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DEPARTAMENTO DE CINCIAS DA TERRA

FACULDADE DE CINCIAS E TECNOLOGIA
UNIVERSIDADE DE COIMBRA




SEBENTA DE MINERALOGIA
(Licenciatura em Geologia, Engenharia Geolgica e Engenharia de Minas)


















Elsa Maria Carvalho Gomes



2004
Z = c

2
1. INTRODUO

1.1. Definio de mineralogia
A Mineralogia a cincia que se dedica ao estudo dos minerais.

1.2. Histria
Filsofo grego Theophrastus (372-287 a.C.) - atribui-se-lhe o primeiro trabalho escrito
sobre minerais e rochas;
Plnio, 400 anos depois (Sculo I A.D.) autor de uma revista enciclopdica de
mineralogia;
O fsico e engenheiro de minas George Bauer (conhecido pelo seu nome latinizado
Georgious Agricola), em 1556, publica um trabalho intitulado De Re Metallica, com uma
descrio detalhada das prticas mineiras da altura e uma definio das propriedades fsicas dos
minerais;
Niels Stensen, em latim Nicholas Steno (1669) demonstrou a lei da constncia dos
ngulos interfaciais;
Abraham G. Werner (1750-1817) uniformizou a nomenclatura para descrio de
minerais;
Ren-Juste Hay (1743-1822) mostrou que os cristais eram construdos pelo
empilhamento de blocos idnticos, que designamos por clulas unitrias; considerado o Pai da
cristalografia matemtica;
J. J. Berzelius (1779-1848) - reconheceu que os minerais so compostos qumicos e
proporcionou os fundamentos para a classificao qumica dos minerais;
William Nicol (1768-1851) inventou o prisma de Nicol, em 1828, que permitiu o
estudo do comportamento da luz nas substncias cristalinas e estabeleceu os fundamentos da
mineralogia ptica;
James D. Dana (1813-1895) publicou a 1 edio de A System of Mineralogy, em
1837; a 4 edio (1854) introduziu a classificao qumica dos minerais , que ainda hoje
usada;
Max von Laue (1912) demonstrou que os cristais difractam os raios-X;
William Henry Bragg, William Lawrence Bragg (1914) usaram os raios-X para
determinar a estrutura cristalina dos minerais.
Sculo XX - Microssonda electrnica; TEM Microscpio electrnico de transmisso.
3
1.3. Definio de mineral
Um mineral um slido homogneo
1
, natural
2
com uma composio qumica
definida
3
(mas no, necessariamente, fixa) e um arranjo atmico altamente ordenado
4
. ,
normalmente, formado por processos inorgnicos
5
.
1. um slido homogneo, isto , constitudo por uma nica substncia slida que no
pode ser fisicamente dividida em compostos qumicos mais simples. Excluem-se os gases
e os lquidos.
2. Laboratrios industriais e de pesquisa produzem equivalentes sintticos de muitos
materiais que ocorrem naturalmente, incluindo pedras preciosas.
3. Tem uma composio qumica definida logo pode ser expressa por uma frmula qumica
especfica.
4. Um arranjo atmico altamente ordenado indica uma estrutura interna de tomos ou ies
definindo um padro geomtrico regular.
5. De acordo com a definio tradicional, um mineral formado por processos inorgnicos.
Se acrescentarmos a palavra normalmente, podemos incluir no domnio da mineralogia
os compostos produzidos organicamente que cumprem todos os outros requisitos
exigidos.

1.4. Definio de mineralide
So materiais semelhantes aos minerais, mas sem estrutura cristalina. Exemplos:
opala (SiO
2
amorfa), minerais de U e Th, como o zirco (ZrSiO
4
), onde a cristalinidade original
destruda pala radiao de elementos radioactivos presentes na estrutura original (minerais
metamcticos) e o vidro vulcnico.

1.5. Definio de cristal
Quando as condies so favorveis, os minerais podem ser limitados por
superfcies planas e suaves e assumirem formas geomtricas regulares conhecidas como cristais.
Assim, no sentido tradicional o termo cristal designa um slido geomtrico regular limitado por
superfcies planas e suaves que so a expresso externa do arranjo interno regular dos ies ou
tomos constituintes; nesta definio est implcito o sentido de perfeio no desenvolvimento.
Actualmente, muitos cientistas usam o termo cristal para descrever qualquer slido com
uma estrutura interna ordenada, negligenciando o facto de possuir ou no faces externas.
razovel esta definio porque as faces so essencialmente um acidente de crescimento e a sua
4
ausncia no modifica as propriedades fundamentais de um cristal. Uma definio mais ampla de
cristal pode ser: slido homogneo com uma ordem interna tridimensional.
Matria microcristalina Se substncias cristalinas ocorrem em agregados de gro fino, s
visveis ao microscpio, designam-se por matria microcristalina.

Matria criptocristalina Se os agregados so to finos que os gros s podem ser
identificados por raios-X, utiliza-se a designao criptocristalina (cripto = oculto).

Eudrico Slido cristalino com faces bem definidas (do grego hedron que significa face +
o prefixo grego eu que significa bom) (Fig.1a).
Subdrico Slido cristalino com faces imperfeitas (do grego hedron que significa face + o
prefixo latino sub que significa qualquer coisa ou alguma coisa) (Fig. 1b).
Andrico Slido cristalino sem faces (do grego hedron que significa face + o prefixo
grego an que significa sem) (Fig. 1c).


2. CRISTALOGRAFIA

2.1. Definio de cristalografia
A cristalografia descreve a forma, simetria e estrutura cristalina dos minerais. A
cristalografia relaciona a estrutura cristalina dos minerais com a sua forma externa.

2.2. Teoria reticular
Ren-Juste Hay introduziu o conceito de molculas integrantes (correspondente ao
conceito moderno de clula unitria) que, regularmente empilhadas, desenvolvem vrias formas
comuns (Fig. 2).

A clula unitria a menor unidade da estrutura ou padro, que pode ser
indefinidamente repetida para gerar toda a estrutura.

A estrutura cristalina ou a ordem interna nos cristais o resultado da repetio de um
motivo (unidades qumicas - tomos ou ies) em translaes regulares a trs dimenses. Os
padres ordenados representam um estado de energia inferior aos padres aleatrios (Fig. 3).
5





Figura 1. Caracterizao da forma de um cristal em amostra de mo: (a) cristais
eudricos, (b) cristais subdricos, (c) cristais andricos (BORGES, 1996).




6

Figura 2. Diferentes formas externas produzidas pelo empilhamento de clulas
unitrias cbicas: (a) cubo perfeito, (b) cubos distorcidos, (c) octaedro e (d)
dodecaedro (KLEIN & HURLBUT, 1999). As formas octaedro e dodecaedro so o
resultado de adies sistemticas de unidades ao longo de direces de crescimento
acelerado.







Figura 3. Muro construdo com tijolos idnticos dispostos de forma ordenada,
proporcionando uma configurao mais estvel e de menor energia do que um muro
construdo com tijolos dispostos ao acaso (KLEIN & HURLBUT, 1999).




7
2.2.1. Ordem unidimensional (filas)
Consideremos um ponto O (Fig. 4), que representa uma unidade qumica, que repetido
por translao, segundo uma direco y e distncia b. Os pontos assim gerados so designados
por pontos homlogos ou ns e a distncia constante que separa dois pontos homlogos
consecutivos o parmetro de fila (vector b).
Uma sequncia de pontos homlogos, igualmente espaados, distribudos ao longo
de uma direco dada constitui uma fila reticular.

2.2.2. Ordem bidimensional (malhas planas)
A ordem bidimensional o resultado de translaes regulares em duas direces
diferentes, designadas por x e y.
A Figura 4 mostra um padro bidimensional regular produzido com dois espaamentos
diferentes a e b e um ngulo entre as direces x e y, diferente de 90, 60 e 120. A rede
bidimensional assim criada designada por malha plana. Os pontos regularmente espaados, ou
ns, representam a localizao dos tomos, ies, molculas ou complexos inicos. A menor
unidade de construo no padro bidimensional o paralelogramo a sombreado na Figura 4
(clula unitria). Se esta clula unitria for repetida indefinidamente por translaes a e b, ao
longo das direces x e y, o resultado a malha representada na Figura 4.

Malha primria Malha definida pelas filas cujos parmetros so iguais s menores
distncias que separam os pontos homlogos (Fig. 5).
Malha secundria Malha cujos lados no correspondem s menores distncias que separam
os pontos homlogos (Fig. 5).

Filas conjugadas Quando nenhum ponto da fila est situado fora dos ns a fila diz-se
conjugada (Fig. 5).
Filas no conjugadas Quando a fila tem pontos fora dos ns diz-se no conjugada (Fig.
5).

Existem apenas 5 tipos de malhas planas possveis que dependem do valor do ngulo ,
entre as direces x e y, e da dimenso de a relativamente a b (Fig. 6). Estas 5 malhas esto
ilustradas na Figura 6 e so designadas por:
- Malha quadrada;
- Malha rectangular primitiva (P) apenas com ns nos vrtices da clula unitria;
8


Figura 4. Malha plana definida pelos parmetros de fila a e b e pelo ngulo entre as
direces x e y. O paralelogramo a sombreado representa a unidade menor do padro (clula
unitria) (KLEIN & HURLBUT, 1999).





















Figura 5. Malha primria (Ob
1
a
1
c
1
) e malha secundria (Oc
1
b
1
d
1
). Fila conjugada (Oa
2
e
Ob
4
) e fila no conjugada (Oc
2
).




O

O
a
1
b
1
c
1
d
1
y
x
c
2 d
2
b
2
b
3 b
4
a
2
9



Figura 6. Tipos de malhas planas (a) e clulas unitrias (b) (NESSE, 2000).




Quadrada
a=b
=90
Rectangular
P
ab
=90
Rectangular
C
ab
cos=a/2b
Hexagonal
a=b
=120
Oblqua
ab
90
Paralelogramo
Losango
Rectngulo C
Rectngulo P
Quadrado
10
- Malha rectangular centrada (C) tem ns nos vrtices e centro da clula unitria;
- Malha hexagonal;
- Malha oblqua.
No existem malhas com base pentagonal ou octogonal porque por repetio sucessiva da
clula unitria no seria possvel cobrir a totalidade do plano reticular sem deixar espaos vazios
(Fig.7).
















Figura 7. Malhas pentagonal e octogonal no so possveis porque por repetio da
clula unitria no se consegue cobrir a totalidade do plano reticular sem deixar
espaos vazios.


2.2.3. Ordem tridimensional (malhas espaciais)
As malhas tridimensionais podem ser construdas adicionando uma direco de
translao (vector) s malhas planas da Figura 6. Este terceiro vector no pertence ao plano da
malha bidimensional.
As arestas da clula unitria so indicadas por a, b e c e os ngulos entre os eixos
coordenados, x, y e z, por , e , sendo o ngulo entre b e c, o ngulo entre a e c e o
ngulo entre a e b.
As dimenses da clula unitria so expressas em angstrom (1 = 10
-8
cm)
11
Definem-se 14 tipos de malhas espaciais diferentes (incluindo malhas simples e
mltiplas) conhecidas como malhas de Bravais (Fig. 8):
Malha cbica ou isomtrica (P, F e I);
Malha tetragonal (P e I);
Malha ortorrmbica (P, C, F e I);
Malha monoclnica (P e I);
Malha triclnica (P);
Malha hexagonal (P ou C);
Malha rombodrica ou trigonal (R).

Conforme a Figura 8, as malhas de Bravais so de 6 tipos:
Primitivas ou simples, P S tm pontos homlogos ou ns nos vrtices; h 7 malhas
primitivas;
Centradas ou corpo centrado, I Tem pontos homlogos nos vrtices e no centro da
clula unitria;
Faces centradas, F Tem pontos homlogos nos vrtices e no centro de todas as faces;
Bases centradas, C Tm pontos homlogos nos vrtices e no centro das faces
perpendiculares a c; as malhas podem ser A ou B se o par de faces com pontos homlogos no seu
centro for perpendicular a a ou b, respectivamente (Side-centered);

Multiplicidade - A multiplicidade corresponde ao nmero de ns contidos nas malhas mltiplas
(Tabela 1).

Cada n num vrtice da malha comum a 8 malhas;
Cada n numa aresta da malha comum a 4 malhas;
Cada n numa face da malha comum a 2 malhas;
Cada n no interior da malha s a ela pertence.

O volume de uma malha mltipla maior que o volume de qualquer malha simples que
se defina na mesma distribuio de ns. A multiplicidade da rede dada pela razo entre esses
volumes. Por exemplo, um cubo de faces centradas tem um volume qudruplo do de qualquer
malha simples que se defina na mesma distribuio de ns.

12


Figura 8. As 14 malhas de Bravais (KLEIN & HURLBUT, 1999).


Triclnica
abc
90
Ortorrmbica
Tetragonal
a=bc; ===90
Hexagonal
a=bc; ==90;=120
Rombodrica
a=b=c; ==90
Cbica
a=b=c
90
Monoclnica
abc
90
(ou C)
13
Tabela 1. Multiplicidade da clula.
Malha Smbolo Multiplicidade
Primitiva P 8x1/8=1
Side-centered
centrada em (100)
A 8x1/8+2x1/2=2
Side-centered
centrada em (010)
B 8x1/8+2x1/2=2
Side-centered
centrada (001)
C 8x1/8+2x12=2
Faces centradas F 8x1/8+6x1/2=4
Centrada I 8x1/8+1/1=2
Rombodrica R 1


Tambm nos arranjos tridimensionais o nmero de clulas unitrias possveis restrito.
As restries escolha da clula unitria so as seguintes:
1. As arestas da clula unitria devem coincidir, se possvel, com os eixos de simetria da malha
(item 2.3);
2. As arestas devem estar relacionadas umas com as outras pela simetria da malha (item 2.3);
3. A clula , normalmente, a menor possvel, satisfazendo as exigncias 1 e 2, ou seja, deve
apresentar simetria completa;
4. A clula unitria deve possuir a possibilidade fundamental de por repetio nas trs
direces construir o cristal sem deixar espaos vazios.

2.3. Operaes e elementos de simetria
O conceito de simetria implica uma repetio em que se consideram duas entidades
fundamentais: o motivo (aquilo que se repete) e o perodo ou ritmo (lei de repetio). O ritmo
constante e resulta da aplicao de operaes de simetria, as quais se podem definir mediante os
chamados operadores de repetio, operadores de simetria ou elementos de simetria.
Os elementos ou operadores de simetria so entidades geomtricas (pontos centros
de simetria, rectas eixos de rotao ou planos planos espelho) relativamente s quais se
processam as operaes de simetria (translaes, rotaes, reflexes, inverses, etc.).

2.3.1. Translao
uma operao de repetio que consiste no deslocamento do motivo paralelamente
a si prprio. O operador de repetio um vector (T) (Fig. 9).
14
2.3.2. Rotao
uma operao que consiste na repetio do motivo mediante uma periodicidade
angular; sendo uma repetio peridica, em que cada figura deriva da anterior e gera a
seguinte, aps um certo nmero de repeties da operao h, necessariamente,
coincidncia com a figura inicial.
O operador de simetria correspondente, recta em torno da qual se pode imaginar a
rotao do motivo, designa-se por eixo de rotao (Fig. 10).
O ngulo de rotao uma alquota de 360. O nmero n de vezes que um motivo
repetido durante uma rotao de 360 designa-se por grau do eixo de rotao. Consoante o seu
grau os eixos designam-se por:
n=1 eixo monrio;
n=2 eixo binrio;
n=3 eixo ternrio;
n=4 eixo quaternrio;
n=5 eixo quinrio;
n=6 eixo senrio;
n=7 eixo de grau 7;

n=n eixo de grau n.

Nos cristais os eixos podem ser: grau 1 (monrio, =360), grau 2 (binrio, =180),
grau 3 (ternrio, =120), grau 4 (quaternrio, =90) e grau 6 (senrio, =60), dependendo
do nmero de vezes que o objecto visto numa rotao (Fig. 11).
Em Cristalografia descritiva os eixos de rotao representam-se pela letra E acompanhada
por um ndice relativo ao grau do eixo ou, simplesmente, pelo nmero n, indicativo daquele grau:
E
3
ou 3, por exemplo.

2.3.3. Reflexo
uma operao que produz uma imagem espelho atravs de um plano espelho m
(operador de simetria) (Fig. 12).

2.3.4. Inverso
a operao de simetria que relaciona duas figuras tais que, a cada ponto de uma
corresponde, na outra, um ponto oposto, relativamente a um dado ponto do espao. Este
15
ponto do espao o operador de repetio e designa-se por centro de inverso (i), ou centro
de simetria, em particular na acepo de elemento de simetria de um poliedro (Fig. 13).
Assim, quando cada ponto de um lado de um objecto pode ser ligado por uma linha
imaginria, passando pelo centro, a um ponto idntico, mesma distncia do centro, do outro
lado do objecto, diz-se que possui centro de simetria.

2.3.5. Roto-inverso
Uma operao de roto-inverso corresponde ao produto de uma rotao por uma
inverso. O operador de simetria designa-se por eixo de inverso (Fig. 14).
As operaes de rotao de ordem 1, 2, 3, 4 e 6 podem ser combinadas com inverso
designando-se por operaes de roto-inverso.
A Figura 15 ilustra a combinao de operaes de simetria numa roto-inverso de ordem
1. Um eixo de roto-inverso de ordem 1 representado por 1 (ler: barra um). A operao 1
equivalente a um centro de simetria (i).
As operaes de roto-inverso 2, 3, 4, e6 so ilustradas na Figura 16.

2.3.6. Roto-reflexo
Uma operao de roto-reflexo corresponde ao produto de uma rotao por uma
reflexo, sendo os dois operadores componentes (eixo de rotao e plano espelho) normais
entre si (Fig. 17). O correspondente operador de simetria designa-se por eixo alterno ou
eixo alternante.
Este tipo de combinao de elementos de simetria representado por n/m (leia-se n sobre
m) sendo n o grau do eixo de rotao.

2.4. Operaes de 1 e 2 ordem Figuras congruentes e figuras enantiomrficas
Figuras que se sobrepem mediante translaes e rotaes adequadas dizem-se
congruentes. Qualquer operao que gere figuras congruentes diz-se de 1 ordem. So de 1
ordem a translao e a rotao.
Figuras que, sendo simtricas, admitem duas feies distintas, uma direita e outra
esquerda, dizem-se enantiomrficas. As operaes de simetria que geram figuras
enantiomrficas dizem-se de 2 ordem. So operaes de 2 ordem a inverso, a reflexo e
qualquer produto de uma operao de 1 ordem por uma de 2 ordem.

16














Figura 9. Operao de translao. O operador de simetria o vector T.






Figura 10. Padro originado pela rotao de um motivo segundo um ngulo
de 180 (KLEIN & HURLBUT, 1999).





T
Motivo
original
Motivo
rodado
Rotao
de 180
17

Figura 11. Representao de eixos de rotao de grau 1, 2, 3, 4 e 6. Os smbolos no centro dos
crculos correspondem representao grfica dos eixos de rotao (KLEIN & HURLBUT,
1999).




Figura 12. A operao de reflexo. (a) Motivo original (mo esquerda) e motivo reflectido (mo
direita) por um plano espelho (KLEIN & HURLBUT, 1999). (b) As figuras [ABC] e [ABC]
dizem-se simtricas por reflexo no espelho m (BORGES, 1996).


m
A
B
C
Ao
Bo
Co
A
B
C
Motivo
original
Motivo
Espelho
(a) (b)
1 2 3
4 5
18




Figura 13. A operao de inverso. (a) Motivo original e motivo invertido por um centro de
simetria ou inverso (KLEIN & HURLBUT, 1999). (b) Figura [ABC] e [ABC] relacionadas
por um centro de inverso (ponto i) (BORGES, 1996).








Figura 14. A operao de roto-inverso. (a) Rotao de 180 de um motivo e subsequente
inverso (KLEIN & HURLBUT, 1999). (b) Figura ilustrando a propriedade comutativa do
produto de uma inverso por uma rotao (BORGES, 1996).

i
A
C
B
A
B
C
(a) (b)
Motivo
original
Motivo
invertido
i
i

1 1
1 1
Motivo
original
Motivo
final
Rota
(a)
(b)
19
Figura 15. Ilustrao de uma operao de roto-inverso constituda por uma rotao de 360 e
subsequente inverso atravs do centro da esfera (KLEIN & HURLBUT, 1999).

Figura 16. Operaes de roto-inverso envolvendo ngulos de rotao de 180, 120, 90 e 60
(KLEIN & HURLBUT, 1999).

1
(Equivalente a centro de simetria)
3
(Equivalente a eixo de rotao
ternrio + centro de simetria)
6
(Equivalente a eixo de rotao
ternrio + plano espelho
perpendicular ao eixo)
4







2
(Equivalente a plano espelho)
20

Figura 17. A operao de roto-reflexo. (a) Combinao de eixo de rotao quaternrio (4) e
plano espelho (m) perpendicular a ele (KLEIN & HURLBUT, 1999). (b) Combinao de eixo
de rotao senrio (6) e plano espelho (m) perpendicular a ele (KLEIN & HURLBUT, 1999).

2.5. Eixos cristalogrficos
Na descrio dos cristais a forma externa ou a simetria interna so referidas a um
conjunto de 3 (ou 4) eixos de referncia designados por eixos cristalogrficos. Ao contrrio dos
eixos de simetria, que so entidades reais, os eixos cristalogrficos so imaginrios e
seleccionados na base da convenincia, com a finalidade de identificar ou especificar faces
particulares. Estes eixos so escolhidos de forma a coincidir com as direces das arestas dos
cristais e com os eixos de simetria, ou com normais aos planos de simetria. Idealmente, os eixos
cristalogrficos devem ser paralelos, e os seus comprimentos proporcionais, s arestas da clula
unitria.
Todos os cristais, com excepo dos pertencentes ao sistema hexagonal, so referidos a
trs eixos cristalogrficos, designados por x, y e z (ou a, b e c) (Fig. 18). O segmento frontal de
x, o segmento direito de y e o segmento superior de z so positivos; os segmentos opostos so
negativos. Os ngulos entre as extremidades positivas dos eixos so, convencionalmente,
designados pelas letras gregas , e .
Perspectiva Projeco Smbolo
Espelho
6/m
m
4/m
Espelho
m
21










Cbico
Trs eixos iguais (x, y e z)
perpendiculares entre si.
Trs eixos (x, y e z) perpendiculares
entre si; x e y iguais; z > ou < que x e y.
Hexagonal
Trigonal
Ortorrmbico
Monoclnico
Triclnico
Trs eixos iguais (x, y e u ou
a
1
, a
2
, e a
3
) a 120; z normal
ao plano que contm x, y e u e
> ou < que eles.
Igual ao hexagonal.
Trs eixos desiguais (x, y e
z) perpendiculares entre si
(normalmente, b>a).
Trs eixos desiguais (x, y e
z); y normal ao plano xz; x
e z no so perpendiculares.
Trs eixos desiguais e no
perpendiculares entre si.
Figura 18. Ilustrao do sistema
convencional de eixos cristalogrficos
adoptado para cada um dos sete sistemas
cristalinos (BATTEY & PRING, 1997).
22
2.6. Classes de simetria
O nmero de combinaes de simetria possveis limitado. O nmero total de
combinaes de elementos de simetria de apenas 32. Os 32 elementos e combinaes de
elementos possveis so designados por grupos pontuais ou classes de simetria. Entre as 32
classes de simetria, h sete que correspondem s simetrias das malhas simples, definidoras dos
sete sistemas cristalogrficos que, por sua vez, foram previamente definidos a partir da geometria
da clula unitria gerada pelas malhas de Bravais. Essas sete classes, designadas por
holodricas, correspondem a uma simetria de paraleleppedo, completa ou normal (Tabela 2).
As 25 classes restantes correspondem a uma simetria inferior normal do sistema e so
designadas por merodricas.

Tabela 2. Sistemas cristalogrficos e simetria das classes holodricas.
SISTEMA Simetria das classes holodricas
Cbico 3E
4
4E
3
6E
2
9P C
Tetragonal 1E
4
4E
2
5P C
Hexagonal 1E
6
6E
2
7P C
Trigonal (ou rombodrico) 1E
3
3E
2
3P C
Ortorrmbico 3E
2
3P C
Monoclnico 1E
2
1P C
Triclnico C
E indica o eixo de simetria, P o plano de simetria e C o centro de simetria.

Nas Figuras 19, 20, 21, 22, 23, 24 e 25 so ilustrados os elementos de simetria das classes
holodricas dos sete sistemas cristalinos.

2.7. ndices de Miller
Os ndices de Miller constituem uma notao simples para representar as
interseces das faces do cristal com os eixos cristalogrficos.
As interseces de uma face, em termos dos comprimentos unitrios a, b e c, so primeiro
determinadas. Na Figura 26 as distncias m, n e p a que as faces intersectam os eixos so:
1a 1b 1c (m=1, n=1, p=1)
1/2a 1/3b 1c (m=1/2, n=1/3, p=1)
4/3a 2b 1c (m=4/3, n=2, p=1).
De seguida, tomamos os inversos das interseces m, n e p (1/m 1/n 1/p) e convertemos os
nmeros fraccionrios em nmeros inteiros (Tabela 3).
23

Figura 19. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema cbico (KLEIN &
HURLBUT, 1999). (a) Trs eixos de rotao quaternrios paralelos aos eixos cristalogrficos.
(b) Quatro eixos de rotao ternrios paralelos s diagonais do cubo. (c) Seis eixos de rotao
binrios intersectando os pontos mdios das arestas (d) Trs planos de simetria paralelos s faces
do cubo. (e) Seis planos de simetria paralelos s diagonais do cubo.




Figura 20. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema tetragonal (KLEIN &
HURLBUT, 1999). (a) Um eixo de rotao quaternrio paralelo ao eixo cristalogrfico vertical e
quatro eixos de rotao binrios, dois coincidentes com os eixos cristalogrficos e os outros a
45. (b) Um plano de simetria horizontal paralelo aos eixos cristalogrficos x e y e quatro planos
de simetria verticais.




Figura 21. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema hexagonal (KLEIN &
HURLBUT, 1999). (a) Um eixo de rotao vertical senrio e seis eixos horizontais binrios. (b)
Um plano de simetria horizontal paralelo aos eixos cristalogrficos x, y e u e seis planos de
simetria verticais.
24

Figura 22. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema trigonal ou rombodrico
(KLEIN & HURLBUT, 1999). (a) Um eixo de rotao vertical ternrio e trs eixos horizontais
binrios. (b) Trs planos de simetria bissectando os ngulos entre os eixos horizontais.


Figura 23. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema ortorrmbico: Trs eixos de
rotao binrios que coincidem com os eixos cristalogrficos e trs planos de simetria
perpendiculares aos eixos de rotao (BATTEY & PRING, 1997).


Figura 24. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema monoclnico: o eixo de
rotao binrio paralelo ao eixo cristalogrfico y e um plano de simetria perpendicular a y
(BATTEY & PRING, 1997).

25


Figura 25. Elementos de simetria da classe holodrica do sistema triclnico. Centro de simetria
ou inverso equivalente a um eixo de roto-inverso (BATTEY & PRING, 1997).




