ALOCAO TIMA DE DISPOSITIVOS LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-CIRCUITO EM REDES DE ENERGIA ELTRICA UTILIZANDO ALGORITMOS GENTICOS Clarissa Santos Ferreira

DISSERTAO SUBMETIDA AO CORPO DOCENTE DA COORDENAO DOS PROGRAMAS DE PS-GRADUAO DE ENGENHARIA DA UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIRO COMO PARTE DOS REQUISITOS NECESSRIOS PARA A OBTENO DO GRAU DE MESTRE EM CINCIAS EM ENGENHARIA ELTRICA. Aprovada por:

RIO DE JANEIRO, RJ - BRASIL MARO DE 2006

FERREIRA, CLARISSA SANTOS Alocao tima de Dispositivos Limitadores de Corrente de Curto-Circuito em Redes de Energia Eltrica Utilizando Algoritmos Genticos [Rio de Janeiro] 2006 XIV, 155 p. 29,7 cm (COPPE/UFRJ, M.Sc., Engenharia Eltrica, 2006) Dissertao - Universidade Federal do Rio de Janeiro, COPPE 1. Dispositivos limitadores de curto-circuito 2. Superao de equipamentos 3. Algoritmos Genticos I. COPPE/UFRJ II. Ttulo ( srie )

ii

Dedico este trabalho aos meus pais, Tarciso e Tuquinha, e ao meu amado Roberto

iii

AGRADECIMENTOS

Ao meu marido Roberto Farizele pelo incentivo e apoio dado, sem o qual este trabalho no seria possvel. Aos meus queridos pais, Tarciso e Tuquinha, e aos meus irmos, Leonardo e Livia, pelo enorme carinho, amor e pacincia. professora Carmen Lucia Tancredo Borges pela orientao e por todas as discusses que contriburam para o aprimoramento deste trabalho. Aos colegas da Eletrobrs pelo companheirismo e compreenso. Especialmente agradeo ao Marcos Simas Parentoni, Paulo Cesar de Almeida, Elizabeth Almeida Franceschett e Dbora Rosana Ribeiro Penido. Ao Antnio Carlos Ferreira por toda ajuda dada durante o curso de mestrado. Eletrobrs pela oportunidade de cursar o mestrado. Aos engenheiros Juan Ignacio Rossi e Sergio Porto, pelas informaes prestadas que auxiliaram na elaborao deste trabalho.

iv

Resumo da Dissertao apresentada COPPE/UFRJ como parte dos requisitos necessrios para a obteno do grau de Mestre em Cincias (M.Sc.) ALOCAO TIMA DE DISPOSITIVOS LIMITADORES DE CORRENTE DE CURTO-CIRCUITO EM REDES DE ENERGIA ELTRICA UTILIZANDO ALGORITMOS GENTICOS Clarissa Santos Ferreira Maro/2006 Orientadora: Carmen Lucia Tancredo Borges Programa: Engenharia Eltrica

Este trabalho apresenta uma metodologia para auxiliar nos estudos de limitao das correntes de curto-circuito atravs da alocao tima de dispositivos limitadores de corrente em sistemas com problemas de superao de equipamentos por corrente de curto-circuito. A deteco da superao feita somente para disjuntores, atravs da anlise tanto do mdulo da corrente de curto-circuito que o disjuntor deve interromper, como tambm da relao X/R do sistema. Sua modelagem feita como um problema de otimizao baseado em Algoritmos Genticos, levando em considerao os requisitos de custo mnimo, alocao de um nmero mnimo de dispositivos e mxima reduo da corrente de curtocircuito nas barras do sistema. A ferramenta computacional desenvolvida utiliza de modo integrado o programa ANAFAS para clculo de defeitos, mantendo a compatibilidade com as bases de dados utilizadas em estudos de curto-circuito no setor eltrico brasileiro. Foram feitas simulaes com o sistema IEEE14 barras, para validar o algoritmo, e com o sistema da ELETROSUL, para analisar a soluo de problemas prticos. Os resultados comprovam a robustez e eficincia do mtodo, apresentando solues que satisfazem s restries com custo de investimento reduzido para todos os cenrios analisados.

Abstract of Dissertation presented to COPPE/UFRJ as a partial fulfillment of the requirements for the degree of Master of Science (M.Sc.) OPTIMAL FAULT CURRENT LIMITERS ALOCATION IN ELECTRICAL POWER SYSTEMS USING GENETIC ALGORITHMS Clarissa Santos Ferreira March/2006 Advisor: Carmen Lucia Tancredo Borges Department: Electrical Engineering

This work presents a methodology for helping in short-circuit limiting studies via the indication of the optimal allocation of fault current limiters in systems where the equipment interruption capability is exceeded. Short-circuit analyses are performed throughout the system to identify the circuit breakers which will be subject to short-circuit currents above their nominal interruption capacity. The methodology is modeled as an optimization problem using Genetic Algorithms, taking into consideration the objectives of minimum cost, minimum number of fault current limiters allocated and maximum reduction of the short-circuit level at the system buses. The computational tool developed uses the ANAFAS program to calculate the short-circuit current in order to keep the compatibility with the data base used in short-circuit studies in the Brazilian electricity sector. The methodology has been tested using the IEEE14 bus system, to validate the algorithm, and the ELETROSUL system, to analyze the performance for an actual problem. The results have confirmed the robustness and effectiveness of the methodology in finding solutions that satisfy the constraints with reduced investments cost for all the analyzed scenarios.

vi

ndice
Captulo 1
1.1 1.2 1.3

Introduo...................................................................................... 1
Objetivos..................................................................................................... 3 Reviso Bibliogrfica ................................................................................. 4 Estrutura do Trabalho ................................................................................. 7

Captulo 2
2.1 2.2
2.2.1 2.2.2 2.2.3

Superao de Equipamentos e Dispositivos Limitadores de

Contribuies das Correntes de Curto-Circuito.......................................... 8 Superao de Subestaes e Equipamentos ............................................. 10
Superao por Corrente de Carga................................................................... 10 Superao de Disjuntores por Tenso de Restabelecimento Transitria........ 11 Superao por Corrente de Curto-Circuito..................................................... 12

Corrente de Curto-Circuito.......................................................................................... 8

2.3
2.3.1 2.3.2 2.3.3 2.3.4

Medidas Adotadas para Limitar o Curto-Circuito.................................... 20

Medidas Operativas ........................................................................................ 21 Modificao da Configurao da Rede .......................................................... 23 Recapacitao das Instalaes e Substituio dos Equipamentos .................. 24 Utilizao de Dispositivos Limitadores de Curto-Circuito (DLCs) ............... 25

Captulo 3
3.1 3.2 3.3 3.4 3.5 3.6 3.7 3.8
3.8.1 3.8.2 3.8.3

Introduo aos Algoritmos Genticos ......................................... 34

Resoluo de Problemas de Otimizao................................................... 34 Algoritmos Genticos............................................................................... 35 Implementao dos Algoritmos Genticos............................................... 36 Codificao............................................................................................... 37 Inicializao.............................................................................................. 38 Funo de Aptido.................................................................................... 38 Escalamento Linear .................................................................................. 39 Operadores dos Algoritmos Genticos ..................................................... 41
Seleo............................................................................................................ 41 Cruzamento .................................................................................................... 43 Mutao .......................................................................................................... 45

3.9

Parmetros Genticos ............................................................................... 46

vii

3.9.1 3.9.2 3.9.3 3.9.4 3.9.5

Tamanho da Populao .................................................................................. 47 Taxa de Cruzamento....................................................................................... 47 Taxa de Mutao ............................................................................................ 47 Critrio de Parada........................................................................................... 48 Tamanho ou Comprimento do Cromossomo (L)............................................ 48

Captulo 4
4.1 4.2
4.2.1

Metodologia de Alocao de DLC Desenvolvida...................... 49

Premissas Adotadas .................................................................................. 50 Estrutura da Metodologia ......................................................................... 53
Programas Computacionais Utilizados........................................................... 54

4.3
4.3.1 4.3.2 4.3.3

Modelagem Matemtica ........................................................................... 56

Definio da Funo Objetivo........................................................................ 56 Definio da Funo de Aptido .................................................................... 58 Valores e Custos dos DLCs............................................................................ 64

4.4 4.5
4.5.1

Estrutura do Cromossomo ........................................................................ 64 Implementao do Modelo Computacional.............................................. 69

Caractersticas dos Algoritmos Genticos Implementados ............................ 73

Captulo 5
5.1
5.1.1 5.1.2

Resultados ................................................................................... 75
Sistemas Eltricos de Teste ...................................................................... 75
Sistema IEEE14 Barras .................................................................................. 75 Sistema Eltrico da ELETROSUL ................................................................. 76

5.2
5.2.1 5.2.2 5.2.3 5.2.4

Consideraes........................................................................................... 78
Custos utilizados............................................................................................. 78 Funes de Aptido Testadas ......................................................................... 79 Conjunto de Parmetros do AG e Fatores Penalidade Utilizados nos Testes. 79 Regime Permanente........................................................................................ 80

5.3
5.3.1 5.3.2 5.3.3

Resultados dos Testes com o Sistema IEEE14......................................... 81

Objetivo 1 ....................................................................................................... 83 Objetivo 2 ..................................................................................................... 104 Resumo dos resultados dos testes do sistema IEEE14 ................................. 108

5.4
5.4.1 5.4.2 5.4.3

Resultados Numricos com o Sistema da ELETROSUL....................... 112

Objetivo 1 ..................................................................................................... 115 Objetivo 2 ..................................................................................................... 119 Resumo dos resultados dos testes do sistema ELETROSUL ....................... 123

viii

Captulo 6 Apndice A Apndice B Apndice C

Concluses................................................................................. 125 Teoria Bsica de Curto-Circuito ............................................... 132 Sntese dos Principais DLCs ..................................................... 143 Grficos de Convergncia do AG ............................................. 151

Referncias Bibliogrficas....................................................................................... 128

ix

ndices das Figuras

Figura 1 do tempo Figura 2 Figura 3 Figura 4 Figura 5 line-out Figura 6 Figura 7 Figura 8 Figura 9 Figura 10 Figura 11 Figura 12 Figura 13 Figura 14 Figura 15 Figura 16 Figura 17 Figura 18 Figura 19 Figura 20 Figura 21 Figura 22 Evoluo da corrente assimtrica de curto-circuito (If) ao longo ..................................................................................................... 13 Corrente tpica de curto-circuito ................................................. 14 Contribuio das correntes para curto na barra 1........................ 15 Contribuio das correntes para curto-circuito na linha 1 .......... 16 Contribuio das correntes de curto-circuito para condio de ..................................................................................................... 17 Componente CC numa corrente de curto-circuito assimtrica, a Limitao do curto com seccionamento de barra [23] ................ 21 Exemplo de by-pass de linha....................................................... 22 Comportamento dos DLCs [10] .................................................. 27 Locais de instalao de DLCs ..................................................... 28 DLC utilizado seccionando barramentos .................................... 29 DLC utilizado em srie com os circuitos alimentadores............. 30 DLC utilizado em srie com os circuitos de sada ...................... 31 RLCs existentes na subestao de Mogi das Cruzes................... 33 Diagrama de blocos do AG ......................................................... 37 Grfico de escalamento linear ..................................................... 40 Representao da Roleta ............................................................. 42 Exemplo de cruzamento de um ponto ......................................... 44 Exemplo de cruzamento de dois pontos...................................... 44 Exemplo de cruzamento uniforme .............................................. 45 Exemplo de mutao por troca de bit.......................................... 46 Exemplo da definio do nvel mximo de curto-circuito

partir do incio da falta .............................................................................................. 19

admitido por cada barra ............................................................................................. 51

Figura 23 disjuntor Figura 24 Figura 25 Figura 26 Figura 27 Figura 28 Figura 29 Figura 30 Figura 31 Figura 32 Figura 33 computacional Figura 34 Figura 35 Figura 36 Figura 37 permanente Figura 38 Figura 39 Figura 40 Figura 41 Figura 42 Figura 43 Figura 44 Figura 45 Figura 46 Figura 47

Corrente que passa pelo disjuntor definida por aproximao como ..................................................................................................... 52 Estrutura da Metodologia ............................................................ 53 Sistema exemplo.......................................................................... 65 Bits do cromossomo para cada linha........................................... 65 Parte do cromossomo relativa aos circuitos ................................ 66 Bits do cromossomo para as barras do sistema ........................... 66 Parte do cromossomo relativa s barras ...................................... 67 Representao completa do cromossomo ................................... 68 DLCs inseridos para o cromossomo do exemplo........................ 69 Fluxograma do programa computacional implementado............ 70 Fluxograma com a integrao dos mdulos do programa ..................................................................................................... 71 Variao da taxa de mutao em funo do nmero da gerao 74 Diagrama unifilar do sistema IEEE14 barras.............................. 75 Diagrama unifilar do sistema equivalente da ELETROSUL ...... 77 Diagrama unifilar do comportamento do sistema em regime ..................................................................................................... 82 Legenda do diagrama unifilar ..................................................... 83 Teste 1 - Localizaes possveis para os DLCs (tracejado) ........ 85 Teste 1 - Sistema em regime permanente.................................... 87 Teste 2 - Localizaes possveis para os DLCs (tracejado) ........ 89 Teste 2 - Sistema em regime permanente.................................... 90 Teste 3 - Localizaes possveis para os DLCs (tracejado) ........ 92 Teste 3 - Sistema em regime permanente.................................... 94 Teste 4 - Localizaes possveis para os DLCs (em azul) .......... 95 Teste 4 - Sistema em regime permanente.................................... 97 Teste 5 - Sistema em regime permanente.................................. 100
xi

sendo a corrente calculada para curto-circuito na barra em que est ligado o

Figura 48 Figura 49 Figura 50 Figura 51 permanente Figura 52 Figura 53 Figura A1 Figura A2 Figura A3 Figura A4 Figura A5 Figura A6 Figura A7 Figura A8 Figura B1 Figura B2 Figura B3 Figura B4 Figura C1 Figura C2 Figura C3 Figura C4 Figura C5 Figura C6 Figura C7 Figura C8 Figura C9 Figura C10

Teste 6 - Localizaes possveis para os DLCs (em azul) ........ 101 Teste 6 - Sistema em regime permanente.................................. 103 Teste 8 - Sistema em regime permanente.................................. 107 Diagrama unifilar do comportamento do sistema em regime ................................................................................................... 114 Teste r1 - Sistema em regime permanente ................................ 118 Teste r2 - Sistema em regime permanente ................................ 122 Sistema exemplo para clculo de curto-circuito ....................... 132 Sistema equivalente para curto-circuito trifsico ...................... 133 Equivalente para curto-circuito trifsico ................................... 134 Diagrama do sistema para curto-circuito monofsico............... 136 Equivalente para curto-circuito monofsico ............................. 138 Diagrama do sistema para curto-circuito bifsico..................... 138 Equivalente para curto-circuito bifsico ................................... 139 Diagrama do sistema para curto-circuito bifsico-terra ............ 139 TCSC operando como limitador de curto ................................. 144 TPSC utilizado como DLC........................................................ 145 Desenho esquemtico do DLC pirotcnico da ABB [5] ........... 148 Diagrama esquemtico de um IPC com n ramos [12]............... 150 Teste 1 - Grfico de convergncia do AG................................. 151 Teste 2 - Grfico de convergncia do AG................................. 151 Teste 3 - Grfico de convergncia do AG................................. 152 Teste 4 - Grfico de convergncia do AG................................. 152 Teste 5 - Grfico de convergncia do AG................................. 153 Teste 6 - Convergncia do AG .................................................. 153 Teste 7 - Convergncia do AG .................................................. 154 Teste 8 - Convergncia do AG .................................................. 154 Teste r1 - Grfico de convergncia do AG ............................... 155 Teste r2 - Convergncia do AG................................................. 155
xii

ndice das Tabelas

Tabela 1 Tabela 2 500kV Tabela 3 Tabela 4 Tabela 5 Tabela 6 Tabela 7 permanente Tabela 8 Tabela 9 cada barra Tabela 10 Tabela 11 Tabela 12 Tabela 13 Tabela 14 cada barra Tabela 15 Tabela 16 Tabela 17 Tabela 18 Tabela 19 cada barra Tabela 20 Tabela 21 Tabela 22 Curto-circuito trifsico em Tucuru 500kV................................... 9 Contribuio de Itaipu 500kV para curto-circuito em Tucuru ....................................................................................................... 9 Valores padronizados de e X/R ................................................. 19 Principais DLCs existentes ou em fase de desenvolvimento ...... 25 Valores de DLC utilizados .......................................................... 66 Custo dos RLCs utilizados .......................................................... 78 Limite de tenso aceitvel para a operao do sistema em regime ..................................................................................................... 80 Valores de curto-circuito do caso base do IEEE14 ..................... 81 Teste 1 - Valores adotados da corrente de curto suportvel por ..................................................................................................... 84 Teste 1 - Reator inserido em barra .............................................. 85 Teste 1 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC .. 86 Teste 2 - Reator inserido em circuito .......................................... 88 Teste 2 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC .. 89 Teste 3 - Valores adotados da corrente de curto suportvel por ..................................................................................................... 91 Teste 3 - Reator inserido em barra .............................................. 93 Teste 3 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC .. 93 Teste 4 - Reator inserido em ramo .............................................. 96 Teste 4 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC .. 96 Teste 5 - Valores adotados da corrente de curto suportvel por ..................................................................................................... 98 Teste 5 - Reator inserido em barra .............................................. 99 Teste 5 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC .. 99 Teste 6 Reatores inseridos em circuitos e transformadores ... 102
xiii

Tabela 23 Tabela 24 Tabela 25 Tabela 26 Tabela 27 Tabela 28 Tabela 29 Tabela 30 Tabela 31 Tabela 32 Tabela 33 Tabela 34 Tabela 35 Tabela 36 Tabela 37 Tabela 38 Tabela 39 Tabela 40 Tabela 41 Tabela 42 Tabela 43 Tabela 44

Teste 6 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC 102 Teste 7 - Reator inserido em barra ............................................ 105 Teste 8 - Reator inserido em barra ............................................ 106 Teste 8 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC 106 Percentual do valor do curto trifsico em relao ao caso base 108 Valor da relao X/R trifsica.................................................... 109 Percentual do valor do curto monofsico em relao ao caso base ................................................................................................... 109 Valor da relao X/R monofsica .............................................. 110 Resultados dos testes com o sistema IEEE14 ........................... 111 Valores das constantes dos fatores penalidade utilizados ......... 112 Parmetros de controle e operadores genticos dos AGs.......... 112 Valores de curto-circuito das barras com equipamentos superados Teste r1 Locais escolhidos para permitir a insero dos RLCs ... ................................................................................................... 115 Teste r1 - Reatores inseridos nas barras .................................... 116 Teste r1 - Reator inserido em circuito....................................... 117 Teste r1 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC117 Teste r1 - Queda de tenso nos reatores .................................... 119 Teste r2 - Reator inserido em circuito....................................... 120 Teste r2 - Reatores inseridos nas barras .................................... 120 Teste r2 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC121 Teste r2 - Queda de tenso nos reatores .................................... 121 Resultados dos testes com o sistema da ELETROSUL ............ 123

no caso base da ELETROSUL para o ano de 2010................................................. 113

xiv

Captulo 1 Introduo
A contnua expanso dos sistemas eltricos de potncia tem procurado atender adequadamente ao aumento da demanda dos modernos parques industriais e ao crescimento dos grandes centros urbanos com a construo de novas unidades geradoras prximas aos centros de carga, ampliao das linhas de transmisso, aumento da interligao entre ramais, construo de novas subestaes e repotenciao das subestaes j existentes. Este cenrio leva a um aumento significativo das correntes de curto-circuito que podem apresentar nveis superiores aos valores nominais e de operao dos equipamentos por onde circulam. Sendo assim, alm dos problemas que estas correntes podem causar nos equipamentos diretamente envolvidos, podem ocorrer ainda solicitaes dinmicas e trmicas nas linhas, cabos, transformadores e equipamentos de manobra, capazes de comprometer a integridade do sistema ou a reduo da vida til dos equipamentos. Essas solicitaes merecem maior destaque no que se refere aos disjuntores pois, aos mesmos, cabe a misso de interromper as correntes de curto-circuito e desenergizar o equipamento com defeito. Uma soluo utilizada para reduzir o risco de danos associados a correntes de curtocircuito seria substituir todos os equipamentos superados das subestaes por outros de maior capacidade. No entanto, esse procedimento apresenta custos elevados e grande complexidade de planejamento e execuo, envolvendo risco de acidentes, erros de montagem e ainda, no perodo de transio, h uma reduo da confiabilidade da instalao devido aos desligamentos prolongados necessrios para executar as obras. So encontradas na literatura diversas tcnicas para limitao das correntes de defeito utilizando dispositivos denominados dispositivos limitadores de corrente de curtocircuito DLC [1]. Estes dispositivos permitem manter em servio os equipamentos cuja capacidade de manobra seria ultrapassada na ausncia de um processo de limitao. Na ocorrncia de curto-circuito, os DLCs atuam rapidamente limitando a corrente eltrica a

nveis suportados pelos demais componentes eltricos do sistema j instalados, evitando assim a necessidade de substituio. O problema de descobrir a melhor alternativa para insero de dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito no sistema bastante complexo, pois os mesmo podem estar localizados seccionando dois barramentos de uma subestao ou em srie com os circuitos e transformadores. Alm disso, os DLCs podem ter diversos valores e serem de diferentes tecnologias. A soluo tima para este problema a insero de DLCs no sistema com a melhor configurao possvel, isto , que resulte em custo baixo e, ao mesmo tempo, em diminuio da corrente de curto-circuito de forma que o sistema estudado no tenha mais equipamentos superados. A resoluo deste problema sem o auxlio de um programa especfico muito trabalhosa. Estudam-se diversas alternativas avaliando seu desempenho e se escolhe a melhor delas. Ainda assim, s se pode garantir que a soluo escolhida seja a melhor entre as alternativas estudadas que, muitas vezes, no retratam todas as situaes possveis. Alm disso, este trabalho exige tempo e a utilizao de uma equipe com conhecimentos especficos. Na literatura, os mtodos propostos para inserir limitadores de corrente de curto-circuito no sistema apresentam procedimentos prticos para a soluo do problema, porm sem buscar a soluo tima [2], [3], [4] e [5]. A soluo proposta nesta dissertao o desenvolvimento de uma metodologia que automatize a tarefa de fazer a alocao tima de DLCs em redes de energia eltrica. Matematicamente, este um problema de otimizao complexo, de variveis inteiras, difcil de ser solucionado por mtodos tradicionais de otimizao. Por isso, so utilizados Algoritmos Genticos como mtodo de otimizao. A cada resultado encontrado pela metodologia feito, separadamente, o estudo de fluxo de potncia do sistema para averiguar se o resultado proposto se comporta em regime permanente sem violar as restries de operao. Os estudos para avaliar a metodologia proposta so realizados em dois sistemas: o sistema IEEE14 barras e o sistema eltrico da ELETROSUL. Este ltimo foi escolhido porque j tem, atualmente, problemas de disjuntores que esto com a capacidade de interrupo de curto-circuito superada, conforme divulgado em [6].

1.1 Objetivos
Esse trabalho apresenta o desenvolvimento de uma metodologia para auxiliar nos estudos de limitao de curto-circuito atravs da alocao tima de DLCs em sistemas com problemas de superao de equipamentos por corrente de curto-circuito. A deteco da superao feita somente para disjuntores, atravs da anlise tanto do mdulo da corrente de curto-circuito que o disjuntor deve interromper como tambm da relao X/R do sistema. Desta forma, possvel avaliar a superao pela componente simtrica e assimtrica da corrente de curto-circuito. Os tipos de curto considerados so os trifsicos e os monofsicos. Para solucionar o problema das subestaes com disjuntores superados, estudada a insero no sistema de um tipo de DLC denominado Reator Limitador de Curto-Circuito RLC, pelo fato do RLC ser de grande uso no Brasil. A insero de RLCs pode ser feita em srie com circuitos e transformadores ou seccionando barramentos. O processo de otimizao feito baseado em Algoritmos Genticos pois os mesmos so capazes de fazer a busca em um espao de soluo mais abrangente, logo, com mais probabilidade de encontrar o timo global. Alm disso, os Algoritmos Genticos no necessitam de estimao sobre um ponto de partida da regio de soluo. So consideradas diversas alternativas para a implementao do Algoritmo Genticos visando obter um melhor desempenho do mtodo. A soluo tima encontrada pela metodologia deve ser aquela com menor custo e maior reduo do curto-circuito no sistema de forma que, aps a insero de RLCs, o sistema no tenha mais problemas de equipamentos superados. O programa computacional desenvolvido implementado no MATLAB e, para a aplicao dos Algoritmos Genticos, utiliza-se a toolbox Genetic Algorithm, tambm do MATLAB [7]. A ferramenta utilizada para fazer o clculo do curto-circuito no sistema e identificar automaticamente as subestaes que esto com equipamentos superados o programa ANAFAS [8] pelo fato desta ferramenta ser adotada no setor eltrico brasileiro. Desta forma, visa-se permitir que os especialistas no setor tenham uma ferramenta computacional compatvel com as bases de dados utilizadas nos estudos de curto-circuito.

Tambm para manter a compatibilidade com a base de dados existente no setor, utiliza-se, para anlise em regime permanente, o programa ANAREDE [9].

1.2 Reviso Bibliogrfica

Nos tempos atuais, a procura pelo tema abordado neste trabalho est crescendo visto que muitos equipamentos existentes no sistema eltrico no foram projetados para atender grande expanso da rede, estando muitos deles superados atualmente ou com previso de superao em breve. Informaes sobre os dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito so encontradas na literatura. [10] introduz o problema da limitao da corrente de falta, descreve o comportamento dos dispositivos limitadores de corrente em geral, mostrando suas principais aplicaes, os locais de instalao dos DLCs e suas vantagens. Tambm cita os efeitos que o DLC causa no sistema e vice-versa. [11] faz um apanhado geral de aplicao de limitadores de curto apresentando os principais locais de instalao. [12] descreve as solues gerais para limitao de correntes de curto apresentando os principais DLCs existentes no momento e d nfase no IPC Interphase Power Controller. O problema da superao dos limites de interrupo de correntes de curtocircuito de disjuntores, devido entrada em operao de novas unidades geradoras, apresentado. [13] cita que a conexo de produtores independentes rede bsica contribui para o aumento da corrente de curto-circuito para nveis no previstos anteriormente em estudos de planejamento longo prazo. So descritas diversas solues para o problema, entre elas, os dispositivos limitadores de corrente de curto. So abordadas as novas tecnologias disponveis ou em fase de desenvolvimento como os DLCs supercondutores e os DLCs pirotcnicos. [1] e [14] fazem uma reviso bibliogrfica da literatura a respeito dos DLCs e, em especial, dos Relatrios do ONS. Detm-se no exame dos dispositivos mais promissores para uma aplicao imediata no Brasil, e buscam atualizar as perspectivas de desenvolvimento e comercializao de novos dispositivos.

