TESTES DE PERFORMANCE DE IEDS ATRAVS DE ENSAIOS UTILIZANDO MENSAGENS GOOSE (IEC61850)

Resumo

Este trabalho apresenta os resultados obtidos em diversos testes envolvendo seletividade lgica. Implementada atravs de lgica de contatos ou atravs de mensagens GOOSE, a reduo do degrau de tempo que garante a seletividade lgica e a utilizao de tecnologia nacional para realizar todos estes testes.

Introduo
Evoluo dos IEDs e das comunicaes entre dispositivos; Novos Mtodos, Ferramentas e Recursos; Comunicao (IEC61850) Crescente Desafio p/ Cadeia Comissionamento e Manuteno); de Proteo (Estudos,

Ferramentas de anlise esttica e dinmica para avaliaes;

IEC61850 (GOOSE)
Padronizao Interoperabilidade Reduo nos custos de cabeamento Troca de Informaes via Msg GOOSE (Generic Object Oriented Substation Event)

Objetivos
Verificar:
A diferena de tempo entre trip via CONTATO e trip via GOOSE A performance da seletividade lgica via GOOSE (Busca do degrau garantido)

Seletividade Corrente x Tempo

Convencional: degrau 300 a 400ms; (Tolerncia de Erro do Rel + Temp. Op. Disj + Erro Projetista + Margem de Segurana) No necessita de troca de informao; Dificuldade: Rels com nveis de curto circuito prximos; Tempo da Falta: Longo

0,4s

Seletividade Lgica (Bloqueio)

Lgica: Degrau menor (50 a 150ms); Necessita de troca de informao; Vantagem: Rels com nveis de curto circuito equivalentes; Tempo de Falta: Menor, diminuindo o esforo trmico. Degrau Reduzido

Circuito de entrada utilizado nos testes

A idia simulada no sistema acima ilustrar uma situao de seletividade lgica entre o rel do ramal de entrada (7UT) e os rels dos alimentadores (7SJ-1 e 2). Os testes realizados compararam o tempo total entre o incio da falta e o tempo de trip do rel, alm das condies de bloqueio (por Trip) necessrias na seletividade lgica.

Parmetros utilizados no teste

Funo Parmetro Pickup Funo 51 Dial de tempo Curva Funo 50-1 Pickup Tempo definido Pickup Tempo definido Rel 1: 7UT Rel 2: 7SJ Rel 3: 7SJ 2A 0,5 IEC normal inv. 6A 500ms 10A 100ms 1,3A 0,5 IEC normal inv. 6A 400ms 10A 0s 1,3A 0,5 IEC normal inv. 6A 400ms 10A 0s

Funo 50-2

Seqncia de Testes Realizados

1 Teste: Sistema sem Seletividade Lgica 2 Teste: Seletividade Lgica via CONTATO 3 Teste: Comparativo entre os tempos de TRIP por CONTATO e pela msg. GOOSE 4 Teste: Seletividade Lgica via GOOSE

1 Te s

te

Esquema do Sist. Sem Seletividade Lgica

Sistema sem comunicao

1 Te s

te

Resposta do Sist. Sem Seletividade Lgica

Teste da Funo 50-2 injetando 15A; IEDs sem comunicao

Tempo de atuao do 7SJ e do 7UT sem bloqueio (D=93,8ms)

Te s 2

te

Esquema de bloqueio utilizando lgica de contatos

Funo de bloqueio ativa; Tempo de seletividade: 100ms

2 Te s

te

Resposta da Seletividade Lgica via Contato

Teste da Funo 50-2 injetando 15A; IEDs com troca de informaes via Contato

O IED 7SJ atuou e bloqueou o trip do 7UT via CONTATO

Limite Encontrado: Tempo Seletividade 100ms (GARANTIDO)

3 Te s

te

Teste comparativo entre os tempos de TRIP por CONTATO e pela msg. GOOSE

Teste de performance de TRIP do rel 7SJ

3 Te s

te

Teste comparativo entre os tempos de TRIP por CONTATO e pela msg. GOOSE
A caracterstica do IED foi comparada em todas suas funes de sobrecorrente: 51; 50-1; 50-2; (Com dois ajustes) Garantir que no h perda de performance da resposta do rel via CONTATO ou via GOOSE

te 3 Te s

Comparativo entre os tempos de trip pelo contato e pelo GOOSE

Corrente [A]
3,0

Tempo do Contato
10,0678s 4,0335s 3,3362s 438,75ms 438,74ms 436,04ms 29,66ms 24,35ms 27,79ms 28,31ms 59,16ms 59,79ms 52,20ms 58,59ms

Tempo do GOOSE
10,0632s 4,0286s 3,3316s 436,32ms 433,65ms 431,10ms 24,81ms 21,02ms 24,46ms 25,00ms 54,34ms 54,76ms 46,20ms 54,16ms

TContato - TGOOSE
4,67ms 4,87ms 4,60ms 2,43ms 5,09ms 4,94ms 4,84ms 3,33ms 4,33ms 3,31ms 4,82ms 5,03ms 6,00ms 4,43ms

51

5,0 6,0 7,0

50-1

8,5 10,0 11,0

50-2

12,0 15,0 18,0 11,0

50-2

12,0 15,0 18,0

3 Te s

te

Comparativo entre os tempos de trip pelo CONTATO e pelo GOOSE

Teste da Funo 50-2 injetando 15A;

Teste comparativo de tempo entre a interface de contato e mensagem GOOSE (D=6ms)

4 Te s

te

Teste da seletividade lgica utilizando mensagens GOOSE

Esquema de bloqueio utilizando rede ethernet (IEC61850 GOOSE)

Te s

te

Teste da seletividade lgica utilizando mensagens GOOSE

Degrau de 100ms, OK??? Para o degrau de 100ms, lgica aprovada. Testes reduzindo o degrau de seletividade. Menor degrau de seletividade GARANTIDO: 50ms. Metade do Tempo do Degrau via Contato

Te s

te

Teste da seletividade lgica utilizando mensagens GOOSE

Teste da Funo 50-2 injetando 15A; IEDs com troca de informaes via GOOSE

O IED 7SJ atuou e bloqueou o trip do 7UT via GOOSE

Vantagens do Sistema de seletividade via Msg GOOSE

GOOSE: Digital, tratada diretamente pelo processador CONTATO: Atraso relativo a sensibilizao (leitura), scan rate A comunicao redundante (duplo anel) Sempre em teste, oferecendo maior confiana quanto ao bloqueio; Simplicidade obtida para o cabeamento ethernet;

Concluses
IEC61850
Reduo do Degrau de Seletividade via GOOSE: 50ms;

Simplifica: bloqueio entre dispositivos, intertravamento e transfer trip, lgicas entre dispositivos e outras; Trip via GOOSE mais rpida que via CONTATO; Oferece segurana uma vez que a comunicao est sendo testada o tempo todo; No se limita ao numero de entradas e sadas binrias; Mais Informaes, Melhor controle; Fcil expanso e Econmico;

Obrigado!
Paulo Srgio Pereira Jnior

CONPROVE
ENGENHARIA

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