Figura 26. Os planos 111 (limites a trao cheio e parcialmente sombreado), 231 (limites a
tracejado e totalmente sombreado) e 324 (a ponteado) (BATTEY & PRING, 1997).






26

Tabela 3. Clculo dos ndices de Miller das faces representadas na Figura 26.

Caractersticas numricas da face
m n p
Inversos
1/m 1/n 1/p
ndices de Miller
h k l
1 1 1 1/1 1/1 1/1 111
1/2 1/3 1 2/1 3/1 1/1 231
4/3 2 1 3/4 1/2 1/1 324

Se a face intersecta o segmento negativo do eixo coloca-se um sinal menos (-) sobre o
ndice respectivo (por exemplo, 32 1; l-se: trs, menos dois, um).
Quando um dos ndices um nmero de dois dgitos estes so separados por pontos
(por exemplo, 11.1.6).
Faces paralelas a um eixo intersectam o eixo no infinito (Tabela 4 e Fig. 27).

Tabela 4. Clculo dos ndices de Miller de uma face paralela aos eixos y e z e
perpendicular a x (Fig. 27).

Caractersticas numricas da face
m n p
Inversos
1/m 1/n 1/p
ndices de Miller
h k l
1 1/1 1/ 1/ 100

Se uma famlia de planos divide os comprimentos unitrios a, b e c em h, k e l
segmentos, respectivamente, as interseces so a/h, b/k e c/l e os ndices so hkl. Em
cristalografia, planos paralelos so representados pelo mesmo smbolo hkl (Fig. 28).
Os ndices de Miller so trs nmeros inteiros e os menores possveis. Por exemplo, os
ndices 022 so equivalentes a 011 e os ndices 12.10.6 so equivalentes a 653. Se os nmeros
obtidos no so os menores dividem-se pelo mnimo mltiplo comum.
Quanto maiores os ndices menores as distncias reticulares.
Notao:
- 110 representa um conjunto de planos com uma determinada orientao e distncia
reticular;
- (110) representa uma s face ou plano;
- {110} representa todas as faces de uma forma.
Nos sistemas hexagonal e trigonal h 4 eixos cristalogrficos e, por isso, os ndices de
Miller nestes sistemas tem quatro nmeros (hkil). Todavia, h+k+i=0 e, por essa razo, o ndice i
omitido e substitudo por um ponto (hk.l).
27





Figura 27. ndices de Miller de faces paralelas a dois
eixos cristalogrficos (BATTEY & PRING, 1997).









Figura 28. A famlia dos planos 231 (BATTEY & PRING, 1997).



28
Na Figura 29 representam-se os ndices de Miller das faces de um octaedro. Note que
todas as faces, excepto a (111), intersectam o segmento negativo de, pelo menos, um eixo
cristalogrfico.

2.8. Lei da racionalidade dos ndices ou lei de Hay
Hay verificou que as relaes
m n p
n p m

so nmeros racionais Lei da racionalidade
e que m, n e p so nmeros inteiros pequenos Princpio dos pequenos nmeros.
Em milhares de cristais que tm sido estudados, desde Hay, tem-se verificado, com
efeito, que os valores das relaes entre m, n e p so sempre, pelo menos, muito prximos dos de
fraces racionais, o que confirma a lei da racionalidade. Da mesma forma, tem-se reconhecido
que sempre possvel escolher os eixos cristalogrficos x, y e z e as constantes a, b e c de
maneira que os nmeros m, n e p sejam nmeros inteiros pequenos.

2.9. Lei da constncia dos ngulos diedros e lei de Bravais
Definida pelo cristalgrafo Romeu de lIsle a lei da constncia dos ngulos diedros diz
que faces correspondentes em diferentes cristais da mesma substncia, independentemente
da sua forma e desenvolvimento, a temperatura constante, definem ngulos diedros iguais.
Outra forma de enunciar esta lei fundamental da cristalografia a seguinte: os ngulos
entre faces equivalentes em cristais do mesmo mineral so constantes, independentemente
das formas serem regulares ou distorcidas.
Esta lei implica que uma forma cristalogrfica caracterizada pelos ngulos que as suas
faces definem e no pela sua forma geomtrica.
Os ngulos entre as faces dos cristais so medidos com razovel preciso com um
gonimetro de contacto, primeiro instrumento de medio aplicado cristalografia (Fig. 30).
As formas em que o desenvolvimento se deu, normalmente, atingindo cada uma das faces
anlogas o mesmo desenvolvimento, dizem-se regulares; quando o crescimento das faces
perturbado desenvolvendo-se umas mais do que outras as formas resultantes dizem-se
distorcidas. As duas formas da Figura 31, uma regular outra distorcida, so cristalograficamente
equivalentes, pois os ngulos diedros so iguais e as relaes das distncias a que as faces cortam
os eixos so as mesmas.

29

Figura 29. ndices de Miller das faces de um octaedro (KLEIN & HURLBUT, 1999).



Figura 30. O gonimetro de contacto, ilustrando-se o processo de
medio de um ngulo diedro (BORGES, 1996).



Figura 31. Forma distorcida e regular com ngulos diedros iguais (SILVA, 1942).

+x
+y
+z
-z
-x
-y
30
A constncia dos ngulos entre as faces equivalentes de cristais da mesma substncia
pode justificar-se com base nos seguintes pontos:
A forma e dimenso da clula unitria so iguais para todos os cristais da substncia,
sendo determinadas pelo arranjo dos tomos na estrutura;
Cada face de um cristal paralela a planos de tomos ou grupos de tomos na malha.
H um nmero infinito de planos de tomos, mas nalguns os tomos esto dispersos enquanto
noutros o espaamento apertado. O princpio conhecido por lei de Bravais estabelece que os
planos com maior densidade reticular tendem a formar as faces comuns dos cristais.

2.10. Relao axial
A escolha da clula unitria define os comprimentos unitrios dos eixos de referncia e
estabelece a relao axial que caracterstica de cada substncia cristalina. Os comprimentos
unitrios nas direces x, y e z so identificados pelas letras a, b e c, respectivamente. A
relao axial a:b:c expressa os comprimentos relativos das arestas da clula unitria.
Os sistemas cristalogrficos podem dividir-se em categorias de acordo com a relao
axial:
Sistemas trimtricos (triclnico, monoclnico e ortorrmbico) a relao axial da
forma a:1:c;
Sistemas dimtricos (tetragonal, hexagonal e trigonal) a relao axial da forma
1:1:c;
Sistemas monomtricos (cbico) a relao axial da forma 1:1:1.

2.11. Formas
Uma forma cristalogrfica um conjunto de faces equivalentes relacionadas pela
simetria do mineral. A forma de um cristal identificada pelos ndices de Miller de uma
das faces que constitui a forma, colocados entre chavetas.
Por exemplo, um cubo, que uma forma comum do sistema isomtrico, composto por
seis faces idnticas: (100), (010), (001), (100), (01 0) e (0 01). identificado pelo smbolo
{100} (Fig. 27).
Sendo dada uma face da forma do cristal, todas as outras faces da forma constituem
cpias da primeira, produzidas pela simetria do cristal. Considere a face (011) de um mineral do
sistema ortorrmbico com os seguintes elementos de simetria 3E
2
3P C (Fig. 32). O plano
espelho vertical m, paralelo a (010), produz uma imagem espelho desta face com ndice (01 1).
31
O plano espelho horizontal m, paralelo a (001), duplica estas duas faces originando as faces
(0 11) e (011). A forma assim produzida identificada com a face original e designada por
prisma rmbico {011}.

FORMAS FECHADAS limitam um determinado espao ou volume (exemplos: todas as
formas do sistema cbico, bipirmide, esfenoedro, trapezoedro, romboedro, escalenoedro)
FORMAS ABERTAS no limitam qualquer poro de espao (exemplos: pdion, pinacide,
doma, prisma)

Formas isomtricas
Um total de 15 formas fechadas diferentes so possveis no sistema isomtrico (Fig. 33).
Formas no isomtricas
As formas possveis nos restantes sistemas cristalogrficos so:
Pdion (Aberta) nenhum elemento de simetria repete a face (Fig. 34a);
Pinacide (Aberta) duas faces paralelas em lados opostos do cristal, relacionadas por
inverso ou reflexo (Fig. 34b);
Doma e esfenide (Abertas) duas faces no paralelas simtricas relativamente a um plano
espelho (doma) ou duas faces no paralelas relacionadas por um eixo de rotao binrio
(esfenide) (Fig. 34c); geometricamente, um esfenide e um doma so indistinguveis;
Prisma (Aberta) conjunto de 3, 4, 6, 8 ou 12 faces que se intersectam segundo arestas
paralelas formando um tubo (Fig. 35);
Pirmide (Aberta) conjunto de 3, 4, 6, 8 ou 12 faces no paralelas que se intersectam
segundo arestas culminantes num vrtice comum (Fig. 35);
Bipirmide (Fechada) duas pirmides, cada uma nos extremos do cristal, com um total de 6,
8, 12, 16 ou 24 faces; as duas pirmides esto relacionadas por reflexo (Fig. 35);
Trapezoedro (Fechada) formas constitudas por 6, 8 ou 12 faces em forma de trapzio (Fig.
36);
Escalenoedro (Fechada) - formas constitudas por 6, 8 ou 12 faces em forma de tringulo
escaleno (Fig. 36);
Romboedro (Fechada) forma constituda por 6 faces em forma de rombo (Fig. 36);
Esfenoedro/bi-esfenide/tetraedro (Fechada) forma constituda por 4 faces triangulares que
se intersectam, duas a duas, segundo arestas cruzadas; nos cristais isomtricos cada face um
tringulo equiltero; no sistema tetragonal as 4 faces so tringulos issceles idnticos; no
sistema ortorrmbico as 4 faces so tringulos issceles diferentes (Fig. 36).
32

Figura 32. Repetio das faces de um cristal atravs de operaes de simetria. (a) Face (011).
(b) A face (01 1) produzida por reflexo num plano espelho vertical. (c) Um plano espelho
horizontal produz as faces (0 11) e (011) para completar as quatro faces do prisma rmbico
{011} (NESSE, 2000).



Figura 33. As formas do sistema cbico (NESSE, 2000).
Tetraedro {111}
Cubo
Octaedro {111}
Dodecaedro
rmbico {110}
Dodecaedro pentagonal
simtrico {210}
Dodecaedro
deltide {221}
Tritetraedro
{211}
Dodecaedro pentagonal
assimtrico {321}
Hexatetraed
Tetraexaedro {210}
Trapezoedro ou
Trioctaedro
Diplide ou
didodecaedro {321}
Giride ou Hexaoctaedro
33


Figura 34. Formas abertas de sistemas no isomtricos: (a) pdion, (b) pinacide, (c) doma
e esfenide (NESSE, 2000).






Figura 35. Formas abertas e fechadas dos sistemas no isomtricos: (a) prismas, (b)
pirmides, (c) bipirmides, (d) seco transversal (NESSE, 2000).





Rmbico Tetragonal Ditetragonal Trigonal Ditrigonal Hexagonal Diexagonal
(a)
(b)
(c)
(d)
34
2.12. Zonas
O conjunto das faces de um cristal cujas arestas de interseco so paralelas
denomina-se zona (quaisquer duas faces no paralelas estabelecem uma zona). A linha que
passa pelo centro do cristal e que paralela a todas as arestas de interseco das faces
designa-se por eixo de zona.
Uma zona identificada pelos ndices do eixo de zona [uvw]. Por exemplo, na Figura 37
as faces m, a, m e b so faces de uma zona e b, r, c e r so faces de outra zona. As linhas [001]
e [100] so os eixos de zona.
Clculo do eixo de zona
Dadas as faces (hkl) e (hkl) os ndices calculam-se pela seguinte regra prtica:
- escrevem-se duas vezes, em duas linhas sobrepostas, os ndices das duas faces que
definem a zona;
- suprimem-se a primeira e a ltima coluna;
- efectuam-se os produtos cruzados, da seguinte forma:
h k l h k l
h k l h k l
u v w
u = kl-lk
v = lh-hl
w = hk-kh

2.13. Maclas
As maclas (ou geminaes) constituem um tipo especial de imperfeio estrutural dos
cristais. Os cristais maclados so uma consequncia da simetria da estrutura interna dos cristais.
Uma macla pode ser definida como um edifcio cristalino no homogneo,
constitudo por duas ou mais pores homogneas da mesma espcie cristalina, justapostas
de acordo com leis bem definidas.
Entre as pores homogneas que constituem um cristal maclado existe, assim, uma
relao de orientao bem definida, designada por lei de macla. Mais precisamente, cada
indivduo componente da macla deve ter uma orientao que resulte da de outro, mediante
uma operao de simetria cristalograficamente possvel. A associao deve ser encontrada num
nmero significativo de amostras, para que se excluam situaes acidentais.
O operador de simetria que define a lei de macla, designado por elemento de macla,
pode ser:
35



Figura 36. Formas fechadas dos sistemas no isomtricos (NESSE, 2000).





Figura 37. Zonas e eixos de zona num cristal (KLEIN & HURLBUT, 1999).




Trapezoedro
tetragonal
Trapezoedro
trigonal
Trapezoedro
hexagonal
Escalenoedro
ditrigonal
Escalenoedro
tetragonal
Romboedro Esfenoedro
tetragonal
Esfenoedro
rmbico
36
- plano de macla (plano espelho);
- eixo de macla (eixo de rotao binrio);
- centro de macla (centro de inverso).

As operaes de simetria associadas so, respectivamente, a reflexo num plano, a rotao de
180 em torno de um eixo e a inverso em torno de um ponto. O plano de macla identificado
pelos ndices de Miller e a direco do eixo de macla pelo smbolo de eixo de zona.
A superfcie que une os dois indivduos maclados designa-se por superfcie de
composio. Por vezes, ela praticamente plana (plano de composio). O plano de
composio , normalmente, mas no invariavelmente, o plano de macla. Se a lei de macla
definida por um plano de macla esse plano de macla sempre paralelo a faces possveis do
cristal, mas nunca paralelo a um plano de simetria.

Morfologia das maclas
Macla simples quando compreende apenas dois indivduos ou partes homogneas;
Macla mltipla ou repetida quando constituda por mais de dois indivduos; se as
superfcies de composio so paralelas e os indivduos lamelares a macla diz-se
polissinttica (Fig. 38);
Macla complexa ou compsita quando se definem duas ou mais leis de macla distintas
(exemplos: macla segundo a lei de Carlsbad-Albite na plagioclase, macla segundo a lei da albite
e periclina na microclina);
Macla de contacto ou justaposio quando possvel definir um plano de composio
(exemplos: macla de contacto da espinela; macla em joelho da cassiterite; macla-do-Japo em
quartzo; macla em cauda-de-andorinha no gesso; maclas de Manebach e Baveno na ortoclase)
(Fig. 39);
Macla de penetrao constituda por indivduos que se interpenetram, tendo, por isso,
uma superfcie de composio irregular (exemplos: macla de penetrao na fluorite; macla cruz
de ferro na pirite; macla de Carlsbad na ortoclase); maclas cruz-latina e cruz-de-Santo-
Andr na estaurolite (Fig. 40);
Macla cclica ou radial quando os planos de composio no so paralelos e os elementos
de macla irradiam de um ponto central (Fig. 41).

37

Figura 38. Macla polissinttica, segundo (010) na plagioclase (sistema triclnico) lei da
Albite.





Figura 39. Exemplos de cristais com maclas de contacto. (a) Forma octadrica de cristal
perfeito e macla de contacto na espinela (sistema cbico) (KLEIN & HURLBUT, 1999). (b)
Macla em joelho na cassiterite (sistema tetragonal) (BATTEY & PRING, 1997). (c) Macla-
do-japo em quartzo (sistema hexagonal) (KLEIN & HURLBUT, 1999). (d) Macla em cauda-
de-andorinha em gesso (sistema monoclnico) (BATTEY & PRING, 1997). (e) Macla de
Manebach em ortoclase (sistema monoclnico) (KLEIN & HURLBUT, 1999). (f) Macla de
Baveno em ortoclase (sistema monoclnico) (KLEIN & HURLBUT, 1999).



(a)
(b)
(c) (d) (e) (f)
38






Figura 40. Exemplos de cristais com maclas de penetrao. (a) Macla de penetrao na fluorite
(sistema cbico) (BATTEY & PRING, 1997). (b) Macla cruz de ferro na pirite (sistema
cbico) (KLEIN & HURLBUT, 1999). (c) Macla de Carlsbad na ortoclase (sistema
monoclnico) (BATTEY & PRING, 1997). (d) Maclas cruz-latina e cruz-de-Santo-Andr
em estaurolite (sistema monoclnico) (KLEIN & HURLBUT, 1999).







Figura 41. Exemplos de cristais com maclas cclicas: (a) rtilo (sistema tetragonal) e (b)
crisoberilo (sistema ortorrmbico) (KLEIN & HURLBUT, 1999).

(a) (b) (c)
(d)

(a) (b)
39
Origem das maclas
Quanto ao modo de formao, as maclas podem ser distribudas por trs categorias
principais: de crescimento, de transformao e de deformao (ou mecnicas). Esta
classificao refere-se s circunstncias em que as maclas se produziram e no aos processos
pelos quais so geradas.
Maclas de crescimento
As maclas de crescimento so o resultado da fixao de tomos ou ies na face externa do
cristal em crescimento, de tal forma que o arranjo regular da estrutura cristalina original
interrompido. As maclas de crescimento reflectem acidentes durante o crescimento (erros de
nucleao) e podem ser consideradas como maclas primrias.
Maclas de transformao
As maclas de transformao ocorrem em cristais pr-existentes e representam maclas
secundrias. Maclas de transformao podem ser originadas quando um cristal formado a altas
temperaturas arrefece e subsequentemente rearranja a sua estrutura para uma simetria diferente
da de alta temperatura.
Maclas de deformao
As maclas de deformao constituem um outro tipo de maclas secundrias. Estas maclas
resultam da deformao do cristal por tenso (Fig. 42).



Figura 42. Macla de deformao numa malha oblqua devido aplicao de tenso mecnica,
conforme indicado pelas setas. Notar que a quantidade de movimento da primeira fila acima e
paralela ao plano de macla em (b) menor do que as filas sucessivas mais afastadas deste plano.
Plano de composio
(=plano de macla)
40
3. PROPRIEDADES FSICAS DOS MINERAIS

As propriedades fsicas dos minerais so o resultado directo da sua estrutura e
composio qumica. Isto significa que, dentro dos limites da variao estrutural e qumica,
diferentes amostras do mesmo mineral devem apresentar propriedades similares. As
propriedades fsicas constituem, assim, a base da identificao dos minerais em amostra de mo.

3.1. Densidade
A densidade () de uma substncia define-se como massa (m) por unidade de volume ()
= m/
e , normalmente, expressa em gramas por centmetro cbico (g/cm
3
).
A densidade de um mineral est directamente relacionada com o volume da clula
unitria e com a massa atmica dos tomos na clula. A relao dada pela expresso

=
ZM x (1,6602 x 10
-24
)

V x 10
-24

sendo a densidade em g/cm
3
, Z o nmero de molculas da substncia por clula unitria, M a
massa molecular da substncia e V o volume da clula unitria em . A constante 1,6602 x 10
-24

(o inverso do nmero de Avogadro 6,022 x 10
23
) a unidade de peso atmico em gramas. O
volume da clula deve ser multiplicado por 10
-24
para converter para cm
3
. Por exemplo, na halite
(NaCl, sistema cbico) Z igual a 4 e o comprimento da aresta da clula unitria (a) igual a
5,64. A densidade da halite calculada da seguinte forma
= 4 x (22,997+35,457) x (1,6602 x 10
-24
) = 2,16 g/cm
3
5,64
3
x 10
-24

O volume da clula unitria para os diferentes sistemas cristalogrficos calculado com
base nas seguintes frmulas:
Cbico V = a
3
Tetragonal V = a
2
x c
Hexagonal/Trigonal V = a
2
x c x sen60
Ortorrmbico V = a x b x c
Monoclnico V = a x b x c x sen
Triclnico V = a x b x c x (1-cos
2
-cos
2
-cos
2
+ 2xcosxcosxcos)
1/2

O simples facto de um mineral ser pesado ou leve em amostra de mo uma
caracterstica til na sua identificao.
A relao entre a densidade e a cor pode tambm ter alguma utilidade. Os minerais mais
escuros so, quase sempre, mais pesados e os mais claros mais leves. No entanto, a grafite (C,
41
= 2,23 g/cm
3
) escura e mais leve do que a barite (BaSO
4
, = 4,5 g/cm
3
) que tem uma
colorao clara.

3.1.1. Peso especfico
O peso especfico (G) ou densidade relativa um nmero que expressa a relao
entre o peso de uma substncia e o peso de igual volume de gua a 4C
G = /
H
2
O
.
A densidade da gua a 4C , aproximadamente, igual a 1g/cm
3
(actualmente, 0,999973g/cm
3
),
logo os valores numricos do peso especfico e da densidade so idnticos se o ltimo for
expresso em g/cm
3
. Assim, um mineral com um peso especfico igual a 2 pesa duas vezes mais
que igual volume de gua.
O peso especfico de um mineral depende:
(a) da natureza dos tomos/ies que o constituem,
(b) da forma como os tomos/ies esto empacotados.
(a) Os minerais com elementos de massa atmica elevada tm, tipicamente, maiores valores
de e G (Tabela 4). Se num mineral ocorrem substituies inicas o peso especfico varia,
sistematicamente, entre os valores dos termos extremos (ver exemplo da forsterite e faialite na
olivina - Tabela 5). As variedades mais ricas em ferro tm peso especfico mais elevado do que
as variedades ricas em magnsio porque as massas atmicas do Mg e Fe so, respectivamente,
24,31 e 55,85. Todavia, a relao no necessariamente linear. As composies intermdias tm
peso especfico ligeiramente superior ao que seria de esperar se a relao fosse perfeitamente
linear (Fig. 43).

Tabela 5. Relao entre o peso especfico e a massa atmica dos caties em carbonatos
ortorrmbicos e na olivina.

Mineral Composio
Massa atmica do
catio
Peso especfico
Aragonite CaCO
3
40,08 2,94
Estroncianite SrCO
3
87,62 3,78
Viterite BaCO
3
137,34 4,31
Cerussite PbCO
3
207,19 6,58
Forsterite Mg
2
SiO
4
24,31 3,26
Faialite Fe
2
SiO
4
55,85 4,39

42

Figura 43. Peso especfico da olivina (NESSE, 2000). A linha a ponteado assume uma
variao linear no peso especfico entre 3,26 para a forsterite e 4,39 para a faialite. A
linha a cheio corresponde ao peso especfico actual das composies intermdias.


(b) O ndice de empacotamento d-nos uma medida aproximada de como a disposio dos
ies na estrutura mais ou menos apertada. definido pela frmula
ndice de empacotamento = V
i
/ V
C
x 10
sendo V
i
o volume total de ies na clula unitria, considerando que os ies apresentam forma
esfrica e partindo do seu raio inico, e V
C
o volume da clula unitria. Para a maioria dos
minerais o ndice de empacotamento varia entre 3,5 e 7,4, ou seja, 35 a 74% do volume da clula
unitria ocupado por ies. O espao restante equivalente porosidade.
Regra geral, o ndice de empacotamento dos minerais formados a alta presso superior
ao dos minerais formados a baixa presso. Na Tabela 6 apresentam-se os valores do ndice de
empacotamento e da densidade para os polimorfos de alumina e slica. Note-se que a distena (ou
cianite) o polimorfo de alta presso e a andalusite o polimorfo de baixa presso.

Tabela 6. Relao entre o ndice de empacotamento e o peso especfico em polimorfos de alumina e
slica.

Composio Mineral Peso especfico ndice de empacotamento
Distena 3,55-3,66 7,0
Al
2
SiO
5
Silimanite 3.23 6,2
Andaluzite 3,16-3,20 6,0
Forsterite
Mg
2
SiO
4
Faialite
Fe
2
SiO
4
% molar de faialite
Peso
especfico
43
3.1.2. Mtodos de determinao do peso especfico
Balana de Jolly
A balana de Jolly (Fig. 44a) um instrumento de medida do peso especfico dos
minerais de fcil utilizao. Os dados so obtidos medindo o alongamento de uma mola em
espiral.
Para determinar o peso especfico com preciso o mineral deve ser homogneo e puro,
requisitos frequentemente difceis de preencher. Deve tambm ser compacto, sem fracturas ou
cavidades dentro das quais possam ficar aprisionadas bolhas de ar. O espcime deve ter cerca de
1 cm
3
de volume.
O mineral , primeiro, pesado no ar (P
ar
). Depois, imerso em gua e pesado novamente
(P
gua
). Nestas condies menos pesado porque na gua sofre a impulso de uma fora
equivalente ao peso da gua deslocada. Ento, P
ar
P
gua
igual perda de peso na gua ou ao
peso de igual volume de gua. A expresso
P
ar
/ (P
ar
P
gua
)

d-nos o peso especfico do mineral (G).
Picnmetro
Quando no possvel obter uma amostra homognea do mineral, suficientemente grande
para permitir o uso da balana de Jolly o peso especfico da amostra reduzida a p, ou de um
agregado de fragmentos do mineral, pode ser obtido com preciso usando um picnmetro (Fig.
44b). O picnmetro um frasco pequeno com uma rolha de vidro com um orifcio. Na
determinao do peso especfico o frasco seco e vazio, com a rolha, primeiro pesado (P). Os
fragmentos do mineral so depois introduzidos no frasco e obtm-se um segundo peso (M).
(M-P) representa o peso da amostra no ar. Posteriormente, o frasco contendo a amostra
parcialmente preenchido com gua destilada e leva-se a ferver durante alguns minutos, para
eliminar quaisquer bolhas de ar. Depois de arrefecido cheio com gua destilada at atingir, mas
no ultrapassar, o orifcio na rolha e pesado (S). A ltima medida (A) efectuada depois de o
frasco ter sido esvaziado e cheio, novamente, apenas com gua destilada. Nesta ltima pesagem
o picnmetro contm mais gua do que na anterior. O volume de gua adicionado igual ao
volume da amostra. O peso especfico pode ser determinado pela frmula

G
=
(M-P)
A + (M-P) S

sendo M-P o peso da amostra, A o peso do picnmetro+gua, S o peso da amostra+picnmetro+
gua e A+(M-P)-S o peso da gua deslocada pela amostra.
44
Lquidos pesados
Outro mtodo de rotina para estimar o peso especfico de um mineral utiliza lquidos de
peso especfico conhecido. Alguns dos lquidos pesados, normalmente, utilizados so o
bromofrmio (CHBr
3
, G=2,90), o iodeto de metileno (CH
2
I
2
, G=3,325) e a soluo de clerici
(soluo aquosa de malonato e formato de tlio, G=4,40). Se uma amostra de um mineral
mergulhada num lquido de peso especfico conhecido afunda tem peso especfico superior ao do
lquido se flutua tem peso especfico inferior ao do lquido. Se a amostra permanece suspensa o
seu peso especfico igual ao do lquido.
A densidade destes lquidos pode ser reduzida adicionando um solvente apropriado, por
exemplo, acetona, para obter um lquido cuja densidade coincida com a da amostra. Se um dado
volume deste lquido for pesado, a sua densidade, bem como a densidade da amostra, pode ser
determinada. Amostras calibradas com peso especfico conhecido podem ser usadas para
determinar o peso especfico de lquidos pesados diludos.



