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Aplicaes com o System 8
Como o System8 pode ajud-lo a testar e reparar suas placas?
Anlise de placas eletrnicas com System8
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Sobre o System 8
O SYSTEM 8 um conjunto de ferramentas dedicados para
testes, medidas, deteco de falhas em placas e
componentes eletrnicos que possuam tecnologia analgica
ou digital.

Os equipamentos da linha System 8 so modulares e
podem ser adquiridos de acordo com suas exigncias e
necessidades. As descries de cada mdulo encontram-se
nos slides a seguir.

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Mdulos para testes de placas da linha System8
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Mdulo para testes Analgicos (AICT)
Caractersticas do Mdulo AICT:
Testes Funcionais de componentes Analgicos in-circuit
Ex: LM339,MC1458,TL061A, AD817AN e outros.
Testes funcionais de componentes discretos
Ex: BD202,BFC45,2N5192,BC848 e outros.
24 canais para Anlise de assinatura (V-I)
Teste comparativo.
24 canais para Anlise de assinatura Matrix (V-I)
Teste Comparativo.
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Mdulo para testes Digitais (BFL)
Caractersticas do Mdulo BFL:
Teste Funcional de componentes Digitais in-circuit
Ex: 74HC14,54HC00,ULN2065 e outros.
Identificador de Circuitos Integrados.
Teste de anlise de assinatura. (Digital V-I)
Gerador/Testador Lgico de at 256 canais.
Verificador de Eprom
Localizador de Curtos
Fonte controlada de 5 VDC e 5A para testes em TTL
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Mdulo para testes Digitais Avanados (ATM)
Caractersticas do Mdulo ATM:
Teste Funcional de componentes Digitais in-circuit
Ex: 74HC14,54HC00,ULN2065 e outros.
Identificador de Circuitos Integrados.
Teste de anlise de assinatura. (Digital V-I)
Capacidade de gerar, medir tenses e realizar teste V-I com at 2048 canais.
Testes de componentes da famlia ECL.
Localizador de Curtos
Testes em nvel de placa (Testes GO NO GO).
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Mdulo de Mltiplos Instrumentos (MIS3)
Caractersticas do Mdulo MIS3:
Instrumentos padres para anlise de sinais:
Osciloscpio,Multmetro Digital, Gerador de
Funes, Frequencmetro.
Fonte Auxiliar .
Quatro canais analgicos I/O programveis
Quatro canais digitais I/O programveis
Customizao de Instrumentos especficos
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Mdulo de Fonte (VPS)
Caractersticas do Mdulo VPS:
Fonte Fixa de 6V DC e 5A programvel.
Fonte Varivel Positiva 0 a 24V e 1.5A.
Fonte Varivel Negativa 0 a -24V e 1.5A
Fonte inteligente, trabalha em conjunto com outros mdulos da ABI
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Considere a seguinte (PCB)
Como voc pode testar e reparar uma placa utilizando o System 8?
Opes de testes com mdulos da linha System8
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ANLISE COM MATRIX V-I
Anlise profunda de assinatura de
componentes para busca de
falhas.
TESTE DE COMPARAES DE
SINAIS
Injete sinais e verifique a sada
em diversos pontos da placa
TESTE CUSTOMIZADO
Verifique o funcionamento de
um rel atravs de
instrumento personalizado
TESTE FUNCIONAL ANALGICO
