Difrao de Raio-X

Materiais e suas Propriedades

Amanda Franco Carradore Camila Yumi Yamaguchi Masa Pedroso Luccas Smiley Willian Brollo

Resumo
O propsito deste trabalho a anlise pelo mtodo de DRX (difrao de raios X) na identificao dos materiais de engenharia com base em sua estrutura cristalina . Por meio dos dados utilizados e com base nos dados fornecidos foi determinado o parmetro de rede da estrutura fornecida com o comprimento de onda do ltio. Com isso foi verificado que o material estudado era platina. Alm disso, foi utilizado um comprimento de onda diferente para anlise de 2 que mostrou ngulos de pico de intensidades diferentes para o mesmo material. Isso mostra que para o mesmo material tem-se um difratograma apropriado para determinadas incidncias de raios X.

Introduo
A difratometria de raios X corresponde a uma das principais tcnicas de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicaes em diversos campos do conhecimento, mais particularmente na engenharia e cincia dos materiais. Os materiais slidos podem ser classificados de acordo com a regularidade segundo a qual os tomos ou ons esto arranjados uns em relao aos outros. Um material cristalino aquele em que os tomos esto posicionados em um arranjo repetitivo ou peridico ao longo de grandes distncias atmicas, isto , existe uma ordem de longo alcance, tal que, na solidificao, os tomos vizinhos mais prximos. Todos os metais, muitos materiais cermicos e certos polmeros formam estruturas cristalinas sob condies normais de solidificao. Naqueles materiais que no se cristalizam, essa ordem atmica de longo alcance esta ausente, recebe o nome de materiais nocristalinos ou amorfos. Sistema Cbico Simples possui apenas 1/8 de cada tomo esta dentro da clula unitria, ou seja, a clula unitria contm apenas 1 tomo por essa razo que os metais no cristalizam na estrutura cbica simples (devido ao baixo empacotamento atmico). Estrutura Cristalina Cbica de Faces Centradas encontrada em muitos metais, possui uma clula unitria com geometria cbica, com os tomos localizados em cada um dos vrtices e nos centros de todas as faces do cubo. Nessa estrutura, cada tomo em um vrtice compartilhado por oito clulas unitrias, enquanto um tomo localizado no centro de uma face pertence a apenas duas clulas unitrias. A estrutura cristalina cbica de corpo centrado comum em metais tambm possui uma clula unitria cbica, com tomos localizados em todos os oito vrtices e um

nico tomo no centro do cubo. Essa estrutura denominada estrutura cristalina cbica de corpo centrado. Os tomos no centro e nos vrtices se tocam uns nos outros ao longo das diagonais do cubo. Os raios X ao atingirem um material podem ser espalhados elasticamente, sem perda de energia pelos eltrons de um tomo (disperso ou espalhamento coerente). O fton de raio X aps a coliso com o eltron muda sua trajetria, mantendo, porm, a mesma fase e energia do fton incidente. Sob o ponto de vista da fsica ondulatria, pode-se dizer que a onda eletromagntica instantaneamente absorvida pelo eltron e reemitida, cada eltron atua, portanto, como centro de emisso de raios X. Se os tomos que geram este espalhamento estiverem arranjados de maneira sistemtica, como em uma estrutura cristalina (Figura 1), apresentando entre eles distncias prximas ao do comprimento de onda da radiao incidente, pode-se verificar que as relaes de fase entre os espalhamentos tornam-se peridicas e que efeitos de difrao dos raios X podem ser observados em vrios ngulos.

Considerando-se dois ou mais planos de uma estrutura cristalina, as condies para que ocorra a difrao de raio X (interferncia construtiva ou numa mesma fase) vo depender da diferena de caminho percorrida pelos raios X e o comprimento de onda da radiao incidente. Esta condio expressa pela lei de Bragg, ou seja, ( Figura 2), onde corresponde ao comprimento de onda da radiao incidente,n a um numero inteiro (ordem de difrao), d a distancia interplanar para o conjunto de planos hkl (ndice de Miller) da estrutura cristalina e ao ngulo de incidncia do raio X (medido entre o feixe incidente e os planos cristalinos).

