CALIBRAÇÃO DE MICRÔMETROS

CUIDADOS ANTES DA CALIBRAÇÃO

• Antes de iniciar a calibração de um micrômetro,

é necessária uma rigorosa inspeção do mesmo
dentro dos aspectos tangentes à conservação,
como por exemplo, verificação visual da
qualidade da superfície dos sensores, condição
de funcionamento do instrumento, por exemplo
catraca, trava, folgas no parafuso micrométrico,
etc., identificando-se a necessidade ou não de
manutenção corretiva prévia.
NORMAS PARA CALIBRAÇÃO
• A calibração de micrômetros segue normas
técnicas, que especificam os procedimentos
corretos;
• A nível internacional existe a norma ISO 3611;
• Alguns países têm normas nacionais para
calibração de micrômetros.Por exemplo, NBR
EB – 1164 (Brasil); DIN 863 (Alemanha); JIS
B 7502 (Japão); VSM 58050 (Suíça).
 PARÂMETROS A VERIFICAR
• Erros de indicação e repetitividade
• Erros de paralelismo dos sensores
• Erro de planeza dos sensores
• Rigidez do arco ( estribo )
• Força de medição
• Erro de ajuste do zero ou do limite inferior da faixa de
medição
• Qualidade dos traços e algarismos
• Erros devido ao acionamento da trava
 .
Erros de indicação e repetitividade

• Englobam os efeitos de todos os erros

individuais. Por exemplo, erro de passo do
parafuso micrométrico, das faces de medição
(planeza e paralelismo dos sensores de
medição), da construção da escala, etc.
• Item mais importante a ser verificado. A
calibração é feita ao longo de toda a faixa de
medição do instrumento.
• Utilização de blocos padrão classe I;
• As normas anteriores indicam utilização dos
seguintes comprimentos de blocos: 2,5 - 5,1 -
7,7 - 10,3 - 12,9 - 15,0 - 17,6 - 20,2 - 22,8 e 25
mm. Exemplos de blocos podem ser vistos na
figura1, a seguir.
• Dessa forma é possível detectar-se a influência
dos erros do parafuso micrométrico e do
paralelismo para diferentes posições do sensor
móvel. O ponto zero ou o limite inferior da faixa
de medição também é um ponto de calibração.
Figura 1: blocos padrão para calibração de micrômetros
• micrômetros de faixa de medição superior a 25
mm, pode ser montado um padrão a partir da
aderência de dois blocos dos tipos citados
anteriormente;
• O erro máximo estabelecido por norma para
qualquer ponto na faixa de medição do
micrômetro é determinado por:
Emax=(4+L/50) µm
onde L é o limite inferior da faixa de operação
em milímetros. Essa fórmula para erro máximo
só engloba erros sistemáticos. As normas não
incluem erros aleatórios;
• Por exemplo, um micrômetro de 0 – 25 mm
não deve apresentar erro superior a 4 μm.
Inclusive recomenda-se construção de curva
de erros para o instrumento, como ilustrado na
figura 2 abaixo
Figura 2: Erro máximo permitido para micrômetros 0 – 25 mm
segundo NBR EB - 1164 e DIN 863
A normas definem que o micrômetro devem atender a dois
requisitos simultâneos
- a tendência, para cada ponto de calibração, não pode ser
superior a 4 µm. Isto significa que este erro pode assumir
sinal positivo ou negativo (conforme ISO 3611) ;
• - a máxima diferença entre as ordenadas da curva de erros
- diferença entre a tendência máxima e mínima - não
pode exceder a 4 µm (conforme DIN 863 ).
• A primeira condição pode ser obtida quando ajustes de
zero, ou limite inferior, podem contribuir para
minimização dos erros.
• A segunda condição é a mais problemática tendo-se em
vista que não é possível nenhum tipo de correção.
 Erros de paralelismo e planeza dos sensores

• O erro de paralelismo dos sensores de

micrômetros de 0 - 25 mm é determinado pela
observação das franjas de interferência geradas
através da aplicação de um plano óptico especial
entre os sensores de medição do micrômetro.
• Para uma análise mais ampla utiliza-se um
conjunto de quatro planos ópticos, que se
diferenciam pela espessura escalonada de um
quarto de passo;
• O plano óptico deve estar paralelo à superfície
de um dos sensores ( franjas de interferência
devem praticamente desaparecer ou formar
círculos concêntricos ). O número total de
franjas não deve exercer a oito, quando sob luz
comum;
• O plano paralelo deve ser colocado entre as
superfícies de medição, sob a presão da
catraca em acionamento.
• Durante o processo, o plano paralelo deve ser
movido cuidadosamente entre as superfícies.
Isso é necessário para que se reduza ao
mínimo o número de franjas de interferência
vistas em cada uma das faces. As franjas são
contadas em ambas as faces.
• Recomenda-se utilização de Luz
monocromática para verificação das franjas;
 Erro de planeza dos sensores

• Para a verificação da planeza das superfícies de

medição utiliza-se um plano óptico. Coloca-se o plano
sobre cada uma das superfícies, verificando as franjas
de interferência que aparecem sob forma de faixas
claras e escuras. O formato e o número das franjas de
interferência indicam o grau de planeza da superfície.
• Para superfície com tolerância de 0,001 mm, não
podem ser vistas mais que quatro franjas da mesma
cor. Na figura 3, abaixo, seguem alguns tipos de
franjas.
Figura 3: Franjas observadas na verificação da planeza
 Rigidez do arco ( estribo )

• A rigidez dos arcos de micrômetros deve ser

tal que uma força de 10 N aplicada entre os
sensores não provoque uma flexão que
ultrapasse valores indicados por normas. O
controle é efetuado aplicando uma carga de 10
N no eixo de medição do arco.
 Força de medição

• A força de medição exercida pelo

acionamento da catraca sobre a peça a medir
deve apresentar valores entre 5 a 10 N.
Erro de ajuste do zero ou do limite inferior da faixa de medição

• O micrômetro deve apresentar dispositivo para

ajuste do zero. Para faixa de medição superior
a 0 - 25 mm, devem vir acompanhados de
padrões com dimensão igual ao limite inferior
da faixa de medição.
• Os padrões de comprimento para ajustagem de
micrômetros externos são cilíndricos e apresentam as
superfícies de medição planas ou esféricas com raio
aproximadamente igual a metade do comprimento padrão
(figura 4a).
• Para ajustagem de micrômetros de roscas pelo método do
prisma-cone, os padrões de comprimento apresentam-se
com uma extremidade em forma de " V " e a outra em
forma de cone, permitindo o contato entre os sensores
com o objetivo de simular uma rosca comum ( figura 4b).
• Anéis padrão são utilizados para ajustagem de
micrômetros para medição de diâmetros internos
( figura 4c).
Figura 4: padrões para calibração do zero de micrômetros
• É permitido um erro de indicação de ajuste da
escala, segundo ISO 3611, dada pela seguinte
equação:
± (2 + L/50) µm

sendo L o limite inferior da faixa de medição

do instrumento em milímetros. Por exemplo,
para um micrômetro de 0 - 25 mm é permitido
um erro residual no limite inferior da faixa de
medição igual a ± 2 µm .
 Qualidade dos traços e algarismos

• O micrômetro deve apresentar os traços de

graduação nítidos e uniforme, regulares, sem
interrupção e sem rebarbas.
• A distância entre os centros dos traços da
graduação não deve ser menor que 0,8 mm.
 Erros devido ao acionamento da trava

• Quando acionada a trava, a distância entre os

sensores de medição não deve alterar mais que
2 µm.