Figura 44. (a) Balana de Jolly. (b) Picnmetro (KLEIN & HURLBUT, 1999).

(a)
(b)
45
3.2. Dureza
A dureza a resistncia que a superfcie de um mineral oferece a ser riscada. O grau
de dureza determinado comparando a facilidade ou dificuldade com que um mineral riscado
por outro ou por um objecto de dureza conhecida.
O mineralogista austraco F. Mohs (1773-1839) seleccionou um conjunto de 10 minerais,
numerados de 1 a 10, por ordem crescente de dureza, e estabeleceu uma escala de dureza,
conhecida por escala de Mohs (Tabela 7).

Tabela 7. Escala de Mohs.

Dureza Mineral Dureza Mineral
1 Talco 6 Ortoclase
2 Gesso 7 Quartzo
3 Calcite 8 Topzio
4 Fluorite 9 Corindo
5 Apatite 10 Diamante

Alguns objectos de dureza conhecida (Tabela 8) podem ser utilizados em testes
expeditos, no campo ou laboratrio.

Tabela 8. Objectos de dureza conhecida,
usados na determinao da dureza de um
mineral.

Dureza Objecto
2 2,5 Unha
3 3,5 Alfinete
4 4,5 Prego
5,5 6,5 Vidro
7 Porcelana

Um mtodo alternativo e quantitativo de determinao da dureza o da indentao. O
mtodo consiste em pressionar uma ponta de diamante (microdurmetro) sobre a superfcie
polida de um mineral. A indentao observada ao microscpio e a profundidade de penetrao
funo da dureza de indentao. Na determinao da dureza de Vickers usa-se, com maior
frequncia, uma ponta em forma de pirmide. A resistncia penetrao, ou microdureza,
medida em unidades Vickers (kg/mm
2
), ou seja, a carga aplicada dividida pela rea da
46
superfcie de indentao. A relao entre a dureza absoluta, ou dureza de Vickers, e a dureza
relativa da escala de Mohs mostrada na Figura 45. A posio relativa dos minerais da escala de
Mohs preservada e os intervalos so progressivamente maiores. Note-se que a dureza absoluta
aumenta significativamente para o termo 10 da escala de Mohs como resultado das ligaes
covalentes no diamante.


Figura 45. Correspondncia entre os valores relativos da dureza da escala de Mohs e
os valores absolutos, ou dureza de Vickers, referentes aos respectivos minerais
(BATTEY & PRING, 1997).


A dureza pode ser influenciada pelo grau de alterao da amostra, por isso, importante
escolher sempre uma superfcie fresca.
A dureza uma propriedade vectorial, por isso, pode variar com a direco do plano
cristalogrfico em alguns minerais (Fig. 46). Na distena (Al
2
SiO
5
) a dureza determinada numa
direco paralela ao eixo maior do cristal igual a 5 e numa direco perpendicular a esta 7,
reflectindo a presena de ligaes qumicas mais fracas e mais fortes segundo uma e outra
direco, respectivamente. A halite (NaCl), do sistema cbico, mais branda quando riscada
paralelamente ao trao da clivagem do que a 45 (dureza em roseta) (Fig. 46).
Dureza de
indentao
de Vickers
(kg/mm
2
)
Escala de Mohs
Corindo
Topzio
Quartzo
Ortoclase
Apatite
Fluorite
Calcite
47
A dureza influenciada pelo raio inico e pela carga (Tabela 9). Compostos qumicos
diferentes com a mesma estrutura interna tm dureza maior quanto menor for o raio inico e
quanto maior for a carga.

Tabela 9. Relao entre a dureza, raio inico e carga do catio em alguns
minerais do sistema hexagonal.

Mineral Raio inico Dureza
Calcite (CaCO
3
) Ca
2+
0,99 3
Magnesite (MgCO
3
) Mg
2+
0,66 3,5 - 5
Hematite (Fe
2
O
3
) Fe
3+
0,74 5,5 6,5
Corindo (Al
2
O
3
) Al
3+
0,51 9


3.3. Clivagem
A clivagem uma propriedade exibida por muitas minerais e corresponde a uma
maior facilidade de rotura paralelamente a determinados planos atmicos, identificados
pelos ndices de Miller, tal como as faces da forma externa do cristal. Esta tendncia uma
consequncia da estrutura triperidica e do tipo de ligaes entre os tomos. Ao longo desses
planos as ligaes qumicas so mais dbeis, comparando com outras direces na estrutura do
mineral. Os planos de clivagem so sempre planos com elevada densidade reticular paralelos a
faces possveis ou reais do cristal.
A clivagem uma propriedade constante e importante na identificao dos minerais. Por
exemplo, as clivagens so importantes na distino das anfbolas e piroxenas (Fig. 47).
possvel estabelecer uma classificao de acordo com a qualidade ou perfeio dos
planos de clivagem, usando os seguintes termos:
Muito perfeita (exemplos: micas, paralela a (001), e molibdenite, paralela a (0001));
Perfeita (exemplos: galena, paralela a (001), calcite, paralela a (1 01 1), fluorite,
paralela a (111), e barite, paralela a (001));
Distinta (exemplo: ortoclase, paralela a (010) e pigeonite, paralela a (110));
Indistinta ou imperfeita (exemplo: apatite, paralela a (0001), e berilo, paralela a (0001)).
Na descrio da clivagem deve, tambm, indicar-se o nome ou os ndices da forma
definida pelos planos de clivagem (Fig. 48):
Cbica {001} (exemplos: galena, halite);
Octadrica {111} (exemplos: fluorite, diamante);
48


Figura 46. (a) Variao da dureza com a direco na distena (sistema triclnico). (b)
Dureza em roseta na face da halite (sistema cbico) (NESSE, 2000).



Figura 47. Traos da clivagem em seces transversais [001] na (a) piroxena e (b)
anfbola (KLEIN & HURLBUT, 1999).

(b)
(a)
49
Rombodrica {1 01 1} (exemplos: calcite, dolomite, magnesite, siderite);
Prismtica {110} (exemplos: piroxenas);
Pinacidal {001} (exemplo: micas).
A clivagem relaciona-se, obviamente, com a estrutura interna e com o tipo de ligaes
qumicas nos minerais. Assim, o diamante tem apenas um tipo de ligaes qumicas (ligaes
covalentes) e os seus planos de clivagem, paralelos s faces de um octaedro, correspondem a
planos atmicos com o maior espaamento inter-planar. Por outro lado, a grafite possui clivagem
muito perfeita {0001}. Nos planos de clivagem h fortes ligaes covalentes entre os tomos de
carbono, mas entre os planos h dbeis ligaes de van der Waals, responsveis pela clivagem.
Ligaes fracas so normalmente acompanhadas por um espaamento inter-planar grande porque
a fora atractiva no consegue manter os planos mais prximos.

3.4. Fractura
Entende-se por fractura de um mineral a forma como ele parte ao longo de
superfcies que no correspondem a direces cristalogrficas particulares (clivagens ou
outras orientaes de fragilidade determinadas pela estrutura cristalina), quando sujeito a
percusso. A fractura , evidentemente, bastante difcil nos minerais de fcil clivagem em trs
direces. A natureza da superfcie de fractura pode ser diagnstica na identificao de minerais.
Os termos usados para descrever as superfcies de fractura so:
Concoidal superfcie de fractura cncava ou convexa, lisa ou com estrias grosseiramente
concntricas em torno do ponto de impacto, semelhante ao interior da concha de um bivalve
(Figs. 49 e 50); encontra-se bem exemplificada na obsidiana, olivina, quartzo, slex e calcednia;
Esquirolosa ou estilhaada deixa esqurolas pontiagudas, semelhana da madeira
quando se parte, como acontece nas anfbolas;
Irregular quando o mineral rompe segundo uma superfcie irregular, como o caso da
turmalina;
Serrilhada ou endentada superfcies irregulares semelhantes aos dentes de uma serra.

3.5. Partio (Parting)
Alguns minerais podem romper-se segundo planos de fraqueza estrutural,
designados por partio, semelhana da clivagem. Todavia, a partio, ao contrrio da
clivagem, no ocorre em todos os exemplares da mesma espcie mineral, mas somente nos
cristais maclados ou naqueles que estiveram sujeitos a presso.
50



Figura 48. Clivagem: (a) cbica, (b) octadrica (c) rombodrica, (d) prismtica, (e)
pinacidal (KLEIN & HURLBUT, 1999).



Figura 49. Os primeiros humanos utilizaram esta propriedade (fractura concoidal)
das rochas e minerais para produzirem utenslios diversos, designados por pedra
lascada, como este raspador, em quartzito (CARVALHO, 2000).
(a)
(b)
(c) (d)
(e)
51
A partio est limitada a um nmero finito de planos paralelos, ao passo que a clivagem
penetrativa, ou seja, entre dois planos de clivagem paralelos sempre possvel obter um
terceiro. Por exemplo, comum os minerais com maclas polissintticas apresentarem partio
segundo os planos de composio. A espessura das lminas de partio controlada pela
espessura das lamelas de macla. Se a lamela de macla tem 0,5mm de espessura as lminas de
partio no podem ter espessura inferior a 0,5mm.
Os planos de partio so descritos da mesma forma que os planos de clivagem, pelos
ndices de Miller da forma.
Exemplos familiares de partio so encontrados na magnetite (partio octadrica), na
piroxena (partio basal Fig. 51) e no corindo (partio rombodrica Fig. 51).

3.6. Tenacidade
Sob a designao de tenacidade inclui-se a resistncia oferecida pelos minerais
rotura (ou corte), esmagamento (ou triturao), toro (ou flexo) e choque. De acordo com
o seu comportamento os minerais podem ser classificados de:
Elsticos permitem alguma deformao, retomando a forma original aps cessao da fora
que provocou a deformao (exemplo: as micas);
Flexveis permanecem flectidos aps cessao da fora que provocou a deformao
(exemplo: talco);
Scteis quando se deixam cortar sem se pulverizarem (exemplo: clorargirite AgCl);
Maleveis facilmente so reduzidos a folhas finas (exemplo: cobre, ouro e prata nativos);
Dcteis podem ser reduzidos a fios (exemplo: cobre, ouro e prata nativos);
Quebradios ou frgeis minerais que se partem e pulverizam com facilidade (exemplo:
anglesite PbSO
4
).

3.7. Cor
De todas as propriedades dos minerais a cor normalmente a primeira e a mais
facilmente observada. Para muitos caracterstica e permite a sua identificao (o verde da
malaquite (Cu
2
CO
3
(OH)
2
), o azul da azurite (Cu
3
(CO
3
)
2
(OH)
2
), o vermelho do cinbrio
(HgS), o amarelo do enxofre (S)). No entanto, para a maioria dos minerais a cor varivel e
perde o seu valor como elemento de diagnose rpida.
O olho humano consegue discriminar os diferentes comprimentos de onda () da luz
visvel (Fig. 52), que se situam no intervalo 350 a750nm (1nm=10).
52

Figura 50. Esquema exemplificando a fractura concoidal num cristal de
quartzo.







Figura 51. (a) Partio basal na piroxena. (b) Partio rombodrica
no corindo (KLEIN & HURLBUT, 1999).





53
A luz que atinge a superfcie de um mineral pode ser transmitida, reflectida, refractada,
difundida ou absorvida (Fig. 53). Se a luz no for absorvida o mineral incolor. Os minerais so
coloridos quando certos comprimentos de onda da luz so absorvidos, sendo a cor resultante da
combinao dos comprimentos de onda que alcanam o olho. Assim, a cor de um mineral
depende dos comprimentos de onda que no so absorvidos e daqueles que so reflectidos, ou
atravessam o mineral, alcanando o olho. Um mineral branco reflecte todos os comprimentos de
onda do espectro visvel. Um mineral negro absorve todos os comprimentos de onda. Um
mineral vermelho porque reflecte ou transmite a luz vermelha e absorve uma fraco
considervel da parte final do azul do espectro.
A cor depende de vrios factores:
- Composio qumica (as cores verde e azul esto relacionadas com a presena de
cobre, como na malaquite e azurite, e o vermelho com a de ferro);
- Estrutura cristalina e tipo de ligaes qumicas (o diamante hialino e a grafite
opaca e preta);
- Presena de impurezas (quartzo verde devido a incluses de mica verde, quartzo
ametista se contm quantidades trao de Fe
3+
a substituir Si
4+
, quartzo rseo se
contm quantidades trao de Ti
4+
a substituir Si
4+
, calcite preta devido a xidos de
mangans ou carbono; a hematite a impureza mais comum imprimindo uma cor
vermelha a muitos minerais, como feldspato, calcite, variedade de gro fino de
quartzo jaspe; o crmio na rede do berilo uma impureza e confere-lhe uma cor
verde esmeralda, enquanto o mesmo elemento na rede do corindo d origem ao to
apreciado rubi Tabela 10).
Os elementos que produzem cores caractersticas nos minerais so designados por
cromforos (Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni e Cu).

Tabela 10. Exemplos de minerais cuja cor depende de elementos qumicos que constituem
impurezas na estrutura.

Mineral Frmula Cor Elemento qumico
Quartzo ametista SiO
2
violeta Fe
3+
Quartzo rseo rosa Ti
4+
Calcite CaCO
3
preta MnO
2
ou C
Berilo (esmeralda) Be
3
Al
2
Si
6
O
18
verde Cr
3+
Corindo (rubi) Al
2
O
3
vermelho Cr
3+
Jaspe SiO
2
vermelho Fe
2
O
3
54

Figura 52. Espectro electromagntico (NESSE, 2000). A luz visvel,
com comprimentos de onda entre 400 e 700nm, apenas uma pequena
poro do espectro (1nm=10
-9
m).



Figura 53. Comportamento da luz quando incide na superfcie de um
mineral (KLEIN & HURLBUT, 1999).

ultravioleta
violeta
azul
verde
laranja
vermelho
Infra-
vermelho
amarelo
Raios
csmicos
Ondas elctricas
longas
Ondas de rdio
Microondas
Infra-
vermelho
Ultra-violeta
Raios X
Raios gama
Luz
Energia
Luz
incidente
Luz
fl tid
Luz
difundida
Refraco
Luz emitida
(fluorescncia)
Luz transmitida
55
Os minerais podem classificar-se como:
Idiocromticos minerais de cor constante e caracterstica, muitas vezes prpria da
composio qumica maior e/ou da estrutura do mineral (exemplos: malaquite, galena, pirite);
Alocromticos minerais de cor varivel que, sendo geralmente incolores (ou acromticos)
quando puros, adquirem colorao devido presena de certos elementos, ainda que em pequena
quantidade, ou devido a defeitos cristalinos (exemplos: o azul da safira (corindo Al
2
O
3
)
atribudo ao Fe
2+
e Ti
4+
que substituem Al
3+
, o vermelho do rubi (corindo) ao Cr
3+
, o verde da
esmeralda (berilo Be
3
Al
2
Si
6
O
18
) ao Cr
3+
, o rosa da morganite (berilo) ao Mn
2+
, o azul da
gua marinha (berilo) ao Fe
2+
e Fe
3+
, quartzo ametista, quartzo rseo, quartzo fumado e
quartzo leitoso);
Pseudo cromticos minerais que apresentam coloraes complexas devidas a efeitos de
reflexo, de refraco e de decomposio da luz branca; so os jogos de cores que nas
plagioclases clcicas e em certos sulfuretos se refere por iridescncia e nas opalas por
opalescncia e fogo.

A importncia da cor posta em evidncia no nome de algumas espcies e/ou variedades:
Clorite (verde) Albite (branca)
Azurite (azul) Rubelite (vermelha)
Quartzo citrino (amarelo limo).

3.8. Diafaneidade
A diafaneidade traduz a permeabilidade luz, ou seja, a capacidade de um mineral
se deixar atravessar pela luz. A diafaneidade depende da espessura e da cor do objecto, bem
como da intensidade da luz que o penetra.
Quanto diafaneidade os minerais classificam-se como (ver Figura 54):
Transparentes ou hialinos nos minerais incolores os objectos so visveis atravs deles
no perdendo os seus contornos nem a cor, como acontece com o cristal de rocha, o espato da
Islndia ou com a selenite, variedades hialinas de quartzo, calcite e gesso, respectivamente; nos
minerais transparentes corados os objectos so visveis nos seus contornos, mas modificados na
cor;
Translcidos ou difanos quando se deixam atravessar parcialmente pela luz, mas os
objectos no so claramente visveis atravs deles, como os feldspatos;
Opacos quando os minerais no se deixam atravessar pela luz, mesmo em lminas
muito finas, como a galena e a pirite.
Albite (branca)
56
3.9. Risca ou trao
A risca ou trao a cor do mineral reduzido a p. uma propriedade mais
constante e fidedigna na identificao dos minerais.
A cor da risca determinada friccionando a amostra do mineral numa placa de porcelana
despolida (no vidrada). A porcelana tem uma dureza aproximadamente igual a 7 (6 a 6,5), por
isso, no pode ser usada para determinar a risca de minerais com dureza superior a 7. Os
minerais mais duros so pulverizados com um martelo, faca, almofariz, ou outro objecto que
possa ser usado com os mesmos fins. Depois, passando o dedo no p da amostra e, de seguida,
na porcelana, pode determinar-se a cor da risca.
Os minerais com ligaes predominantemente inicas e covalentes tm risca de cor clara,
mesmo que a cor do mineral seja escura. Estes minerais so transparentes ou translcidos, de
forma que apenas uma pequena quantidade de luz incidente absorvida ao atravessar as
partculas finas do p. Os minerais com ligaes metlicas produzem traos com cores fortes e
caractersticas. Estes minerais so opacos e, por isso, a luz incidente fortemente absorvida,
mesmo nas partculas finas do p.

3.10. Brilho
O brilho pode ser definido como a quantidade e qualidade da reflexo da luz na
superfcie do mineral.
Embora a definio parea pouco precisa, o brilho uma propriedade especfica e til na
identificao dos minerais.
O brilho o produto de duas propriedades fundamentais e de uma no fundamental:
1. A natureza das ligaes atmicas no cristal;
2. ndice de refraco (n=1/v, sendo n o ndice de refraco e v a velocidade da luz no
mineral) e absoro;
3. Grau de rugosidade da superfcie (no fundamental).
Os termos que descrevem a quantidade de luz reflectida so: brilhante (d imagens
ntidas da fonte de luz), reluzente (d imagens esbatidas) e bao (reflexo sem imagem).
Distinguem-se duas categorias de brilho quanto qualidade da luz reflectida: metlico e
no metlico. frequente, o uso do termo sub-metlico para referir minerais com brilho
intermdio.
Os minerais com brilho metlico reflectem a luz como os metais, so opacos, tm risca
negra, possuem ndices de absoro e refraco (n>3,0) elevados e so bons reflectores. O brilho
metlico caracterstico de minerais com ligaes metlicas ou covalentes de alto grau entre os
57
tomos e exibido pelos metais nativos, sulfuretos e sulfossais. Galena (PbS), pirite (FeS
2
) e
calcopirite (CuFeS
2
) so exemplos de minerais com brilho metlico. Se 20 a 50% da luz
incidente reflectida o brilho metlico normal, como um pedao de ouro ou metal polidos. Se
mais de 50% da luz reflectida o brilho metlico do tipo brilhante.
Se menos de 20% da luz reflectida o brilho sub-metlico e faz a transio para o
brilho no metlico adamantino. Os minerais com brilho sub-metlico so opacos a semi-opacos
e tm ndice de refraco no intervalo 2,6 a 3,0. A hematite (Fe
2
O
3
, n=3,0), rtilo (TiO
2
, n=2,6) e
o cinbrio (HgS, n=2,9) so exemplos de minerais com brilho sub-metlico.
Os minerais com brilho no metlico so, em geral, transparentes ou translcidos, tm
cores claras e risca incolor ou levemente colorida. Os seguintes termos so usados para descrever
as variedades de brilho no metlico:
Adamantino minerais excepcionalmente brilhantes como o diamante; ligaes
covalentes, como no diamante (n=2,42), tomos de metais pesados, como na cerussite (PbCO
3
,
n=2,08), ou elementos de transio, como no rtilo (TiO
2
, n=2,61), contribuem para este tipo de
brilho; os ndices de refraco dos minerais com brilho adamantino variam entre 1,9 e 2,6;
Resinoso brilho tpico da resina; exibido pela blenda (ZnS, n=2,37), enxofre (S,
n=2,4) e outros cristais semi-transparentes com ndice de refraco superior a 2;
Vtreo brilho tpico do vidro ou do quartzo; um grande nmero de minerais
translcidos com ligaes predominantemente inicas de elementos de nmero atmico inferior
a 26 (isto , abaixo de Fe na tabela peridica) apresentam brilho vtreo, em particular muitos
silicatos; o ndice de refraco varia entre 1,5 e 2,0;
Nacarado como o da madreprola das conchas de moluscos; tpico dos silicatos
lamelares como o talco (Mg
3
Si
4
O
10
(OH)
2
) e as micas; tambm as superfcies de clivagem da
dolomite (CaMg(CO
3
)
2
) e da selenite (CaSO
4
.2H
2
O) podem apresentar este tipo de brilho;
Sedoso aspecto brilhante semelhante seda; caracterstico de muitos minerais
fibrosos; este tipo de brilho relaciona-se mais com a textura do que com a estrutura interna, como
exemplo o gesso fibroso; malaquite (Cu
2
CO
3
(OH)
2
), serpentina (cristilo Mg
3
Si
2
O
5
(OH)
4
),
crocidolite (asbesto silicificado conhecido por olho-de-tigre NaFe
3
2+
Fe
2
3+
Si
8
O
22
(OH)
2
) so
outros exemplos de minerais com brilho sedoso;
Gorduroso como se a superfcie estivesse coberta por uma pelcula de azeite;
geralmente originada por rugosidades microscpicas na superfcie do mineral; a nefelina
((K,Na)AlSiO
4
) e algumas espcies de blenda e quartzo macio apresentam brilho gorduroso;
58
Ceroso semelhante cera; como se a superfcie estivesse encerada; a turquesa
(CuAl
6
(PO
4
)
4
(OH)
8
.5H
2
O) e a calcednia (variedade criptocristalina fibrosa de quartzo)
apresentam brilho ceroso;
Mate ou terroso superfcies baas, sem brilho; geralmente observada em agregados
de gros muito finos; a limonite (FeOOHnH
2
O) e os minerais do grupo das argilas, como a
caulinite (Al
2
Si
2
O
5
(OH)
4
), apresentam brilho terroso.

3.11. Luminescncia
A luminescncia refere a emisso de luz visvel por um mineral resultante da
excitao do material por uma fonte de energia mecnica, trmica ou electromagntica, a
temperaturas inferiores s da incandescncia. Este fenmeno constitui um elemento
diagnstico decisivo em alguns minerais que contm ies impurezas, designados por activadores.
Fluorescncia e fosforescncia
Os cristais podem absorver radiaes com comprimentos de onda para alm do intervalo
do espectro da luz visvel (radiaes ultravioletas, raios X) e parte da energia absorvida pode ser
emitida como radiao visvel.
Se a emisso luminosa, ou luminescncia, ocorre apenas durante o perodo de incidncia
da fonte de luz sobre o mineral designa-se por fluorescncia. O nome deve-se ao facto de certas
fluorites (CaF
2
) apresentarem esta propriedade. Alguns exemplos:
A autunite (Ca(UO
2
)
2
(PO
4
)
2
10-12H
2
O), de cor amarela, adquire fluorescncia verde;
A scheelite (CaWO
4
) emite luz azulada-clara quando iluminada com luz ultravioleta,
devido substituio do W por Mo;
A fluorite apresenta fluorescncia em tons de azul devido presena de matria
orgnica ou terras raras;
A calcite fluoresce devido presena de Mn.
Se a luminescncia persiste depois de removida a fonte de radiao designa-se por
fosforescncia.
Estas propriedades resultam da absoro de energia radiante pelos electres das camadas
mais externas (electres de valncia) ou por electres associados a defeitos da malha.
Termoluminescncia
Chama-se termoluminescncia emanao de luz visvel devido ao aquecimento abaixo
do ponto de incandescncia. A calcite, apatite, escapolite, fluorite e certos feldspatos so
termoluminescentes. A termoluminescncia , geralmente, mais forte entre os 50 e os 100C e
cessa acima dos 475C.
59
Triboluminescncia
A triboluminescncia provocada por presso, esmagamento ou atrito. Muitos minerais
que possuem esta propriedade so no metlicos e tm clivagem perfeita: fluorite, blenda e
lepidolite.

3.12. Propriedades elctricas
Condutividade elctrica
A capacidade dos minerais conduzirem a electricidade depende da natureza das ligaes
qumicas. Minerais com ligaes metlicas, como os metais nativos (exemplo: o cobre dos cabos
elctricos), so excelentes condutores porque os electres podem migrar livremente atravs da
estrutura cristalina. Minerais com ligaes covalentes ou inicas so no condutores ou
isoladores. As substncias cristalinas com condutividade intermdia entre os condutores e os
isoladores so designadas por semicondutores.
Porque a condutividade elctrica depende das ligaes qumicas, varia com a direco
nos minerais no isomtricos. Na grafite (sistema hexagonal), por exemplo, a condutividade
elctrica maior paralelamente s lminas, ou seja perpendicularmente ao eixo c, do que
paralelamente a c.
Piezoelectricidade
Em 1880, os irmos Pierre e Jacques Curie demonstraram que quando os cristais so
sujeitos a presso ao longo de determinadas direces adquirem um campo elctrico, ficando
uma superfcie do cristal positivamente carregada e a oposta, negativamente carregada. Esta
propriedade designada por efeito piezoelctrico directo. Minerais comuns piezoelctricos so:
o quartzo (SiO
2
), o topzio [Al
2
SiO
4
(F,OH)] e a turmalina [NaFe
3
Al
6
(BO
3
)
3
Si
6
O
18
(OH)
4
]. Esta
propriedade, embora sem grande significado do ponto de vista geolgico, extremamente
importante para a indstria e alta tecnologia. O quartzo, em particular, usado em relojoaria e
em componentes electrnicos.
Se for exercida presso nas extremidades de um eixo binrio (eixo polar) de um cristal de
quartzo, gera-se um fluxo de electres, produzindo carga negativa numa extremidade e carga
positiva na extremidade oposta. O alongamento inverte a polaridade. A Figura 55 mostra
esquematicamente o que acontece com um tetraedro de slica. Se o tetraedro for deformado,
empurrando para baixo o anio O
2-
, identificado pela letra p, o catio Si
4+
, no meio do tetraedro,
deslocado, tambm, para baixo segundo uma distncia d, e os trs anies O
2-
na base estendem-
-se para fora, de forma que os comprimentos das quatro ligaes Si-O permanecem iguais. Estas
modificaes resultam num movimento da carga. Relativamente configurao original, o
60
tetraedro torna-se positivamente carregado na base e negativamente carregado no topo. Como no
quartzo falta centro de simetria, a voltagem produzida por este tetraedro de slica no
compensada por uma voltagem inversa noutro tetraedro. Assim, todo o cristal torna-se positivo
de um lado e negativo do outro.


