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Experimento
01:
VOLUMETRIA
DE
COMPLEXAO
POR
EDTA-
1. Introduo
Originalmente, a dureza da gua foi interpretada como a medida da capacidade da
gua para precipitar sabes. Os sabes so precipitados principalmente pelos ons clcio e
magnsio, comumente presentes na gua, mas tambm podem ser precipitados por outros ons
metlicos polivalentes, tais como o ferro, alumnio, mangans, estrncio, zinco, entre outros.
Devido presena significante dos dois primeiros (Ca2+ e Mg2+) nas guas naturais, a
DUREZA determinada atravs dos sais solveis de clcio e magnsio, por exemplo, os
bicarbonatos, os sulfatos e os cloretos.
H dois tipos de dureza: a temporria e a permanente. A dureza temporria aquela
devida s presenas dos bicarbonatos de clcio (Ca(HCO3)2) e de magnsio (Mg(HCO3)2).
Quando a gua que contm esses sais fervida ocorre a precipitao de sais neutros (os
carbonatos) e a dureza parcialmente removida, de acordo com o seguinte:
Ca(HCO3)2 CaCO3 (s) + H32O + CO2 (g)
Mg(HCO3)2 MgCO3 (S) + H2O + CO2 (g)
A dureza permanente da gua ocasionada pela presena de outros sais de clcio e
magnsio, usualmente os sulfatos. A dureza permanente no pode ser removida por fervura. A
soma das durezas temporria e permanente conhecida como dureza total da gua e
geralmente expressa em mg/L de CaCO3.
Titulaes complexomtricas com EDTA. O cido etilenodiaminotetractico
(EDTA) pertence a uma categoria de substncias, chamadas comumente de complexantes ou
quelantes que, em condies adequadas de pH, formam complexos solveis, extremamente
estveis, com a maioria dos ons metlicos, inclusive os alcalinos terrosos. Os complexantes
encontram grande aplicao como reagentes titulomtricos.
Complexos formados com ligantes polidentados (isto , ligantes capazes de ocupar
vrias posies de coordenao), como o caso do EDTA (ver figura abaixo), so chamados
quelatos.
HOOC
H2C
N
HOOC
CH2
CH2
H2C
CH2
COOH
CH2
COOH
Na complexometria com EDTA comumente se faz uso de uma soluo padro de seu
sal dissdico, Na2H2Y, que fornece em soluo aquosa o on H2Y2-. As reaes com os ons
metlicos podem ser representadas como:
Mn+
+
H2Y2- MY(4-n)- + 2H+
1
de almofariz e pistilo triturar bem at uma granulometria fina. Guardar em frasco limpo e seco
(este indicador j estar pronto).
2.1.2 Procedimento
Pipetar uma alquota de 50,0 mL de amostra para erlenmeyer de 125 mL, adicionar
1,00 mL de NaOH 1,0 mol/L (pH=12), uma ponta de esptula do indicador murexida e
homogeneizar. Titular com a soluo padronizada de Na2H2Y at mudana de colorao de
rseo em presena do on metlico para violeta (roxo) no ponto final da titulao (esta
mudana bem sensvel).
2.2 Determinao de Ca2+ e Mg2+ - Reagentes
SOLUO DE Na2H2Y padronizada anteriormente.
SOLUO TAMPO de NH3/NH4CI (pH 10)
INDICADOR ERIOCROMO T: Mistura-se 1,00 g de negro de Eriocromo T em 99,0 g de
NaCl PA. Com o auxlio de almofariz e pestilo, macerar at granulometria adequada (este
indicador j estar pronto).
2.2.2 Procedimento
Pipetar uma alquota de 50,0 mL de amostra para erlenmeyer de 125 mL, adicionar
1,00 mL do tampo NH3/NH4CI e uma pitada do indicador ERIOCROMO T e
homogeneizar. Titular com a soluo padronizada de Na2H2Y at mudana de colorao de
vermelho-vinho em presena dos ons metlicos para azul no ponto final da titulao.
Referncias
GOLTERMAN, H.L.; CLYMO, R.S.; OHNST AD, M.A.M. -"Methods for Physical and
Chemical Analysis of Fresh Waters. 2a ed., Oxford, Blackwell Scientific Publications,
1978.213 pages. IBP Handbook No 8.
Christian, G .D., "Analytical Chemistry", John Wiley & Sons, 4th edition, New York, 1986.
Flaschka, H.A., "EDTA Titrations", Pergarmon Press, 2nd. Edition, Oxford, 1964.
Ohlweiler, O.A., "Qumica Analtica Quantitativa", Livros Tcnicos e Cientficos Ed., 2 a ed.,
vol. 2, Rio de Janeiro, 1976.
