Turma: PS7A Grupo: A Data: 15/06/2022

Nome: Guilherme Vaz Moreira

Nome: Cauã Daniel Marra Aguiar Pinto

CONSTANTE DE TEMPO CAPACITIVA – CIRCUITO RC.

Objetivo
Determinar as constantes capacitivas dos circuitos analisados e obter as curvas de descarga
de um capacitor em um circuito RC.

Método
O capacitor é um componente eletrônico que quando carregado pode funcionar como a
alimentação do sistema, ele apresenta uma propriedade designada de Capacitância C que se
relaciona com demais grandezas de acordo com a equação (1):
dq q
(1) ε = R+
dt c
Nesse sentido, a equação da carga (2) em função do tempo se mostra uma solução da relação
apresentada acima, basta derivá-la em função do tempo e substituir na equação diferencial (1),
como exibido abaixo para comprovar.

( ); dq
t t
(2) q ( t )=C ε 1 −e
−
RC ε −
RC
= e
dt R

( ) ( )
t t t t
ε R − RC C − − −
ε= e + ε 1 −e RC ⇒ ε=ε e RC +1 −e RC =ε
R C
Se considerarmos a função 𝑞(𝑡)=𝐶𝜀𝑒-t/RC para representar o processo de descarga em um
capacitor pelo teorema da suposição, veremos que 𝑉(𝑡)=𝑉𝑜𝑒−t/𝑅𝐶 segue o mesmo raciocínio.
(I) q ( 0 )=C ε , V (0 )=V 0 (II) q ( ∞ )=0, V (0 )=0
Assim, no caso em que o tempo se iguala a constante capacitiva τ=RC, podemos calcular
que a tensão no capacitor cai para 37% de seu valor inicial, como mostrado abaixo:
RC
−
RC V0
V (t )=V 0 e = =0,37 V
e
Desse modo, o experimento se baseia em validar os fenômenos comprovados acima por
meio de um circuito montado em bancada de teste. A montagem do circuito foi iniciada conectando
o capacitor no circuito. O capacitor possui polaridade, então deve-se conectar o lado negativo da
fonte ao contato que está na direção da faixa branca do capacitor. Em seguida, conectou-se o sensor
de tensão, que foi utilizado em paralelo com o circuito. Após ligar a fonte, fornece-se uma diferença
de potencial de aproximadamente 7 V. Em seguida, o descarregamento do capacitor foi feito
simultaneamente ao acionamento do cronômetro digital, de modo a demonstrar a queda da tensão
em função do tempo. Os coeficientes apresentados pelo programa de aquisição de dados se
equivalem à:
 t
−
V0e RC
= Ae− C ' t +B .

Logo,
1 1
A=V 0; B=0 ; C ’= = .
RC τ

Resultados

Tabela 1: Dados obtidos pela utilização do multímetro Tabela 2: Coeficientes do ajuste exponencial inverso feito
para a resistência, capacitância e tensão relacionadas ao pelo programa e instrumento de obtenção de dados. Neste
circuito com R1. caso: A=V0,1; B=0 e C'=1/R1T.
Dados 1 Gráfico - Dados 1
R1 583 ± 12 Ω A 7,15 ± 0,02 V
C 462 ± 9 μF B 28,1 ± 3,5 mV
V0,1 7,14 ± 0,14 V C’ 3,37 ± 0,02 1/s

Tabela 3: Comparação dos valores para a constante de tempo capacitiva do circuito com R 1. Um dos valores
é obtido pela utilização da relação τ1=R1C e outra, utilizando o gráfico, pela relação τ1=1/C'.

Constante de Tempo Capacitiva (τ1 = R1C)

Com os valores de R1 e C 269 ± 8 ms
Com o valor de C’ 297 ± 1 ms

Tabela 4: Dados obtidos pela utilização do multímetro Tabela 5: Coeficientes do ajuste exponencial inverso feito
para a resistência, capacitância e tensão relacionadas pelo programa e instrumento de obtenção de dados. Neste
ao circuito com R2. caso: A=V0,2; B=0 e C'=1/R2T.

Dados 2 Gráfico - Dados 2

R2 8,08 ± 0,16 kΩ A 6950 ± 3 mV
C 462 ± 9 μF B 58,8 ± 1,3 mV
V0,2 7,10 ± 0,14 V C’ 204,0 ± 0,2 1/ms

Tabela 6: Comparação dos valores para a constante de tempo capacitiva do circuito com R 2. Um dos valores
é obtido pela utilização da relação τ2=R2C e outra, utilizando o gráfico, pela relação τ2=1/C'.

Constante de Tempo Capacitiva (τ2= R2C)

