SERVIÇO PÚBLICO FEDERAL

MINISTÉRIO DA EDUCAÇÃO
UNIVERSIDADE FEDERAL FLUMINENSE
ESCOLA DE ENGENHARIA INDUSTRIAL METALÚRGICA DE VOLTA REDONDA
DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA METALÚRGICA E MATERIAIS - VMT

5° VERIFICAÇÃO CONTINUADA DE METALURGIA MECÂNICA

DATA PARA ENTREGA: 27/10/2020.

NOME:__________________________________________________________________

1° QUESTÃO:

Para a análise de materiais, quando a microscopia óptica (MO) é indicada?

2° QUESTÃO:

É possível estudar a fração de grãos recristalizados (sem deformação) utilizando a MO?

Justifique sua resposta.

3° QUESTÃO:

Para a análise de materiais, quando a microscopia eletrônica de varredura (MEV) é

indicada?

4° QUESTÃO:

Uma aluno de trabalho de conclusão de curso (TCC) apareceu no seu laboratório de MEV
com duas amostras para análise. Uma amostra tratava-se de um eixo fraturado em serviço e
a sua superfície de fratura estava preservada. A outra amostra, preparada
metalograficamente, tratava-se de uma liga de titânio ß Ti–35Nb–5.7Ta–7.2Zr para
verificação da composição química global da liga e também das fases presentes. Qual sinal
de MEV você utilizaria para cada amostra?

5° QUESTÃO:

A figura 1 mostra uma discordância em cunha

em um cristal, um feixe incidente de elétrons,
assim como os feixes difratado e transmitido.
Nas imagens de campo claro em MET, as
discordâncias aparecem como linhas escuras
em um fundo claro e nas imagens de campo
escuro, as discordâncias aparecem como linhas
claras em fundo escuro. Explique com suas
próprias palavras este comportamento.

Figura 1 - Feixe difratado.

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