Regra da Probabilidade Total

Lı́via Dutra
1o /2020
→ A probabilidade de um evento pode ser dada sob várias condições.

→ A partir da informação dessas condições, podemos recuperar a

probabilidade do evento.

Exemplo 1
Em um processo de fabricação, 10% dos ı́tens contém falhas na
superfı́cie e 25% dos ı́tens com falhas são realmente defeituosos.
Entretanto, somente 5% dos ı́tens sem falhas são defeituosos.
Qual é a probabilidade de produzir um ı́tem defeituoso?

Lı́via Dutra 1
Então, estamos interessados no evento “ı́tem é defeituoso” (D) e
queremos encontrar P(D).

Note que as condições que o evento de interesse está sujeito são: se

há falhas na superfı́cie (F ) ou não (F c ).

Temos as seguintes probabilidades: P(D|F ) = 0, 25; P(D|F c ) =

0, 05 e P(F ) = 0, 1.

Além disso, é possı́vel obter P(F c ):

P(F c ) = 1 − P(F ) = 0, 9.

Então, como calculamos P(D)?

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Observe que, para qualquer evento A,

A = (A ∩ B) ∪ (A ∩ B c ).

Lı́via Dutra 3
Além disso, (A ∩ B) ∩ (A ∩ B c ) = ∅. Então,

P(A) = P((A ∩ B) ∪ (A ∩ B c ))

= P((A ∩ B)) + P((A ∩ B c )) ← Axioma 3.

= P(B)P(A|B) + P(B c )P(A|B c ) ← Regra da multiplicação.

Lı́via Dutra 4
Regra da Probabilidade Total

Para quaisquer eventos A e B, associados a um mesmo espaço

amostral S,

P(A) = P(B)P(A|B) + P(B c )P(A|B c ).

→ Voltando ao Exemplo 1, que queremos encontrar a probabilidade

de produzir um ı́tem defeituoso, temos

P(D) = P(F )P(D|F ) + P(F c )P(D|F c )

= 0, 1.0, 25 + 0, 9.0, 05 = 0, 07.

Lı́via Dutra 5
 Partição do Espaço Amostral
Uma coleção de eventos A1 , A2 , · · · , Ak é dita ser uma partição do
espaço amostral se forem eventos mutuamente exclusivos e

A1 ∪ A2 ∪ · · · ∪ Ak = S.

Lı́via Dutra 6
Assim, se A1 , · · · , Ak é uma partição de S, então

P(B) = P(B ∩ A1 ) + P(B ∩ A2 ) + · · · + P(B ∩ Ak ) ← Axioma 3.

= P(A1 )P(B|A1 ) + P(A2 )P(B|A2 ) + · · · + P(Ak )P(B|Ak )

Regra da multiplicação.

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Generalização da Regra da Probabilidade Total

Para qualquer partição A1 , · · · , Ak e evento B, associados a um

mesmo espaço amostral S,
k
X
P(B) = P(Ai )P(B|Ai ).
i=1

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Exemplo 2
Em um processo de fabricação, 90% dos ı́tens não contém falhas
na superfı́cie e 6% contém uma ou duas falhas, 3% contém três ou
quatro falhas e 1% contém mais que quatro falhas. Sabe-se também
que:

• 5% dos ı́tens sem falhas são defeituosos;

• 15% dos ı́tens com uma ou duas falhas são defeituosos;
• 20% dos ı́tens com três ou quatro falhas são defeituosos e
• 30% dos ı́tens com mais de quatro falhas são defeituosos.

Qual é a probabilidade de produzir um ı́tem defeituoso?

Lı́via Dutra 9
Vamos definir os eventos:

D: o ı́tem é defeituoso;
F1 : o ı́tem não possui falhas na superfı́cie;
F2 : o ı́tem possui uma ou duas falhas na superfı́cie;
F3 : o ı́tem possui três ou quatro falhas na superfı́cie;
F4 : o ı́tem possui mais de quatro falhas na superfı́cie.

Note que F1 , F2 , F3 e F4 formam uma partição do espaço amostral

(por que é uma partição?), sabemos das probabilidades de ocor-
rência de cada um deles e conhecemos as probabilidades do evento D
condicionada a cada um desses eventos da partição. Então, podemos
utilizar a regra da probabilidade total para encontrar probabilidade
de produzir um ı́tem defeituoso P(D).

Lı́via Dutra 10
Assim,

P(D) = P(F1 )P(D|F1 ) + P(F2 )P(D|F2 ) + P(F3 )P(D|F3 )

+ P(F4 )P(D|F4 )

= 0, 9.0, 05 + 0, 06.0, 15 + 0, 03.0, 2 + 0, 01.0, 3

= 0, 063

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