[15] apresenta a experincia de FURNAS na limitao das correntes de curtocircuito e faz um breve levantamento das tecnologias disponveis e em fase de desenvolvimento nessa rea. Ao mesmo tempo, analisa situaes em que a prtica da limitao das correntes de curto-circuito vem se tornando cada vez mais necessria, para viabilizar novos empreendimentos de gerao, com a conexo de produtores independentes rede bsica. [4] estuda a aplicao de DLCs em subestaes da rea Rio que sofrem com o aumento da corrente de curto devido implantao de novas geraes trmicas na regio. Os dispositivos considerados so os que j apresentam experincia operativa em situaes semelhantes. O relatrio busca solues aderentes ao planejamento de mdio e longo prazos, privilegiando aquelas que no imponham restries operativas ao sistema, quando em condio normal de funcionamento, e que possam at mesmo reverter alteraes topolgicas porventura j executadas em carter emergencial. Tambm desenvolve uma sistemtica de estudos para questes dessa natureza, delineando uma metodologia aplicvel a outras reas com problemas similares. [3] apresenta uma retrospectiva da recapacitao procedida na subestao de Mogi das Cruzes 345/230 kV, com nfase na anlise realizada para incluso de reatores limitadores de corrente. Mostra que os RLCs foram eficientes na reduo de custos de substituio de chaves e disjuntores bem como de reforos nos barramentos e malha de terra, ao limitarem o efeito proveniente das correntes de curto-circuito. [5] trata especialmente do DLC pirotcnico indicando suas caractersticas e descrevendo seu princpio de funcionamento atravs de um exemplo real. Muitos artigos abordam o desenvolvimento de novas tecnologias como soluo para contornar os altos nveis de curto-circuito presentes nos sistemas eltricos atuais. Particularmente, [16] apresenta a tecnologia de FACTS para uso como limitador de curtocircuito e cita suas vantagens. [17] faz uma breve descrio da utilizao do TPSC Thyristor Protected Series Compensation para limitar a corrente de curto e [18] apresenta o TCSC Thyristor Controlled Series Capacitor como limitador de curto-circuito informando suas principais caractersticas e demonstrando seu comportamento. O conceito dos limitadores de curto-circuito baseados em supercondutores abordado em [2], [19], [20], [21] e [22].

Foi feita tambm uma pesquisa da teoria sobre curto-circuito e equipamentos de proteo onde se destacam os livros [23], [24], [25], [26], [27], [28] e [29]. Em especial, [23] explica como se identifica a superao dos equipamentos por corrente de curto-circuito e descreve vrios mtodos para eliminar a superao tal como: seccionamento de barras realizado por meio de chaves, reator ou DLC, interligao de redes atravs de sistema de corrente contnua, transformador de maior reatncia, entre outros. Quando no for possvel limitar a corrente de curto, o livro indica algumas formas de resolver o problema, entre elas destacam-se: a permuta dos disjuntores, compra de novos equipamentos e modificaes nos disjuntores para aumentar sua capacidade de interrupo. Entre os assuntos relacionados superao de equipamentos, o relatrio [6] apresenta os nveis de curto-circuito verificados e esperados no horizonte 2005-2007 nas barras do Sistema Interligado Nacional, indicando a relao X/R destas barras e apresentando um diagnstico daquelas que esto com possveis problemas de superao da capacidade de interrupo dos disjuntores. [30], [31] e [32] abordam algumas diretrizes e critrios para anlise de superao de equipamentos, [33] foi elaborado para tratar especialmente das medidas mitigadoras para a superao de equipamentos de alta tenso, [34] introduz a metodologia de clculo da tenso de restabelecimento transitrio para estudos de superao de disjuntores e [35] mostra como a componente assimtrica de curtocircuito pode influenciar na capacidade de interrupo dos disjuntores. [36] apresenta a metodologia adotada na CHESF para analisar a superao de disjuntores devido a corrente de curto-circuito e tenso de restabelecimento transitria. Como a ferramenta utilizada para clculo de curto-circuito foi o ANAFAS, informaes gerais sobre este programa foram adquiridas no manual do usurio [37] e no artigo [8]. Como o mtodo desenvolvido nesta dissertao faz uso de Algoritmos Genticos, foi feita uma pesquisa bibliogrfica sobre o tema, sendo que os documentos [38], [39] e [40] abordam a teoria de Algoritmos Genticos, [41] apresenta a resoluo de problemas de otimizao usando evoluo simulada, faz comparao com os mtodos clssicos e descreve os princpios bsicos do AG tais como: codificao e funo de aptido. Apresenta tambm os operadores de seleo, cruzamento e mutao utilizados nos Algoritmos Genticos assim como o processo de convergncia do mtodo.

[7], [42] e [43] introduzem os conceitos da ferramenta de Algoritmos Genticos existente para ser usada no MATLAB, descrevendo seus principais elementos e estrutura de dados, alm de dar uma viso geral da teoria de Algoritmos Genticos.

1.3 Estrutura do Trabalho

Este trabalho est dividido em 6 captulos, onde o Captulo 1 traz a introduo, contendo as consideraes iniciais sobre o problema e a reviso bibliogrfica. No Captulo 2 mostrada a teoria de superao de equipamentos, necessria para definio das premissas utilizadas no trabalho. So mostrados os conceitos atuais para determinar a superao de um equipamento e as medidas que devem ser tomadas para evitar a superao. Tambm neste captulo, so apresentadas as caractersticas dos dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito, indicando os possveis locais de instalao. O Captulo 3 dedicado s caractersticas dos Algoritmos Genticos. O Captulo 4 aborda o modelo matemtico desenvolvido e o Captulo 5 apresenta os resultados obtidos nos testes com o mtodo proposto. As concluses e sugestes de trabalhos futuros so mostradas no Captulo 6. No Apndice A mostrada a teoria bsica de curto-circuito e, no Apndice B, a sntese dos principais dispositivos encontrados na literatura. Finalmente, o Apndice C apresenta os grficos de convergncia do algoritmo para os testes realizados.

Captulo 2 Superao de Equipamentos e Dispositivos Limitadores de Corrente de Curto-Circuito

Os estudos de curto-circuito so de grande importncia para os sistemas de potncia pois possibilitam a seleo de disjuntores e dos demais dispositivos de proteo. Atravs de estudos de curto-circuito, possvel determinar se um equipamento est ou no com a capacidade de suportar curto-circuito superada. Assim, interessa saber a corrente mxima a que os equipamentos podem ser expostos, durante condies de faltas simtricas e assimtricas. Caso a corrente mxima indicada nos estudos de curto-circuito for superior capacidade de determinado equipamento, medidas corretivas devem ser adotadas para limitar a corrente de curto-circuito no local estudado. O mtodo de clculo dos diferentes tipos de curto-circuito est apresentado no Apndice A.

2.1 Contribuies das Correntes de Curto-Circuito

O curto-circuito em uma determinada barra influencia significativamente apenas a regio que est prxima eletricamente desta barra. Isso faz com que as usinas, mesmo as de grande porte, s contribuam significativamente no valor do curto-circuito nas barras localizadas em suas vizinhanas. Logo, diferentemente do que acontece com os estudos de fluxo de potncia, os estudos de curto-circuito podem ser realizados analisando localmente a regio de interesse. Como exemplo, Itaipu a maior usina hidreltrica do mundo. Abastece o Brasil e o Paraguai com 18 mquinas de 700MW dando um total de 12.600 MW. Tucuru a maior hidreltrica 100% brasileira, com capacidade total de 6.870 MW (dados de agosto de 2005) e previsto para atingir 8.370 MW em 2007. Se for aplicado curto-circuito trifsico em uma das barras de 500kV de Tucuru, o resultado ser o seguinte para o ano de 2005: 8

Tabela 1

Curto-circuito trifsico em Tucuru 500kV

Nome da Barra (Nmero) Tucurui 500 (3000)

Curto-Circuito Trifsico Mdulo (MVA) 25.218,28 ngulo (grau) -89,13

Atravs do clculo das correntes de contribuio utilizando o programa ANAFAS, pode-se concluir que a contribuio da barra de 500kV de Itaipu CA para um curto-circuito trifsico em Tucuru 500kV desprezvel, conforme mostrado na Tabela 2. Isto acontece visto que as duas usinas esto distantes eletricamente uma da outra, o que mostra que o estudo de curto-circuito pode ser feito analisando apenas algumas vizinhanas a partir do ponto de falta.
Tabela 2 Contribuio de Itaipu 500kV para curto-circuito em Tucuru 500kV

Nome da Barra de (Nmero) Itaipu 500 (209) Itaipu 500 (209) Itaipu 500 (209) Itaipu 500 (209) Itaipu 500 (209)

Nome da Barra para (Nmero) F Iguau 500A (228) F Iguau 500B (229) F Iguau 500C (230) F Iguau 500D (231) Referncia (0)

Curto-Circuito Trifsico Mdulo (MVA) -0,8 -0,7 -0,7 -0,7 3,0 ngulo (grau) -74,4 -74,4 -74,4 -74,3 -74,4

2.2 Superao de Subestaes e Equipamentos

Os equipamentos eltricos devem ser dimensionados para suportarem as ampliaes que ocorrerem no sistema durante o perodo de tempo em que ficam em operao [23]. Os subsdios necessrios para a definio das caractersticas nominais desses equipamentos so fornecidos por estudos de planejamento do sistema a longo prazo. Entretanto, durante o tempo em que o equipamento estiver em operao, possvel que ocorram mudanas na configurao do sistema que no haviam sido previstas no planejamento original tornandose necessrio averiguar periodicamente se a capacidade nominal do equipamento atende s solicitaes impostas pelo sistema. No caso de ser detectada alguma superao da caracterstica nominal, devem ser estudadas medidas que evitem ou pelo menos adiem a troca do equipamento. A deteco da superao de subestaes e equipamentos feita levando-se em conta os seguintes critrios: Superao por corrente de carga Superao de disjuntores por Tenso de Restabelecimento Transitria (TRT) Superao por corrente de curto-circuito

A seguir abordada uma breve descrio sobre cada um destes critrios e os mtodos para evitar a superao. 2.2.1 Superao por Corrente de Carga A superao por corrente de carga, tambm chamada de sobrecarga, caracterizada pela ocorrncia de correntes superiores corrente nominal do equipamento para o sistema operando com sua rede completa ou em condio de emergncia. Para evitar a ocorrncia de sobrecarga, nada se pode fazer a no ser a execuo de obras para expanso do sistema. Antes da execuo de obras, o procedimento mais comum a ser adotado deve ser a comprovao ou no da superao, que pode ser detectada pelo refinamento dos resultados. Como exemplo, se a sobrecarga detectada apenas para condies de emergncia crtica significa que a possibilidade de ocorrer sobrecarga pequena e, caso ocorra, pode ser por

10

curta durao. Neste caso, para ocorrer superao, necessrio que o momento em que ocorre a emergncia coincida com o instante de ocorrncia das condies de carga que tornam essa emergncia crtica.

2.2.2

Superao de Disjuntores por Tenso de Restabelecimento Transitria A capacidade de interrupo de faltas por um disjuntor caracteriza as condies

mais severas para as quais, na ocorrncia de um defeito, o equipamento tenha um desempenho satisfatrio ao interromper o curto-circuito. O bom desempenho do disjuntor depender tanto da intensidade da corrente de falta como tambm da magnitude e taxa de crescimento da tenso de restabelecimento a ele aplicada em seguida a interrupo. Logo, para a anlise da superao do disjuntor, deve-se considerar no s a corrente de curtocircuito como tambm a tenso de restabelecimento transitria. A tenso de restabelecimento transitria (TRT) a diferena de potencial entre os terminais do disjuntor que se estabelece aps a separao eltrica dos seus contatos em seguida interrupo de uma corrente j que, aps o acionamento mecnico dos contatos no perodo anterior ao amortecimento das oscilaes, existe o afastamento dos mesmos, mas a conexo eltrica se mantm atravs do arco eltrico que rompe concomitante ao incio do afastamento. A superao do disjuntor por TRT fica caracterizada pela ultrapassagem dos valores de suportabilidade dieltrica ou trmica do seu meio de extino do arco, ou seja, quando, considerada a abertura do disjuntor, a tenso entre os contatos imposta pelo sistema for superior especificada, seja por magnitude ou por taxa de crescimento. As suportabilidades dos disjuntores tenso de restabelecimento transitria e taxa de crescimento da TRT (TCTRT) devem ser comparadas com os valores fornecidos por estudos de transitrios eltricos devidos a manobras de abertura de correntes de curtocircuito. Embora a TRT seja funo da corrente de curto-circuito, existem casos em que o disjuntor pode estar superado por TRT sem que esteja por corrente de curto-circuito. A possibilidade de superao dos disjuntores por TRT deve ser investigada quando o curto-circuito no local for igual ou superior a 90% da capacidade de interrupo do disjuntor. Para essas magnitudes de corrente de falta, a recuperao do meio dieltrico entre 11

contatos aps a interrupo de um curto-circuito pode ser insuficiente para suportar as solicitaes impostas pela rede (valor de pico ou taxa de crescimento da TRT). nessa situao que h maior risco de haver uma reignio entre contatos por TRT, aps a extino da falta, acarretando a danificao do disjuntor. De uma forma geral, um aumento na indutncia do sistema contribui para elevar o valor de pico da TRT enquanto que um acrscimo na capacitncia provoca diminuio na TCTRT. Sendo assim, uma possvel medida utilizada quando ocorre superao do disjuntor por TRT a instalao de capacitores no lado da fonte, para o caso de faltas terminais (ocorridas praticamente sobre os terminais dos disjuntores), ou no lado da linha, para faltas quilomtricas (ocorridas sobre linhas de transmisso distncia de poucos quilmetros do disjuntor).

2.2.3

Superao por Corrente de Curto-Circuito Durante a ocorrncia de curto-circuito na rede, os equipamentos devem ser capazes

de suportar todas as solicitaes de corrente que surgirem at o instante em que os disjuntores atuarem isolando o trecho em que ocorreu a falta. Os prprios disjuntores precisam atuar com rapidez, a fim de minimizar os efeitos da falta sobre o resto do sistema. Os mesmos devem ser capazes tanto de abrir um circuito em falta como tambm de interromper as correntes que surgirem quando, em manobra de fechamento, estabelecerem novamente o curto-circuito. A corrente de curto-circuito constituda por uma componente peridica, geralmente referida como componente CA, e uma componente aperidica, freqentemente denominada componente unidirecional ou CC. Durante o processo de interrupo de um curto-circuito por um disjuntor trifsico, as correntes em duas ou nas trs fases tero certo grau de assimetria, que depender do tipo de falta e do instante de sua ocorrncia. Como o processo de interrupo em cada plo do disjuntor independente dos demais, necessrio que cada plo seja capaz de operar satisfatoriamente na eventualidade da ocorrncia simultnea dos valores mais desfavorveis possveis das componentes CA e CC na respectiva fase. A Figura 1 mostra a evoluo da corrente assimtrica de curto-circuito (If), formada pela soma das componentes CA e CC, ao longo do tempo. Atravs desta figura, 12

possvel visualizar os parmetros que devem ser definidos numa especificao para garantir a operao correta do disjuntor nessas condies.

Figura 1

Evoluo da corrente assimtrica de curto-circuito (If) ao longo do tempo

onde: t1 instante de ocorrncia da falta; t2 instante de energizao da bobina de abertura do disjuntor; t3 instante da separao dos contatos do disjuntor; t4 instante de interrupo da corrente; tp tempo de atuao da proteo; tab tempo de abertura do disjuntor; tarc tempo de durao do arco eltrico; ti tempo de interrupo da falta pelo disjuntor; te tempo para eliminao da falta; ICA(pico) valor de crista da componente CA da corrente de falta;

13

ICC0 valor inicial da componente CC da corrente de falta (notar que, para a condio de mxima assimetria admitida, ICC0 = ICA).

A corrente de curto-circuito apresenta as seguintes caractersticas: A parte inicial da senoide deslocada em relao ao eixo dos tempos, em A magnitude da componente alternada (CA) decai exponencialmente com o

razo da componente contnua (CC) que decai exponencialmente com o tempo. tempo em funo das reatncias subtransitrias, transitrias e sncronas dos geradores e das tenses atrs dessas impedncias. A Figura 2 mostra os primeiros ciclos de uma tpica corrente de curto-circuito que o disjuntor deve interromper.

If

Figura 2

Corrente tpica de curto-circuito

A corrente mais assimtrica ou menos assimtrica, isto , mais deslocada

ou menos deslocada em relao ao seu eixo, dependendo do instante da falta. Assim, uma corrente de curto-circuito ser simtrica quando, em razo do instante de ocorrncia da falta, a componente unidirecional for nula. A superao por curto-circuito caracterizada pela ocorrncia de correntes de curtocircuito, simtricas ou assimtricas, com magnitudes superiores quelas definidas como nominais para os equipamentos em anlise, em condies normais e de emergncia [30]. A 14

anlise da superao por curto-circuito deve ento ser realizada atravs do estudo das correntes de curto-circuito simtricas e assimtricas.

2.2.3.1 Superao por corrente simtrica de curto-circuito Neste caso, a superao se d quando a corrente simtrica de defeito mxima esperada no local for superior corrente nominal de curto suportada dos equipamentos. Devem ser avaliados os nveis das correntes de curtos-circuitos monofsicos e trifsicos. Nos estudos finais, a anlise da superao de equipamentos, mais especificamente de disjuntores, deve ser feita para a condio mais severa de curto-circuito que pode acontecer em trs situaes.

(1)

Curto na barra

If2 If3 If4

Barra 1

If1
DJ1 Linha 1

Icurto = If1+If2+If3+If4
Figura 3 Contribuio das correntes para curto na barra 1

Para ocorrncia de curto-circuito na barra, a corrente que passa pelo disjuntor ser igual corrente de contribuio do circuito onde o equipamento est conectado. Como exemplo, no caso da Figura 3:

15

IDJ1 = If1

(2.1)

(2)

Curto na linha

Para curto-circuito na linha, deve-se considerar a reduo da contribuio do prprio circuito na corrente de falta terminal mxima que cada disjuntor ir interromper, ou seja, da corrente mxima de curto na subestao dever ser subtrada a parcela da corrente de falta que passa pelo circuito alimentado pelo disjuntor em anlise, para se determinar a corrente de falta mxima que dever ser interrompida por cada disjuntor da subestao.

If2 If3 If4

Barra 1 If2+If3+If4

If1
Linha 1

DJ1

Icurto = If1+If2+If3+If4
Figura 4 Contribuio das correntes para curto-circuito na linha 1

Note pela Figura 4 que o defeito que o disjuntor 1 deve ser capaz de interromper corresponde corrente total de curto-circuito menos a contribuio da linha 1: IDJ1 =Icurto If1 = If2 + If3 + If4 (2.2)

(3)

Condio de line-out

Esta situao ocorre quando o curto aplicado na sada de linha que est com a extremidade oposta aberta, conforme indicado na Figura 5. 16

If2 If3 If4

Barra 1
If2+If3+If4

Extremidade da Linha 1 aberta

DJ1

Linha 1

Icurto = If2+If3+If4
Figura 5 Contribuio das correntes de curto-circuito para condio de line-out

Estudos indicam que, na maioria dos casos, a condio de line-out a mais severa pois o disjuntor dever interromper toda a corrente de falta [23], ou seja: IDJ1 =Icurto (2.3)

2.2.3.2 Superao por corrente assimtrica de curto-circuito A verificao da superao por corrente assimtrica de curto-circuito deve ser feita analisando o valor de e, conseqentemente, da relao X/R do sistema, conforme ser mostrado a seguir. A corrente total de curto-circuito assimtrica representada pela equao: Iassimtrica (%) = 100 Isimtrica (1+ e-t/) (2.4)

Onde t o tempo contado a partir do incio da falta (antes da abertura do disjuntor), Isimtrica a corrente de curto-circuito simtrica e a constante de tempo do circuito visto

17

dos terminais do disjuntor. Observa-se pela Equao (2.5) que funo da relao X/R da rede, vista do ponto de falta.
X wR

(2.5)

Sendo que:
w = 2f f = 60 Hz

(2.6) (2.7)

X - reatncia equivalente de Thvenin vista do ponto de falta R - resistncia equivalente de Thvenin vista do ponto de falta O valor da componente unidirecional (CC) da corrente de curto-circuito (responsvel pela assimetria da corrente), decai exponencialmente conforme a equao: Icc (%) = 100 e-t/ (2.8)

Na Figura 6 mostrada a curva de decaimento exponencial da componente contnua da corrente de curto-circuito em funo do tempo. Pela figura, possvel observar a influncia da relao X/R do sistema na composio da corrente de curto-circuito ao longo do tempo. Nota-se que a relao X/R pode influenciar diretamente na capacidade de interrupo de curto-circuito de um equipamento pois quanto maior for essa relao, mais lento o decaimento da corrente, logo, maior ser a componente unidirecional desta corrente. A forma de onda da corrente de curto-circuito em funo do tempo pode ser obtida diretamente atravs da utilizao de programas convencionais de clculo de transitrios eletromagnticos, onde pode ser adotada a representao trifsica da rede em estudo, por meio de suas resistncias e reatncias a 60Hz [23].

18

Figura 6

Componente CC numa corrente de curto-circuito assimtrica, a partir do incio da falta

A Tabela 3 apresenta os valores de correspondentes aos valores X/R apresentados na Figura 6.

Tabela 3 Valores padronizados de e X/R

(ms)
X/R

45 16,96

60 22,62

75 28,28

120 45,24

Atualmente, com a instalao de novas usinas trmicas em locais prximos aos grandes centros de carga, os nveis de corrente de curto-circuito esto alcanando patamares prximos a 90% da capacidade de interrupo simtrica dos disjuntores [35]. Como a relao X/R tambm tem aumentado, esses disjuntores j podem estar superados pelos valores assimtricos das correntes de curto-circuito. Sendo assim, importante fazer a anlise da superao de disjuntores levando em conta no apenas a corrente de curto simtrica como tambm a relao X/R do sistema. Segundo [30], a identificao do potencial de superao de disjuntores por correntes simtricas e assimtricas se d, de 19

forma simplificada, pela verificao de um dos cinco critrios listados nas Inequaes (2.9) a (2.13). X/R < 16,96 e Icurto > 90% Icurton 16,96 < X/R < 22,62 e Icurto > 85% Icurton 22,62 < X/R < 28,28 e Icurto > 80% Icurton 28,28 < X/R < 45,24 e Icurto > 70% Icurton X/R > 45,24 (2.9) (2.10) (2.11) (2.12) (2.13)

Sendo que Icurto a corrente simtrica calculada atravs de um programa para clculo de curto-circuito e Icurton a corrente nominal de curto-circuito suportada pelo disjuntor. Se qualquer um dos critrios listados for atingido, significa que o disjuntor est em estado de alerta, com possibilidade de estar superado. Os mtodos adotados para limitar o curto-circuito e evitar a superao de equipamentos esto apresentados no item a seguir.

2.3 Medidas Adotadas para Limitar o Curto-Circuito

Quando for detectada superao de equipamentos por corrente de curto-circuito, as medidas adotadas para limitao da corrente de defeito podem ser divididas em: Medidas operativas Modificao da configurao da rede Recapacitao da subestao e substituio dos equipamentos Utilizao de dispositivos limitadores de curto-circuito

A seguir ser feita a abordagem de cada uma delas.

20

2.3.1

Medidas Operativas Geralmente so medidas simples e de baixo custo que devem ser tomadas de forma

provisria at que se desenvolva uma alternativa definitiva para o problema. Seccionamento de barra Com o seccionamento de barras, ocorre o aumento das impedncias de seqncia positiva, negativa e zero provocando reduo dos nveis de curto-circuito. A Figura 7 apresenta o seccionamento de um barramento onde as barras A e B foram divididas nas sees A1 e A2, e B1 e B2, respectivamente, para limitar o nvel de curto-circuito.

Barra B2

Barra B1

Barra A2

Barra A1

Figura 7

Limitao do curto com seccionamento de barra [23]

O ponto de seccionamento deve ser, preferencialmente, o vo do disjuntor de interligao, para que este possa ser utilizado em qualquer das duas sees do barramento, conforme figura anterior. Para que as perdas no fiquem elevadas, necessrio balancear a diviso de cargas entre as duas sees. Caso isto no seja possvel, o aumento nas perdas inevitvel. Alm disso, o seccionamento de barra provoca reduo da confiabilidade do

21

sistema pois as duas sees do barramento podem ficar com tenses diferentes e a carga mais importante poder no estar na seo mais confivel. By-pass de linhas nas SEs Quando um barramento est com o nvel de curto-circuito superado, pode-se verificar a possibilidade de by-passar algum circuito que est ligado neste barramento, conforme Figura 8. O objetivo fazer com que a linha by-passada no contribua para o curto-circuito na subestao, reduzindo assim o nvel de curto-circuito no barramento.

Subestao com equipamentos superados devido ao nvel de curto-circuito

By-pass de linha 1 2 3

Figura 8

Exemplo de by-pass de linha

Semelhante ao que ocorre com o seccionamento de barra, o by-pass de linhas provoca a radializao da rede e conseqente reduo da confiabilidade do sistema. 22

 Chaveamento seqencial A abertura seqencial se d de forma que o disjuntor que estiver com sua capacidade superada atue somente aps a abertura de outro disjuntor. Assim, a operao do disjuntor com capacidade superada se daria com um nvel de curto-circuito mais baixo. Desligamento de geradores Com esta medida, evita-se a contribuio desses geradores para o curto-circuito.

2.3.2

Modificao da Configurao da Rede So mtodos desenvolvidos para alterarem a impedncia total da rede. Modificao da rede de seqncia zero do sistema Esta medida adotada para limitar apenas a corrente de curto-circuito monofsico o

que a torna uma soluo vlida somente quando o curto monofsico for maior do que o trifsico. Pela Equao (A.28) indicada no Apndice A, supondo que Zmm(1) = Zmm(2), tem-se para curto monofsico:

I curto =

2Z mm (1)

3E + Z mm ( 0 ) + 3Z f

(2.14)

Pela Equao (A.27) do Apndice A, sabe-se que, para curtos trifsicos:

I curto =

E Z mm (1) + Z f

Nota-se que o curto-circuito monofsico maior do que o trifsico quando:

23

Zmm(0) < Zmm(1)

(2.15)

A modificao da seqncia zero do sistema pode ser feita pelas formas descritas a seguir: Desaterramento de transformadores Introduo de resistores ou reatores para aterramento do neutro dos transformadores Introduo de impedncias nos deltas dos tercirios

Utilizao de Transformadores de Maior Reatncia Ao se instalar um novo transformador, utiliza-se impedncia maior do que a usual a fim de aumentar a impedncia do sistema para limitar a corrente de curto-circuito.

2.3.3

Recapacitao das Instalaes e Substituio dos Equipamentos Neste caso, feita a troca ou recapacitao de todos os elementos superados da

subestao, o que significa que, alm do disjuntor, h a necessidade de verificar a superao de chaves seccionadoras, transformadores de corrente, barramentos, cabos pra raios, entre outros. Tambm deve ser avaliado o estado da malha de terra e dos cabos de aterramento. Para saber se a medida vivel ou no, deve-se analisar o custo da substituio ou recapacitao dos equipamentos assim como o tempo necessrio para a realizao das obras. Para fazer o clculo do custo total necessrio incluir, alm da compra dos equipamentos, a readaptao da subestao e os custos da instalao e substituio dos equipamentos associados. Isso faz com que, muitas vezes, o custo total da recapacitao torna o empreendimento invivel. Alm disso, para recapacitar uma subestao so necessrios diversos desligamentos a fim de executar todas as trocas dos equipamentos. 24

Ainda assim, em alguns casos, recapacitar os equipamentos pode ser a melhor alternativa para limitao de curto-circuito devido falta de espao para instalao de DLC (como por exemplo, quando a subestao est localizada em reas urbanas altamente valorizadas) ou devido ao fato das subestaes serem muito antigas, sendo necessria a troca de equipamentos em curto espao de tempo.

