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10.1 Introdução
É uma técnica estatística aplicada à produção que permite a redução sistemática da
variabilidade nas características de qualidade (CQ) de interesse contribuindo para a
melhoria da qualidade intrínseca, da produtividade, da confiabilidade e do custo do que
está sendo produzido. O CEP é um sistema de inspeção por amostragens realizadas ao
longo do processo, com o objetivo de verificar a presença de causas especiais, ou seja,
causas que podem prejudicar a qualidade do produto ou serviço. Uma vez identificadas
as causas especiais, podemos atuar sobre elas, melhorando continuamente a qualidade
do produto.
O CEP fornece uma radiografia do processo que:
- Identifica a variabilidade;
- Possibilita o controle dessa variabilidade ao longo do tempo, através da coleta de
dados continuada;
- Análise e bloqueia possíveis causas especiais que estejam tornando o sistema instável.
Num ambiente competitivo, o controle estatístico abre caminho para melhorias
contínuas, uma vez que garante um processo estável, previsível, com uma identidade e
capacidade definidas.
Segundo Vicente Falconi Campos, um produto ou serviço de qualidade é aquele que
atende perfeitamente, de forma confiável, de forma acessível, de forma segura e no
tempo às necessidades do cliente. Cada produto possui um número de elementos que,
em conjunto, descrevem sua adequação ao uso. Esses elementos são freqüentemente
chamados Características de Qualidade (CQ’s).
Essas características podem ser de diversos tipos:
- físicas, tais como comprimento, peso, voltagem e viscosidade;
- sensoriais, como gosto, aparência e cor;
- ou de orientação temporal, como confiabilidade, manutenção, utilidade e durabilidade.
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Desvio Padrão
Símbolos que representam o Desvio Padrão no estudo do CEP:
S : representa o desvio-padrão da amostra
σ : representa o desvio-padrão das médias amostrais
__
X
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Tamanho de amostra
n : representa o tamanho da amostra
N : representa o tamanho de uma série de k amostras (corridas) de tamanho n
σ __ <σ .
X
f(x)
σx
σ
x
LNI LCI x = µ LCS LNS
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= xk
n
= x2
n
= x1
n
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= xk
n
1/6
x
1 6
Mas agora considere a variável: média do valor das faces no lançamento de dois dados
honestos.
x : lançamento de dois dados
Ω = {1; 1,5; 2; 2,5; 3; 3,5; 4; 4,5; 5; 5,5; 6}
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0 0 0 0
1 dado 2 dado Soma Média 1 dado 2 dado Soma Média
1 1 2 1,0 5 2 7 3,5
1 2 3 1,5 3 4 7 3,5
2 1 3 1,5 4 3 7 3,5
1 3 4 2,0 2 6 8 4,0
3 1 4 2,0 6 2 8 4,0
2 2 4 2,0 3 5 8 4,0
1 4 5 2,5 5 3 8 4,0
4 1 5 2,5 4 4 8 4,0
3 2 5 2,5 3 6 9 4,5
2 3 5 2,5 6 3 9 4,5
1 5 6 3,0 4 5 9 4,5
5 1 6 3,0 5 4 9 4,5
2 4 6 3,0 4 6 10 5,0
4 2 6 3,0 6 4 10 5,0
3 3 6 3,0 5 5 10 5,0
1 6 7 3,5 5 6 11 5,5
6 1 7 3,5 6 5 11 5,5
2 5 7 3,5 6 6 12 6,0
Média de
dois dados Freqüência
1,0 1
1,5 2
2,0 3
2,5 4
3,0 5
3,5 6
4,0 5
4,5 4
5,0 3
5,5 2
6,0 1
Plota-se o gráfico das probabilidades de cada valor médio de dois dados honestos e
verifica-se que o comportamento pode ser considerado Normal, com média de 3,5 e
desvio padrão de 1,21.
(
X ~ N 3,5;1,212 )
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f(x)
6/36
5/36
4/36
3/36
2/36
1/36
1,0 1,5 2,0 2,5 3,0 3,5 4,0 4,5 5,0 5,5 6,0 x
Logo, a variável média (e a soma) do lançamento de dois dados segue aproximadamente
o comportamento da distribuição Normal, mesmo que a distribuição individual da
variável lançamento de um dado seja Uniforme.
(1) O Processo em si
- Pessoas, procedimentos, máquinas e materiais trabalhando em conjunto.
- O desempenho depende da maneira como o processo foi projetado e como ele é
operado.
- O restante do sistema é útil apenas se contribuir para melhorar o desempenho do
processo.
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(3) Ações sobre o processo são orientadas para o futuro (prevenção): Controle sobre as
matérias primas, Ajuste nos parâmetros do processo, Manutenção periódica,
Treinamento de operadores, etc.
(4) Ações no final da linha de produção são orientadas para o passado: correção, refugo
ou retrabalho, as Inspeções impedem que produtos defeituosos cheguem ao cliente, mas
não são uma forma eficiente de ação.
O Controle do Processo não deve se basear em ações no final da linha de produção.
O CEP foca em ações sobre as causas especiais, ou seja, sobre a origem do problema.
Ele não utiliza inspeção 100%, pois isso mobilizaria recursos importantes para a solução
das causas especiais. Além disso, de nada adiantaria identificar, logo no primeiro dia,
um grande número de causas especiais - faltariam recursos para a investigação dessas
causas.
O CEP opera numa escala de tempo longa. Desta forma, as causas especiais vão sendo
identificadas e eliminadas aos poucos, ao longo do tempo, com paciência e persistência.
No final das contas, como resultado desta metodologia tem-se: um processo livre de
unidades defeituosas, que atende amplamente às especificações, cujo desempenho
independe das atividades de inspeção.
