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SET 2002
ABNT - Associao
Brasileira de
Normas Tcnicas
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Rio de Janeiro
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ABNTAssociao Brasileira de
Normas Tcnicas
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Especificaes geomtricas do
produto (GPS) - Rugosidade: Mtodo
do perfil - Termos, definies e
parmetros da rugosidade
Sumrio
Prefcio
0 Introduo
1 Objetivo
2 Referncias normativas
3 Termos e definies
4 Definies dos parmetros de perfil
ANEXOS
A Texto equivalente
B Diagrama para avaliao da superfcie
C Comparao dos termos bsicos e smbolos dos parmetros entre ISO 4287-1:1984 e NBR ISO 4287:2002
D Relao com o modelo matricial GPS
E Bibliografia
Prefcio
A ABNT Associao Brasileira de Normas Tcnicas o Frum Nacional de Normalizao. As Normas Brasileiras, cujo
contedo de responsabilidade dos Comits Brasileiros (ABNT/CB) e dos Organismos de Normalizao Setorial
(ABNT/ON), so elaboradas por Comisses de Estudo (ABNT/CE), formadas por representantes dos setores envolvidos,
delas fazendo parte: produtores, consumidores e neutros (universidades, laboratrios e outros).
Os Projetos de Norma Brasileira, elaborados no mbito dos ABNT/CB e ABNT/ON circulam para Consulta Pblica entre os
associados da ABNT e demais interessados.
Esta Norma contm o anexo A, de carter normativo, e os anexos B a E, de carter informativo.
0 Introduo
Esta Norma uma especificao geomtrica de produto (GPS) e para ser considerada como uma norma GPS geral (ver
ISO/TR 14638). Ela influencia a conexo 6 da cadeia de normas rugosidade superficial, ondulao e perfil primrio.
Para informaes mais detalhadas sobre a relao desta Norma com outras normas e o modelo matricial das GPS ver
anexo D.
Historicamente, o perfil de rugosidade e seus parmetros tm sido as nicas partes da caraterizao da rugosidade
superficial que esto bem definidos.
Uma relao padronizada entre c e f est em estudado.
Cpia no autorizada
2
2
1 Objetivo
Esta Norma especifica termos, definies e parmetros para a determinao do estado da superfcie (rugosidade,
ondulao e perfil primrio) pelo mtodo do levantamento do perfil.
2 Referncias normativas
As normas relacionadas a seguir contm disposies que, ao serem citadas neste texto, constituem prescries para esta
Norma. As edies indicadas estavam em vigor no momento desta publicao. Como toda norma est sujeita a reviso,
recomenda-se queles que realizam acordos com base nesta que verifiquem a convenincia de see usarem as edies
mais recentes das normas citadas a seguir. A ABNT possui a informao das normas em vigor em um dado momento.
ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics
of contact (stylus) instruments
ISO 4288:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Rules e procedures for
the assessment of surface texture
ISO 11562:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface
characterization of phase corret filters
3 Terminologia e definies
3.1 Terminologia geral
3.1.1
filtro de perfil
filtro que separa o perfil em componentes de ondas longas e ondas curtas (ISO 11562).
NOTA - So utilizados trs filtros nos instrumentos para medio de rugosidade, ondulao e perfis primrios (ver figura 1). Eles tm as
mesmas caratersticas de transmisso definidas na ISO 11562, porm com comprimentos de onda limite diferentes (cut-off).
3.1.1.1
filtro de perfil s
filtro que define a separao entre os componentes da rugosidade e os componentes de onda mais curtos presentes na
superfcie (ver figura 1).
3.1.1.2
filtro de perfil c
filtro que define a separao entre os componentes da rugosidade e da ondulao (ver figura 1).
3.1.1.3
filtro de perfil f
filtro que define a separao entre os componentes da ondulao e os componentes das ondas mais longas presentes na
superfcie (ver figura 1).
Cpia no autorizada
3.1.2
sistemas de coordenadas
sistema de coordenadas no qual os parmetros do estado da superfcie so definidos.
NOTA - usual utilizar um sistema de coordenadas cartesianas positivo, tendo como eixo X a direo de apalpao e colinear com a linha
mdia, estando o eixo Y, teoricamente, no plano da superfcie real e o eixo Z dirigido para fora (do material para o meio ambiente). Esta
conveno adotada em toda esta Norma.
3.1.3
superfcie real
superfcie que limita o corpo e o separa do meio ambiente.
3.1.4
perfil da superfcie
perfil resultante da interseo da superfcie real e um plano especfico. Ver figura 2.
NOTA - Na prtica usual escolher um plano onde a normal teoricamente paralela superfcie real e em uma direo apropriada.
3.1.6
perfil de rugosidade
perfil derivado do perfil primrio pela eliminao dos componentes de comprimento de ondas longas usando o filtro de
perfil c; este perfil modificado intencionalmente.
Ver figura 1.