2.3.4

Utilizao de Dispositivos Limitadores de Curto-Circuito (DLCs) Os DLCs tm a finalidade de limitar as correntes de curto-circuito quando seus

valores mximos podem ser superiores s caractersticas nominais das instalaes existentes. Na maioria das vezes, so mtodos definitivos utilizados quando a substituio de todos os equipamentos superados no possvel ou economicamente invivel. A Tabela 4 [14] apresenta alguns dispositivos existentes no mercado ou que esto em fase de desenvolvimento.
Tabela 4 Principais DLCs existentes ou em fase de desenvolvimento

DLCs disponveis no mercado com ampla experincia de uso Reator com ncleo de ar Dispositivo Pirotcnico Elos de CC: Conexo back-to-back HVDC Light

DLCs disponveis no mercado com experincia de uso ainda limitada Transformadores especiais (IPC) Supercondutores (mdia e baixa tenso) TCSC

DLCs em fase de pesquisa e desenvolvimento Disjuntores eletrnicos de abertura rpida Supercondutores (alta tenso)

As caractersticas desejveis dos DLCs so: Impedncia baixa ou nula durante a operao normal do sistema; Impedncia alta sob condies de falta; Transio rpida do modo normal para o modo limitador; Recuperao rpida do modo normal depois da interrupo de uma falta; 25

Baixas perdas; Compatibilidade com os esquemas de proteo existentes ou planejados; Alta confiabilidade durante longos perodos; Baixa necessidade de manuteno; Baixo impacto no meio ambiente; No provocar deteriorao no comportamento durante a vida til; No provocar danos vida humana; Volume e pesos limitados; Baixo custo.

Obviamente, o DLC ideal no existe, mas deve-se buscar ao mximo atender a esses requisitos.

2.3.4.1 Comportamento dos DLCs Quanto Interrupo de Corrente O DLC age interrompendo a corrente de curto ou apenas limitando-a para que o disjuntor faa a interrupo. No primeiro caso, a interrupo da corrente deve ser feita em tempos extremamente rpidos de tal forma que o mximo valor assimtrico da corrente de curto-circuito fique bastante reduzido. No segundo caso, ocorre a insero de uma impedncia elevada no momento do curto, reduzindo a corrente de curto-circuito de forma que o disjuntor da subestao atue interrompendo a corrente de falta. Entre os DLCs que agem interrompendo a corrente de curto-circuito, destacam-se os dispositivos pirotcnicos e os disjuntores eletrnicos e, entre os que apenas limitam a corrente, esto os RLCs, os dispositivos FACTS, os transformadores especiais (IPC) e os dispositivos a supercondutores. A Figura 9 descreve o comportamento dos DLCs para ocorrncia de curto-circuito em t = 0. O DLC da curva a) age apenas limitando a corrente de curto e o dispositivo da curva b) age limitando com interrupo da corrente de falta.

26

Figura 9

Comportamento dos DLCs [10]

onde: curva a) curva b) t=0 ta td ponto 1 ponto 2 ponto 3 ponto 4 ponto 5 DLC que age apenas limitando a corrente de curto-circuito; DLC que age interrompendo a corrente de curto-circuito; instante de ocorrncia do curto; tempo para limitao da corrente de falta; tempo para interrupo da corrente de falta; valor de pico da corrente antes do curto-circuito; corrente iniciante; corrente limitada; valor de pico da corrente de curto; corrente resultante depois do DLC agir limitando a corrente.

Pela figura anterior, observa-se que a corrente se comporta em regime permanente com valor de pico dado no ponto 1. No instante t=0, d-se incio a um curto-circuito cuja corrente atingiria o ponto 4, caso no fosse interrompida ou reduzida por um DLC. No caso da curva b), o DLC necessita de um tempo igual a ta para iniciar a limitao da corrente de curto-circuito e depois iniciar sua interrupo. O processo de limitao somado ao de interrupo tem durao de td. Aps este tempo, a corrente de curto-circuito

27

completamente interrompida, ficando seu valor em zero at que o sistema seja restabelecido. Para o caso da curva a), o DLC limita a corrente em um tempo igual a ta. Depois, a corrente limitada se comporta com valor de pico indicado no ponto 5, at que seja interrompida pelo disjuntor. O tempo total desde o incio do curto de td. Note que td para a curva a) maior do que td para a curva b) visto que, para a curva a), quem faz a interrupo da corrente o disjuntor.

2.3.4.2 Instalao dos DLCs Em princpio, DLCs podem ser instalados seccionando um barramento, em srie com os circuitos alimentadores ou em srie com os circuitos de sada, conforme apresentado na Figura 10. As vantagens e desvantagens de cada tipo de instalao devem ser analisadas antes da escolha da melhor localizao para estes dispositivos, dependendo do problema a ser solucionado. importante mencionar que estudos devem ser feitos para comprovar se todos os tipos de DLCs podem ser instalados em todas as posies descritas [10].

AT

~
DLC MT DLC DLC DLC DLC DLC DLC DLC DLC DLC

Figura 10

Locais de instalao de DLCs

28

Instalao de DLC Seccionando Barramentos

O DLC instalado seccionando barramentos na subestao, conforme apresentado na Figura 11, limita a contribuio de um subsistema para a corrente de curto-circuito total do sistema. Neste caso, deve ser analisada a possibilidade das cargas, nas sees de cada barramento, serem equilibradas para se evitar uma corrente de valor elevado passando pelo equipamento que est seccionando os barramentos, provocando perdas no sistema. Em muitos casos, a utilizao do RLC somente se torna viabilizada com o reposicionamento de conexes de vos de algumas LTs.

AT

MT DLC

Figura 11

DLC utilizado seccionando barramentos

As vantagens do uso de DLCs acoplando barramentos so: Permite a equalizao dos carregamentos dos transformadores em paralelo [15]; No necessrio o desligamento de nenhum dos transformadores aps o desligamento do DLC [15]; Barras separadas podem ficar unidas sem que ocorra aumento na capacidade de suportar as faltas do sistema [19];

29

A capacidade de cada barra fica disponvel para ambas as barras, fazendo assim, melhor uso da capacidade do transformador [19]; Durante a falta, uma alta queda de tenso no limitador mantm o nvel de tenso na barra que no est em falta [19].

A desvantagem do uso de DLC para acoplamento de barras que as contribuies de cada circuito no sero limitadas individualmente. Instalao de DLC em Srie com os Circuitos Alimentadores

O DLC instalado em srie com os circuitos alimentadores, conforme apresentado na Figura 12, limita a contribuio do alimentador em questo para um curto-circuito no sistema assim como tambm limita a contribuio do sistema para curtos no prprio alimentador.

AT

~
DLC MT DLC DLC

Figura 12

DLC utilizado em srie com os circuitos alimentadores

A vantagem da utilizao de DLCs em srie com os circuitos alimentadores que as contribuies individuais de cada um dos circuitos alimentadores sero limitadas [15]. A desvantagem que, como as contribuies individuais de cada um dos circuitos alimentadores ainda podem ser elevadas, as perdas totais podem ser elevadas. 30

Instalao de DLC em Srie com os Circuitos de Sada

AT

MT

DLC

DLC

DLC

DLC

Figura 13

DLC

DLC utilizado em srie com os circuitos de sada

Neste caso, ocorre a reduo da corrente de curto-circuito no alimentador no qual ser inserido o DLC. As vantagens do uso de DLCs na sada de alimentadores, como mostrado na Figura 13, so: Protege equipamentos antigos difceis de substituir como por exemplo cabos subterrneos [19]; Quando comparado com o caso anterior, resulta em menores perdas alm de proporcionar uma melhor regulao pois, nesse caso, as contribuies individuais de cada um dos circuitos de sada so menores [15]; A presena do DLC em um circuito de sada sob falta reduz a queda de tenso na barra durante o curto-circuito, aumentando conseqentemente a estabilidade das mquinas alimentadas pelos outros circuitos de sada [15].

2.3.4.3 Principais DLCs Informaes sobre os principais dispositivos existentes no mercado atualmente ou que esto em fase de desenvolvimento esto apresentadas no Apndice B. Como o 31

DLC

dispositivo utilizado neste trabalho o reator limitador de curto-circuito, ser feita uma breve descrio deste equipamento a seguir. Reator Limitador de Curto-Circuito (RLC)

Os reatores limitadores de curto-circuito a ncleo de ar (RLCs) tm sido utilizados com sucesso para reduzir a corrente de curto-circuito h alguns anos. Este reator se caracteriza por apresentar impedncia baixa em operao normal do sistema e, no momento do curto, apresenta alta impedncia, limitando o valor do curto-circuito existente na subestao. Antes da escolha pela instalao de RLCs necessria a anlise do espao fsico existente na subestao, respeitando-se as distncias mnimas exigidas face aos campos magnticos produzidos por esses equipamentos. Muitas vezes a subestao no comporta a instalao de um equipamento deste porte, principalmente quando a mesma est localizada em centros urbanos. As principais desvantagens deste equipamento so que os mesmos influenciam na operao do sistema em regime permanente pois a presena do dispositivo permanente. Sendo assim, quando a rede est com carregamento alto, a corrente que circula pelo RLC tambm alta, provocando, portanto, queda de tenso no sistema e perdas por efeito Joule. Tal circunstncia aponta para o seu emprego em redes altamente malhadas, visto que, em geral, os efeitos sobre a variao da tenso so bem menos afetados. Este um dispositivo que vem sendo utilizado no pas devido ao seu baixo custo e relativa facilidade de instalao quando comparados aos demais DLCs existentes atualmente. A Figura 14 mostra os RLCs que esto localizados na subestao de Mogi das Cruzes cujas caractersticas esto apresentadas a seguir: Localizao Linha de Interligao Itapeti-Mogi, circuito 1 Indutncia 24 mili-henry, Freqncia 60Hz Impedncia 9,048 Tenso Nominal 362 kV Corrente Nominal 2100 A 32

Corrente de Curta durao 25kA, 1 segundo para tenso do sistema igual a 362kV Valor da Crista de Curta Durao 63kA, queda de tenso 19kV Meio Isolante a seco Peso Total 15000kg Perdas por Fase 130kW Ano de Fabricao 1998

Figura 14

RLCs existentes na subestao de Mogi das Cruzes

33

Captulo 3 Introduo aos Algoritmos Genticos

3.1 Resoluo de Problemas de Otimizao
O problema de otimizao na verdade um problema de busca, que tem como alvo o ponto timo da funo. Em termos gerais, consiste em encontrar um vetor x M, onde M define a regio de solues viveis, tal que um certo critrio de qualidade f, tipicamente denominada funo objetivo, maximizado ou minimizado. Para o caso de um problema de maximizao, tem-se: Maximizar f(x) (3.1)

A funo objetivo depende diretamente do tipo de problema a ser analisado, podendo ser, para sistemas reais, de complexidade arbitrria. A soluo para a otimizao global deste problema, denominada x*, caracterizada como: x* | x M, f(x) < f(x*) onde: x x*. Quando o problema de minimizao pretende-se, por exemplo, minimizar custos ou perdas e quando de maximizao pretende-se, por exemplo, maximizar o lucro ou desempenho de algum equipamento. (3.2)

34

3.2 Algoritmos Genticos

Os Algoritmos Genticos (AGs) so mtodos de busca ou de otimizao baseados em mecanismos que procuram imitar o processo de evoluo natural das espcies. A seleo natural e a reproduo so as duas foras que em conjunto direcionam esta evoluo. Na natureza, a competio entre indivduos para obter recursos resulta na sobrevivncia dos indivduos mais aptos. Nesse processo, os genes dos elementos mais adaptados sobrevivero. A reproduo de indivduos produzir a recombinao de seus materiais genticos levando a um novo grupo de indivduos e a um novo grupo de genes [38]. Os Algoritmos Genticos so muito utilizados em problemas onde, dado um conjunto de indivduos, deseja-se encontrar aquele que melhor atenda a certas condies previamente especificadas. Cada indivduo representa uma possvel soluo para o problema. O que o Algoritmo Gentico faz procurar aquela que seja muito boa ou a melhor, visando a otimizao de uma funo especificada, denominada funo objetivo. As principais diferenas entre os AGs e os principais mtodos tradicionais de busca da soluo tima so: procuram uma populao de pontos e no apenas um nico ponto; utilizam uma funo objetivo diretamente como direo de busca e no derivadas ou outro tipo de conhecimento auxiliar; utilizam regras de transio probabilsticas e no determinsticas; operam num espao de busca codificado e no diretamente no espao de busca. Ao contrrio de outros mtodos que realizam a busca examinando um ponto de cada vez, os Algoritmos Genticos so beneficiados pelo fato de operarem sobre um conjunto de pontos (indivduos) que tm o grupo de solues candidatas, reduzindo a probabilidade de encontrar um falso mximo global, ou seja, um mximo local. Este conjunto de pontos codificados segundo a representao definida denominado de populao.

35

A populao modificada a cada iterao (gerao) do processo, atravs dos operadores genticos, de modo a encontrar os indivduos com melhor aptido. Para isso, os AGs s precisam da avaliao da funo objetivo para realizarem a busca no espao de solues viveis.

3.3 Implementao dos Algoritmos Genticos

Na implementao dos AGs, o processo iterativo, sendo que um critrio para terminar sua execuo atingir um nmero mximo de iteraes. Considerando cada iterao t como uma gerao, pode-se descrever o processo atravs do seguinte algoritmo:
incio t=0 Definir uma populao inicial P(t) Calcular a aptido de cada indivduo de P(t) Enquanto (t<= nmero mximo de iteraes) Faa Repita Selecione os indivduos mais aptos de P(t) Faa o cruzamento e a mutao gerando outros indivduos para P(t+1) Calcular a aptido dos novos indivduos de P(t+1) t = t+1 Fim Fim

O digrama de blocos do AG pode ser dado conforme a Figura 15.

36

Incio

Inicializao da Populao

Clculo da Aptido

Soluo Encontrada? No Seleo Cruzamento Mutao

Sim Fim

Figura 15

Diagrama de blocos do AG

3.4 Codificao
Uma soluo potencial de um problema pode ser representada como um conjunto de parmetros. Estes parmetros, chamados de genes, so colocados juntos para formarem uma string de valores chamada de cromossomo sendo que, na maioria das implementaes dos AGs, um indivduo corresponde a um nico cromossomo [38]. A forma mais simples de codificao feita atravs do cdigo binrio, onde cada cromossomo representado por uma seqncia de zeros e uns. Esse tipo de codificao apresenta inmeras vantagens no decorrer do processo de otimizao como tornar as operaes genticas mais fceis de serem executadas, tornar possvel o trabalho com 37

variveis que assumam valores contnuos, facilitar a variao da faixa de trabalho dos parmetros, alm de apresentar relativa simplicidade na variao da preciso dos valores de cada parmetro. Em problemas de otimizao onde as variveis assumem valores inteiros, a codificao do cromossomo fica simplificada. Dependendo do caso, desnecessrio fazer os procedimentos de codificao e decodificao pois o nmero de caracteres escolhidos pode corresponder aos valores inteiros passveis de serem assumidos pelas variveis.

3.5 Inicializao
Para iniciar o processo de procura no espao de busca, os AGs precisam de um conjunto de pontos iniciais, isto , da populao inicial. Para gerar essa populao, pode-se utilizar um processo aleatrio, heurstico ou a combinao dos dois. A vantagem do processo heurstico de poder colocar algum conhecimento do problema na populao inicial de forma a ajudar o mtodo de busca. No processo aleatrio, os genes de cada cromossomo da populao inicial so gerados aleatoriamente. Qualquer que seja o mtodo escolhido, importante que a populao inicial cubra a maior regio possvel do espao de busca.

3.6 Funo de Aptido

Os AGs necessitam do valor de uma funo que d uma medida de quo bem adaptado um indivduo est, isto , quanto maior o valor desta funo, maiores so as chances do indivduo sobreviver nas prximas geraes. Tal funo, denominada de funo de aptido, pode ser a prpria funo objetivo ou uma variao dela. Quando o problema de maximizao, a funo de aptido se confunde com a funo objetivo, e quando o problema de minimizao, a funo de aptido deve ser invertida ou sofrer um redimensionamento, pois os Algoritmos Genticos no trabalham com problemas de minimizao. Um problema que pode surgir na determinao da funo

38

de aptido o da no negatividade. O AG, por ser um mtodo probabilstico, no aceita que a funo de aptido tenha valores negativos. preciso ento deslocar toda a curva construda pelos valores desta funo, ou seja, mesma deve ser somada uma constante tal que todos os seus valores sejam positivos. Para a maioria dos problemas, existe ainda a insero de restries na funo de aptido. Este processo se faz somando funo objetivo um fator de penalidade multiplicado por uma funo penalidade nos quais so atribudas as restries do problema. Este procedimento necessrio quando algum parmetro for violado, e se deseja que a funo de penalidade atue tornando este indivduo invivel. Uma demonstrao deste mtodo pode ser visto pela Equao (3.3).

f oatual ( x) = f oantiga ( x) + r.Q( x) onde: foantiga funo objetivo original; foatual funo objetivo modificada; r Q constante de penalidade; funo de penalidade.

(3.3)

3.7 Escalamento Linear

Durante o processo de busca, interessante que nas primeiras geraes a presso seletiva seja baixa e v aumentando at as ltimas geraes, uma vez que no final do processo os indivduos tendem a ter valores de funo de aptido muito prximos. Assim, interessante que, no incio, o processo no seja to rigoroso e evite uma convergncia prematura. A forma mais usual de controlar a presso seletiva realizar o escalamento linear da funo de aptido [39]. Para um cromossomo si, o escalamento feito atravs da Equao (3.4).

39

fap(si) = fap(si) + onde: fap(si) funo de aptido aps o escalamento linear; fap(si) funo de aptido original;

(3.4)

e coeficientes de aptido.
A Figura 16 mostra o grfico de escalamento linear.

f ap
f ap_max f ap_med f ap_min

f ap_min

f ap_med

f ap_max

f ap

Figura 16

Grfico de escalamento linear

A finalidade do escalamento linear que, ao seu final, os indivduos de aptido mdia continuem na mdia (fap_med = fap_med) e que, se possvel, o valor mximo da funo de aptido seja vezes o valor mdio, ou seja: fap_max = fap_med onde: (3.5)

fator de escalamento linear.

40

Caso ocorram valores negativos aps o escalamento linear, e so calculados de forma a manter o valor mnimo em zero. Normalmente, utilizam-se valores entre 1,5 e 2,0 para .

3.8 Operadores dos Algoritmos Genticos

Os mecanismos utilizados nos Algoritmos Genticos so simples e de fcil implementao. Inicialmente define-se uma populao que ter sua evoluo definida por operadores genticos. So trs os operadores presentes na maioria dos Algoritmos Genticos: seleo, cruzamento e mutao.
3.8.1 Seleo

o mecanismo que copia ou seleciona os indivduos de uma populao para a populao seguinte, segundo valores da funo objetivo. Os indivduos da populao so avaliados para medir seu desempenho na gerao atual sendo que, para cada indivduo, calculado o valor de sua funo de aptido. Aps avaliados os indivduos da gerao t, a populao em P(t+1) escolhida a partir de P(t) atravs de um processo de seleo probabilstica, que assegura que o nmero esperado de vezes que um indivduo escolhido seja proporcional a seu desempenho relativo ao resto da populao. No final deste processo, a populao P(t+1) contm cpias exatas das estruturas selecionadas em P(t) [41]. A seguir so apresentados alguns dos mais importantes tipos de seleo. Roleta Neste mtodo, cada indivduo da populao representado na roleta proporcionalmente ao seu ndice de aptido. Assim, aos indivduos com alta aptido dada uma poro maior da roleta, enquanto aos de aptido mais baixa dada uma poro relativamente menor da roleta. Finalmente, a roleta girada um determinado nmero de vezes, dependendo do tamanho da populao, e so escolhidos como indivduos que 41

participaro da prxima gerao aqueles sorteados na roleta. A representao da roleta pode ser vista pela Figura 17.

Indivduo 3

Indivduo 2 Indivduo 4

Indivduo 5 Indivduo 1
Figura 17 Representao da Roleta

Neste exemplo, pode-se observar que o indivduo 2 tem uma maior chance de ser escolhido pois sua rea na roleta maior do que a dos demais indivduos. Usando o mesmo raciocnio, o indivduo 4 tem pequenas chances de ser escolhido. Ranking Neste mtodo, a seleo realizada baseando-se em valores de uma funo aptido modificada definida pela atribuio de valores arbitrrios de aptido aos indivduos, tipicamente seguindo uma regra linear. Em geral, o processo executado ordenando-se os indivduos de forma decrescente em relao aos seus valores de aptido [39]. Torneio A seleo por torneio no baseada na competio de todos os indivduos da populao, mas em um subconjunto dela. Neste mtodo, so escolhidos aleatoriamente (com probabilidades iguais) n indivduos da populao, e o indivduo com maior aptido 42

selecionado para a populao temporria. O processo repete-se um nmero de vezes igual ao nmero de indivduos existente na populao de forma a permitir que a populao temporria seja totalmente preenchida [39]. Utiliza-se, geralmente, o valor n = 2. Elitismo O elitismo consiste em copiar os melhores indivduos de uma populao na gerao seguinte, eliminando-se os piores indivduos desta gerao. Isso faz com que bons indivduos no sejam perdidos com o processo evolutivo. Normalmente, o elitismo supervisiona apenas o melhor indivduo.

3.8.2

Cruzamento

O processo de seleo no introduz novos indivduos na populao temporria, apenas os chamados progenitores, que serviro como pais para a nova gerao, composta pelos filhos. Para gerar a nova populao, necessria a introduo do operador de cruzamento, que tem como objetivo realizar a troca do material gentico dos progenitores escolhidos pelo operador de seleo de forma que seus descendentes herdem parte das caractersticas de um progenitor e parte do outro [41]. Dentre os vrios tipos de cruzamento, destacam-se:

Cruzamento de Um Ponto Neste caso, escolhe-se aleatoriamente um ponto de cruzamento no cromossomo e, a partir deste ponto, as informaes genticas dos progenitores sero trocadas [43]. Um dos descendentes recebe parte do cromossomo de um dos progenitores e parte do outro, sendo que o segundo descendente recebe as partes restantes dos progenitores. Uma representao deste tipo de cruzamento mostrada na Figura 18 onde o ponto de cruzamento escolhido est na posio 5.

43

Ponto de Cruzamento Progenitor 1 Progenitor 2 1 1 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 1 0

Descendente 1 Descendente 2

1 1

0 1 0 0

0 0

0 1

0 0

1 0

0 1

Figura 18

Exemplo de cruzamento de um ponto

Cruzamento de X Pontos Semelhante ao cruzamento de um ponto, este cruzamento feito escolhendo-se X pontos [43]. Uma representao ser mostrada na Figura 19, com X = 2, onde os pontos de cruzamento escolhidos so as posies 3 e 6.

Pontos de Cruzamento Progenitor 1 Progenitor 2 1 1 0 1 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 1 0

Descendente 1 Descendente 2

1 1

0 1 0 0

0 0

1 0

0 0

0 1

1 0

Figura 19

Exemplo de cruzamento de dois pontos

44

 Cruzamento Uniforme Neste tipo de cruzamento, cria-se uma mscara aleatria com o mesmo tamanho dos cromossomos dos progenitores. O primeiro descendente formado de tal forma que, quando a mscara tiver bit igual a 1, este descendente herda o bit do primeiro progenitor e quando a mscara tiver bit igual a 0 o mesmo herda o bit do segundo progenitor. Para formar o segundo descendente, o processo ocorre de modo inverso [43]. Uma representao para este tipo de cruzamento est mostrada na Figura 20.

Progenitor 1 Progenitor 2

1 1

0 1 0 0

0 0 0 1

0 0

0 1

1 0

Mscara Descendente 1 Descendente 2

0 1 1

0 0 0

0 1 0

1 0 0

0 1 0

1 1 0

1 0 0 0

Figura 20

Exemplo de cruzamento uniforme

3.8.3

Mutao

O operador de mutao aplicado de forma a explorar aleatoriamente outras trajetrias no espao de busca tendo como objetivo inserir novas caractersticas aos descendentes e at mesmo restaurar materiais genticos perdidos durante o processo de

45

evoluo. Esse processo faz com que alguns descendentes de cada gerao sofram uma troca no valor de um de seus bits [41]. O operador mutao cumpre um papel secundrio, porm decisivo no Algoritmo Gentico pois atua quando os processos de seleo e de cruzamento geram uma homogeneizao da populao. Este operador pode ser uma ferramenta importante contra a convergncia prematura, evitando mximos locais. O tipo mais comum de mutao a mutao por troca de bit, onde escolhe-se aleatoriamente uma posio de um descendente para fazer a troca do valor do bit. A Figura 21 ilustra o processo onde a mutao feita na posio 4 do cromossomo.

Ponto de Mutao

1 1

0 0

0 0

0 1

1 1

0 0

1 1

0 0

Figura 21

Exemplo de mutao por troca de bit

3.9 Parmetros Genticos

O bom funcionamento dos AGs depende do equilbrio entre a explorao de novas regies no espao de busca e a explorao das regies j visitadas. Tal equilbrio depende da escolha certa dos parmetros de controle, cujas principais caractersticas esto descritas a seguir.

46

3.9.1

Tamanho da Populao

O tamanho da populao afeta o desempenho global e a eficincia dos AGs. Com uma populao pequena o desempenho pode cair, pois deste modo a populao fornece uma pequena cobertura do espao de busca do problema. Uma grande populao geralmente fornece uma cobertura representativa do domnio do problema, alm de prevenir convergncias prematuras para solues locais ao invs de globais. No entanto, para se trabalhar com grandes populaes, so necessrios maiores recursos computacionais, ou que o algoritmo trabalhe por um perodo de tempo muito maior.
3.9.2 Taxa de Cruzamento

Este parmetro indica quantos indivduos da populao iro reproduzir. Quanto maior for esta taxa, mais rapidamente novas estruturas sero introduzidas na populao. Mas se esta for muito alta, indivduos com boas aptides podero ser retirados do processo de busca, j que a maior parte da populao ser substituda. Para um valor baixo da taxa de cruzamento, o algoritmo pode tornar-se muito lento [43].
3.9.3 Taxa de Mutao

Este parmetro indica quantos indivduos da populao iro sofrer mutao. Uma baixa taxa de mutao previne que uma dada populao fique estagnada em um valor. Com uma taxa muito alta, a busca se torna essencialmente aleatria [43]. O aumento da diversidade da populao no incio do processo de busca dos AGs pode ser conseguido variando-se a taxa de um valor mais alto, nas primeiras geraes, para um valor mais baixo nas ltimas. Esse efeito pode ser alcanado atravs da seguinte funo:
Tmut = k ger Cmut (3.6)

onde:
Tmut Cmut

taxa de mutao; constante que define a taxa de decrscimo da probabilidade de mutao;

47

k ger

constante aleatria; nmero da gerao.

Estudos empricos sugerem, para uma boa performance dos AGs, a escolha de uma alta taxa de cruzamento (acima de 0,6) e de uma baixa taxa de mutao, inversamente proporcional ao tamanho da populao (abaixo de 0,01).
3.9.4 Critrio de Parada

O critrio de parada o parmetro que indica quando o algoritmo deve encerrar o processo de busca. Entre os critrios de parada, destaca-se o nmero fixo de geraes, onde o algoritmo encerra o processo evolutivo quando um dado nmero de geraes previamente estipulado for atingido. Neste caso, no se pode garantir que o algoritmo chegou a uma soluo satisfatria. Um outro critrio de parada quando ocorre a convergncia, ou seja, no ocorre melhora significativa na soluo durante um dado nmero de geraes.
3.9.5 Tamanho ou Comprimento do Cromossomo (L)

o nmero de bits que um cromossomo possui. Deve ser escolhido de acordo com o tipo de problema a ser solucionado.