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W. Edwards Deming (1986) explica que a confusão entre causas comuns e especiais
leva à maior variabilidade e a custos mais elevados. A atuação em causas comuns como
se fossem causas especiais pode levar a um aumento indesejado da variação, além de
representar um custo desnecessário. Por outro lado, se causas especiais passarem
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Causas Comuns
As causas comuns são as diversas fontes (causas) de variação que atuam de forma
aleatória no processo, gerando uma variabilidade inerente do processo. Devido à
variabilidade inerente do processo, as medidas individuais são todas diferentes, mas em
grupo elas tendem a formar um padrão.
Um processo que apresenta apenas as causas comuns atuando é dito um processo
estável ou sob controle, pois apresenta sempre a mesma variabilidade ao longo do
tempo.
Causas comuns, em geral, só podem ser resolvidas por uma ação global sobre o sistema.
Os operadores estão em boa posição para identificá-las, mas a sua correção exige
decisão gerencial. E a correção pode não se justificar economicamente.
Causas Especiais
Também chamadas de causas assinaláveis. São causas que não são pequenas e não
seguem um padrão aleatório: Erros de set up; Problemas no equipamento ou nas
ferramentas; Um lote de matéria-prima com características muito diferente, etc.
As mesmas têm um efeito significativo sobre o desempenho do processo, e devem ser
identificadas e neutralizadas.
Causas especiais em geral são corrigidas por ação local e, por isso, são de
responsabilidade dos operadores (apesar de algumas vezes a gerência estar em melhor
posição para resolver o problema). A eliminação das causas especiais se justifica
economicamente.
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Objetivo: é monitorar a presença de causas especiais (ou seja, causas que não são
comuns ao processo e podem prejudicar a qualidade do produto/serviço)
Processo
Sistema de Medida
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Limite de Causas
Controle Especiais
Superior
50
(LCS)
Causas
Média
Média Comuns
0
2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14
Limite de
Controle Causas
Especiais
Inferior Limite Cont. Superior = 41,1362 Linha Central = 16,7857
(LCI) Limite Cont. Inf erior = -8,0593 Causas Es peciais
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processo não for estável, os operadores devem agir localmente no sentido de corrigir as
eventuais causas especiais.
Uma vez identificadas e eliminadas as causas especiais, o processo se torna estável e
previsível, logo podemos avaliar sua real capacidade de produzir peças que atendam às
especificações. Se a variabilidade associada às causas comuns for maior do que a
amplitude das especificações, a gerência deve atuar sobre o sistema como um todo para
reduzir essa variabilidade. Como pode ser visto na Figura abaixo, o procedimento de
melhoria da qualidade através do CEP acontece em duas etapas principais.
Coleta de dados
ROTINA
Cálculo dos limites
de controle
MELHORIA
Avaliação da
Ação local Ação
ESTABILIDADE do
sobre as causas Operador
processo
especiais Treinamento
Ajuste
Avaliação da Ação no sistema
CAPACIDADE do Ação sobre as
processo Gerência
causas comuns
Custo
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16,4 LC = 16,23
16,2
16,0
Dimensão (cm)
15,8
15,6
15,4 LC = 15,46
15,2
15,0
14,8
14,6 LCI = 14,71
0 5 10 15 20
Amostra
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7 Pontos Descendentes
16,4 LC = 16,23
16,2
16,0
Dimensão (cm)
15,8
15,6
15,4 LC = 15,46
15,2
15,0
14,8
14,6 LCI = 14,71
0 5 10 15 20
Amostra
c) Pontos fora dos limites de controle. O Gráfico abaixo ilustra a presença de 2 pontos
fora dos limites de controle.
16,4 LC = 16,23
16,2
16,0
15,8
Dimensão (cm)
15,6
15,4 LC = 15,46
15,2
15,0
14,8
14,6
14,4 LCI = 14,71
0 5 10 15 20
Amostra
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Possíveis causas: Novo Método; Nova Máquina; Melhoria de Qualidade; Novo Lote de
Material.
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Definido que o processo está sob controle estatístico, agora vamos verificar se é um
processo capaz ou não capaz de atender as especificações de projeto / cliente.
A avaliação da capacidade do processo só inicia após a eliminação das causas
especiais. Assim, a capacidade está associada com as causas comuns de variação.
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Para verificar se um processo é capaz, são utilizados índices de capacidade (Cp e Cpk)
que comparam as especificações de engenharia/projeto/cliente com a variação natural
do processo.
- Índice de Capacidade Potencial do Processo (Cp):
Mede o quanto o processo pode fabricar o produto-serviço satisfazendo às
especificações (tolerâncias).
O Cp não leva em conta a localização ou “valor nominal”, só depende da amplitude das
especificações. Logo, só avalia a variabilidade do processo.
É calculado da seguinte forma:
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Onde:
__
^ R
σ =
d2
^
σ : Estimativa do desvio padrão
__
R : Média das amplitudes das corridas/subgrupos (k)
LSE: Limite Superior de Especificação
LIE: Limite Inferior de Especificação
d2: Constante tabelada que depende do tamanho da amostra (n) de cada
corrida/subgrupo (ANEXO 1)
Esse índice mede o potencial do processo dentro das especificações. A Tabela abaixo
mostra uma classificação para auxiliar na interpretação do índice Cp e do índice Cpk. Por
exemplo, diz-se que um processo é CAPAZ quando o Cp é maior do que 1,33.
