Universidade Federal de Ouro Preto – 1a Prova Teórica (22/02/2013)

Disciplina: Técnicas de Análise Estrutural Código: MET155

Departamento: DEMET Unidade: Escola de Minas
Professor: Geraldo L. de Faria
Aluno: Matrícula:
Prova individual e sem consulta. É permitido o uso de calculadoras, porém não os modelos
HP. É expressamente proibido o uso de celulares.

Questões:

1) Um laboratório de caracterização estrutural de materiais foi contratado por uma grande

empresa do setor automotivo para fazer uma análise de falha de um parafuso que fraturou em
serviço. Algumas considerações são muito importantes: I) A peça fraturada é única; II) A
peça foi enviada para o laboratório com a superfície de fratura preservada, porém embebida
em graxa; III) A empresa automotiva quer saber se a fratura foi proveniente de propagação
de trinca por fadiga ou simplesmente tração em sobrecarga IV) A empresa automotiva não
sabe se o parafuso foi fabricado por usinagem ou laminação; V) A empresa automotiva só
vai pagar por procedimentos de macrografia. Neste contexto, escreva uma proposta
detalhada de trabalho, apresentando ao seu cliente quais procedimentos serão executados na
metodologia deste trabalho, desde o recebimento da amostra embebida em graxa, registros
fotográficos, preparação de corpos de prova, análise até a aquisição de imagens. Lembre-se
que nesta proposta você deve deixar claro todos os cuidados com a amostra e indicar em
quais procedimentos buscar-se-ão as respostas para as questões levantadas.

2) Com relação à preparação de amostras metálicas para análises micrográficas por microscopia
fotônica, responda o que se pede:

a) Qual ou quais são as necessidades, sob o ponto de vista da óptica geométrica, do desbaste
e do lixamento grosseiro bem feito na superfície e algumas vezes na base das amostras?

b) Explique porque é necessário passar com as amostras por procedimentos de polimento

superficial com partículas abrasivas de até 0,25µm.

c) Fisicamente, explique a necessidade de se atacar quimicamente as amostras metálicas

para revelar contornos de grãos e fases presentes na estrutura.

3) Com relação ao microscópio óptico, identifique se as afirmações abaixo são verdadeiras ou

falsas. As que forem julgadas como falsas devem ser reescritas de forma correta:

a) Os microscópios ópticos de luz refletida com platina invertida são menos utilizados, pois
o tamanho das amostras é limitado em função da distância máxima de afastamento da
platina que o botão macrométrico confere ao aparelho.

b) A utilização de condensadores e espelhos semirefletores no sistema de iluminação dos

microscópios tem como principal objetivo fornecer intensidade de luz uniforme sobre
toda a superfície da amostra.
 c) A resolução de uma lente independe do comprimento de onda da onda eletromagnética
utilizada, mas sim da sua abertura numérica, de forma que quanto maior a abertura
numérica maior será a resolução.

d) As informações comumente disponíveis nas lentes objetivas são codificadas por meio de
anéis coloridos. Cada cor indica uma combinação de resolução e meio de refração entre a
amostra e a objetiva, que geralmente são ar, água e etanol.

e) O método de contraste por campo escuro consiste na polarização da luz e

conseqüentemente possibilita diferentes características de transmissão da luz pela
amostra, que a depender do ângulo entre o polarizador e o analisador, pode apresentar
regiões coloridas. Este método não é recomendado para a técnica de luz refletida.

4) A metalográfica quantitativa é uma importante ferramenta na caracterização de materiais

metálicos, pois permite comparar, com boa precisão, características estruturais de diferentes
amostras e correlacioná-las com as suas propriedades físicas.

a) Cite pelo menos três parâmetros estruturais que são comumente medidos pela técnica de
metalografia quantitativa.

b) Escolha um destes parâmetros e explique uma metodologia de ensaio que pode ser
aplicada para a sua medição.

5) Com relação à microscopia eletrônica de varredura, verifique se as afirmações abaixo são

verdadeiras ou falsas. Aquelas consideradas falsas devem ser reescritas corretamente.

a) O MEV tem como grandes atributos a obtenção de imagens de superficiais polidas ou

rugosas, com boa profundidade de foco e alta resolução. A aquisição de sinal digital
possibilita a manipulação e o processamento da imagem em busca de qualidade.

b) Os principais componentes do MEV são: sistema de geração do feixe de luz, o sistema de

lentes de vidros especiais, os sistemas de detecção de sinais, sistema eletrônico de
controle e processamento da imagem e a tela para observação da mesma.

c) A principal diferença, sob o ponto de vista de formação de imagens, de um MEV para os

microscópios fotônicos ou de transmissão é que nele existe um caminho óptico entre a
amostra e a imagem o que torna desnecessário um mapeamento da superfície analisada.

d) A emissão de elétrons secundários aumenta com o número atômico dos átomos presentes
na região analisada, o que permite obter imagem com contrate composicional elementar.