48

Captulo 4 Metodologia Desenvolvida

Sabendo-se que a instalao de DLCs no sistema pode ser efetuada de diversas formas que variam em funo do local de instalao (seccionando barras ou inserindo em srie com circuitos), do nvel de tenso onde inserido e da capacidade do equipamento, preciso descobrir qual a melhor maneira entre as possveis levando-se em considerao o custo e o benefcio para o sistema. O estudo de todas as alternativas individualmente demandaria um tempo muito grande alm da necessidade de mo-de-obra especializada. A idia de se ter uma metodologia que avalie diversas alternativas e escolha a mais apropriada automaticamente auxilia na soluo deste problema. A metodologia foi ento desenvolvida para fazer a alocao tima de dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito no sistema. O objetivo que, dado um sistema com problemas de equipamentos superados, sejam testadas diversas alternativas para solucionar esses problemas. A soluo tima encontrada deve ser aquela com menor custo, desde que atenda a todas as restries impostas pelo problema. As restries consideradas foram: O sistema no pode ter nenhum equipamento superado pela corrente de curto-circuito; Deve ser feita a insero de um nmero reduzido de DLCs no sistema; Quanto mais o nvel de curto-circuito nas barras do sistema diminuir, melhor ser esta soluo perante s demais; A insero de DLCs no pode causar danos para a operao do sistema em regime permanente, ou seja, tanto as perdas quanto a queda de tenso provocada pelos DLCs no devem atingir valores muito elevados.

de

Alocao

de

DLC

49

So utilizados Algoritmos Genticos integrados a um programa para clculo de curto-circuito de modo que, a cada iterao, sejam simulados curtos-circuitos em todas as barras do sistema. Os resultados do curto-circuito so comparados com o nvel mximo admissvel na subestao em questo. Se a corrente de defeito de alguma barra for maior do que o valor especificado como o mximo tolerado pela subestao, inicia-se um processo de busca por uma soluo tima de insero de DLCs no sistema. A anlise do sistema em regime permanente feita separadamente. Depois que o processo de busca estiver encerrado, simula-se em regime permanente o resultado timo encontrado pelo processo, para averiguar se a configurao resultante se comporta de forma adequada, sem violar os nveis de tenso do sistema, sem que exceda o carregamento dos circuitos e sem que as perdas atinjam valores muito elevados.

4.1 Premissas Adotadas

As premissas adotadas so as seguintes:

Como os disjuntores so os responsveis pela eliminao da falta na rede, os

mesmos servem de referncia para estudos de superao das subestaes e equipamentos por corrente de curto-circuito. Logo, considerou-se o nvel mximo de curto suportado por cada barra do sistema como sendo igual capacidade do disjuntor que possui a menor capacidade de interrupo simtrica de corrente de curto-circuito existente na subestao. Para o exemplo da Figura 22, como o disjuntor que tem menor capacidade o disjuntor 2, tem-se para a barra 1:
Icurton = 30kA (4.1)

Apesar de conservativo, este critrio foi adotado em funo da dificuldade de implementao de um mtodo que considere apenas a contribuio da corrente de curtocircuito que passa pelo disjuntor para avaliao da superao da capacidade do mesmo.

50

Barra 1

Linha 3

Disjuntor DJ3 DJ2 Linha 2 1 2 3 DJ1 DJ5 Linha 1 4 5

Capacidade (kA) 40 30 35 40 40

Linha 4

DJ4

Linha 5

Icurto

Figura 22

Exemplo da definio do nvel mximo de curto-circuito admitido por cada barra

Vale lembrar que a superao do disjuntor pode vir acompanhada da superao dos barramentos, malha de terra e cabos pra-raios da subestao assim como de outros equipamentos, como por exemplo, chaves seccionadoras, transformadores de corrente e bobinas de bloqueio.

Devido caracterstica do mdulo de clculo de curto-circuito utilizada,

foram simulados apenas curtos-circuitos monofsicos e trifsicos, ambos sem impedncia de falta, e a comparao dos resultados feita em kA visto que esta a unidade normalmente utilizada para informar a capacidade dos disjuntores.

A identificao da superao da capacidade de interrupo de disjuntores foi

feita analisando apenas as correntes de curto-circuito simtricas e assimtricas; portanto a superao destes equipamentos por corrente de carga ou por tenso de restabelecimento transitria no foi considerada.

Para saber se a corrente de curto-circuito que passa por determinado

disjuntor supera ou no a capacidade do mesmo, esta corrente foi suposta como sendo a 51

corrente calculada simulando curto-circuito na barra em que se liga a linha onde est localizado o disjuntor, conforme exemplo mostrado na Figura 23. Esta aproximao foi feita para simplificar o processo de comparao dos nveis de curto-circuito, mas vale lembrar que, nos estudos finais de superao, deve-se analisar com mais detalhes o local de ocorrncia do curto, simulando as condies de curto na barra, curto na linha e a condio de line-out (Figuras 3, 4 e 5) para definir qual a maior corrente de curto que pode passar pelo disjuntor.

Barra 1

IDJ1
Linha 1

DJ1

IcurtoL1

Considera-se como premissa:

Barra 1

IDJ1 = IcurtoL1 = IcurtoB1

DJ1

Linha 1

IcurtoB1

Figura 23

Corrente que passa pelo disjuntor definida por aproximao como sendo a corrente calculada para curto-circuito na barra em que est ligado o disjuntor

Os casos base utilizados para anlise do curto-circuito esto considerando a

rede simulada com a sua configurao completa, ou seja, com todos os seus componentes operando, pois esta a situao mais crtica para efeito de curto-circuito. Outro fato importante que no foi considerado o carregamento pr-falta do sistema e as tenses de todas as barras foram consideradas iguais a 1 p.u..

Foi considerada apenas a alocao de RLCs no sistema, portanto, os demais

DLCs no foram includos como alternativa nos estudos. 52

4.2 Estrutura da Metodologia

A estrutura da metodologia desenvolvida est apresentada de forma sucinta na Figura 24.

Caso Base com Equipamentos Superados

Capacidade Mxima de Curto-Circuito

Alocao tima de DLC Locais e Tipos Possveis

Algoritmos Genticos

Clculo do Curto-Circuito
Figura 24 Estrutura da Metodologia

Para o mdulo central da metodologia desenvolvida, que corresponde alocao tima de DLC, necessrio fornecer os seguintes dados de entrada: a) Caso base para clculo de curto-circuito

Este caso conter o problema que se quer resolver, ou seja, o caso dever ter equipamentos superados por corrente de curto-circuito. atravs do caso base que sero criadas e testadas as diversas solues para o problema. b) do sistema Estes valores so necessrios para identificao da superao da barra. 53 Valores das capacidades mximas de curto-circuito admitidas por cada barra

c)

Possveis locais de insero e tipos de DLCs

Muitas subestaes que esto com problemas de superao de equipamentos no Brasil esto localizadas em grandes centros urbanos, no havendo espao, em alguns casos, para a insero de DLCs. Com isso, na implementao da metodologia, foi necessrio indicar se a subestao suporta a instalao de DLC. Desta forma, a metodologia desenvolvida testa somente a alocao de DLCs nas subestaes que no tiverem restries. Esta estratgia baseada na prtica tendo em vista que a alocao de DLCs se d nas proximidades do equipamento superado, que suposto conhecido na metodologia desenvolvida. Sendo assim, o AG testa apenas as solues possveis de serem executadas na prtica. Para isso, so necessrias informaes sobre o espao disponvel na subestao e a viabilidade do projeto. Os tipos de DLCs correspondem aos diferentes valores de RLCs possveis de instalao. A partir do caso base e das demais informaes fornecidas, o processo de evoluo do AG cria possveis solues para o problema, cada uma com uma configurao de localizao e valor de DLC, obedecendo s localizaes possveis fornecidas nos dados de entrada. A obteno do valor da funo de aptido feita calculando-se, para cada uma das possveis solues do problema criadas pelo AG, o curto-circuito em todas as barras do sistema e comparando-o com as capacidades admitidas por cada barra. A soluo tima ser aquela que no contiver equipamentos superados e que atenda s restries estabelecidas com menor custo.
4.2.1 Programas Computacionais Utilizados

A implementao do programa foi realizada com a verso 6.5 do programa MATLAB que integrou o programa de curto-circuito utilizado (ANAFAS) com a execuo dos Algoritmos Genticos. Todo o processo feito de forma automtica sendo necessrio fornecer apenas os dados de entrada e alguns parmetros necessrios para a execuo do AG.

54

 Programa de Curto-Circuito

Para o clculo do curto-circuito nas barras, utilizou-se a verso 4.2 do ANAFAS, desenvolvido pelo CEPEL, que um programa para soluo de faltas de diversos tipos e composies, em sistemas eltricos de grande porte [8]. O ANAFAS foi utilizado como mdulo de clculo de curto-circuito por ser a ferramenta adotada pelo setor eltrico brasileiro. Desta forma, foi possvel manter a compatibilidade com a base de dados existente e utilizada nos estudos de curto-circuito. Para verificar se cada possvel soluo para o problema fornecida pelo AG soluciona o problema dos equipamentos superados, foi utilizado um relatrio de sada padro do programa ANAFAS denominado Relatrio de Nveis de Curto que contm informaes do mdulo e ngulo da corrente de curto-cicuito e a relao X/R para cada barra do sistema tanto para curtos monofsicos como trifsicos. A metodologia foi desenvolvida de modo que cada caso gerado pelo AG seja transformado em um caso em formato compatvel com o programa ANAFAS. Sendo assim, este caso carregado automaticamente no programa ANAFAS e gerado o Relatrio de Nveis de Curto. A metodologia ento extrai do relatrio as informaes teis para anlise da superao, que so o mdulo do nvel de curto-circuito trifsico e monofsico e a relao X/R trifsica e monofsica, que sero utilizados na comparao com a capacidade de curto-circuito suportada pela barra. Desta forma, a metodologia define se os casos analisados continuam ou no com equipamentos superados.
Algoritmos Genticos

Para o processo de otimizao feito atravs de Algoritmos Genticos, utilizou-se a

toolbox de AG do MATLAB [7] que tem uma srie de rotinas versteis que possibilitam

implementar uma grande variedade de opes possveis para a representao dos Algoritmos Genticos. As principais estruturas de dados na toolbox de AG so os cromossomos, os valores da funo objetivo e os valores da funo de aptido. A estrutura do cromossomo armazena a populao em uma nica matriz de tamanho Nind x Lind, onde
Nind o nmero de indivduos e Lind a extenso da estrutura do cromossomo. Uma matriz

55

Nind x Nobj armazena os valores da funo objetivo, onde Nobj o nmero de objetivos.

Finalmente, os valores da funo de aptido so armazenados em um vetor de comprimento

Nind. O armazenamento feito da forma descrita com o objetivo de explorar a caracterstica

vetorial do MATLAB e aumentar o desempenho da ferramenta desenvolvida. Em todas as estruturas de dados, cada linha corresponde a um indivduo em particular.

4.3 Modelagem Matemtica

4.3.1 Definio da Funo Objetivo

Conforme dito anteriormente, o objetivo da metodologia encontrar a soluo de alocao de DLC que apresente o menor custo e respeite as restries operativas impostas, de modo a eliminar o problema de equipamentos superados. esperado que a funo objetivo atue de forma a selecionar, entre as solues candidatas, aquela que apresente um bom resultado para o problema em questo. Ser necessrio, portanto, que a soluo encontrada como resultado da simulao do programa satisfaa s restries impostas pelo problema sem que se torne uma soluo invivel de se executar na prtica. Sendo assim, alguns critrios foram adotados na definio da funo objetivo na tentativa de que o resultado encontrado esteja o mais prximo possvel do timo global, tais como: A funo objetivo foi definida de forma a atribuir valores a cada soluo

candidata a eliminar o problema de superao minimizando o custo total dos DLCs instalados. Como a soluo final do problema no pode ter mais nenhum equipamento superado, ento, solues candidatas que no satisfaam a este requisito devem ser eliminadas do processo de busca. A funo objetivo foi definida de forma que seja inserido o menor nmero

de DLCs que atendam aos requisitos propostos j que cada DLC inserido exige, alm dos custos associados, obras e desligamentos no sistema.

56

Para solues equivalentes em relao aos DLCs inseridos, importante que,

quanto mais o nvel de curto-circuito nas barras for reduzido, melhor. A funo objetivo foi definida de forma a penalizar solues que reduzam pouco os nveis de curto do sistema. Sabendo que a funo objetivo tem como meta encontrar uma soluo vivel para o sistema com o menor custo, conclui-se que esta seja uma funo de minimizao. O problema de otimizao pode ento ser modelado conforme a seguir:
min[C ( ) + k1 nDLC + k 2 ( Icurto3 f i Icurtoni ) + k 3 ( Icurto1 f i Icurtoni )] ,

i = 1, ..., Nb s.a. a(Icurto3fi) Icurtoni, a(Icurto1fi) Icurtoni, X/R3fi b, X/R1fi b, i = 1, ..., Nb i = 1, ..., Nb i = 1, ..., Nb i = 1, ..., Nb

(4.2)

(4.3) (4.4) (4.5) (4.6)

onde:
C( )

custo de instalao da configurao de DLC candidata; configurao de DLC candidata; nmero de DLCs inseridos no sistema; fatores de ponderao; a constante que define qual a porcentagem da corrente de curto simtrica deve ser considerada para se comparar com a corrente nominal mxima suportada pela subestao de modo que se garanta que a barra no tenha problemas de equipamentos superados. O valor de a pode ser obtido pelas Inequaes (2.9) a (2.12);

nDLC k1, k2, k3 a

a constante que define qual o valor da relao X/R mxima calculada para cada barra para que seja garantido que o sistema no tenha problemas de equipamentos superados. importante

57

mencionar que o valor de b depende do valor de a e pode ser obtido pelas Inequaes (2.9) a (2.13);
Nb Icurto3fi Icurto1fi Icurtoni

nmero de barras do sistema; valor do curto-circuito simtrico trifsico na barra i; valor do curto-circuito simtrico monofsico na barra i; valor da corrente nominal de curto-circuito suportada pela barra i. Este valor deve ser fornecido como dado de entrada do programa, conforme j mencionado, e deve ser definido conforme o exemplo da Figura 22;

X/R3fi

valor da relao X/R trifsica da barra i. Esta relao definida como sendo a relao X/R da rede equivalente de seqncia positiva no ponto de defeito;

X/R1fi

valor da relao X/R monofsica da barra i. Esta relao definida como sendo a relao X/R da rede equivalente de seqncia positiva, negativa e zero no ponto de defeito.

A parcela C ( ) visa que a soluo encontrada tenha o menor custo possvel e a

parcela k1nDLC visa que seja inserido o nmero mnimo de DLCs no sistema. As parcelas k 2 ( Icurto3 f i Icurtoni ) e k 3 ( Icurto1 f i Icurtoni ) visam que as solues que mais diminuam o nvel de curto-circuito trifsico e monofsico, respectivamente, sejam beneficiadas perante as demais.
4.3.2 Definio da Funo de Aptido

Na definio da funo de aptido para avaliao das solues candidatas pelo AG, de modo a representar a funo objetivo definida na Equao (4.2), foi necessrio fazer algumas adaptaes na funo objetivo porque os AGs no tratam funes de minimizao e no consideram problemas com restries. Para equacionar o problema com as restries, a funo de aptido foi definida como uma combinao linear da funo custo com funes penalidade cujas caractersticas esto descritas a seguir.

58

Fator Penalidade Fatori

O fator penalidade Fatori foi desenvolvido de modo que, caso a soluo analisada no resolva o problema da subestao superada, o indivduo tenha grandes chances de ser descartado pelo processo de evoluo. Logo, como o problema em questo de minimizao, o fator penalidade deve ser alto para indivduos ruins de forma que a soluo proposta tenha pouca probabilidade de sobreviver s geraes seguintes. Da mesma forma, os indivduos que resultem em boas solues para o problema devem permanecer na gerao seguinte, logo, um fator penalidade zero auxilia neste processo fazendo com que a funo fique com valor pequeno. Para definir se a soluo candidata soluciona ou no o problema dos equipamentos superados, foi estipulado que uma subestao estar superada se o nvel de curto-circuito da barra estiver dentro dos limites definidos baseando-se nas Inequaes (2.9) a (2.13), repetidas abaixo: Xi/Ri < 16,96 e Icurtoi > 90% Icurtoni 16,96 Xi/Ri < 22,62 e Icurtoi > 85% Icurtoni 22,62 Xi/Ri < 28,28 e Icurtoi > 80% Icurtoni Xi/Ri 28,28 e Icurtoi > 70% Icurtoni Xi/Ri 45,24 i = 1, ..., Nb onde: Icurtoi maior valor de corrente simtrica de curto-circuito, trifsica ou monofsica, calculada na barra i atravs do ANAFAS. Se qualquer um dos critrios listados for atingido, ser atribuda uma penalidade para a soluo candidata, denominada Fatori, de modo que a mesma tenha grandes chances de ser eliminada do processo de busca. Sendo assim: (4.7) (4.8) (4.9) (4.10) (4.11) (4.12)

59

Fatori = k i
i

Nb

(4.13)

onde:

Nb

nmero de barras do sistema.

O valor de ki foi estipulado de modo que, quanto mais a corrente da barra i estiver acima da capacidade do disjuntor, maior ser o Fatori. Isto faz com que uma soluo candidata que tenha como resultado barras cujas correntes de curto-circuito estejam muito acima da capacidade tenham mais chances de serem eliminada do processo de busca do que as solues em que a corrente supera a capacidade por uma pequena parcela. O objetivo que as solues que violam por pouco as restries ainda tenham alguma chance de passar pelo processo evolutivo e se tornar uma boa soluo para o problema. O valor de ki foi ento definido pelas Equaes (4.14) a (4.18). Se

Xi/Ri < 16,96 e Icurtoi > 90% Icurtoni ki = 103 + 10(Icurtoi-Icurtoni) (4.14)

Se

16,96 Xi/Ri < 22,62 e Icurtoi > 85% Icurtoni, ki = 103 + 10(Icurtoi-Icurtoni) (4.15)

Se

22,62 Xi/Ri < 28,28 e Icurtoi > 80% Icurtoni ki = 103 + 10(Icurtoi-Icurtoni) (4.16)

Se

(Xi/Ri 28,28) e Icurtoi > 70% Icurtoni

ki = 103 + 10(Icurtoi-Icurtoni)
Se (Xi/Ri 45,24)

(4.17)

ki = 105

(4.18)

60

Se nenhum destes casos ocorrerem, ou seja, se a soluo candidata solucionar o problema dos equipamentos superados na barra i:

ki = 0

(4.19)

Note pela Equao (4.14) que, mesmo para valores de X/R inferiores a 16,96, est se admitindo que a subestao tem equipamentos com capacidade superada quando a corrente mxima suportada pela subestao for igual ou superior a 90% da corrente que o disjuntor de menor capacidade pode suportar. Este foi um critrio adotado de forma conservadora para garantir que o resultado seja confivel considerando que: Os casos base utilizados para teste podem ter algumas aproximaes nos

dados, o que poderia comprometer os resultados das simulaes. Como exemplo, estes casos muitas vezes no tm as informaes exatas de resistncia e reatncia da rede, logo, estes critrios no podem ser fielmente examinados. Por aproximao, usual a resistncia dos transformadores nos casos base serem supostas iguais a zero. Adotando este critrio conservador, est se aumentando as chances do resultado do programa estar dentro de um limite de tolerncia; Podem ocorrer mudanas no planejamento da expanso dos sistemas que no

esto representadas no caso base utilizado para teste. Estas mudanas podem aumentar o nvel de curto-circuito do sistema para valores no previstos no caso utilizado; Conforme dito anteriormente, no est se considerando o clculo da TRT na

anlise de superao dos disjuntores. Como esta anlise em geral feita apenas quando o curto atinge valor superior a 90% da capacidade de interrupo simtrica dos disjuntores, o critrio adotado dispensa este tipo de anlise, simplificando o processo de busca. importante ressaltar que uma subestao s ter equipamentos realmente superados por corrente simtrica de curto-circuito quando a corrente no equipamento em

61

questo for maior do que a indicada nos seus dados de placa, ou seja,

Icurtoi>100%Icurtoni.

Fatores Penalidade FatorNDLCSerie e FatorNDLCSeccionado

Este fator foi desenvolvido para penalizar as solues candidatas que apresentem um alto nmero de DLCs inseridos. Desta forma, quanto menor o nmero de DLCs inseridos, mais a soluo ser beneficiada. O ideal que se tenha apenas um DLC seccionando barras. Quando inseridos em srie com os circuitos, admitido mais de um DLC, mas nunca em grande nmero pois, caso contrrio, os problemas operacionais causados invalidariam a soluo encontrada. Sendo assim:
N DLC j

FatorNDLCSer = FatorNDLCSec =

k
j

NDLCSer j

(4.20) (4.21)

N DLC

NDLCSec j

onde:

NDLC
k NDLCSer j

nmero de DLCs inseridos no sistema; constante que penaliza a alocao de muitos DLCs em srie com os circuitos;

k NDLCSec j

constante que penaliza a alocao de muitos DLCs seccionando as barras.

O valor estipulado para estas constantes depende do peso que se quer dar a cada fator perante os demais. Em geral, entende-se que kNDLCSecj deve ser maior do que kNDLCSerj j que a insero de DLC seccionando barras exige, muitas vezes, manobra de vos de linhas. Para o caso do DLC ser um RLC, a insero seccionando barras provoca perda de confiabilidade enquanto que a instalao de RLC em srie com os circuitos provoca, geralmente, maiores perdas para o sistema. 62

Fatores Penalidade Fator3f e Fator1f

Neste caso, o fator foi desenvolvido para penalizar as solues candidatas que no reduziram muito o nvel de curto-circuito do sistema, mesmo que tenham solucionado o problema dado. Fazendo o raciocnio inverso, este fator beneficia as solues candidatas que apresentam alta queda no nvel de curto do sistema. O Fator3f e o Fator1f so definidos pelas Equaes (4.22) e (4.23), respectivamente.
Nb i

Fator 3 f = k 3 f ( Icurto3 f i Icurtoni ) Fator1 f = k1 f ( Icurto1 f i Icurtoni )

i Nb

(4.22) (4.23)

onde: k3f e k1f constantes definidas de acordo com o grau de importncia se quer dar ao Fator3f e Fator1f, respectivamente, na busca por uma soluo tima para o problema; Icurto3fi Icurto1fi Icurtoni valor da corrente de curto-circuito trifsico na barra i calculado pelo ANAFAS para a soluo candidata; valor da corrente de curto-circuito monofsico na barra i calculado pelo ANAFAS para a soluo candidata; valor da capacidade mxima de curto-circuito admitida pela subestao (barra i). Considerando todas as funes penalidades descritas anteriormente, a funo de aptido pode ser representada por: 1 C ( ) + S ( )

f ap =

(4.24)

onde:
63

S( ) = Fatori + FatorNDLCSec + FatorNDLCSer + Fator3f + Fator1f (4.25) A funo de minimizao foi transformada em maximizao obtendo seu valor inverso. Vale lembrar que a funo de minimizao no pode ser transformada em funo de maximizao diretamente multiplicando seu valor por -1 porque os AGs no trabalham com valores negativos. Como resumo, pode-se afirmar que a funo de aptido adotada nada mais do que a funo objetivo alterada para que seus valores sejam todos no negativos e seja de maximizao ao invs de minimizao.
4.3.3 Valores e Custos dos DLCs

O custo adotado para instalao de DLCs no sistema foi estimado atravs do valor de RLCs, sem considerar os custos de projeto e instalao. O custo total da instalao real deste DLC ser portanto superior ao valor considerado. O RLC foi escolhido para o estudo visto que o mesmo muito utilizado no Brasil. Antes do incio da simulao do programa, possvel alterar os valores dos RLCs que devem ser testados, assim como de seus custos associados. Valores tpicos de RLCs variam de 5 a 30 e seus custos dependem, entre outras coisas, do nvel de tenso onde o reator ser instalado. O programa contm os valores e seus custos associados tanto para os RLCs inseridos seccionando barras, como para os inseridos em srie com os circuitos. Logo, as alteraes sero razoveis apenas se o usurio necessitar incluir ou excluir algum RLC ou mesmo mudar seu custo. O valor do RLC assim como seu custo pode ser diferenciado quando inserido seccionando barras ou em srie com circuitos. Os custos utilizados neste trabalho esto apresentados no item 5.2.1.

4.4 Estrutura do Cromossomo

A metodologia desenvolvida utilizando Algoritmo Gentico ir abranger as possibilidades de alocao de DLCs no sistema. Ser testada a insero de DLCs em srie

64

com circuitos e transformadores ou seccionando barras. Considere o exemplo mostrado na Figura 25.

Linha 5

Linha 6 Barra 1

Ramo 1

Ramo 3

Ramo 2

Ramo 4 Barra 2

Linha 1

Linha 2

Linha 3

Linha 4

Figura 25

Sistema exemplo

Para cada linha ou ramo existente so reservados 4 bits do cromossomo, conforme Figura 26. O primeiro bit d a informao se a linha ou o ramo tem ou no DLC em srie, e os trs ltimos bits informaro o valor do DLC, caso ele esteja presente.

indica se a linha tem ou no DLC

indica o valor do DLC

Figura 26

Bits do cromossomo para cada linha

65

Se o primeiro bit for 0, significa que no ser inserido DLC. Sendo assim, os demais bits no tero influncia na soluo final. Se o primeiro bit for 1, significa que ser inserido DLC. O valor do DLC ento estipulado nos 3 bits que seguem conforme as informaes da Tabela 5, baseado nos valores tpicos de RLC.
Tabela 5 Valores de DLC utilizados

Seqncia de bits Valor do DLC ( )

000 5

001 10

010 12

011 15

100 18

101 20

110 25

111 30

Assim, para todas as linhas do exemplo tem-se:

0 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 1 11 0 1 0 0 Linha 1 Linha 2 Linha 3

Figura 27

Linha 4

Linha 5

Linha 6

Ramo 1

Ramo 2

Ramo 3

Ramo 4

Parte do cromossomo relativa aos circuitos

O exemplo anterior significa insero de DLC nas linhas 2, 3 e 4 nos valores 12 , 12 e 30 , respectivamente. Para o caso do seccionamento de barras, a parte do cromossomo responsvel pela informao da existncia ou no de DLC se d conforme a Figura 28.

...

indica o nmero de circuitos que esto conectados barra original

indica o valor do DLC

Figura 28

Bits do cromossomo para as barras do sistema

66

Pela figura anterior, observa-se que o nmero de bits do cromossomo reservado para cada barra do sistema depende de quantos circuitos esto ligados na referida barra pois cada circuito corresponder a um bit. A barra original seccionada dando origem a duas sees de barras separadas por um DLC de forma que, para os bits iguais a 0, os circuitos associados sero agrupados em uma seo da barra e, de forma semelhante, os circuitos correspondentes aos bits iguais a 1 sero agrupados na outra seo. Esta forma de representar os DLCs nas barras tem a vantagem de no permitir que a mesma barra seja seccionada mais de uma vez, caso este que seria invivel na prtica. Na implementao computacional, foi criada uma barra fictcia representando uma das sees da barra para que todos os circuitos que estiverem com 1 no cromossomo, estejam ligados a esta barra fictcia e os circuitos que estiverem com 0 no cromossomo, estejam ligados a barra original que passar a representar a outra seo da barra. Ser ento inserido um DLC ligando as duas sees da barra (representadas pelas barras fictcia e original) cujo valor obtido atravs dos trs ltimos bits, conforme indicado na figura anterior. De forma similar ao caso das linhas, os DLCs inseridos seccionando as barras tambm podem ter 8 valores diferentes, no necessariamente iguais aos valores escolhidos para os circuitos. Para o exemplo apresentado na Figura 25, a parte do cromossomo responsvel por seccionar ou no a barra poderia ficar da seguinte forma:

1 1 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 0 Barra 1
Figura 29

Barra 2

Parte do cromossomo relativa s barras

Note que a barra 1 tem 4 bits representando os 4 circuitos conectados a ela mais 3 bits para o valor do DLC, totalizando 7 bits. Seguindo a mesma linha de raciocnio, so reservados 9 bits para o caso da barra 2, onde 6 deles representam os circuitos conectados e 3 deles so reservados para o valor do DLC.