Cp ou Cpk Conceito
Acima de 2,00 Excelente
Entre 1,33 e 2,00 Capaz
Entre 1,00 e 1,33 Relativamente Capaz
Abaixo de 1,00 Totalmente Incapaz
^ ^
LSE − X X − LIE
C pk = min C pksup ; C pk inf = min ^
; ^
3.σ 3.σ
__
^ R
Onde: σ =
d2
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^
σ : Estimativa do desvio padrão
OBS:
- Cpk > 1 => Processo efetivamente capaz (condição necessária para que a fração de
defeituosos seja pequena).
- Muitas empresas utilizam como padrão de qualidade a meta Cpk > 1,33 => Processo
CAPAZ.
- Cp é sempre maior ou igual ao Cpk. Pois quando Cpk é diferente do Cp o processo está
deslocado.
- Quando o processo está centralizado, ou seja, a sua média está bem no meio da
especificação, então Cp = Cpk inf = Cpk sup
- Tanto Cp como Cpk só têm resultados válidos se a distribuição dos valores individuais
for normal.
- Cpk < 1 => Processo efetivamente não capaz (há geração significativa de produtos não-
conformes).
OBS: O Exemplo a seguir realiza uma comparação entre os índices Cp e Cpk. Desta
forma, é muito importante realizar o cálculo e interpretação dos dois índices
conjuntamente, pois o índice Cp monitora apenas a variabilidade.
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LIE LSE
σ= 2
Cp = 2
Cpk = 2 Capaz e centrado
38 44 50 56 62
σ=2
Cp = 2
Capaz, mas não
Cpk = 1
centrado
38 44 50 56 62
σ=2
Cp = 2
Cpk = 0
Não capaz e
38 44 50 56 62
não centrado
σ= 2
Cp = 2
Cpk = -0,5
38 44 50 56 62 65
OBS: O Exemplo abaixo ilustra casos de processos capazes e não capazes, centralizados
e não centralizados.
Condição inicial 1
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Cálculos:
∑R
i =1
i
R1 + R2 + ... + Rk
R= =
k k
∑X
i =1
i
X 1 + X 2 + ... + X k
X = =
k k
Onde:
Ri: é a amplitude do subgrupo/corrida i
X i : é a média do subgrupo/corrida i
k é o número de subgrupos/corridas.
LCS = X + A2 .R
LC = X
LCI = X − A2 .R
Onde:
A2, D3 e D4 são constantes tabeladas (ANEXO 1).
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(
P X < LIE ) LIE LSE (
P X > LSE )
µ - 3σ Meta µ µ + 3σ
( )
% = P X < LIE + P ( X > LSE )
^ 2
Como estamos trabalhando com uma distribuição X ~ N X ; σ , temos que
padronizar para uma distribuição tabelada Normal Padrão Z ~ N 0;12 : ( )
LIE − X
= P Z < + 1 − P Z < LSE − X
^
^
σ σ
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a) Primeiramente calcula-se o R e o X :
15
∑R
i =1
i
15 + 10 + ... + 15 260
R= = = = 17,3
15 15 15
15
∑X
i =1
i
66 + 72 + ... + 75 1107
X = = = = 73,8
15 15 15
Cálculo dos Limites de Controle:
Carta para Média:
88
83
MÉDIA
78
Fresa ( mm )
LCI
73 LC
LCS
68
63
58
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Amostra
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Pela Carta de Controle para Amplitude (R) verifica-se que o processo é sob controle
estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
40
35
30
AMPLITUDE
Fresa (mm)
25 LCI
LC
20
LCS
15
10
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15
Amostra
excesso de variabilidade.
1 / C p = 1 / 0,90 = 1,11.100 = 111%
=> % de uso da faixa de especificação. Logo,
enfatiza que realmente o processo está com excesso de variabilidade:
LIE LSE
Mas o processo está realmente centrado com 5,5% fora de especificação de cada lado
(X = meta)? Agora temos que calcular o índice Cpk para responder este
questionamento:
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^ ^
LSE − X X − LIE 90 − 73,8 73,8 − 50
C pk = min C pksup ; C pkinf = min ^
; ^ = min ; =
3.σ 3.σ 3 .7 , 44 3 . 7 , 44
= min {0,73;1,07} = 0,73
Assim, o processo está deslocado do valor alvo (meta) e com excesso de variabilidade:
Conclusão: Processo Efetivamente não Capaz, pois Cpk < Cp < 1, ou seja, o processo
não é capaz de atender as especificações de projeto, desta forma, deve-se agir nas causas
comuns.
Cp = Especificação / Dispersão
Cp= 0,90
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= P ( X < 50 ) + [1 − P (Z < 90 )]
50 − 73,8 90 − 73,8
= P Z < + 1 − P Z <
7,44 7,44
Cp= 0,90
50 51,5 70 73,8 90
µ - 3σ Meta µ
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Exercício 1: A cada 2 horas de atividade, uma amostra de 5 peças são medidas e dentre
as características de qualidade monitoradas está o peso de um dos componentes
plásticos que são fabricados por sopro. Numa situação onde não havia indícios de
causas especiais de variabilidade, 15 corridas (cada uma com as respectivas 5 peças)
foram monitoradas e indicaram os resultados descritos abaixo. Considere as
especificações técnicas de 72 +- 15.
65 75 65 65 85 75 85 75 85 65 70 85 80 70 80
70 70 80 75 65 70 75 65 85 80 60 70 60 70 80
Medidas 75 80 65 75 70 60 80 80 75 75 70 80 85 75 75
80 75 65 60 75 75 75 90 65 80 85 75 85 65 70
70 70 75 75 70 65 70 80 80 65 90 80 80 75 90
Soma 360 370 350 350 365 345 385 390 390 365 375 390 390 355 395
Média 72 74 70 70 73 69 77 78 78 73 75 78 78 71 79
Amplitude 15 10 15 15 20 15 15 25 20 15 30 15 25 10 20
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Algumas vezes é preciso fazer o controle do processo usando medidas individuais. Esse
será o caso quando:
- Tecnologia de medição automática onde toda peça fabricada é inspecionada.