Tabela utilizada como base para os clculos A lei de Bragg uma condio necessria, mas no suficiente, para a difrao por cristais reais. Ela especifica quando a difrao ir ocorrer para clulas unitrias que possuem tomos posicionados somente nos vrtices da clula. Clula Unitria o menor agrupamento de tomos no espao possuindo a simetria do cristal que quando repetido em todas as direes resultar a estrutura cristalina original. Entretanto, os tomos situados em outras posies (por exemplo nas faces e no interior das clulas unitrias, como ocorre nas estruturas CFC e CCC) atuam como centros de disperso adicionais, que podem produzir uma disperso fora de fase em certos ngulos de Bragg. O resultado a ausncia de alguns feixes difratados que, de acordo com a equao da Lei de Bragg, deveriam estar presentes. Por exemplo, para a estrutura cristalina CCC, a soma h+k+l deve ser um numero par para que ocorra a difrao, enquanto para as estruturas CFC os valores de h,k,l devem ser todos pares ou impares. A intensidade difratada, dentre outros fatores, dependente do numero de eltrons no tomo, adicionalmente, os tomos so distribudos no espao, de tal forma que os vrios planos de uma estrutura cristalina possuem diferentes densidades de tomos ou eltrons, fazendo com que as intensidades difratadas sejam, por conseqncia, distintas para os diversos planos cristalinos.

Uma tcnica de difrao usual emprega uma amostra pulverizada ou policristalina composta por inmeras partculas finas e orientadas aleatoriamente, que so expostas a uma radiao X monocromtica. Cada partcula pulverizada (ou gro) um cristal e a existncia de um numero grande destas com orientaes aleatrias assegura que algumas partculas esto orientadas de maneira correta, tal que todos os conjuntos de planos cristalogrficos possveis estaro disponveis para difrao. O difratmetro um aparelho usado para determinar os ngulos nos quais ocorre a difrao em amostras pulverizadas. Uma amostra S no formato de uma chapa plana posicionada de forma que so possveis rotaes ao redor do eixo identificado por P: esse eixo perpendicular ao plano da pagina. O feixe monocromtico de raios X gerado no ponto G e as intensidades dos feixes difratados so detectadas atravs de um contador, identificado pela letra T da figura 3. A amostra, a fonte de raios X e o contador esto todos sobre um mesmo plano. O contador montado sobre uma plataforma mvel que tambm pode ser girada ao redor do eixo P, a sua posio angular em termos de 2 marcada sobre uma escala graduada. A plataforma e a amostra esto acopladas mecanicamente, de tal modo que uma rotao da amostra de um ngulo acompanhada de uma rotao de 2 do contador, assegurando que os ngulos incidente e de reflexo sejam mantidos iguais uma ao outro.Colimadores so imcorporados dentro da trajetria do feixe para produzir um fixe focado e bem definido. A utilizao de um filtro proporciona um feixe praticamente monocromtico. Na medida em que o contador se move a uma velocidade angular constante, um registrador plota automaticamente a intensidade do feixe difratado em funo do valor de 2, 2 chamado de ngulo de difrao, e medido experimentalmente.

A figura 4 mostra um difratograma ou padro de difrao para uma amostra pulverizada de chumbo. Os picos de alta intensidade resultam quando a condio de difrao de Bragg satisfeita por algum conjunto de planos cristalogrficos.

Objetivos

Esse trabalho foi realizado com o objetivo de: Analisar e construir um difratograma; Descobrir a estrutura cristalina de um elemento desconhecido; Compreender os princpios envolvidos na analise de difrao de raios X.

Resultados e Discusso
A partir de um arquivo com os ngulos de difrao e a intensidade de raios-x de um metal com estrutura cbica, plotou-se o seguinte grfico:

Figura 1- Grfico com o padro de difrao de um metal a ser determinado. Em seguida, detectaram-se os graus de difrao correspondentes aos picos mais intensos pela anlise do grfico, e utilizando uma rgua, mediu-se tambm o tamanho do pico em mm.

2 60,0 70,5 109,4 146,2

(graus) 30,0 32,3 54,7 73,1

I(mm) 150 75 57 88

I(%) 100 50 38 59

Tabela 1 Graus de difrao dos picos e respectivos comprimentos.