67

A ordem dos bits relativa aos circuitos para o caso do seccionamento das barras corresponde ordem em que cada circuito aparece no caso do ANAFAS, atravs do carto Dados de Circuitos (carto 37). Logo, se os circuitos que esto ligados barra 2 aparecem no caso ANAFAS na seqncia: linha 1, linha 2, linha 3, linha 4, ramo 2 e ramo 4; ento, a barra 2 seccionada de modo que fiquem, na barra com a numerao original, as linhas 1, 2 e o ramo 2; e na barra fictcia criada, as linhas 3, 4 e o ramo 4, para a seqncia de bits dada anteriormente. Se os bits que indicam os circuitos que esto conectados barra forem todos 1 ou todos 0, a barra no ser seccionada. Ento, para a seqncia de bits anterior, a barra 1 no ter DLC seccionando a mesma. O cromossomo completo montado primeiro com os dados dos circuitos e depois com os das barras sendo que para ambos a ordem que aparece no indivduo a mesma da que aparece no caso original. O cromossomo do exemplo ter ento a seguinte caracterstica:

0 1 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 1 1 1 0 0 1 1 0 1 1 0 0 1 1 0 0 0 1 0 0 1 11 0 1 0 0 Linha 1 Linha 2 Linha 3 Linha 4 Linha 5 Linha 6 Ramo 1 Ramo 2 Ramo 3 Ramo 4

+
1 1 1 1 0 0 1 1 1 0 0 1 0 1 1 0 Barra 1
Figura 30

Barra 2

Representao completa do cromossomo

Para este caso, os DLCs estariam inseridos da seguinte maneira:

68

Linha 5

Linha 6 Barra 1

Ramo 1

Ramo 3

Barra Fictcia 2

Ramo 2
DLC DLC DLC

Ramo 4 Barra 2
DLC

Linha 1

Linha 2

Linha 3

Linha 4

Figura 31

DLCs inseridos para o cromossomo do exemplo

Esse processo feito para cada cromossomo da gerao em questo, e depois repetido para todas as geraes ao longo do espao de busca. Como possvel selecionar os locais em que a instalao do DLC permitida (seccionando barras ou em srie com circuitos e transformadores), o cromossomo conter apenas os genes das barras, circuitos e transformadores que suportam a instalao de DLC. Do ponto de vista computacional, a possibilidade de se escolher as barras, circuitos e transformadores a serem alocados no caso estudado tem a vantagem de diminuir o tamanho do cromossomo visto que seus bits contero apenas os dados dos circuitos e das barras onde a instalao de DLC permitida. Esse fato diminui o tempo computacional do programa, o que uma grande vantagem. Apesar disso, dependendo do porte do sistema eltrico em anlise, o nmero de genes do cromossomo ainda pode ser elevado.

4.5 Implementao do Modelo Computacional

O modelo computacional foi implementado de forma que o programa desenvolvido em MATLAB e o ANAFAS trabalhem de forma totalmente integrada, conforme mostrado no fluxograma da Figura 32.

69

Incio

N=1

Definio do Tamanho de Cada Indivduo da Populao Definio da Probabilidade de Mutao

Criao da Populao Inicial

A=1

Transforma Individuo Binrio em um Caso Anafas

No

Clculo das Correntes de Curto-Circuito

Clculo da Funo de Aptido

A = Nmero de Indivduos

A=A+1

Sim

Reproduo

Mutao

N=N+1

No

N > Nmero Mnimo de Iteraes

Sim
Figura 32 Fluxograma do programa computacional implementado

Fim

70

A cada iterao do processo de otimizao pelo AG, um conjunto de solues para o problema gerado e cada soluo um dado de entrada para o programa ANAFAS. Se um determinado resultado for satisfatrio, a soluo ser guardada como possvel soluo para o problema e, se o resultado no for satisfatrio, esta soluo ter grandes chances de ser descartada pelo prprio processo de evoluo do AG. Para implementar a metodologia, foram desenvolvidos mdulos independentes, que se integram conforme mostrado na Figura 33 e cujas funes esto descritas a seguir.

CasoBase A l o c a c a o R e a t o r

FuncaoTamanhoIndividuo Base.anf TransformaIndividuoCasoAnafas EscreveArquivoBaseAnafas

ANAFAS

LerArquivoSaida Relatrio de Nveis de Curto

FuncaoObjetivo

Figura 33

Fluxograma com a integrao dos mdulos do programa computacional

AlocacaoReator o mdulo principal pois rene os passos do programa. onde esto as funes do AG, como por exemplo os operadores de seleo, cruzamento e mutao, e definidos os parmetros de controle como o nmero de indivduos inicial da populao, o nmero de geraes, as taxas de cruzamento e mutao, entre outros. Tambm est presente neste mdulo a estrutura do programa pois nele est reunida a maioria das funes existentes nos outros mdulos.

71

Alm disso, AlocacaoReator cria o arquivo denominado Anafas.inp que contm um conjunto de comandos necessrios para executar as simulaes de curto-circuito monofsico e trifsico para as barras do sistema atravs do programa ANAFAS. CasoBase o mdulo que contm todos os dados de entrada fornecidos pelo usurio. Este mdulo formado pelo caso base, que possui todos os parmetros necessrios para executar o clculo do curto-circuito do sistema no qual se deseja solucionar o problema. Tambm possui informaes sobre as barras, circuitos e transformadores onde permitida a insero de DLC e informaes sobre os valores das capacidades de todas as barras existentes no sistema. FuncaoTamanhoIndividuo Calcula o tamanho que devem ter os indivduos de acordo com o nmero de barras e circuitos do caso base. TransformaIndividuoCasoAnafas Este mdulo decodifica os indivduos da populao transformando-os em dados necessrios para montar um caso de curto-circuito. Cada indivduo corresponde a uma possvel soluo para o problema, logo, dever ter as informaes da localizao dos reatores que sero inseridos no caso base na tentativa de solucionar o problema. EscreveArquivoBaseAnafas Transforma cada indivduo que foi decodificado em um arquivo em formato ANAFAS, denominado base.anf, que ser lido pelo programa de curto-circuito. Isto feito para todos os indivduos da populao. Note que TransformaIndividuoCasoAnafas apenas decodifica o indivduo enquanto EscreveArquivoBaseAnafas escreve o arquivo de dados.

72

 LerArquivoSaida Atravs do programa ANAFAS e do arquivo base.anf, gerado um relatrio com diversos resultados, entre eles, o nvel de curto-circuito trifsico e monofsico e a relao X/R de todas as barras do sistema. Isto repetido para todos os casos criados. Como o formato do relatrio padro do ANAFAS, foi verificada a necessidade de se criar o mdulo LerArquivoSaida para que seja feita a leitura deste relatrio, extraindo dele apenas as informaes que sero utilizadas posteriormente no clculo da funo de aptido. FuncaoObjetivo o mdulo que contm as informaes sobre a funo objetivo e funo de aptido do problema. Os dados de entrada deste arquivo so muito importantes j que os mesmos determinam se a soluo candidata atende ou no s restries do problema.
4.5.1 Caractersticas dos Algoritmos Genticos Implementados

Com o objetivo de ampliar a regio de busca a fim de encontrar a soluo tima para o problema, algumas opes presentes nos Algoritmos Genticos podem variar dependendo do problema a ser tratado. Desta forma, o mdulo computacional permite escolher os seguintes dados de entrada: Nmero de indivduos da populao inicial Pode ser escolhido qualquer valor inteiro lembrando que, quanto maior o nmero de indivduos na populao inicial, maior o espao de busca. A gerao da populao da populao inicial feita de maneira aleatria. Nmero mximo de geraes Tambm poder ser escolhido qualquer valor inteiro. Operadores Genticos Para a seleo, necessria a escolha entre o mtodo da roleta e do torneio, sendo possvel associar o elitismo ao processo evolutivo. O elitismo importante pois evita que um bom indivduo seja perdido ao longo do processo. 73

O cruzamento pode ser de um ponto, de dois pontos ou uniforme e a taxa de cruzamento pode ser alterada. A mutao utilizada a mutao por troca de bit e a taxa de mutao pode ser realizada por uma constante previamente definida ou atravs de uma exponencial decaindo ao longo do processo. Caso se opte pela taxa de mutao decaindo atravs de uma exponencial, foi definido que: Tmut = 0,4 ger 1,7 (4.26)

onde: Tmut ger estipulado. A equao anterior pode tambm ser representada pelo grfico da Figura 34. importante mencionar que esta taxa de mutao foi definida de maneira emprica e pode ser alterada. taxa de mutao; nmero da gerao que pode variar de 1 at o nmero de iteraes

Figura 34

Variao da taxa de mutao em funo do nmero da gerao

74

Captulo 5 Resultados
A metodologia apresentada no captulo anterior foi validada atravs de testes. A descrio das simulaes realizadas, os parmetros do AG e penalidades utilizados e os resultados obtidos esto apresentados neste captulo.

5.1 Sistemas Eltricos de Teste

Os testes foram feitos utilizando dois sistemas eltricos: o sistema IEEE14 barras e o sistema eltrico da ELETROSUL na representao do ano de 2010. Suas principais caractersticas esto apresentadas a seguir.
5.1.1 Sistema IEEE14 Barras

Barra 13 69kV

Barra 14 69kV

Barra 12 69kV

Barra 11 69kV

Barra 10 69kV

Barra 6 69kV

Barra 9 69kV

Barra 8 34,5kV

c
Barra 5 138kV Barra 1 138kV Barra 2 138kV Barra 4 138kV

Barra 7

~ ~

Barra 3 138kV

Figura 35

Diagrama unifilar do sistema IEEE14 barras

75

O sistema IEEE14 barras tem 14 barras, 16 linhas de transmisso, 3 transformadores, 2 geradores e 3 compensadores sncronos. Este sistema, apresentado na Figura 35, foi escolhido para validar o algoritmo e fazer os primeiros ajustes nos parmetros do AG. Foi considerado que as barras 1 a 5 so de 138kV, 9 a 14, de 69kV e a barra 8, de 34,5kV.

5.1.2

Sistema Eltrico da ELETROSUL

O sistema real escolhido para teste foi o sistema eltrico da ELETROSUL. A escolha deste sistema se deu pelo fato de o mesmo apresentar caractersticas importantes para avaliao do mtodo estudado na soluo de problemas prticos, tais como: ter linhas de transmisso em alta tenso; ter subestaes superadas por nveis de curto j em 2005.

A base de dados de curto-circuito utilizada nos testes para o ano de 2010 foi disponibilizada pela ELETROBRS, atravs do Plano Indicativo de Transmisso da Regio Sul, perodo 2004/2013. Foi feito um equivalente do sistema da regio sul mantendo no caso apenas a parte do sistema da ELETROSUL que tinha equipamentos superados. O sistema equivalente tem 41 linhas, 21 transformadores, 37 barras reais e 21 barras fictcias (para representar o ponto do meio de cada transformador). A base de dados de fluxo de potncia utilizada nos testes para o ano de 2010 foi disponibilizada pela ELETROBRS, atravs do Plano Indicativo de Transmisso, perodo 2004/2013. O diagrama unifilar do sistema equivalente da ELETROSUL est mostrado na Figura 36. O ano de 2010 foi escolhido de modo que seja encontrado um resultado que solucione o problema a mdio prazo, e no apenas o problema existente atualmente.

76

Figura 36

Diagrama unifilar do sistema equivalente da ELETROSUL

77

5.2 Consideraes
Para facilitar a anlise dos testes, os resultados encontrados em cada simulao do programa foram salvos em arquivos nomeados caso<nmero do caso>, sendo que a soluo com melhor desempenho encontrada pelo AG foi salva no arquivo caso1. Para cada teste feito, os resultados do AG foram salvos at o nmero 10, que corresponde ao dcimo melhor caso encontrado pelo AG, considerando sua funo de aptido. Cada conjunto de 10 casos foram salvos em pastas denominadas teste<nmero do teste>. Quando o mesmo teste simulado diversas vezes alterando apenas os parmetros do AG, foram criadas subpastas dentro das pastas anteriormente mencionadas. Os grficos correspondentes a cada teste se encontram nos arquivos do tipo: fig<nmero do teste>.fig.
5.2.1 Custos utilizados

Os custos adotados dos RLCs em todos os testes esto indicados na Tabela 6.

Tabela 6 Custo dos RLCs utilizados

Valor do RLC ( ) 5 10 12 15 18 20 25 30 31,4 37,7 40,3 44,0 47,8 50,3 56,6 62,9 765kV 500kV 26,2 31,4 33,5 36,7 39,8 41,9 47,2 52,4

Custo do Reator Unidades Monetrias (UM) 345kV 21,8 26,2 28,0 30,6 33,2 34,9 39,3 43,7 230kV 16,8 20,2 21,5 23,5 25,5 26,9 30,2 33,6 138kV 12,0 14,4 15,4 16,8 18,2 19,2 21,6 24,0 69kV 10,0 12,0 12,8 14,0 15,2 16,0 18,0 20,0

Estes valores foram estimados atravs dos custos de alguns reatores existentes no documento de Referncia de Custos de LTs e SEs de AT e EAT da ELETROBRS, base 78

de junho de 2004. importante mencionar que os custos utilizados so valores aproximados e discretizados, no correspondendo fielmente realidade. Os valores reais dos custos dos RLCs devem ser obtidos fazendo um levantamento de dados com os fabricantes.
5.2.2 Funes de Aptido Testadas

Nos testes realizados considerou-se a aplicao de dois diferentes objetivos, atravs da adaptao da funo de aptido. Cada objetivo pode ser atendido atravs da alterao nos valores das constantes utilizadas para cada penalidade. As situaes consideradas foram:
Objetivo 1:

Atendimento aos requisitos de mnimo custo e mnimo nmero de DLCs inseridos no sistema

Neste caso, o objetivo atender s restries do sistema considerando apenas a minimizao do custo e a insero do nmero mnimo de DLCs no sistema. A implementao deste objetivo se d fazendo com que as constantes associadas s penalidades de mnima diferena entre a corrente nominal do equipamento e a corrente calculada pelo ANAFAS sejam iguais a zero.
Objetivo 2:

Atendimento aos requisitos de mnimo custo, mnimo nmero de DLCs inseridos no sistema e mxima reduo da corrente de curto

Alm das consideraes do objetivo 1, tambm foi considerada a mxima reduo da corrente de curto no sistema.
5.2.3 Conjunto de Parmetros do AG e Fatores Penalidade Utilizados nos Testes

O conjunto de parmetros e fatores penalidade necessrios para a execuo do AG deve ser ajustado de forma que se tenha um resultado mais prximo da soluo tima global. Foram testadas as seguintes variaes dos parmetros do AG: 79

Tamanho da populao: valores entre 50 e 300; Nmero mximo de geraes: valores entre 100 e 500; Taxa de cruzamento: 0,5 e 0,7; Taxa de mutao: valores variando de 0,05 a 0,001 ou decaindo por uma exponencial; Operador de cruzamento: um ponto, dois pontos e uniforme; Operador de seleo: roleta e torneio; Operador de mutao: mutao por troca de bit.

As constantes dos fatores penalidade testadas foram: k NDLCSer j e k NDLCSec j : valores entre 0,1 e 3,3;

k3f e k1f : valores entre 0,0 e 1,0.

5.2.4

Regime Permanente

Para as anlises em regime permanente, considerou-se que as tenses esto dentro da normalidade quando seus valores ficarem de acordo com a Tabela 7.
Tabela 7 Limite de tenso aceitvel para a operao do sistema em regime permanente

Tenso (kV) 69 138 230 345 500 765

Valor mnimo (p.u.) 0,95 0,95 0,95 0,95 0,95 0,95

Valor mximo (p.u.) 1,05 1,05 1,05 1,05 1,10 1,10

80

Alm disso, as capacidades das linhas devem ser respeitadas e as perdas totais no sistema devem ficar em at 6% da potncia instalada em MW.

5.3 Resultados dos Testes com o Sistema IEEE14

Para avaliar o desempenho do mtodo, validao do algoritmo e ajuste dos parmetros de controle do AG e das constantes de penalidade, foram feitos diversos testes com o sistema IEEE14. O caso base do sistema possui os valores de curto listados na Tabela 8 e se comporta em regime permanente conforme o diagrama unifilar da Figura 37. Como a barra 7 fictcia, a mesma no entra na anlise do nvel de curto-circuito do sistema.
Tabela 8 Valores de curto-circuito do caso base do IEEE14

Mdulo da Barra Nmero 1 2 3 4 5 6 8 9 10 11 12 13 14 corrente de curtocircuito trifsico (kA) 8,35 8,24 3,78 4,98 4,96 5,54 8,33 4,98 3,94 3,49 2,78 3,74 2,80 12,45 9,10 3,62 4,01 4,56 6,29 19,10 4,76 3,66 3,24 2,36 3,04 2,57 81 Relao X/R trifsica

Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) 3,10 3,50 2,21 4,27 4,13 2,14 7,40 4,72 3,00 2,03 1,38 1,85 1,85

Relao X/R monofsica 3,88 3,64 2,03 4,33 5,20 2,01 21,80 5,30 3,25 2,38 1,63 1,84 2,08

Figura 37

Diagrama unifilar do comportamento do sistema em regime permanente

O diagrama unifilar do sistema mostra os valores de fluxo de potncia de acordo com a legenda da Figura 38.

82

Nome Nmero

BARRA

GERADOR MW

POTNCIA MW TENSO Mvar p.u.

CARGA

COMPENSADOR SNCRONO

MW

Mvar
CS

Figura 38

Legenda do diagrama unifilar

A potncia instalada no caso base de 271,8MW e as perdas so 12,2MW. A seguir, encontra-se uma breve descrio dos principais testes feitos.

5.3.1

Objetivo 1

Teste 1: Teste com a barra 4 superada por corrente de curto-circuito simtrica Alocao de reatores em barras, circuitos e transformadores O teste considerando que apenas a barra 4 estava superada foi feito com o objetivo de analisar se o programa tem a capacidade de encontrar a soluo de um problema pontual. Os parmetros e as constantes utilizadas foram: Tamanho da populao: 50; Nmero mximo de geraes: 200;

83

Taxa de cruzamento: 0,5; Operador de cruzamento: dois pontos; Operador de seleo: roleta; Taxa de mutao: decaindo por uma exponencial;
k NDLCSer j : 1,5; k NDLCSec j : 1,7;

k3f e k1f : 0.

Os valores mximos de curto-circuito admissveis por cada barra foram considerados de acordo com a Tabela 9.
Tabela 9 Teste 1 - Valores adotados da corrente de curto suportvel por cada barra

No da Barra Corrente (kA)

3 5,2

4 4,8

5 7,0

6 7,6

8 12,0

9 5,6

10 5,5

11 5,0

12 4,0

13 6,0

14 4,0

12,0 12,0

Foi adotada possibilidade de inserir reator seccionando as barras 4, 5, 6 e 9 bem como inserir reator em srie com os circuitos que ligam as barras 1-5, 2-4, 2-5, 3-4, 4-5, 611, 6-12, 6-13, 9-10, 9-14, e nos dois transformadores localizados entre as barras 4 e 9. A Figura 39 ilustra os possveis locais de instalao que foram testados onde os elementos tracejados permitem a insero de DLC.

84

Barra 13 69kV

Barra 14 69kV

Barra 12 69kV

Barra 11 69kV

Barra 10 69kV

Barra 6 69kV

Barra 9 69kV

Barra 8 34,5kV

c
Barra 5 138kV Barra 1 138kV Barra 2 138kV Barra 4 138kV

Barra 7

~ ~

Barra 3 138kV

Figura 39

Teste 1 - Localizaes possveis para os DLCs (tracejado)

O resultado encontrado foi idntico para os 10 casos salvos e est mostrado na Tabela 10, que corresponde a inserir um reator de 15ohms seccionando a barra 4 onde o transformador 4-9 e os circuitos 2-4 e 3-4 esto ligados a um dos seccionamentos da barra 4 e o outro transformador 4-9 (representado pela ligao 4-7) e o circuito 4-5 esto ligados ao outro seccionamento.
Tabela 10 Teste 1 - Reator inserido em barra

Barra Num 4 Nome Barra 4

Tenso (kV) 138

Reator (ohm) 15

Custo (UM) 16,8

Circuitos ou transformadores Sec 2 Sec 1 4-9 2-4 3-4 4-7 4-5

85

Para este resultado, as correntes de curto-circuito nas barras foram reduzidas para os valores apresentados na Tabela 11, que indica tambm a percentagem de reduo do curto quando comparado com os valores do caso base.
Tabela 11 Teste 1 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Reduo Mdulo da Barra corrente de trifsico (kA) 1 2 3 4 sec1 5 6 8 9 10 11 12 13 14 4 sec2 8,35 8,23 3,69 4,24 4,66 5,48 8,28 4,96 3,93 3,47 2,77 3,71 2,79 4,30 Nmero curto-circuito da corrente de curto trifsico (%) 0,00 -0,16 -2,47 -14,90 -6,10 -1,04 -0,63 -0,33 -0,23 -0,44 -0,30 -0,72 -0,24 -13,65 12,44 9,12 3,74 4,52 4,79 6,26 19 4,77 3,67 3,24 2,37 3,04 2,58 4,43 Relao X/R trifsica

Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) 3,08 3,47 2,15 3,55 3,97 2,14 7,36 4,70 2,99 2,02 1,38 1,85 1,85 3,83

Reduo da corrente de curto monofsico (%) -0,56 -0,79 -2,77 -16,84 -3,87 -0,08 -0,57 -0,39 -0,23 -0,46 -0,08 -0,25 0,00 -10,24 3,86 3,62 2,05 4,89 5,39 2,01 21,74 5,3 3,25 2,38 1,63 1,84 2,09 4,71 Relao X/R monofsica

Pela tabela anterior, observa-se que a reduo do curto-circuito foi mais significativa na barra 4, como era de se esperar, e quase imperceptvel nas barras mais distantes eletricamente da barra 4, como o caso da barra 1. O resultado do fluxo de potncia no sistema mostrado na Figura 40. 86

Figura 40

Teste 1 - Sistema em regime permanente

O valor encontrado para as perdas totais no sistema em regime permanente foi 13,0MW, o que corresponde a 4,78% da capacidade instalada estando, portanto, dentro do aceitvel, e a queda de tenso no reator foi 0,011 p.u.. Nota-se pela Figura 40 que o sistema se comporta em regime permanente dentro das restries operativas com todas as tenses entre 0,95 e 1,05. Os grficos de convergncia do AG, tanto para o teste 1 quanto para todos os outros testes feitos, esto apresentados no Apndice C. 87

 Teste 2: Teste com a barra 4 superada por corrente de curto-circuito simtrica Alocao de reatores apenas em circuitos e transformadores Este teste foi feito utilizando os seguintes parmetros e constantes do AG: Tamanho da populao: 50; Nmero mximo de geraes: 200; Taxa de cruzamento: 0,5; Operador de cruzamento: dois pontos; Operador de seleo: roleta; Taxa de mutao: decaindo por uma exponencial;
k NDLCSer j : 1,5; k NDLCSec j : 1,7;

k3f e k1f : 0.

Os valores mximos de curto-circuito admissveis por cada barra foram considerados idnticos aos do teste 1, mostrado na Tabela 9. Foi adotada a possibilidade de inserir reator em srie com os circuitos que ligam as barras 2-4, 3-4, 4-5, 9-10, 9-14, e nos dois transformadores localizados entre as barras 4 e 9. A Figura 41 ilustra os possveis locais de instalao que foram testados onde os elementos tracejados permitem a insero de DLC. O resultado encontrado para os 10 melhores casos da simulao foi idntico e est indicado na Tabela 12 e os valores de curto calculados aps a insero do RLC esto mostrados na Tabela 13.
Tabela 12 Teste 2 - Reator inserido em circuito

Barra de Num 4 Nome Barra 4 5

Barra para Num Nome Barra 5

Tenso (kV) 138

Reator (ohm) 30

Custo (UM) 24,0

88

Barra 13 69kV

Barra 14 69kV

Barra 12 69kV

Barra 11 69kV

Barra 10 69kV

Barra 6 69kV

Barra 9 69kV

Barra 8 34,5kV

c
Barra 5 138kV Barra 1 138kV Barra 2 138kV Barra 4 138kV

Barra 7

~ ~

Barra 3 138kV

Figura 41

Teste 2 - Localizaes possveis para os DLCs (tracejado)

Tabela 13

Teste 2 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Barra Nmero 1 2 3 4 5 6 8 9 10 11 12 13 14

Mdulo da corrente de curtocircuito trifsico (kA) 8,32 8,24 3,70 4,26 4,26 5,50 8,25 4,92 3,93 3,49 2,78 3,73 2,80

Reduo da corrente de curto trifsico (%) -0,31 0,00 -2,08 -14,53 -14,07 -0,74 -0,98 -1,23 -0,37 0,03 -0,07 -0,32 -0,04

Relao X/R trifsica 12,78 9,15 3,64 4,01 5,46 6,25 17,51 4,56 3,6 3,24 2,37 3,04 2,56

Mdulo da Reduo corrente de da corrente curtoRelao X/R de curto circuito monofsica monofsico monofsico (%) (kA) 3,09 -0,34 3,93 3,50 0,00 3,66 2,18 -1,17 2,04 3,77 -11,82 4,35 3,62 -12,47 6,35 2,14 -0,03 2,01 7,34 -0,85 20,36 4,67 -1,04 5,12 2,99 -0,36 3,23 2,02 -0,30 2,38 1,38 -0,03 1,63 1,85 -0,14 1,84 1,85 0,00 2,08

89

Pela Tabela 13, tem-se que o percentual do curto-circuito trifsico na barra 4 em relao capacidade da barra : Icurto3f (%) = 100 4,26 = 88,75 %. 4,8 3,77 = 78,54 %. 4,8

E, para curto-circuito monofsico: Icurto1f (%) = 100

Isto que mostra que, como a relao X/R trifsica e monofsica so inferiores a 16,96, o nvel de curto-circuito da barra 4 est dentro do permitido, ou seja, inferior a 90% da capacidade da barra. Logo, esta barra no apresenta mais problemas de equipamentos superados.

Figura 42

Teste 2 - Sistema em regime permanente

90

O sistema se comporta em regime permanente conforme Figura 42. A queda de tenso no reator foi de 0,003 p.u. e as perdas no sistema foram de 13MW, o que corresponde a 4,78% da capacidade instalada. Portanto, o sistema em regime permanente atendeu a todas as restries operativas. Comparando com o teste 1, o teste 2 tem a vantagem de no necessitar de seccionamento de barras, porm o seu custo mais elevado, j que foi considerado apenas o custo do reator inserido. Caso fosse considerado o custo total da obra, incluindo as obras associadas ao seccionamento da barra (para o teste 1), possvel que o custo total do reator inserido no teste 2 seja equivalente, ou at mesmo menor do que o custo do reator inserido no teste 1. Teste 3: Teste com a barra 8 superada pela relao X/R Alocao de reatores em barras, circuitos e transformadores Neste caso, considera-se que a barra 8 est com equipamentos superados pela relao X/R do sistema. Os valores mximos de curto-circuito admissveis por cada barra foram considerados de acordo com a Tabela 14.
Tabela 14 Teste 3 - Valores adotados da corrente de curto suportvel por cada barra

Nmero Barra Corrente (kA)

3 5,2

4 5,6

5 7,0

6 7,6

8 9,4

9 5,6

10 5,5

11 5,0

12 4,0

13 6,0

14 4,0

12,0 12,0

possvel notar pela Tabela 8 que a corrente de curto trifsica na barra 8 8,33 kA, que corresponde a 89% de Icurton, e a relao X/R, monofsica e trifsica, 19,10 e 21,80, respectivamente. Nota-se, portanto, que a barra 8 est superada pela relao X/R do sistema visto que o valor do curto-circuito est entre 85% e 90% da capacidade da barra e a relao X/R est entre 16,96 e 22,62.