Verifique a funcionalidade de circuitos
analgicos in-circuit.
ANLISE DE ASSINATURA (V-I)
Verifique a integridade do componente
atravs da curva V-I
TESTE DE PLACAS
Leia, injete tenses ou realize o Teste
V-I atravs de conectores de borda
TESTE FUNCIONA DIGITAL
Verifique a funcionalidade do CI
atravs da tabela da verdade.
ANLISE DE SINAIS
Realize medidas com
instrumentos padres.
LOCALIZADOR DE
CURTOS
Verifique curtos na
placa.
VERIFICADOR DE CIS
Verifique as conexes
e curvas V-I de PLDs.
IDENTIFICAO DE CIS
Identificador de circuitos
raspados.
VERIFICADOR DE EPROM
Faa a leitura do contedo
de determinadas Eproms
FONTE
Alimente sua placa e
verifique o consumo de
corrente.
TESTE DINMICO DE
SEMICONDUTORES V-T
Testes de dispositivos de portas
ativados com o modo de pulsos V-T
ANALISE DE ASSINATURA DE
COMPONENTES DISCRETOS (V-I)
Detecte solda fria, e posies incorretas
de capacitores e diodos.
TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTE
DISCRETO
Verifique a funcionalidade de um
componente discreto .
TESTE COM GERADOR
LGICO
Gerao de vetores para
testes de CIs digitais.
Clique no teste para ver a descrio
Existem diversos tipos de testes que podem ser realizados
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ANLISE COM MATRIX V-I
Anlise profunda de assinatura de
componentes para busca de
falhas.
TESTE DE COMPARAES DE
SINAIS
Injete sinais e verifique a sada
em diversos pontos da placa
TESTE CUSTOMIZADO
Verifique o funcionamento de
um rel atravs de
instrumento personalizado
TESTE FUNCIONAL ANALGICO
Verifique a funcionalidade de circuitos
analgicos in-circuit.
ANLISE DE ASSINATURA (V-I)
Verifique a integridade do componente
atravs da curva V-I
TESTE DE PLACAS
Leia, injete tenses ou realize o Teste
V-I atravs de conectores de borda
TESTE FUNCIONA DIGITAL
Verifique a funcionalidade do CI
atravs da tabela da verdade.
ANLISE DE SINAIS
Realize medidas com
instrumentos padres.
LOCALIZADOR DE
CURTOS
Verifique curtos na
placa.
VERIFICADOR DE CIS
Verifique as conexes
e curvas V-I de PLDs.
IDENTIFICAO DE CIS
Identificador de circuitos
raspados.
VERIFICADOR DE EPROM
Faa a leitura do contedo
de determinadas Eproms
FONTE
Alimente sua placa e
verifique o consumo de
corrente.
TESTE DINMICO DE
SEMICONDUTORES V-T
Testes de dispositivos de portas
ativados com o modo de pulsos V-T
ANALISE DE ASSINATURA DE
COMPONENTES DISCRETOS (V-I)
Detecte solda fria, e posies incorretas
de capacitores e diodos.
TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTE
DISCRETO
Verifique a funcionalidade de um
componente discreto .
TESTE COM GERADOR
LGICO
Gerao de vetores para
testes de CIs digitais.
Clique no teste para ver a descrio
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Sistema requerido: AICT
O que ? O teste funcional analgico utiliza a programao pr existente na biblioteca do mdulo AICT
para verificar a funcionalidade de um componente analgico. O teste realiizado com a placa
alimentada, no necessita retirar o componente da placa (teste in-circuit).
Para que serve? Para verificar a funcionalidade de um circuito analgico sem retir-lo da placa. O
mdulo analgico AICT monitora as conexes do circuito integrado para realizao de um teste seguro.


