CAPTULO 1

INTRODUO METROLOGIA

1.1

Os apontamentos dos captulos tericos (1-4) foram gentilmente cedidos pelo Prof. Pedro Silva Giro Prof. Associado de Nomeao Definitiva do I.S.T.

1.2

Captulo 1 Metrologia

1.1 INTRODUO
Metrologia, palavra de origem grega (metron, medida; logos, tratado), a cincia dos pesos e medidas ou, se se quiser, a cincia da instrumentao e das medidas com ela realizadas. Actualmente, porm, esta designao est mais intimamente ligada ao domnio das medidas de alta exactido. O objectivo central da Metrologia a determinao do valor numrico de uma grandeza mensurvel. Para tal ter-se- de executar um conjunto de operaes, medida ou medio, utilizando dispositivos apropriados, aparelhos ou instrumentos de medida ou de medio. O conceito de grandeza mensurvel aplicvel a todo e qualquer atributo de um fenmeno, corpo ou substncia susceptvel de ser caracterizado qualitativa e quantitativamente. Embora a medida de algumas grandezas fsicas elementares tenha sido iniciada h milhares de anos, pode-se dizer que s no sculo XVI com os trabalhos do polaco Nicolau Coprnico (1473-1543) e especialmente do dinamarqus Tycho Brahe (1546-1601), nasce a cincia e a medida como tal. Esta, ao constituir meio privilegiado de contacto com a realidade, ser sempre fundamental na evoluo, quer da cincia quer, naturalmente, da tecnologia. De facto, se certo que a validao de qualquer teoria ou lei fsica passa obrigatoriamente pela comparao entre os resultados por elas previstos e aqueles que se obtm por medidas envolvendo os fenmenos em questo, igualmente verdade que as novas teorias fsicas conduzem, por norma, quer ao desenvolvimento de novos instrumentos de medida, quer de novas tecnologias, ambos propiciadores de melhores condies experimentais. A evoluo da capacidade de "olhar" a realidade conduz naturalmente deteco de fenmenos no explicveis satisfatoriamente no contexto terico aceite num determinado momento; a concepo de novas teorias torna-se por isso imperiosa, fechando-se assim um ciclo que constitui a essncia da evoluo cientfica. a possibilidade de comprovar experimentalmente uma teoria que distingue a cincia da filosofia. Coprnico, ao procurar verificar a sua teoria das trajectrias dos planetas (heliocentrica, composio circular) deu o passo decisivo na passagem das teorias filosficas, que sobre o assunto vinham sido defendidas e aceites desde Plato e outros filsofos gregos, para as teorias cientficas; foi a lucidez de esprito e o trabalho experimental desenvolvido durante mais de duas dcadas por Tycho Brahe no seu observatrio de Uraniborg que conduziram o seu assistente, ento em Praga, o alemo Johann Kepler (1571-1630), no s rejeio das teorias ento existentes mas, e sobretudo, concepo de uma nova teoria. Brahe no s desenvolveu meios de medida de ngulos extremamente fiveis para a poca, como tambm procedeu sua calibrao de modo a poder aumentar a exactido das suas medidas (2'). Foi a confiana de Kepler nessa exactido que o levou a considerar que os 8' que existiam de diferena entre a trajectria de Marte medida e a melhor

1.3

previso baseada nas teorias de Coprnico e de Ptolomeu (150 A.C.) eram denunciadores da no validade destas. Os exemplos da importncia da medida na evoluo cientfica so inumerveis. Ser no entanto de referir o papel que a ptica tem nesse contexto desempenhado. Os resultados experimentais obtidos com dispositivos como o telescpio, o microscpio e o espectroscpio esto na base quer da comprovao quer da elaborao de teorias nos mais variados domnios, nomeadamente do cosmos, das partculas e da biologia molecular. Estas so, alis, algumas das reas de ponta no que diz respeito investigao, a que no ser certamente estranha a perene curiosidade do ser humano em relao sua origem e constituio. Todas elas dependem significativamente do desenvolvimento da instrumentao e das tcnicas de medida. A medida de grandezas fsicas elementares comeou por ser uma arte. Actualmente, e embora muitos aspectos impliquem ainda uma sensibilidade especial, a arte tem vindo a ser progressivamente substituda pela tcnica. Tambm os instrumentos de medida, inicialmente delicados e por vezes pouco fiveis, tm vindo a dar lugar a outros mais robustos e mais precisos. O desenvolvimento da electrnica, primeiro do vazio e posteriormente do estado slido, foi decisivo nas mudanas verificadas. Os instrumentos suportados em componentes electrnicos permitiram, a partir de 1930, a sua utilizao na indstria, com evidentes repercusses no s nos processos de fabrico, mas tambm em toda a filosofia de vida de muitos povos. Ao falar-se em medida no se pode deixar de associar a noo de exactido, isto , a possibilidade de conhecer com rigor o valor da grandeza desconhecida. Se a importncia da execuo de medidas com exactido no desenvolvimento terico j foi anteriormente referida, ser fundamental mencionar outro aspecto no menos relevante dessa caracterstica da medida: o desenvolvimento da engenharia, isto , da aplicao da cincia s necessidades humanas. Uma infinidade de produtos que fazem parte do quotidiano de um ser humano esto suportados na possibilidade de execuo de uma produo controlada, que implica medidas rigorosas de diversos parmetros e grandezas fsicas. Para alm disso, a realizao de aces envolvendo aspectos tcnicos ou tecnolgicos crticos est geralmente dependente, directa ou indirectamente, de instrumentos e mtodos de medida de elevada exactido. Um exemplo apenas, mas este bem eloquente: o mdulo lunar utilizado na misso Apolo 11, que pela primeira vez permitiu a um ser humano o contacto fsico com o solo daquele satlite da Terra, dispunha nos seus tanques, na altura da alunagem, de combustvel para apenas mais 10 s de funcionamento dos seus motores. S um controlo rigoroso, uma temporizao apertada de toda a misso e um conhecimento experimental das condies em que ela iria e estava a decorrer permitiram minimizar a quantidade de carburante a transportar e, portanto, maximizar o peso da restante carga til a incluir no mdulo.

1.2 FUNDAMENTOS DA MEDIDA 1.2.1 Definies e conceitos bsicos

Em Metrologia, como em vrias outras reas do saber, utiliza-se terminologia prpria. O significado 1.4

das diferentes palavras tem vindo a ser normalizado, pelo que de toda a convenincia conhec-lo. Apresentam-se a seguir alguns dos termos principais da linguagem metrolgica, o seu significado e correspondente designao anglo-saxnica de acordo com o Vocabulrio Internacional de Metrologia. Refira-se que, tendo em ateno a definio de aparelho de medida, muitos dos vocbulos so usados com igual significado para caracterizar propriedades ou comportamentos de dispositivos muito diferentes utilizados em Metrologia e que constituem, no seu conjunto, aquilo que usualmente se designa por instrumentao. Grandeza (Quantity): atributo de um fenmeno, corpo ou substncia susceptvel de ser caracterizado qualitativa e quantitativamente. Pode referir-se s grandezas em sentido geral ou a uma grandeza determinada. Exemplos de grandezas so o comprimento, a massa, o tempo, o trabalho e a energia, pertencendo as duas ltimas mesma categoria, uma vez que so mutuamente comparveis; a resistncia elctrica de um condutor, a massa de um electro ou a temperatura do hlio lquido so grandezas determinadas. Medida ou Medio (Measurement): conjunto de operaes tendo por objectivo determinar o valor de uma grandeza. Medir , pois, atribuir um nmero que quantifica uma propriedade ou caracterstica material: no se mede uma pea; mede-se sim o seu comprimento. Aparelho ou Instrumento de medida (Measuring instrument): dispositivo destinado execuo da medio, isolado ou em conjunto com outros equipamentos. Esta definio engloba, portanto, no s os aparelhos de medida indicadores e registadores, mas tambm dispositivos, como geradores e sensores, que so por vezes utilizados na execuo de medidas. Refira-se tambm que alguns dos termos a seguir apresentados podem ser utilizados, quer para caracterizar um instrumento de medida, quer um sistema de medida, o qual, por definio, engloba um conjunto completo de instrumentos de medida e outros dispositivos montados para executar uma tarefa de medio especfica. Exactido (Accuracy). Importa distinguir a aplicao deste termo medio ou ao instrumento de medida. No primeiro caso reporta aproximao entre o resultado da medio e o valor (convencionalmente) verdadeiro da grandeza medida; no segundo consiste na aptido do instrumento de medida para dar indicaes prximas do verdadeiro valor da grandeza medida. O verdadeiro valor ou valor real de uma grandeza , naturalmente, impossvel de conhecer; assim, e tendo em considerao que de um modo geral medir uma grandeza compar-la a outra grandeza da mesma espcie tomada para unidade, natural ser tomar para "verdadeiro valor" aquele que se obteria utilizando como referncia na medida o padro da unidade da grandeza em causa, designando-se ento por valor convencionalmente verdadeiro dessa grandeza. A noo de exactido absoluta assim substituda pela de exactido relativa, a qual assenta na existncia de padres para as unidades das vrias grandezas fsicas. Repetibilidade; Preciso (Precision). Embora a designao anglo-saxnica seja comum para designar uma propriedade das medidas e uma caracterstica dos instrumentos de medida, utiliza-se em portugus o termo repetibilidade da medida para significar a aproximao entre os resultados de medies sucessivas de uma mesma grandeza, efectuadas com a aplicao da totalidade das 1.5

seguintes condies:

- mesmo mtodo de medio; - mesmo observador; - mesmo instrumento de medida; - mesmo local; - mesmas condies de utilizao; - repetio em instantes sucessivos, enquanto que se utiliza normalmente o termo preciso do instrumento de medida para referir a aptido do instrumento de medida para dar, em condies de utilizao definidas, respostas muito prximas, quando se aplica repetidamente o mesmo sinal de entrada. As condies de utilizao definidas so habitualmente as seguintes: - repetio aps um curto intervalo de tempo; - utilizao no mesmo local e nas mesmas condies ambientais; - reduo ao mnimo das alteraes devidas ao observador. Enquanto a repetibilidade um indicador da consistncia das medidas, a preciso de um aparelho d conta da influncia que tm sobre a grandeza de sada factores aleatrios. Porm, em qualquer dos casos, quanto menor a disperso dos valores obtidos em torno do seu valor mdio, maior a repetibilidade da medida ou mais preciso o aparelho de medida. Matematicamente, e representando por RP a repetibilidade ou a preciso, consoante o caso, tem-se:
RP = 1 xn X xn

(1.1)

em que

x n representa o valor da ensima medida ou o da grandeza de sada no instante tn , e X o

valor mdio do conjunto de medidas ou o da grandeza de sada. A quantificao da repetibilidade pode ser feita em termos da disperso de resultados, utilizando-se para caracterizar esta o desvio padro experimental. Os conceitos de exactido e de preciso, embora totalmente distintos, so, talvez por via da escolha dos vocbulos escolhidos para os traduzir, muitas vezes confundidos. O facto de existirem termos, como classe de preciso, que embora contendo uma das palavras dizem respeito outra (neste caso a classe tem a ver no com a preciso mas sim com a exactido), contribui naturalmente para essa confuso. A ausncia de ideias claras sobre o assunto, leva a identificar os dois termos, os quais se reportam a dois tipos de conformidades: a exactido tem a ver com a que se verifica entre o valor medido e o valor verdadeiro convencionado da grandeza, enquanto a preciso tem a ver com a que se verifica entre os diferentes valores de um conjunto de medidas. Note-se que embora exactido implique repetibilidade (preciso), o inverso no verdade; um aparelho pode ser consistente, apresentar indicaes com um desvio padro baixo, e no ser exacto devido a apresentar, por exemplo uma deriva constante.
Reprodutibilidade (das medies) (Reproducibility): aproximao entre os resultados das 1.6

medies de uma mesma grandeza quando as medies individuais so efectuadas fazendo variar condies tais como:
- mtodo de medida; - observador; - instrumento de medida; - local; - condies de utilizao; - tempo.

Importa no confundir reprodutibilidade de uma medida com a sua repetibilidade; enquanto que para a determinao da segunda as condies de medio se devem manter tanto quanto possvel as mesmas ao longo dos diferentes ensaios, para a primeira pelo menos uma dessas condies ter de ser diferente de medida para medida (ou conjunto de medidas para conjunto de medidas). Tal como a repetibilidade, a reprodutibilidade pode ser expressa quantitativamente em termos da disperso dos resultados, sendo no entanto sempre necessrio especificar as condies alteradas.
Incerteza da medio (Uncertainty of measurement): estimativa caracterizando o intervalo dos valores no qual se situa o valor verdadeiro da grandeza medida. Esta incerteza compreende em geral

vrios componentes. Alguns, os que tm a ver com factores aleatrios que influenciam as medidas (erros de repetibilidade), podem ser estimados com base na distribuio estatstica dos resultados de sries de medidas, sendo caracterizados por um desvio padro experimental; outros, como os que so devidos a factores sistemticos, implicam, para serem estimados, ou informao apropriada ou uma grande experincia por parte do observador. A aplicao do termo "incerteza" referido a um aparelho de medida constitui uma extenso da linguagem, reportando-se, naturalmente, incerteza da medida por ele fornecida.
Erro (da medida) (Error): este termo refere-se ao erro absoluto da medio, o qual definido como

sendo a diferena algbrica entre o resultado da medio e o valor (convencionalmente) verdadeiro

da grandeza medida. O termo aplica-se com igual significado:

indicao (valor da grandeza medida fornecido por um instrumento de medida); ao resultado bruto (resultado da medio antes da correco dos erros sistemticos presumidos); ao resultado corrigido (resultado da medio obtido depois das correces introduzidas no resultado bruto, tendo em conta os erros sistemticos presumveis).

Ao quociente do erro absoluto da medio pelo valor convencionalmente verdadeiro da grandeza medida designa-se por erro relativo (relative error). componente do erro de medida que varia de forma imprevisvel quando se efectuam vrias
medies da mesma grandeza designa-se de erro aleatrio (random error); componente do erro de medida que, em vrias medies, se mantm constante ou varia de forma previsvel designa-se

por erro sistemtico (systematic error).

Alcance ou Campo de medida de um instrumento de medida (Range): para cada amplitude da

escala, o conjunto de valores da grandeza medida para os quais o instrumento de medida apresenta valores no interior dessa amplitude da escala, para uma posio particular dos seus 1.7

comandos. Entende-se como amplitude da escala (scale range) o intervalo compreendido entre as referncias extremas de uma dada escala, sendo esta, por definio, o conjunto ordenado de referncias com toda a numerao associada. O alcance, ou campo de medida, expresso em unidades da grandeza a medir. No caso do limite inferior ser 0, o alcance designado apenas pelo seu limite superior (exemplo: um campo de medida de 300 V supe um alcance de 0 V a 300 V); caso contrrio ter-se- de especificar os seus limites, inferior e superior (exemplo: -30C a 500C).
Amplitude de medida (Scale range): mdulo da diferena entre os dois limites do alcance de um instrumento de medida. Assim, se o alcance for, por exemplo, -10 V a +10 V, a amplitude de medida

ser de 20 V.
Sensibilidade de um instrumento de medida (Sensitivity): quociente da variao da resposta do instrumento de medida pela variao correspondente do sinal de entrada; quanto mais sensvel for o

instrumento de medida, maior ser a variao da indicao nele produzida por uma mesma variao da grandeza a que ele reage.
Mobilidade de um instrumento de medida (Discrimination): aptido do instrumento de medida

para responder a pequenas variaes do valor do sinal de entrada. A menor variao do sinal de entrada que provoca uma variao perceptvel da resposta do instrumento de medida constitui o
limiar de mobilidade (discrimination threshold). Este limiar depende em geral de vrios factores:

rudo interno ou externo ao instrumento de medida, atrito, amortecimento, inrcia, valor da grandeza. O valor do limiar de mobilidade expresso em unidades da grandeza de entrada. Note-se que, enquanto a sensibilidade est ligada a variaes da grandeza de entrada, a mobilidade tem a ver com o valor propriamente dito dessa grandeza.
Resoluo (do dispositivo indicador) (Resolution): expresso quantitativa da aptido do dispositivo

indicador para distinguir significativamente entre valores muito prximos da grandeza indicada. Note-se a diferena conceptual entre resoluo e mobilidade; enquanto esta depende de uma srie de factores internos e externos ao instrumento de medida, aquela tem a ver exclusivamente com o dispositivo indicador do instrumento. Embora no seja obrigatrio, normal prover o instrumento de medida de um dispositivo indicador com resoluo anloga ao seu limiar de mobilidade; , por isso, vulgar verem-se confundidos, sob a designao de resoluo, estes dois conceitos. No caso de um aparelho em que a apresentao sob a forma digital (aparelho de medida digital), a resoluo depende naturalmente do valor do dgito menos significativo. Assim, e por exemplo, um voltmetro deste tipo utilizado num campo de medida tal que cada unidade do dgito que no visor se encontra mais direita vale 1 mV, no permite resolver menos do que 1 mV e, portanto, no pode ser usado na medida de tenses elctricas de valor igual ou inferior a esse. No caso de um instrumento em que a indicao sob a forma da posio de um ponteiro sobre uma escala graduada (aparelho de medida analgico), a resoluo envolve a capacidade de leitura dessa escala, podendo ser diferente consoante a indicao seja analisada pela viso de um operador humano ou recorrendo a processos pticos especiais.
Folga (de um instrumento de medida) (Dead band): intervalo de valores no interior do qual o sinal

1.8

de entrada pode ser modificado sem provocar variao da resposta do instrumento de medio. No caso de pequenas variaes do sinal de entrada provocarem variaes indesejveis da resposta do aparelho, a folga intrnseca , por vezes, deliberadamente aumentada.
Histerese (Hysteresis): propriedade do instrumento de medio cuja resposta a um dado sinal de

entrada depende da sequncia dos sinais de entrada precedentes. A histerese traduz, pois, a diferena de comportamento de um aparelho quando se varia a grandeza de entrada no mesmo intervalo de valores mas em sentidos opostos.
Estabilidade (de um instrumento de medio) (Stability): aptido do instrumento de medio para

conservar as suas caractersticas metrolgicas. A estabilidade habitualmente considerada em relao com o tempo; quando for referida a outra grandeza necessrio especific-lo explicitamente.
Neutralidade (de um instrumento de medida) (Transparency): aptido do instrumento de medida para no alterar o valor da grandeza a medir. O facto de um voltmetro apresentar, a uma dada

frequncia, uma impedncia de entrada elevada, contribui para uma elevada neutralidade no que se refere s medidas de tenso, nomeadamente dessa frequncia.
Deriva (de um instrumento de medida) (Drift): variao lenta com o tempo de uma caracterstica

metrolgica do instrumento de medio.

Fidelidade (do instrumento de medida) (Freedom for bias error): aptido do instrumento de medida

para dar indicaes isentas de erros de fidelidade, isto , de erros sistemticos.

1.2.2

Resultados das medies

1.2.2.1 Erros
O conceito de valor real de uma grandeza fsica tem, como se viu, uma importncia mnima, uma vez que, mesmo que exista como valor nico, a sua determinao impossvel, limitada, quanto mais no fosse, por razes qunticas. Mesmo o valor convencionalmente verdadeiro, definido anteriormente, e que passaremos a considerar ser o objectivo de uma medida, s pode ser conhecido com uma impreciso causada pelos diversos erros associados medio. Existem genericamente trs tipos de erros: os grosseiros, os sistemticos e os aleatrios.