Figura 54..Nveis de diafaneidade entre opaco (1) e transparente (4).





Figura 55..Piezoelectricidade. (a) Tetraedro de slica constitudo por um catio
Si
4+
no meio de 4 anies O
2-
. (b) Tetraedro de slica deformado por presso.

61
Tal como a deformao de um cristal piezoelctrico produz uma voltagem, a aplicao de
uma voltagem pode produzir uma deformao. Este fenmeno designado por efeito
piezoelctrico inverso.
A piezoelectricidade uma propriedade vectorial que s ocorre nas espcies sem centro
de simetria. A nica excepo so os cristais da classe 432 (3E
4
4E
3
6E
2
), sem centro de simetria,
mas cujos elementos de simetria impedem a manifestao desta propriedade. A ausncia de
centro de simetria permite a manifestao do efeito piezoelctrico em 20 das 32 classes de
simetria.
Piroelectricidade
A piroelectricidade uma propriedade elctrica que se manifesta pelo deslocamento de
cargas positivas e negativas e desenvolvimento de uma voltagem por efeito de variaes de
temperatura. O calor provoca distores na malha do cristal, tal como a deformao na
piezoelectricidade. Esta propriedade ocorre apenas em cristais com um nico eixo polar,
pertencentes a 10 das 20 classes de simetria consideradas para os cristais piezoelctricos. A
turmalina um exemplo de um mineral piroelctrico. A turmalina s tem um eixo polar c,
enquanto o quartzo tem trs (eixos a) e no pertence ao grupo das 10 classes de simetria. A
turmalina quando aquecida e em contacto com enxofre e chumbo em p, o enxofre atrado pela
face do cristal carregada positivamente, enquanto o p de chumbo atrado pela face carregada
negativamente.

3.13. Propriedades magnticas
Os minerais, quanto ao seu comportamento num campo magntico, so classificados
como:
Diamagnticos;
Paramagnticos;
Ferromagnticos;
Antiferromagnticos e ferrimagnticos.
As propriedades magnticas dos minerais resultam dos campos magnticos produzidos
pelo movimento dos electres em torno do ncleo e pelo movimento de rotao dos electres em
torno de si prprios (spin). Quando um cristal colocado sob a influncia de um campo
magntico externo, gera-se uma fora que tende a alinhar os campos magnticos dos tomos para
produzir um momento magntico para todo o cristal. A susceptibilidade magntica (K) a
relao entre o momento magntico resultante (M) e a intensidade do campo externo (H)
K = M/H.
62
Os minerais diamagnticos tm valores negativos pequenos de K e so ligeiramente
repelidos pelo campo (exemplos: calcite, plagioclase, quartzo).
Os minerais paramagnticos tm um valor positivo pequeno de K e so ligeiramente
atrados pelo campo magntico, embora a magnetizao no seja permanente (exemplos:
minerais constitudos por Fe, Ti, Mn e Cr como a olivina e a piroxena).
Os minerais diamagnticos e paramagnticos no retm o momento magntico depois de
removido o campo magntico externo.
Os minerais ferromagnticos so fortemente atrados por um campo magntico, mesmo
fraco, e ficam permanentemente magnetizados. Numa substncia ferromagntica existem
domnios contendo um nmero elevado de tomos paramagnticos com os seus dipolos
alinhados. Estes domnios esto orientados aleatoriamente sendo o momento magntico
resultante igual a zero (Fig. 56a). Quando colocadas sob a influncia de um campo externo os
domnios ficam alinhados segundo a orientao imposta por esse campo (Fig. 56b). Os minerais
ferromagnticos s perdem a magnetizao acima do ponto de Curie (770C para o ferro
metlico), tornando-se paramagnticos.
O antiferromagnetismo o resultado da interaco de tomos adjacentes, dando origem
a um alinhamento dos spins em paralelo, mas em direces opostas, designados por spins
antiparalelos. Os dois momentos magnticos anulam-se e no h momento magntico
permanente.
Nos minerais ferrimagnticos os momentos de spin antiparalelos no so iguais e, como
consequncia, h magnetizao permanente. As substncias com este comportamento dizem-se
ferrimagnticas. A magnetite (Fe
3
O
4
) e a pirrotite (Fe
1-x
S) so minerais ferrimagnticos. A
frmula da magnetite pode ser escrita Fe
3+
(Fe
2+
Fe
3+
)O
4
considerando a forma geral do grupo das
espinelas XY
2
O
4
. Sabendo que Z na magnetite igual a 8, temos 8 caties X nas posies
tetradricas e 16 caties Y nas posies octadricas por frmula unitria. Os ies Fe
3+
esto
distribudos em duas posies distintas da malha, mas com direces de spin magntico opostos.
Os ies Fe
2+
(com momento magntico inferior) so responsveis pelos domnios magnticos
permanentes na magnetite (Fig. 57).





63

Figura 56. Domnios magnticos num slido ferromagntico (KLEIN &
HURLBUT, 2000). (a) Domnios aleatrios quando desmagnetizado. (b)
Alinhamento paralelo dos domnios sob a aco de um campo magntico externo.


Figura 57. (a) Nos slidos ferrimagnticos os spins so antiparalelos e tm magnitudes
diferentes. Nos slidos ferromagnticos os spins so paralelos e alinhados na mesma direco
(KLEIN & HURLBUT, 2000). (b) Representao esquemtica das direces de spin nas
posies tetradricas e octadricas da magnetite Fe
3+
(Fe
2+
Fe
3+
)O (KLEIN & HURLBUT, 2000).

Ferrimagnetismo
Ferromagnetismo
8 posies
tetradricas
16 posies
octadricas
64
4. PROPRIEDADES PTICAS DOS MINERAIS

4.1. Luz
A energia radiante tem propriedades elctricas e magnticas e , por isso, designada por
radiao electromagntica. As componentes elctrica e magntica vibram fazendo ngulos
rectos com a direco de propagao (Fig. 58a). As interaces entre as ondas elctricas e os
cristais so, geralmente, muito mais fortes do que as interaces entre as ondas magnticas e os
cristais, razo pela qual vamos somente considerar as propriedades elctricas da luz.
A luz assim caracterizada pelo comprimento de onda (, nm), frequncia (,
ciclos/seg ou Hz) e velocidade (V, nm/seg), segundo a relao
V = .
O comprimento de onda representa a distncia entre os dois pontos mais prximos na mesma
fase de vibrao (Fig. 58b). A frequncia o nmero de vibraes ou ciclos por segundo (Fig.
58b). A luz visvel tem comprimentos de onda no intervalo 390nm a 770nm (3 900 a 7 700 ).
Diferentes comprimentos de onda correspondem a cores diferentes (Fig. 52). Os comprimentos
de onda mais baixos correspondem luz violeta e os mais altos ao vermelho. A luz branca
composta por todos os comprimentos de onda das cores primrias. Designa-se por luz branca
policromtica porque contm um intervalo, ou espectro, de comprimentos de onda.
Para alm de V, e , a luz caracterizada pela amplitude (A) e pela fase. A amplitude
refere-se intensidade da onda (Fig. 58b). A fase refere o movimento da onda para cima ou para
baixo num momento particular. Se duas ondas se movem para cima e para baixo
simultaneamente diz-se que esto em fase. Isto , se no instante em que o campo elctrico de
uma das radiaes for mximo em determinado sentido o da outra tambm o for, os dois campos
somam-se e a intensidade aumenta (interferncia construtiva). Se os campos correspondentes s
duas radiaes forem simultaneamente mximos mas em sentidos opostos, o campo resultante
nulo e a intensidade luminosa tambm (interferncia destrutiva). A natureza da interferncia
depende das relaes entre os comprimentos de onda e fases. As ondas de luz que atravessam os
cristais podem ter uma variedade de comprimentos de onda, amplitudes e fases, dependendo da
estrutura atmica. Os fenmenos de interferncia resultantes conferem aos minerais propriedades
pticas distintas.



65

Figura 58. Radiao electromagntica (NESSE, 2000). (a) Variao peridica dos campos
elctrico e magntico de uma radiao (b) A onda viaja velocidade V; o comprimento de onda
() a distncia entre duas cristas sucessivas; a frequncia () o nmero de cristas que passam
num ponto por segundo; a amplitude (A) a distncia mxima relativamente posio de
equilbrio; o brilho proporcional ao quadrado da amplitude.


Figura 59. Luz reflectida e refractada (KLEIN & HURLBUT, 1999).



Figura 60. Raios de luz movendo-se do vidro para o ar. ngulo crtico (AC) e
reflexo total (raio D) (KLEIN & HURLBUT, 1999).

Campo elctrico
Campo
magntico
Direco de
propagao
vidro
Vidro n=1,52
AC
66
4.2. Reflexo e refraco
Quando a luz passa de um meio mais rarefeito, como o ar, para um meio mais denso,
como o vidro, parte reflectida pela superfcie e outra parte atravessa o vidro (Fig. 59). Os raios
reflectidos obedecem s leis da reflexo:
(a) O ngulo de incidncia (i) igual ao ngulo de reflexo (r), medidos em relao
normal superfcie que separa os dois meios;
(b) O raio incidente e o raio reflectido pertencem ao mesmo plano.
A luz que penetra atravs do vidro viaja a uma velocidade menor do que no ar e no segue a
trajectria do raio incidente, sendo refractada. A inclinao do raio refractado depende da
obliquidade do raio incidente e da velocidade relativa da luz nos dois meios. Quanto maior o
ngulo de incidncia e maior a diferena de velocidade maior a refraco.
O ndice de refraco (n) de uma substncia expresso pela relao entre a velocidade da
luz no ar (V
a
) e a velocidade da luz na substncia (V
s
). Como termo de comparao a velocidade
da luz no vcuo considerada igual a 1. No ar a velocidade da luz igual a 0,9997 e, por isso,
tambm considerada unitria. O ndice de refraco , assim, o inverso da velocidade
n = 1 / v
Em condies normais o ndice de refraco do ar igual a 1,00029. Porque a velocidade da luz
num meio mais denso que o ar sempre inferior, n sempre superior a 1. Valores elevados de n
correspondem a materiais que transmitem a luz lentamente.
Quando a luz passa do ar para a maioria dos minerais no opacos a sua velocidade
decresce de 1/3 ou 1/2. Porque a frequncia permanece constante o comprimento de onda deve
decrescer uma fraco similar. A maioria dos minerais tem ndice de refraco entre 1,5 e 2,0.
A relao entre o ngulo de incidncia e o de refraco dada pela lei de Snell que
estabelece que para dois meios sen i/sen r constante
sen i / sen r = n
Reflexo total e ngulo crtico
A luz pode sempre ser refractada quando passa de um meio com ndice de refraco mais
baixo para um meio com ndice de refraco mais alto porque o ngulo de refraco menor que
o ngulo de incidncia, ou seja, o raio refractado aproxima-se da normal superfcie de
separao dos dois meios. Quando as condies se invertem e a luz se move de um meio com
ndice de refraco maior para um meio com ndice de refraco menor refractada afastando-se
da normal superfcie de separao dos dois meios (Fig.60). Quanto maior a obliquidade do raio
incidente maior o ngulo de refraco. O ngulo crtico (AC) o ngulo de incidncia que
origina um ngulo de refraco igual a 90. Os raios com ngulos de incidncia superior ao
67
ngulo crtico so totalmente reflectidos no interior do meio de maior ndice. Se os ndices
de refraco forem conhecidos o ngulo crtico pode ser calculado a partir da lei de Snell,
fazendo i igual a AC e r igual a 90.
sen AC =n = Va/Vs

4.3. Cristais isotrpicos e anisotrpicos
Nos materiais isotrpicos a luz move-se em todas as direces com igual velocidade e,
por isso, as substncias isotrpicas tm um nico ndice de refraco. So substncias isotrpicas
os gases, os lquidos, o vidro e os cristais do sistema cbico.
Nos materiais anisotrpicos a velocidade da luz varia com a direco cristalogrfica e,
por isso, tm mais do que um ndice de refraco. So anisotrpicos todos os cristais excepto os
do sistema cbico.
Em geral, a luz que passa atravs de um cristal anisotrpico decomposta em dois raios
polarizados que vibram em planos mutuamente perpendiculares. Assim, para uma dada
orientao, um cristal tem dois ndices de refraco associados a cada um dos raios polarizados.

4.4. Luz polarizada
A luz do sol ou de uma lmpada normal vibra em todas as direces fazendo ngulos
rectos com a direco de propagao (Fig. 61a). Quando se restringe a vibrao a um s plano a
luz diz-se polarizada (Fig. 61b). As trs formas principais de obter luz polarizada so: dupla
refraco, absoro e reflexo.
Luz polarizada por dupla refraco
J foi referido que quando a luz passa atravs de um cristal anisotrpico dividida em
dois raios polarizados. O princpio em que se baseou o primeiro polarizador foi a eliminao de
um desses raios. O material cristalino usado foi a variedade transparente de calcite, o espato da
Islndia, e o polarizador foi designado por prisma de Nicol, segundo o seu inventor William
Nicol. A calcite tem uma dupla refraco to forte que cada raio produz uma imagem separada
quando um objecto observado atravs duma superfcie de clivagem. Na construo do prisma
de Nicol (Fig. 62) a clivagem rombodrica da calcite cortada segundo um ngulo especfico e
as duas metades coladas com blsamo do Canad. As faces so depois desbastadas nas
extremidades do prisma de forma a fazerem ngulos de 90 com a superfcie cimentada. Ao
entrar no prisma a luz decomposta em dois raios O e E. Devido ao maior ndice de refraco do
raio O, este totalmente reflectido na superfcie do blsamo do Canad. O raio E, com um ndice
de refraco similar ao do blsamo, praticamente no desviado e emerge como luz polarizada.
68


Figura 61. (a) Luz no polarizada vibrando em todas as direces perpendicularmente
direco de propagao. (b) Luz polarizada; o vector elctrico vibra num s plano (NESSE,
2000).



Figura 62. Prisma de Nicol (KLEIN & HURLBUT, 1999).


Eixo ptico
69
Luz polarizada por absoro
Nalguns cristais anisotrpicos a luz divide-se em dois raios, sendo um deles
completamente absorvido. A luz emergente polarizada e a direco de vibrao depende da
orientao do cristal. Este o princpio que est na base dos filtros polarizadores. Nos
microscpios modernos os polarizadores so de plstico, mas os primeiros modelos usavam
cristais naturais. Os minerais que absorvem fortemente um raio e permitem a passagem do outro
so designados por dicricos e apresentam uma cor diferente dependendo da direco em que a
luz passa atravs deles. Algumas variedades de turmalina so dicricas.
Luz polarizada por reflexo
A luz reflectida por uma superfcie suave no metlica parcialmente polarizada com a
direco de vibrao paralela superfcie reflectora. A extenso da polarizao depende do
ngulo de incidncia (Fig. 63) e do ndice de refraco da superfcie reflectora. quase
completamente polarizada quando o ngulo entre o raio reflectido e o refractado igual a 90 (lei
de Brewster).

4.5. Microscpio polarizante
O microscpio polarizante (Fig. 64), tambm designado por microscpio petrogrfico,
um instrumento fundamental no estudo de minerais e rochas.
Na base, uma lmpada proporciona uma fonte de luz branca. A luz passa atravs de filtros
e diafragmas antes de alcanar a platina e a lmina delgada. Um dos filtros mais importantes o
polarizador que condiciona a vibrao da luz a um s plano. Nos microscpios polarizantes
modernos o polarizador apenas permite a passagem da luz que vibra na direco este-oeste. Nos
microscpios mais antigos o polarizador est orientado na direco norte-sul. Um condensador
fixo e um diafragma na sub-platina ajudam a centralizar a luz na amostra. Podemos inserir uma
lente especial (lente convergente) entre o polarizador e a platina produzindo luz convergente.
Esta lente, tambm designada por condensador, faz convergir o feixe de raios luminosos num
ponto da amostra. A platina do microscpio pode rodar para modificar a orientao da amostra
relativamente luz polarizada. A interferncia da luz com os cristais anisotrpicos varia quando
rodamos a platina. Uma escala angular calibrada permite-nos fazer medies precisas da
orientao do cristal. A escala tambm utilizada para medir ngulos entre clivagens, faces dos
cristais, planos de macla e algumas propriedades pticas.
Acima da platina, um torno rotativo segura vrias objectivas, normalmente, com
ampliaes de 4x, 10x e 40x. As oculares so lentes adicionais que proporcionam ampliaes de
8x ou 10x. Os microscpios binoculares tm duas oculares. Uma das oculares pode apresentar
70
dois fios perpendiculares (fios do retculo), indispensveis na medio de ngulos com a platina.
Podemos inserir outros filtros e lentes entre as objectivas e as oculares, quando necessrio. O
polarizador superior, designado por analisador, pode ser inserido ou removido da trajectria do
feixe de luz e est orientado a 90 do polarizador inferior. Sem amostra na platina, e com o
analisador inserido, a luz polarizada pelo polarizador inferior no chega ao olho porque
absorvida pelo analisador e o campo fica negro. No entanto, a maioria dos minerais, quando
colocados na platina, modificam a polarizao da luz, de forma que alguma pode passar atravs
do analisador. Duas placas acessrias, de gesso e de mica, so designadas por compensadores e
podem ser inseridas acima do analisador. Depois do compensador, muitos microscpios
polarizantes tm uma lente de (Amici-)Bertrand e um diafragma. So usados com o
condensador especial da sub-platina para observar os minerais em luz polarizada convergente.
Podemos observar os minerais ao microscpio com ou sem o analisador. Quando o
analisador no inserido diz-se que trabalhamos em nicis paralelos ou com luz plano
polarizada (luz PP). Quando o analisador est inserido trabalhamos em nicis cruzados (luz
XP). Granulometria, forma, cor, clivagem so propriedades fsicas observadas em nicis
paralelos. ndice de refraco e pleocrosmo so propriedades pticas determinadas, tambm, em
nicis paralelos. Em nicis cruzados determinamos o sinal de alongamento, a figura de
interferncia, o sinal ptico e o ngulo 2V.

4.6. Cristais uniaxiais e biaxiais
Como foi referido atrs, na maioria dos microscpios polarizantes, a luz polarizada
abandona o polarizador vibrando na direco este-oeste. Se encontra um cristal isotrpico na
platina, a velocidade da luz diminui ao atravessar o cristal, mas continua a vibrar na direco
este-oeste. Se introduzirmos o analisador o cristal fica negro.
Quando a luz polarizada atravessa um cristal anisotrpico divide-se em dois raios
polarizados vibrando em direces perpendiculares (dupla refraco) e cada um atravessa o
cristal ao longo de trajectrias distintas, com velocidade e ndice de refraco diferentes. O raio
mais rpido tem ndice de refraco mais baixo e o raio mais lento tem ndice de refraco mais
alto.
Todos os minerais anisotrpicos tm uma ou duas direces, designadas por eixos
pticos, ao longo das quais a luz no se divide em dois raios. Os minerais do sistema tetragonal,
hexagonal e trigonal tm apenas um eixo ptico (eixo c) e so designados por uniaxiais. Os
minerais do sistema ortorrmbico, monoclnico e triclnico tm dois eixos pticos e so
71
designados por biaxiais. Em muitos cristais uniaxiais o eixo ptico paralelo ou perpendicular a
faces do cristal, enquanto nos biaxiais raramente isso acontece.
Cristais uniaxiais
Quando a luz se move num cristal uniaxial em qualquer direco, excepto paralelamente
ao eixo c, decomposta em dois raios com diferentes velocidades, designados por: raio
ordinrio (O) que vibra no plano basal e raio extraordinrio (E) que vibra perpendicularmente
ao primeiro, num plano que inclui o eixo c. O ndice de refraco relacionado com a vibrao ao
longo do raio ordinrio designado por (omega), ou n

, enquanto que o ndice associado ao

raio extraordinrio (epsilon), ou (n

ou n

).
Uma indicatriz ptica uma figura geomtrica que permite visualizar a relao entre os
ndices de refraco e as direces de vibrao, perpendiculares direco de propagao da luz
no cristal. Uma indicatriz construda de forma que os ndices de refraco so projectados
como raios paralelos direco de vibrao da luz.
Os cristais uniaxiais podem ser opticamente positivos ou negativos. So positivos se o
raio ordinrio tem velocidade maior e negativos se o raio extraordinrio tem velocidade maior. A
indicatriz ptica de um mineral uniaxial um elipside de revoluo cujo eixo o eixo c (Fig.
65). O semieixo da indicatriz medido paralelamente a c designado por ou n

e o raio,
perpendicular, designado por ou n

. A diferena entre os ndices |n

- n

| designada por
birrefringncia.
Todas as seces verticais da indicatriz que incluem o eixo c so elipses idnticas
designadas por seco principal. Os eixos da seco principal so n

e n

. Todas as outras
seces so elipses cujas dimenses so n

e n

, com n

entre n

e n

. A seco perpendicular
ao eixo c designada por seco circular e tem raio igual a n

.
Cristais biaxiais
Descrevemos as propriedades pticas dos minerais biaxiais relativamente a trs direces
perpendiculares entre si: X, Y e Z (Fig. 66). A direco de vibrao do raio mais rpido
designada por X e o ndice de refraco correspondente n

. A direco de vibrao do raio

mais lento Z e o ndice n

. O ndice de refraco segundo o eixo Y n

. Em qualquer caso,
n

o ndice mais baixo, n

o ndice mais alto e n

o ndice intermdio. Outros smbolos usados

para designar os ndices dos minerais biaxiais so: , , ; n
x
, n
y
, n
z
; n
a
, n
b
, n
c
; n
1
, n
2
, n
3
; n
g
, n
m
,
n
p
; N
x
, N
y
, N
z
; nX, nY, nZ; X, Y, Z. A birrefringncia mxima de um mineral biaxial ()
sempre n

- n

.
72

Figura 63. Luz polarizada por reflexo e refraco (KLEIN & HURLBUT, 1999). O facto de a
luz reflectida ser polarizada pode ser demonstrado usando um filtro polarizador: (a) se
colocarmos um filtro com uma direco de vibrao paralela superfcie reflectora a luz passa
atravs do filtro apenas com uma leve reduo da intensidade, (b) quando a direco de vibrao
do filtro est a 90 apenas uma pequena percentagem de luz alcana o olho.


Figura 64. Microscpio petrogrfico ou polarizante (PERKINS, 1998).

olho
ocular
lente de Bertrand
analisador
objectiva
lmina delgada
condensador auxiliar
condensador
diafragma
polarizador
filtro
fonte luminosa
73

Figura 65. Indicatriz uniaxial, seco circular e seco principal (NESSE, 2000). (a) Uniaxial
positivo (n

> n

). (b) Uniaxial negativo (n

< n

).


Figura 66. Indicatriz biaxial (NESSE, 2000). (a) ndices n

, n

e n

projectados segundo os
eixos X, Y e Z. Seces principais XY, XZ e YZ. (b) Seces circulares e eixos pticos. (c)
Plano ptico de uma indicatriz biaxial positiva (d) Plano ptico de uma indicatriz biaxial
negativa.
Z = eixo ptico = c
X = eixo ptico = c
Seco
circular
Seco
circular
Seces
circulares
Seces
circulares
Seces
circulares
74
Apesar de usarmos trs ndices para descrever um mineral biaxial, a luz que se move
atravs de um mineral biaxial continua a dividir-se em dois raios, com direces de vibrao
perpendiculares entre si, excepto ao longo dos eixos pticos.
A indicatriz biaxial um elipside triaxial e tem trs seces principais: os planos XY,
XZ e YZ (Fig. 66). A seco XY uma elipse com eixos n

e n

, a seco XZ uma elipse com

eixos n

e n

e a seco YZ uma elipse com eixos n

e n

. Outras seces da indicatriz so

elipses com eixos n

e n

.
A indicatriz tem duas seces circulares com raio n

que se intersectam no eixo Y (Fig.

66). Os comprimentos dos semieixos so proporcionais aos ndices de refraco. A seco de
maior interesse a XZ porque h pontos na elipse entre os extremos n

e n

onde o raio
proporcional ao ndice intermdio n

. Na Figura 66c este raio est marcado com um S. O plano

XZ contm os eixos pticos e designado por plano ptico.
O ngulo ptico 2V o ngulo agudo entre os eixos pticos (Fig. 66). Nos cristais
biaxiais positivos a bissectriz (Bxa) do ngulo ptico (2V
z
) o eixo Z (Fig. 66b e c) enquanto
nos biaxiais negativos a bissectriz do ngulo ptico (2V
x
) o eixo X (Fig, 66d). A bissectriz do
ngulo obtuso entre os eixos pticos indicada por Bxo.

4.7. Extino
H situaes especiais em que os cristais anisotrpicos se apresentam negros em nicis
cruzados. Nos cristais uniaxiais quando a luz se move paralelamente ao eixo ptico no
decomposta em dois raios com direces de vibrao perpendiculares. Desta forma, as seces
circulares dos cristais uniaxiais apresentam-se sempre negras ou extintas. Quando a
direco de vibrao da luz emergente do polarizador coincide exactamente com uma das
direces de vibrao do cristal este, tambm, fica negro ou extinto. A extino ocorre quando a
direco de vibrao da luz que atravessa o mineral paralela direco de vibrao do
polarizador ou analisador (Fig. 67a). H quatro posies de extino, de 90 em 90, numa
rotao completa da platina (360). medida que o cristal rodado, a partir da posio de
extino, torna-se progressivamente iluminado, mostrando iluminao mxima aos 45 (Fig.
67b). Nesta posio (a 45) a luz polarizada decomposta em dois raios (lento e rpido) com
igual amplitude. Quando estes raios alcanam o analisador interferem e produzem cores de
interferncia.



75
4.8. Cores de interferncia
Os minerais anisotrpicos em nicis cruzados apresentam cores designadas por cores de
interferncia.
Considerar um raio de luz polarizada, que emerge do polarizador, e atravessa um mineral
anisotrpico (Fig.68). Quando a luz entra no mineral decomposta em dois raios que vibram
segundo direces perpendiculares e que tm ndices de refraco diferentes (diferentes
velocidades). Devido diferena de velocidade o raio lento atrasa-se em relao ao raio rpido e
quando emergem existe uma diferena de fase porque um est frente do outro. No momento em
que o raio lento sai do mineral o raio rpido j atravessou o mineral e viajou uma distncia
designada por atraso (Fig. 68). A magnitude do atraso depende da espessura do mineral (d) e da
diferena de ndice de refraco dos raios lento (n
l
) e rpido (n
r
) no mineral
= d x (n
l
n
r
) = d x
onde () a birrefringncia. O valor numrico da birrefringncia depende da direco seguida
pela luz atravs do mineral. Direces paralelas a um eixo ptico mostram birrefringncia zero,
outras direces mostram birrefringncia mxima e a maior parte valores de birrefringncia
intermdia. A birrefringncia mxima uma propriedade diagnstica til na identificao dos
minerais ao microscpio petrogrfico.
So produzidas cores de interferncia quando os raios lento e rpido alcanam o
analisador e so decompostos nas suas componentes. Apenas as componentes dos raios que
vibram na direco do analisador podem passar.
Porque os raios vibram no mesmo plano do analisador interferem. Para luz
monocromtica, se o raio lento est um nmero inteiro de comprimentos de onda atrasado
relativamente ao raio rpido
= n
nenhuma luz passa no polarizador e o mineral aparece negro (interferncia destrutiva). Por outro
lado, se o atraso for de /2, 3/2 ou, em geral,
= (2n-1) /2
as ondas reforam-se para produzir brilho mximo (interferncia construtiva).
Estas relaes parecem contradizer os princpios convencionados sobre interferncia da
luz: ondas em fase adicionam-se e ondas que no estejam em fase cancelam-se. No entanto, as
relaes aqui apresentadas esto correctas pois, os dois raios vibram perpendicularmente, no no
mesmo plano, aps atravessarem o mineral. S quando decompostos nas direces de vibrao
do analisador interferem construtiva ou destrutivamente.
76

Figura 67. Extino (NESSE, 2000). (a) Quando as direces de vibrao do mineral so
paralelas s direces de vibrao do analisador e polarizador o mineral fica extinto em nicis
cruzados. (b) Se a platina for rodada, de forma que a direco de vibrao do mineral no
coincida com a dos polarizadores, o mineral fica iluminado, apresentando cores de interferncia.