Com os valores de R2 e C 3733 ± 106 ms
Com o valor de C’ 4902 ± 5 ms

Discussão
Ao compararmos os resultados da Tabela 3, observamos que os valores de τ1 obtidos pelo
gráfico (297 ± 1 ms) e pela substituição dos valores de R 1 e C (269 ± 8 ms) são próximos, com uma
variação percentual de aproximadamente 10,4% entre eles. Entretanto, ainda podemos destacar
alguns pontos que podem ter gerado essa divergência entre os resultados. Nesse erro, devemos
considerar alguns aspectos como: a imprecisão do instrumento de obtenção de dados e do
multímetro utilizado para adquirir os valores de C e R 1. O mais importante de destacar é que não há
total garantia de que as incertezas das medidas do multímetro são realmente de 2%, uma vez que
sua última revisão foi realizada há tempos. Por conta disso, é muito provável que o instrumento de
obtenção de dados apresente o valor de τ 1 mais próximo da realidade, já que conta com um alto
número de pontos experimentais com uma incerteza praticamente mínima de 1 ms. Destacamos que
altos valores da razão entre os erros de R1 e C e suas medidas experimentais (ΔR1/R1 e ΔC/C),
implicam em uma incerteza maior de τ1, e provavelmente a alta imprecisão do multímetro deve ter
ocasionado a discrepância entre os valores obtidos de modos diferentes. Neste caso, se torna mais
adequado tomar o valor de τ1 obtido pelo gráfico como o mais perto da realidade do que o obtido
pelas medições do multímetro.
Já em relação à Tabela 6, tem-se que os valores de τ2 — (3733 ± 106 ms), usando τ2=R2C, e
(4902 ± 5 ms), usando τ2=1/C’ — são um pouco mais discrepantes entre si, com uma variação
percentual de aproximadamente 31,3% entre eles. É notável que, como estamos lidando com um
valor maior de resistência, a imprecisão do experimento se torna maior, visível pela fórmula de
propagação de incertezas para τ2 ao utilizar τ2=R2.C. Além disso, precisamos destacar mais uma vez
que, como a última calibração do multímetro foi realizada há tempos, não temos total certeza de que
suas medidas possuem uma incerteza de 2%, tornando o valor obtido pela fórmula τ 2=R2C mais
impreciso, por necessitarmos de medidas tomadas pelo multímetro para isso. Assim, com um maior
número de dados obtidos e uma incerteza praticamente mínima de 5 ms, o valor adquirido pelos
coeficientes tirados do gráfico realizado pelo programa de aquisição de dados, (4902 ± 5 ms), deve
ser mais próximo do valor real da constante de tempo capacitiva do circuito utilizando R2.
Sendo assim, não é adequado dizermos que obtemos resultados profundamente conclusivos,
uma vez que uma variação de 31,3% entre os valores de τ2 não é o ápice da exatidão que se poderia
adquirir com o experimento. Mesmo que tenhamos logrado valores de τ 1 mais próximos, uma
variação de 10,4% também não é tão baixa quanto se deseja. O experimento indica uma necessidade
de calibração dos instrumentos de medida usados — principalmente do multímetro — ou a
obtenção da resistência e da capacitância de outras maneiras, já que para adquirir as medidas no
gráfico são usados muitos pontos experimentais e, consequentemente, serão uma melhor
aproximação para o valor real da constante de tempo capacitiva. Inclusive, o experimento é um
ótimo exemplo de como se obter a capacitância de um capacitor ou a resistência de um resistor, se
soubermos o valor de um ou de outro, utilizando a relação R=1/(C’C) ou C=1/(C’R).

Conclusão
Diante do que foi exposto, as relações entre as grandezas e os fenômenos físicos envolvidos
foram comprovados por meio do experimento realizado em bancada de teste, a exemplo da descarga
representar um decaimento exponencial. No entanto, os resultados obtidos não se mostram eficaz e,
se distância do valor calculado teoricamente, contudo, isso comprova a importância de uma boa
medição e de equipamentos calibrados, visto que a divergência dos valores se deve à precariedade
dos equipamentos utilizados.
Apêndice

Figura 1: Gráfico produzido pelo programa de aquisição

de dados para o circuito cuja a resistência é igual a 583
Ω. Com essa imagem realizamos a Tabela 2.

Figura 2: Cálculo das incertezas das medidas realizadas pelo multímetro

para o primeiro circuito. Neste caso, a imprecisão é de 2% da medida.
Com esta imagem realizamos a Tabela 1.
 Figura 3: Cálculo da constante de tempo capacitiva τ1 e sua incerteza Δτ1, relacionada ao circuito
utilizando a resistência de 583 Ω, com os dados obtidos pelo multímetro, ou seja, através da fórmula
τ1=R1C. Essas valores permitem a realização da Tabela 3.

Figura 4: Cálculo da constante de tempo capacitiva τ1 e sua incerteza Δτ1, relacionada ao circuito
utilizando a resistência igual a 583 Ω, através do coeficiente C’ fornecido pelo gráfico feito pelo programa
de aquisição de dados, ou seja, através da fórmula τ1=1/C’. Esses valores nos permitem a realização da
Tabela 3.
 Figura 5: Gráfico produzido pelo programa de aquisição de dados
para o circuito cuja a resistência é igual a 8,08 kΩ. Com essa
imagem realizamos a Tabela 5.

Figura 6: Cálculo das incertezas das medidas realizadas pelo multímetro para o
primeiro circuito. Neste caso, a imprecisão é de 2% da medida. Com esta imagem
realizamos a Tabela 4.
Figura 7: Cálculo da constante de tempo capacitiva τ2 e sua incerteza Δτ2, relacionada ao circuito utilizando
a resistência de 8,08 kΩ, com os dados obtidos pelo multímetro, ou seja, através da fórmula τ 2=R2C. Essas
valores permitem a realização da Tabela 6.

Figura 8: Cálculo da constante de tempo capacitiva τ2 e sua incerteza Δτ2, relacionada ao circuito utilizando
a resistência igual a 8,08 kΩ, através do coeficiente C’ fornecido pelo gráfico feito pelo programa de
aquisição de dados, ou seja, através da fórmula τ2=1/C’. Esses valores nos permitem a realização da Tabela
6.