- Taxa de produção muito baixa (por exemplo: 1 produto por dia).
- Testes muito caros (por exemplo: testes destrutivos ou que exijam a parada da
produção).
- Características muito homogêneas, que variam muito lentamente (por exemplo: um
digestor químico, espessura do rolo de papel, etc).
Cálculos:
Inicialmente calcula-se a amplitude média ( R ) e a média ( X ) do processo:
∑R
i =1
i
R1 + R2 + ... + Rk
R= =
k k
∑X
i =1
i
X 1 + X 2 + ... + X k
X = =
k k
Onde:
Ri: é a amplitude do subgrupo/corrida i
Xi: é a medida do subgrupo/corrida i
k é o número de subgrupos/corridas.
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Onde:
E2 é uma constante tabelada abaixo. E D3 e D4 são constantes tabeladas (ANEXO 1).
n 2 3 4 5 6
E2 2,66 1,77 1,46 1,29 1,18
σ σ
µ − 3σ µ − 3 µ+3 µ + 3σ
n n
Processo sob σx =
σ
controle n
(distribuição dentro σ
dos LC)
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Data 6/8 7/8 8/8 9/8 10/8 11/8 12/8 13/8 14/8 15/8 16/8 17/8 18/3 19/8 20/8
Operador A A A B B A A A B B A A A B B
Medida 1 6,5 7,0 6,5 6,5 8,5 7,5 8,5 8,0 8,5 6,5 7,5 8,0 8,0 7,0 7,5
Ampl. Móvel - 0,5 0,5 0,0 2,0 1,0 1,0 0,5 0,5 2,0 1,0 0,5 0,0 1,0 0,5
Resolução:
Primeiramente calcula-se a amplitude média ( R ) e a média ( X ) do processo:
k −1 14
∑R
i =1
i ∑R
i =1
i
0,5 + 0,5 + ... + 1,0 + 0,5 11
R= = = = = 0,8
k −1 14 14 14
15
∑X
i =1
i
6,5 + 7,0 + ... + 7,5 112
X = = = = 7,5
15 15 15
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Plotando as Cartas:
Pela Carta de Controle para Medidas Individuais verifica-se que o processo é sob
controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
10,0
LCS = 9,6
9,0
Viscosidadee
8,0
LC = 7,5
7,0
6,0
Amostra
Pela Carta de Controle para Amplitude Móvel verifica-se que o processo é sob controle
estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
3,0
LCS = 2,6
2,5
2,0
Viscosidadee
1,5
1,0
LC = 0,8
0,5
Amostra
Conclusão: Com base nas Cartas de Controle para Medidas Individuais e para
Amplitude Móvel verifica-se que o processo é estável.
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Atributos: São características que são comparadas com um certo padrão e por isso
podem assumir apenas valores discretos.
Exemplo: Conforme ou Não-Conforme, contagem de não-conformidades, etc.
O monitoramento por atributos não requer muita especialização para a coleta de dados.
Logo, este monitoramento pode ser uma etapa intermediária, anterior ao monitoramento
de variáveis.
STATUS DO
ATRIBUTOS MEDIÇÃO EFEITO
PRODUTO
Produto com
Não-Conforme Defeituoso Conforme ou não
defeito
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10.9.1 Carta p
Mede a fração/percentual de produtos defeituosos em um grupo.
Exemplo: % de embalagens defeituosas, % de pedidos com erros, etc.
Calcular:
Fração/percentual de itens não-conformes:
di
pi =
ni
Fração Média de itens não-conformes:
k k
∑d
i =1
i
d + d 2 + ... + d k ∑p i
p1 + p 2 + ... + p k
p= = 1 ou p = i =1
=
k
n1 + n 2 + ... + n k k k
∑n
i =1
i
Desvio Padrão:
p.(1 − p )
σp = => Pelo Modelo Probabilístico Binomial
n
∑ni =1
i
n1 + n 2 + n3 + ... + n k
n= =
k k
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p.(1 − p )
LCS = p + 3.σ p = p + 3.
n
LC = p
p.(1 − p )
LCI = p − 3.σ p = p − 3.
n
OBS: Se o Limite Inferior de Controle (LCI) resultar em um número negativo, então ele
deve ser fixado em zero.
OBS: Se o tamanho dos subgrupos/corrida (n) for variável, os limites de controle não
serão uma linha contínua, mas uma linha dentada, caso opte-se por não utilizar o n no
cálculo do desvio padrão.
Avaliação da Capacidade
Após a identificação e eliminação das causas especiais, o processo pode ser avaliado em
relação a sua capacidade.
No caso de atributos, a capacidade deve ser comparada com as expectativas e metas
gerenciais. Caso ela não seja satisfatória, a gerência deve agir sobre o sistema (causas
comuns).
Desta maneira, a fração de não-conformes pode ser comparada com as expectativas e
metas gerenciais, gerando um índice de capacidade Cp, dado por:
p meta _ gerencial
Cp =
p
Caso Cp < 1, a gerência deve agir sobre o sistema. A ação sobre as causas comuns é
mais difícil e em geral irá envolver o estudo de variáveis e não mais atributos.