91

Para este teste, possibilitou-se inserir reator seccionando as barras 4 e 9 tanto quanto inserir reator em srie com os circuitos que ligam as barras 2-4, 3-4, 4-5, 9-10, 9-14, nos dois transformadores localizados entre as barras 4 e 9 e no compensador sncrono da barra 8, conforme ilustrado na Figura 43.
Barra 13 69kV Barra 14 69kV

Barra 12 69kV

Barra 11 69kV

Barra 10 69kV

Barra 6 69kV

Barra 9 69kV

Barra 8 34,5kV

c
Barra 5 138kV Barra 1 138kV Barra 2 138kV Barra 4 138kV

Barra 7

~ ~

Barra 3 138kV

Figura 43

Teste 3 - Localizaes possveis para os DLCs (tracejado)

Os operadores, parmetros do AG e fatores penalidade utilizados foram: Tamanho da populao: 100; Nmero mximo de geraes: 200; Taxa de cruzamento: 0,5; Operador de cruzamento: uniforme; Operador de seleo: torneio; Taxa de mutao: decaindo por uma exponencial;
k NDLCSer j : 2,0; k NDLCSec j : 2,2;

k3f e k1f : 0. 92

O resultado da simulao foi idntico para os 10 melhores casos e correspondeu a inserir um reator de 12ohms seccionando a barra 4, conforme Tabela 15. Os valores de curto-circuito encontrados esto apresentados na Tabela 16.
Tabela 15 Teste 3 - Reator inserido em barra

Barra Num 4 Nome Barra 4

Tenso (kV) 138

Reator (ohm) 12

Custo (UM) 15,4

Circuitos ou transformadores Sec 1 Sec 2 4-7 2-4 4-9 3-4 4-5

Tabela 16
Mdulo da corrente Barra Nmero de curtocircuito trifsico (kA) 1 2 3 4 sec1 5 6 8 9 10 11 12 13 14 4 sec2 8,32 8,21 3,77 4,90 4,93 5,52 8,02 4,65 3,79 3,44 2,78 3,71 2,75 3,41

Teste 3 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Reduo da corrente de curtocircuito trifsico (%) -0,25 -0,41 -0,35 -1,67 -0,53 -0,45 -3,71 -6,62 -3,92 -1,49 -0,13 -0,72 -1,90 -31,50 12,86 9,38 3,66 4,17 4,67 6,33 16,61 4,45 3,57 3,23 2,37 3,04 2,57 5,00 3,29 3,08 1,10 3,99 2,41 0,64 -13,04 -6,51 -2,46 -0,31 0,42 0,00 0,00 24,69 3,01 3,39 2,16 3,96 3,99 2,14 7,22 4,51 2,93 2,01 1,38 1,85 1,84 3,30 -2,79 -3,08 -2,20 -7,20 -3,33 0,06 -2,47 -4,49 -2,18 -0,89 -0,04 -0,26 -0,76 -22,69 3,89 3,65 2,02 4,46 5,38 2,01 19,87 5,04 3,22 2,38 1,63 1,84 2,09 5,21 0,26 0,27 -0,49 3,00 3,46 0,00 -8,85 -4,91 -0,92 0,00 0,00 0,00 0,48 20,32 Relao X/R trifsica Aumento ou reduo de X/R trifsica (%) Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) Reduo da corrente de curtocircuito monofsico (%) Relao X/R monofsica Aumento ou reduo de X/R monofsica (%)

93

Nota-se pela Tabela 16 que a maior reduo da relao X/R ocorreu na barra 8, como era de se esperar, fazendo com que esta barra no esteja mais com equipamentos superados. Para este resultado, o sistema se comporta em regime permanente conforme a Figura 44.

Figura 44

Teste 3 - Sistema em regime permanente

94

O valor encontrado para as perdas totais no sistema em regime permanente foi 12,9MW, o que corresponde a 4,75% da capacidade instalada, e a queda de tenso no reator foi de 0,010 p.u.. Logo, o sistema se comporta em regime permanente atendendo s restries operativas.

Teste 4: Teste com a barra 8 superada pela relao X/R Alocao de reator apenas em circuitos e transformadores do sistema Neste teste, foi permitido inserir reatores nos circuitos que ligam as barras 2-4, 3-4, 4-5, 9-10, 9-14 e nos dois transformadores localizados entre as barras 4 e 9, conforme Figura 45.

Barra 13 69kV

Barra 14 69kV

Barra 12 69kV

Barra 11 69kV

Barra 10 69kV

Barra 6 69kV

Barra 9 69kV

Barra 8 34,5kV

c
Barra 5 138kV Barra 1 138kV Barra 2 138kV Barra 4 138kV

Barra 7

~ ~

Barra 3 138kV

Figura 45

Teste 4 - Localizaes possveis para os DLCs (em azul)

95

Os parmetros e constantes do AG utilizados foram os mesmos do teste 3. Os valores mximos de curto-circuito admissveis por cada barra tambm foram considerados idnticos aos do teste 3, que esto apresentados na Tabela 14. Os 10 melhores casos salvos deram o mesmo resultado, que est mostrado nas Tabelas 17 e 18.
Tabela 17 Teste 4 - Reator inserido em ramo

Barra de Num 4 Nome Barra 4

Tabela 18
Mdulo da corrente Barra Nmero de curtocircuito trifsico (kA) 1 2 3 4 5 6 8 9 10 11 12 13 14 8,32 8,20 3,77 4,90 4,93 5,53 7,95 4,76 3,84 3,46 2,78 3,72 2,77 -0,30 -0,45 -0,38 -1,62 -0,60 -0,22 -4,61 -4,37 -2,49 -0,90 0,04 -0,44 -1,16 12,56 9,15 3,63 4,01 4,57 6,37 18,58 4,71 3,67 3,26 2,37 3,05 2,59 Reduo da corrente de curto trifsico (%) Relao X/R trifsica

Barra para Num 7 Nome Barra 7

Tenso (kV) 138

Reator (ohm) 25

Custo (UM) 21,60

Teste 4 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Aumento ou reduo de X/R trifsica (%) 0,88 0,55 0,28 0,00 0,22 1,27 -2,72 -1,05 0,27 0,62 0,42 0,33 0,78

Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) 3,04 3,42 2,17 4,04 4,02 2,14 7,12 4,54 2,94 2,01 1,38 1,84 1,84

Reduo da corrente de curto monofsico (%)

Relao X/R trifsica (%)

Aumento ou reduo de X/R monofsica

-2,03 -2,20 -1,62 -5,46 -2,57 -0,11 -3,74 -3,86 -1,91 -0,92 -0,13 -0,37 -0,67

3,83 3,58 2,01 4,2 5,17 2,01 21,84 5,28 3,27 2,39 1,63 1,84 2,09

-1,29 -1,65 -0,99 -3,00 -0,58 0,00 0,18 -0,38 0,62 0,42 0,00 0,00 0,48

96

Com este resultado, o sistema no tem mais equipamentos superados, visto que, para a barra 8: Icurto3f (%) = 100 Icurto1f (%) = 100 7,95 = 84,57 %, para a relao X/R = 18,58 9,4 7,12 = 75,74 %, para a relao X/R = 21,84 9,4

O sistema se comporta em regime permanente conforme Figura 46.

Figura 46

Teste 4 - Sistema em regime permanente

97

A queda de tenso no reator foi de 0,015 p.u. e as perdas foram 13,2MW, o que corresponde a 4,86% da capacidade instalada, estando os valores dentro do aceitvel. Comparando com o teste 3, o teste 4 tem a vantagem de no necessitar de seccionamento de barras, porm, o seu custo ficou mais elevado. importante lembrar que o custo considerado apenas o do reator inserido. Teste 5: Teste com as barras 5, 6 e 9 superadas pela corrente de curto simtrica e a barra 8 superada pela relao X/R Alocao de reatores em barras, circuitos e transformadores do sistema Este teste tem o objetivo de avaliar o desempenho do mtodo na soluo de vrios pontos crticos no mesmo caso. Os parmetros genticos utilizados foram: Tamanho da populao: 200; Nmero mximo de geraes: 200; Taxa de cruzamento: 0,7; Taxa de mutao: 0,005; Operador de cruzamento: dois pontos; Operador de seleo: roleta;
k NDLCSer j : 0,1; k NDLCSec j : 0,15;

k3f e k1f : 0.

Os valores mximos de curto-circuito admissveis por cada barra esto de acordo com a Tabela 19.
Tabela 19 Teste 5 - Valores adotados da corrente de curto suportvel por cada barra

Nmero 1 2 Barra Corrente 12,0 12,0 (kA)

3 5,2

4 5,6

5 5,4

6 6,0

8 9,4

9 5,4

10 5,5

11 5,0

12 4,0

13 6,0

14 4,0

98

Possibilitou-se a insero de DLC em todos os pontos do sistema sejam eles barras, transformadores ou circuitos. A soluo encontrada para os 10 melhores casos foi inserir um reator de 12ohms seccionando a barra 4 e um reator de 10ohms seccionando a barra 5, conforme Tabela 20. A Tabela 21 apresenta os valores encontrados para o melhor caso da simulao.
Tabela 20 Teste 5 - Reator inserido em barra

Barra Num 4 6 Nome Barra 4 Barra 6

Tenso (kV) 138 69

Reator (ohm) 10 5

Circuitos ou transformadores Sec 1 Sec 2 4-7 2-4 4-9 3-4 4-5 6-12 6-11 6-13 6-5

Custo (UM) 14,4

10,0
24,4

Custo Total

Tabela 21
Mdulo da corrente de curtocircuito trifsico (kA) 8,29 8,16 3,76 4,86 4,86 4,74 8,06 4,68 3,78 3,35 2,61 3,46 2,74 3,56 4,93

Teste 5 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Aumento ou reduo de X/R trifsica (%) 3,29 2,86 1,10 2,99 1,10 10,49 -11,52 -5,67 -1,37 2,78 5,93 6,58 0,78 21,95 11,92 Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) 3,02 3,40 2,17 3,98 3,98 2,02 7,24 4,53 2,93 1,98 1,34 1,78 1,83 3,40 2,05 Reduo da corrente de curtocircuito monofsico (%) -2,49 -2,76 -2,02 -6,73 -3,73 -5,60 -2,17 -4,00 -2,31 -2,44 -3,05 -3,57 -1,06 -20,29 -4,33

Barra Nmero

1 2 3 4 sec1 5 6 sec1 8 9 10 11 12 13 14 4 sec2 6 sec2

Reduo da corrente de curtocircuito trifsico (%) -0,68 -0,93 -0,63 -2,47 -2,09 -14,52 -3,27 -5,93 -4,05 -4,12 -6,29 -7,45 -2,20 -28,57 -11,10

Relao X/R trifsica

Relao X/R monofsica

Aumento ou reduo de X/R monofsica (%) 0,52 0,27 -0,49 2,54 2,31 4,48 -7,71 -4,15 0,00 2,94 2,45 2,72 0,48 17,78 7,96

12,86 9,36 3,66 4,13 4,61 6,95 16,9 4,49 3,61 3,33 2,5 3,24 2,59 4,89 7,04

3,9 3,65 2,02 4,44 5,32 2,1 20,12 5,08 3,25 2,45 1,67 1,89 2,09 5,1 2,17

99

O diagrama unifilar da soluo do teste 5 est apresentado na Figura 47.

Figura 47

Teste 5 - Sistema em regime permanente

O valor encontrado para as perdas totais no sistema em regime permanente foi 13,4MW, o que corresponde a 4,93% da capacidade instalada, e a queda de tenso no reator da barra 4 foi de 0,011 p.u. e no reator da barra 6 foi de 0,003 p.u.. Pela Figura 47, observase que as tenses esto todas dentro dos valores aceitveis.

100

 Teste 6: Teste com as barras 5, 6 e 9 superadas pela corrente de curto simtrica e a barra 8 superada pela relao X/R Alocao de reatores apenas em alguns circuitos do sistema Este teste foi realizado de maneira idntica ao teste 5 com mudanas apenas nos locais de alocao e nas constantes k NDLCSer j e k NDLCSec j . Permitiu-se alocar reatores nos circuitos e transformadores indicados na Figura 48.

Barra 13 69kV

Barra 14 69kV

Barra 12 69kV

Barra 11 69kV

Barra 10 69kV

Barra 6 69kV

Barra 9 69kV

Barra 8 34,5kV

c
Barra 5 138kV Barra 1 138kV Barra 2 138kV Barra 4 138kV

Barra 7

~ ~

Barra 3 138kV

Figura 48

Teste 6 - Localizaes possveis para os DLCs (em azul)

E as constantes utilizadas foram: k NDLCSer j : 2,6; k NDLCSec j : 2,9.

O resultado da simulao, idntico para os 10 melhores casos, foi inserir reatores conforme mostrado na Tabela 22. Os resultados numricos do caso esto apresentados na Tabela 23. 101

Tabela 22

Teste 6 Reatores inseridos em circuitos e transformadores

Barra de Num 4 9 4 Nome Barra 4 Barra 9 Barra 4 5 10 7

Barra para Num Nome Barra 5 Barra 10 Barra 7

Custo Total

Tenso (kV) 138 69 138/69

Reator (ohm) 5 12 18

Custo (UM) 12,0 12,8 18,2

43,0

Tabela 23
Mdulo da corrente Barra Nmero de curtocircuito trifsico (kA) 1 2 3 4 5 6 8 9 10 11 12 13 14 8,32 8,21 3,75 4,70 4,75 5,40 7,95 4,61 2,74 3,06 2,76 3,70 2,77

Teste 6 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Reduo da corrente de curtocircuito trifsico (%) -0,30 -0,36 -0,89 -5,66 -4,28 -2,55 -4,57 -7,40 -30,34 -12,42 -0,69 -0,97 -1,20 12,62 9,15 3,64 4,08 4,88 6,71 19,25 5,15 4,02 3,46 2,4 3,09 2,6 1,37 0,55 0,55 1,75 7,02 6,68 0,79 8,19 9,84 6,79 1,69 1,64 1,17 3,05 3,44 2,18 3,95 3,92 2,05 7,14 4,45 2,10 1,78 1,35 1,80 1,83 -1,61 -1,66 -1,56 -7,45 -4,97 -4,38 -3,53 -5,62 -29,95 -12,16 -2,31 -2,66 -0,88 3,85 3,6 2,02 4,29 5,51 2,01 22,38 5,64 3,62 2,48 1,63 1,83 2,08 -0,77 -1,10 -0,49 -0,92 5,96 0,00 2,66 6,42 11,38 4,20 0,00 -0,54 0,00 Relao X/R trifsica Aumento ou reduo de X/R trifsico (%) Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) Reduo da corrente de curtocircuito monofsico (%) Relao X/R monofsica Aumento ou reduo de X/R monofsico (%)

102

Foi eliminado o problema dos equipamentos superados em todas as barras. O sistema se comporta em regime permanente conforme mostrado na Figura 49.

Figura 49

Teste 6 - Sistema em regime permanente

O valor encontrado para as perdas totais no sistema em regime permanente foi 14,6MW, o que corresponde a 5,37% da capacidade instalada. A queda de tenso no reator do circuito 9-10 foi de 0,056 p.u., no reator do transformador 4-7 foi de 0,011 p.u. e no 103

reator do circuito 4-5 foi de 0,0 p.u.. Tanto as perdas quanto as tenses das barras do sistema ficaram dentro dos valores aceitveis. Comparando com o teste 5, o teste 6 apresentou maior custo e maior perda no sistema. Apesar da soluo do teste 6 no necessitar de seccionamento de barras, o custo deste teste 18,6 UM superior ao do teste 5, o que faz com que, possivelmente, o teste 5 ainda seja a melhor soluo para o problema proposto.

5.3.2

Objetivo 2

Teste 7: Teste com as barras 5, 6 e 9 superadas pela corrente de curto simtrica e a barra 8 superada pela relao X/R Este teste foi feito de maneira idntica ao teste 5 com pequenas mudanas nos parmetros do AG e incluso dos fatores trifsico e monofsico, conforme abaixo: Tamanho da populao: 150; Nmero mximo de geraes: 200; Taxa de cruzamento: 0,7; Operador de cruzamento: dois pontos; Operador de seleo: roleta; Taxa de mutao: decaindo por uma exponencial;
k NDLCSer j : 2,9; k NDLCSec j : 3,3;

k3f : 0,1; k1f : 0,1.

Todos os 10 resultados encontrados foram idnticos, dando como resposta a insero de um reator de 10ohms seccionando a barra 4 e um reator de 5ohms seccionando a barra 6, conforme Tabela 24.

104

Tabela 24

Teste 7 - Reator inserido em barra

Barra Num 4 Nome Barra 4

Tenso (kV) 138

Reator (ohm) 10

Circuitos ou transformadores Sec 1 2-4 3-4 4-5 6-12 6-13 Sec 2 4-7 4-9 6-11 6-5

Custo (UM) 14,4

Barra 6

69

5
Custo Total

10,0
24,4

Pode-se observar que o teste 7 deu o mesmo resultado do teste 5 e, consequentemente, os valores de curto aps a alocao e de operao em regime permanente so idnticos aos do teste 5. Este resultado mostra que o algoritmo encontrou a soluo tima em relao ao custo e que o valor das constantes k3f e k1f no foram altos o suficiente para alterar o resultado.

Teste 8: Teste com as barras 5, 6 e 9 superadas pela corrente de curto simtrica e a barra 8 superada pela relao X/R Mudana nas constantes k3f e k1f Este teste foi feito de maneira idntica ao teste 7 com mudana apenas nas constantes k3f e k1f, conforme abaixo: k3f : 0,15; k1f : 0,15.

Os valores de k3f e k1f foram considerados maiores do que o do teste 7 na tentativa de fazer com que o resultado da simulao reduza mais o valor do curto-circuito nas barras do sistema. Todos os 10 casos salvos deram resultados idnticos, que foi inserir um reator de 5ohms seccionando a barra 6 e um reator de 12ohms seccionando a barra 4, conforme Tabela 25. A Tabela 26 apresenta os principais resultados numricos do caso. 105

Tabela 25

Teste 8 - Reator inserido em barra

Barra Num 4 6 Nome Barra 4 Barra 6

Tenso (kV)

Reator (ohm)

Circuitos ou transformadores Sec 1 2-4 3-4 4-5 6-12 6-13 Sec 2 4-7 4-9 6-11 6-5

Custo (UM)

138 69
Custo Total

12 5

15,4 10,0
25,4

Tabela 26
Mdulo da corrente Barra Nmero de curtocircuito trifsico (kA) 1 2 3 4 sec 1 5 6 sec1 8 9 10 11 12 13 14 4 sec2 6 sec2 8,29 8,16 3,75 3,39 4,85 4,92 8,01 4,64 3,76 3,34 2,60 3,46 2,73 4,85 4,73

Teste 8 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Reduo da corrente de curtocircuito trifsico (%) -0,72 -0,99 -0,68 -31,92 -2,19 -11,14 -3,81 -6,85 -4,62 -4,32 -6,34 -7,53 -2,49 -2,71 -14,58 12,92 9,41 3,66 4,97 4,63 7,04 16,53 4,45 3,59 3,33 2,5 3,24 2,58 4,16 6,95 3,78 3,41 1,10 23,94 1,54 11,92 -13,46 -6,51 -1,91 2,78 5,93 6,58 0,39 3,74 10,49 3,01 3,39 2,16 3,29 3,96 2,05 7,21 4,50 2,92 1,98 1,34 1,78 1,83 3,94 2,02 -2,90 -3,23 -2,32 -22,99 -4,20 -4,36 -2,53 -4,64 -2,63 -2,53 -3,07 -3,60 -1,20 -7,73 -5,62 3,9 3,65 2,02 5,19 5,35 2,17 19,81 5,03 3,25 2,45 1,67 1,89 2,09 4,46 2,1 0,52 0,27 -0,49 19,86 2,88 7,96 -9,13 -5,09 0,00 2,94 2,45 2,72 0,48 3,00 4,48 Relao X/R trifsica Aumento ou reduo de X/R trifsica (%) Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) Reduo da corrente de curtocircuito monofsico (%) Relao X/R monofsica Aumento ou reduo de X/R monofsica (%)

106

Comparando esse resultado com o resultado do teste 7, observa-se que o nvel de curto-circuito baixou para o teste 8, porm, este apresentou valores de custos mais elevados. O diagrama do sistema em regime permanente se encontra na Figura 50.

Figura 50

Teste 8 - Sistema em regime permanente

107

Para este sistema, as perdas ficaram em 13,5MW, o que corresponde a 4,97% da capacidade instalada, e a queda de tenso ficou em 0,002 p.u. no reator da barra 6 e 0,012 p.u. no reator da barra 4. Todos os valores esto dentro dos limites operativos.

5.3.3

Resumo dos resultados dos testes do sistema IEEE14

As Tabelas 27 e 29 indicam a percentagem da corrente de curto-circuito trifsico e monofsico, respectivamente, do caso encontrado como resultado do programa em relao capacidade da barra estipulada em cada teste. As Tabelas 28 e 30 apresentam a relao X/R trifsica e monofsica, respectivamente, de cada teste feito.

Tabela 27

Percentual do valor do curto trifsico em relao ao caso base

Barra Nmero 1 2 3 4 sec 1 5 6 sec 1 8 9 10 11 12 13 14 4 sec 2 6 sec 2

Percentual da Corrente de Curto-Circuito Trifsico em Relao Capacidade do Disjuntor Especificada em Cada Teste Teste 1 69,58 68,58 70,96 88,33 66,57 72,11 69,00 88,57 71,45 69,40 69,25 61,83 69,75 89,58 Teste 2 69,33 68,67 71,18 88,68 60,89 72,35 68,74 87,83 71,37 69,82 69,45 62,13 69,97 Teste 3 69,33 68,42 72,50 87,50 70,43 72,63 85,32 83,04 68,91 68,80 69,50 61,83 68,75 60,89 Teste 4 69,34 68,36 72,42 87,49 70,43 72,74 84,53 85,04 69,85 69,17 69,53 62,06 69,19 Teste 5 69,08 68,03 72,24 86,73 89,93 78,92 85,72 86,76 68,73 66,93 65,13 57,69 68,46 63,52 82,09 Teste 6 69,34 68,42 72,04 83,90 87,92 89,98 84,57 85,40 49,90 61,13 69,02 61,73 69,16 Teste 7 69,08 68,03 72,24 86,73 89,93 78,92 85,72 86,76 68,73 66,93 65,13 57,69 68,46 63,52 82,09 Teste 8 69,05 67,99 72,20 60,55 89,84 82,05 85,24 85,90 68,33 66,78 65,09 57,64 68,26 86,52 78,87

108

Tabela 28

Valor da relao X/R trifsica

Barra Nmero 1 2 3 4 sec 1 5 6 sec 1 8 9 10 11 12 13 14 4 sec 2 6 sec 2

Relao X/R trifsica Teste 1 12,44 9,12 3,74 4,52 4,79 6,26 19,00 4,77 3,67 3,24 2,37 3,04 2,58 4,43 Teste 2 12,78 9,15 3,64 4,01 5,46 6,25 17,51 4,56 3,6 3,24 2,37 3,04 2,56 Teste 3 12,86 9,38 3,66 4,17 4,67 6,33 16,61 4,45 3,57 3,23 2,37 3,04 2,57 5,00 Teste 4 12,56 9,15 3,63 4,01 4,57 6,37 18,58 4,71 3,67 3,26 2,37 3,05 2,59 Teste 5 12,86 9,36 3,66 4,13 4,61 6,95 16,90 4,49 3,61 3,33 2,5 3,24 2,59 4,89 7,04 Teste 6 12,62 9,15 3,64 4,08 4,88 6,71 19,25 5,15 4,02 3,46 2,40 3,09 2,60 Teste 7 12,86 9,36 3,66 4,13 4,61 6,95 16,90 4,49 3,61 3,33 2,5 3,24 2,59 4,89 7,04 Teste 8 12,92 9,41 3,66 4,97 4,63 7,04 16,53 4,45 3,59 3,33 2,5 3,24 2,58 4,16 6,95

Tabela 29

Percentual do valor do curto monofsico em relao ao caso base

Barra Nmero 1 2 3 4 sec 1 5 6 sec 1 8 9 10 11 12 13 14 4 sec 2 6 sec 2

Percentual da Corrente de Curto-Circuito Monofsico em Relao Capacidade do Disjuntor Especificada em Cada Teste Teste 1 25,67 28,92 41,35 73,96 56,71 28,16 61,33 83,93 54,36 40,40 34,50 30,83 46,25 79,79 Teste 2 25,74 29,18 42,00 78,44 51,64 28,15 61,14 83,41 54,35 40,48 34,49 30,79 46,28 Teste 3 25,08 28,25 41,54 70,71 57,00 28,16 76,81 80,54 53,27 40,20 34,50 30,83 46,00 58,93 Teste 4 25,31 28,52 41,81 72,09 57,48 28,13 75,78 81,03 53,51 40,23 34,45 30,72 45,94 109 Teste 5 25,19 28,36 41,64 71,12 73,63 33,67 77,01 83,91 53,28 39,61 33,45 29,73 45,76 60,78 34,12 Teste 6 25,42 28,68 41,84 70,57 72,68 34,11 75,94 82,50 38,21 35,66 33,70 30,01 45,84 Teste 7 25,19 28,36 41,64 71,12 73,63 33,67 77,01 83,91 53,28 39,61 33,45 29,73 45,76 60,78 34,12 Teste 8 25,08 28,22 41,51 58,72 73,27 34,11 76,73 83,35 53,11 39,57 33,44 29,72 45,70 70,36 33,66

Tabela 30

Valor da relao X/R monofsica

Barra Nmero 1 2 3 4 sec 1 5 6 sec 1 8 9 10 11 12 13 14 4 sec 2 6 sec 2

Relao X/R monofsica Teste 1 3,86 3,62 2,05 4,89 5,39 2,01 21,74 5,3 3,25 2,38 1,63 1,84 2,09 4,71 Teste 2 3,93 3,66 2,04 4,35 6,35 2,01 20,36 5,12 3,23 2,38 1,63 1,84 2,08 Teste 3 3,89 3,65 2,02 4,46 5,38 2,01 19,87 5,04 3,22 2,38 1,63 1,84 2,09 5,21 Teste 4 3,83 3,58 2,01 4,20 5,17 2,01 21,84 5,28 3,27 2,39 1,63 1,84 2,09 Teste 5 3,90 3,65 2,02 4,44 5,32 2,10 20,12 5,08 3,25 2,45 1,67 1,89 2,09 5,10 2,17 Teste 6 3,85 3,60 2,02 4,29 5,51 2,01 22,38 5,64 3,62 2,48 1,63 1,83 2,08 Teste 7 3,90 3,65 2,02 4,44 5,32 2,10 20,12 5,08 3,25 2,45 1,67 1,89 2,09 5,10 2,17 Teste 8 3,90 3,65 2,02 5,19 5,35 2,17 19,81 5,03 3,25 2,45 1,67 1,89 2,09 4,46 2,10

Conforme j dito anteriormente, como o sistema IEEE14 barras acadmico, foram estipulados valores diferentes da capacidade nominal mxima de cada barra dependendo do teste a ser feito. Logo, no possvel comparar os valores das tabelas anteriores de um teste com o outro. O mais importante dado desta tabela que tanto o nvel de curto-circuito trifsico quanto o monofsico esto inferiores a 90% da capacidade nominal estipulada para os disjuntores. Em alguns casos, onde a superao foi dada pela relao X/R, o nvel de curto est ainda menor, ou seja, com valores inferiores a 85% da capacidade nominal sempre que a relao X/R est entre 16,96 e 22,62. Isto mostra que o programa foi capaz de eliminar todas as superaes do sistema em todos os testes feitos. A Tabela 31 apresenta um resumo dos resultados encontrados para custo, perdas, tempo de execuo e violao de restries dos testes feitos com o sistema IEEE14 barras.

