Difração de Raios X

Liga de Alumínio

António Teixeira A92215

João Alves A92223
Pedro Gil Marques A92206

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 Índice

1. Objetivos ……………………………………………………………………………. 3
2. Introdução Teórica ………………………………………………………………… 3
3. Procedimento ………………………………………………………………………. 5
4. Análise de resultados ……………………………………………………………... 6
5. Conclusão ………………………………………………………………………….. 8
6. Webgrafia …………………………………………………………………………... 8

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1. Objetivos

1) Identificação dos índices hkl correspondentes aos picos

encontrados na análise do padrão de difração da amostra
2) Identificação do material e da rede cristalina associada

3) Discussão de resultados e análise do padrão de difração para

outras propriedades que o material possa apresentar

2. Introdução teórica
A difração de raios X é uma das técnicas experimentais mais usadas para estudar a
estrutura cristalina dos materiais. Esta, é um fenômeno, no qual, os átomos de um
cristal, devido ao seu espaçamento uniforme entre distâncias interplanares, causam
um padrão de interferência das ondas presentes em um feixe incidente em raios X.
São usadas ondas de raios X, pois estas têm comprimento de onda da mesma ordem
de grandeza que as distâncias interplanares (Å). É uma técnica usada para
determinar a estrutura atómica e molecular de um cristal, no qual os átomos cristalinos
fazem com que um feixe de raios X incidentes difrate em muitas direções específicas.
Medindo os ângulos e as intensidades dos feixes difratados, um cristalógrafo pode
produzir uma imagem tridimensional da densidade de elétrons dentro do cristal. A
partir desta densidade de elétrons, as posições médias dos átomos no cristal podem
ser determinadas, bem como suas ligações químicas, sua desordem e várias outras
informações.

O método de produção de raios X consiste num tubo de vácuo no qual os eletrões

são emitidos a partir de um filamento de tungstênio aquecido e acelerado por um
potencial elétrico no sentido de um alvo metálico (ânodo), normalmente projetado em
cobre, como nesta atividade experimental. Quando a energia cinética dos eletrões é
suficientemente elevada, a sua interação com o alvo pode gerar dois efeitos distintos:
Bremsstrahlung ou emissão de radiação característica.

● O efeito de Bremsstrahlung, ou radiação de travagem, dá-se quando os

eletrões acelerados perdem velocidade assim que se aproximam dos núcleos
dos átomos do alvo, devido à interação dos campos elétricos. Esta interação
emite radiação eletromagnética de espetro contínuo, que se torna mais intensa
para frequências mais elevadas.
● A emissão da radiação característica ocorre quando os electrões incidentes
penetram o metal (ânodo) expulsando os electrões das camadas mais internas.

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 Deste modo, um eletrão de uma camada mais energética, ou seja, um eletrão
mais externo vai ocupar a lacuna provocada pela ejeção do eletrão interno,
havendo emissão de fotões com energia igual à diferença de energia entre os
níveis em que ocorre a transição. Obtém-se, assim, um espetro característico,
com picos bem definidos, do material do alvo e dos níveis de energia
envolvidos na transição.

A radiação X característica é a mais utilizada na difração em materiais, pois apresenta

comprimentos de onda bem definidos. Podem-se usar filtros que removem grande
parte da radiação contínua e os comprimentos de onda da radiação característica não
relevantes. Normalmente, entre o tubo de Raios X, a amostra e o detector, existe um
monocromador, neste caso, de Níquel, que remove uma grande parte da radiação
contínua e os comprimentos de onda da radiação característica que não interessam,
o que torna a leitura dos difratogramas mais fácil.

A difração de raios X pode ser realizada através de várias técnicas, tendo-se usado
nesta atividade a geometria Bragg-Brentano(θ-2θ). Nesta, um detetor de radiações
move-se num goniómetro circular sincronizado com a amostra e um registador
representa automaticamente a intensidade do feixe difratado, numa gama de valores
2θ, obtendo-se um padrão de difração.

Para que os raios X emitidos sejam difratados, incidem-se os mesmos sobre a

amostra a estudar, que se apresentar uma estrutura cristalina, todos os diferentes
planos de átomos que estejam paralelamente orientados ao suporte da amostra irão
causar que uma pequena fração do feixe incidente se disperse como uma onda. Pelo
que, segundo certas direções haverá interferência construtiva (ondas em fase) e
noutras direções haverá interferência destrutiva (ondas desfasadas).

Para que uma interferência construtiva seja descrita, temos a lei de Bragg:

nλ = 2d sin θ

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Sendo n a ordem de difração, λ o comprimento de onda, θ o ângulo de difração e d
expressa a distância interplanar. A distância interplanar para as redes cúbicas está
relacionada com os parâmetros de rede através da expressão:

𝑎
𝑑=
√ℎ2 + 𝑘 2 + 𝑙2

Nos padrões de difração, é possível associar a cada pico o respetivo ângulo 2θ/θ. As
posições angulares dos picos de difração, correspondentes à ocorrência de
interferência construtiva, são características de cada material. Assim, utilizando bases
de dados cristalográficas, é possível associá-las aos respetivos índices de Miller,
sabendo que, por exemplo, para redes cúbicas os ângulos dos picos aparecem
segundo a ordem crescente do somatório dos quadrados dos Índices de Miller.