NOTAS
1 A banda de transmisso dos perfis de rugosidade definida pelos filtros de perfil s e c (ver ISO 11562:1996, 2.6 e 3.2).
2 O perfil de rugosidade serve como base para a avaliao dos parmetros do perfil de rugosidade.
3 A relao preestabelecida (default) entre c e s dada na ISO 3274:1996, 4.4.
Cpia no autorizada
4
4
3.1.7
perfil de ondulao
perfil derivado do perfil primrio pela aplicao sucessiva dos filtros de perfil f e c, eliminando assim os componentes de
comprimento de onda longa por meio do filtro de perfil f e eliminando os componentes de comprimento de onda curta por
meio do filtro de perfil c; este perfil modificado intencionalmente.
NOTAS
1 A forma nominal deve ser inicialmente removida do perfil total pelo mtodo dos mnimos quadrados antes da aplicao do filtro de
perfil f para separao do perfil de ondulao. No caso de forma nominais circulares recomendada a incluso do raio para otimizao
do mtodo dos mnimos quadrados e no manter fixo o valor nominal. Este procedimento para separao do perfil de ondulao define o
operador da ondulao ideal.
2 A banda de transmisso do perfil de ondulao definida pelos filtros c e f (ver ISO 11562:1996, 2.6 e 3.2).
3 O perfil de ondulao serve de base para a avaliao dos parmetros do perfil de ondulao,
3.1.10
comprimento de avaliao
ln
comprimento na direo do eixo X, usado para estabelecer o perfil sob avaliao.
NOTAS
1 O comprimento de avaliao pode conter um ou mais comprimentos de amostragem.
2 Para comprimentos de avaliao padronizados ver 4.4 da ISO 4288. A ISO 4288:1996 no fornece comprimentos padronizados para os
parmetros W.
Cpia no autorizada
3.2.3
parmetro W
parmetro calculado a partir do perfil de ondulao
NOTA - Os parmetros definidos na seo 4 podem ser calculados de qualquer perfil. A primeira letra maiscula no smbolo do parmetro
designa o tipo do perfil avaliado. Por exemplo, Ra calculado a partir do perfil de rugosidade e Pt calculado a partir do perfil primrio.
3.2.4
pico de um perfil
parte do perfil avaliado dirigido para fora (do material para o meio ambiente), conectada a dois pontos adjacentes da
interseo do perfil com o eixo X.
3.2.5
vale de um perfil
parte do perfil avaliado dirigido para dentro (do meio ambiente para o material) do perfil considerado, conectada a dois
pontos adjacentes da interseo do perfil com o eixo X.
3.2.6
limiar de altura e/ou de espaamento
altura mnima ou espaamento mnimo de picos ou vales do perfil avaliado que devem ser levados em considerao.
NOTA - As alturas mnimas de picos ou vales de um perfil so normalmente especificadas com uma porcentagem de Pz, Rz, Wz ou outro
parmetro de amplitude, e o espaamento mnimo uma porcentagem do comprimento de amostra.
3.2.7
elemento de perfil
pico de um perfil e vale de um perfil adjacentes .
Ver figura 3.
NOTA - A poro positiva ou negativa do perfil em avaliao, tanto no trecho inicial como no final do comprimento de amostragem deve
sempre ser considerada como um pico de um perfil ou um vale de um perfil. Quando se determinar o nmero de elementos do perfil em
vrios comprimentos de amostragem sucessivos, os picos e os vales do perfil em avaliao no incio e no final so considerados apenas
uma vez no incio de cada comprimento de amostragem.
Cpia no autorizada
6
6
3.2.9
inclinao local
DZ
dX
inclinao do perfil avaliado na posio xi
Ver figura 4.
NOTAS
1 O valor numrico de uma inclinao local, e assim tambm os parmetros Pq, Rq e Wq, dependem fortemente do espaamento X.
2 A frmula para a estimativa da inclinao local :
dZ
1
=
x ( Z i +3 - 9 Z i+ 2 + 45 Z i +1 - 45Z i+1 + 9Z i +2 - Z i+3 )
dX
60X
Onde Zi a altura do i-simo ponto do perfil e X o espaamento entre dois pontos adjacentes do perfil. conveniente
utilizar a frmula acima para o espaamento estipulado especificado na ISO 3274 em funo do filtro utilizado.
Cpia no autorizada
Cpia no autorizada
8
8
1 n
Zt i
m i =1
Ver figura 9.
NOTA - Os parmetros Pc, Rc, Wc necessitam de alturas e espaamento definidos. Quando no especificado, adotar a condio padro
para a altura que 10% de Pz, Rz, Wz respectivamente, e o espaamento padronizado deve ser 1% do comprimento de amostragem.
Ambas as condies devem ser satisfeitas.