1.2.2.2 Erros grosseiros

Os erros grosseiros so geralmente humanos e devidos a causas como: leitura incorrecta das indicaes dos aparelhos de medida, aplicao incorrecta dos aparelhos de medida, erro no registo dos valores medidos, erros nos clculos efectuados sobre os valores experimentais. Podem, em si prprios, ser sistemticos ou aleatrios, consoante conduzam a resultados apresentando caractersticas comuns ou no, embora estes ltimos sejam extraordinariamente pouco frequentes. A ttulo de exemplo. considere-se a Figura 1.1 em que est representado um circuito montado com a finalidade de medir o valor da resistncia R, utilizando-se para o efeito um voltmetro V e um ampermetro A. 1.9

150 V V 5 mA A E

Figura 1.1: Medida de uma resistncia utilizando um voltmetro e um ampermetro.

Supondo que o voltmetro tem uma resistncia interna, R v , de 200 k, para os valores indicados pelos aparelhos e assinalados na figura ter-se-: - valor aparente de R, Ra : Ra = 150 V / 5 mA = 30k - valor de R: R = Ra R v (R v Ra ) = 35,3 k - valor do erro relativo, : = 15 %. O enorme valor do erro cometido deve-se utilizao de um voltmetro com uma resistncia interna demasiado baixa para o fim em vista. Deixa-se ao cuidado do leitor verificar que, para a mesma montagem, se R fosse tal que as indicaes dos dois aparelhos passassem a ser 20 V e 0.1 A, o erro relativo diminuiria substancialmente, passando a ser de 0.1%. Os erros grosseiros podem, e devem, ser evitados tomando precaues, nomeadamente na leitura e registo dos valores medidos. recomendvel executar pelo menos trs leituras diferentes, de preferncia, e na medida do possvel, desligando e voltando a ligar o instrumento de medida. O facto de a quase generalidade dos erros grosseiros que afectam o resultado das medies ser do tipo sistemtico torna infrutfero qualquer tratamento matemtico dos resultados, com vista obteno de valores das grandezas com menor impreciso.

1.2.2.3 Erros sistemticos

Os erros sistemticos, que afectam uma medida realizada por um mtodo apropriado, so geralmente divididos em duas categorias: erros instrumentais e erros ambientais. Os primeiros so devidos a limitaes dos aparelhos de medida tais como: desajuste do zero da escala (erro no zero), incorreco na graduao da escala, insuficiente largura de banda, efeito de carga sobre o objecto de medida ou inexactido. Os vrios erros variam de instrumento para instrumento. Assim, e por exemplo para uma aparelho analgico, a variao da tenso mecnica que responsvel pelo retorno da equipagem mvel ao zero ou a frico a que so sujeitas as suas vrias partes mveis constituem causas suficientes para a ocorrncia de um erro sistemtico que, no limite, poder ser grosseiro. Os erros sistemticos instrumentais podem ser evitados mediante as seguintes aces: (1) seleco dos instrumentos apropriados para a medio em causa; (2) corrigindo os valores experimentais aps determinao do valor do erro; (3) procedendo regularmente verificao da 1.10

exactido dos instrumentos e ao seu ajuste (adjustment) (operao destinada a levar um

instrumento de medio a um funcionamento e a uma fidelidade adequada sua utilizao).

No que respeita aos erros ambientais as causas so, como o prprio nome indica, exteriores ao
sistema de medida (measuring system) (conjunto completo de instrumentos de medida e outros dispositivos montados para executar uma tarefa de medida especfica). De entre os principais

factores influenciadores de medies so de referir a temperatura, a humidade, a presso atmosfrica e os campos magnticos e elctricos estranhos. Para evitar o efeito produzido pelos trs primeiros sobre as medidas procura-se realizar os ensaios em ambientes condicionados, isto , em ambientes em que os valores daquelas grandezas fsicas se situam em intervalos bastante apertados. No caso de medidas de grandezas elctricas de elevada exactido, por exemplo, a temperatura ambiente definida internacionalmente de 20C. No que respeita influncia provocada por campos, nomeadamente estticos, sobre o sistema de medida, a sua diminuio passa pela blindagem do sistema de medida ou, pelo menos, das suas partes mais susceptveis a este tipo de rudo. Os instrumentos de medida podem apresentar limitaes que se manifestam no aparecimento de erros quando da execuo de medidas estticas (static measurements) (medida de uma
grandeza cujo valor se pode considerar constante durante a medio) ou de medidas dinmicas

(dynamic measurements) (determinao do valor instantneo de uma grandeza, e se for caso

disso, da sua variao no tempo). Um exemplo tpico de um aparelho que pode apresentar erros ditos

estticos o micrmetro; no sendo o eixo do instrumento coincidente com o eixo de medida, demasiado aperto da pea a medir provocar uma diferena dos comprimentos segundo aqueles eixos, e o respectivo erro negativo (valor medido menor do que o valor real). Os aparelhos analgicos, porm, apresentam genericamente importantes limitaes de resposta quando a grandeza a medir varia no tempo, o mesmo se no passando quando ela constante. Diz-se por isso apresentarem erros sistemticos dinmicos.

1.2.2.4 Erros aleatrios

Os erros aleatrios so devidos a causas desconhecidas ou que, embora conhecidas, afectam a medida de uma forma no previsvel. Em geral, e em condies experimentais apropriadas, os erros deste tipo so pequenos; tm, no entanto, primordial importncia em medidas de elevada exactido, uma vez que contribuem para uma menor preciso dos resultados obtidos (maior disperso dos valores medidos). Exemplos de possveis causas de erros aleatrios so abundantes:

arredondamentos efectuados nas leituras das indicaes dos instrumentos de medida, variaes verificadas no funcionamento dos aparelhos de medida devidas a pequenas alteraes ambientais ou dos componentes elctricos ou mecnicos que o constituem. No caso de sistemas de medida em que estejam envolvidos sinais elctricos, e devido natureza intrnseca destes, verificar-se-o sempre erros ocasionados por quatro tipos de rudo: o trmico, o granular, o cintilante e o crepitante.

1.11

1.2.2.5 Rudo trmico

Este rudo, tambm conhecido por de resistncia, de Johnson ou de Nyquist, tem a sua origem nas trajectrias aleatrias descritas pelos electres de qualquer condutor quando a temperatura diferente de 0 K. A corrente elctrica assim gerada, tanto mais importante quanto mais elevada for a temperatura, produz aos terminais do condutor de resistncia elctrica R uma tenso de rudo de valor mdio nulo e cujo valor eficaz, UT , dado, para frequncias inferiores a 100 GHz, por:
UT = 4K TR f

(1.2)

em que: K a constante de Boltzmann ; T a temperatura absoluta; R a resistncia do condutor;

f a largura de banda efectiva, diferente da largura de banda a 3 dB, dependente do

sistema de observao (medida) e do comportamento na frequncia do condutor. a menor das larguras de banda caractersticas destes dois factores que conduz ao valor pertinente de f. O rudo trmico caracteriza-se assim por ter uma densidade espectral de energia constante, 4KT (rudo branco). A ttulo de exemplo, uma resistncia de 1 MW, temperatura de 300 K apresenta, numa banda efectiva de 1 MHz, uma tenso de rudo trmico cujo valor eficaz de 129 V, sendo a correspondente potncia de rudo de 16 fW. A limitao do valor eficaz da tenso deste tipo de rudo, particularmente necessria quando se lida com sinais de muito baixo nvel, impe a utilizao de resistncias de valor tanto quanto possvel baixo (exemplo: amplificadores de baixo nvel) e, em situaes limite, a incluso dos equipamentos em ambientes mantidos a temperaturas muito baixas (exemplo: sistemas de medida de sinais csmicos).

1.2.2.6 Rudo granular

As flutuaes do nmero de electres que, em cada instante, constituem uma corrente elctrica contnua, esto na origem do rudo granular tambm conhecido por shot ou de Schottky. Manifesta-se sob a forma de uma corrente elctrica de valor mdio nulo mas cujo valor eficaz, Is , dado por:
Is = 2qe I f

(1.3)

em que qe a carga do electro, I o valor da corrente contnua e f a largura de banda efectiva. O aparecimento deste tipo de rudo branco em circuitos electrnicos, mesmo quando funcionam em regime varivel no tempo, deve-se essencialmente s correntes que so necessrias para colocar esses dispositivos num determinado ponto de funcionamento (correntes de polarizao). Assim, e a ttulo de exemplo, uma corrente de polarizao de 1 mA de um dispositivo que tenha uma largura de banda efectiva de 1 MHz origina um rudo granular de 18 nA. 1.12

1.2.2.7 Rudo cintilante

O rudo cintilante (flicker) julga-se ser essencialmente devido s variaes de velocidade provocadas nos portadores de carga pelas imperfeies dos materiais semicondutores. Como o granular, a sua intensidade depende do valor das correntes de polarizao, variando, at alguns kilohertz, na razo inversa da frequncia; da a designao de rudo 1/f sob a qual tambm conhecido (rudo cor-derosa). Para frequncias superiores a sua densidade espectral de energia no s menor mas tambm constante. O facto deste tipo de rudo ser altamente dependente do dispositivo torna em geral extremamente difcil a previso da sua intensidade.

1.2.2.8 Rudo crepitante

O som de baixa frequncia que por vezes se ouve nos altifalantes de um receptor de rdio, semelhante ao produzido quando se confeccionam pipocas, constitui o chamado rudo crepitante (burst ou popcorn). Embora no se conheam as suas causas com rigor, so bem conhecidas as suas caractersticas principais: dependncia com 1/f2 (rudo tambm cor-de-rosa) e com o dispositivo, o que o coloca, para efeitos de previso da intensidade, em situao semelhante ao cintilante. As oscilaes devidas a realimentao de amplificadores via fontes de alimentao constituem rudo deste tipo.