Figura 68. A luz entrando num mineral com espessura d dividida num raio lento e num raio
rpido. No momento em que o raio lento sai do mineral o raio rpido j atravessou o mineral e
viajou uma distncia , designada por atraso (NESSE, 2000).
Luz polarizada
incidente
d

77
Para a luz branca ou policromtica todos os comprimentos de onda esto presentes e cada
um dividido em raio lento e rpido. Para uma determinada espessura de um mineral,
aproximadamente a mesma quantidade de atraso produzida para todos os comprimentos de
onda. Os dois raios para alguns comprimentos de onda alcanam o analisador em fase e so
cancelados, enquanto os dois raios de outros comprimentos de onda alcanam o analisador fora
de fase e so transmitidos. A combinao dos comprimentos de onda que passam no analisador
produz cores de interferncia.
As cores de interferncia dependem de trs factores: orientao, espessura e
birrefringncia.
As cartas de cores de interferncia mostram cores de interferncia produzidas para atrasos
entre 0 e 1800nm. Esta sequncia de cores dividida em ordens, com os limites entre as ordens
de 550 em 550nm de atraso.

4.9. Placas acessrias
As placas acessrias, ou compensadores, so utilizadas para determinar qual a
direco do raio rpido e do raio lento no mineral. Esta informao usada para determinar o
sinal de alongamento e tambm o sinal ptico. As placas acessrias podem tambm ajudar a
distinguir diferentes ordens de cores de interferncia.
As placas acessrias mais utilizadas so as de gesso e as de mica. So constitudas por
lminas moscovite ou gesso. Porque qualquer destes minerais anisotrpico, quando a luz os
atravessa divide-se em dois raios, um lento e o outro rpido. Estes elementos pticos so
cuidadosamente montados no microscpio de forma a produzirem uma quantidade de atraso
conhecida e de forma a que a direco de vibrao do raio lento se oriente na direco
NE-SW do microscpio, enquanto a direco de vibrao do raio rpido se orienta na direco
NW-SE do microscpio, ou seja, paralelamente ao eixo maior da placa acessria.
A placa ou compensador de gesso (Fig. 69a), tambm conhecida por placa vermelha de
primeira ordem, marcada com as seguintes designaes: Gips, Gyps, Rot I, 1, =550nm ou
=537nm. Produz um atraso de 537 ou 550 nm, dependendo do fabricante, e d uma cor de
interferncia carmesim (cor de transio de primeira para segunda ordem na carta de cores de
interferncia) para luz branca.
A placa ou compensador de mica, tambm designada por placa um quarto de
comprimento de onda, pode estar marcada com as seguintes designaes: Mica, Glimmer, 1/4
ou =147nm. Produz um atraso de 150 nm e d uma cor de interferncia branca de primeira
ordem.
78
Considere um mineral colocado na platina do microscpio com as direces de vibrao
dos raios lento e rpido a 45 (lento NE-SW, rpido NW-SE) (Fig. 69b). A luz que passa
atravs do mineral dividida em dois raios e quando emerge o raio lento est atrasado de um
valor
M
relativamente ao raio rpido. Se a placa acessria for inserida, as direces de vibrao
dos raios lento e rpido da placa sero paralela s direces dos raios lento e rpido,
respectivamente, do mineral. Quando o raio lento e o raio rpido do mineral entram na placa
acessria, o raio lento fica atrasado uma distncia adicional igual ao atraso
A
da placa acessria.
O atraso total a soma dos dois

T
=
M
+
A

e a cor de interferncia aumenta. Se o mineral produz um atraso de 250 nm (branco de primeira
ordem) e se usarmos a placa de gesso (
A
=550nm) o atraso total de 800 nm e a cor de
interferncia observada sobe para amarelo de segunda ordem. Assim,
adio de atrasos = lento sobre lento.
Na Figura 69c, o mineral est rodado de forma que a direco de vibrao do raio rpido
paralela direco de vibrao do raio lento da placa acessria e vice versa. O raio lento no
mineral torna-se o raio rpido na placa acessria. O atraso total produzido pelo mineral e placa
acessria o valor absoluto da diferena entre os atrasos do mineral e da placa de gesso

T
=
M
-
A
.
Se o mineral produz um atraso de 250 nm e usada a placa de gesso (
A
=550nm), o atraso total
ser de 300 nm e a cor de interferncia produzida um branco amarelado. Assim,
subtraco de atrasos = lento sobre rpido.

4.10. Sinal de alongamento
Os termos alongamento negativo e positivo so frequentemente utilizados na descrio
dos minerais. Sinal de alongamento negativo significa que o raio rpido vibra paralelamente ao
eixo maior de um mineral alongado. Sinal de alongamento positivo significa que o raio lento
vibra paralelamente ao eixo maior do mineral. Sinal de alongamento diferente de sinal ptico.
Para determinar o sinal de alongamento procede-se da seguinte forma:
Colocar o mineral com o trao de uma face e/ou superfcie de clivagem paralelo ao fio
N-S do retculo (Fig. 70a). Rodar a platina at o mineral extinguir (Fig. 70b).
Rodar a platina 45, a partir da posio de extino, no sentido dos ponteiros do relgio
(Fig. 70c). Inserir o compensador. Observe a cor de interferncia. Se os atrasos se adicionam, o
raio lento do mineral est paralelo ao raio lento do compensador, a cor sobe e o mineral tem
79
sinal de alongamento positivo. Se os atrasos se subtraem, o raio rpido do mineral est paralelo
ao raio lento do compensador e o mineral tem sinal de alongamento negativo.




Figura 69. Placas acessrias ou compensadores (NESSE, 2000). (a) Compensador de gesso. O
elemento ptico uma lmina de gesso ou quartzo cuja espessura produz um atraso
A
=550 nm.
A direco de vibrao do raio lento est indicada. (b) Amostra de mineral orientada de forma
que os raios lento e rpido coincidem com os do compensador. O atraso total produzido pela
amostra e compensador
T
=
M
+
A
. (c) A amostra est orientada de forma que a direco de
vibrao do raio lento paralela direco de vibrao do raio rpido do compensador. O atraso
total
T
igual a
M
-
A
.

80
4.11. ngulo de extino
O ngulo entre o trao de uma face ou da clivagem de um mineral e a direco de
vibrao uma propriedade diagnstica designada por ngulo de extino.
O ngulo de extino medido num mineral especfico depende da sua orientao na
amostra. O ngulo de extino diagnstico medido em seces que apresentam atraso mximo
ou cor de interferncia mais elevada. Estas seces so seces principais paralelas ao eixo
ptico, ou seja, nestas seces o eixo ptico horizontal.
Para determinar o ngulo de extino procede-se da seguinte forma:
Rodar a platina do microscpio at que o trao de uma face ou da clivagem do mineral
esteja alinhado com o fio N-S do retculo (Fig. 70a). Registar a leitura (g
1
) no gonimetro da
platina.
Rodar a platina do microscpio (nos sentidos retrgrado e directo) at o mineral
extinguir. Registe a nova leitura g
2
, correspondente ao menor ngulo medido. O ngulo de
extino a diferena entre g
1
e g
2
. Deve-se especificar se a leitura foi feita em relao ao raio
lento ou rpido, determinando o sinal de alongamento. Por exemplo, se o ngulo medido for de
12 em relao ao raio lento, o ngulo de extino deve ser indicado da seguinte forma:
n
g
^c=12.

Tipos de extino
Extino recta ou paralela quando o trao da clivagem e/ou de uma face esto
paralelos ao fio N-S do retculo o mineral est extinto (Fig. 71a); o ngulo de extino 0; quer
o raio lento, quer o raio rpido podem ser paralelos ao trao da clivagem ou da face do mineral.
Extino oblqua o mineral est extinto quando o trao da clivagem e/ou de uma face
fazem um ngulo com o fio N-S do retculo (Fig. 71b); o ngulo de extino superior a 0 e
medido como se descreveu atrs; as direces de vibrao do mineral tambm no so paralelas
aos traos da clivagem e/ou faces.
Extino simtrica pode ser observada em minerais que apresentam duas clivagens ou
duas faces distintas (Fig. 71c); se os ngulos de extino EA
1
e EA
2
, medidos entre as clivagens
ou faces do cristal e a mesma direco de vibrao, forem iguais a extino diz-se simtrica.
Nos gros de minerais andricos ou sem clivagens no existem traos de referncia para
determinar o ngulo de extino (Fig. 71d). Podemos observar que o gro extingue quatro vezes
durante uma rotao completa da platina, mas no podemos determinar o ngulo de extino.
81

Figura 70. Determinao do sinal de alongamento e ngulo de extino (NESSE, 2000). (a)
Gro orientado com a clivagem paralela ao fio N-S do retculo. (b) Rotao da platina para obter
extino do mineral. Nesta posio uma das direces de vibrao do mineral paralela ao eixo
N-S. O ngulo de extino o ngulo EA. (c) Rotao da platina 45 no sentido dos ponteiros
do relgio. A direco de vibrao do mineral est orientada NE-SW. Inserir a placa acessria.
Se os atrasos se adicionam o mineral tem alongamento positivo, se os atrasos se subtraem tem
alongamento negativo.


Figura 71. Gros de minerais em posio de extino (NESSE, 2000). (a) Extino recta. (b)
Extino oblqua. (c) Extino simtrica. (d) Num gro andrico e sem clivagens no possvel
medir o ngulo de extino.


82
Alguns gros de minerais no apresentam extino uniforme devido a deformao ou
zonamento qumico. Quando os gros se apresentam deformados, diferentes partes do gro
extinguem em diferentes momentos da rotao da platina. Se a extino segue um padro
ondulado designada por extino ondulante. Muitos minerais, como a plagioclase, apresentam
zonamento qumico. Porque o ngulo de extino pode ser determinado pela composio
qumica nos minerais dos sistemas monoclnico e triclnico, o ngulo de extino pode variar
sistematicamente com a composio, de forma que o centro do gro pode apresentar um ngulo
de extino e o bordo outro. Os minerais que apresentam este tipo de extino dizem-se
zonados.
Extino em minerais uniaxiais
Os minerais dos sistemas tetragonal e hexagonal so, normalmente, prismticos e
alongados paralelamente ao eixo c. As formas comuns so prismas paralelos a c, pinacides
perpendiculares a c e pirmides. Os minerais do sistema trigonal so, normalmente,
rombodricos. As clivagens podem ser paralelas a qualquer uma destas formas.
Na Figura 72 mostra-se um mineral do sistema tetragonal observado em seces com
diferentes orientaes, como acontece numa lmina delgada. Numa seco paralela ao plano de
clivagem {001} o eixo ptico vertical (Fig. 72b). A seco da indicatriz circular de forma que
o mineral se comporta como isotrpico, permanecendo extinto durante a rotao completa da
platina. Uma seco com birrefringncia mais elevada ter o eixo c paralelo platina do
microscpio e mostra extino paralela aos traos das clivagens {001} e {110} (Fig. 72c). Esta
uma seco principal da indicatriz e os ndices de refraco so n

e n

. Numa seco orientada

ao acaso a birrefringncia intermdia e a extino paralela ao trao {001} e oblqua
relativamente aos traos da clivagem {110} (Fig. 72d).
Extino em minerais biaxiais
Os minerais ortorrmbicos apresentam extino recta em seces paralelas a (100), (010),
simtrica em seces paralelas a (001) e oblqua em seces orientadas ao acaso. Os gros com
cores de interferncia mximas apresentam sempre extino paralela.
Nos minerais monoclnicos a indicatriz orienta-se, normalmente, com Y paralelo a b. Nos
minerais com esta orientao, como na maioria das anfbolas e piroxenas, as seces com cores
de interferncia ou atraso mximos tm ngulos de extino que indicam a relao entre os eixos
X e Z da indicatriz e os eixos cristalogrficos a e c, respectivamente (Fig. 73d).
Os cristais triclnicos apresentam extino oblqua na maioria das seces porque os eixos
da indicatriz e os eixos cristalogrficos no so paralelos.
83


Figura 72. Extino num mineral tetragonal (NESSE, 2000). (a) Mineral mostrando as
direces de clivagem segundo o pinacide {001} (a tracejado) e o prisma {110} (trao cheio).
(b) Corte paralelo seco circular da indicatriz. (c) Corte paralelo a uma seco principal da
indicatriz. (d) Seco orientada ao acaso, como a maioria das seces dos gros de minerais em
lmina delgada.

84


Figura 73. Extino num mineral monoclnico (NESSE, 2000). (a) Mineral mostrando as
direces de clivagem segundo o pinacide {001} (a tracejado) e o prisma {110} (trao cheio).
A orientao da indicatriz Y=b, Zc=25 e Xa=-5. (b) Seco paralela ao plano de clivagem
{001}. A extino simtrica. (c) Seco paralela a {100} mostrando extino paralela a ambos
os trao da clivagem. (d) Seco paralela a {010} apresentando cores de interferncia mximas.
A extino de 25 (o ngulo Zc), medida relativamente ao trao da clivagem {110} e 5 (o
ngulo Xa), medido relativamente ao trao da clivagem {001}. (e) Seco orientada ao acaso
com extino oblqua relativamente a todos os traos da clivagem.






85
4.12. Pleocrosmo
O pleocrosmo uma propriedade ptica exibida por alguns minerais e observada
em nicis paralelos, que se traduz na mudana de cor durante a rotao da platina. A cor
muda porque os raios lento e rpido so absorvidos diferencialmente quando atravessam o
mineral. Quando a direco de vibrao do raio rpido paralela ao polarizador, toda a luz passa
como raio rpido e o mineral apresenta uma determinada cor. Quando a direco de vibrao do
raio lento paralela ao polarizador, o mineral apresenta a cor do raio lento. Se a platina for
rodada para permitir a passagem de ambos os raios a cor tipicamente intermdia.
Minerais isotrpicos
Os minerais isotrpicos no so pleocricos porque no experimentam dupla refraco.
Em nicis paralelos os minerais isotrpicos apresentam uma cor uniforme durante a rotao da
platina.
Minerais uniaxiais
Os minerais uniaxiais coloridos so, normalmente pleocricos. Para descrever o
pleocrosmo suficiente identificar a cor dos raios e . Por exemplo, o pleocrosmo da
turmalina (variedade escorlite) pode ser descrito da seguinte forma: =verde escuro e =verde
plido. Uma conveno alternativa identificar qual do raio mais fortemente absorvido e, por
isso tem cor mais escura: >. O pleocrosmo pode ser descrito como forte ou fraco, dependendo
da intensidade da cor e da extenso da mudana de cor. Um gro que apresente cores de
interferncia ou atraso mximos em nicis cruzados mostra, em nicis paralelos, as cores
segundo e durante a rotao da platina.
Minerais biaxiais
Para descrever o pleocrosmo de minerais biaxiais necessrio especificar trs cores:
segundo os eixos X, Y e Z da indicatriz. Por exemplo, o pleocrosmo da horneblenda pode ser
descrito da seguinte forma: X=amarelo, Y=verde plido e Z=verde escuro. Uma conveno
alternativa, mas com menos informao, : Z>Y>X. As seces com cores de interferncia e
atraso mximos mostram, em nicis paralelos, as cores segundo X e Z durante a rotao da
platina. Antes de caracterizar o pleocrosmo conveniente determinar o sinal de alongamento
para identificar as direces dos raios lento e rpido. Se a direco de vibrao do raio lento
estiver paralela ao fio N-S do retculo, o mineral exibe, em nicis paralelos, a cor associada com
Z. Rodando 90 observamos a cor associada com X.



86
4.13. Figuras de interferncia
Uma figura de interferncia obtida para determinar se um mineral uniaxial ou
biaxial e, tambm, para determinar o seu sinal ptico (positivo ou negativo). Se o mineral for
biaxial o ngulo 2V tambm pode ser medido. A figura de interferncia tambm permite
confirmar a orientao das seces. Para fazer uma figura de interferncia deve-se:
Focar o gro do mineral com a objectiva de maior ampliao.
Introduzir o condensador auxiliar e voltar a focar, se necessrio. Inserir o analisador.
Inserir a lente de Bertrand. A figura de interferncia pode tambm ser observada sem a
lente de Bertrand, removendo a ocular e olhando directamente pelo tubo do microscpio.
A figura de interferncia formada prximo da superfcie superior da objectiva e
constituda por um padro de cores de interferncia, designado por isocromticas, ao qual se
sobrepem bandas escuras, designadas por isogiras. A natureza da figura de interferncia e o seu
comportamento medida que a platina rodada depende da orientao do gro do mineral e do
sistema cristalogrfico. As figuras de interferncia so diferentes nos minerais uniaxiais e
biaxiais.

4.13.1. Figuras de interferncia uniaxiais
Uma figura de interferncia do eixo ptico uniaxial produzida se o eixo ptico do
mineral uniaxial for perpendicular platina do microscpio (Fig.74). Um gro com um eixo
ptico vertical deve apresentar as cores de interferncia mais baixas de todos os gros da
amostra. As isogiras formam uma cruz negra sobreposta num padro circular de isocromticas.
O ponto central, onde se cruzam as isogiras, designado por meltopo e marca o ponto de
emergncia do eixo ptico. As cores de interferncia aumentam de ordem a partir do meltopo;
cores de primeira ordem baixas aparecem prximo do meltopo. Se o eixo ptico for
perfeitamente vertical a figura de interferncia no muda durante a rotao completa da platina.
A presena de um s meltopo indica que o mineral uniaxial. Os minerais biaxiais
produzem figuras de interferncia com dois meltopos.
Na Figura 75 mostra-se a formao das isocromticas. O condensador auxiliar
proporciona luz fortemente convergente que atravessa o mineral e recolhida pela objectiva. A
luz que segue o trajecto 1, paralelo ao eixo ptico, no se divide em dois raios e sai do mineral
com um atraso igual a zero, dando origem ao meltopo. A luz que segue o trajecto 2 experimenta
atraso moderado porque o ngulo que faz com o eixo ptico pequeno. A luz que segue o
trajecto 3, faz um ngulo maior com o eixo ptico, percorre uma distncia maior no mineral,
logo o atraso proporcionalmente maior e a birrefringncia tambm. Porque as propriedades
87
pticas so simtricas em torno do eixo ptico, aneis de igual atraso e cor de interferncia
formam-se em torno do meltopo. Os gros de minerais mais espessos ou que tm maior
birrefringncia mostram mais isocromticas do que os gros finos ou com baixa birrefringncia.
As isogiras formam-se onde as direces de vibrao na figura de interferncia so N-S e
E-W. So reas de extino. A Figura 76 mostra, esquematicamente, as direces de vibrao
para luz fortemente convergente que penetra a indicatriz uniaxial. Os raios ordinrios () vibram
paralelamente aos paralelos da indicatriz e os raios extraordinrios () vibram paralelamente aos
meridianos da indicatriz. Estas direces de vibrao so transportadas para a figura de
interferncia (Fig. 76a). Os raios extraordinrios () vibram paralelamente a linhas radiais
simtricas em torno do meltopo e os raios ordinrios () vibram tangentes s isocromticas
circulares.
Figura de interferncia descentrada
Se o eixo ptico estiver inclinado a figura de interferncia no aparecer centrada no
campo. Se o eixo ptico fizer um ngulo at 30, relativamente vertical, o meltopo ser visvel
no campo (Fig. 77) e a figura de interferncia designa-se por figura de eixo ptico descentrado.
Se o eixo ptico fizer um ngulo superior a 30, relativamente vertical, o meltopo no
ser visvel no campo (Fig. 78a) e a figura de interferncia designa-se por figura descentrada.
Os quatro braos da isogira passam paralelamente aos fios do retculo na sequncia observada na
Figura 78b. Esta a figura de interferncia mais comum quando no h cuidado na seleco dos
gros.
Figura flash
Se um gro de um mineral est orientado paralelamente platina do microscpio obtm-
-se uma figura flash (Fig. 79). Estes gros apresentam cores de interferncia mximas. Estas
figuras de interferncia so caracterizadas por isogiras largas que ocupam o campo quase todo
quando o eixo ptico est orientado E-W ou N-S. Se rodarmos levemente o campo as isogiras
dividem-se em dois segmentos que abandonam o campo a partir dos quadrantes para onde o eixo
ptico est a ser rodado. A designao destas figuras deve-se ao facto de as isogiras
desaparecerem e aparecerem rapidamente com a rotao da platina. Esta figura apenas confirma
que o eixo ptico aproximadamente horizontal, mas no usada para determinar o carcter
ptico e o sinal ptico. Uma figura quase idntica pode ser produzida por minerais biaxiais.


88

Figura 74. Figura de interferncia uniaxial com eixo ptico vertical (NESSE, 2000).


Figura 75. Formao de isocromticas (NESSE, 2000). (a) A luz que segue a trajectria 1
emerge no ponto M (meltopo) com um atraso igual a zero porque paralela ao eixo ptico. As
trajectrias 2 e 3 produzem atrasos progressivamente maiores porque tanto a birrefringncia
como o comprimento do trajecto na amostra aumentam. (b) As propriedades pticas so
simtricas em torno do eixo ptico, por isso, so produzidos aneis de igual atraso em torno do
meltopo.
isocromtica
meltopo
isogira
objectiva
amostra
condensador
89

Figura 76. Formao de isogiras (NESSE, 2000). (a) Direces de vibrao da luz emergindo
do centro de uma indicatriz uniaxial. Os raios ordinrios vibram paralelamente aos paralelos e os
extraordinrios aos meridianos. (b) Luz fortemente convergente que atravessa um gro de
mineral com eixo ptico vertical e sai com um padro de vibrao simtrico em torno do
meltopo. Os raios extraordinrios vibram paralelamente a linhas radiais e os raios ordinrios
vibram tangentes s isocromticas circulares. As isogiras formam-se onde as direces de
vibrao na figura so paralelas s direces de vibrao do polarizador e analisador. So reas
de extino.



Figura 77. Figura de eixo ptico descentrado (NESSE, 2000). medida que a platina roda o
meltopo desliza no campo no sentido indicado pela seta na figura. As isogiras e isocromticas
permanecem centradas relativamente ao meltopo. As isogiras mantm a orientao N-S e E-W.

amostra
Objecti
objectiva
EO
90


Figura 78. Figura uniaxial descentrada (NESSE, 2000). (a) Amostra de mineral com o eixo
ptico inclinado mais de 30 relativamente vertical. O meltopo est fora do campo. (b) A
rotao da platina origina o deslizamento das isogiras paralelamente aos fios N-S e E-W do
retculo, de acordo com a sequncia observada na figura. A parte mais fina da isogira aponta
para o meltopo.


(a)
(b)
91

Figura 79. Figura flash (NESSE, 2000). O eixo ptico (EO) paralelo platina do
microscpio. No esquema I o eixo ptico tem direco E-W. A isogira larga porque as
direces de vibrao dos raios e so paralelas ao analisador e polarizador. No esquema II a
platina foi rodada alguns graus no sentido dos ponteiros do relgio. As isogiras dividem-se
rapidamente e saem do campo. No esquema III o eixo ptico tem direco NW-SE.

EO
EO
EO
EO
92
Determinao do sinal ptico
A figura de interferncia do eixo ptico deve ser usada para determinar o sinal ptico,
porque as direces de vibrao dos raios ordinrio e extraordinrio so conhecidas em cada
ponto da figura. Considere os quadrantes SE e NW na Figura 80. Os raios ordinrios vibram NE-
SW e os raios extraordinrios vibram NW-SE. Se inserirmos um compensador (raio lento no
compensador vibra NE-SW) e a ordem da cor de interferncia nos quadrantes SE e NW
decrescer (subtraco de atrasos), o raio ordinrio o raio rpido e o mineral tem sinal ptico
positivo (Fig. 80a). Se a ordem da cor de interferncia aumenta nos quadrantes SE e NW (adio
de atrasos) o raio ordinrio o raio lento e o mineral tem sinal ptico negativo (Fig. 80b).
Normalmente, observa-se, com um compensador de gesso, a cor azul, nos quadrantes NE e SW,
e amarelo, nos quadrantes NW e SE, se o mineral tem sinal ptico positivo e o inverso se o
mineral tem sinal ptico negativo.