A partir da equao XX (Lei de Bragg) possvel calcular o espaamento interplanar de um determinado plano (hkl). Nos clculos admitiu-se que n=1. Assim, pegando como exemplo um para = 30: 0,2291 = 2d sen 30 d = 0,2291

A Tabela 2 mostra quais foram os resultados dhkl e as variveis envolvidas no clculo. (graus) 30,0 32,3 54,7 73,1 Sen (graus) 0,500 0,577 0,816 0,957 Tabela 2 Clculo do dhkl Feito isso, preciso descobrir se a estrutura cbica simples, cbica de face centrada ou se uma estrutura cbica de corpo centrado. Para isso utilizou-se a relao (Eq. XX) e a tabela XX que constam na introduo deste relatrio. A Tabela 3 mostra as consideraes feitas supondo as estruturas CS e CCC e CFC: Sen2 30,0 32,3 54,7 73,1 Sen2/Scs 0,250 0,166 0,222 0,228 Sen2/Sccc 0,125 0,083 0,111 0,114 Sen2/Scfc 0,083 0,083 0,083 0,083 d 0,2291 0,1985 0,1403 0,1197

Scs 1 2 3 4

Sccc 2 4 6 8

Scfc 3 4 8 11

Tabela 3 - Verificao da estrutura do metal

Logo, como se obteve uma constante apenas para CFC, conclui-se que se trata de um metal com essa estrutura. Finalmente, precisa-se determinar qual o parmetro de rede (a). E a partir da Equao XX foram feitas as consideraes:

hkl (111) (200) (220) (311) 1,73 2,00 2,83 3,32

d 0,2291 0,1985 0,1403 0,1197

a 0,396 0397

0,3970,002 0,397 0,397

Tabela 4 Determinao do parmetro de rede Substituindo o parmetro encontrado anteriormente, na seguinte equao para estruturas de face centrada:

Temos que R = 0,140 nm. Uma vez determinado o raio atmico, buscou-se na literatura um metal com as caractersticas encontradas, e chegou-se concluso de que se admitirmos o erro do parmetro de rede ( = 0,3970,002) chegamos exatamente no valor do raio da platina (0,139 nm). ix) Utilizou-se o Cobalto (Co) como radiao X incidente no material, este apresenta comprimento de onde igual a 0,179026 10^(-9)m. Considerando n=1 e os dados de Dhkl calculados anteriormente, os clculos realizados por meio da equao de Bragg para determinar o valor de 2, foram feitos de forma anloga ao exemplo abaixo: n = 2 d seno seno = / 2d seno = 0,179026 / 2* 0,2291 = 0,3907 = (seno )^-1 = 22,998 Portanto, 2 = 45,996 A tabela a seguir, mostra todos os dados encontrados para os diferentes espaamentos interplanares.

Dhkl 0,2291 0,1985 0,1403 0,11972

sen 0,3907 0,45095 0,6380 0,7476

2 45,996 53,6093 79,286 96,766

x) Comparando os ngulos de incidncia do Cobalto e do Cobre, nota-se que o Cobre apresenta ngulos proporcionalmente maiores que o Cobalto, ou seja, os picos onde a intensidade maior apresenta diferentes valores para diferentes elementos de radiao X incidente, o que esta diretamente relacionado ao valor do comprimento de onda.

Concluso

Devido aos erros sistemticos e aleatrios correspondentes ao processo experimental, observou-se que o parmetro de rede encontrado apresentava um erro de varincia, pois para que o valor do raio atmico fosse identificado na literatura foi necessrio estimar o valor do parmetro de rede para mais e/ou para menos, entretanto pode-se concluir que o metal o qual queria se determinar era a platina. O experimento possibilitou a anlise e o estudo sobre a difrao de raio x incidente em um material desconhecido. Atravs do embasamento terico, das observaes do difratograma e dos clculos realizados para encontrar uma estrutura que fosse mais constante diante das demais, pode-se determinar a estrutura do elemento o qual queria se descobrir e o seu parmetro de rede, permitiu-se a descoberta do material atravs do raio atmico.

Bibliografia
[1]-Cincia e Engenharia de Materiais; Willian D. Callister,Junior; Stima Edio; LTC editora [2]- Slides da professora Dr Christiane Ribeiro