Skoog. A.; West, D. M.; Holler, F. J.; Crouch, S. R., Fundamentos de Qumica Analtica,
Thomson, So Paulo, 2004.
Mendham, J.; Denney, R. C.; Barnes, J. D.; Thomas, M. J. K., Anlise Qumica Quantitativa,
LTC Editora, RJ, 2002.
3- Parte Experimental
3.1- Materiais
1 funil pequeno
1 aparelho de Kjeldahl
1 frasco erlenmeyer de 125-150 mL
1 proveta de 100 mL
esptula
1 balo volumtrico de 100 mL
1 bureta de 10,0 ou 25,0 mL
1 pipeta volumtrica de 20,0 ou 25,0 mL
- 1 esptula
Resfriar a soluo e transferi-la para balo volumtrico de 100,0 ml, completar o volume com
gua destilada e homogeneizar.
Transferir 1 alquota de 25,0 ml da soluo contendo a amostra mineralizada para 1
frasco de Bquer numerado: Abancada. Adicionar 5,0 ml de soluo de cido fosfrico a 85%.
Adicionar 0,25g de KIO4 alquota do bquer, aquecer at ebulio e mant-la brandamente
por 10 minutos. Resfriar a soluo e transferi-la para um balo volumtrico de 100 ml e
completar o volume com gua destilada homogeneizando. Medir a absorbncia dessa soluo
em cubeta de 1,0 cm a 545nm.
3- Resultados:
3.1- Determinar a percentagem do mangans na amostra por meio da interpolao da
absorbncia da amostra em uma curva de calibrao fornecida pelo professor.
4. Referncias bibliogrficas:
SKOOG, A.S.; WEST, D.M.; HOLLER, F.J. " Analytical Chemistry-An Introduction"- 6a ed.,
Saunders, Chicago, 1994.
CHRISTIAN, G. -"Analytical Chemistry", Willey, 5a ed., New York, 1994.
VOGEL, A.I., BASSEAT et al; Vogel: Anlise Inorgnica Quantitativa"; Guanabara Dois,
Rio de Janeiro (1992).
EWING, G. W. "Mtodos Instrumentais de Anlise Qumica"; Ed. Blucher Ltda, So Paulo
(1972), cap. 3.
PETERS, D.G.; HAYES, J.M. and HIEFTJE, G.M.; "Chemical Separations and
Measurements; Saunders Co., Filadelfia, (1974), Cap.18.
Skoog. A.; West, D. M.; Holler, F. J.; Crouch, S. R., Fundamentos de Qumica Analtica,
Thomson, So Paulo, 2004.
Mendham, J.; Denney, R. C.; Barnes, J. D.; Thomas, M. J. K., Anlise Qumica Quantitativa,
LTC Editora, Rio de Janeiro, 2002.
3. Parte Experimental
Com o uso de uma pipeta volumtrica, transferir uma alquota de 25,0 mL da amostra de
gua sanitria para um bquer de 50 mL seco e previamente pesado. Determine a massa da
amostra.
Em seguida, transferir quantitativamente a amostra de gua sanitria para um balo
volumtrico de 100 mL, completar o volume com gua destilada e homogeneizar a soluo.
Em um erlenmeyer de 150 mL adicionar: 30,0 mL de gua destilada, 10,0 mL de KI 5,00%
(mv) e 10,0 mL (com pipeta volumtrica) da soluo da amostra. Em seguida, com uma
pipeta graduada ou proveta, adicionar 5 mL de cido actico glacial, homogeneizar e iniciar a
titulao com soluo padronizada de Na2S2O3 (anote a concentrao real) at a soluo se
tornar levemente amarelada. Neste ponto, adicione 5 gotas da soluo de amido 1% (mv).
Continue a titulao gota-a-gota at o desaparecimento da colorao azul do complexo iodoamido (a soluo fica incolor). Anote o volume de equivalncia.
Efetue mais duas determinaes procedendo exatamente da mesma maneira, lembrando-se
de adicionar a soluo de cido actico glacial somente no momento da titulao.
4. Resultados
Com base nos dados obtidos, determine: (a) a densidade da amostra em gmL e (b) as
porcentagens em massa, % (mm), e em volume, % (mv) de cloro-ativo na amostra de
alvejante.
5. Referncias Bibliogrficas
Skoog, D. A.; West, D. M.; Holler, F. J.; Crouch, S. R., Fundamentos de Qumica Analtica,
So Paulos: Thomson, 2004.
Harris, C. D. Anlise Qumica Quantitativa, LTC Editora, Rio de Janeiro, Traduo:
Bonapace, J. A. P. e Barcia, O. E. 2005.