1.2.2.9 Tratamento dos valores medidos e apresentao dos resultados

Os valores medidos das vrias grandezas, afectados por erros, podero necessitar ser processados com vista obteno quer dos valores das grandezas medidas e sua inexactido, quer do valor e inexactido de grandezas dependentes das que foram medidas. A primeira atitude a tomar em face dos resultados obtidos, admitindo a ausncia de motivos que faam duvidar da sua validade, analisar a necessidade de proceder a correces ou ajustes dos valores medidos.

1.2.2.10

Correco de valores

Entende-se por correco de um valor a alterao que nele se provoca com a finalidade de compensar: erros sistemticos conhecidos; desvios devidos a variaes no desprezveis de variveis no controladas (exemplo: efeito da variao da temperatura no valor da fora electromotriz de uma pilha padro); execues no ideais das operaes de medida. Suponhamos que se pretende medir o valor de uma grandeza s temperaturaT1, T2, Tn . Por limitao do sistema que provoca a sua variao,
' ' ' as medidas foram obtidas a temperaturas prximas mas diferentes das pretendidas, T1, T2 ,...Tn .

Se se conhecer a lei de variao da grandeza medida com a temperatura possvel, e dever ser feita, a correco dos valores experimentais obtidos, de modo a obterem-se os valores da grandeza em questo s temperaturas pretendidas.

1.13

1.2.2.11 Ajuste de valores

O ajuste de valores tem por objectivo compatibilizar resultados de acordo com restries que lhes esto impostas. Essa compatibilizao pode geralmente ser conseguida por diferentes formas, isto , o ajuste pode ser realizado de diferentes maneiras. Exemplo tpico de ajuste de valores o que se executa sobre um conjunto de pares de valores de duas grandezas, x e y, dependentes linearmente uma da outra. A utilizao de um mtodo de regresso por mnimos quadrticos ser, nesse caso, a forma mais usual de obter valores ajustados. A determinao da inexactido do valor medido de uma qualquer grandeza , em particular no chamado domnio das medidas de alta preciso (mais correctamente, alta exactido), um dos problemas de mais difcil resoluo, s ultrapassado, em grau de dificuldade, por esse outro que consiste na concepo de mtodos, processos e instrumentos de medida que possibilitem realizar medidas cada vez mais exactas. Como se viu, para a inexactido contribuem erros dos tipos sistemtico e aleatrio. De um modo geral, a dificuldade principal reside na estimao do valor dos erros do primeiro tipo, uma vez que a influncia dos do segundo tipo, j de si pequenos em medidas bem concebidas e realizadas, pode ser minimizada realizando grande nmero de medidas e procedendo ao tratamento dos valores obtidos utilizando mtodos estatsticos. A forma mais natural e normal de especificar a inexactido de uma medida consiste na indicao do intervalo de valores, em torno do valor medido, dentro do qual dever estar o valor convencionalmente verdadeiro da grandeza medida. A forma de obter os limites desse intervalo passa pela: determinao da preciso da medida. Para isso ter de ser possvel obter informao quanto disperso dos valores obtidos ou que se obteriam realizando um elevado nmero de medidas da grandeza em questo; estimao do valor dos erros sistemticos que afectam a medida. Nesta estimao desempenham papel fundamental aqueles que concebem e realizam os ensaios. Tendo procurado que todas as fases que conduzem obteno do valor da grandeza fossem isentas de erros sistemticos, e dispondo at de algumas tcnicas que lhes permitem o despiste desse tipo de erros, compete aos experimentadores avaliarem o limite superior do erro sistemtico cometido. Note-se que a estimativa, que personalizada, no , naturalmente, o valor certo desse erro; corresponde, apenas, manifestao, por parte de quem a apresenta, de que no possui elementos que lhe faam supor ser superior o valor do erro sistemtico cometido. Nos processos de medida usuais, os erros aleatrios seguem uma lei de distribuio do tipo normal ou de Gauss. Como se sabe, o valor mdio, X , de uma populao de n acontecimentos xi que verificam uma distribuio desse tipo, X =

xi
i=1

n , constitui o valor mais provvel dessa distribuio,

o que significa, no presente contexto, que se se realizarem n medidas sobre uma mesma grandeza mantida constante, o valor mdio do conjunto de valores obtidos constitui o valor mais provvel dessa grandeza. Por outro lado, o desvio padro, , do conjunto finito de n medidas, definido como

1.14

( xi X )
i=1

n 1

(1.4)

expressa quantitativamente a disperso dos valores obtidos em torno do valor mdio, constituindo, assim, uma medida da preciso global do processo de medida utilizado. Na Figura 1.2 representam-se curvas da distribuio de Gauss para trs valores do desvio padro.

Gauss (x) 1

(1)

(2) (3)

-4

-3

-2

-1

Figura 1.2: Distribuio de Gauss para: (1) s = 0.5; (2) s = 1; (3) s =1.5.

Como facilmente se constata, quanto maior o valor de (maior disperso de valores), menor a probabilidade do valor mdio ser o valor da grandeza medida. Por outro lado, e ainda quanto maior a disperso de valores, maior o intervalo a que corresponde uma determinada probabilidade de se encontrar o valor verdadeiro da grandeza. De acordo com a distribuio de Gauss, e tendo em ateno que a probabilidade de se ter o valor verdadeiro no intervalo X xi , X + xi dada por:
xi

p x X xi , X + xi =

( xi )2
e
22

dx

(1.5)

podem-se obter os resultados seguintes:

x i p x X x i 0,6745 1 1 ,96 2,58

(1.6)
0,5 0,6828 0,95 0,99

Deste modo, num processo de medida em que s se considerem erros do tipo aleatrio e que seja caracterizado por um valor mdio X e um desvio padro , o intervalo de valores que necessrio especificar de modo a que o valor verdadeiro da grandeza a medir esteja, com uma probabilidade de 0,99, no seu interior X 2,58 .

1.15

1.2.2.12 Algarismos significativos

A apresentao numrica do resultado de uma medio depende, para alm de outros factores, da resoluo do dispositivo indicador do aparelho de medida utilizado. Assim, essencialmente diferente expressar-se o valor de uma grandeza como sendo 31 ou 31.00 unidades dessa grandeza; enquanto que no primeiro caso o dispositivo indicador permite apenas afirmar que o valor medido dever estar mais prximo de 31 do que de 30 ou de 32, no segundo a afirmao de que esse valor estar mais perto de 31.00 do que de 31.01 ou de 30.99. Existe, portanto, uma ligao entre o nmero de algarismos significativos com que se apresenta um valor medido e a resoluo do aparelho de medida utilizado, o que torna ilcito expressar, no s esse valor como outros que dele resultem por manipulaes matemticas, com maior nmero de algarismos significativos do que os resultantes dessa resoluo. Quando o valor de uma determinada grandeza obtido a partir de operaes matemticas executadas sobre valores numricos de grandezas medidas, o seu nmero de algarismos significativos ser, de acordo com o que fica dito, e na melhor das hipteses, igual ao que tiver o valor expresso com menor nmero de dgitos; geralmente ser inferior. A ttulo de exemplos considerem-se as duas situaes seguintes: Resistncia R cujo valor obtido a partir da soma de duas resistncias R1=25.6 e R2=7.354 . Os algarismos significativos de cada um dos dois valores permitem apenas dizer que
R1 [ 25.55, 25.65[ e R2 [7.3535, 7.3545[ . Assim sendo, a nica afirmao possvel em

relao ao valor de R que dever estar contido no intervalo [32.9035, 33.0045[ , pelo que se dever apresentar o resultado como dgitos significativos, 33 . Queda de tenso numa resistncia, U, obtida a partir dos valores da resistncia R=1.55 k e da corrente que a percorre, I=3.2 mA. O intervalo de valores entre os quais estar o valor de U ser

( 32.954 0.051)

ou ento, e garantindo apenas dois

[1.545 3.15, 1.555 3.25[ V

ou seja [ 4.86675, 5.05374[ V . Estamos perante uma situao em

que apenas se pode apresentar o resultado com um dgito, isto , 5 V, com o significado anteriormente referido: o valor da tenso U estar mais perto de 5 V do que de 4 ou 6 V. Em alguns casos, a anlise anteriormente feita conduz a situaes s ultrapassveis apresentando os resultados em notao cientfica. De facto, e reportando-nos ao ltimo exemplo anteriormente apresentado, para R=35.68 e I=3.18 A, o intervalo a que pertencer U ser [113.27, 113.7[ V . Em rigor no se pode expressar o resultado como sendo 113 V, uma vez que o limite superior do intervalo est mais prximo de 114 V. Embora o valor de U seja superior a 100 V, o facto de s se poderem garantir dois algarismos conduz seguinte forma de apresentao: U = 1.1 102 V .

