1° Quadrimestre 2014

Prof. Dr. Luiz Fernando Grespan Setz

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◦ Prof. Dr. Luiz Fernando Grespan Setz

◦ Aulas: Quartas-feiras das 21:00 às 23:00h

◦ Sextas-feiras das 19:00 às 21:00h

◦ Atendimento Professor: Sextas-feiras às 18:00h – Sala

718-1 (Bloco A)

◦ Salas: Teórica: sala S - 306-1

◦ Práticas: Laboratório 507-1 ou CEM

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 Ementa do curso
 Cronograma do curso
 Avaliações
 Conceitos
 Introdução a Caracterização de Materiais:
◦ Princípios de Instrumentação.

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Técnicas de caracterização:
 Composição química de materiais (Espectroscopia atômica,
espectroscopia de massa);

 Ligações químicas: espectroscopia óptica e vibracional

(espectroscopia na região do UV-vis e infravermelho,
Fotoluminescência, elipsometria, Raman);

 Estrutura cristalina de materiais: métodos de difração de

raios-X , microscopia eletrônica de transmissão e difração
de elétrons ou nêutrons;

 Microestrutura: microscopia (AFM, microscopia eletrônica);

 Propriedades térmicas: Análise térmica.

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 HOLLER, FJ; SKOOG, DA; CROUCH, SR. Princípios de
Analise Instrumental, 6a edição, Bookman, 2009.

 BRANDON, DG; KAPLAN, WD. Microstructural

Characterization of Materials. Chichester: John Wiley, 1999.

 KAUFMANN, EN. Characterization of Materials. Hoboken, NJ:

John Wiley & sons, Vol 1 e 2, 2003.

 CIENFUEGOS, F; VAITSMAN, D. Análise Instrumental,

Interciência, 2000.

 EWING, WG; Métodos Instrumentais de Análise Química,

Edgard Blücher, Vol. 1 e 2, 1972.

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Semana Quarta-Feira Sexta Feira Semana Quarta-Feira Sexta Feira

12/03 14/03
30/04 02/05
1ª Apresentação da disciplina Interação da radiação com 8ª
Difração de raios X FERIADO
Atividade em Sala a matéria

09/05
19/30 21/03 07/05
2ª 9ª Microscopia eletrônica
Métodos espectroscópicos Espectroscopia de massa Aula Prática 5 - DRX
de varredura

16/05
26/03 28/03 14/05
3ª 10ª Técnicas de análises
Absorção atômica Fluorescência de raios X Aula Prática 6 - MEV
térmicas

02/04
04/03 21/05 23/05
4ª Aula prática 1 – absorção 11ª
atômica
Espectroscopia UV-vis PROVA 2 -

09/04 11/04 28/05 30/05

5ª 12ª
Aula prática 2 – UV-vis Espectroscopia FTIR VISTA de Provas PROVA Substitutiva

16/04 18/04
6ª
Espectroscopia RAMAN FERIADO

25/04
23/04
7ª Aula Prática 4 –
PROVA 1 Espectroscopia RAMAN

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 CENTRO DE ENGENHARIA, MODELAGEM E CIÊNCIAS SOCIAIS APLICADAS
EN2822 – REOLOGIA I

CRITÉRIO DE AVALIAÇÃO
Quartas-feiras: das 21:00 às 23:00, sala S-306-1
Sextas-feiras: das 19:00 às 21:00, sala S-306-1

Atendimento Professor: Segundas-feiras 10:00 às 11:00, sala 718-1 (Bloco A)

Duas avaliações sem consulta (P1 e P2)

Prova 1: 23/04
Prova 2: 21/05
Prova Substitutiva: (toda a matéria do quadrimestre; substitui OBRIGATORIAMENTE a
menor nota) - P-Sub: 30/05

Média final: MF = MP (média das provas) + MR (média relatórios e trabalhos)

MP>MR
CUIDADO COM AS FALTAS!!! O MÍNIMO DE FREQUÊNCIA É DE 75%!!!
 CENTRO DE ENGENHARIA, MODELAGEM E CIÊNCIAS SOCIAIS APLICADAS
EN2822 – REOLOGIA I

CRITÉRIO DE AVALIAÇÃO

RELATÓRIOS E TRABALHOS: caso estejam iguais ou idênticos, A NOTA SERÁ ZERO PARA
TODOS OS ALUNOS!

- Grupos de 5/6 alunos

Conceitos:
A - desempenho excepcional;
B - desempenho bom;
C - desempenho satisfatório;
D - aproveitamento mínimo não satisfatório;
F - reprovado.
O - reprovado por falta

SEJAM RESPONSÁVEIS PELA PRESENÇA E ATITUDES EM AULA,

COM RESPEITO AOS ALUNOS E AOS PROFESSORES
 CUIDADO COM AS FALTAS!!! OBRIGATÓRIA
PRESENÇA EM PELO MENOS 75% DAS
AULAS!!!