Mendham, J.; Denney, R. C.; Barnes, J. D.; Thomas, M. J. K., Anlise Qumica Quantitativa,
Rio de Janeiro: LTC Livros Tcnicos e Cientficos Editora S.A., 2002.
Baccan, N.; Andrade, J. C.; Godinho, O. E. S.; Barone, J. S., Qumica Analtica Quantitativa
Elementar, Editora Edgard Blcher LTCA, So Paulo, 2001.
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4- Parte experimental
4.1- Material
- Bureta de 25,00 ou 50,00 mL;
- Balo volumtrico de 100,0 mL;
- Erlenmeyer de 200 mL;
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2- Parte Experimental
2.1- Material
- amostra de polmero
- espectrofotmetro de infravermelho.
3- Referncias Bibliogrficas
Siesler, H. W..; Holland-Moritz, K. Infrared and Raman Spectroscopy of Polymers. Marcel
Dekker, Inc. New York, 1980.
Campbell, D.; White, J. R. Polymer Characterization- Physical Techniques. Chapman and
Hall, 1989.
Agnelli, J. A. M.; Canevarolo, S. V.; Rosalini, A. C. Espectroscopia no Infravermelho.
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O
H3C
H+
O-
OH
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Bureta
6,98
pHmetro
Eletrodo de
vidro
Bquer
contendo a
amostra
Barra
agitadora
Agitador magntico
Transferir com uma pipeta volumtrica 3,0 mL da soluo (amostra de vinagre) a ser
titulada para um bquer de 100 mL. Diluir com 40,0 mL de gua destilada e acoplar ao
sistema potenciomtrico para titulao.
Efetuar a titulao adicionando a soluo de NaOH 0,1000 mol/L (Anote a
concentrao real), previamente padronizada, em intervalos, como a seguir:
De zero a 20,0 mL adicionar incrementos de 1,0 mL.
De 20,0 a 22,0 mL adicionar incrementos de 0,5 mL.
De 22,0 a 25,0 mL adicionar incrementos de 0,1 mL.
De 25,0 mL a 30,0 mL adicionar incrementos de 0,5 mL.
De 30,0 a 40,0 mL adicionar incrementos de 1,0 mL.
Para cada incremento de volume adicionado, anotar o pH registrado no equipamento.
4- Resultados:
a) Construir o grfico de pH observado, em funo do volume de titulante adicionado.
Faa tambm grficos de primeira e segunda derivada.
b) Determinar pelo mtodo de Gran, o ponto de equivalncia referente titulao.
c) Calcular a concentrao e a porcentagem de cido actico na amostra.
5. Referncias Bibliogrficas:
SKOOG, D. A. "Principles of Instrumental Analysis"- 3a ed., New York, Saunders, 1985.
Skoog. A.; West, D. M.; Holler, F. J.; Crouch, S. R., Fundamentos de Qumica Analtica,
Thomson, So Paulo, 2004.
Mendham, J.; Denney, R. C.; Barnes, J. D.; Thomas, M. J. K., Anlise Qumica Quantitativa,
LTC Editora, Rio de Janeiro, 2002.
Skoog, D. A.; Holler, F. J.; Nieman, T. A., Principles of Instrumental Analysis, Saunders
College Publishing, Philadelphia, 1998.
Harris, C. D. Anlise Qumica Quantitativa, LTC Editora, Rio de Janeiro, Traduo:
Bonapace, J. A. P. e Barcia, O. E. 2005.
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Marcelo Antonio de Oliveira, Maria Irene Yoshida e Elionai Cassiana de Lima Gomes.
ANLISE
TRMICA
APLICADA
FRMACOS
FORMULAES
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EXPERIMENTO
09
(demonstrativo):
MICROSCOPIA ELETRNICA
VARREDURA (MEV)
DE
1. Introduo
A Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV) uma tcnica utilizada para anlises
de amostras no transparentes a eltrons (condutoras de eltrons). A MEV comumente
utilizada para a anlise de materiais tecnolgicos, tais como, polmeros, metais, cermicas,
entre outros. Por meio da MEV pode-se analisar a morfologia do material de interesse com
resoluo maior que a de um microscpio tico comum. O princpio da tcnica se fundamenta
na incidncia de um feixe de eltrons de alta energia em um determinado ponto da amostra, o
que causa emisso de eltrons com grande espalhamento de energia. Estes eltrons so
coletados e amplificados para fornecer um sinal eltrico. Informaes topogrficas so obtidas
utilizando-se eltrons de baixa energia (da ordem de 50 eV), e informaes sobre nmero
atmico ou orientao cristalogrfica so obtidas utilizando-se eltrons de alta energia.