4.13.2. Figuras de interferncia biaxiais
Os minerais biaxiais podem ser distinguidos dos uniaxiais pelo exame da figura de
interferncia em seces devidamente orientadas. O sinal ptico e o ngulo 2V tambm podem
ser determinados.
Figura da bissectriz aguda
A figura de interferncia da bissectriz aguda (Fig. 81) obtida se a bissectriz aguda (X
ou Z, dependendo do sinal ptico) for perpendicular platina do microscpio. Os gros com esta
orientao mostram cores de interferncia baixas a intermdias (seco XY na Figura 66a). Se o
ngulo 2V for inferior a 50 ou 60, os meltopos, correspondentes aos pontos de emergncia dos
eixos pticos, so observados. A figura de interferncia constituda por isogiras, que mudam de
forma medida que a platina rodada, sobrepostas num padro de isocromticas.
As isocromticas formam um padro oval, ou em oito, em torno dos meltopos (Fig. 82).
Apenas a luz com a direco dos eixos pticos experimenta atraso igual a zero. A birrefringncia
aumenta para trajectrias inclinadas em relao aos eixos pticos, de forma que o atraso aumenta
com o afastamento relativamente aos meltopos, formando padres ovais. Os minerais espessos
ou com maior birrefringncia apresentam mais isocromticas do que os mais finos e com menor
birrefringncia. O padro das isocromticas permanece fixo, relativamente aos meltopos, com a
rotao da platina.
A forma das isogiras muda durante a rotao da platina. As direces de vibrao na
figura podem ser derivadas de forma idntica das figuras uniaxiais. A Figura 83 mostra a
indicatriz de um mineral biaxial negativo. Notar que, se o ngulo ptico (2V) se aproxima de
93
zero, a indicatriz e as direces de vibrao assemelham-se s de um mineral uniaxial negativo.
Na Figura 83b as direces de vibrao da luz so projectadas na superfcie do mineral e na
figura de interferncia.
Se o plano ptico estiver orientado E-W (Fig. 83c) as isogiras, definidas por reas da
figura com direces de vibrao E-W e N-S, formam uma cruz com o brao perpendicular ao
trao do plano ptico mais largo. A posio dos meltopos marcada pelo estreitar das isogiras.
Se o plano ptico for rodado as isogiras dividem-se em dois segmentos que parecem girar
em torno das posies dos meltopos (Fig. 83d). Quando o trao do plano ptico est a 45 as
isogiras formam arcos hiperblicos cujos vrtices so os meltopos (Fig. 83e). As isogiras so
mais estreitas nos meltopos e alargam-se no sentido do limite do campo.
Figura de eixo ptico
Uma figura de interferncia de eixo ptico produzida quando um dos eixos vertical.
Os gros com esta orientao apresentam atraso mnimo ou zero. O meltopo correspondente ao
eixo ptico est centrado no campo. O outro meltopo pode observar-se no campo se 2V for
inferior a 30. Se o 2V for pequeno a figura de interferncia parece uma figura de bissectriz
aguda descentrada (Fig. 84a).
Se o 2V superior a 60 a figura de interferncia tem o aspecto mostrado na Figura 84b.
Quando o plano ptico est orientado N-S ou E-W apenas se observa um brao da isogira. Se a
platina for rodada no sentido dos ponteiros do relgio, a isogira gira em torno do meltopo no
sentido contrrio ao dos ponteiros do relgio e vice-versa. Quando o trao do plano ptico est a
45, a isogira mostra curvatura mxima. A bissectriz aguda posiciona-se do lado convexo da
isogira.
Figura de bissectriz obtusa
Figuras de interferncia de bissectriz obtusa (Fig. 85) so produzidas quando a
bissectriz obtusa perpendicular platina do microscpio. Os gros com esta orientao
apresentam atraso intermdio. Porque o ngulo entre Bxo e os eixos pticos deve ser superior a
45 os meltopos estaro fora do campo. O padro de isocromticas e a geometria das direces
de vibrao so essencialmente os mesmos da figura de bissectriz aguda. As isogiras formam
uma cruz se o plano ptico tem orientao E-W ou N-S. Uma rotao de 5 a 15 da platina
suficiente para as isogiras deixarem o campo. Para um 2V igual a 90 as figuras de bissectriz
aguda e obtusa so muito similares. Se 2V for pequeno a figura de bissectriz obtusa ser muito
semelhante a uma figura flash.
94


Figura 80. Determinao do sinal ptico em minerais uniaxiais (NESSE, 2000). A letra A
indica que os atrasos se adicionam e a letra S indica que os atrasos se subtraem (ver Fig. 76). (a)
Sinal ptico positivo. (b) Sinal ptico negativo.





Figura 81. Figura de interferncia biaxial da bissectriz aguda (NESSE, 2000). Os meltopos M
marcam os pontos de emergncia dos eixos pticos e a bissectriz aguda (Bxa) o ponto central
do campo. As isocromticas formam um padro oval ou em oito centrado nos meltopos.(a) As
isogiras formam uma cruz quando o trao do plano ptico est tem direco E-W. (b) Plano
ptico rodado 45. Com a rotao da platina as isogiras dividem-se em dois segmentos em forma
de arco, centrados nos meltopos.

A
A
S
S
S
S
A
A
isocromticas
isogra
Plano
ptico
Plano
ptico


95

Figura 82. Formao de isocromticas em minerais biaxiais (NESSE, 2000). A luz que segue a
trajectria dos eixos pticos emerge nos meltopos (M) com atraso zero. As isocromticas
formam-se, na figura de interferncia, ao longo de bandas de igual atraso. A luz mais inclinada
em relao ao eixo ptico desenvolve maior atraso e a luz menos inclinada em relao ao eixo
ptico desenvolve menor atraso.


Figura 83. Formao de isogiras (NESSE, 2000). (a) Direces de vibrao projectadas na
indicatriz biaxial. (b) Direces de vibrao projectadas na superfcie do mineral e na figura de
interferncia. As isogiras so reas de extino. (c) Plano ptico (OP) orientado E-W. (d)
Diviso das isogiras em dois segmentos devido rotao da platina. (e) Plano ptico (OP)
orientado NE-SW. As isogiras so hiprboles centradas nos meltopos.

Plano
ptico
Normal ao plano
ptico
EO
EO
NPO
PO
PO
PO
NPO
NPO
EO
EO
96
Figura flash
Uma figura flash produzida quando os eixos pticos e a bissectriz aguda so
paralelos platina do microscpio. As seces que produzem esta figura so seces principais
XZ (ver Figura 66a) e, por isso, apresentam cores de interferncia mximas. O padro das
direces de vibrao na figura quase rectlineo (Fig. 86a), sendo muito semelhante figura
flash dos minerais uniaxiais (ver Figura 79). Quando os eixos X e Z da indicatriz esto
orientados segundo as direces N-S e E-W o campo fica ocupado por uma cruz larga. Se a
platina for rodada alguns graus (Fig. 86b) as isogiras dividem-se em dois segmentos curvos que
saem do campo nos quadrantes em direco aos quais a bissectriz aguda est a ser rodada. Nos
minerais com 2V prximo de 90 as isogiras em forma de cruz difusa simplesmente se
desvanecem quando a platina rodada. A quantidade de rotao requerida para que as isogiras
abandonem completamente o campo inferior a 5.



Figura 84. Figuras de interferncia de eixo ptico (NESSE, 2000). (a) O ngulo 2V inferior a
30. Os dois meltopos esto no campo e a figura de interferncia assemelha-se a uma figura de
bissectriz aguda descentrada. (b) ngulo 2V maior. O segundo meltopo est fora do campo. Na
figura da esquerda mostra-se a orientao da indicatriz e as direces de vibrao na figura de
interferncia, com o plano ptico orientado E-W. Na figura da direita mostra-se o movimento
das isogiras quando a platina rodada no sentido contrrio ao do movimento dos ponteiros do
relgio. Notar que as isogiras giram no sentido oposto ao do movimento da platina.

Plano
ptico
Plano
ptico
Plano
ptico
EO
PO
EO
PO
PO
97
Figura descentrada
Os gros com orientaes aleatrias apresentam figuras de interferncia descentradas.
Na Figura 87 mostra-se uma figura descentrada tpica. medida que a platina rodada o padro
de isocromticas gira em torno do meltopo e as isogiras varrem o campo numa direco oblqua
aos fios do retculo (comparar com a Figura 78). A terminao mais larga da isogira move-se
mais rapidamente do que a terminao mais estreita e o sentido de rotao da isogira contrrio
ao da platina do microscpio.
Determinao do sinal ptico
A determinao do sinal ptico efectuada com figuras de bissectriz aguda ou de eixo
ptico. Embora as figuras de eixo ptico sejam fceis de obter, o processo de determinao do
sinal ptico facilmente ilustrado usando uma figura de bissectriz aguda com 2V pequeno.
Dos dois raios de luz que se propagam ao longo da bissectriz aguda e emergem no centro
da figura de bissectriz aguda um vibra paralelamente ao eixo Y e o seu ndice de refraco n

.
O outro vibra paralelamente bissectriz obtusa (Bxo) segundo o trao do plano ptico e o ndice
de refraco n
Bxo
. Se o mineral tem sinal ptico positivo Bxo coincide com o eixo X e n
Bxo
=n

.
Se o mineral tem sinal ptico negativo Bxo coincide com o eixo Z e n
Bxo
=n

. A determinao do
sinal ptico consiste em pesquisar qual dos raios (lento ou rpido) vibra paralelamente ao trao
do plano ptico no centro do campo. Se for o raio rpido o mineral tem sinal ptico positivo e se
for o raio lento o mineral tem sinal ptico negativo. Quando introduzimos o compensador
(direco de vibrao do raio lento NE-SW) e a cor de interferncia entre os meltopos decresce
(subtraco de atrasos) o raio que vibra paralelamente a Bxo o raio rpido, com ndice n

, e o
mineral biaxial positivo (Fig. 88a). Se a cor de interferncia entre os meltopos aumenta
(adio de atrasos) o raio que vibra paralelamente a Bxo o raio lento, com ndice n

, e o mineral
biaxial negativo (Fig. 88b). As cores de interferncia do lado cncavo das isogiras mudam de
forma contrria s cores entre os meltopos.
Numa figura de interferncia de eixo ptico comea-se por alinhar a isogira
paralelamente ao fio N-S ou E-W do retculo. Roda-se a platina de forma a colocar o trao do
plano ptico segundo a direco NE-SW, com a parte convexa da isogira apontando para NE.
Desta forma, Bxa localiza-se no quadrante NE. (Fig. 89). Esta figura pode ser interpretada como
a metade SW da figura de bissectriz aguda (Fig. 88). Se 2V est prximo dos 90 a isogira
quase recta e no possvel determinar a posio de Bxa.
98


Figura 85. Figura de interferncia de bissectriz obtusa (NESSE, 2000). (a) Direces de
vibrao na figura de interferncia. (b) Com o plano ptico (PO) orientado na direco E-W as
isogiras formam uma cruz larga. Os meltopos esto fora do campo. Comparar com a figura de
bissectriz aguda da Figura 81. (c) A rotao da platina de um ngulo inferior a 15 faz com que
as isogiras abandonem o campo do microscpio. O padro de isocromticas similar ao da
figura de bissectriz aguda. (d) Com o plano ptico (PO) a 45 s se observam as isocromticas.

PO
PO
PO
EO
EO
99

Figura 86. Figura flash (NESSE, 2000). A normal ao plano ptico (NPO) emerge no centro
da figura. (a) Com Bxa E-W e Bxo N-S o campo ocupado por uma cruz larga. Apenas os
cantos nas direces NW-SE e NE-SW dos quatro quadrantes no esto extintos. (b) As isogiras
dividem-se e saem do campo quando rodamos a platina alguns graus. As isogiras saem dos
quadrantes para os quais o trao de Bxa est a ser rodado. (c) Quando os traos de Bxa e Bxo
esto a 45 as isogiras no se observam.



NPO
NPO
NPO
NPO
EO
EO
100

Figura 87. Figura de interferncia biaxial descentrada em gro de mineral com uma orientao
qualquer. Conforme a platina rodada as isogiras deslizam no campo, mas no so paralelas aos
fios do retculo (NESSE, 2000).


Figura 88. Determinao do sinal ptico numa figura de interferncia de bissectriz aguda
(NESSE, 2000). O trao do plano ptico est orientado NE-SW. No centro do campo o raio Y
vibra na direco NW-SE e tem ndice n

. (a) Mineral biaxial positivo. (b) Mineral biaxial

negativo.
A
S
A
A
S
S S
A
EO
EO
101


Figura 89. Determinao do sinal ptico numa figura de interferncia de eixo ptico (NESSE,
2000). O trao do plano ptico paralelo direco de vibrao do raio lento no compensador.
Subtraco de atrasos (S) do lado convexo da isogira nos minerais opticamente positivos e
adio de atrasos (A) do lado convexo da isogira nos minerais opticamente negativos.


5. QUMICA DOS MINERAIS

5.1. Abundncia dos elementos qumicos na crusta
As investigaes geofsicas indicam que a Terra se divide em crusta, manto e ncleo. A
crusta tem, aproximadamente, 36km de espessura nos continentes e 10 a 13km nos oceanos.
Clarke e Washington (1924) estimaram que os 10 km superiores da crusta so constitudos por
95% de rochas gneas (ou seus equivalentes metamrficos), 4% de lutitos, 0,75% de arenitos e
0,25% de calcrios. A composio mdia das rochas gneas aproximar-se-ia, ento, da
composio mdia da crusta. Estes autores calcularam, assim, a composio mdia da crusta com
base em 5159 anlises de rochas gneas, provenientes de vrios locais do mundo, mas,
principalmente, da Europa e da Amrica do Norte. Dos 89 elementos que ocorrem na natureza
apenas oito esto presentes em quantidades significativas na crusta: O, Si, Al, Fe, Ca, Na, K e
Mg (Fig. 90 e Tabela 11). Estes so os elementos constituintes da maioria dos minerais.

Plano
ptico
Plano
ptico
S
S
A
A
102

Figura 90. Os oito elementos mais abundantes na crusta terrestre (KLEIN & HURLBUT, 1999).


Tabela 11. Os oito elementos mais abundantes na crusta terrestre
(KLEIN & HURLBUT, 1999).

Elemento
Percentagem
peso
Percentagem
de tomos
Percentagem
volume
O 46,60 62,55 ~94%
Si 27,72 21,22
Al 8,13 6,47
Fe 5,00 1,92
Ca 3,63 1,94 ~6%
Na 2,83 2,64
K 2,59 1,42
Mg 2,09 1,84
Total 98,59 100,00


5.2. Ligaes qumicas
O tipo e intensidade das ligaes qumicas so responsveis pelas propriedades fsicas e
qumicas dos minerais. Em geral, quanto mais forte for a ligao qumica mais duro o cristal,
mais elevado o ponto de fuso e menor o coeficiente de expanso termal.
Percentagem peso
Oxignio
Silcio
103
As ligaes qumicas podem agrupar-se em duas categorias: ligaes que envolvem
electres de valncia (inicas, covalentes e metlicas) e ligaes que no envolvem os electres
de valncia (van der Waals e de hidrognio).
Todos os 89 elementos que ocorrem na natureza, excepto os gases nobres (He, Ne, Ar,
Kr, Xe e Rn), formam ligaes qumicas uns com os outros, sejam entre o mesmo elemento ou
entre elementos diferentes. A caracterstica comum aos gases nobres que explica este
comportamento a presena de orbitais externas completamente preenchidas por electres,
faltando, portanto, electres de valncia. A falta de reactividade qumica sugere que a
configurao electrnica apresentada pelos gases nobres uma configurao de baixa energia ou
estvel. Os outros elementos tendem a adquirir uma configurao electrnica mais estvel,
idntica dos gases nobres, ganhando, perdendo ou partilhando electres de valncia.
Ligaes inicas
Uma ligao inica (Fig. 91) ocorre quando um ou mais electres nas camadas de
valncia de um tomo so transferidos para a camada de valncia de outro tomo, de forma que
ambos alcanam a configurao de um gs inerte. O tomo de Na, por exemplo, tem um electro
de valncia. Se perder esse electro adquire a configurao estvel do non e uma carga +1
Na - e
-
= Na
+
= Ne.
O Cl, por outro lado, necessita de adquirir um electro para ter a configurao do rgon
Cl + e
-
= Cl
-
= Ar.
O electro perdido pelo Na capturado pelo Cl. Na
+
e Cl
-
atraem-se mutuamente devido s
cargas opostas. Uma ligao inica pode ser definida como a atraco entre ies de cargas
opostas. Estas ligaes so o resultado da troca de electres entre um tomo de um metal
(formando um catio) e um tomo de um no metal (formando um anio).
As propriedades caractersticas da halite (NaCl), como hbito cbico, clivagem, peso
especfico, ndice de refraco, etc., no tm qualquer semelhana com as do metal Na ou do gs
Cl
2
.
Os cristais com ligaes inicas tm dureza e peso especfico moderados, pontos de fuso
razoavelmente elevados e so maus condutores de electricidade e de calor. So maus condutores
elctricos devido estabilidade dos ies que no ganham nem perdem electres com facilidade.
Ligaes covalentes
Vimos que os ies de cloro podem constituir unidades estveis em cristais com ligaes
inicas porque a sua orbital externa fica preenchida adquirindo um electro de um metal, como o
Na. Um tomo isolado de cloro com uma orbital de valncia incompleta pode combinar-se com
104
um outro tomo de cloro, de forma que os dois electres de valncia, um de cada tomo,
completam as orbitais de ambos os tomos e ambos adquirem a configurao de gs inerte.
As ligaes covalentes so ligaes qumicas que resultam da partilha de electres
entre tomos (Fig. 91). Ocorrem quando as orbitais de dois tomos se sobrepem. O par de
electres das orbitais sobrepostas move-se em torno dos dois tomos. A intensidade das ligaes
covalentes funo do grau de sobreposio das orbitais de tomos adjacentes. No diamante o
alto grau de sobreposio produz ligaes covalentes muito fortes, que se reflectem na dureza.
As ligaes covalentes constituem o tipo de ligao qumica mais forte. Os minerais com
ligaes covalentes so caracterizados por pontos de fuso elevados, grande estabilidade,
insolubilidade e no so condutores de electricidade, tanto no estado slido com em soluo.
Porque as foras elctricas que constituem a ligao esto localizadas na vizinhana dos
electres partilhados, a ligao altamente direccional e a simetria dos cristais com ligaes
covalentes inferior dos cristais com ligaes inicas.
Ligaes metlicas
As ligaes metlicas (Fig. 91) podem ser consideradas como um tipo de ligao
covalente nas quais os electres de valncia so livres para se moverem de tomo para tomo,
atravs de toda a estrutura cristalina. As unidades estruturais dos metais so ncleos esfricos,
carregados positivamente, ligados por uma nuvem de electres de valncia que circundam os
ncleos. Muitos dos electres no tm afinidade com qualquer ncleo particular e so livres para
se moverem na estrutura, ou mesmo fora dela.
Este tipo de ligao responsvel pela elevada plasticidade, tenacidade, ductilidade,
condutibilidade e baixa dureza dos metais. S os metais nativos apresentam ligaes metlicas
puras.
Ligaes de van der Waals
As ligaes de van der Waals so as ligaes qumicas mais fracas, mas mantm ligadas
molculas neutras, numa estrutura coesa, devido a pequenas cargas residuais nas superfcies (Fig.
92).
Nos minerais define, normalmente, uma zona de clivagem fcil e baixa dureza. A grafite,
talco e o enxofre cristalino so exemplos de minerais com ligaes de van der Waals. No
enxofre, este tipo de ligao qumica responsvel pela baixa dureza (1,5 a 2,5) e baixo ponto de
fuso (112,8C).

105

Figura 91. Representao esquemtica das ligaes inica (electres localizados em torno dos
tomos individuais), covalente (electres partilhados por dois tomos) e metlica (electres
partilhados por toda estrutura) (PERKINS, 1998).




Figura 92. Ligaes de van der Waals na grafite. (a) Lminas de tomos de carbono ligados por
ligaes covalentes (NESSE, 2000). Polarizao das lminas de carbono devido concentrao
de electres num dos lados dos tomos, originando um efeito dipolar. As ligaes de van der
Waals so produzidas por atraco electrosttica fraca entre cargas opostas na superfcie de
lminas adjacentes. (b) Esquema, em perspectiva, da estrutura da grafite (KLEIN & HURLBUT,
1999). Notar o espaamento relativamente largo (3,35) entre as camadas.



inica
covalente
metlica
(a) (b)
Ligaes de van
der Waals
106
Ligaes de hidrognio
Molculas polares podem formar estruturas cristalinas devido atraco entre as
terminaes das molculas com carga oposta (Fig. 93). Na molcula de H
2
O as ligaes entre os
dois tomos de H e o tomo de O so covalentes. Porque o oxignio mais electronegativo a
molcula resultante polar positiva prximo dos dois ncleos de hidrognio e negativa nos
dois ns opostos do oxignio. As cargas negativas e positivas concentram-se nos vrtices de um
tetraedro (Fig. 93a). Se as temperaturas forem suficientemente baixas (<0C), atraces
electrostticas fracas entre as molculas polares podem mant-las unidas, como acontece no gelo.
As ligaes de hidrognio so comuns em alguns hidrxidos, nos quais o grupo (OH)
-

no se comporta estritamente como um grupo aninico esfrico, mas mais realisticamente
representado por uma coordenao assimtrica, que produz um efeito dipolar. Esto tambm
presentes em muitos silicatos lamelares, como as micas e minerais de argila, que contm o grupo
hidrxilo.

Na Tabela 12 esto sumariadas as propriedades conferidas pelos principais tipos de
ligaes.

5.3. Regras de Pauling
Uma das aproximaes mais teis para compreender a estrutura de muitos minerais
baseada no pressuposto de que os caties e anies constituem esferas de diferentes dimenses.
Na maioria dos minerais, nos quais o oxignio o anio, as ligaes so predominantemente
inicas. Os silicatos so os melhores exemplos. As ligaes entre o oxignio e o silcio tm um
carcter meio inico e as ligaes entre o oxignio e os caties comuns (Al, Fe, Mg, Ca, Na, K)
so ainda mais inicas. Por isso, o pressuposto do carcter inico razovel.
Porque as ligaes inicas no so direccionais, tambm razovel, numa primeira
aproximao, olhar para a forma como os caties e anies se ligam em termos puramente
geomtricos, deixando para trs as complexidades relativas ao alinhamento das orbitais em
orientaes especficas, requeridas para as ligaes covalentes. Baseados nestes pressupostos,
um conjunto de cinco regras, conhecidas por Regras de Pauling, foram enunciadas, em 1929,
por Linus Pauling:
REGRA 1 Princpio da coordenao: em torno de cada catio forma-se um poliedro de
coordenao (grupo de anies), sendo a distncia catio-anio determinada pela soma dos
raios e o nmero de coordenao pela razo dos raios inicos. O poliedro limitado por
linhas que ligam pares de pontos, representando cada ponto o centro do anio. O nmero total de
107
anies que constitui o poliedro de coordenao denomina-se nmero de coordenao. O
nmero de coordenao e, por consequncia, o poliedro de coordenao, est dependente da
razo dos raios inicos, tendo importncia primordial o raio menor que determina a configurao
do poliedro de coordenao. Os poliedros de coordenao regulares so o cubo, octaedro,
tetraedro, tringulo e linha, com nmeros de coordenao (N.C.) 8, 6, 4, 3 e 2, respectivamente.
Pode deduzir-se a razo limite dos raios inicos para as diferentes coordenaes (Fig. 94). Os
caties maiores so capazes de coordenar um maior nmero de anies relativamente aos
menores. Uma forma conveniente de exprimir a dimenso relativa do catio e anio pela razo
dos raios (RR):
RR = R
c
/R
a

onde R
c
o raio do catio e R
a
o raio do anio. O nmero mximo de anies que coordenam
um catio limitado pela necessidade de manter o contacto entre o catio e os anies
circundantes. As relaes dos raios inicos para os poliedros de coordenao regulares esto
indicadas nas Figuras 94 e 95.

Tabela 12. Resumo das propriedades conferidas pelos principais tipos de ligaes qumicas.
Propriedades Ligao inica
Ligao
covalente
Ligao metlica
Ligao de van
der Waals
Intensidade da
ligao
Forte Muito forte
Intensidade varivel,
geralmente moderada
Fraca
Mecnicas
Dureza moderada a
elevada, dependendo
da distncia inter-
inica e carga;
quebradios ou
frgeis
Dureza elevada;
quebradios ou
frgeis
Dureza baixa a
moderada;
plasticidade elevada;
sctil, dctil,
malevel
Cristais brandos e
plsticos
Elctricas
Maus condutores no
estado slido; quando
fundidos ou em
soluo so
condutores
Isoladores no estado
slido e quando
fundidos
Bons condutores
Isoladores, tanto no
estado slido como
no lquido.
Termais
Ponto de fuso
moderado a elevado
dependendo da
distncia inter-inica
e carga; baixo
coeficiente de
expanso termal
Ponto de fuso
elevado; baixo
coeficiente de
expanso termal
Ponto de fuso e
coeficiente de
expanso termal
variveis
Ponto de fuso baixo;
coeficiente de
expanso termal alto
Solubilidade
Solvel em solventes
polares dando
solues com ies
Solubilidade baixa
Insolvel, excepto em
cidos e alclis por
reaco qumica
Solvel em solventes
orgnicos dando
solues
Estrutura
Estruturas de elevada
coordenao e
simetria
Estruturas de baixa
coordenao e
simetria
Estruturas de elevada
coordenao e
simetria
Baixa simetria
Exemplos
Halite (NaCl);
Fluorite (CaF
2
)
Diamante (C);
Blenda (ZnS); grafite
(C)
Cobre (Cu); Prata
(Ag); Ouro (Au)
Enxofre (S); grafite
(C)
108

Figura 93. Ligaes de hidrognio (NESSE, 2000). (a) Molcula H
2
O polar; ligaes
covalentes entre H e O; H constitui um ncleo carregado positivamente; a distribuio da carga
tetradrica. (b) Cada n negativo na molcula atrai um n positivo (tomo de H) na molcula de
H
2
O adjacente para formar ligaes de hidrognio.



Figura 94. Poliedros de coordenao (KLEIN & HURLBUT, 1999). (a) Coordenao cbica de
8 anies A em torno do catio C. (b) Condio limite para a coordenao cbica (R
c
:R
a
>0,732).
(c) Coordenao octadrica de 6 anies A em torno do catio C. (d) Condio limite para a
coordenao octadrica (R
c
:R
a
=0,732-0.414).
109


Figura 94.(continuao) (e) Coordenao tetradrica de 4 anies A em torno do catio C. (f)
Condio limite para a coordenao tetradrica (R
c
:R
a
=0,414-0,255). (g) Coordenao triangular
de 3 anies A em torno do catio C. (h) Condio limite para a coordenao triangular
(R
c
:R
a
=0,225-0,155) (i) Coordenao linear de 2 anies A em torno do catio C (R
c
:R
a
<0,155).



G o centro do catio
localizado no centro do
tetraedro Tringulo da base
Tringulo vertical CAF
CG =
3
/
4
CF porque o centro do tetraedro G
est a da base;
CG = +x

110


R
c
:R
a
N.C. Coordenao Poliedros de coordenao





































Figura 95. Poliedros de coordenao, nmero de coordenao (N.C.) e valores limites das
razes dos raios para as diferentes coordenaes (KLEIN & HURLBUT, 1999).