Atestados NÃO Tiram faltas!!!

A LDB (nº 9.394 – LDB) determina que o aluno é obrigado a ter a freqüência
mínima de setenta e cinco por cento do total de horas letivas para aprovação.
Da mesma forma, vários são os pareceres do Conselho Nacional de Educação
enfatizando que não há no ensino superior o ABONO DE FALTAS.

Portanto, se o aluno ultrapassar o limite de faltas em uma disciplina, ou seja,

superar os 25% que ele tem, será reprovado, independentemente da nota
obtida. Como não há abono de faltas, nos 25% que ele tem direito a faltar estão
incluídas todas as situações, ou seja: morte em família, doenças, trabalho, etc
 CENTRO DE ENGENHARIA, MODELAGEM E CIÊNCIAS SOCIAIS APLICADAS
EN2822 – REOLOGIA I

CRITÉRIO DE AVALIAÇÃO

Uso de Calculadoras:

Durante a aulas, se necessário, é permitido o uso de

qualquer calculadora (convencional, científica ou
financeira), na prova NÃO SERÁ PERMITIDO o uso das
calculadoras presentes em tablets, celulares, notebooks,
palms e calculadoras alfa-numéricas e gráficas (HP49G e
GX, 50G, etc.).

Celulares e laptops:

NÃO é permitido o uso de laptops DURANTE A AULA.

Celulares devem ser desligados ou colocados no modo de
vibração.
 Provas: 2 provas
P1: 23/04 e Conceitos
P2: 21/05
•A
 Síntese das aulas práticas: 6 aulas •B
(grupo de 5-6 alunos) •C
Experimento perdido: F
•D

 Prova Substitutiva: Perda de 1 das •F

provas, com justificativa!
Psub: 30/05

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 Síntese das aulas práticas: em grupo

◦ Principio de funcionamento do Instrumento;

◦ Instrumentação utilizada;

◦ Preparação de amostras;

◦ Apresentação e interpretação dos resultados.

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Área multidisciplinar:

◦ Química: metodologias de análise elementar:

o Gravimétricas ou volumétricas (titulométricas)

◦ Física: teoria eletromagnética e Mecânica Quântica:

o Dualidade onda-partícula;
o Ex.: difração de raios X, microscopia eletrônica, etc.;

◦ Eng. Materiais: Desenvolvimento de novos materiais: indústria de

semicondutores;

◦ Industria eletroeletrônica: Aplicação de novos materiais e novos

dispositivos eletrônicos;

◦ Industria de computadores: Instrumentação analítica mais simples e

confiável;
o Sistema de aquisição de dados;
o Conversão/amplificador de sinais.

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 Procura por métodos alternativos para a
resolução de problemas analíticos;
 Escolha do tipo de método instrumental:
- Utiliza-se uma fonte de energia para estimular uma
resposta confiável de uma determinada característica
física ou química da amostra.

Estímulo Resposta

Fonte de energia Amostra Coleta de informação

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Propriedades Caracteristicas
Emissão de radiação
Absorção de radiação
Espalhamento de radiação
Refração de radiação
Difração de radiação
Rotação de radiação
Massa
Características térmicas
Metodos Instrumentais
Espectroscopia de emissão (RX, UV, Vis,
eletrônica, Auger); fluorescência, fosforescência e
luminescência (RX, UV, vis)
Espectrofotometria e fotometria (RX, UV, Vis, IR);
espectroscopia fotoacústica; RMN, EPR
Espectroscopia Raman
Refratometria; interferometria
Difração de raios X, nêutrons, elétrons
Polarimetria, dispersão óptica rotatória, dicroísmo
circular
Gravimetria (microbalanç a de quartzo)
Analises termogravimétricas, calorimetria
diferencial de varredura, térmica diferencial,
dinâmico-mecânica
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 Ex.: Emissão atômica
 Fontes de radiação:
◦ Térmica;
◦ Eletromagnética;
◦ Grandeza elétrica.
 Interação da radiação com a amostra:
◦ Radiação produzida pela amostra;
◦ Alterações na radiação causada pela amostra.

