PMI-2713 CARACTERIZAO TECNOLGICA DE MATRIAS PRIMAS MINERAIS II
TCNICAS ANALTICAS
DIFRAO DE RAIOS X
SUMRIO Pgina
1 DIFRAO DE RAIOS X ........................................................................................................... 1 1.1 Introduo ........................................................................................................................... 1 1.2 Equipamentos de difrao de raios X.................................................................................. 2 1.2.1 Fontes de raios X e filtros............................................................................................. 2 1.2.2 Mtodo do p................................................................................................................ 4 1.3 Aplicaes da difrao de raios X....................................................................................... 6 1.3.1 Identificao de fases cristalinas.................................................................................. 6
1 1 DIFRAO DE RAIOS X 1.1 Introduo A difratometria de raios X corresponde a uma das principais tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicaes em diversos campos do conhecimento, mais particularmente engenharia e cincias de materiais, engenharias metalrgica, qumica e de minas, alm de geocincias, dentre outros.
Os raios X ao atingirem um material podem ser espalhados elasticamente, sem perda de energia pelos eltrons de um tomo (disperso ou espalhamento coerente). O fton de raios X aps a coliso com o eltron muda sua trajetria, mantendo, porm, a mesma fase e energia do fton incidente. Sob o ponto de vista da fsica ondulatria, pode-se dizer que a onda eletromagntica instantaneamente absorvida pelo eltron e reemitida; cada eltron atua, portanto, como centro de emisso de raios X.
Se os tomos que geram este espalhamento estiverem arranjados de maneira sistemtica, como em uma estrutura cristalina (Figura 95), apresentando entre eles distncias prximas ao do comprimento de onda da radiao incidente, pode-se verificar que as relaes de fase entre os espalhamentos tornam-se peridicas e que efeitos de difrao dos raios X podem ser observados em vrios ngulos.
Figura 1 Estrutura cristalina do NaCl mostrando arranjo regular dos ons Na +1 e Cl -1 . direita cristais de NaCl, cuja morfologia externa est relacionada ao arranjo da estrutura cristalina
Considerando-se dois ou mais planos de uma estrutura cristalina, as condies para que ocorra a difrao de raios X (interferncia construtiva ou numa mesma fase) vo depender da diferena de caminho percorrida pelos raios X e o comprimento de onda da radiao incidente. Esta condio expressa pela lei de Bragg, ou seja, n = 2 d sen (Figura 96), onde corresponde ao comprimento de onda da radiao incidente, n a um nmero inteiro (ordem de difrao), d distncia interplanar para o conjunto de planos hkl (ndice de Miller) da estrutura cristalina e ao ngulo de incidncia dos raios X (medido entre o feixe incidente e os planos cristalinos).
Equao da Lei de Bragg n = 2 d sen (1) Figura 2 - Difrao de raios X e a equao de Bragg
2 A intensidade difratada, dentre outros fatores, dependente do nmero de eltrons no tomo; adicionalmente, os tomos so distribudos no espao, de tal forma que os vrios planos de uma estrutura cristalina possuem diferentes densidades de tomos ou eltrons, fazendo com que as intensidades difratadas sejam, por conseqncia, distintas para os diversos planos cristalinos. 1.2 Equipamentos de difrao de raios X Como a equao de Bragg refere-se a radiaes monocromticas, inicialmente sero abordadas as fontes de raios X empregadas e os dispositivos adotados para tornar esta radiao monocromtica.
Na seqncia, sero enfocados os mtodos e aplicaes da difrao de raios voltados aos estudos de materiais policristalinos, tambm chamados de mtodos de difrao de p (powder diffraction). 1.2.1 Fontes de raios X e filtros O esquema geral de um tudo de raios X apresentado na Figura 97. Vrios materiais distintos podem ser empregados como nodo, sendo Cu, Cr, Fe e Mo os mais usuais (Tabela 9); da mesma forma, distintas geometrias construtivas podem ser empregadas acarretando em feixes de raios X com diferentes formas e intensidades por unidade de rea (Tabela 10).
