Disciplina de Metrologia

Prof. MSc. Carlos Eduardo Costa

Atividade Prática de Metrologia

OBJETIVO

Essa atividade tem como objetivos: a familiarização do aluno por meio do reconhecimento e a
utilização de instrumentos utilizados na metrologia industrial, bem como a discussão dos resultados de
medição como parâmetros quantificadores e qualificadores dos instrumentos e peças verificadas.
MATERIAL UTILIZADO

Para a realização dos experimentos serão utilizados instrumentos disponíveis no Kit Taylor
apresentados na figura 1, material fornecido pela Uninter aos alunos. Obs. É necessário a revisão aos
materiais disponibilizados nas Rotas de Estudo e Bibliografia. Figura 1: Maleta Kit

Figura 1: Maleta Kit Taylor.

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Na Tabela 1 apresentam-se os instrumentos utilizados por esta disciplina a disposição no Kit Taylor:

QUANTIDADE UTILIZADO KIT NÚMERO DA CÓDIGO

MATERIAL CAIXA UNINTER

01 PAQUÍMETRO TAYLOR 3 0401005

UNIVERSAL -150
MM

01 MICRÔMETRO TAYLOR 3 0401004

EXTERNO – 0 –
25MM

01 ESCALA 300 MM DO ALUNO

Tabela 1: Descrição dos instrumentos no Kit Taylor – Metrologia.

OBSERVAÇÃO

Junto ao resultado da atividade técnico-prática deverão ser encaminhadas evidências sobre a realização das
mesmas (fotos, filmes, gráficos etc.).

Figura 2: Medição com micrometro.

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Figura 3: Medição com paquímetro.

PRÁTICA: INSTRUMENTOS BÁSICOS

De posse dos instrumentos do Kit Taylor exposto na figura 2 e complementar, a escala realize a prática por
meio do procedimento:
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Figura 4: Instrumentos básicos Kit Taylor.

1.1. Identifique, observe e esboce tais instrumentos (paquímetro e micrômetro) verificando suas
diferenças e semelhanças quanto ao princípio de funcionamento envolvidos e as suas
características.

Complete esta fase por meio de uma planilha indicando as partes de cada instrumento.

Figura 5: Paquímetro
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Micrometro. Paquímetro.

1 Arco 1 Orelha fixa

2 Contato fixo 2 Orelha móvel

3 Contato móvel 3 Nônio ou vermier (polegadas)

4 Trava do parafuso micrométrico Fixador

5 Catraca 5 Cursor

6 Tambor 6 Escala de polegadas

7 Bainha ou cilindro 7 Bico fixo

8 8 Encosto fixo

9 9 Encosto móvel

10 10 Bico móvel

11 11 Nônio ou vermier (milímetros)

12 12 Impulsor

13 13 Escala em milímetros

14 Haste de profundidade

Tabela: 1 Componentes do micrometro e paquímetro.

Figura 1: Micrometro.
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1.2. Identifique na configuração física do paquímetro e do micrômetro suas principais diferenças. Observe
especialmente a posição relativa entre a escala principal e a linha de medição nos dois instrumentos
discutindo sobre o fato.
O paquímetro uma grande praticidade e uma boa precisão em seus resultados. Possui recursos para
medições dimensões internos, de profundidade, ressaltos e dimensões externas em geral e o micrometro e
uma ferramenta de medição utilizada quando precisa de medidas de alta precisão acima do possível de um
paquímetro, permitindo medições de ate milésimos de milímetros.

1.3. Observe na figura 3 elemento também constante no Kit Taylor.

Figura 3: Bateria constante no Kit Taylor.

De posse deste realize a sequência:

Meça a espessura do elemento cinco vezes com o micrômetro e cinco vezes com o paquímetro. Calcule a
média e o desvio padrão dos resultados obtidos com cada instrumento.

Medição Paquímetro Micrômetro

1 17,15 17,21

2 17,15 17,22

3 17,15 17,24

4 17,2 17,22

5 17,2 17,21

Média 17,17 17,22

Desvio padrão 7,68093 0,01225

Tabela : 2 Dados da média e desvio padrão das medições.

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Tabela 2: Medidas obtidas sobre o elemento verificado.

1.4. Indique as características dos instrumentos:

Instrumento / descrição Paquímetro Micrômetro Escala

Resolução 0,05mm 0,01 0,5mm

Curso 0-150mm 0-25mm 0-300mm

Tabela 3: Características dos instrumentos.

1.5. Discussão dos resultados, por meio de análise a capacidade de cada instrumento, no que diz respeito a
repetitividade, exatidão e resolução observando os valores obtidos e cálculos efetuados da média e desvio
padrão. Podemos ver pelo desvio padrão que temos dados mais homogêneos e confiáveis com as medidas
feitas com o micrometro.
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Referências
AIAG – Automotive Industry Action Group. Análise dos Sistemas de Medição. 3 ed. Southfield: IQA,
2008.

ALBERTAZZI, A.; SOUZA, A. R. Fundamentos de Metrologia Científica e Industrial. Barueri, SP:

Editora Manole, 2008.

MENEZES, F. M. MSA – Análise dos Sistemas de Medição; (ABDI, Associação Brasileira de

Desenvolvimento Industrial). Porto Alegre, Produttare, 2013.

SANTOS, J. O. Metrologia e Normalização. São Paulo, SP: Pearson, 2015.

SOUSA, A. R.; NEVES, B. M. Apostila de Metrologia I. Instituto Federal de Santa Catarina.

TOLEDO, J. C. Sistemas de Medição e de Metrologia. Curitiba, PR: Editora Intersaberes, 2014.

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