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Resolução:
Fração Média de itens não-conformes:
20
∑d
i =1
i
d 1 + d 2 + ... + d 20 6 + 4 + 2 + ... + 4 59
p= 20
= = = = 0,025
n1 + n 2 + ... + n 20 120 + 120 + 120 + ... + 120 2400
∑n
i =1
i
Desvio padrão:
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Plotando a Carta p:
Carta de Controle p
0,080
0,070
0,060 p
Farção de não-conformes
0,050 LCI
LC
0,040
LCS
0,030
0,020
0,010
0,000
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Amostra
Conclusão: Verifica-se pelo gráfico que o processo é estável, ou seja, sob controle
estatístico e livre de causas especiais.
Logo, como o Cp > 1, o processo á capaz de atender a meta gerencial, logo não é
necessário agir nas causas comuns.
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10.9.2 Carta np
A Carta np segue a mesma lógica da carta p, mas agora, ao invés da fração de não-
conformes, se monitora o número de não-conformes.
Calcular:
Numero Médio de itens não-conformes:
k k
∑ np
i =1
i
np + np 2 + ... + np k ∑d i
d1 + d 2 + ... + d k
np = = 1 ou n p = i =1
=
k k k k
Sendo: k o número de subgrupos/corridas, npi ou di é o número de itens não-conformes
no subgrupo/corrida i.
Desvio Padrão:
OBS: Se o Limite Inferior de Controle (LCI) resultar em um número negativo, então ele
deve ser fixado em zero.
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Resolução:
Numero Médio de itens não-conformes:
20
∑ np
i =1
i
7 + 13 + ... + 6 193
np = = = = 9,65
20 20 20
Desvio Padrão:
∑d
i =1
i
d 1 + d 2 + ... + d 20 7 + 13 + ... + 6 193
p= 20
= = = = 0,048
n1 + n 2 + ... + n 20 200 + 200 + ... + 200 200 × 20
∑n i =1
i
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Carta de Controle np
20
18
16
14 np
Numero de não-conformes
12 LCI
10 LC
LSC
8
6
4
2
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Amostra
Conclusão: Verifica-se pelo gráfico que o processo é estável, ou seja, sob controle
estatístico e livre de causas especiais.
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10.9.3 Carta c
Monitora o numero de não-conformidades (defeitos) verificados em um produto.
Calcular:
∑c
i =1
i
c1 + c 2 + ... + c k
c= =
k k
Sendo: k o número de subgrupos/corridas, ci é o número de não-conformidades no
subgrupo/corrida i.
Desvio Padrão:
LCS = c + 3.σ c = c + 3. c
LC = c
LCI = c − 3.σ c = c − 3. c
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∑c
i =1
i
4 + 0 + ... + 11 173
c= = = = 8,65
20 20 20
Desvio Padrão:
σ c = c = 8,65 = 2,94
Cálculo dos Limites de Controle:
LCS = c + 3.σ c = 8,65 + 3.2,94 = 17,47
LC = c = 8,65
LCI = c − 3.σ c = 8,65 − 3.2,94 = −0,17 = 0,0
Plotando a Carta c:
Carta de Controle c
Causa Especial
25
20
Numero de não-conformidades
c
15 LCI
LC
LSC
10
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Amostra
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Conclusão: Verifica-se pelo gráfico que o processo é instável, ou seja, não esta sob
controle estatístico e possui um ponto fora de controle (causa especial), o qual deve ser
eliminado dos cálculos e deve ser criado um plano de ação para tratá-lo.
∑c
i =1
i
4 + 0 + ... + 11 152
c= = = = 8,00
19 19 19
Desvio Padrão:
σ c = c = 8,00 = 2,83
Cálculo dos Limites de Controle:
LCS = c + 3.σ c = 8,00 + 3.2,83 = 16,49
LC = c = 8,00
LCI = c − 3.σ c = 8,00 − 3.2,83 = −0,49 = 0,0
Plotando a Carta c:
Carta de Controle c
Causa Especial
18
16
14
Numero de não-conformidades
c
12
LCI
10
LC
8 LSC
6
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
Amostra
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Conclusão: Verifica-se novamente pelo gráfico que o processo é instável, ou seja, não
esta sob controle estatístico e possui um ponto fora de controle (causa especial), o qual
deve ser eliminado dos cálculos e deve ser criado um plano de ação para tratá-lo.
Onibus ci Onibus ci
1 4 11 1
2 0 12 7
3 8 13 5
4 14 14 15
5 4 15 4
6 12 16 6
7 9 17 17
8 5 18 13
9 9 19 8
10 21 20 11
∑c
i =1
i
4 + 0 + ... + 11 135
c= = = = 7,5
18 18 18
Desvio Padrão:
σ c = c = 7,5 = 2,74
Plotando a Carta c:
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Carta de Controle c
18
16
14
Numero de não-conformidades
c
12
LCI
10
LC
8 LSC
6
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 11 12 13 14 15 16 18 19 20
Amostra
Conclusão: Verifica-se pelo gráfico que finalmente agora o processo esta estável, ou
seja, sob controle estatístico e livre de causas especiais.
Painel N° de defeitos
1 2
2 3
3 5
4 4
5 1
6 3
7 1
8 2
9 6
10 1
11 2
12 0
13 3
14 4
15 2
16 1
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10.9.4 Carta u
Exemplo: Número de falhas por rolo de tecido, Número de defeitos por produto por dia,
etc.
É similar a Carta c, exceto que o número de não-conformidade é expresso em relação a
cada unidade.
A carta u é útil quando a amostra contém mais de uma unidade e quando o tamanho da
amostra varia.
As amostras não precisam ter o mesmo tamanho (mas se esse for o caso, os cálculos
ficam facilitados).