A interao de um feixe de eltrons de alta energia com a superfcie da amostra resulta
na emisso de eltrons e raios-X com uma faixa de distribuio de energia e, em alguns casos,
com emisso de radiao catodoluminescente que possui menor energia de raios-X. Os
eltrons gerados pela interao do feixe primrio com a amostra podem ser divididos em trs
tipos: retroespalhados, secundrios e Auger. Eltrons retroespalhados podem ser emitidos
devido a espalhamento elstico, a espalhamento de plasmons (oscilaes coletivas e
quantizadas dos eltrons da banda de conduo) ou transies interbandas e espalhamento
inelstico. Eltrons espalhados elasticamente saem basicamente com a mesma energia que o
raio incidente, enquanto que os espalhados inelasticamente geralmente sofrem vrias
interaes de espalhamento e saem da amostra com um espectro de energia menor que a
energia do feixe. As oscilaes de plamons e as transies de eltrons da amostra entre
diferentes bandas de energia requerem uma quantidade de energia especfica para provocar
espalhamento de eltrons, a qual difere de elemento para elemento e algumas vezes difere
tambm se os elementos esto presentes como elementos puros ou ligados a outros elementos.
Quando um eltron de uma camada interior de um tomo arrancado por um eltron
de alta energia (do feixe primrio), o tomo pode retornar ao seu estado de energia original
com movimentao de um eltron de uma camada mais externa para a camada interior
vacante. Neste processo, existe liberao de energia, que acompanhada ou pela emisso de
um fton ou pela emisso de outro eltron da camada mais externa. A emisso de fton
resulta no espectro caracterstico de raios-X e a emisso de eltrons conhecida como efeito
Auger. Tambm neste caso, as energias tanto do fton como do eltron emitidos so
caractersticas dos elementos que os gerou, possibilitando a obteno de informaes das
caractersticas qumicas do material. Eltrons secundrios so os mais importantes para a
formao da imagem de MEV. So eltrons de baixa energia e so formados pela excitao de
eltrons fracamente ligados ao ncleo, devido interao com eltrons primrios ou eltrons
espalhados de qualquer tipo, de alta energia, passando prximo superfcie.
A imagem observada em um MEV resulta da variao de contraste que ocorre quando
o feixe se move de ponto a ponto sobre a superfcie da amostra. Variaes de sinal detectado
de diferentes pontos podem ocorrer devido variao do nmero de eltrons emitidos da
superfcie, ou devido variao do nmero de eltrons que atingem o detector. Entre os tipos
de contraste que podem ser observados devido emisso de eltrons secundrios ou
retroespalhados podem ser mencionados o contraste topogrfico e o de nmero atmico. O
contraste topogrfico pode ser obtido de superfcies contendo relevo, utilizando-se tanto
eltrons retroespalhados como eltrons secundrios, uma vez que a gerao desses tipos de
eltrons fortemente dependente do ngulo de coleta dos eltrons emitidos. Variaes
localizadas do ngulo de inclinao da superfcie podem impedir alguns eltrons de atingir o
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coletor, sendo esse efeito mais acentuado para eltrons retroespalhados cujas trajetrias so
pouco afetadas por um potencial de 200 V no detector.
Contraste de nmero atmico ocorre porque a quantidade de emisso correspondente a
eltrons de alta energia (acima de 100 eV) aumenta linear e rapidamente com o nmero
atmico at Z = 45 e depois mais lentamente para os elementos mais pesados. Deste modo,
possvel utilizar imagens de eltrons retroespalhados para detectar diferenas de composio
caso estas diferenas resultem em diferentes nmeros atmicos. Contraste de nmeros
atmicos permite, sob condies ideais, distinguir elementos de nmeros atmicos adjacentes
at Z = 20. O objetivo desta prtica analisar a morfologia de uma amostra com o emprego
de um microscpio eletrnico de varredura.
2- Parte Experimental
- Amostra (ser fornecida pelo CCDM-DEMA)
- Microscpio eletrnico de Varredura (Localizado no CCDM-DEMA)
3- Referncias Bibliogrficas
Goldstein, J. I.; Newbury, D. E.; Echlin, P.; Joy, D. C.; Romig Jr., A. D.; Lyman, C. E.; Fiori,
C.; Lifshin, E. Scanning Electron Microscopy and X-Ray microanalysis, 2nd edition,
Plenum Press, New York, 1992.
Kestenbach, H. J.; Botta Filho, W. J. Microscopia Eletrnica de Transmisso e Varredura
ABM, So Paulo, 1989.
Skoog, D. A.; Holler, F. J.; Nieman, T. A., Principles of Instrumental Analysis, Philadelphia,
Saunders College Publishing.
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