CARACTERSTICAS DO S TESTES:
Testes em loop, loop falso e loop verdadeiro (para encontrar
falhas intermitentes)
Programas de teste padro para dispositivos genricos
Apropriado para testes com encapsulamentos DIL e SOIC
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Verificar a funcionalidade de um CI: pass () ou fail ()
Verificar se as interconexes esto corretas:
abertos/curtos, links
Verificar se as tenses esto corretas: tenses individuais em
cada pino
Revisar os resultados gerados: Janela de anlise
Retornar para a placa de testes.
TESTE FUNCIONAL ANALGICO
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O que ? O teste funcional de componentes discretos utiliza uma programao pr existente na
biblioteca do equipamento para verificar a funcionalidade de um dispositivo discreto analgico. No
necessita retirar o componente da placa para test-lo. O teste realizado com a placa desligada.
Para que serve? Verificar a funcionalidade de um componente discreto ( ex.: Transistores e diodos)
sem retir-lo da placa. O mdulo analgico monitora as conexes do dispositivo para realizao de um
teste seguro.

VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Testar um componente discreto: pass () ou fail ()
Verificar se as interconexes esto corretas : abertos/ curtos,
links
Verificar cada terminal do componente: emissor, coletor etc.
Revisar os resultados gerados: Janela de anlise
TESTE FUNCIONAL DE COMPONENTES DISCRETOS

CARACTERSTICAS DOS TESTES
Teste em loop, loop falso e loop verdadeiro (falhas
intermitentes)
Programas de teste padro para dispositivos genricos
Apropriado para testes de dispositivos DIL e SOIC
Sistema requerido: AICT
Retornar para a placa de testes.
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O que ? Anlise de assinatura tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo
quando colocado sobre uma tenso alternada (AC). um teste realizado com a placa desligada
utilizando geralmente o terra como referncia.
Para que serve? Para analisar graficamente se a estrutura do componente est danificada, sem a
necessidade de aliment-lo ou retir-lo da placa. Nas figuras abaixo temos exemplos de curvas V-I de
componentes discretos.
VOC PODE UTILIZAR ESTA TCNICA PARA:
Verificar componentes invertidos : valor errado
Verificar integridade fsica de componentes: Componente danificado
Comparar curvas V-I entre componentes: No precisa conhecer a
funcionalidade do componente
Testar placas em curto : No tem a necessidade de alimentar a placa
CARACTERSTICAS DOS TESTES:
Comparao simultnea de componentes.
Alerta de udio quando ocorre alguma falha
Visualizao de tolerncia da curva V-I
Frequencia, tenso, impedncia, e formas de ondas ajustveis

ANLISE (V-I) PARA COMPONENTES DISCRETOS
Sistema Requerido : AICT
Retornar para a placa de testes.
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O que ? ? Anlise de assinatura tem como objetivo medir a resposta em corrente de um dispositivo
quando colocado sobre uma tenso alternada (AC). um teste realizado com a placa desligada
utilizando geralmente o terra como referncia.
Para que serve? Para determinar a integridade fsica de um componente sem retir-lo da placa. Na
figura abaixo as curvas V-I de um CI de 14 pinos.
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Verificar se o componente foi montado invertido
Verificar integridade fsica de componentes: Componente
danificado
Comparao de curvas V-I: Utilizando a funo store
Testar placas em curto : No tem a necessidade de
alimentar a placa para realizar o teste V-I.
CARACTERSTICAS DOS TESTES:
Economia de tempo utilizando clipes de teste ao invs de
probes individuais.
Alerta de udio quando ocorre alguma falha.
Visualizao de tolerncias das curvas V-I
Frequencia, tenso, impedncia, e formas de ondas ajustveis.

ANLISE DE ASSINATURA (V-I)
Sistema Requerido: AICT
Retornar para a placa de testes.
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O que ? Matrix V-I um teste comparativo realizado com a placa desligada, e tem como objetivo medir
a resposta em corrente de um dispositivo quando colocado sobre uma tenso alternada (AC). Esse tipo
de teste utiliza o prprio pino de um CI como referncia ao invs do terra, desta maneira teremos por
exemplo, uma anlise V-I mais profunda de um circuito integrado.
Para que serve ? Realizar uma anlise V-I mais profunda de um dispositivo sem a necessidade de
retirar o componente da placa.
ANLISE COM MATRIX (V-I)
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Verificar se o componente est invertido na placa
Verificar integridade dos componentes: Componente
danificado
Realizar teste comparativo simultneo
Testar uma placa em curto: sem a necessidade de alimentar
a placa ou usar o terra como referncia para testes.
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Armazenar as curvas adquiridas para futuras comparaes
Ajustes de tolerncias da mscara de comparao
Frequncia, tenso, impedncia e formas de ondas ajustveis
Adaptador para testes do componentes SMDs PTH e PLCC.
Sistema Requerido: AICT
Retornar para a placa de testes.
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O que ? Com o teste dimico de semicondutores conseguimos verificar se as portas de um SCR, por
exemplo, esto sendo ativadas de maneira correta. Nesse teste aplicada uma tenso varivel entre
dois ns, e um pulso no pino de trigger de um SCR. Quando o dispositivo ativado, o sinal torna-se um
curto, formando um dente de serra na forma de onda.
Para que serve ? O teste dinmico verifica a ativao de um gate de um dispositivo, por exemplo, sem
a necessidade de alimentar a placa.
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA :
Verificar a ativao do gate de um dispositivo.
Verificar o nvel de ativao : verificar se est sendo ativado com a
tenso correta.
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Amplitude do pulso positivo e negativo ajustveis
Tempo do pulso ajustvel
Armazenagem dos resultados para futuras comparaes