Calcular:
Número médio de não-conformidades por unidade:
k
∑c
i =1
i
c1 + c 2 + ... + c k
u= =
k
n1 + n 2 + ... + n k
∑n
i =1
i
Desvio Padrão:
u
σu =
n
Cálculo dos Limites de Controle:
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u
LCS = u + 3.σ u = u + 3.
n
LC = u
u
LCI = u − 3.σ u = u − 3.
n
Resolução:
Número médio de não-conformidades por unidade:
16
∑c
i =1
i
30 + 25 + ... + 21 337
u= 16
= = = 4,0
6 + 4 + ... + 6 84
∑n
i =1
i
Desvio Padrão:
u 4,0
σu = = = 0,87
n 5,25
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Carta de Controle u
Numero de não-conformidades por unidade
7,0
6,0
5,0 u
LCI
4,0
LC
3,0 LCS
2,0
1,0
0,0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16
Amostra
Conclusão: Verifica-se pelo gráfico que o processo é estável, ou seja, sob controle
estatístico e livre de causas especiais.
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EXERCÍCIOS:
1. Uma empresa de plásticos produz uma embalagem de iogurte que deve pesar 20g
com uma tolerância de 1,2 gramas a menos ou a mais. Abaixo são apresentadas as
últimas 10 amostras (com 4 embalagens cada) observadas dessa característica:
Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
20,09 20,62 20,58 19,55 20,00 20,09 20,13 21,03 20,39 20,02
19,75 20,81 19,82 19,86 20,06 20,07 20,02 19,97 20,52 20,44
20,29 19,44 19,96 19,93 20,25 20,67 20,89 20,78 20,87 20,07
20,65 20,12 19,61 19,46 20,07 20,17 20,5 19,64 20,17 20,47
Média ( x ) 20,195 20,248 19,993 19,700 20,095 20,250 20,385 20,355 20,488 20,250
Amplitude (R) 0,90 1,37 0,97 0,47 0,25 0,60 0,87 1,39 0,70 0,45
11
média das amostras
10,5
10
9,5
9
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
2
amplitude das amostras
1,5
0,5
0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
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R:
a) Carta X :
LCS = 20,78
LC = 20,20
LCI = 19,62
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
Carta R:
LSC = 1,82
LC = 0,797
LCI = 0,00
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
b) Cp = 1,03 (processo relativamente capaz), e Cpk = 0,85 (processo incapaz (Cpk<1) e
deslocado, pois Cp ≠ Cpk).
c) LNS = 21,37
LC = 20,20
LNI = 19,03
d) Percentual de peças fora da especificação: 0,0054 = 0,54% ou 5400 partes por milhão
∑ X i = 12870 e
i =1
∑R
i =1
i = 1350
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LSC = 86,4
LC = 45
LCI = 3,6
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
b) LNS = 479,01
LC = 429
LNI = 378,99
c) Cp = 0,80 (processo incapaz (Cp<1), com excesso de variabilidade), Cpk = 0,58
(processo incapaz (Cpk<1) e deslocado, pois Cp ≠ Cpk). Conclusão: O processo está
totalmente incapaz (o processo não esta atendendo as especificações), com excesso de
variabilidade e deslocado. Logo, deve-se agir nas causas comuns.
d) Percentual de peças fora da especificação: 0,042 = 4,2% = 42000 partes por milhão.
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LC = 4,00
LCI = 0,00
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
b) 1,72
c) LNS = 98,94
LC = 104,10
LNI = 109,26
d) Percentual de peças fora da especificação: 0,047 = 4,7% = 47000 partes por milhão.
e) Cp = 0,78 (processo incapaz (Cp<1), com excesso de variabilidade) e Cpk = 0,56
(processo incapaz (Cpk<1) e deslocado, pois Cp ≠ Cpk).
Conclusão: O processo está totalmente incapaz, com excesso de variabilidade e
deslocado. Logo, deve-se agir nas causas comuns.
Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11
X 19 18 17 20 17 18 17,5 20 18 19 20
R 2 4 3 3 2 4 3 5 4 2 3
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Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
X 34,2 31,6 31,8 33,4 35,0 32,1 32,6 33,8 34,8 35,5 35,0 34,0
R 3 4 4 6 4 2 7 9 10 4 8 6
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
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61
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R:
a) Carta X :
LCS = 36,88
LC = 33,65
LCI = 30,42
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
Carta R:
LSC = 11,8
LC = 5,6
LCI = 0,0
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
b) LNS = 40,85
LC = 33,65
LNI = 26,45
c) Cp = 1,53 (processo capaz (Cp > 1,33), não possui excesso de variabilidade) e Cpk =
1,34 (processo capaz (Cpk > 1,33), porém está deslocado, pois Cp ≠ Cpk).
Conclusão: O processo é capaz de atender as especificações do projeto, porém encontra-
se deslocado. Logo, deve-se centralizar o processo (agir nas causas comuns).
6. (2017/2) Os dados a seguir representam as médias e as amplitudes do diâmetro de
uma determinada peça. Foram realizadas 10 amostras de n = 6 medições cada. As
especificações do produto são 7,5 ± 0,5.
Amostra 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
X 7,20 7,11 7,51 7,42 7,59 7,55 7,23 7,53 7,54 7,12
R 0,53 0,70 0,51 0,55 0,53 0,76 0,72 0,60 0,62 0,58
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Página
62
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1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
R:
a) Carta X :
LCS = 7,67
LC = 7,38
LCI = 7,09
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
Carta R:
LSC = 1,22
LC = 0,61
LCI = 0,0
Processo sob controle estatístico (estável), ou seja, livre de causas especiais.
b) Cp = 0,69 (processo incapaz (Cp < 1,00), possui excesso de variabilidade) e Cpk =
min{0,86;0,53}= 0,53 (processo incapaz (Cpk < 1,00) e está deslocado, pois Cp ≠ Cpk).