1.2.2.13

Composio de erros

Ao realizar-se a medida de uma grandeza utilizando um sistema de medida mais ou menos complexo, usual conhecerem-se os erros absolutos ou relativos inerentes quer aos aparelhos de 1.16

medida, quer aos procedimentos de medida. A determinao do erro da grandeza medida torna-se neste caso particularmente simples, impondo-se para tal saber como se devem compor os diferentes erros conhecidos. A anlise desta situao baseia-se no desenvolvimento de uma funo de n variveis em srie de Taylor. Considere-se ento a grandeza x dependente de n variveis independentes e mensurveis,
v1, v 2 ,...vn com erros conhecidos. Seja F a funo dessa dependncia, isto : x = F ( v1, v 2 ,...vn )

(1.7)

Desenvolvendo F em srie de Taylor ter-se-:

x =

i=1

F 1 vi + vi 2

i=1

2F vi2

vi2 + L

1 n!

i=1

nF vn i

vin

(1.8)

Desprezando termos de ordem superior (erros dos erros), e dividindo ambos os membros por x obtm-se:
x x

i=1

F vi = vi F

i=1

F vi vi vi F vi

(1.9)

No caso mais desfavorvel ter-se-:

x = x

i=1

F vi vi vi F vi

(1.10)

Tendo em ateno que

vi x e representam os erros relativos das grandezas x e vi , x e vi , vi x

respectivamente, e continuando a considerar-se o caso mais desfavorvel tem-se finalmente:

x =

i=1

F vi vi vi F

(1.11)

Exemplifiquemos a aplicao deste resultado a trs casos tipo. 1

x = v1 + v 2 + v 3

Tem-se sucessivamente:
x = v3 v1 v2 v1 + v2 + v3 v1 + v 2 + v 3 v1 + v 2 + v 3 v1 + v 2 + v 3 x = v1 + v 2 + v 3

(1.12)

1.17

x = v1 vn m 2

v3 v4

Por aplicao de (2.10) facilmente se obtm:

x = v1 + n v 2 + 1 1 v3 + v 4 m m

(1.13)

3 Tem-se, neste caso:

x = v1 v 2 x = v1 + v 2

(1.14)

Os casos 1 e 3 permitem concluir que, no caso do valor da grandeza x resultar da soma ou diferena de outras grandezas (que naturalmente sero da mesma espcie), se deve somar os erros absolutos destas para obter o daquela; quando na obteno do valor de x intervm produtos e quocientes de valores de outras grandezas deve-se adicionar os respectivos erros relativos para se obter o erro relativo de x. Como se constata do caso 3, o erro absoluto da diferena de valores de duas grandezas v1 e v2 igual soma dos respectivos erros absolutos. Este resultado leva imediatamente a concluir que, se os valores de v1 e v2 foram muito prximos, o erro relativo da grandeza dependente pode ser muito elevado. Atente-se ao seguinte conjunto de valores: v1 = 332 2 , v 2 = 314 7 ; x = 18 9 ; x = 0.5 , ou seja um erro relativo de 50%. Este facto aponta para a inadequao de processos de medida em que o valor de uma grandeza seja obtido nas condies agora expostas. Como resulta do tratamento matemtico que conduziu a (2.10), o valor dos erros assim calculados corresponde situao mais desfavorvel, isto , quela em que todas as grandezas envolvidas contribuem com o seu erro mximo. Sendo a probabilidade de ocorrncia desta situao extremamente baixa, natural ser recorrer a processos de clculo que conduzam a um valor mais provvel desse erro. Um dos mtodos actualmente mais praticados consiste na composio quadrtica dos erros, absolutos ou relativos, consoante os casos. Assim, e por exemplo para o caso 1 anteriormente apresentado ter-se-ia:
2 2 x = v1 + v 2 + v 3 2

(1.15)

1.2.3

Unidades e padres

A expresso quantitativa de uma qualquer grandeza implica a adopo de uma grandeza determinada da mesma espcie para referncia. Designa-se ento por unidade (de medida) (unit (of measurement)) a grandeza determinada convencionalmente adoptada para essa finalidade. O conjunto de unidades de diferentes grandezas constitui um sistema de unidades (system of units). Ao longo dos tempos diferentes sistemas de unidades foram sendo utilizados. Na generalidade, todos continham em comum unidades de comprimento, de massa e de tempo que passaram por isso a chamar-se de unidades base ou unidades fundamentais primrias. Para alm destas 1.18

introduziram-se unidades fundamentais auxiliares de modo a cobrir necessidades nos domnios do Electromagnetismo, da Termodinmica e da ptica. As restantes grandezas podiam ser expressas em termos das fundamentais recorrendo s chamadas equaes de dimenses, designando-se por isso as respectivas unidades de derivadas. O sistema em uso no domnio da Engenharia desde 1954 o Sistema Internacional, o qual constitui uma extenso do sistema MKSA proposto por Giorgi e adoptado em 1935 por muitos pases. At 1983 (a partir dessa data, com a nova definio da unidade de comprimento, esta grandeza deixou de ser primria) esse sistema era constitudo pelas seguintes unidades base: - unidades fundamentais primrias: comprimento metro, m massa kilograma, kg tempo segundo, s - unidades fundamentais auxiliares: intensidade de corrente elctrica ampre, A temperatura termodinmica grau Kelvin, K intensidade luminosa candela, cd quantidade de matria mole As unidades de grandezas elctricas deste sistema derivam do sistema CGS (centmetro, grama, segundo) prtico, resultante da juno dos sistemas CGS electrosttico (CGSe; unidades base: m, kg, s e 0=1) e CGS electromagntico (CGSm; unidades base: m, kg, s e 0=1). No entanto, e at 1948, as unidades internacionais actualmente adoptadas foram, por motivos prticos, substitudas por outras que constituam, por isso mesmo, o chamado sistema prtico. As relaes entre as unidades dos dois sistemas eram prximas da unidade tendo-se: 1 SI = 1.00049 prtico 1 A SI = 0.99985 A prtico 1 V SI = 1.00034 V prtico 1 C SI = 0.99985 C prtico 1 F SI = 0.99951 F prtico 1 H SI = 1.00049 H prtico 1 W SI = 1.00019 W prtico 1 J SI = 1.00019 J prtico A existncia de vrias unidades em termos das quais se expressam numericamente as diferentes grandezas puramente convencional. Assim sendo, nada obsta definio e utilizao de sistemas com diferente nmero de unidades, uma s, em particular1. vulgar ver-se escrito e ouvir-se falar, nomeadamente aos fsicos, de, por exemplo, uma partcula com a massa de x eV. O facto de existirem vrias unidades tem a ver com a simplicidade e comodidade de transmisso de informao. De facto, mais simples, e por isso mais elucidativo, expressarem-se os valores de grandezas
1

Note-se a este respeito que as equaes de dimenses permitem relacionar qualquer unidade no fundamental primria com as trs unidades primrias; por outro lado estas encontram-se relacionadas entre si atravs de constantes numricas como a velocidade da luz, c, e a constante de Planck, h, (E=hf=mc2, f=c).

1.19

essencialmente distintas por meio de unidades diferentes do que utilizar apenas uma unidade (que passaria a ser dispensvel) para esse fim. Por outro lado, a existncia de vrias unidades permite a utilizao de uma gama mais razovel de nmeros reais para representao dos valores das diferentes grandezas. Como se sabe, as unidades no tm plural. Assim, e por exemplo, a afirmao de que "o comprimento de uma tbua x m", constitui uma forma simplificada de dizer "o comprimento da tbua vale x na unidade m. Uma unidade de uma grandeza constitui, pois, um espao vectorial unidimensional. As unidades designadas por nomes de pessoas, quando no escritas por extenso em que utilizada letra minscula, so representadas por uma ou mais letras, sendo a primeira sempre maiscula.

1.2.3.1 Unidades de algumas grandezas fsicas

Apresentam-se a seguir as unidades fundamentais do sistema internacional e algumas das unidades derivadas de maior interesse no domnio da electrotecnia, de acordo com as definies actuais. Note-se que o sistema internacional um sistema mtrico e essencialmente decimal, internacionalmente aceite, embora no seja seguido, a nvel interno, por pases como os Estados Unidos da Amrica e a Gr-Bretanha.
metro A unidade de comprimento, metro (m) , por definio (1983), a distncia percorrida pela luz

no vazio durante um intervalo de tempo de 1/299 792 458 s. Com esta definio, que supe definida como constante universal, e portanto no mensurvel, a velocidade da luz, o comprimento deixa de ser uma grandeza fundamental.
kilograma A unidade de massa, kilograma (kg), corresponde massa de 1 dm3 de gua temperatura de mxima densidade. segundo A unidade de tempo, segundo (s), tem duas definies, consoante as grandezas

determinadas em questo. Assim, nomeadamente para mecnica celeste e navegao, utiliza-se o

segundo das efemrides, sEF adoptada como unidade invariante de tempo. Por definio, (1956), o

sEF a fraco 1/31 556 925.9747 do ano tropical de 1900 iniciado em 0 de Janeiro s 12 horas
(tempo das efemrides). Entende-se por ano tropical o intervalo de tempo necessrio para o Sol

aumentar a sua longitude mdia de 360, medida segundo a encltica a partir do equincio de Vero. Para medidas fsicas o segundo definido, (1967), como sendo a durao de 9 192 631 770 ciclos da radiao correspondente transio hiperfina entre os dois nveis F=4, mF=0 e F=3, mF=0 do estado base 2S1/2 do tomo de csio 133 no perturbada por campos externos. O segundo dito "atmico" constitui uma unidade de tempo muito mais interessante, uma vez que permite medidas de intervalos de tempo com elevada preciso de uma forma simples e rpida. O mesmo no acontece quando se utiliza o segundo das efemrides, uma vez que a escala de tempo que dele resulta s pode ser conhecida com rigor passados vrios anos, uma vez que envolve longas observaes das posies do Sol e da Lua.
ampere A unidade de intensidade de corrente do sistema internacional, ampere (A), o valor da

1.20

corrente constante que, mantida em dois condutores paralelos de comprimento infinito e seco circular desprezvel colocados distncia de 1 m no vcuo, produz uma fora entre os condutores de 2107 n/m de comprimento. A unidade assim definida tambm conhecida por ampere internacional ou absoluto. At 1948, porm, uma outra unidade era utilizada, o ampre prtico, definido como correspondendo intensidade de corrente que deposita prata a um ritmo de 1.118 mg por segundo a partir de uma soluo padro de nitrato de prata. Embora no coincidentes, as duas unidades tm valores prximos e cuja relao j foi anteriormente apresentada.
grau Kelvin A unidade de temperatura termodinmica, grau Kelvin (K), 1/273.16 da temperatura

termodinmica do ponto triplo da gua, isto , a temperatura de equilbrio em que coexistem o gelo, gua lquida e vapor.
candela A unidade de intensidade luminosa, candela (cd), a intensidade luminosa, numa dada

direco, de uma fonte de radiao monocromtica de frequncia 5401012 Hz que radie nessa direco 1/683 W por steradiano.
mole A unidade de quantidade de matria, mole (mole), a quantidade de matria de um sistema

contendo tantas entidades elementares quantos os tomos que existem em 0.012 kg de carbono 12.
volt A unidade de diferena de potencial ou tenso elctrica, volt (V), a diferena de potencial

elctrico entre dois pontos de um condutor percorrido por uma corrente constante de 1 A quando a potncia posta em jogo de 1 W.
ohm A unidade de resistncia elctrica, ohm (), a resistncia elctrica de um condutor que, no

sendo sede de qualquer fora electromotriz, sujeito a uma diferena de potencial de 1 V percorrido por uma corrente de 1 A.
farad A unidade de capacidade elctrica, farad (F), a capacidade de um condensador que

carregado com a carga de 1 C apresenta uma diferena de potencial entre armaduras de 1 V.

henry A unidade de coeficiente de induo, henry (H), o valor desse coeficiente num circuito

fechado em que uma corrente elctrica variando ao ritmo constante de 1 A/s produz uma fora electromotriz de 1 V. O coeficiente de induo , como se sabe, a relao entre a fora electromotriz induzida e a derivada temporal da corrente que origina aquela.