TESTE DINMICO DE SEMICONDUTORES
Sistema Requerido: AICT
Retornar para a placa de testes.
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O que ? O teste funcional de placas uma combinao de testes de anlise de assinatura V-I e
medidas ou gerao de tenses para entradas ou sadas de conectores de borda ou atravs de utilizao
de cama de prego.
Para que serve? Para verificar se uma placa eletrnica est funcionando por completa. Teste GO
NOGO
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA :
Testar uma placa por completo
Localizar a rea do defeito rapidamente
Executar testes em loop para verificar o
funcionamento das placas
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Testes com at 2048 canais
Canal configurado como drive, medidas de tenso
e V-I.
Fcil configurao
Armazena os resultados para futuras comparaes

TESTE FUNCIONAL DE PLACAS
Sistema Requerido : ATM
Retornar para a placa de testes.
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O que ? Anlise de sinais realizado atravs de instrumentos padres (Osciloscpio, multmetro,
gerador de funes e frequencmetro) para aquisies de medidas de uma placa ou componente
eletrnico.
Para que serve ? Para verificar os valores e especificaes de um componente eletrnico.
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Verificar a validade do sinal: Sinal de clock ou valor tenso ou
corrente
Verificar o valor de um componente: resistncia
Gerar tenses analgicas ou sinais TTL
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Instrumentos customizveis ( Crie o instrumento que voc precisa)
Mscara de comparao de sinais
Calculadora (Utilize a calculadora para funes matemticas)
Data logging
ANLISE DE SINAIS
Sistema Requerido: MIS3
Retornar para a placa de testes.
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O que ? O teste funcional digital permite que um circuito integrado digital seja testado sem a
necessidade de retir-lo da placa. Esse teste verifica a tabela da verdade do circuito integrado, sendo
que, essa tabela da verdade fica armazenada na biblioteca dos equipamentos da linha System8.
Para que serve ? Para verificar a funcionalidade de um circuito integrado sem retir-lo da placa. O
mdulo BFL e ATM monitoram as conexes do circuito integrado para realizao de um teste seguro.
TESTE FUNCIONAL DIGITAL
Sistema Requerido: BFL / ATM
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Verificar a funcionalidade de um CI: pass () ou fail ()
Verificar se as interconexes esto corretas:
abertos/curtos, links.
Verificar se as tenses esto corretas: tenses individuais em
cada pino.
Revisar os resultados gerados: Janela de anlise
Retornar para a placa de testes.
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O que ? Trata-se de um teste comparativo, permitindo que as conexes de um circuito integrado, alm
das anlises de assinatura (V-I) de cada terminal sejam comparadas com uma mscara criada
anteriormente.
Para que serve ? Para comparar dados adquiridos entre placas e circuitos integrados.
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Loop, Loop falso, loop verdadeiro
Pode ser utilizado para testes de conectores de borda
Utilizado tambm para testes DIL, SOIC, PLCC e QFP

VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Verificr se um CI est conectado corretamente:
abertos,curtols,links
Verificar se as entradas e sadas de um circuito integrado
esto danificados atravs do teste V-I
Teste de um dispositivo desconhecido
VERIFICADOR DE CI
Retornar para a placa de testes.
Sistema Requerido: BFL ou ATM
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O que ? O localizador de curto utilizado para medir precisamente a impedncia entre dois ns em uma
placa.
Para que serve ? Para determinar a impedncia de uma trilha ou localizar um curto na placa.
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Alerta de udio dependendo da proximidade do curto
Medida de impedncia de at 0.1 OHM.
Trs nveis de impedncia selecionveis

VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Determinar a localizao de um curto
Determinar a caracterstica de uma trilha
Verificar a continuidade entre dois pontos
LOCALIZADOR DE CURTOS
Retornar para a placa de testes.
Sistema Requerido: BFL ou ATM
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O que ? A fonte de alimentao da linha System 8 configurvel, oferecendo sadas negativas e
positivas essenciais para processos de anlise de falhas em placas e componentes.
Pra que serve ? A fonte do equipamento da linha System8 utilizada para desenvolvimentos de Test
Flow.
VOC PODE UTILIZAR ESSE MDULO PARA:
Alimentar uma placa
Verificar o consumo de uma placa.
FONTE DE ALIMENTAO
Sistema Requerido: VPS
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O que ? O gerador/testador lgico utiliza uma combinao de sequncias lgicas para injet-los na
entrada de uma placa ou circuito integrado e automaticamente medir os padres de respostas na sada.
Para que serve ? Gerar sua prpria sequncia de testes para circuitos integrados ou placas dedicadas
e aprender a lgica gerada por uma placa, por exemplo.
CARACTERSTICAS DOS TESTES
Funo Auto Learn
Sada varivel para drive (ATM module)
Ajustes de limiar de tenses
Indicao visual de falhas

VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Realizar um teste customizado de um CI
Testar lgicas de placas ou CIs por partes.
Realizar o teste digital de uma placa.
TESTADOR/GERADOR LGICO
Sistema Requerido: BFL ou ATM
Retornar para a placa de testes.
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O que ? O identificador de circuitos integrados utiliza uma algortimo de testes que permite que um
componente digital seja identificado, determinando assim o nmero de referncia do CI.
Para que serve ? Para determinar o part number equivalente de circutitos integrados raspados ou
ilegveis.
CARACTERSTICAS DOS TESTES
A verificao pode ser in-circuit ou out-circuit
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Determinar a referncia de um circuito integrado
Testar circuitos digitais funcionalmente
Encontrar opes de circuitos integrados equivalentes.
IDENTIFICADOR DE CI
Sistema Requerido: BFL ou ATM
Retornar para a placa de testes.
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O que ? O verificador de Eeprom l o contedo de uma EPROM e retorna o resultado em tela.
Para que serve ? Para verificar se EPROMs do mesmo modelo possuem os mesmos contedos.
CARACTERSTICAS DOS TESTES:
Testes realizados In-circuit e out-circuit
Salve os contedos adquiridos no computador.
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Ler o contedo de uma EPROM
Fazer o teste comparativo de contedo com outra EPROM
Verificar se a EPROM no est em branco
VERIFICADOR DE EEPROM
Sistema Requerido: BFL
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O que ? Um teste customizado utilizado para verificar os aspectos especficos de um componente
utilizando os instrumentos padres da linha System8. Instrumentos customizados podem ser criados e
salvos a qualquer momento.
Para que serve ? Para construir novos instrumentos de testes que no esto disponveis, acelerando
assim o processo de anlise de falhas. O teste abaixo verifica por exemplo a funcionalidade de um rel.
CARACTERSTICAS TCNICAS
Salve e compartilhe os instrumentos customizados
Integrar os instrumentos customizados em sequncias de
testes.

VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Testar componentes rapidamente
Criar instrumentos especficos para componentes especficos.
TESTES CUSTOMIZADOS
Sistema Requerido: MIS3
Retornar para a placa de testes.
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O que ? O teste de comparaes de sinais injeta uma forma de onda AC signal em um componente
ou em um test point. O sinal de sada monitorado para verificar alteraes.
Para que serve? Para verificar a resposta de um componente quando colocado a um sinal AC.
CARACTERSTICAS DOS TESTES:
Medidas automticas
Parmetros ajustveis no gerador de funes
Varredura de frequncia automtica
Integrar instrumentos customizados as sequncias de testes
VOC PODE UTILIZAR ESSA TCNICA PARA:
Observar a amplitude e variaes do sinal
Verificar se h mudanas de fases.
Verificar alteraes de frequncia
Verificar a resposta de um componente atravs de uma
determinada entrada

TESTES DE COMPARAES DE SINAIS
Sistema Requerido: MIS3
Retornar para a placa de testes.