Figura 3 - Tubo de raios X
Tabela 1 Caractersticas dos nodos mais comuns nodo Nmero K Energia crtica de Voltagem tima atmico (Angstrm) excitao (keV) (kV) Cr 24 2,291 5,99 40 Fe 26 1,937 7,11 40 Cu 29 1,542 8,98 45 Mo 42 0,710 20,0 80
Tabela 2 Caractersticas dos diferentes tubos de raios X Tipo de tubo Dimenses rea focal Dimenses virtuais (take off 6) do foco (mm) (mm 2 ) Foco ponto (mm) Foco linha (mm) Foco fino longo 0,4 x 12 4,8 0,4 x 12 0,04 x 12 Foco fino 0,4 x 8 3,2 0,4 x 8 0,04 x 8 Foco normal 1,0 x 10 10,0 1,0 x 10 0,10 x 10 Foco largo 2,0 x12 24,0 2,0 x12 0,20 x12
A seleo do tipo de nodo est relacionada principalmente com a natureza do material a ser analisado, buscando-se sempre a conjugao nodo / amostra que apresente o menor coeficiente de absoro de massa, alm da relao resoluo X intensidade dos picos do difratograma. J a 3 seleo do tipo de tubo e do foco a ser empregado (linha ou ponto) est relacionado a aplicao a ser efetuada.
O espectro de radiao gerado a partir do tubo de raios X no monocromtico, apresentando tanto a radiao caracterstica do material empregado como nodo (K, K, etc), como tambm do espectro contnuo (ver Figura 98).
Figura 4 Espectros de raios X contnuo e caracterstico para o molibdnio a 35kV. No quadro direita, detalhado o espectro referente linha K, mostrando as linhas K 1 e K 2
Em funo da necessidade de se empregar uma radiao monocromtica, h que se remover a radiao referente linha K e tambm parte do espectro contnuo emitido pelo tubo. Duas alternativas podem ser consideradas para tanto: a primeira considera a utilizao de filtros, cujas bandas de absoro de radiao permitam a passagem da radiao referente linha K e a remoo (absoro) da linha K, como o exemplo de filtro de Ni sobre a emisso de nodo de Cu, ilustrado na Figura 99.
Uma segunda alternativa, a mais freqentemente usada, consiste na utilizao de um filtro monocromador, situado na passagem dos raios X entre a amostra e o detector ou entre o tubo e amostra, o qual, atravs do principio da difrao de Bragg, permite exclusivamente a passagem da radiao com o comprimento de onda de interesse (K). A utilizao de filtro monocromador aps a amostra apresenta ainda a vantagem adicional de remover radiaes oriundas de espalhamentos no coerentes, resultantes da interao dos raios X com a amostra (raios X contnuo e caracterstico dos elementos presentes na amostra, correspondentes a radiao de fundo, backgroung, sem interesse analtico). 4
Figura 5 esquerda, espectro de emisso de raios X do Cu mostrando as linhas K e K e a banda de absoro do Ni (azul). direita, tem-se o espectro obtido com o emprego do filtro de Ni remoo da linha K. 1.2.2 Mtodo do p 1.2.2.1 Cmara Debye-Scherrer A cmara de Debye-Scherrer, Figura 100, compreende um dispositivo cilndrico no qual a amostra em p acondicionada em um capilar posicionado bem no centro da cmara, sobre o qual focalizado um fino feixe de raios X. Cones de difrao de raios X so ento gerados a partir da amostra, sendo que parcela destes sensibiliza um filme fotogrfico posicionado na parede interna da cmara, possibilitando a coleta de raios X desde praticamente 0 at 180 em termos de 2.
Figura 6 Cmara de p ou de Debye-Scherrer
Esta tcnica, introduzida na segunda metade da dcada de 1910, foi bastante empregada at os anos 80. Sua utilizao, hoje, bastante restrita, estando limitada a situaes em que critica a disponibilidade de amostra (<100mg) e estudos de amostras monocristalinas. 1.2.2.2 Difratmetro de raios X Os difratmetros de raios X disponveis no mercado so dominados pela geometria parafocal Bragg-Brentano; seu arranjo geomtrico bsico pode constituir-se de um gonimetro horizontal (-2) ou vertical (-2 ou -). Outras configuraes, mais sofisticadas e especficas para estudos na rea de cincias de materiais e de monocristais, podem ser tambm encontradas.
Para a geometria -2 (Figura 101), o gonimetro, acoplado aos acessrios de recepo do feixe difratado, move-se (H) com velocidade angular (2/passo) sobre o eixo P e rotaciona a amostra (P) com metade desta velocidade angular (/passo). O raio do crculo do gonimetro fixo, apresentando iguais distncias do tubo gerador de raios X amostra e da amostra fenda de 5 recepo D (LP = PD). O plano do crculo focal contm os raios incidente e difratado, isto , a fonte, a amostra e a fenda de recepo.