1.2.3.2 Padres de medida

Entende-se por padro (standard) - de medida o instrumento de medio ou sistema de medio
destinado a definir ou materializar, conservar ou reproduzir uma unidade ou um ou vrios valores conhecidos de uma grandeza para as transmitir por comparao a outros instrumentos de medio.

Consoante as suas qualidades metrolgicas assim um padro se designa de: - Padro internacional (International standard): padro reconhecido por um acordo internacional
para servir de base internacional fixao dos valores de todos os outros padres da grandeza a que respeita.

- Padro primrio (Primary standard): padro que apresenta as mais elevadas qualidades
metrolgicas num dado domnio.

1.21

- Padro secundrio (Secundary standard): padro cujo valor fixado por comparao com um
padro primrio.

- Padro de trabalho (Working standard): padro que, habitualmente calibrado por comparao
com um padro de referncia, utilizado correntemente para calibrar ou verificar os instrumentos de medida.

Conforme facilmente se constata a partir das noes agora definidas, os diferentes padres esto hierarquizados de acordo com as qualidades metrolgicas segundo uma escala decrescente dos primrios para os de trabalho, agrupando-se em uma das trs categorias apresentadas. No que respeita aos padres internacionais, e na generalidade, no faz sentido falar-se da sua exactido, uma vez que eles constituem a base de todas as comparaes; exceptuam-se os casos em que possvel reportar os seus valores directamente aos das unidades a que respeitam realizando as chamadas medidas de acordo com a definio dessas unidades. Pode ento pr-se a questo de saber qual o critrio ou critrios que levam escolha de um padro para padro internacional. Se excluirmos critrios de escolha marginalmente importantes, como por exemplo os da facilidade de realizao ou praticabilidade de utilizao, bvio que a escolha ter a ver com dois aspectos: a preciso desse padro e a conformidade entre as medies com ele obtidas e os valores previstos pelas teorias pertinentes na analise de fenmenos em que intervm a grandeza em causa. Assim, quanto menor for o desvio padro experimental de um conjunto de intercomparaes entre padres iguais, melhor ser esse padro do ponto de vista de constituir base para a fixao dos valores de outros instrumentos de medida. Por outro lado, e por exemplo, um relgio ser tanto melhor quanto mais aproximados forem os valores de tempo com ele obtidos e os que resultam da aplicao das teorias que relacionam fenmenos variveis no tempo com esta grandeza. Em relao aos padres primrios, secundrios e de trabalho o conceito de exactido pertinente, uma vez que se pode tomar como base os padres internacionais. Deste modo, e uma vez que a qualidade metrolgica mais importante de um padro exactamente a sua exactido, hierarquia primrio-secundrio de trabalho corresponde uma escala crescente de imprecises. A essa hierarquia corresponde tambm, e naturalmente, uma escala decrescente de custos dos padres; genericamente, e para uma mesma grandeza, um padro de trabalho mais barato do que um primrio. Como tal, e tambm porque as precises exigidas no so as mesmas em todas as situaes de medida, os diferentes tipos de padro encontram-se em diferentes tipos de laboratrio: um laboratrio nacional de padres dispor de padres primrios, laboratrios privados ou industriais disporo de padres secundrios, os quais so utilizados como referncia para ajuste e calibrao de padres de trabalho. Este tipo de organizao, que pode revestir diferentes formas, dever em qualquer caso permitir reportar o valor medido com um padro de trabalho a um padro pelo menos primrio mediante uma cadeia ininterrupta de comparaes que se designa por rastreabilidade (traceability). O National Institute of Standards and Technology (NIST) tem uma organizao hierrquica das referncias utilizadas nos Estados Unidos da Amrica em trs escales como se segue:

Escalo I

1.22

1. Padres internacionais. 2. Padres primrios (padres nacionais). 3. Padres secundrios (padres de referncia do NIST). 4. Padres de trabalho (utilizados pelo NIST para servios de calibrao).
Escalo II

1. Padres de referncia; padres secundrios mantidos por laboratrios particulares e industriais. 2. Padres de trabalho; padres usados para calibrar e verificar aparelhos de laboratrio de uso geral.
Escalo III

Instrumentos de uso geral para produo, manuteno e ensaios externos. A designao de padro de referncia (reference standard) diz respeito a um padro, em geral da mais elevada qualidade metrolgica, disponvel num dado local, do qual derivam as medies efectuadas nesse local. Por vezes utiliza-se um conjunto de instrumentos de medio idnticos, associados para desempenhar em conjunto o papel de padro. Ao padro assim realizado, e de que exemplo as pilhas de Weston como padro de tenso elctrica, chama-se padro colectivo (collective standard). Reserva-se a designao de coleco padro (group (series) of standards) para o conjunto de padres com valores escolhidos especialmente para reproduzir individualmente, ou por combinao adequada, uma srie de valores de uma grandeza numa dada gama. As caixas de massas marcadas constituem exemplo tpico deste tipo de padro. Na calibrao (calibration), (conjunto de operaes que estabelecem, em condies especificadas,
a relao entre os valores indicados por um instrumento de medio, ou os valores representados por um material de referncia (material ou substncia com uma ou vrias propriedades suficientemente bem definidas para permitir a sua utilizao na calibrao de um instrumento, na avaliao de um mtodo de medida ou na atribuio de valores aos materiais), e os correspondentes valores conhecidos da grandeza a medir), so utilizados dois tipos de padres: o padro de transferncia

(transfer standard), utilizado como intermedirio na comparao de padres ou instrumentos de

medio entre si e o padro itinerante (travelling standard), padro, por vezes de construo especial, previsto para ser transportado entre diferentes locais.

Do conjunto de todas as operaes necessrias preservao das caractersticas metrolgicas de um padro dentro de limites adequados, conservao do padro (conservation of a measurement standard), destaca-se a sua calibrao, a qual feita comparando esse padro com um da mesma unidade mas de maior exactido. A calibrao deve ser peridica, dependendo do tipo, utilizao e tempo de vida os intervalos de tempo entre calibraes. Como valor tpico, um padro de trabalho deve ser calibrado utilizando um secundrio de 6 em 6 meses. Especial cuidado deve ser dado aos aspectos de utilizao e armazenamento do padro de modo a manter as suas qualidades metrolgicas ao longo da sua vida til. Uma vez conhecidas as unidades das principais grandezas fsicas, no que diz respeito electrotecnia, importa saber quais so os padres respectivos e suas caractersticas metrolgicas. 1.23

Em relao a estas, e por ser prtica comum a nvel internacional, utilizaremos o valor que permite determinar o intervalo de inexactido de um padro para caracterizar numericamente a sua exactido. Assim um padro com "uma exactido de x partes em 10y", de "x partes por milho" ou de "x%" ser um dispositivo cujo valor mximo do intervalo de inexactido o especificado.

1.2.3.2.1

Padro de comprimento

Os padres internacional, primrio e secundrio de comprimento so constitudos por lmpadas de descarga de kripton 86 excitadas e observadas em condies bem definidas. O comprimento de onda da luz cor-de-laranja assim emitida constitui um padro base que apresenta uma preciso de 1 ppm (uma parte por milho). Como padres de trabalho utilizam-se calibres, micrmetros e outros dispositivos que apresentam uma exactido tpica da ordem de 1 mm.

1.2.3.2.2

Padro de massa

O padro internacional de massa ainda constitudo pelo prottipo internacional de kilograma existente no Museu Internacional de Pesos e Medidas em Svres, perto de Paris (Frana). Os padres primrios so tambm prottipos de kilograma verificados por comparao com o prottipo internacional, sendo a sua exactido de 1 parte em 108. Os padres secundrios e de trabalho so os que possuem exactides de 1 ppm e 5 ppm, respectivamente, apresentando-se estes ltimos com os mais variados valores, sendo por isso adaptveis s mais variadas aplicaes. Como normal, a calibrao dos secundrios feita utilizando um primrio; constituem, por sua vez padro de referncia na verificao dos padres de trabalho.

1.2.3.2.3

Padro de tempo

Os padres de tempo so os relgios. Os padres primrios so relgios de csio que permitem actualmente precises de 2 partes em 1013 em equipamento de laboratrio e 7 partes em 1012 em equipamento comercial. Nos padres de trabalho utiliza-se normalmente o quartzo; no entanto, e dado o custo actual dos relgios de rubdio e mesmo de csio, tende-se a utilizar cada vez mais relgios deste tipo em aplicaes industriais exigindo mdia exactido. Os padres de tempo so os de mais fcil verificao, uma vez que a difuso de diferentes padres primrios feita contnua ou regularmente por estaes de rdio espalhadas pelos diferentes continentes e cujas transmisses cobrem todo o planeta.

1.24

1.2.3.2.4

Padro de intensidade de corrente

Os padres de intensidade de corrente so em geral obtidos a partir de padres de resistncia e de tenso elctricas por aplicao da lei de Ohm.