110

Tabela 31

Resultados dos testes com o sistema IEEE14

Nmero do Teste 1 2 3 4 5 6 7 8

Custo Total (UM) 16,8 24,0 15,4 21,6 24,4 43,0 24,4 25,4

Violao de Restries No houve No houve No houve No houve No houve No houve No houve No houve

Perdas no Sistema MW 13,0 13,0 12,9 13,2 13,4 14,6 13,4 13,5 Mvar 21,0 23,9 21,1 23,4 26,9 30,0 26,9 27,4

Tempo de Execuo(*) 00h40m 00h40m 01h17m 01h17m 02h12m 02h13m 02h01m 02h00m

(*): Os tempos de execuo foram obtidos para testes feitos em um computador Pentium 4Mhz.

Comparando os teste 1 e 2, nota-se que os custos totais foram mais elevados para o teste 2, ou seja, quando ocorre a insero de reatores apenas nos circuitos do sistema. O mesmo pode ser observado ao comparar os testes 3 e 4, e 5 e 6. Com estes resultados, conclui-se que a insero de reatores seccionando barras, provoca maior reduo do nvel de curto total no sistema, exigindo um reator de menor capacidade e, conseqentemente, menor custo. A insero de reatores de menor capacidade tem a vantagem de reduzir a queda de tenso no sistema operando em regime permanente e as perdas, porm, em geral, sua execuo demande maior complexidade. Comparando os testes 7 e 8, pode-se observar que a variao das constantes de penalidade podem influenciar no resultado final encontrado. Como o teste 8 utilizou maiores valores para as constantes k3f e k1f, o nvel de curto-circuito do sistema ficou menor, quando comparado com o teste 7. Porm, o teste 8 apresentou maior custo pois indicou a insero de um reator de maior valor. Nota-se, portanto, que as constantes das penalidades tm influncia direta no resultado final do mtodo e as que deram resultados mais satisfatrios esto apresentadas na Tabela 32.

111

Tabela 32

Valores das constantes dos fatores penalidade utilizados

Constantes dos Fatores Penalidade k3f k1f

k NDLCSer j k NDLCSec j

Valores mais Satisfatrios Objetivo 1 0,0 0,0 Entre 0,1 e 3,0 Entre 0,15 e 3,2 Objetivo 2 Abaixo de 0,2 Abaixo de 0,2 Entre 0,1 e 3,0 Entre 0,15 e 3,2

Em resumo, os parmetros de controle e os operadores genticos que melhor se adaptaram ao problema esto apresentados na Tabela 33.

Tabela 33

Parmetros de controle e operadores genticos dos AGs

Parmetros de Controle do AG Seleo Cruzamento Mutao Taxa de cruzamento Taxa de mutao Tamanho da populao Nmero mximo de geraes

Melhor Valor Encontrado Roleta ou torneio Dois pontos ou uniforme Por troca de bit 0,5 ou 0,7 Decaindo por uma exponencial Valores entre 50 e 200 indivduos 200 geraes

5.4 Resultados Numricos com o Sistema da ELETROSUL

O sistema da ELETROSUL apresenta as barras com equipamentos superados listadas na Tabela 34. A capacidade nominal dos disjuntores foi extrada de [6]. Para obter o maior percentual da corrente de curto-circuito em relao capacidade nominal do disjuntor (valor apresentado na ltima coluna da tabela), calculou-se a razo entre o maior

112

valor de curto-circuito, monofsico ou trifsico, e a capacidade nominal do menor disjuntor. Como exemplo, para a barra Joinville 69kV (6142), o maior percentual da capacidade nominal foi calculada dividindo o maior valor da corrente de curto-circuito calculado para a referida barra, que para este caso foi o curto monofsico, pela capacidade nominal do menor disjuntor, ou seja: 17,9 = 124% 14,4

Maior %daCapacidadeNom =

Tabela 34

Valores de curto-circuito das barras com equipamentos superados no caso base da ELETROSUL para o ano de 2010
Mdulo Mdulo da Relao X/R trifsica corrente de curtocircuito monofsico (kA) 8,41 18,68 8,66 6,29 12,19 8,90 17,9 19,8 24,0 15,3 16,4 13,7 8,69 17,26 8,96 6,59 12,09 9,88 Relao X/R monofsica

Barra

da corrente de curtocircuito trifsico (kA) 14,2 15,6 21,4 14,2 13,7 12,4

Capacidade nominal do menor disjuntor (kA) 14,4 20,0 19,9 14,4 14,4 14,4

Maior percentual da capacidade nominal 124 99 121 106 114 95

Nmero

Nome

6142 6526 7735 7795 7800 7803

Joinville 69 J. Lacerda A 69 Blumenau 138 Joinville 138 J. Lacerda A 230 J. Lacerda A 138

Este sistema se comporta em regime permanente, para o patamar de carga pesada, conforme o diagrama da Figura 51. As perdas no sistema da ELETROSUL so de 243,1MW e a capacidade instalada de 4.575,8MW.

113

Figura 51

Diagrama unifilar do comportamento do sistema em regime permanente

114

Foram realizados vrios testes com o equivalente do sistema da ELETROSUL para ajuste dos parmetros do AG e os valores com o melhor desempenho foram praticamente os mesmos dos encontrados nos testes feitos com o sistema IEEE14. A nica exceo foi o tamanho da populao, cujo valor que melhor se adaptou aos testes com o sistema real foi 300 indivduos. Valores superiores a estes no ofereceram melhores resultados, mas aumentaram consideravelmente o tempo de simulao. A seguir encontra-se uma breve descrio dos principais testes feitos.
5.4.1 Objetivo 1

Teste r1: Permite a insero de RLCs nas barras e circuitos do sistema Neste teste, foi permitida a insero de RLCs nas barras superadas e em todas as barras e circuitos de 230kV do sistema equivalente, conforme mostrado na Tabela 35.
Tabela 35 Teste r1 Locais escolhidos para permitir a insero dos RLCs

Barras Num 6142 6190 6526 7734 7735 7739 7740 7794 7795 7800 7802 7803 7808 7824 Nome Joinvile 69kV Usinor 230kV J. Lacerda A 69kV Blumenau 230kV Blumenau 138kV Curitiba 230kV Biguau 230kV Joinville 230kV Joinville 138kV J. Lacerda A 230kV J. Lacerda B 230kV J. Lacerda A 138 Palhoa 230kV Siderop 23kV Num 7800-7802 c1 7734-7794 c1 e c2 7808-7802 c1 e c2 7794-7739 c1 e c2 7795-6160 c1 e c2 7734-7731 c1 e c2 7794-6190 c1 e c2 7734-7740 c1 7824-7802 c1 e c2

Circuitos Nome J.Lacerda A - J.Lacerda B 230kV Blumenau - Joinville 230 kV Palhoa - J.Lacerda B 230kV Joinville Curitiba 230kV Joinville- Joinville IV 138kV Blumenau Itaja 230kV Joinville Usinor 230kV Blumenau Biguau 230kV Siderop J. Lacerda B 230kV

Os seguintes parmetros do AG foram utilizados: Tamanho da populao: 300; 115

Nmero mximo de geraes: 500; Taxa de cruzamento: 0,7; Operador de cruzamento: uniforme; Operador de seleo: roleta; Operador de mutao: decaindo por uma exponencial;
k NDLCSer j : 2,0; k NDLCSec j : 2,4;

k3f e k1f : 0.

O resultado para os 10 melhores casos da simulao foi idntico e correspondeu a inserir reatores nas posies indicadas nas Tabelas 36 e 37.
Tabela 36 Teste r1 - Reatores inseridos nas barras

Barra Num Nome

Tenso Reator Custo (kV) (ohm) (UM)

Circuitos ou transformadores Sec 1 7734-7733 tr1 7734-7733 tr2 7734-7733 tr3 7734-7740 c1 7734-7808 c1 Sec 2 7734-7731 c1 7734-7731 c2 7734-7735 tr1 7734-7735 tr2 7734-7735 tr3 7734-7735 tr4 7734-7794 c1 7734-7794 c2 7794-6190 c1 7794-6190 c2 7794-7734 c1 7794-7734 c2 7794-7739 c1 7794-7739 c2 7794-7795 tr4 7795-6110 c1 7795-6137 c1 7795-6180 c1 7795-6235 c1 7795-7794 tr1 7795-7794 tr2 7795-7794 tr3 7795-7794 tr4

7734

Blumenau

230

18

25,54

7794

Joinville

230

10

20,16

7794-6142 tr1 7794-7795 tr1 7794-7795 tr2 7794-7795 tr3

7795

Joinville

138

18

18,24

7795-6105 c1 7795-6160 c1 7795-6160 c2 7795-6142 tr1 7795-6142 tr2 7795-6142 tr3

116

Tabela 37

Teste r1 - Reator inserido em circuito

Barra de Num Nome 7800 J.Lacerda A

Barra para Num 7802 Nome J.Lacerda B

Nmero do circuito 1

Tenso (kV) 230

Reator (ohm) 18

Custo (UM) 25,54

O custo total da soluo 89,47 UM. A Tabela 38 apresenta os resultados da simulao para as barras que tinham problemas de equipamentos superados e para as barras que foram seccionadas.
Tabela 38 Teste r1 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Mdulo da corrente Barra Nmero de curtocircuito trifsico (kA) 6142 6526 7735 7800 7803 7734 sec1 7794 sec1 7795 sec1 7734 sec2 7794 sec2 7795 sec2 9,71 13,10 15,38 7,87 10,89 11,03 9,06 10,65 19,71 6,71 5,18 10,63 19,08 8,23 17,64 8,78 10,6 7,17 7,08 13,86 8,64 9,24 12,80 16,97 17,74 9,47 12,28 12,51 10,41 11,46 21,39 7,48 6,22 10,77 17,75 8,46 17,99 9,77 10,23 5,50 6,94 13,85 8,76 10,03 14,40 20,00 19,90 14,40 14,40 40,00 31,50 14,40 40,00 31,50 14,40 88,91 84,85 89,17 65,73 85,27 31,26 33,06 79,62 53,47 23,76 43,23 Relao X/R trifsica Mdulo da corrente de curtocircuito monofsico (kA) Relao X/R monofsica Capacidade nominal do menor disjuntor (kA) Maior percentual da capacidade nominal

O sistema se comporta em regime permanente conforme Figura 52. 117

Figura 52

Teste r1 - Sistema em regime permanente

118

As perdas do sistema ficaram em 247,5MW, o que corresponde a 5,40% da capacidade instalada. A queda de tenso nos reatores est indicada na Tabela 39.
Tabela 39 Teste r1 - Queda de tenso nos reatores

Reator Seccionando a barra 7734 Seccionando a barra 7794 Seccionando a barra 7795 No circuito 7800-7802

Queda de Tenso (p.u.) 0,072 0,008 0,045 0,004

Reator (ohm) 18 10 18 18

Portanto, o comportamento do sistema em regime permanente atendeu s restries operativas.

5.4.2 Objetivo 2

Teste r2: Permite a insero de RLCs nas barras e circuitos do sistema Neste teste, foi permitida a insero de RLCs nas barras superadas e em todas as barras e circuitos de 230kV do sistema equivalente, conforme Tabela 35. Os parmetros genticos e constantes utilizados foram: Tamanho da populao: 300; Nmero mximo de geraes: 200; Taxa de cruzamento: 0,7; Operador de cruzamento: uniforme; Operador de seleo: roleta; Operador de mutao: decaindo por uma exponencial;
k NDLCSer j : 2,0; k NDLCSec j : 2,4;

k3f : 0,01; k1f : 0,01. 119

A soluo encontrada para os 10 melhores casos da simulao foi idntica e correspondeu a inserir reatores nos locais apresentados nas Tabelas 40 e 41.
Tabela 40 Teste r2 - Reator inserido em circuito

Barra de Num Nome 7800 J.Lacerda A

Barra para Num 7802 Nome J.Lacerda B

Nmero do circuito 1

Tenso (kV) 230

Reator (ohm) 18

Custo (UM) 25,54

Tabela 41

Teste r2 - Reatores inseridos nas barras

Barra Num Nome

Tenso Reator Custo (kV) (ohm) (UM)

Circuitos ou transformadores Sec 1 7734-7733 tr1 7734-7733 tr2 7734-7733 tr3 7734-7740 c1 7734-7808 c1 Sec 2 7734-7731 c1 7734-7731 c2 7734-7735 tr1 7734-7735 tr2 7734-7735 tr3 7734-7735 tr4 7734-7794 c1 7734-7794 c2 7794-6190 c1 7794-6190 c2 7794-7734 c1 7794-7734 c2 7794-7739 c1 7794-7739 c2 7794-7795 tr4 7795-6110 c1 7795-6137 c1 7795-6180 c1 7795-6235 c1 7795-7794 tr1 7795-7794 tr2 7795-7794 tr3 7795-7794 tr4 7803-7809 c1 7803-6566 c1

7734

Blumenau

230

18

25,54

7794

Joinville

230

12

21,50

7794-6142 tr1 7794-7795 tr1 7794-7795 tr2 7794-7795 tr3

7795

Joinville

138

18

18,24

7795-6105 c1 7795-6160 c1 7795-6160 c2 7795-6142 tr1 7795-6142 tr2 7795-6142 tr3 7803-7800 tr1 7803-7800 tr2 7803-6526 tr1 7803-6526 tr2 7803-6518 c1 7803-6533 c1 120

7803

JLacerda A

138

12,00

O custo total da soluo 102,81 UM. A Tabela 42 apresenta os resultados da simulao para as barras que tinham problemas de equipamentos superados e para as barras que foram seccionadas.
Tabela 42 Teste r2 - Valores de curto calculados aps a insero de RLC

Barra Nmero

6142 6526 7735 7800 7803 7734 sec1 7794 sec1 7795 sec1 7734 sec2 7794 sec2 7795 sec2

Mdulo da Mdulo da Capacidade Maior corrente corrente de Relao Relao nominal do percentual de curtomenor da X/R X/R curtocircuito trifsica monofsica disjuntor capacidade circuito monofsico (kA) nominal trifsico (kA) (kA) 9,59 10,58 12,67 10,72 14,40 87,97 13,05 19,6 16,91 18,14 20,00 84,54 15,37 8,24 17,74 8,47 19,90 89,13 7,83 18,13 9,43 18,4 14,40 78,58 10,70 9,29 12,12 10,25 14,40 65,50 11,03 10,6 12,50 10,23 40,00 84,17 9,04 7,19 10,40 5,51 31,50 31,26 10,46 7,07 11,32 6,92 14,40 33,02 19,71 13,87 21,39 13,86 40,00 78,58 8,74 7,21 8,92 31,50 53,46 6,45 9,2 6,17 9,98 14,40 22,89 5,12

O comportamento do sistema em regime permanente deste teste est indicado na Figura 53. As perdas do sistema ficaram em 247,7MW, o que corresponde a 5,41% da capacidade instalada. A queda de tenso nos reatores est indicada na Tabela 43.
Tabela 43 Teste r2 - Queda de tenso nos reatores

Reator Seccionando a barra 7734 Seccionando a barra 7794 Seccionando a barra 7795 Seccionando a barra 7803 No circuito 7800-7802

Queda de Tenso (p.u.) 0,071 0,012 0,048 0,001 0,004

Reator (ohm) 18 12 18 5 18

121

Figura 53

Teste r2 - Sistema em regime permanente

122

Fazendo a anlise dos resultados do sistema em regime permanente, nota-se que nas barras 795 (que corresponde ao seccionamento da barra 7795), 6105 e 6160, o perfil de tenso ficou um pouco abaixo do especificado, ou seja, abaixo de 0,95 p.u.. Atravs deste teste, foi possvel perceber que necessria a anlise dos casos em regime permanente para verificar se a soluo indicada como boa para o curto-circuito tambm vivel para as condies normais de operao do sistema. Tambm atravs do teste r2, pode-se notar que a mudana na definio da funo objetivo pode influenciar no resultado final e que um bom ajuste nesta funo fundamental para que o programa d resultados que podem ser executados na prtica e que atendam s restries de operao em regime permanente. Uma soluo para o problema da elevada queda de tenso no sistema poderia ser a instalao, ao invs do RLC, de um DLC que no influenciasse tanto no comportamento do sistema em regime permanente, como o caso, por exemplo, dos dispositivos supercondutores.
5.4.3 Resumo dos resultados dos testes do sistema ELETROSUL

Um resumo dos custos totais de cada teste, assim como das perdas no sistema e do tempo de execuo esto mostrados na Tabela 44, onde a violao de restries no est levando em conta a anlise em regime permanente do sistema, e sim apenas o processo de alocao.
Tabela 44 Resultados dos testes com o sistema da ELETROSUL

Nmero do Teste Tr1 Tr2

Custo Total (UM) 89,47 102,81

Violao de Restries No houve No houve

Perdas no Sistema 247,5 247,7

Tempo de Execuo(*) 06h24m 06h20m

(*): Os tempos de execuo foram obtidos para testes feitos em um computador Pentium 4Mhz.

Comparando o teste r1 com o r2, nota-se que o ltimo apresentou custo mais elevado. Isso ocorreu porque a funo de aptido utilizada neste teste considerava tambm a mxima reduo do nvel de curto do sistema, logo, reatores limitadores de curto com 123

maior capacidade foram necessrios no caso. A desvantagem de inserir um nmero alto de reatores que ocorre o aumento das perdas e da queda de tenso no sistema. importante ressaltar que nenhuma restrio foi adotada para insero de RLC nas barras e circuitos do sistema, ou seja, nenhuma verificao foi feita sobre a possibilidade ou no de alocar os reatores nestas posies. Para que as solues encontradas nos testes fossem realmente confiveis, seria fundamental a identificao em campo de todas as barras e circuitos onde a insero do reator permitida.

124

Captulo 6 Concluses
Este trabalho descreve o desenvolvimento de uma metodologia para realizar a alocao tima de dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito em redes de energia eltrica utilizando Algoritmos Genticos. No algoritmo desenvolvido, foram considerados os requisitos de custo do investimento, de nmero de dispositivos inseridos e de nvel de curto-circuito do sistema. Foi analisada a superao por corrente de curto-circuito simtrica e assimtrica. A anlise da tenso de restabelecimento transitria no foi objeto deste trabalho. A integrao dos AGs a um programa de clculo de curto-circuito foi feita de forma que o programa de AGs ficou como um mdulo totalmente independente e integrado. Foi escolhido o programa ANAFAS para clculo de curto-circuito para possibilitar o uso imediato da ferramenta desenvolvida pelos especialistas do setor, visto que o ANAFAS um dos programas de curto-circuito mais utilizados no setor eltrico brasileiro. Durante os testes, comprovou-se que os AGs, para apresentarem resultados adequados, precisam de um ajuste correto nos parmetros que influenciam na sua convergncia, tais como: tamanho da populao, nmero de geraes e fator penalidade. Para os testes realizados, tais parmetros foram ajustados por tentativas a partir da verificao dos resultados obtidos. Constatou-se que alguns desses parmetros dependem do tipo de funo objetivo empregada e do tamanho do problema. Verificou-se tambm a importncia da correta modelagem e formulao da funo de aptido de acordo com o objetivo que se deseja. Definir corretamente o objetivo uma das partes mais complexas e importantes do trabalho. O tempo de processamento computacional desta metodologia considervel, uma vez que a mesma executa um nmero de simulaes de curto-circuito igual ao nmero de barras do sistema vezes o nmero de indivduos da populao vezes o nmero de geraes. Alm disso, a ferramenta est implementada em MATLAB, que utiliza uma linguagem interpretada e no compilada. A maior parte do tempo gasto com o processamento, no entanto, em conseqncia da escrita/leitura de arquivos para realizar a integrao 125

automtica com o programa ANAFAS. Quanto maior o nmero de barras, circuitos e transformadores do sistema, maior o tempo de execuo do programa. O elevado tempo computacional o preo pago para manter a compatibilidade com o ANAFAS. Nos testes foram utilizados dois sistemas de potncia: o sistema IEEE14 barras e o sistema da ELETROSUL. O primeiro, serviu para validar o algoritmo implementado e fazer os primeiros ajustes dos parmetros de controle dos AGs. O outro sistema serviu para avaliar o mtodo frente a problemas prticos de grande porte, permitindo verificar seu desempenho. Os resultados obtidos nos testes foram encorajadores e mostraram que este problema pode ser adequadamente resolvido por AGs visto que o algoritmo implementado apresentou robustez ao obter solues exeqveis para todos os cenrios testados. Os testes feitos revelaram que no existe apenas uma resposta possvel para o problema, mas sim, vrias solues, as quais atendem a determinados objetivos de forma mais ou menos otimizada. A anlise do sistema em regime permanente se mostrou necessria para averiguar se a queda de tenso e as perdas no sistema provocadas pelo RLC invalidariam ou no a soluo encontrada nas simulaes. importante ressaltar que, antes da deciso de instalar um RLC, vrios outros aspectos devem ser estudados para garantir a viabilidade do projeto, tais como: a anlise do desempenho do sistema em regime transitrio, a definio das dimenses fsicas para o RLC, os cuidados especiais com respeito aos possveis danos causados pelo fluxo magntico gerado pelo RLC vida humana, diretamente ou por contato com estruturas metlicas nas vizinhanas, e as especificaes das caractersticas eltricas. Como neste trabalho a otimizao feita apenas para a corrente de curto-circuito, para decidir-se por instalar RLCs no sistema, preciso avaliar tambm o custo das perdas provocadas pelo RLC ao longo dos anos, quando o sistema est operando em regime permanente. Uma medida adotada para minimizar essas perdas, para o caso de RLC instalado seccionando barramentos, distribuir as cargas de forma balanceada em cada seo do barramento a fim de minimizar a corrente que passa pelo RLC na operao normal do sistema j que, quanto menor a corrente, menor so as perdas. Tambm deve ser feita a anlise custo vs. benefcio, comparando-se os lucros econmicos decorrentes da limitao de nvel de curto-circuito com os custos da

126

substituio de equipamento sobrecarregado ou do reforo das instalaes. Entre os equipamentos que podem necessitar de substituio esto, alm dos disjuntores, as chaves seccionadoras, os transformadores de corrente, os transformadores de potencial, os cabos pra-raios e as bobinas de bloqueio. Trabalhos Futuros Anlises realizadas recentemente no sistema brasileiro indicam a necessidade cada vez maior do desenvolvimento de mtodos e avanos tecnolgicos na rea de limitao das correntes de curto-circuito, visando garantir um maior nmero de alternativas para a soluo deste problema. Sendo assim, este assunto ainda deve ser bastante discutido e a linha de pesquisa nesta rea ainda apresenta muitos desafios. O mtodo implementado e o problema em tela podem ser aprimorados em diversos aspectos. A seguir so apresentadas algumas propostas de trabalho que podero ser desenvolvidas no futuro: Incluso do clculo da TRT na anlise da superao dos disjuntores atravs de um programa para clculo de transitrios eletromagnticos; Incluso, entre as opes para limitar o curto-circuito, do seccionamento de barra sem dispositivo limitador, prtica bastante comum no Brasil. Para isso, seria necessria a realizao de estudos de confiabilidade antes e aps o seccionamento da barra para averiguao da viabilidade do projeto; Considerao de outros dispositivos limitadores de corrente de curto, alm do reator a ncleo de ar; Utilizao de tcnicas de processamento paralelo de forma a diminuir o tempo computacional; Avaliao de outros mtodos de busca ou otimizao para soluo do problema; Integrao da anlise em regime permanente metodologia, para avaliao de cada candidato alocao tima; Melhoria da eficincia da implementao que pode ser obtida substituindo o ANAFAS por um programa de curto-circuito desenvolvido de modo integrado ao programa. 127

Referncias Bibliogrficas
[1] ONS, Dispositivos Limitadores de Correntes de Defeito - DLCC - Estado da Arte, Julho de 2004. [2] FREITAS, R., C., et al., Projeto e Aplicao de Limitadores de Corrente Eltrica Supercondutores Resistivos, XVIII SNPTEE, Grupo VIII, 16 a 21 de Outubro de 2005. [3] PERES, L., P., AMON, J. F., Recapacitao da Subestao de Mogi 345/230 kV e Adaptao aos Novos Nveis de Curto-Circuito da Rede, XIV SNPTEE, Grupo VIII, 1997. [4] ONS, Estudo da Reduo de Correntes de Curto-Circuito em Subestaes da rea Rio Atravs da Aplicao de Dispositivos Limitadores, Janeiro de 2002. [5] ARCON, A. B., PINTO, L. C., Limitao dos Nveis de Curto-Circuito em uma Usina de Cogerao Utilizando o Equipamento IS-Limiter Estudo de Caso, XVIII SNPTEE, Grupo VIII, 16 a 21 de Outubro de 2005. [6] ONS, Estudos de Curto-circuito perodo 2004-2007, Novembro de 2004. [7] CHIPPERFIELD, A., FLEMING, P., et al., Genetic Algorithm Toolbox for Use with MATLAB, Version 1.2., University of Sheffield, 1994. [8] ROMRO, S. P., MACHADO, P. A., ANAFAS Programa de Anlise de Faltas Simultneas, IV STPC, Fortaleza, Maio de 1993. [9] CEPEL Centro de Pesquisas de Energia Eltrica, ANAREDE - Programa de Anlise de Redes, Manual do Usurio, V08, Maro de 2005. [10] SCHMITT, H., et al, Fault Current Limiters Report on Activities of CIGRE Working Group A3.10, CIGRE WG 13.10. [11] GREENWOOD, et al., Functional Specifications for a Fault Current Limiter, CIGRE, 13.10, ELECTRA, 2001.

128

[12] MONTEIRO, A. M., Um Estudo de Dispositivos Limitadores de Corrente de Curtocircuito com nfase no IPC (Interphase Power Controller), Dissertao de Mestrado, COPPE/UFRJ, Rio de Janeiro, 2005. [13] AMON, J. F., HARTUNG, K. H., Aplicao de Novas Tcnicas de Limitao de Curto-Circuito Face Conexo de Produtores Independentes Rede Bsica sob o Novo Ambiente Desregulamentado do Setor Eltrico Brasileiro, XVI SNPTEE GSE/005, Campinas So Paulo, 2001. [14] ONS, Dispositivos Limitadores de Curto-Circuito DLCC Estado da Arte e Aplicaes nas Redes Eltricas, Janeiro de 2002. [15] AMON, J. F., Limitao de Curto-Circuito: Novas Tecnologias j Existentes e em Desenvolvimento, IX ERLAC, Foz do Iguau, Brasil, 2001. [16] SIEMENS, SCCL Short-Circuit Current Limitation with FACTS in High-Voltage Systems, Application & Features. [17] GARRITY, T. F., Shaping the Future of Global Energy Delivery, IEEE Power & Energy Magazine, October 2003. [18] TENRIO, A. R. M., JENKINS, N., Investigation of the TCSC as a Fault Currente Limiter, International Conference on Power System Transients IPST, June 1997. [19] CHEN, M., LAKNER, M., RHYNER, W., PAUL, W., Fault Current Limiter Based on High Temperature Superconductors, 1997. [20] NOE, M. and OSWALD, B. R., Technical and Economical Benefits of Superconducting Fault Current Limiters in Power Systems, ASC98, Palm Desert, USA, 1998. [21] ROGERS, J.,D., et al., Superconducting Fault Current Limiter and Inductor Design, IEEE Transactions on Magnetics, Vol. Mag-19, No.3, May, 1983. [22] PAUL, W., CHEN, M., LAKNER, M., et al., Superconducting Fault Current Limiter Applications, Technical and Economical Benefits, Simulations and Tests Results artigo 13-201, 38a Sesso Bienal da CIGRE, Paris, 2000. 129

[23] DAJUZ, A., et al., Equipamentos Eltricos - Especificao e Aplicao em Subestaes de Alta Tenso, UFF, FURNAS, 1985. [24] KINDERMAN, G., Proteo de Sistemas Eltricos de Potncia, Volume 1, 2a Edio, 2005. [25] BARTHOLD, L. O., REPPEN, N. D., HEDMAN, D. E., Anlise de Circuitos de Sistemas de Potncia Curso de Engenharia em Sistemas Eltricos de Potncia srie P.T.I., Convnio Eletrobrs/UFSM, Volume 1 , 2 Edio, Santa Maria, 1983. [26] ALMEIDA, W. G., FREITAS, F. D, Circuitos Polifsicos , Finatec, Braslia, 1995. [27] MELLO, F. P., Proteo de Sistemas Eltricos de Potncia Curso de Engenharia em Sistemas Eltricos de Potncia, srie P.T.I., Convnio Eletrobrs/UFSM, Volume 7 , Santa Maria, 1979. [28] CARVALHO, A. C., et al., Disjuntores e Chaves - Aplicao em Sistemas de Potncia, EDUFF, Niteri, 1995. [29] STEVENSON, W. D. J., GRAINGER, J. J., Power System Analysis, McGraw-Hill International Editions, Electrical Engineering Series, 1994. [30] ONS, Diretrizes para Anlise de Superao de Disjuntores, Secionadores e Bobinas de Bloqueio, setembro de 2005. [31] ONS, Diretrizes para Anlise de Superao de Transformadores de Corrente, setembro de 2005. [32] AMON, J. F., FERNANDES, P. C. A., PIMENTA, D. G., Anlise da Superao das Caractersticas Nominais de Equipamentos: Mtodos para a Identificao da Possibilidade de Ocorrncia e Estudo de Solues de Mitigao Face as Regras do Atual modelo do Setor Eltrico, XVIII SNPTEE, Grupo IV, 16 a 21 de Outubro de 2005. [33] ONS, Diretrizes para a Aplicao de Medidas Mitigadoras nos Casos de Superao de Equipamentos de Alta Tenso, Janeiro de 2006.