Linear
Triangular
Tetradrica
Octadrica
Cbica
Cuboctadrica
(empacotamento
compacto)
111
O nmero de coordenao funo da dimenso relativa dos ies coordenados. Mas, o
tamanho efectivo de um io no constante, depende do nmero total de ies que o circundam,
ou seja, do nmero de coordenao, da maior ou menor facilidade do io em se polarizar e do
tipo de ligao envolvida. Por estas razes no realista ver os ies e os tomos como esferas
rgidas e raios constantes. Contudo, a dimenso mdia dos ies til na previso das distncias
inter-atmicas aproximadas em estruturas desconhecidas. Alm disso, a relao dos raios pode
ser usada, com algum sucesso, para prever o nmero de anies que circundam cada catio.
Na halite (NaCl), por exemplo, cada io Na
+
tem seis ies Cl a circund-lo. Diz-se que a
coordenao octadrica e N.C. igual a 6 (Fig. 96a). Sendo o raio do catio Na
+
, para N.C.
igual a 6, igual a 1,02 e o raio do anio Cl, tambm para N.C. igual a 6, igual a 1,81 , a
relao
R
Na
+
: R
Cl
-
= 1,02/1,81 = 0,56 coordenao octadrica
Na fluorite (CaF
2
) cada io Ca
2+
est no centro de um poliedro de coordenao
constitudo por oito ies F (Fig. 96b). O poliedro de coordenao um cubo e os valores dos
raios inicas so:
R
Ca
2+
= 1,12 (N.C. 8) R
F
-
= 1,31 (N.C. 4)
R
Ca
2+

: R
F
-
= 1,12/1,31 = 0,86 coordenao cbica
Os anies tambm podem ocupar o centro dos poliedros de coordenao formados por
caties. No NaCl cada io Cl coordenado por 6 ies Na
+
. Porque o sdio e o cloro tm ambos
coordenao 6, na frmula temos igual nmero de tomos de Na e de Cl. Por outro lado, na
estrutura da fluorite cada io F

est circundado por 4 ies Ca

2+
que ocupam os vrtices de um
tetraedro. Porque os nmeros de coordenao so diferentes para o Ca
2+
e F, 8 e 4,
respectivamente, h duas vezes mais flor, relativamente ao clcio, na estrutura e frmula da
fluorite.
Na fluorite apenas metade das posies possveis para o clcio esto preenchidas devido a
uma importante restrio da estrutura cristalina que podemos enunciar da seguinte forma: o
nmero total de ies de todos os tipos numa estrutura cristalina inica estvel deve ser tal
que o cristal como um todo electricamente neutro.
Quando os ies que coordenam ou so coordenados so do mesmo tamanho a razo dos
raios igual a um. A trs dimenses os ies podem estar dispostos de duas formas designadas
por empacotamento compacto hexagonal e empacotamento compacto cbico (Fig. 95).
Em muitos minerais os caties podem estar coordenados por 5, 7, 9, 10 ou 11 anies O
2-
.
Por outro lado, comum verificar-se distoro da geometria ideal descrita para os poliedros de
coordenao 3, 4, 6, 8 e 12. As razes pelas quais os minerais podem ter estruturas com
112
poliedros de coordenao no regulares esto relacionadas com o facto de as ligaes qumicas
terem carcter substancialmente covalente e, por isso, so direccionais, e com os requisitos de
acomodao da geometria dos grupos aninicos como CO
3
2-
, SO
4
2-
e SiO
4
4-
.
REGRA 2 Princpio da valncia electrosttica: numa estrutura inica estvel a fora total
das ligaes de valncia de um anio aos caties vizinhos, num poliedro de coordenao,
igual carga do anio. Definimos valncia electrosttica (v.e.) como a razo entre a carga do
io (z) e o nmero de coordenao (n): v.e. = z/n. O nmero resultante, designado por valncia
electrosttica, uma medida da fora de qualquer ligao entre o io coordenador e os ies
circundantes. Por exemplo, na halite o io Cl est rodeado por 6 ies Na
+
e cada uma das
ligaes tem uma valncia electrosttica (v.e.) igual a 1/6. Isto significa que as 6 ligaes entre o
catio central e os 6 anies Cl neutralizam a carga do catio Na
+
(Fig. 97a). Simplificando,
podemos dizer que cada tomo de Na cede um electro que se divide por 6 tomos de Cl. Como
cada tomo de Cl tem seis tomos de Na sua volta recebe um electro. As Figuras 97b e c do
alguns exemplos das valncias electrostticas noutros poliedros de coordenao.
REGRA 3 Partilha de elementos no poliedro I: os poliedros de coordenao numa
estrutura tm tendncia a no compartilhar arestas e faces, pois a sua estabilidade diminui.
A existncia de arestas ou faces partilhadas por dois poliedros decresce a sua estabilidade (Fig.
98). Este efeito maior para caties com valncia elevada e nmero de coordenao pequeno e
especialmente grande quando a relao entre os raios se aproxima do limite inferior de
estabilidade do poliedro. Se poliedros adjacentes partilham apenas um anio, ou seja, tm um
vrtice em comum, os caties, carregados positivamente, so mantidos a uma distncia
suficientemente grande para impedir que sofram repulso mtua.
REGRA 4 Partilha de elementos no poliedro II: num cristal com diferentes caties, os
caties com maior valncia e menor nmero de coordenao tendem a no partilhar
elementos polidricos. Em estruturas com caties de cargas diferentes os caties com cargas
maiores no so colocados em poliedros adjacentes. As estruturas so conseguidas de forma a
manter afastados, tanto quanto possvel, os caties com carga mais elevada. Caties pequenos
com carga elevada, tal como C
4+
, S
6+
e P
5+
, formam grupos aninicos com nmero de
coordenao baixo (CO
3
2-
, SO
4
4-
, PO
4
4-
) nos quais mais de metade da carga aninica est
ocupada. Isto significa que os anies nestes grupos podem ligar-se apenas a caties com cargas
pequenas que ocupam posies com nmeros de coordenao mais elevados.
REGRA 5 Princpio da parcimnia: o nmero de tipos de tomos estruturalmente
diferentes, numa estrutura especfica, tende a ser pequeno. Os caties dispem-se,
normalmente, em no mais do que quatro tipos diferentes de poliedros de coordenao. A sua
113
localizao nos poliedros baseada no tamanho e na carga. Nas frmulas qumicas a relao
entre o nmero de caties e anies um inteiro pequeno.


Figura 96. Visualizao dos poliedros de coordenao na estrutura de dois minerais (KLEIN &
HURLBUT, 1999). (a) Estrutura da halite (NaCl) com os ies dispostos numa malha cbica de
faces centradas. Tanto Na
+
como F tm coordenao octadrica. (b) Estrutura da fluorite
(CaF
2
) com os ies dispostos numa malha cbica de faces centradas. F est coordenado por 4
ies Ca
2+
(coordenao tetradrica) e Ca
2+
est coordenado por 8 ies F (coordenao
cbica).





Figura 97. Neutralizao do io central pelas ligaes aos ies vizinhos. Cada ligao tem uma
valncia electrosttica (KLEIN & HURLBUT, 1999). (a) Coordenao octadrica na estrutura
da halite. (b) Coordenao cbica de F volta de Ca
2+
. (c) Coordenao tetradrica de Ca
2+

volta de F.
(a)
(b) (c)
114

Figura 98. (a) Tetraedros partilhando os vrtices, como normalmente observado na estrutura
de muitos cristais. A distncia catio-catio considerada igual a 1. (b) Tetraedros partilhando
arestas; estrutura rara. A distncia catio-catio reduzida de 1 para 0,58. Pode ocorrer repulso
catio-catio provocando distoro do poliedro. (c) Tetraedros partilhando faces; no ocorre
quando ambos os tetraedros esto ocupados por um catio. A distncia catio-catio reduzida
para 0,33. (d) A partilha de vrtices por dois octaedros comum. A distncia catio-catio
considerada igual a 1. (e) A partilha de arestas por dois octaedros tambm comum. A distncia
catio-catio reduzida para 0,71 (a distncia entre os caties , todavia, considervel quando
comparada com a partilha de arestas por tetraedros). (f) A partilha de faces por octaedros no
invulgar na estrutura dos cristais. A distncia catio-catio reduzida para 0,58. A partilha de
faces em octaedros possvel porque a distncia catio-catio maior nos octaedros do que nos
tetraedros. Alm disso, os caties com coordenao octadrica tendem a ter cargas menores (por
exemplo: Mg
2+
, Fe
2+
) do que os caties com coordenao tetradrica (por exemplo: Si
4+
, Al
3+
);
assim a fora de repulso entre os caties nos octaedros geralmente inferior dos caties nos
tetraedros (KLEIN & HURLBUT, 1999).

catio
anio
115
5.4. Isomorfismo
Diferentes minerais podem ter estruturas essencialmente idnticas. Assim, se dois ou
mais minerais tm estruturas cristalinas muito semelhantes, os tomos constituintes ocupam
geometricamente posies similares, as frmulas qumicas so anlogas e os tamanhos relativos
dos caties e anies so, tambm, semelhantes dizem-se isomorfos e o fenmeno designado
por isomorfismo. A halite (NaCl) e a galena (PbS), por exemplo, so isomorfas porque o arranjo
de Pb e S na galena idntico ao arranjo de Na e Cl na halite. Os minerais so diferentes em
muitas propriedades fsicas e qumicas, mas o seu isomorfismo reflecte-se numa simetria
idntica, clivagem perfeita em 3 direces perpendiculares e forma cbica dos cristais.
Os carbonatos ilustram bem o fenmeno do isomorfismo (Tabela 13). Os minerais esto
estruturalmente e quimicamente relacionados, tendo um grupo aninico comum. Num grupo
isomorfo os minerais esto relacionados uns com os outros pela estrutura anloga, geralmente
tendo um anio ou grupo aninico comum e frequentemente apresentam substituies inicas
extensas. O grupo da barite, calcite e aragonite so exemplos de grupos isomorfos.

Tabela 13. Grupo isomorfo da aragonite (sistema ortorrmbico).

Mineral
Composio
qumica
Raio do catio
()
Dimenses da clula
unitria
a b c
Peso especfico
ngulo de
clivagem
1 1 0^11 0
Aragonite CaCO
3
Ca
2+
1,18 4,96 7,97 5,74 2,94 6348
Estroncianite SrCO
3
Sr
2+
1,45 5,11 8,41 6,03 3,78 6241
Cerussite PbCO
3
Pb
2+
1,49 5,19 8,44 6,15 6,58 6246
Viterite BaCO
3
Ba
2+
1,47 5,31 8,90 6,43 4,31 6212


5.5. Polimorfismo
A capacidade de uma substncia qumica especfica cristalizar em mais do que um tipo de
estrutura cristalina, funo de modificaes da temperatura, presso ou ambas, conhecida como
polimorfismo. As estruturas cristalinas distintas destes compostos, ou elementos qumicos, so
conhecidas por formas polimorfas, ou polimorfos. Na Tabela 14 apresentam-se alguns exemplos
de minerais polimorfos.




116
Tabela 14. Exemplos de minerais polimorfos (modificado de NESSE, 2000).

Composio Mineral
Sistema
cristalogrfico
Dureza
Peso
especfico
C Diamante Cbico 10 3,52
Grafite Hexagonal 1 2,23
FeS
2
Pirite Cbico 6 5,02
Marcassite Ortorrmbico 6 4,89
CaCO
3
Calcite Rombodrico 3 2,71
Aragonite Ortorrmbico 3 2,94
SiO
2
Quartzo baixo () Hexagonal 7 2,65
Quartzo alto () Hexagonal 2,53
Tridimite baixa () Mono./Orto. 2,26
Tridimite alta () Hexagonal 7 2,20
Cristobalite baixa () Tetragonal 2,32
Cristobalite alta () Cbico 6 2,20
Coesite Monoclnico 7 3,01
Stishovite Tetragonal 4,30
Al
2
SiO
5
Andaluzite Ortorrmbico 7 3,16-3,20
Silimanite Ortorrmbico 6-7 3,23
Distena Triclnico 5-7 3,55-3,66
KAlSi
3
O
8
Sanidina Monoclnico 6 2,56-2,62
Ortoclase Monoclnico 6 2,57
Microclina Triclnico 6 2,54-2,57


Os mecanismos pelos quais um polimorfo muda para outro so designados por:
polimorfismo reconstrutivo, polimorfismo deslocativo e polimorfismo ordem-desordem.
Polimorfismo reconstrutivo
Uma reaco de polimorfismo reconstrutivo envolve rotura das ligaes atmicas e um
novo arranjo das unidades estruturais (Fig. 99). Este tipo de transformao requer grande
quantidade de energia e lento. Um exemplo de uma reaco de polimorfismo reconstrutivo a
transformao da tridimite ou cristobalite em quartzo baixo. A cristobalite e tridimite formam-se
a altas temperaturas e presses relativamente baixas (Fig. 100), tal como em fluxos de lava ricos
em SiO
2
. Na Tabela 14 so apresentados os valores do peso especfico para ambas as formas
117
(2,20); estes so os valores mais baixos para qualquer dos polimorfos listados. Uma energia de
activao alta necessria para transformar a estrutura da cristobalite (ou tridimite) na estrutura
do quartzo baixo. A cristobalite e a tridimite so metastveis em condies atmosfricas, isto ,
persistem em condies fora do seu campo de estabilidade, sendo abundantes em muitos fluxos
vulcnicos terrestres antigos e em lavas lunares do Precmbrico. A persistncia destes minerais
testifica o facto de ser necessria uma energia de activao elevada para activar uma
transformao reconstrutiva. A coesite e a stishovite so formas de SiO
2
estveis em condies
de presso alta a muito alta (Fig. 100). Estes minerais ocorrem em crateras de impacto de
meteoritos. A coesite tambm ocorre em quimberlitos, que so rochas de alta presso,
hospedeiras de diamantes, originadas na parte superior do manto. Na Tabela 14 podemos ver os
valores elevados do peso especfico destes minerais quando comparados com os outros
polimorfos. A stishovite tem um empacotamento invulgarmente denso para um silicato. Na sua
estrutura cada Si est circundado por 6 oxignios (coordenao octadrica), enquanto os outros
polimorfos de SiO
2
tm 4 oxignios a coordenar Si (coordenao tetradrica). Outros exemplos
de polimorfismo reconstrutivo so as transformaes diamantegrafite, piritemarcassite e
calcitearagonite (Fig. 101). O diamante no se converte automaticamete em grafite no
arrefecimento porque preciso muita energia para quebrar as ligaes.


Figura 99. Representao esquemtica de polimorfismo reconstrutivo (KLEIN & HURLBUT,
1999). A transformao de uma estrutura hipottica (a), constituda por poliedros de
coordenao octadrica, para a estrutura (b) requer a rotura das ligaes e um novo arranjo das
unidades octadricas.

118


Polimorfismo deslocativo
No polimorfismo deslocativo a inverso no envolve rotura das ligaes qumicas; a
diferena entre os polimorfos simplesmente a distoro ou flexo da estrutura cristalina (Fig.
102). A transformao quartzo para quartzo um bom exemplo. A uma atmosfera de presso
o quartzo (quartzo alto) estvel acima dos 573C. No arrefecimento abaixo dos 573C (ponto
de inverso) a estrutura inverte para quartzo (quartzo baixo). Cada vez que a amostra
aquecida ou arrefecida, ultrapassando o ponto de inverso, a estrutura distorcida de uma forma
para a outra.
As formas de alta temperatura tm, tipicamente, maior simetria do que os polimorfos de
baixa temperatura. A forma do polimorfo de alta temperatura ser retida na inverso atravs da
deformao interna da malha, o que se pode traduzir na formao de maclas (maclas de
transformao).

Figura 100. Relaes de estabilidade dos polimorfos de SiO
2
(KLEIN & HURLBUT, 1999).

Presso (kb)
Temperatura
(C)
Quartzo
baixo
Coesite
Stishovite
Tridimite
Quartzo alto
Cristobalite
Lquido
119
As transformaes so praticamente instantneas, temperatura de transio, e a forma
de alta temperatura no pode ser mantida a baixa temperatura.
Polimorfismo ordem-desordem
No polimorfismo ordem-desordem a estrutura do mineral permanece sensivelmente a
mesma, o que muda a distribuio dos caties na estrutura. Se dois caties, X e Y, podem
ocupar duas posies estruturais equivalentes, A
1
e A
2
, a estrutura considerada desordenada se
houver igual probabilidade de encontrar X em qualquer posio, A
1
ou A
2
. Se todos os caties X
esto localizados na posio A
1
e todos os Y na posio A
2
, a estrutura considerada
completamente ordenada.
No feldspato potssico (KAlSi
3
O
8
) os trs Si e um Al na frmula unitria so encontrados
em duas posies tetradricas T
1
e duas posies tetradricas T
2
(Fig. 103a). Numa estrutura
completamente desordenada, representada pelo polimorfo de alta temperatura (sanidina alta), a
probabilidade de encontrar Al em qualquer das quatro posies igual (Fig. 103b); 25% de cada
uma das posies est preenchida por Al e 75% por Si. Na estrutura completamente ordenada
(microclina baixa ou alta) todo o Al est posicionado apenas numa posio T
1
. A outra posio
T
1
e as duas T
2
contm Si (Fig. 103c). Isto provoca uma distoro da estrutura e reduz a simetria
de monoclnica para triclnica.
O grau de ordem em muitos minerais fortemente influenciado pela temperatura de
cristalizao e pela histria do arrefecimento. Em geral, temperaturas altas favorecem a
cristalizao com um grau de desordem maior e baixas temperaturas favorecem a ordem.
Arrefecimento lento permite a ordem, enquanto o arrefecimento rpido impede a ordem. Ento,
no surpreendente encontrar sanidina em rochas vulcnicas, que combinam altas temperaturas
e arrefecimento rpido. O feldspato potssico das rochas gneas plutnicas cristaliza inicialmente
como sanidina, mas o arrefecimento lento permite o estabelecimento de ordem. Formas
ordenadas tm simetria mais baixa que as desordenadas.

5.6. Soluo slida
A maioria dos minerais apresenta composio qumica varivel. A variao
composicional resultante da substituio, na estrutura do mineral, de um io, ou grupo inico,
por outro io ou grupo inico. Este processo conhecido por substituio inica ou soluo
slida. Um mineral constitui uma soluo slida quando na sua estrutura existem posies
atmicas especficas que esto ocupadas, em propores variveis, por dois ou mais
elementos (ou grupos) qumicos diferentes. Os factores que determinam a extenso da soluo
slida na estrutura de um cristal so:
120



Figura 101. Diagrama de estabilidade dos polimorfos de CaCO
3
.



Figura 102. Representao esquemtica do polimorfismo deslocativo (KLEIN & HURLBUT,
1999). (a) Estrutura hipottica representando a forma polimrfica de alta temperatura,
consistindo num arranjo de alta simetria. (b) Representao do polimorfo de baixa temperatura
constitudo pela mesma malha de tetraedros num arranjo com menor simetria. As duas estruturas
kinked so imagem espelho uma da outra.

Temperatura (C)
Presso
(kb)
Aragonite
Calcite

121
1. O tamanho relativo dos ies, tomos ou grupos inicos que se substituem
mutuamente; se a diferena de tamanho entre os ies (ou tomos) que se substituem
inferior a 15%, a substituio extensa; se o raio dos dois elementos que se substituem
diferem de 15 a 30% a substituio limitada ou rara; se a diferena entre os raios
superior a 30% a substituio pouco provvel;
2. As cargas dos ies envolvidos na substituio; se as cargas so idnticas, como Mg
2+
e
Fe
2+
, a estrutura permanece electricamente neutra; se as cargas so diferentes, como no
caso de Al
3+
a substituir Si
4+
, ocorrem substituies inicas adicionais, noutros pontos da
estrutura, para manter a neutralidade electrosttica;
3. A temperatura a que ocorre a substituio; a tolerncia da estrutura dos minerais
substituio atmica maior a temperaturas mais elevadas, quando a dimenso das
posies atmicas disponveis maior; assim, numa determinada estrutura espera-se uma
maior variabilidade da composio a temperaturas mais elevadas; esta propriedade do
aumento da substituio atmica com o aumento da temperatura proporciona um meio de
calcular a temperatura de formao ou de deposio do mineral termometria
geolgica; a composio do mineral pode indicar a sua temperatura de formao (ver
exemplo da blenda na Figura 104).
Os trs tipos principais de soluo slida so: soluo slida por substituio, soluo slida
intersticial e soluo slida por omisso.
Soluo slida por substituio
Os tipos mais simples de substituies inicas so substituies catio-catio ou anio-
anio. Num composto do tipo A
+
X
-
, A
+
pode ser parcialmente ou totalmente substitudo por B
+
.
Uma substituio aninica simples pode ser representada pela substituio de X
-
por Y
-
num
composto A
+
X
-

Um exemplo de uma soluo slida completa (substituio de um elemento por outro
para todos os intervalos composicionais possveis entre dois membros extremos) a olivina
(Mg,Fe)
2
SiO
4
. Mg
2+
pode ser substitudo, em parte, ou completamente, por Fe
2+
; os parnteses
indicam que Mg
2+
e Fe
2+
se substituem mutuamente nas posies octadricas, conhecidas por
posies M; Fe
2+
e Mg
2+
tm raios inicos, para a coordenao octadrica com O
2-
, de 0,75 e
0,86, respectivamente, e as cargas so idnticas; os membros terminais da srie da olivina,
entre os quais existe uma soluo slida completa, so Mg
2
SiO
4
(forsterite) e Fe
2
SiO
4
(faialite).
Na srie das plagioclases os membros terminais so NaAlSi
3
O
8
(albite) e CaAl
2
Si
2
O
8

(anortite). A soluo slida completa entre estas duas composies extremas o resultado das
substituies entre dois pares de caties:
122

Figura 103. Ordem-desordem nos polimorfos de feldspato potssico (KAlSi
3
O
8
) (NESSE,
2000). (a) Esquema mostrando as quatro posies tetradricas T
1
e T
2
que contm os trs Si e
um Al por frmula unitria. (b) Sanidina alta. A probabilidade de encontrar Al em qualquer das
quatro posies igual. Em mdia cada posio contm 25% de Al. (c) Microclina mxima. Al
est preferencialmente colocado em T
1
e Si ocupa as outras trs posies, provocando distoro
da estrutura.




Percentagem molecular de FeS

Figura 104. Aumento da substituio de Zn por Fe, na blenda, com o aumento da temperatura.
O teor de Fe do mineral , assim, um indicador da temperatura de deposio do minrio.




123

Na
+
+ Si
4+
Ca
2+
+ Al
3+
.
Isto significa que por cada Ca
2+
que substitui um Na
+
na estrutura da plagioclase, um Si
4+

substitudo por Al
3+
nas posies tetradricas (Fig. 105). A carga elctrica de ambos os lados da
equao igual e, por isso, a estrutura mantm-se neutra.
As piroxenas dipsido (CaMgSi
2
O
6
) e jadete (NaAlSi
2
O
6
) so um exemplo de
substituio slida limitada tambm com dois pares de caties a substituirem-se mutuamente. A
substituio pode ser representada da seguinte forma:
Ca
2+
+ Mg
2+
Na
+
+ Al
3+
.
Soluo slida intersticial
Entre os tomos, ies ou grupos inicos na estrutura de um cristal existem interstcios,
normalmente considerados como vazios. Quando os ies ou tomos estranhos substncia
ocupam estes vazios falamos de substituio intersticial ou soluo slida intersticial. Em
algumas estruturas cristalinas estes vazios da rede podem constituir cavidades em forma de
canal, como no berilo (Be
3
Al
2
Si
6
O
18
). Nestes silicatos em anel grandes ies ou molculas podem
ocupar as cavidades tubulares dos aneis sobrepostos (Fig. 106). Quantidades considerveis de
K
+
, Rb
+
, Cs
+
, H
2
O e CO
2
so registadas em anlises de berilo. As ligaes entre os caties
monovalentes, K
+
, Rb
+
, Cs
+
, e o oxignio so bastante mais fortes do que as ligaes entre as
molculas H
2
O e CO
2
e o oxignio. O mecanismo de substituio para os caties monovalentes
o seguinte:
+ Si
4+
Be
2+
+ 2R
+

e
+ Si
4+
Al
3+
+ R
+

onde R representa K
+
, Rb
+
ou Cs
+
e o interstcio na rede. No primeiro caso, dois caties
monovalentes ocupam o interstcio da cadeia hexagonal Si
6
O
18
; no segundo caso, apenas um
catio ocupa o vazio da rede cristalina.
Soluo slida por omisso
Ocorre soluo slida por omisso quando um catio de carga maior substitui dois ou
mais caties mantendo o equilbrio de carga. A substituio pode ocorrer apenas numa posio
atmica, deixando outras posies vazias ou omissas. Por exemplo, o io Pb
2+
substitui dois ies
K
+
na variedade verde de microclina (KAlSi
3
O
8
), conhecida por amazonite, mas ocupa apenas
uma posio
K
+
+ K
+
Pb
2+
+
deixando um vazio na malha.
124


Figura 105. Substituies na plagioclase (NESSE, 2000). A substituio de Ca
2+
por Na
+

acompanhada pela substituio de Al
3+
por Si
4+
para manter o equilbrio de carga.






Figura 106. Estrutura hexagonal do berilo (Be
3
Al
2
Si
6
O
18
) projectada no plano basal (0001)
(KLEIN & HURLBUT, 1999). Os aneis Si
6
O
18
so mostrados. Os canais hexagonais so o locus
de grandes ies alcalinos e molculas neutras. A clula unitria est indicada a tracejado.


Vazios
ocupados por
H
2
O, CO
2
, K
+
,
Rb
+
ou Cs
+

Al
B
125
O exemplo melhor conhecido deste tipo de soluo slida o da pirrotite Fe
(1-x)
S. A
maioria das pirrotites tem uma deficincia em ferro relativamente ao enxofre. A percentagem
atmica de Fe varia entre 44,9 e 50%. Neste mineral os tomos de enxofre dispem-se em
camadas, num arranjo aproximadamente hexagonal compacto, e o ferro est em coordenao 6
com o enxofre. Se o Fe
2+
ocupasse todas as posies octadricas a frmula qumica seria FeS.
Nas pirrotites, todavia, h uma variao na percentagem de vazios nas posies octadricas,
fazendo com que a composio varie entre Fe
6
S
7
e Fe
11
S
12
. A frmula vem, geralmente, expressa
como Fe
(1-x)
S, onde x varia entre 0 e 0,2. Quando Fe
2+
est ausente de algumas posies
octadricas da pirrotite, enquanto as posies do enxofre esto completas, a estrutura no
electricamente neutra. provvel que algum ferro esteja na forma Fe
3+
para compensar a
deficincia em Fe
2+
. Se assim for, a frmula da pirrotite neutra escrever-
-se- (Fe
2+
1-3x
Fe
3+
2x
)
x
S. Podemos representar esta substituio por
Fe
2+
+ Fe
2+
+ Fe
2+
Fe
3+
+ Fe
3+
+ .
Exsoluo
Na introduo ao conceito de soluo slida em minerais foi referido que se dois ies ou
tomos tm tamanhos muito diferentes a extenso da substituio ser limitada. Todavia,
tambm foi referido que o aumento da temperatura favorece a substituio de ies de tamanhos
diferentes. Isto , a elevadas temperaturas, a estrutura de um mineral expande-se e as amplitudes
de vibrao dos tomos tornam-se maiores. medida que a temperatura aumenta, posies
estruturais anteriormente distintas tornam-se similares e, finalmente, indistintas. Por exemplo, na
srie dos feldspatos K-Na h soluo slida limitada entre Na
+
(raio = 1,18 para N.C.=8) e K
+

(raio = 1,51 para N.C.=8) a baixa temperatura, mas a alta temperatura, cerca de 1000C, este
silicato mostra miscibilidade completa (soluo slida) entre os membros extremos NaAlSi
3
O
8
e
KAlSi
3
O
8
.
O que acontece, ento, quando um mineral, originalmente homogneo a alta temperatura,
contendo caties de dimenso consideravelmente diferente, arrefece, atingindo a temperatura
ambiente? O termo exsoluo refere o processo pelo qual uma soluo slida, inicialmente
homognea, se separa em dois (ou mais) minerais distintos, sem adio ou remoo de
material ao ou do sistema. Isto significa que no h modificao da composio global do
sistema (Fig.107).
Nos feldspatos alcalinos podem ocorrer lamelas de exsoluo de feldspato-Na no
feldspato-K hospedeiro. Este tipo de intercrescimento pode observar-se em amostra de mo,
sendo designados por pertites, ao microscpio ptico, referindo-se como micropertites, ou,
quando extremamente finas (submicroscpicas), a sua identificao s possvel ao raio-X,
126
sendo designadas por criptopertites. Lamelas de exsoluo so comuns nos feldspatos alcalinos,
piroxenas, anfbolas e xidos de ferro.