1.2.3.2.5

Padro de temperatura termodinmica

Os padres de temperatura so termmetros de diferentes tipos. Assim, o padro primrio constitudo por um termmetro de resistncia de platina de construo especial de modo a que o fio no seja sujeito a esforos mecnicos. A escala deste termmetro, usualmente graduada em C (escala prtica), estabelecida com base nos seguintes valores (presso atmosfrica): - Fundamentais; ponto de ebulio da gua: 100 C ponto triplo da gua: 0.01 C - Primrios; ponto de ebulio do oxignio: - 182.97 C ponto de ebulio do enxofre: 444.6 C ponto de congelao da prata: 960.8 C ponto de congelao do ouro: 1063 C Os valores intermdios so calculados a partir de frmulas baseadas nas propriedades do fio de resistncia de platina.

1.2.3.2.6

Padro de intensidade luminosa

Os padres primrios de intensidade luminosa so corpos negros de construo especial e temperatura de solidificao da platina. Os padres secundrios e de trabalho so lmpadas de filamento de tungstnio que operam a uma temperatura para a qual a distribuio espectral de energia na regio do visvel (3950 a 7500 ) coincide com a do padro primrio.

1.2.3.2.7

Padro de tenso contnua

A partir de 1 de Janeiro de 1990, o padro internacional de tenso contnua constitudo por uma juno de Josephson. O funcionamento do dispositivo baseado num fenmeno observvel em supercondutores fracamente ligados, como por exemplo duas pelculas supercondutoras de nibio separadas por uma camada isolante de 1 nm. Assim, quando a juno iluminada por radiao de frequncia f da ordem dos GHz (microondas), a caracterstica V(I) do dispositivo apresenta degraus de corrente para valores de tenso VJ que verifiquem:
VJ = nf K J

(1.16)

em que n um inteiro e KJ=4e/h uma constante dependente da carga do electro, e, e da constante de Planck, h. A constante KJ , pois, uma constante universal, independente dos materiais supercondutores utilizados, da frequncia da radiao iluminante, da temperatura ou de n. A grande 1.25

vantagem da utilizao deste tipo de padro para tenso contnua resulta do facto de a tenso dita de Josephson ser apenas dependente da frequncia da radiao iluminante, grandeza fsica que mensurvel com o mais elevado rigor. O valor da constante KJ definido para 1990 (KJ-90) de 483 597.9 GHz/V. A reprodutibilidade dos diferentes dispositivos idnticos desenvolvidos nos diferentes laboratrios nacionais da ordem de 1 parte em 1016. A utilizao destes padres em operaes de calibrao particularmente simples, o que constitui outra das suas vantagens. No que respeita aos padres primrios, secundrios e de trabalho, dois tipos de dispositivos so utilizados: dodos de zener e pilhas padro. Os equipamentos que recorrem aos primeiros usam dodos especiais colocados em estufas mantidas a temperatura constante. A incluso de divisores de tenso calibrados e de preciso na sada dos equipamentos permite ter acesso a diferentes valores de tenso, o que se torna particularmente interessante para efeitos de calibrao. Os padres primrios so porm, e ainda hoje em dia, pilhas padro do tipo Weston saturado. Trata-se de um elemento electroqumico em que o elctrodo positivo de mercrio, o negativo de uma amlgama de cdmio e o electrlito uma soluo de sulfato de cdmio saturada a qualquer temperatura por virtude de cristais de sulfato de cdmio que cobrem os elctrodos. Estes padres, que apresentam uma deriva tpica anual de 1 V, exactido da ordem de 1 ppm, resistncia interna entre os 500 e os 800 e uma vida de til de 10 a 20 anos, fornecem uma tenso em vazio que funo da temperatura, V(t), dada por:
V(t) = V20C 0.000046(t 20) 0.00000095(t 20)2 + 0.00000001(t 20)3

(1.17)

O valor tpico de V a 20 C de 1.01858 V. Para alm das pilhas de Weston saturadas so tambm utilizadas, essencialmente como padres de trabalho, pilhas no saturadas. Estas, que apresentam uma fora electromotriz em vazio entre 1.0180 e 1.0200 V, embora menos reprodutveis e estveis do que as do tipo saturado, apresentam a vantagem de serem muito menos dependentes da temperatura, com variaes relativas inferiores a 0.01% no intervalo 10 a 40 C, o que as torna mais robustas e, portanto, adequadas, quer como padres de trabalho, quer como de transferncia. Porm, e uma vez que robustez aliam exactides semelhantes s das pilhas saturadas, os padres utilizando dodos de zener so, por excelncia, os usados como de transferncia. As pilhas Weston constituem um exemplo tpico de um padro que usualmente do tipo colectivo, isto , em que se utiliza um conjunto de elementos para, a partir do valor mdio das respectivas tenses em vazio, se definir o valor da unidade volt. Assim, e por exemplo o NIST, usava at h bem pouco tempo uma coleco de 40 elementos de Weston saturados, mantidos a temperatura constante, como padro primrio e 10 elementos do mesmo tipo como padro de trabalho, sendo as comparaes dos elementos primrios realizadas entre si e as dos de trabalho com os primrios. Os valores das foras electromotrizes das pilhas de Weston so, naturalmente, extremamente dependentes da corrente por elas debitada. Assim, e para que, por um lado se possa tomar para tenso aos terminais de cada elemento o valor da fora electromotriz em vazio e, por outro lado, os elementos mantenham as suas caractersticas ao longo do tempo, a corrente pedida no deve 1.26

exceder os 100 mA; a utilizao destes padres envolve, por isso, cuidados especiais.

1.2.3.2.8

Padro de resistncia elctrica

O padro internacional de resistncia elctrica baseia-se, desde Janeiro de 1990, no efeito de Hall quantificado. Este, posto em evidncia por Klaus von Klitzing em 1980, semelhante ao que se verifica para materiais semicondutores e, com menor amplitude para os materiais condutores, consiste no aparecimento de uma tenso elctrica quando se sujeita um gs bidimensional de electres arrefecido a cerca de 1 K a um campo magntico da ordem dos 10 T. O gs de electres conseguese, nos dispositivos reais, com uma estrutura de GaAs/AlxGa1-xAs em forma de barra. A variao da tenso de Hall com o campo magntico tem, para cada valor da corrente que longitudinalmente atravessa a estrutura, um andamento como o representado na Figura 1.3. A resistncia de Hall,
RH = UH II

(1.18)

ter um andamento do mesmo tipo, apresentando, por isso, zonas planas em que se tem:
RH = RK n
h 2e2

(1.19)

sendo RK uma constante, dita de von Klitzing, e n um inteiro. Teoricamente RK =

, desde que

os dispositivos satisfaam determinados critrios, uma constante universal. O seu valor foi definido em 1990 como sendo RK 90 = 25812.807 . A reprodutibilidade no estabelecimento da unidade com este padro de algumas partes em 109.

Figura 1.3: Variao da tenso de Hall, UH, em funo da intensidade do campo magntico aplicado, B, numa estrutura de GaAs/AlxGa1-xAs mantida a 1.39 K para uma corrente longitudinal, Il=25.52 mA obtida por Marvin Cage et al. (NIST).

1.27

No que respeita aos padres primrios, secundrios e de trabalho, so constitudos por resistncias construdas em manganina (Ni 4%, Cu 84%, Mn 12%) ou outras ligas, como o evanohm (Ni 74.5%, Cr 20%, Al e Cu), que apresentem resistividade elctrica elevada e baixo coeficiente de variao com a temperatura. Os padres primrios so colectivos, conseguindo-se com poucos elementos (4-5) de 1 uma representao da unidade com uma preciso de algumas partes em 107 durante vrios anos. Nos padres de trabalho e de transferncia o condutor suportado entre pelculas de polyester de modo a reduzir tenses mecnicas no condutor e para melhorar a sua estabilidade. Com a imerso do elemento em leo e a incluso do conjunto numa caixa fechada procura-se assegurar condies ambientais de funcionamento constantes. As ligaes do elemento a terminais feita por soldadura a fio de prata, sendo os terminais em cobre niquelado; a ausncia de oxignio evita a formao de xido de cobre que isolante. Tal como todos os padres das diferentes grandezas fsicas, as resistncias padro so acompanhadas de certificados de calibrao que devem permitir a sua rastreabilidade. Uma vez que a dependncia do valor da resistncia com a temperatura significativa, importa dispor de informao que permita conhecer o seu valor nas condies verificadas quando da sua utilizao. Assim, duas formas so usualmente usadas para transmitir essa informao: ou uma curva de variao da resistncia com a temperatura, como a que se apresenta na Figura 1.4, ou a indicao dos valores de dois coeficientes, a e b intervenientes na seguinte funo de dependncia da resistncia com a temperatura:
R(t) = R25C + (t 25) + (t 25)2

(1.20)

Os padres de resistncia elctrica so, conjuntamente com os de tempo e tenso contnua, os fundamentais na calibrao de instrumentos elctricos de medida. Os padres de trabalho so muitas vezes blindados de modo a minimizar a interferncia que o rudo provoca no dispositivo.

Figura 1.4: Dependncia do valor da resistncia padro Tinsley 220356 com a temperatura.

1.28

1.2.3.2.9

Padro de capacidade

Os padres primrios de capacidade so condensadores de construo especial cujo valor conhecido com inexactides de algumas partes em 108. Os condensadores padro secundrios e de trabalho so em geral planos, com armaduras mltiplas, e em relao aos quais o conhecimento da rea e da distncia entre armaduras permite determinar o valor da respectiva capacidade. A exactido de um bom padro de trabalho deste tipo pode atingir algumas partes por milho, sendo a deriva anual do seu valor de algumas dezenas de partes por milho. O dielctrico , para capacidades baixas, ar seco ou azoto, utilizando-se, para capacidades mais elevada, dielctricos slidos. A mica-prata, por exemplo, constitui um bom dielctrico, uma vez que apresenta elevada estabilidade, baixos valores do coeficiente de variao da constante dielctrica com a temperatura e do ngulo de perdas bem como inexistncia de envelhecimento. A susceptibilidade do valor da capacidade de um condensador ao rudo electromagntico e presena de objectos na sua vizinhana conduz necessidade da utilizao de blindagens. As dcadas de condensadores vulgarmente utilizadas, embora interessantes do ponto de vista de ensaios de baixa exactido, so de uso proibido em medidas de elevada exactido, uma vez que intrinsecamente no possuem uma exactido melhor do que, tipicamente, 1%.