Cpia no autorizada
Pa,Ra,Wa =
1
Z (x )dx
l 0
Cpia no autorizada
10
10
Pq, Rq, Wq =
1 2
Z (x )dx
l 0
Rsk =
1
Rq 3
1 lr 3
Z (x )dx
lr 0
NOTAS:
1 A equao acima vale tanto para Rsk como para Psk e Wsk.
2 Psk, Rsk e Wsk so indicadores da assimetria da funo densidade de probabilidade dos valores das ordenadas.
3 Esses parmetros so fortemente influenciados por picos isolados ou vales isolados.
Rku =
1
Rq 4
1 lr 4
Z (x )dx
lr 0
NOTAS
1 A equao acima vale tanto para Rku como para Pku e Wku.
2 Pku, Rku e Wku so indicadores do achatamento da funo densidade de probabilidade dos valores das ordenadas.
3 Esses parmetros so fortemente influenciados por pico isolados ou vales isolados.
Cpia no autorizada
11
3 Parmetros de espaamento
4.3.1 Largura mdia dos elementos do perfil
PSm, RSm, WSm
Valor mdio da largura dos elementos do perfil, Xs, no comprimento de amostragem.
PSm, RSm, WSm =
1 m
Xsi
m i =1
Ml (c )
ln
Cpia no autorizada
12
12
Cpia no autorizada
13
________________
/ANEXO
Cpia no autorizada
14
14
Anexo A (normativo)
Texto equivalente
De modo a facilitar a notao alfanumrica por meio do computador recomenda-se a seguinte equivalncia para o texto
Pq
Equivalente
no texto
Pdq
Rq
Rdq
Wq
Wdq
Pq
Pdc
Rq
Rdc
W q
Wdc
Ls
Lc
Lf
Parmetro
________________
/ANEXO B
Cpia no autorizada
15
Escala
de
sada
Registro do perfil
Perfil de
rugosidade
Perfil
primrio
Algortmo
da
rugosidade
Funo caracterstica
Parmetros da
rugosidade, ondulao
Filtro do
perfil c
e perfil primrio
Filtro do
perfil f
Perfil de
ondulao
Algortmo
da
ondulao
Algortmo
do perfil
primrio
________________
/ANEXO C
Cpia no autorizada
16
16
Edio de 1984
Edio de 1996
3.1.9
Comprimento de amostragem
3.1.10
Comprimento de avaliao
Ln
ln
3.2.8
Valor da ordenada
Z(x)
3.2.9
Inclinao local
dZ/dX
3.2.10
yp
Zp
3.2.11
Yv
Zv
3.2.12
Zt
3.2.13
Xs
3.2.14
np
Ml(c)
1)
Os comprimentos de amostragem para os trs diferentes perfis so denominados : lp (perfil primrio), lw (perfil de ondulao), lr
(perfil de rugosidade).
Item
da edio
Edio
Edio
Comprimento
Comprimento
1984
2002
de
de
avaliao
amostragem 1)
de 2002
4.1.1
4.1.2
Rp
Rm
Rp 2)
2)
Rv
2)
x
x
4.1.3
Ry
Rz
4.1.4
Rc
Rc2)
4.1.5
4.2.1
4.2.2
4.2.3
Rs
Rq
Sk
2)
Rt
2)
2)
Ra
Rq
Rsk
2)
2)
4.2.4
Rku
4.3.1
Sm
Rsm2)
4.4.1
2)
Rq
4.5.1
4.5.3
x
2)
Rmr(c)
Rc
2)
x
x
2)
4.5.4
Rp
Rmr
Rz
1)
Esse comprimento de amostragem lr, lw e lp para os parmetros R-, W-, P- respectivamente; lp igual a ln
2)
Parmetros que so definidos para trs perfis: perfil primrio, perfil de ondulao e perfil de rugosidade. Somente o parmetro do perfil
de rugosidade indicado na tabela. Por exemplo, os trs parmetros que so escritos Pa (perfil primrio), Wa (perfil de ondulao) e Ra
(perfil de rugosidade).
________________
/ANEXO D
Cpia no autorizada
17
Anexo D (informativo)
Relao ao modelo matricial GPS
Para detalhes completos sobre o modelo matriz GPS, ver ISO/TR 14638.
D.1 Informao sobre esta Norma e sua aplicao
A NBR ISO 4287 uma reviso maior e uma reorganizao da ISO 4287-1:1984, que juntamente com as ISO 11562 e
ISO 3274, define, adicionalmente, perfil de ondulao, perfil primrio e seus parmetros de uma maneira mais consistente.
D.2 Posio no modelo matriz GPS
Esta norma NBR-ISO 4287 uma norma geral padro GPS, que influencia o elo 6 da cadeia de normas de rugosidade,
ondulao e perfil primrio na matriz geral GPS, como mostrado graficamente na figura D.1.
D.3 Padres internacionais relacionados
Os padres internacionais relacionados so aqueles indicados na cadeia de padres da figura D.1.
Normas globais GPS
Normas gerais GPS
Nmero de elo na cadeia
Tamanho
Distncia
Raio
ngulo
Forma da linha independente da origem
Forma da linha dependente da origem
Normas
fundamentais
GPS
________________
/ANEXO E
Cpia no autorizada
18
18
Anexo E (informativo)
Bibliografia
[1] ISO/TR 14638:1995, Geometrical product specifications (GPS) - Masterplan.
[2] VIM:1993 International vocabulary
IUPAP,OIML.
of basic ans general terms in metrology, BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC,
________________