Difração de Raios - X

o  Método Laue – monocristal

o  Método do pó (Debye-Scherrer)- policristal

Fotografia Laue
Método Laue
Cristal de LiF
Medidas Experimentais Valores Calculados
Vetor Feixe Incidente: *V [*h *k *l]
Vetor ortogonal plano: V [h k l]

O produto escalar *V•V permite obter α.

θcal = 90 - α

D ⎛L⎞
L= 2θ = arctg ⎜ ⎟
2
⎝X⎠ * hh + *kk + *ll
cos α =
(*h 2 + *k 2 + *l 2 )(h 2 + k 2 + l 2 )
 Fig. 4: Reflexões de Laue de um monocristal LiF (100). Fig. 3: Reflexão a partir de um plano da rede
o  com orientação aleatória.
Luae LiF
Pó de NaCl

Indexação das Reflexões Laue

Os índices de cada reflexão

(planos) podem ser
identificados pela comparação
dos valores experimentais e
calculados do ângulo θ.
Fotografia Debye-Scherrer
Método de Debye-Scherrer
Indexando redes cúbicas
o  Câmera – r = 28,65mm
o  Perímetro - 2πr = 180,0 mm
o  Amostra: Au
o  Peso Atômico: PA= 196,967
o  Densidade: 19,30 g/cm3
Medida do filme de Debye-Scherrer
o  Leitura do arco 4S em mm
o  Câmera com raio de 28,65mm
o  θ (graus) = S

o  Câmera com raio de 57,30mm

o  θ (graus) = S/2 (dobra a resolução)
Fotografia Debye-Scherrer
o  A montagem de Straumanis (c)
permite a correção da espessura do
filme, pela medida do arco BF que
corresponde a 180º .
Medida do Filme
2S
E (mm) D (mm) F (mm) (mm) Teta (o) d (A)

1 67,0 106,5 86,8 39,5 19,75 2,281

2 64,0 110,0 87,0 46,0 23,00 1,973

3 53,5 120,0 86,8 66,5 33,25 1,406

4 47,0 127,0 87,0 80,0 40,00 1,199

5 45,0 129,0 87,0 84,0 42,00 1,152

6 36,5 137,5 87,0 101,0 50,50 0,999

7 30,0 144,0 87,0 114,0 57,00 0,919

8 28,0 146,0 87,0 118,0 59,00 0,899

9 17,5 138,9 69,44 0,823

[F]= 86,9

Fonte: X-Ray Diffraction Methods, E. W. Nuffield

fotocópia da reprodução do filme - p.113 tabela – p. 117
Como indexar – Método Gráfico

2 a2
d hkl = 2
h + k2 + l2

A relação linear (a x d) fica definida

exclusivamente pelos indices do plano (hkl),
representados por cada reta do gráfico.

Uma fita contendo as marcações dos d´s

medidos, na mesma escala do eixo x, é
deslocada horizontalmente até que a
coincidência visual simultânea com as retas do
gráfico, indicam os índices (hkl) de cada um.
Método Numérico – tabela hkl

E (mm) D (mm) F (mm) 2S (mm) Teta (o) d (A) (di/d1)2 (hkl) a(A)

1 67,0 106,5 86,8 39,5 19,75 2,281 1,000 111 3 3,951

2 64,0 110,0 87,0 46,0 23,00 1,973 0,748 200 4 3,946

3 53,5 120,0 86,8 66,5 33,25 1,406 0,380 220 8 3,977

4 47,0 127,0 87,0 80,0 40,00 1,199 0,276 311 11 3,978

5 45,0 129,0 87,0 84,0 42,00 1,152 0,255 222 12 3,991

6 36,5 137,5 87,0 101,0 50,50 0,999 0,192 400 16 3,996

7 30,0 144,0 87,0 114,0 57,00 0,919 0,162 331 19 4,007

8 28,0 146,0 87,0 118,0 59,00 0,899 0,155 420 20 4,022

9 17,5 138,9 69,44 0,823 0,130 422 24 4,034

[F]= 86,9 3,989

Refinamento do parâmetro de Rede

Indexação de Redes Cúbicas

Relação a X dhkl
650 Linear Regression for Data2_B: (hkl)
Y=A+B*X (100)
600
(110)
Parameter Value Error
550 (111)
--------------------------------------------
A 405,72763 1,26033 (200)
500 B -0,05271 0,00912 (210)
-------------------------------------------- (211)
450 (220)
(300)
400 (310)
a (pm)

350 (311)
(222)
300 (320)
(321)
250 (400)
(410)
200 (411)
(331)
150 (420)
100 (421)
(332)
50 (422)
(500)
0
0 20 40 60 80 100 120 140 160 180 200 220 240
dhkl (pm)
Filme x Difratograma

o  Quartzo – SiO2
n  Sistema: hexagonal
Difração de Raios-X
o  Método Laue
n  Amostra: monocristalina
n  Radiação: policromática (contínuo em λ)
n  Filme: montagem plana c/registro de
espalhamento frontal e/ou
retroespalhamento
n  Difratograma: spots (pontos)
relacionados às direções de “reflexões”
de Bragg pelos planos (hkl)
n  Aplicação: determinação de estruturas
cristalinas e orientação de monocristais
o  Método Debye-Scherrer
n  Amostra: policristalina (em pó)
n  Radiação: monocromática (p. ex.
λκα)
n  Filme: montagem cilindrica c/registro
de espalhamento frontal e
retroespalhamento
n  Difratograma: aneis cujos diâmetros
se relacionam às direções de
“reflexões” de Bragg pelos planos
(hkl)
n  Aplicação: determinação dos
parâmetros de rede para
determinado sistema cristalino.
Filme Debye-Scherrer da Ag