1.2.3.2.10 Padro de coeficiente de induo

O padro primrio de coeficiente de auto-induo preferencialmente obtido a partir dos padres de resistncia elctrica e de capacidade utilizando-se circuitos especiais designados por pontes de medida, nomeadamente a de Maxwell. Os padres de trabalho, disponveis comercialmente com valores compreendidos entre 50 H e 10 H, so constitudos por enrolamentos multi-camada sobre materiais cermicos ou baquelite. A utilizao de ncleos toroidais particularmente aconselhvel, uma vez que deste modo se minimiza a interferncia devida a fontes estranhas de campo electromagntico. Contrariamente aos condensadores padro, as bobines padro no so blindadas, uma vez que a blindagem seria elemento de acoplamento de rudo electromagntico; o conjunto bobina-blindagem comportar-se-ia como um transformador em que o secundrio (blindagem) se encontrava em curto-circuito. Uma vez que o valor do coeficiente de induo de um enrolamento particularmente dependente da frequncia - no esquecer que as sucessivas espiras separadas por um material isolante se comportam como um conjunto de pequenos condensadores, os quais, para frequncias suficientemente elevadas, constituem praticamente um curto-circuito para a corrente que tenderia a percorrer o enrolamento , importa especificar qual o valor para o qual ele apresenta um determinado coeficiente de induo. Um valor tpico da exactido do coeficiente de auto-induo de uma bobine padro de trabalho a uma dada frequncia de 0.1%. No que respeita ao coeficiente de induo mtua entre enrolamentos, os padres de trabalho, com valores entre os 0 e os 200 mH, apresentam exactides da ordem dos 2.5%. 1.29

1.2.4

Mtodos de medida

Entende-se por mtodo de medida (method of measurement) o conjunto de operaes tericas e

prticas, em termos gerais, envolvidas na execuo de medidas, segundo um dado princpio. O princpio da medio (principle of measurement) ser naturalmente o fundamento cientfico de um mtodo de medida. Assim, o efeito de Hall ser um princpio de medida possvel para a medio

de campos magnticos e o efeito Doppler um princpio em que se podem suportar mtodos de medida da velocidade de um qualquer mvel. Ao conjunto de operaes tericas e prticas descritas
pormenorizadamente envolvidas na execuo de medies, segundo um dado mtodo designa-se por procedimento de medida (measurement procedure). A totalidade da informao, equipamento e operaes relativas a uma dada medio constitui o processo de medio (measurement

process). Este conceito compreende, pois, todos os aspectos relacionados com a execuo e a qualidade da medio, por exemplo: o princpio, o mtodo, os procedimentos, os padres e os valores das grandezas de influncia. Uma grandeza de influncia (Influence quantity) ser uma
grandeza que no o objecto da medida mas influi no valor da grandeza a medir ou nas indicaes do instrumento de medida. A temperatura e a frequncia so, na maioria dos casos, grandezas deste

tipo. Se se exclurem os mtodos de medio segundo a definio (definitive method of measurement) mtodo de medida de uma grandeza de acordo com a definio da unidade dessa
grandeza , os restantes mtodos podem-se incluir em um de dois grupos: os absolutos e os

relativos. Um mtodo de medida absoluto ou fundamental (fundamental method of measurement) , todo o mtodo de medio no qual o valor da grandeza a medir determinado por medio das
grandezas de base apropriadas. Quando, como no caso da medida de uma presso atravs da

medida da altura de uma coluna de lquido, intervm uma grandeza cujo valor dependente do valor da grandeza a medir o mtodo diz-se indirecto. A medida da capacidade de um condensador a partir da medida das suas dimenses constitui um mtodo fundamental directo. Os mtodos de medida relativos tm como caracterstica comum a do valor desconhecido da grandeza ser obtido por comparao com um padro dessa grandeza. Tal como os mtodos absolutos, tambm estes podem ser divididos em directos e indirectos. Exemplo dos primeiros o da medida de um comprimento utilizando uma rgua: o valor utilizado para comparao conhecido. A medida de uma tenso elctrica recorrendo a um voltmetro previamente calibrado a partir de um padro de tenso contnua constitui exemplo dos segundos. Estes podem ainda ser agrupados em: - mtodo de medio por substituio (substitution method of measurement): mtodo de medida
no qual a grandeza a medir substituda por uma grandeza da mesma natureza, de valor conhecido, escolhida de modo a que os efeitos no dispositivo indicador sejam os mesmos.

- mtodo de medida diferencial (differential method of measurement): mtodo de medida no qual

a grandeza a medir comparada com uma grandeza da mesma natureza de valor conhecido, pouco diferindo do da grandeza a medir, e no qual a diferena dos dois valores medida.

1.30

- mtodo de medida por zero (null method of measurement): mtodo de medida no qual o valor da
grandeza a medir determinado por equilbrio ajustando uma ou vrias grandezas, de valores conhecidos, associados grandeza a medir por uma relao conhecida no ponto de equilbrio.

1.2.5 Realizao industrial de calibraes utilizando o mtodo de zero por compensao de tenso.
A medida de tenses contnuas e calibrao de aparelhos nesse domnio, a nvel de laboratrios secundrios e de trabalho, recorre, em geral, utilizao de calibradores. Trata-se de geradores de tenso e de corrente de elevada preciso e estabilidade a curto e longo prazo, os quais constituem, conjuntamente com divisores de tenso padro do tipo Kelvin-Varley, a base dos sistemas de medida industriais com aquela finalidade. A Figura 1.5 representa o esquema de ligaes de um sistema suportado num calibrador 5700 A, num divisor de tenso 720 A, num voltmetro de zero 845 A e num padro de tenso contnua 732 A da marca FLUKE que permite gerar e medir tenses contnuas de valor at 1100 V. Os cabos de ligao utilizados devero ser tais que a fora electromotriz de origem trmica devida s ligaes seja mnima. Descreve-se no seguimento os procedimentos de medida para a calibrao de um voltmetro com alcance de 10 V.
HI L0 GUARD

845A

5700A

0 S 0 L0 S GND HI

1.1 1.0 0 GND

HI L0 GND

720A

HI L0 732A GND GUARD

Figura 1.5: Sistema FLUKE para a gerao e medida de tenses contnuas.

- Procedimentos Considere-se a Figura 1.5 em que se selecciona no padro 732 A uma tenso de referncia de 10 V. Programa-se o calibrador para uma tenso de 11 V e selecciona-se no divisor de tenso 1.0000000. Comeando com o voltmetro de zero na escala de menor sensibilidade, ajusta-se a tenso de sada do calibrador de modo a conseguir o melhor nulo possvel, aumentando para o efeito a sensibilidade do detector. Uma vez feita a "padronizao" do calibrador, substitui-se a referncia de tenso e o detector de zero pelo voltmetro a calibrar. Para diferentes valores, menores do que a unidade, do divisor de tenso, d, regista-se a indicao do voltmetro Vv. O erro do instrumento Ev, em valor absoluto, ser ento: 1.31

Ev = Vv 10 d

(1.21)

De modo a evitar a influncia dos potenciais de contacto devem-se realizar dois ensaios com a tenso do calibrador invertida, tendo o cuidado de inverter tambm as ligaes do voltmetro. O valor
Vv ser ento a semi-soma dos valores indicados pelo voltmetro. Para o mesmo efeito, e no ensaio

de "padronizao" do calibrador, a verificao do zero deve ser feita invertendo os terminais do detector. Uma vez que o circuito no homogneo, a ausncia de foras electromotrizes com origem no efeito de Seeback impe que no se verifiquem gradientes de temperatura nas junes de materiais diferentes. Para isso impe-se a utilizao de cabos de ligao apropriados e efectuar as ligaes sem aquecer os terminais com os dedos. No que respeita aos instrumentos utilizados, para alm de deverem ser ligados com a antecedncia necessria a garantir a estabilizao do seu funcionamento, devero ter os terminais de guarda e de terra ligados. A calibrao recorrendo aos equipamento e procedimentos descritos permite resultados com uma incerteza que, para valores acima de 10 mV , condicionada pela do padro de tenso: 3 ppm; para valores abaixo daquele limite, o detector a limitar essa incerteza que ser da ordem de 30 mV, melhor zero observvel com o detector.

1.32

BIBLIOGRAFIA
[1.1] Vocabulrio Internacional de Metrologia Direco Geral da Qualidade Lisboa 1985 [1.2] Electronic Instrumentation and Measurement Techniques W. D. Cooper 2nd Edition, Prentice-Hall International [1.3] Principles of Electronic Instrumentation and Measurement H. W. Berlin; F. C. Getz Jr. Merril Publishing Company [1.4] Medidas Elctricas J. F. Borges da Silva AEIST [1.5] Precision Measurements and Calibration. Statistical Concepts and Procedures Special Publication 300 Vol. 1 National Bureau of Standards United States Department of Commerce [1.6] Laser Frequency Measurements and the Redefinition of the Meter Pierre Giacomo IEEE Trans. on Inst. and Meas., Vol. IM-32, N 1 March 1983 [1.7] News From the BIPM: Some Changes in the SI Pierre Giacomo IEEE Trans. on Inst. and Meas., Vol. IM-34, N 2 June 1985 [1.8] Fundamentals of Time and Frequency Standards Hewlett Packard Application Note 52-1 [1.9] Timekeeping and Frequency Calibration Hewlett Packard Application Note 52-2 [1.10] Precision DC Measurements Hewlett Packard Application Note 70 October 1969 1.33

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1.34

1.35