Conclusão: O processo não é capaz de atender as especificações do projeto, ou seja,
possui excesso de variabilidade e encontra-se deslocado. Logo, deve-se agir nas causas
comuns.
N° produtos
Lote
defeituosos
1 4
2 2
3 4
4 6
5 7
6 3
7 4
8 1
9 8
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10 7
11 5
12 2
13 2
14 0
15 4
16 5
a) Escolha uma Carta de Controle por Atributos (p, np, c, u) adequada para esses dados.
Justifique.
R: Carta p ou np, pois trata-se de unidades não-conformes e como o n é constante pode-
se utilizar a carta p ou a np.
b) Calcule os limites de controle (LCS, LC, LCI) da Carta de Controle por Atributos
escolhida na letra a). (Não é necessário fazer a plotagem do gráfico)
R:
Utilizando a Carta p: Ou Utilizando a Carta np:
LCS = 0,061 LCS = 9,91
LC = 0,025 LC = 4,0
LCI = -0,011 = 0,00 LCI = -1,91 = 0,00
R:
LCS = 0,585
LC = 0,48
LCI = 0,375
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10 8
11 2
12 6
13 3
14 8
15 6
16 7
17 3
18 2
19 7
20 8
a) Escolha uma Carta de Controle por Atributos (p, np, c, u) adequada para esses dados.
Justifique.
R: A carta c, pois estamos monitorando os defeitos (não-conformidades) e o n = 1.
b) Calcule os limites de controle (LCS, LC, LCI) da Carta de Controle por Atributos
escolhida na letra a). (Não é necessário fazer a plotagem do gráfico)
R:
LCS = 12,3
LC = 25,4
LCI = -1,6 = 0,0
Página
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10. (2016/2) Uma empresa possui um programa de treinamento para emissão de nota
fiscal oferecida aos novos empregados. Um levantamento revelou as seguintes
quantidades de erros (defeitos) em cada uma das últimas 15 notas emitidas por um
funcionário que acabou de receber o treinamento.
Nota Fiscal Num. de erros
1 8
2 16
3 15
4 19
5 11
6 15
7 8
8 11
9 21
10 13
11 23
12 16
13 9
14 25
15 15
a) Escolha uma Carta de Controle por Atributos (p, np, c, u) adequada para esses dados.
Justifique.
R: A carta c, pois estamos monitorando os defeitos (não-conformidades) e o n = 1.
b) Calcule os limites de controle (LCS, LC, LCI) da Carta de Controle por Atributos
escolhida na letra a) (Não é necessário fazer a plotagem do gráfico).
R:
LCS = 26,6
LC = 15
LCI = 3,4
Página
66
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a) Escolha uma Carta de Controle por Atributos (p, np, c, u) adequada para esses dados.
Justifique.
R: A carta u, pois estamos trabalhando com não-conformidades (defeitos) e o n > 1 e
não constante.
b) Calcule os limites de controle (LCS, LC, LCI) da Carta de Controle por Atributos
escolhida na letra a). (Não é necessário fazer a plotagem do gráfico)
R:
LCS = 6,74
LC = 4,1
LCI = 1,46
Página
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CEP
Cálculo dos Limites de Controle
Notação:
LCS – Limite de Controle Superior X - Média das Medidas
LCI – Limite de Controle Inferior X - Média das Médias
LC – Limite Central R - Amplitude
LSE – Limite Superior de Especificação R - Média das Amplitudes
LIE – Limite Inferior de Especificação σ - Desvio Padrão Populacional
n – Tamanho da Amostra
Estudo da Capacidade:
__
LSE − LIE ^ ^
LSE − X X − LIE ^ R
Cp = e C pk = min C pksup ; C pk inf = min ; , onde: σ =
^ ^ ^
3.σ d2
6.σ 3.σ
______________________________________________________________________
c (contagem de
np (número de não- u (contagem de não-
p (fração) não-
conformes) conformidades/unidade)
conformidades)
LC p np c u
LCS
p.(1 − p ) u
p + 3. n p + 3. n p.(1 − p ) c + 3. c u + 3.
n n
LCI
p.(1 − p ) u
p − 3. n p − 3. n p.(1 − p ) c − 3. c u − 3.