130

[34] ONS, Metodologia de Clculo da TRT para Estudos de Superao de Disjuntores, setembro de 2005. [35] DAJUZ, A., et al., Influncia da Evoluo da Componente Assimtrica de Curtocircuito na Capacidade de Interrupo dos Disjuntores, X ERLAC, Maio de 2003. [36] GODOY, M., V., ALVES, F., R., Anlise de Superao de Disjuntores quanto a Curto-Circuito e Tenso de Restabelecimento Transitria no Planejamento CHESF, XVIII SNPTEE, Grupo X, 16 a 21 de Outubro de 2005. [37] CEPEL Centro de Pesquisas de Energia Eltrica, ANAFAS - Programa de Anlise de Faltas Simultneas, Manual do Usurio, V3.4, Junho 2004. [38] SAAVEDRA, O. R., Algoritmos Genticos, Universidade Federal do Maranho, Apostila, 2002. [39] Falco, D. M., Algoritmos Genticos e Evolucionrios, COPPE/UFRJ, Notas de aula, 2002. [40] GOLDBERG, D. E., Genetic Algorithms in Search, Optimization, and Machine Learning, Addison-Wesley, 1989. [41] Penido, D. R. R., Combinao de Algoritmos Genticos e Algoritmos de Fluxo de Potncia timo na Soluo de Problemas de Otimizao Esttica com Variveis Discretas, COPPE/UFRJ, Trabalho de Tcnicas Inteligentes Aplicadas a Sistemas Eltricos de Potncia, 2004. [42] CHIPPERFIELD, A. J., FLEMING, P. J. and FONSECA, C. M., Genetic Algorithm Tools for Control Systems Engineering, Proc. Adaptive Computing in Engineering Design and Control, Plymouth Engineering Design Centre, 21-22 September, pp. 128-133, 1994. [43] CHIPPERFIELD, A. J., FLEMING, P. J., The MATLAB Genetic Algorithm Toolbox, From IEEE Colloquium on Applied Control Techniques Using MATLAB, digest no. 1995/014, 1995.

131

Apndice A Teoria Bsica de Curto-Circuito

Para exemplificar o mtodo de clculo dos diferentes tipos de curto-circuito, ser considerado um exemplo formado por uma linha de transmisso interligando dois sistemas. A Figura A1 ilustra o processo sendo que os dois sistemas esto representados pelos seus equivalentes (equivalentes de Thvenin).

ZLA EA

ZLB ZB EB

ZA

Sistema A
Figura A1

curto

Sistema B

Sistema exemplo para clculo de curto-circuito

Pelo Teorema de Thvenin, a corrente de curto-circuito em determinado ponto do sistema dada por:
Vth Z th

I curto =

(A.1)

Onde Vth a tenso no ponto de falta e Zth a impedncia do circuito vista pelo ponto de curto.

132

Este Teorema vlido para o clculo dos diversos tipos de curto que sero abordados a seguir. Curto-Circuito Trifsico (Simtrico) No provoca desequilbrio no sistema pois se admite que todos os condutores da rede so solicitados de modo idntico e conduzem o mesmo valor eficaz da corrente de curto. Por esse motivo so classificados como curto simtrico e seu clculo pode ser efetuado por fase. Para o clculo simplificado do curto trifsico, considera-se o circuito equivalente de seqncia positiva, sendo indiferente se o curto envolve ou no a terra. Considerando a Figura A1, o equivalente de seqncia positiva fica:

EA ZA1

EB ZB1

ZLA1

ZLB1

Icurto

Zf

Figura A2

Sistema equivalente para curto-circuito trifsico

onde: ZA1 - impedncia equivalente do sistema A; ZLA1 - impedncia da linha entre o sistema A e o ponto de falta; EA - tenso do sistema A; ZB1 - impedncia equivalente do sistema B; ZLB1 - impedncia da linha entre o sistema B e o ponto de falta; EB - tenso do sistema B; Zf - impedncia de falta.

133

Calculando o equivalente de Thvenin no ponto de falta, tem-se: Zth = Z1 = (ZA1 + ZLA1) // (ZB1+ ZLB1) A corrente de curto-circuito trifsico pode ser calculada por:
I curto = E Z1 + Z f

(A.2)

(A.3)

onde: E = Vth - Tenso equivalente no ponto de falta; Icurto - Corrente de falta. O circuito equivalente pode ser representado pela Figura A3.

E Z1

Icurto

Zf

Figura A3

Equivalente para curto-circuito trifsico

Curtos Assimtricos So os curtos bifsicos (com ou sem contato com a terra) e os monofsicos. Como so curtos desequilibrados, seus clculos so realizados atravs do uso de componentes simtricas. O mtodo das componentes simtricas se baseia no Teorema de Fortescue [26], que diz: 134

Qualquer grupo desequilibrado de n fasores associados, do mesmo tipo, pode ser resolvido em n grupos de fasores equilibrados, denominados componentes simtricas dos fasores originais. De acordo com este teorema, um sistema trifsico desequilibrado, seqncia de fases a, b, c, caracterizado por trs fasores de corrente Ia, Ib, Ic, girando freqncia angular da rede, pode ser resolvido por trs outros sistemas simtricos: Um sistema trifsico equilibrado, na mesma seqncia de fases do sistema desequilibrado original, denominado sistema de seqncia positiva; Um sistema trifsico equilibrado, na seqncia de fases inversa da seqncia de fases do sistema desequilibrado original, denominado sistema de seqncia negativa; Um sistema simtrico de fasores paralelos, chamado de sistema de seqncia zero. possvel representar esses trs sistemas pela forma matricial dada pela Equao (A.4). I a 1 1 I = 1 2 b I 1 c onde: Ia1, Ia2 e Ia0 so os fasores de seqncia positiva, negativa e zero, respectivamente; 1 I a0 I a1 2 I a2

(A.4)

=1 120o.
Para clculo de curtos monofsicos, a configurao das componentes de seqncia est indicada na Figura A4, considerando curto-circuito da fase a para a terra.

135

EA ZA1 ZLA1

EB ZB1 ZLB1

Ia1 ZA2 ZLA2 Ia2

Zf1

ZB2 ZLB2 Zf2

ZA0 ZLA0 Ia0

Figura A4

ZB0 ZLB0 Zf0

Diagrama do sistema para curto-circuito monofsico

Onde: ZA1 - impedncia de seqncia positiva equivalente do sistema A; ZLA1 - impedncia de seqncia positiva da linha entre o sistema A e o ponto de falta; ZB1 - impedncia de seqncia positiva equivalente do sistema B; ZLB1 - impedncia de seqncia positiva da linha entre o sistema B e o ponto de falta; Zf1 - impedncia de falta de seqncia positiva; ZA2 - impedncia de seqncia negativa equivalente do sistema A; ZLA2 - impedncia de seqncia negativa da linha entre o sistema A e o ponto de falta; ZB2 - impedncia de seqncia negativa equivalente do sistema B; 136

ZLB2 - impedncia de seqncia negativa da linha entre o sistema B e o ponto de falta; Zf2 - impedncia de falta de seqncia negativa; ZA0 - impedncia de seqncia zero equivalente do sistema A; ZLA0 - impedncia de seqncia zero da linha entre o sistema A e o ponto de falta; ZB0 - impedncia de seqncia zero equivalente do sistema B; ZLB0 - impedncia de seqncia zero da linha entre o sistema B e o ponto de falta. Zf0 impedncia de falta de seqncia zero.

Considerando: Zth1 = Z1 = (ZA1 + ZLA1) // (ZB1+ ZLB1) Zth2 = Z2 = (ZA2 + ZLA2) // (ZB2+ ZLB2) Zth0 = Z0 = (ZA0 + ZLA0) // (ZB1+ ZLB0) Zf1 = Zf2 = Zf0 = Zf Ento:
I a1 = I a 2 = I a 0 = E Z 1 + Z 2 + Z 0 + 3Z f

(A.5) (A.6) (A.7) (A.8)

(A.9) (A.10)

Icurto = Ia= Ia1 + Ia2 + Ia0 = 3Ia1 Como o curto da fase a para a terra, tem-se que: I b = Ic = 0 O circuito equivalente est apresentado na Figura A5.

(A.11)

137

~
Ia1

E Z1

Z2

Z0 3Zf
Figura A5 Equivalente para curto-circuito monofsico

Curtos bifsicos entre as fases b e c podem ser representados atravs da Figura A6.

EA ZA1 ZLA1

EB ZB1 ZA2 ZB2 ZLB2 Ia2 ZLB1 ZLA2 Zf

Ia1
Figura A6

Diagrama do sistema para curto-circuito bifsico

Com Z1 e Z2 definidos conforme as equaes para clculo de curto-circuito monofsico apresentadas anteriormente, tem-se:
I a1 = I a 2 = E Z1 + Z 2 + Z f

(A.12) (A.13) 138

Ia0 = 0

I curto = I a1 O equivalente est apresentado na Figura A7.

(A.14)

E Z1 Zf
Equivalente para curto-circuito bifsico

Z2

Icurto
Figura A7

No caso de curtos bifsicos envolvendo a terra, a representao se faz de acordo com a Figura A8, para curto entre as fases b e c.

EA ZA1 ZLA1

~ EB
ZB1 ZA2 ZB2 ZLB2 Ia2 ZA0 ZLA0 3Zf Ia0 ZLB1 ZLA2 Ia1

ZB0 ZLB0

Figura A8

Diagrama do sistema para curto-circuito bifsico-terra

Neste caso, as correntes de seqncia so representadas conforme as Equaes (A.15) a (A.17).

E Z 1 + Z 2 //( Z 0 + 3Z f )

I a1 =

(A.15)

139

I a 2 = I a1 I a 0 = I a1

( Z 0 + 3Z f ) Z 2 + Z 0 + 3Z f Z2 Z 2 + Z 0 + 3Z f

(A.16) (A.17)

Como: Ia = Ia0 + Ia1 + Ia2 = 0 Ento: Icurto = 2Ia0 - Ia1 - Ia2 (A.19) (A.18)

Para sistemas de grande porte, o clculo dos diversos tipos de curto-circuito executado utilizando-se a matriz de impedncia de barra, Zbarra, que est relacionada com a matriz de admitncia de barra, Ybarra, conforme a Equao (A.20). Zbarra = Ybarra-1 (A.20)

A matriz de admitncia de barra obtida diretamente da rede eltrica por inspeo [29] e, a partir dela, obtm-se a matriz de impedncia de barra por inverso explcita ou utilizando-se algoritmos mais eficientes computacilnalmente. Para anlise em componentes de seqncia, as redes de seqncia positiva, negativa e zero tm associadas uma matriz Ybarra e, conseqentemente, uma matriz Zbarra, representada pelas Equaes (A.21) a (A.23).
Z 11(1) Z 21(1) = M Z m1(1) Z 12 (1) Z 22 (1) M Z m 2 (1) L Z 1m (1) L Z 2 m (1) O M L Z mm (1)

Zbarra (1)

(A.21)

140

Zbarra ( 2 )

Z 11( 2) Z 21( 2 ) = M Z m1( 2 ) Z 11( 0 ) Z 21( 0 ) = M Z m1( 0 )

Z 12 ( 2) Z 22 ( 2 ) M Z m 2( 2) Z 12 ( 0 ) Z 22 ( 0) M Z m 2( 0)

L Z 1m ( 2 ) L Z 2 m( 2) O M L Z mm ( 2 ) L Z 1m ( 0) L Z 2 m ( 0) O M L Z mm ( 0 )

(A.22)

Zbarra ( 0 )

(A.23)

Zmm(1), Zmm(2) e Zmm(0) representam as impedncias de seqncia positiva, negativa e zero, respectivamente, vistas pelo ponto de curto-circuito (impedncia equivalente de Thvenin). Sendo assim, o clculo do curto-circuito na barra m atravs da matriz Zbarra feito considerando que: Zth(1) = Zmm(1) Zth(2) = Zmm(2) Zth(0) = Zmm(0) (A.24) (A.25) (A.26)

Logo, basta substituir Z1, Z2 e Z0 das Equaes anteriormente apresentadas por Zmm(1), Zmm(2) e Zmm(0) , respectivamente. Sendo assim, para curtos-circuitos trifsicos:
E Z mm (1) + Z f

I curto =

(A.27)

Para curtos-circuitos monofsicos, fase a para terra:

3E + Z mm ( 2) + Z mm ( 0 ) + 3Z f

I curto =

Z mm (1)

(A.28)

No caso de curtos-circuitos bifsico, fase b e c, sem a terra:

141

I curto =

Z mm (1)

E + Z mm ( 2) + Z f

(A.29)

E para curtos-circuitos bifsicos, fases b e c, envolvendo a terra:

I a1 = Z mm (1) E + Z mm ( 2) //( Z mm ( 0 ) + 3Z f )

(A.30)

I a 2 = I a1
I a 0 = I a1

( Z mm ( 0) + 3Z f ) Z mm ( 2 ) + Z mm ( 0) + 3Z f
Z mm ( 2) Z mm ( 2 ) + Z mm ( 0) + 3Z f

(A.31)

(A.32)

Como: I a 1 1 I = 1 2 b I 1 c Ento: Icurto = Ib + Ic (A.34) 0 1 I a0 2 I a1 = I a 0 + I a1 + I a 2 2 I a 2 I + I + 2 I a1 a2 a0

(A.33)

Levantamentos estatsticos [26] indicam que a ocorrncia dos tipos de defeitos em sistemas de potncia se d, na mdia, conforme a seguinte probabilidade: curtos-circuitos trifsicos: 5% curtos-circuitos bifsicos, sem terra: 15% curtos-circuitos bifsicos, com terra: 10% curtos-circuitos monofsicos: 70%

142

Apndice B Sntese dos Principais DLCs

Uma sntese dos principais DLCs encontrados na literatura esto descritos a seguir. Informaes mais detalhadas sobre estes dispositivos so encontradas em [12].
FACTS Flexible AC Transmission Systems

O termo FACTS provm do ingls Flexible AC Transmission Systems e definido pelo IEEE como: sistemas de transmisso em corrente alternada que utilizam dispositivos de eletrnica de potncia e tambm outros controladores estticos, com o objetivo de aumentar a controlabilidade e a capacidade de transferncia de potncia de um sistema eltrico. A tecnologia FACTS j vem sendo aplicada em sistemas eltricos de potncia em todo o mundo h bastante tempo como soluo tcnica para diferentes necessidades relacionadas rede de transmisso. Suas principais reas de atuao so: Aumento da capacidade do sistema utilizando FACTS em compensao srie Controle do fluxo de potncia Amortecimento de oscilaes eletromecnicas e/ou subsncronas Limitadores de curto-circuito

Os principais dispositivos FACTS utilizados como limitadores de curto-circuito so o TCSC e o TPSC, cujas caractersticas esto apresentadas a seguir. TCSC (Thyristor Controlled Series Capacitor) O capacitor srie controlado por tiristor (TCSC) um dos controladores FACTS mais promissores para aplicaes diversas nos sistemas de potncia, inclusive a limitao 143

de correntes de falta. Ele combina capacitores srie convencionais com reatores controlados por tiristores (RCT), permitindo um controle contnuo da reatncia satisfazendo o requisito, aparentemente contraditrio, de aumentar a capacidade de transmisso do sistema (diminuindo a impedncia de transferncia entre barras com os capacitores srie) com um decrscimo do nvel de curto-circuito [14]. O circuito de potncia formado por um banco de capacitores em paralelo com reatores controlados por tiristor e um pra-raios (MOV) para proteger o capacitor, conforme apresentado no diagrama da Figura B1.

Circuito de potncia do TCSC

MOV

C
Linha de Transmisso

Figura B1

TCSC operando como limitador de curto

Quando o tiristor est conduzindo corrente, o banco de capacitores by-passado pelo reator controlado por tiristor. Assim, a impedncia do TCSC muda em curto espao de tempo de capacitiva para indutiva aumentado a impedncia do sistema e fazendo com que, desta forma, o TCSC atue como limitador de curto. Segundo [18], para operar como limitador de corrente de falta, o TCSC deve ser dimensionado para resistir corrente de curto-circuito e apresentar uma impedncia indutiva alta. Como conseqncia, necessrio mudar algumas caractersticas do TCSC, como a freqncia natural de ressonncia do circuito LC e valores nominais dos componentes do equipamento em questo. O custo desta tecnologia ainda alto, inviabilizando a sua instalao para uso como limitador de corrente de curto-circuito apenas, a menos que traga outros benefcios para o 144

sistema como por exemplo o controle de fluxo de potncia, o aumento na capacidade de transmisso ou o amortecimento de oscilaes eletromecnicas e subsncronas nos sistemas eltricos provocando o melhoramento da estabilidade dinmica e transitria. TPSC (Thyristor Protected Series Compensation) O TPSC outra tecnologia baseada em FACTS em desenvolvimento que pode ser utilizada como dispositivo limitador de corrente de falta. Para isso, o TPSC deve ser instalado em srie com um reator, cuja impedncia deve ser especificada de acordo com o nvel de curto-circuito permitido. Desta forma, o dispositivo opera com impedncia zero em regime permanente (circuito LC srie ressonante) e, no momento do curto, o capacitor chaveado (by-passado), aumentando a impedncia equivalente do sistema e limitando o curto-circuito. A Figura B2 ilustra o caso em questo.

DLC
TPSC Reator

Barra 1

Barra 2

Figura B2

TPSC utilizado como DLC

Como a impedncia equivalente s notada no momento do curto, no h o consumo de energia em regime permanente, logo, a instalao desses dispositivos no causa impacto na operao normal do sistema. Entre as caractersticas do TPSC usado como limitador de curto, esto: Alta velocidade de limitao de corrente devido ao uso de tiristores de alta potncia; 145

Sua presena no modifica os esquemas de proteo existentes; No produz impacto na estabilidade do sistema nem na operao em regime permanente; Projetado para suportar contingncias mltiplas; A limitao da corrente feita por um reator convencional, logo, no h risco de falha por no atuao do equipamento.

DLC Supercondutor

Os dispositivos limitadores de curto-circuito baseados em supercondutores oferecem uma forma de contornar as restries do sistema porque apresentam uma impedncia que varia dependendo das condies de operao da rede. Normalmente, estes equipamentos apresentam impedncia desprezvel durante a operao normal do sistema e alta impedncia no momento da falta devido mudana do seu estado de supercondutividade para o de condutividade normal tornando possvel, desta forma, a limitao passiva da corrente de curto-circuito. Com esses dispositivos possvel, portanto, uma combinao sempre desejada que a de se ter uma rede com baixa impedncia em regime permanente e com baixas correntes de curto-circuito nas condies de falta. Essencialmente, existem dois conceitos de DLC supercondutores, denominados resistivo e indutivo. O DLC supercondutor resistivo conectado diretamente em srie com o circuito a ser protegido. Seu princpio de funcionamento se d de forma que, quando ocorre um aumento na intensidade da corrente eltrica devido a um curto-circuito, o material supercondutor existente na parte interna do fio transita do estado supercondutor, em que possui resistncia praticamente nula, para o estado normal de conduo em um espao de tempo da ordem de 1ms. Quando ocorre esta transio, a corrente eltrica passa a ser conduzida pela matriz metlica de alta resistividade que reveste o fio supercondutor, o que equivale a introduzir uma resistncia eltrica em srie no sistema, aumentando sua impedncia e limitando a corrente eltrica a um valor pr-determinado [2]. O DLC supercondutor indutivo pode ser modelado como um transformador. O primrio o enrolamento de condutividade normal e inserido em srie com o circuito a ser protegido. Consiste em vrios enrolamentos de forma anloga a um enrolamento 146

convencional. O secundrio o enrolamento supercondutor. Consiste, na maioria das vezes, num nico enrolamento, que invlucro cilndrico. A impedncia do dispositivo em regime permanente perto de zero, j que a impedncia nula do secundrio refletida para o primrio. Na ocorrncia de curto-circuito, um aumento na intensidade da corrente que passa pelo circuito induz uma alta corrente no secundrio. Desta forma, este enrolamento perde seu estado de supercondutividade, resultando em uma impedncia elevada que refletida para o primrio, limitando assim a corrente de falta. Comparando os dois tipos de dispositivos baseados em supercondutores, nota-se que o tipo indutivo apresenta a desvantagem de ser aplicado apenas para correntes CA e ter maiores tamanho e peso. Por outro lado, o mesmo no necessita de conduzir corrente, o que o torna bastante apropriado para aplicaes em redes onde a circulao de corrente alta, j que o valor das perdas proporcional a esta corrente [22]. Embora a pesquisa sobre o uso de limitadores de curto-circuito baseado em materiais supercondutores tenha tido significativos progressos nos ltimos anos, eles ainda no so comercialmente viveis para aplicao em sistemas de transmisso em alta tenso. Pesquisas ainda esto sendo feitas para tornarem estes dispositivos tecnicamente eficientes e economicamente atrativos.

DLC Pirotcnico

Os dispositivos pirotcnicos se caracterizam por limitar consideravelmente a corrente de curto-circuito no incio de seu estabelecimento, de tal forma que o seu mximo valor assimtrico fique bastante reduzido. Tm sido utilizados com sucesso em sistemas com tenso nominal at 40kV, podendo ser instalados nas interligaes de redes, nos vos de geradores e na conexo de barramentos, a fim de eliminar a contribuio de novas fontes que acarretariam o aumento dos nveis de curto-circuito em instalaes existentes. Basicamente, o DLC pirotcnico consiste de um condutor principal projetado para conduzir uma corrente nominal de valor elevado, porm com baixa capacidade de interrupo, e um fusvel em paralelo com alta capacidade de ruptura. A Figura B3 apresenta um desenho esquemtico do dispositivo pirotcnico.

147

1 tubo isolante 2 carga explosiva para a interrupo da corrente de falta 3 condutor principal 4 fusvel 5 transformador de pulso

Figura B3

Desenho esquemtico do DLC pirotcnico da ABB [5]

De forma a conseguir um baixssimo tempo de interrupo, instalada no condutor principal uma pequena carga explosiva com energia suficiente para interromper o fluxo de corrente que passa por este condutor. Quando o condutor principal aberto, a corrente continua fluindo pelo fusvel paralelo, sendo limitada dentro de 0,5ms e ento finalmente interrompida na prxima passagem por zero. A corrente que flui pelo DLC pirotcnico permanentemente monitorada por um dispositivo eletrnico de medio e atuao, o qual avalia o valor instantneo e a taxa de crescimento da corrente e compara com os valores ajustados, de maneira que ocorra a atuao, se ambos limites forem atingidos, durante a primeira subida da corrente de curtocircuito. As trs fases possuem monitoramento e atuao independentes uma da outra. Aps a interrupo do defeito, o DLC pirotcnico ento desconectado por um disjuntor em srie para permitir a substituio das partes internas (carga explosiva e fusvel). Durante este perodo, h a perda de suprimento s cargas afetadas ou a separao da rede quando o dispositivo localizado, por exemplo, em interligaes de barramentos de subestaes. importante ressaltar que o dispositivo pirotcnico no elimina a necessidade de se ter equipamentos de manobra convencionais dos circuitos como por exemplo os disjuntores

148

e chaves seccionadoras j que o mesmo atua quando o disjuntor j est superado. Correntes de curto pequenas continuam sendo interrompidas pelo disjuntor.
Elos de Corrente Contnua

Quando ocorre a interligao de grandes e complexos sistemas de corrente alternada, o nvel de curto-circuito aumenta consideravelmente. Uma alternativa para evitar este problema a interligao em corrente contnua visto que, desta forma, no haver contribuio de corrente de curto-circuito de um sistema para o outro.
Disjuntores Eletrnicos de Abertura Rpida

Estes dispositivos possuem tempo de abertura menor do que os disjuntores convencionais. Sendo assim, para funcionar como dispositivos limitadores de corrente de curto-circuito, basta que os disjuntores eletrnicos de abertura rpida atuem antes dos disjuntores superados fazendo com que os disjuntores superados atuem apenas quando o nvel de curto-circuito do sistema estiver mais baixo.

IPC Interphase Power Controllers

Os IPCs so equipamentos desenvolvidos com o propsito de controlar o fluxo de potncia ativa e reativa em interligaes em CA, podendo ser aplicados na soluo de alguns problemas de operao em regime permanente da rede, tais como: interligaes de redes sem modificao dos nveis de curto-circuito, aumento da transferncia de potncia de instalaes dotadas de transformador defasador e como dispositivos limitadores de corrente de defeito [1]. Conforme Figura B4, os dispositivos so formados por susceptncias indutivas e capacitivas ligadas em srie com elementos defasadores que podem ser transformadores. Utilizando equipamentos convencionais (reatores de ncleo de ar, capacitores e transformadores defasadores) com um conceito original para o controle de potncia ativa e reativa, os IPCs limitam sua prpria contribuio para as correntes de falta, desacoplando

149

as tenses entre seus terminais. Podem ser tambm utilizados em srie em uma linha de transmisso que faz a interligao de redes, controlando o fluxo de carga em tempo real (com possibilidade de inverso do fluxo) e evitando problemas de superao das subestaes terminais por curto-circuito.

+
Vs elemento defasador

ou Vr reatncia capacitiva ou indutiva

+
elemento defasador

ou

reatncia capacitiva ou indutiva

Figura B4

Diagrama esquemtico de um IPC com n ramos [12]

150

Apndice C Grficos de Convergncia do AG

Os grficos de convergncia do AG para todos os testes feitos esto mostrados nas Figuras C1 a C10.

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C1 Teste 1 - Grfico de convergncia do AG

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C2 Teste 2 - Grfico de convergncia do AG

151

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C3 Teste 3 - Grfico de convergncia do AG

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C4 Teste 4 - Grfico de convergncia do AG

152

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C5 Teste 5 - Grfico de convergncia do AG

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C6 Teste 6 - Convergncia do AG

153

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C7 Teste 7 - Convergncia do AG

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C8 Teste 8 - Convergncia do AG

154

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C9 Teste r1 - Grfico de convergncia do AG

Funo de Aptido Mxima

Nmero de Iteraes
Figura C10 Teste r2 - Convergncia do AG

155