Através da Lei de Bragg e de outras expressões matemáticas como a relação entre a

distância interplanar e os parâmetros de rede, consegue-se determinar distâncias
interplanares e parâmetros de rede. Por nova comparação com as fichas
cristalográficas, é possível obter informação sobre os materiais analisados.

Geralmente, os valores das posições angulares dos picos e, obviamente, distâncias

interplanares e parâmetros de rede obtidos são diferentes dos valores tabelados, uma
vez que não existem cristais perfeitos. Estes apresentam defeitos e determinada
elasticidade o que em consequência, se lhe são aplicadas tensões, as dimensões irão
sofrer variações. Outras propriedades que diminuem a exatidão do processo de
difração para a obtenção dos picos, é a temperatura do material, se esta estiver com
uma temperatura mais alta a amplitude de vibrações de partículas aumenta e resulta
na expansão da célula unitária, com consequente alteração nas distâncias
interplanares. Outro fator, é por exemplo a granulometria da amostra. O objetivo de
ter a amostra em forma de pó é de forma a garantir que todos os planos cristalinos
sejam expostos e assim ocorram todas as reflexões possíveis a partir dos planos.

3. Procedimento
Passo 1: Colocar as amostras desconhecidas no aparelho de raio-X (com o cuidado
de ficarem o mais horizontal possível para não haver influência no angulo de difração)

Passo 2: Analisar as amostras no aparelho de raio-X

Passo 3: Recolher e analisar os dados obtidos

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4. Análise de resultados

Figura 1 - Índices hkl

Pico 2 theta Índice hkl

1 25,56 102
2 43,32 113

3 57,36 116
Tabela 1 – Análise dos índices hkl

Figura 2 – Planos hkl (113) e (102) respetivamente

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Figura 3 – Material com maior correspondência (Al₂0₃)

Cálculo da dimensão dos cristais:

O pico de maior intensidade é o Pico 2 (113)

ao qual corresponde um θ de 21.66. Por
isso o cálculo da dimensão dos cristais vai
ser feito utilizando este pico.

𝐾. 𝜆
𝐷=
FWHM . 𝑐𝑜𝑠θ

0.89 . 1.541874 ∗ 10¯¹⁰

𝐷=
0.16 . cos (21.66)

𝐷 = 9.22828 ∗ 10¯¹⁰m

Tabela 2 – Dados para o cálculo da

dimensão dos cristais

Para o cálculo da dimensão dos cristais utilizando dados do maior pico, podemos
considerar por exemplo, como a largura do mesmo (𝛽) afeta o tamanho dos
cristalitos/grãos. A equação de Scherrer considera que a largura do pico em radianos,
é inversamente proporcional ao tamanho do cristalito (𝐿ℎ,𝑘,𝑙 ), ou seja, quanto maior
for o grão, mais estreito será o maior pico.

𝜆
𝐿ℎ,𝑘,𝑙 =
𝛽𝑐𝑜𝑠𝜃

O material analisado é provavelmente uma amostra de alumina (Al₂0₃) com estrutura

hexagonal compacta. Os valores dos índices hkl obtidos para os 3 maiores picos
foram de 102, 113 e 116 respetivamente. Para o tamanho dos cristais foi obtido um
valor de 9.22828 ∗ 10¯¹⁰ metros.

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5. Conclusão
Com este trabalho, aprendemos a importância e a eficácia da análise de difração de
Raio-X para identificarmos um material desconhecido.

Reconhecemos a importância de todo o controlo de amostra e as diferentes

propriedades que vão alterar a exatidão para as três informações fundamentais de
cada reflexão: posição angular, intensidade e perfil de pico, e consequentemente
comparabilidade dos nossos resultados em relação ao banco de dados do
International Centre for Diffraction Data (ICDD).

Apercebemo-nos de como fatores como a temperatura, dispersão atómica, estrutura,

absorção, sobreposição de planos de reflexão entre outros, vão afetar no final as
posições de picos, intensidades e larguras dos mesmos.

Após a análise da amostra concluímos que o material analisado é uma alumina (Al203)
com uma estrutura hexagonal compacta. Para além disso, concluímos também que
os planos correspondentes aos 3 maiores picos são 102, 113 e 116. Por fim a partir
da análise do pico de maior intensidade (113), obtivemos a dimensão dos cristais, que
corresponde a 9.22828 ∗ 10¯¹⁰ metros.

6.BBibliografia e Webgrafia
[1] Espectroscopia de Raios X -
http://www3.uma.pt/jrodrigues/disciplinas/MIA/Teorica/ERXC2_05.pdf;
(Acedido em 08/04/2021)

[2] https://pt.wikipedia.org/wiki/Raios_X (Acedido em 08/04/2021)

[3] https://www.radiologymasterclass.co.uk/tutorials/physics/x-
ray_physics_production (Acedido em 09/04/2021)