L fonte de raios X G - fendas soller B fenda divergente C - amostra D fenda receptora E fendas soller F fenda de espalhamento T detector de RX Figura 7 Geometria Bragg-Brentano de um difratmetro de raios X, mostrando as diferentes fendas utilizadas
A partir da fonte, os raios X atravessam a fenda soller ou colimadores paralelos (G), a fenda de divergncia (B) e irradiam a superfcie da amostra (C). Os raios difratados em determinado ngulo 2 convergem para a fenda de recepo (D). Antes ou depois da fenda de recepo, pode ser colocado um segundo conjunto de colimadores (E) e uma fenda de espalhamento (F). Um monocromador do feixe difratado pode ser colocado aps a fenda de recepo, na posio da fenda de espalhamento.
Fotografia e o esquema do difratmetro Philips, modelo PW1880, so apresentados na Figura 102, a seguir, e um difratograma de amostra de talco na Figura 103.
Figura 8 Difratmetro de p, Philips, modelo PW1880 (instalado no LCT-EPUSP)
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Figura 9 - Difratograma de uma amostra de talco (em vermelho); picos difratados so assinalados em cor azul 1.3 Aplicaes da difrao de raios X A difrao de raios X encontra inmeras aplicaes na caracterizao de materiais em geral. No entanto, neste texto abordada unicamente a utilizao desta tcnica na identificao de compostos cristalinos. 1.3.1 Identificao de fases cristalinas A principal aplicao da difrao de raios X refere-se identificao de compostos cristalinos, sejam eles inorgnicos ou orgnicos.
Os planos de difrao e suas respectivas distncias interplanares, bem como as densidades de tomos (eltrons) ao longo de cada plano cristalino, so caractersticas especficas e nicas de cada substncia cristalina, da mesma forma que o padro difratomtrico por ela gerado (equivalente a uma impresso digital).
Um banco de dados, contendo informaes cristalogrficas bsicas e algumas propriedades fsicas de compostos cristalinos, mantido e continuamente atualizada pelo ICDD, International Center for Diffraction Data, com sede nos EUA. Atualmente so disponveis informaes referentes a mais de 70.000 compostos cristalinos, sendo que as mais importantes, para fins de identificao de um composto cristalino, so as distncias interplanares e as intensidades difratadas normalizadas (relativas a 100%) para os vrios planos (hkl) que difratam construtivamente os raios X.
Um exemplo de uma ficha do banco de dados do ICDD referente ao talco apresentada na Figura 104.
Figura 10 Ficha com dados de estrutura cristalina e picos difratados do talco, banco de dados do ICDD, International Center for Diffraction Data, PDF-2, file 13-0558
7 Vrias estratgias de identificao podem ser empregadas, sendo que a dificuldade de identificao aumenta progressivamente com a elevao do nmero de fases cristalinas presentes na amostra. Os procedimentos ou estratgias de identificao manual mais comuns referem-se busca por compostos presumivelmente presentes em uma amostra e o mtodo de Hanawalt, este ltimo aplicado para situaes nas quais se desconhecem os compostos cristalinos presentes; para ambos os procedimentos, devem ser consultados os livros Powder Diffraction File, Alphabetical Indexes ou Hanawalt Search Manual, ou ainda o banco de dados PDF-2 em CD- ROM (todos disponveis para consulta na Biblioteca do PMI). Estas duas estratgias so apresentadas esquematicamente na Figura 105.
INCIO VERIFICA PADRO DO COMPOSTO CONFERE? SUBTRAI O PADRO PICOS RESTANTES? RESULTADO FINAL No Sim No Sim
Figura 11 - Estratgias de identificao de fases por natureza de composto e pelo mtodo de Hanawalt INCIO SELECIONE O PRXIMO PICO MAIS INTENSO NO UTILIZADO DEMAIS PICOS CONFEREM? SUBTRAI O PADRO PICOS RESTANTES? RESULTADO FINAL No No Sim ORDENAR OS PICOS POR INTENSIDADE; SELECIONAR O PRIMEIRO EXISTEM PICOS NO UTILIZADOS? SELECIONE OUTRA LINHA DENTRE AS MAIS INTENSAS No Sim
A partir da dcada de 90, com auxlio de microcomputadores, sistemas automticos de busca por mtodos booleanos e lgica Fuzzy passaram a ser largamente empregados no auxlio identificao de fases cristalinas por difrao de raios X. Nestes procedimentos, de trs a dez picos mais intensos de cada fase presente no banco de dados so comparados com o difratograma da amostra, atribuindo-se crditos e penalidades para cada pico difratado, no que se refere a sua presena/ausncia, intensidade difratada e deslocamento da distncia interplanar. Ao final do processo de busca e comparao, os valores dos resultados so expressos em ordem decrescente de pontuao, seguindo-se a avaliao final por parte do usurio. MTODO HANAWALT POR COMPOSTO