
1 1
2
2
1 1
2
ou
( )
| |
( )
| |
r
n XY X Y
n X X n Y Y
=




2
2
2
2


33
GRFICO
X
R PARA PEQUENOS LOTES

Um determinado processo fabrica a pea A com medida nominal de dimetro N
A
= 50 mm
e a pea B com medida nominal de dimetro N
B
= 25 mm. Com os dados da tabela abaixo,
calcular os parmetros faltantes e construir um grfico
X
R nico para controlar o processo de
fabricao das duas peas.
As variveis so transformadas de acordo com a equao:
x
i
= M
i
- N

Medidas Desvios Nominais
Amostra Pea M1 M2 M3 X1 X2 X3 Mdia R
1 A 50 51 52
2 A 49 50 51
3 A 48 49 52
4 A 49 53 51
5 B 24 27 26
6 B 25 27 24
7 B 27 26 23
8 B 25 24 23
9 B 24 25 25
10 B 26 24 25

Pontos a considerar:

1. Este mtodo assume que o desvio padro aproximadamente o mesmo para as peas A e B.
2. O tamanho da amostra deve ser constante.
3. O mtodo especialmente interessante quando o valor nominal da especificao o alvo do
processo.
34
CAPACIDADE DE MEDIO

A variabilidade observada em um processo devida variabilidade no produto em si e
tambm a erros de medio:

o
2
total
= o
2
produto
+ o
2
erro de medio

Avaliando a capacidade de medio

Um determinado instrumento de medio, antes de ser utilizado numa implementao de
CEP, submetido a uma avaliao de capacidade. Vinte unidades do produto so avaliados, numa
caracterstica cujos LSE = 60 e LIE = 5, pelo operador que far a inspeo quando as cartas de
controle estiverem em operao. O operador utiliza o instrumento de medio que est sendo
avaliado e cada produto medido duas vezes. Os dados resultantes das medies esto na tabela a
seguir:

Pea x
1
x
2 X
R Pea x
1
x
2 X
R
1 21 20 20.5 1 11 21 20 20.5 1
2 24 23 23.5 1 12 18 19 18.5 1
3 20 21 20.5 1 13 23 25 24.0 2
4 27 27 27.0 0 14 24 24 24.0 0
5 19 18 18.5 1 15 29 30 29.5 1
6 23 21 22.0 2 16 26 26 26.0 0
7 22 21 21.5 1 17 20 20 20.0 0
8 19 17 18.0 2 18 19 21 20.0 2
9 24 23 23.5 1 19 25 26 25.5 1
10 25 23 24.0 2 20 19 19 19.0 0
E =
Mdia =


o
erro de medio
=
R
d
2
= o
2
total
= S
2
= (das 40 medidas)

o
2
produto
= o
2
total
- o
2
erro de medio
= o
produto
=


Capacidade de medio = 6o
erro de medio



Relao Preciso/Tolerncia = P/T = 6o
erro de medio
/ (LSE - LIE) =

(Valores de P/T iguais ou menores do que 0,1 indicam capacidade de medio adequada.)

O erro de medio tambm pode ser expresso como um percentual da variabilidade do produto:

( o
erro de medio
/ o
produto
) x 100 =

35

GrficodasMdias
amostras
M

d
i
a
s
20.4194
22.3000
24.1806
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
31
5 10 15 20


O grfico das mdias mostra o poder de discriminao do instrumento de medio, isto , a
habilidade do instrumento de medio de distinguir um produto do outro.

GrficodasAmplitudes(R)
Amostras
A
m
p
l
i
t
u
d
e
s

(
R
)
1.00000
0.00000
3.26729
0
0.5
1
1.5
2
2.5
3
3.5
4
5 10 15 20

Grfico das amplitudes sob controle indica que o operador no tem dificuldade em fazer
medies consistentes. Pontos fora dos limites de controle indicam que o operador tem
dificuldade em usar o instrumento de medio.


36
Capacidade de Medio
(Repetibilidade e Reprodutibilidade)

Componentes do erro de medio
o
2
erro de medio
= o
2
repetibilidade
+ o
2
reprodutibilidade

Repetibilidade: erro de medio devido preciso inerente ao instrumento de medio.
Reprodutibilidade: erro devido a diferentes operadores utilizando o mesmo instrumento
de medio.
Para avaliar estes dois componentes de erro de medio, outros dois operadores, que
tambm trabalharo no processo controlado por cartas de controle, utilizaram o mesmo
instrumento de medio para avaliar os mesmos 20 produtos. As medidas observadas pelos trs
operadores esto na tabela a seguir:

Oper. 1 Oper. 2 Oper. 3
Pea x
1
x
2 X
R x
1
x
2 X
R x
1
x
2 X
R
1 21 20 20.5 1 20 20 20.0 0 19 21 20.0 2
2 24 23 23.5 1 24 24 24.0 0 23 24 23.5 1
3 20 21 20.5 1 19 21 20.0 2 20 22 21.0 2
4 27 27 27.0 0 28 26 27.0 2 27 28 27.5 1
5 19 18 18.5 1 19 18 18.5 1 18 21 19.5 3
6 23 21 22.0 2 24 21 22.5 3 23 22 22.5 1
7 22 21 21.5 1 22 24 23.0 2 22 20 21.0 2
8 19 17 18.0 2 18 20 19.0 2 19 18 18.5 1
9 24 23 23.5 1 25 23 24.0 2 24 24 24.0 0
10 25 23 24.0 2 26 25 25.5 1 24 25 24.5 1
11 21 20 20.5 1 20 20 20.0 0 21 20 20.5 1
12 18 19 18.5 1 17 19 18.0 2 18 19 18.5 1
13 23 25 24.0 2 25 25 25.0 0 25 25 25.0 0
14 24 24 24.0 0 23 25 24.0 2 24 25 24.5 1
15 29 30 29.5 1 30 28 29.0 2 31 30 30.5 1
16 26 26 26.0 0 25 26 25.5 1 25 27 26.0 2
17 20 20 20.0 0 19 20 19.5 1 20 20 20.0 0
18 19 21 20.0 2 19 19 19.0 0 21 23 22.0 2
19 25 26 25.5 1 25 24 24.5 1 25 25 25.0 0
20 19 19 19.0 0 18 17 17.5 1 19 17 18.0 2

E = 446.0 20 E = 445.5 25 E = 452.0 24
Md ia = Md ia = Md ia =

o
repetibilidade
=
R
d
2
= R =
1
3
(
R
1 +
R
2 +
R
3 ) =
(Fator d
2
: n = nmero de medies de um operador em cada pea)

o
reprodutibilidade
=
R
d
X
2
=
R
X = X
max - X
min
(Fator d
2
: n = nmero de operadores que participaram do estudo)

o
2
erro de medio
=

Relao Preciso/Tolerncia = P/T =

Você também pode gostar