n n
Se n varia, use n n tem de ser n tem de ser Se n varia, use n ou ni
Notas
ou ni individual constante constante individual
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Ciências Exatas e Tecnológicas
CEQ – Profª Karla Faccio
z 0,0 0,01 0,02 0,03 0,04 0,05 0,06 0,07 0,08 0,09
0,0 0,5000 0,5040 0,5080 0,5120 0,5160 0,5199 0,5239 0,5279 0,5319 0,5359
0,1 0,5398 0,5438 0,5478 0,5517 0,5557 0,5596 0,5636 0,5675 0,5714 0,5753
0,2 0,5793 0,5832 0,5871 0,5910 0,5948 0,5987 0,6026 0,6064 0,6103 0,6141
0,3 0,6179 0,6217 0,6255 0,6293 0,6331 0,6368 0,6406 0,6443 0,6480 0,6517
0,4 0,6554 0,6591 0,6628 0,6664 0,6700 0,6736 0,6772 0,6808 0,6844 0,6879
0,5 0,6915 0,6950 0,6985 0,7019 0,7054 0,7088 0,7123 0,7157 0,7190 0,7224
0,6 0,7257 0,7291 0,7324 0,7357 0,7389 0,7422 0,7454 0,7486 0,7517 0,7549
0,7 0,7580 0,7611 0,7642 0,7673 0,7704 0,7734 0,7764 0,7794 0,7823 0,7852
0,8 0,7881 0,7910 0,7939 0,7967 0,7995 0,8023 0,8051 0,8078 0,8106 0,8133
0,9 0,8159 0,8186 0,8212 0,8238 0,8264 0,8289 0,8315 0,8340 0,8365 0,8389
1,0 0,8413 0,8438 0,8461 0,8485 0,8508 0,8531 0,8554 0,8577 0,8599 0,8621
1,1 0,8643 0,8665 0,8686 0,8708 0,8729 0,8749 0,8770 0,8790 0,8810 0,8830
1,2 0,8849 0,8869 0,8888 0,8907 0,8925 0,8944 0,8962 0,8980 0,8997 0,9015
1,3 0,9032 0,9049 0,9066 0,9082 0,9099 0,9115 0,9131 0,9147 0,9162 0,9177
1,4 0,9192 0,9207 0,9222 0,9236 0,9251 0,9265 0,9279 0,9292 0,9306 0,9319
1,5 0,9332 0,9345 0,9357 0,9370 0,9382 0,9394 0,9406 0,9418 0,9429 0,9441
1,6 0,9452 0,9463 0,9474 0,9484 0,9495 0,9505 0,9515 0,9525 0,9535 0,9545
1,7 0,9554 0,9564 0,9573 0,9582 0,9591 0,9599 0,9608 0,9616 0,9625 0,9633
1,8 0,9641 0,9649 0,9656 0,9664 0,9671 0,9678 0,9686 0,9693 0,9699 0,9706
1,9 0,9713 0,9719 0,9726 0,9732 0,9738 0,9744 0,9750 0,9756 0,9761 0,9767
2,0 0,9772 0,9778 0,9783 0,9788 0,9793 0,9798 0,9803 0,9808 0,9812 0,9817
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2,3 0,9893 0,9896 0,9898 0,9901 0,9904 0,9906 0,9909 0,9911 0,9913 0,9916
2,4 0,9918 0,9920 0,9922 0,9925 0,9927 0,9929 0,9931 0,9932 0,9934 0,9936
2,5 0,9938 0,9940 0,9941 0,9943 0,9945 0,9946 0,9948 0,9949 0,9951 0,9952
2,6 0,9953 0,9955 0,9956 0,9957 0,9959 0,9960 0,9961 0,9962 0,9963 0,9964
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2,8 0,9974 0,9975 0,9976 0,9977 0,9977 0,9978 0,9979 0,9979 0,9980 0,9981
2,9 0,9981 0,9982 0,9982 0,9983 0,9984 0,9984 0,9985 0,9985 0,9986 0,9986
3,0 0,9987 0,9987 0,9987 0,9988 0,9988 0,9989 0,9989 0,9989 0,9990 0,9990
3,1 0,9990 0,9991 0,9991 0,9991 0,9992 0,9992 0,9992 0,9992 0,9993 0,9993
3,2 0,9993 0,9993 0,9994 0,9994 0,9994 0,9994 0,9994 0,9995 0,9995 0,9995
3,3 0,9995 0,9995 0,9995 0,9996 0,9996 0,9996 0,9996 0,9996 0,9996 0,9997
3,4 0,9997 0,9997 0,9997 0,9997 0,9997 0,9997 0,9997 0,9997 0,9997 0,9998
3,5 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998 0,9998
3,6 0,9998 0,9998 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999
3,7 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999
3,8 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999 0,9999
3,9 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000 1,0000
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Ciências Exatas e Tecnológicas
CEQ – Profª Karla Faccio
z 0,0 0,01 0,02 0,03 0,04 0,05 0,06 0,07 0,08 0,09
0,0 0,5000 0,4960 0,4920 0,4880 0,4840 0,4801 0,4761 0,4721 0,4681 0,4641
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-0,2 0,4207 0,4168 0,4129 0,4090 0,4052 0,4013 0,3974 0,3936 0,3897 0,3859
-0,3 0,3821 0,3783 0,3745 0,3707 0,3669 0,3632 0,3594 0,3557 0,3520 0,3483
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-2,0 0,0228 0,0222 0,0217 0,0212 0,0207 0,0202 0,0197 0,0192 0,0188 0,0183
-2,1 0,0179 0,0174 0,0170 0,0166 0,0162 0,0158 0,0154 0,0150 0,0146 0,0143
-2,2 0,0139 0,0136 0,0132 0,0129 0,0125 0,0122 0,0119 0,0116 0,0113 0,0110
-2,3 0,0107 0,0104 0,0102 0,0099 0,0096 0,0094 0,0091 0,0089 0,0087 0,0084
-2,4 0,0082 0,0080 0,0078 0,0075 0,0073 0,0071 0,0069 0,0068 0,0066 0,0064
-2,5 0,0062 0,0060 0,0059 0,0057 0,0055 0,0054 0,0052 0,0051 0,0049 0,0048
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-2,8 0,0026 0,0025 0,0024 0,0023 0,0023 0,0022 0,0021 0,0021 0,0020 0,0019
-2,9 0,0019 0,0018 0,0018 0,0017 0,0016 0,0016 0,0015 0,0015 0,0014 0,0014
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-3,1 0,0010 0,0009 0,0009 0,0009 0,0008 0,0008 0,0008 0,0008 0,0007 0,0007
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-3,3 0,0005 0,0005 0,0005 0,0004 0,0004 0,0004 0,0004 0,0004 0,0004 0,0003
-3,4 0,0003 0,0003 0,0003 0,0003 0,0003 0,0003 0,0003 0,0003 0,0003 0,0002
-3,5 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002 0,0002
-3,6 0,0002 0,0002 0,0001 0,0001 0,0001 0,0001 0,0001 0,0001 0,0001 0,0001
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-3,9 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000 0,0000
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REFERÊNCIAS
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