Figura 107. (a) Representao bidimensional esquemtica dos elementos A e B numa estrutura
completamente desordenada (a alta temperatura) (KLEIN & HURLBUT, 1999). (b) Separao
dos elementos A e B em reas ricas em A e reas ricas em B = exsoluo (a baixa temperatura)
(KLEIN & HURLBUT, 1999).


Figura 108. Diagrama temperatura-composio ilustrando a origem das texturas de exsoluo
no sistema KAlSi
3
O
8
NaAlSi
3
O
8
.
Baixa temperatura
Alta temperatura
Diminuio
da
temperatura
127
A origem das texturas de exsoluo nos feldspatos alcalinos pode ser ilustrada num
diagrama temperatura-composio (Fig. 108). O eixo horizontal representa a variao
composicional, em termos de percentagem molecular, entre dois silicatos, KAlSi
3
O
8
e
NaAlSi
3
O
8
. A altas temperaturas o par KAlSi
3
O
8
- NaAlSi
3
O
8
mostra miscibilidade completa.
Quando a temperatura desce a soluo slida homognea decompe-se em duas misturas de
composio muito prxima da dos compostos puros. Uma fase homognea x, formada a altas
temperaturas, origina, temperatura T
x
duas fases slidas y e z, ambas prximas dos membros
finais puros. O resultado o intercrescimento de feldspato rico em sdio (albite) em feldspato
rico em potssio (ortoclase/microclina).

5.7. Frmula estrutural
As frmulas dos minerais so determinadas a partir das respectivas anlises qumicas. Na
anlise qumica de um mineral vm indicadas as percentagens peso dos xidos de elementos
maiores e, nalguns casos, a concentrao de elementos menores. Os elementos maiores so os
elementos presentes em concentraes superiores a 1% (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K e P).
Os elementos menores so aqueles com concentraes entre 0,1 e 1 % (so tambm expressos
em %). Os elementos trao tm concentraes inferiores a 0,1% e exprimem-se em ppm ou ppb
(Ni, Cr, V, Y, Zr, Ba, Rb, etc.). Os volteis, como H
2
O, CO
2
, Cl e F so normalmente includos
nos elementos maiores. A gua presente na estrutura dos silicatos e libertada acima de 110C
descrita como H
2
O+. A gua presente no p da amostra e libertada abaixo de 110C designada
por H
2
O- e no um constituinte importante do mineral ou rocha.
A frmula estrutural de um mineral escrita de forma a fornecer informao sobre a sua
estrutura. As regras bsicas para escrever a frmula dos slidos inicos so:
Os caties so referidos em primeiro lugar, seguindo-se o(s) anio(es) ou grupo
aninico;
A carga total dos caties deve ser igual carga total dos anies;
Os caties com a mesma posio estrutural so agrupados;
Os caties com posies estruturais diferentes so listados por ordem decrescente do
nmero de coordenao.
Na Tabela 15 apresentam-se os clculos da frmula estrutural de uma biotite. Os passos
para o clculo da frmula estrutural vm referidos nas pginas 698 a 701 do livro Minerais
constituintes das rochas - Uma introduo (Traduo de Carlos Antnio Regncio Macedo), em
anexo.

128
6. RADIOCRISTALOGRAFIA

6.1. Introduo
Os raios-X ocupam uma pequena poro do espectro com comprimentos de onda entre 10
e 0,01. A luz visvel tem comprimentos de onda entre 7200 e 4000, cerca de 1000 vezes
superior aos raios-X, e, por isso, tem menor poder de penetrao e energia. A maior parte das
substncias so transparentes aos raios-X.
Os raios-X foram descobertos acidentalmente por Wilhelm Conrad Roentgen, em 1895,
mas, somente, em 1912, Max von Laue utilizou este tipo de radiao no estudo de cristais. Max
von Laue colocou as seguintes questes: Qual seria o efeito se fosse possvel o uso de ondas
electromagnticas com o mesmo comprimento de onda que as distncias inter-atmicas nos
cristais? O cristal actuaria como uma rede de difraco tridimensional formando um espectro que
poderia ser registado? Se assim fosse, seria possvel medir com preciso o comprimento de onda
dos raios-X utilizados, assumindo as distncias inter-atmicas do cristal ou, conhecendo o
comprimento de onda dos raios-X, medir as distncias inter-atmicas?.
A experincia original foi realizada na Universidade de Munique. Laue e os seus
colaboradores fizeram passar um feixe delgado de raios-X atravs de uma placa de clivagem de
blenda (ZnS), fazendo incidir o feixe emergente sobre uma chapa fotogrfica. A chapa revelada
mostrou um grande nmero de pequenos pontos dispostos de modo simtrico e geomtrico em
redor de um ponto grande central produzido pelo feixe de raios-X, incidindo directamente na
chapa. Cada ponto o resultado das difraces a partir de uma srie de planos atmicos (Fig.
109).
Assim, uma experincia nica demonstrou o arranjo ordenado regular das partculas
atmicas dentro dos cristais e a concordncia quanto ordem de grandeza do comprimento de
onda dos raios-X e o espaamento entre os planos atmicos do cristal. Este mtodo, designado
por mtodo de Laue, foi largamente substitudo por outros mtodos de raios-X mais poderosos
que utilizam raios-X monocromticos e permitem a rotao da amostra.
Os raios-X permitem medir a distncia entre os planos atmicos sucessivos e localizar as
posies dos vrios tomos ou ies nos cristais. Os difractmetros de raios-X modernos so
usados em trabalhos rotineiros de identificao de pequenas amostras de minerais ou amostras de
minerais de gro muito fino, como argilas e zelitos.



129
6.2. Origem dos raios-X
Nos difractmetros convencionais de raios-X, os raios-X so gerados num tubo de raios
catdicos (Fig. 110), em condies de vcuo. O tubo possui um filamento de tungstnio, como
ctodo, que proporciona a fonte de electres. O nodo ou antictodo (alvo) constitudo por
um dos seguintes metais: Mo, Cu ou Fe. Uma fonte de alta voltagem estabelece uma queda de
tenso entre o ctodo e o nodo e acelera os electres que chocam com o nodo. Os raios-X so
produzidos no ponto de impacto e irradiam em todas as direces. A maior parte desta energia
convertida em calor. A energia transformada em radiao-X inferor a 1%. A natureza dos
raios-X depende do metal utilizado e da voltagem aplicada.
Um espectro contnuo de raios-X (Fig. 111a) obtido quando os electres atingem o
nodo e sofrem desacelerao sem modificao da configurao electrnica dos tomos do
metal. Quando um electro abranda, depois de uma ou mais colises, perde energia, que
libertada sob a forma de radiao electromagntica com diversos comprimentos de onda. O
menor comprimento de onda e os raios-X de maior energia que podem ser produzidos so
limitados pela energia dos electres incidentes. O espectro contnuo equivalente ao rudo
(background) e deve ser removido por filtros.
Um espectro de raios-X caracterstico (Fig. 111a) produzido quando os electres
bombardeados tm energia suficiente para arrancar os electres das orbitais internas do metal
que constitui o nodo. Quando estes electres saltam deixam vazios que so preenchidos pelos
electres das orbitais externas vizinhas. A transio dos electres da orbital externa para uma
orbital interna acompanhada pela emisso de radiao-X com comprimento de onda especfico
(Fig. 111b). A transio de electres das camadas L para K produz radiaes K, com dois
comprimentos de onda diferentes (K
1
e K
2
), e das M para as K radiaes K. O pico K pode
ser eliminado por um filtro apropriado. A radiao produzida tem um s comprimento de onda e
designada por radiao-X monocromtica. O espectro caracterstico, como o prprio nome
indica, caracterstico para cada elemento.
Os comprimentos das radiaes-X caractersticas para os metais mais usados esto
indicados na Tabela 16.
130


Figura 109. Representao esquemtica do mtodo de Laue com um nico cristal fixo (KLEIN
& HURLBUT, 1999). A pelcula fotogrfica colocada a cerca de 5cm do cristal. O feixe de
radiao-X branca passa atravs do cristal, fazendo ngulos rectos com a pelcula fotogrfica. O
feixe directo origina o ponto central negro na fotografia, de forma que um pequeno disco de
chumbo normalmente colocado em frente pelcula fotogrfica para o interceptar e absorver.
O ngulo de incidncia , entre o feixe de raios-X e os vrios planos atmicos no cristal fixo.




Figura 110. Tubo de raios-X (NESSE, 2000). O filamento do ctodo aquecido de forma a
emitir electres. Uma voltagem de 20-100kV mantida entre o ctodo e o nodo de forma a
acelerar os electres em direco ao nodo. Quando estes electres de elevada energia chocam
com os tomos do metal (Cu ou Mo) do nodo produzem-se raios-X que saem por uma janela de
berlio no tubo.

Pelcula fotogrfica
filamento

vcuo
Raios X
Janela de Be
nodo (Cu)
Sistema de
arrefecimento
Cristal
Feixe de
raios-X
131



Figura 111. Espectro de raios-X (NESSE, 2000). (a) Intensidade dos raios-X emitidos por
nodo de Cu com uma voltagem de 50kV. O espectro caracterstico (picos) est sobreposto ao
espectro contnuo. (b) O espectro caracterstico produzido quando os electres so desalojados
das camadas K e os vazios so ocupados por electres que transitam das orbitais mais externas.


Comprimento de onda ()
Espectro
caracterstico
Espectro contnuo
Intensidade
132
6.3. Difraco de raios-X
O processo de difraco dos raios-X pode ser melhor compreendido se comparado com a
difraco dos raios luminosos. Na Figura 112 mostra-se a difraco da luz produzida por dois
orifcios prximos, O
1
e O
2
. Os raios so desviados em mltiplas direces pelos contornos dos
orifcios, como se estes passassem a ser novas fontes luminosas. A qualquer ponto do alvo
chegam raios provenientes dos dois orifcios. Como, porm, o trajecto percorrido em cada caso
tem diferentes comprimentos, os campos elctricos (e magnticos) associados aos dois feixes
podero encontrar-se em fase ou no, produzindo interferncia construtiva ou destrutiva,
respectivamente. Teremos, assim, regies no alvo onde a intensidade luminosa elevada,
alternando com outras de pequena intensidade. A sua posio exacta depende da distncia entre o
alvo e os orifcios O
1
e O
2
, da separao entre estes e do comprimento de onda da radiao
utilizada. Os efeitos so mais notrios quando a separao entre O
1
e O
2
da ordem de grandeza
de .

Tabela 16. Comprimentos de onda caractersticos () dos metais normalmente usados
como nodo nos tubos de raios-X (NESSE, 2000).

Metal
Mo Cu Co Fe Cr
K 0,63225 1,38217 1,62073 1,75653 2,08479
K
1
0,70926 1,54051 1,78892 1,93597 2,28962
K
2
0,71354 1,54433 1,79279 1,93991 2,29351
K (mdia) 0,71070 1,54180 1,79020 1,93730 2,29090


Como os raios-X tm valores de muito pequenos, fenmenos semelhantes exigiriam
orifcios muitssimo prximos. Ora os planos atmicos nos cristais constituem uma rede de
difraco suficientemente apertada de modo a permitir a difraco dos raios-X. Com efeito, os
cristais tm espaamentos inter-atmicos comparveis aos comprimentos de onda dos raios-X e
podem, por isso, ser utilizados como responsveis pela difraco dos raios X, de forma a obter
fenmenos de interferncia ntidos.
O comprimento de onda dos raios-X usados nos difractmetros de raios-X cerca de 1 a
2, sendo similar s distncias inter-atmicas na estrutura dos cristais. Os raios-X so, ento,
difractados pelos planos de tomos, regularmente espaados, que constituem um cristal.
133
Bragg, com grande simplicidade, explicou a difraco dos raios X como se fosse uma
simples reflexo numa srie de planos paralelos distanciados uniformemente.
Quando um feixe de raios-X embate numa face de um cristal e reflectido, o que
verdadeiramente se passa no uma reflexo superficial, como sucederia com a luz ordinria.
Paralelamente quela face existem uma infinidade de planos atmicos, igualmente espaados,
nos quais a radiao X penetra at uma profundidade de vrios milhes de planos antes de ser
apreciavelmente absorvida. Pode considerar-se que em cada plano atmico uma pequena poro
do feixe sofre reflexo. Para que esses fracos feixes reflectidos saiam do cristal como um simples
feixe de intensidade aprecivel no devem ser grandemente absorvidos ao passarem atravs dos
planos cada vez mais prximos da superfcie e, mais importante ainda, necessrio que os feixes
provenientes de planos sucessivos no interfiram destrutivamente. Assim, na Figura 113 para que
haja difraco necessrio que se d o reforo das ondas dispersadas em A e B, o que exige que
a diferena de percursos dos raios R1 e R2 seja um nmero inteiro de comprimentos de onda
(n).
Observe agora a Figura 114 onde os raios incidentes 1 e 2 fazem um ngulo com os
planos atmicos. Notar que o ngulo definido de forma diferente referida para a reflexo e
refraco (item 4.1). A distncia entre os planos atmicos igual a d. Os raios difractados por
cada plano de tomos esto em fase apenas se o valor do ngulo permitir que a distncia
adicional CBD, percorrida pela onda 2, seja igual a um nmero inteiro de comprimentos de onda
CBD = n,
sendo n um nmero inteiro e o comprimento de onda dos raios-X. A distncia CBD duas
vezes a distncia CB, estando CB relacionada com o espaamento d, entre os planos, pela
equao
CB = d sen
ou
CBD = 2CB = 2d sen.
Combinando as duas equaes, vem
n = 2d sen.
Esta relao conhecida por equao de Bragg. pode ter qualquer valor, mas, como e d so
fixos para que uma direco seja de difraco, s pode tomar valores tais que n seja inteiro.
Daqui se conclui que no h difraco de raios-X para todos os valores de .
134

Figura 112. Difraco da luz produzida por dois orifcios
prximos O
1
e O
2
(GIL & CARDOSO, 1982).














Figura 113. Reforo dos raios R1 e R2 difractados nos ns A e B dos planos reticulares a
1
e a
2
.




Figura 114. Difraco dos raios-X em planos atmicos paralelos (GIL & CARDOSO, 1982). Os
raios 1 e 2 incidem sobre os planos atmicos separados por uma distncia d. Interferncia
construtiva dos raios-X difractados s possvel se o ngulo de incidncia for tal que a
distncia CBD seja um nmero inteiro de comprimentos de onda.
d
d
a
1
a
2
a
3



A
B
R1
R2
R3
1
2
135
Para um dado comprimento de onda de raios-X e espaamento d entre os planos atmicos
na estrutura de um cristal, os ngulos que do origem a difraco mxima (reflexo) podem ser
calculados. Por exemplo, os planos {111} na halite tm espaamentos d
111
= 3,2555. Se
usarmos radiao CuK, com = 1,5418 , resolvendo a equao de Bragg, para n = 1 vem =
13,70. Reflexes adicionais para n = 2, 3 e 4 do valores de = 28,27, 45,27 e 71,30,
respectivamente. Estas reflexes so designadas por reflexes de primeira, segunda, terceira e
quarta ordem, em referncia ao valor inteiro n. Reflexes de ordem maior no so possveis para
os planos {111} porque no pode ser maior do que 90.
A reflexo de raios-X por planos atmicos, como resultado da difraco na estrutura de
um cristal, s possvel se o gro estiver convenientemente orientado. Para um mineral
desconhecido, cujo espaamento d seja tambm desconhecido, as hipteses de colocar um gro
na trajectria do feixe de raios-X com a orientao correcta so as mesmas que as de ganhar a
lotaria. Alm disso, cada mineral tem muitos planos atmicos diferentes que potencialmente
podem difractar os raios-X. Para medir todos os espaamentos d diferentes num mineral com um
s cristal seria necessrio rodar sistematicamente o cristal e o detector de forma a obter uma
gama variada de orientaes na amostra. Existe equipamento disponvel para isso, mas o
processo complexo. Uma soluo mais simples para trabalhos de rotina fazer incidir o feixe
monocromtico de raios-X sobre amostra finamente pulverizada. Este processo constitui a base
do mtodo das poeiras.

6.3. Mtodo das poeiras e difractmetros de raios-X
O mtodo das poeiras uma tcnica poderosa para a identificao dos minerais. Os
planos reticulares dos fragmentos da matria cristalina encontram-se caoticamente distribudos,
mas, entre eles, alguns devero orientar-se de forma a observar-se difraco.
Os difractmetros de raios-X utilizam radiao monocromtica e o registo da informao
feito em registador com folha de papel.
O instrumento est construdo de tal maneira que o porta amostras roda e o contador de
impulsos de raios-X, colocado sobre um brao, acompanha este movimento, captando as
radiaes reflectidas pelos planos da amostra.
Quando na posio zero o feixe de raios-X paralelo ao porta amostras e passa
directamente ao tubo contador. O porta amostras e o tubo contador movem-se em engrenagens
distintas, de tal maneira que, quando o porta amostras roda de um ngulo o tubo contador roda
2.
136





Figura 115. Difractograma de quartzo (NESSE, 2000). (a) medida que o contador se move no
intervalo 2, a amostra move-se de um ngulo e o papel desliza a uma velocidade constante. A
caneta move-se em resposta intensidade dos raios-X detectados. Cada reflexo do mineral
registada como um pico na sua posio 2. (b) No difractograma o eixo horizontal representa o
ngulo 2 e a escala vertical a intensidade dos raios-X difractados, normalmente em termos de
contagens por segundo. (c) Cada plano atmico produz duas reflexes, uma para K
1
e outra
para K
2
, com menor intensidade. Para intervalos pequenos de 2, K
2
aparece como um
pequeno bojo, do lado de 2 maior, no pico K
1
. Para intervalos de 2 mais largos os picos
podem ser indistinguveis.



Picos de difraco de
raios-x
contador
Intensidade do
raios-X
(contagens/s)
caneta
Raios-X
Amostra
137

Quando em operao, a amostra, o tubo contador e o papel do registador automtico
entram em movimento simultaneamente. Se um plano atmico est orientado de forma que
igual a 20, no ocorre evidncia desta reflexo at que o tubo contador tenha rodado de 2, ou
seja 40. Neste instante, a radiao reflectida entra no tubo contador e o impulso nele gerado
amplificado e movimenta a caneta do registador (Fig. 115a). O ngulo 20, no qual foi produzida
a reflexo pode ser lido directamente da posio do pico no papel. As alturas dos picos so
directamente proporcionais s intensidades das reflexes que os originaram.
A amostra (mineral puro ou mistura de minerais) reduzida a p muito fino, usando
peneiros de 200 mesh (<0,074mm) ou 400 mesh (<0,037mm), e colocada no porta amostras. A
amostra colocada no difractmetro de raios-X de forma a poder girar relativamente ao tubo de
raios-X para permitir que o ngulo de incidncia do feixe de raios-X varie de 0 at cerca de
90.
Para identificaes de rotina, usando radiaes CuK, o ngulo 2 varia entre 5 e cerca
de 70. ngulos mais pequenos podem ser usados se necessrio, mas os difractmetros no
devem ser levados aos 0 porque a intensidade do feixe poderia danificar alguns contadores.
A intensidade dos raios-X reflectidos continuamente registada numa folha de papel ou,
electronicamente, num computador. Um pico na intensidade dos raios-X difractados indica que o
mineral possui planos atmicos cujo espaamento d apropriado para reflectir raios-X para esse
ngulo particular. Porque o p da amostra possui gros com todas as orientaes possveis,
cada um dos diferentes conjuntos de planos atmicos capazes de difractar os raios-X produzem o
seu pico para o ngulo apropriado, medida que o contador faz o varrimento no intervalo de 2.
A intensidade dos raios-X difractados para cada pico tambm controlada pela estrutura do
mineral. Alguns planos atmicos so mais efectivos a reflectir os raios-X do que outros.
Um difractograma do quartzo mostrado na Figura 115b. Cada pico composto por duas
reflexes separadas, uma para a radiao K
1
e a outra para a radiao K
2
, que tm diferentes
comprimentos de onda (Tabela 15). O pico para K
2
tem metade da intensidade e um 2
ligeiramente maior do que K
1
. Para intervalos maiores de 2 os picos esto muito prximos e o
pico K
2
pode no ser detectado. Para intervalos menores de 2 os dois picos podem distinguir-
se com mais facilidade. Com o quartzo, por exemplo, o pico {100} ocorre a 26,64 para CuK
1
e
26,70 para CuK
2
, uma diferena de 0,06. Todavia, para o pico {212} ocorre a 67,73, para
CuK
1
, e 67,94, para CuK
2
, uma diferena de 0,21 (Fig. 115c). O espaamento d calculado
usando o comprimento de onda mdio da radiao K (Tabela 16).
138


Figura 116. Determinao da altura do pico (I) e de 2, tomado como o centro do pico, medido
a meia distncia entre a base e o pico, no difractograma (NESSE, 2000).





Figura 117. Ficha PDF do quartzo (NESSE, 2000). So apresentados o espaamento inter-
planar, as intensidades relativas e os ndices de Miller. No topo da ficha vm os picos mais
intensos.



139
Os dados obtidos a partir de um difractograma, em papel ou electrnico, so o ngulo 2
e a intensidade do pico. O ngulo 2 convenientemente escolhido para ser o centro aritmtico
do pico, num ponto a metade ou dois teros da distncia entre a base e o topo (Figura 116). A
intensidade do pico a altura do pico acima do background. A intensidade integrada a rea
do pico, equivalente ao nmero total de contagens que o produziu. Pode assumir-se que a rea do
pico a rea de um tringulo issceles.
A partir destes dados o espaamento d e os valores da intensidade relativa so calculados;
d calculado para cada pico pela equao de Bragg, assumindo n=1. A intensidade relativa a
relao da intensidade do pico (I) dividida pela intensidade do pico maior (I
1
):
Intensidade relativa = I/I
1
x 100.
Porque cada mineral tem a sua prpria estrutura e dimenses da clula unitria, cada um
tem o seu conjunto de planos atmicos com espaamentos especficos. A identificao de um
mineral baseada na comparao do conjunto dos valores de d e das intensidades da amostra
desconhecida com os valores de d e das intensidades de minerais conhecidos.
Os dados de difraco de raios-X para minerais e outros compostos esto compilados
pelo International Centre for Diffraction Data. Dados, conhecidos por Powder Diffraction File
(PDF), esto disponveis sob a forma de cartes ou fichas (Figura 117), em microfichas ou em
CD-ROM.


7. MINERALOGIA SISTEMTICA

A composio qumica tem sido a base para a classificao dos minerais, desde meados
do sculo XIX. De acordo com este critrio os minerais so divididos em grupos, dependendo do
anio ou grupo aninico. H razes para que este critrio seja uma base vlida de classificao
dos minerais:
Os minerais com o mesmo anio ou grupo aninico tm relaes familiares claras entre
si, em termos de estrutura, propriedades fsicas e qumicas;
A concentrao dos caties em muitos minerais pode ser varivel, enquanto a variao do
teor do anio bastante limitada;
Os minerais relacionados pela dominncia de um mesmo anio tendem a ocorrer em
ambientes geolgicos similares;
Tal esquema de classificao consistente com a prtica normal em qumica de
classificao dos compostos inorgnicos.
140
Todavia, reconhece-se que a qumica, por si s, no caracteriza adequadamente um
mineral e que a classificao deve basear-se, igualmente, na estrutura interna. Composio
qumica e estrutura interna representam a essncia de um mineral e determinam as suas
propriedades fsicas. Os princpios cristaloqumicos foram primeiro usados por W. L. Bragg e V.
M. Goldschmidt para os silicatos. Este grupo foi dividido em subclasses, parcialmente na base da
composio qumica, mas principalmente em termos da estrutura interna.
Na Tabela 17 e na Figura 118 apresentam-se os principais grupos de minerais.

Tabela 17. Classificao dos minerais.

Grupos
Anio ou grupo
aninico
Exemplos
Elementos nativos
metais [ouro (Au), prata
(Ag), cobre (Cu)]; semi-
metais [bismuto (Bi)]; no
metais [enxofre (S),
diamante (C)]
xidos O
hematite (Fe
2
O
3
), magneti-
te (Fe
3
O
4
), rtilo (TiO
2
),
cassiterite (SnO
2
), corindo
(Al
2
O
3
)
Hidrxidos OH
brucite (Mg(OH)
2
),
goethite (FeO(OH))
Halogenetos Cl, Br, F
halite (NaCl), silvite (KCl),
fluorite (CaF
2
)
Sulfuretos S
galena (PbS), pirite (FeS
2
),
pirrotite (Fe
1-x
S), calcopiri-
te (CuFeS
2
), blenda (ZnS)
Sulfossais S
enargite (Cu
3
AsS
4
),
tetraedrite (Cu
12
Sb
4
S
13
)
Carbonatos CO
3
calcite (CaCO
3
), dolomite
(CaMg(CO
3
)
2
), rodocrosite
(MnCO
3
)
Nitratos NO
3
nitratina (NaNO
3
)
Boratos BO
3
, BO
4
borax
(Na
2
B
4
O
5
(OH)
4
.8H
2
O)
Fosfatos PO
4
apatite
(Ca
5
(PO
4
)
3
(F,Cl,OH),
monazite
((Ce,La,Y,Th)PO
4
)
Sulfatos SO
4
barite (BaSO
4
), anidrite
(CaSO
4
), celestite (SrSO
4
),
gesso (CaSO
4
.2H
2
O)
Cromatos CrO
4
crocote (PbCrO
4
)
Tungstatos WO
4
volframite ((Fe,Mn)WO
4
),
scheelite (CaWO
4
),
Silicatos SiO
4
ver Figura 117

141


Figura 118. Classificao dos silicatos (KLEIN & HURLBUT, 1999).






Classe Arranjo dos
tetraedros SiO
4
Composio
unitria
Exemplos
Nesossilicatos
Sorossilicatos
Ciclossilicatos
(silicatos em
anel)
Inossilicatos
(cadeia
simples)
olivina
hemimorfite
berilo
piroxena
ex: enstatite
oxignio
142

Figura 118. Classificao dos silicatos (continuao).


Inossilicatos
(cadeia
dupla)
Filossilicatos
(silicatos em
folhas)
Tectossilicatos
(silicatos c/
esqueleto
tridimensional)
Anfbola
Ex: antofilite
Mica
Ex: flogopite
cristobalite alta
143
BIBLIOGRAFIA

BATTEY, M. H. & PRING, A. (1997) Mineralogy for students.Hong Kong, Longman.

BORGES, F. S. (1996) Elementos de cristalografia. Lisboa, Fundao Calouste Gulbenkian.

CARVALHO, A. M. G. (2000) Sopas de Pedra I De Mineralibus. Viseu, Gradiva.

GIL, V. M. S. & CARDOSO, A. C. (1982) Qumica fundamentos da estrutura e propriedades
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Sons.

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PERKINS, D. (1998) Mineralogy. New Jersey, Prentice Hall.

SILVA, R. D. (1942) Cristalografia. Porto, Portucalense Ed.