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 Em geral, a escolha do método depende:

◦ Sensibilidade; Complementação de
◦ Seletividade do método informações
◦ Exatidão, conveniência e rapidez

Combinação de métodos

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Instrumento Fonte de Informação Seleção da Transdutor Tipo de Processador
energia informação de entrada informação de
sinal/leitura

Fotômetro Lâmpada de Feixe de luz filtro fotodiodo Corrente Amplificador,

Tungstenio atenuado elétrica digitalizador,
mostrador de
LEDS
Espectrômetro Plasma Radiação UV- monocromador Tubo Corrente Amplificador,
de emissão induzido por vis fotomultiplica elétrica digitalizador,
atômica acoplamento dor mostrador
digital
Espectrômetro Fonte de íons Razão Analisador de Multiplicador Corrente Amplificador,
de massas massa/carga massas de elétrons elétrica digitalizador,
sistema
computacional

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 Ex.: Diagrama de blocos de um fluorímetro:

Emissão por fluorescência Fototransdutor

conectado a um
voltímetro digital
Laser
Fonte de energia
Água Tônica Filtro óptico
(amostra)

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 Comparação com padrões;

 Calibração com padrões externos;

 Método de adição de padrão;

 Método do padrão interno.

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 Definição do problema:

 Qual a exatidão necessária ?

 Qual a quantidade de amostra necessária ?

 Qual as características da amostra ?

 Qual a propriedade física e/ou química de interesse ?

 Quantas amostras serão analisadas ?

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 Característica de desempenho do instrumento:

 Precisão: grau de concordância mútua entre dados – incerteza

estatística;

 Incertezas envolvidas na instrumentação (erros sistemáticos);

 Sensibilidade (calibração, analítica);

 Limite de detecção (quantidade mínima que pode ser medida);

 Faixa dinâmica (limite superior e inferior de detecção);

 Seletividade (livre de interferências).

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 Outras características a serem consideradas:

Velocidade;

Facilidade e conveniência;

Habilidade requerida do operador;

Custo e disponibilidade do equipamento;

Custo por amostra.

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Espectroscopia: ciência que estuda a interação dos diferentes
tipos de radiação com a matéria
 Propriedades da radiação eletromagnética
◦ Propriedades ondulatórias
Transmissão, Refração, Reflexão
Difração, Espalhamento
◦ Propriedades mecânico-quânticas
Emissão, Absorção
Processos de relaxação (fluorescência)
 Aspectos quantitativos das medidas espectroquímicas
 Interação entre matéria e outras formas de energia
  Modelo clássico de onda (mecânica
ondulatória) comprimento de onda,
frequência, velocidade, amplitude
+
 Modelo de partícula (mecânico-quântica)
fótons
  Parâmetros de onda (senoidal)

Principal

Importante para
ressonância
magnética
nuclear

 – freqüência (oscilações do campo por segundo, s-1 = Hz)

 – número de onda [cm-1] (inverso do comprimento de onda, 1/λ)
  k , onde k é uma constante de proporcionalidade, que depende do meio e é inverso da velocidade
Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

Energia

Divisão baseada
em métodos de
geração e detecção
de diferentes
radiações

Métodos “ópticos”: regiões do UV, vis e IR

Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética
 Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

 Superposição de ondas
Equação senoidal da onda: y  A sin2t   
onde, y é o campo elétrico, A é a amplitude,  é a freqüência, t é o tempo e  é o ângulo de fase

Princípio da superposição: soma das perturbações das ondas individuais

Superposição de ondas com

mesma freqüência:
Interferência construtiva máxima:
quando estão em fase [(1-
2)=n2, n=0,1,2,...]
Interferência destrutiva máxima:
quando (1-2)=+n2, n=0,1,2,...
Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

Superposição de ondas de freqüências diferentes, mas com amplitudes iguais

Onda resultante não é

senoidal, mas exibe uma
periodicidade (batimento)
 Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

Superposição possibilita uma função de onda complexa ser decomposta em

componentes simples por operação matemática chamada transformada de
Fourier
 Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

 Transmissão (transmitância)
Velocidade de propagação: vi = λi c
v e λ dependem do meio, mas  não (determinada pela fonte)
Índice de refração: ni 
vi
v no vácuo = vmáx = c = 2,99792 x 108 m/s
v no ar é 0,03% menor que v no vácuo  ni – índice de refração na freqüência i
car ≈ cvácuo = 3,00 x 1010 cm/s vi – velocidade da radiação no meio
c – velocidade da luz no vácuo

Índices de refração
típicos:
Líquidos: 1,3 a 1,8
Sólidos: 1,3 a 2,5

absorção

λvidro ~30% < λar

Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

 Refração
Lei de Snell Se M1 é vácuo, vi = c e ni = 1 
sin 1 n2 v 1 sin1 vac
  n2 vac 
sin  2 n1 v 2 sin  2
sin1 ar
n2 ar 
sin  2
nvac = 1,00027 nar

 Reflexão (reflectância)
Para feixe que incide em ângulo reto (Equação de Fresnel):

I r n2  n1 2 n2  12

 R vac,ar 
I 0 n2  n1 2 n2  12
Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

 Difração
Experimento de
Young:
Interferências
entre radiações
coerentes
(mesma
freqüência e
diferenças de
fase constantes
com o tempo)

Interferências
construtivas (lei
de Bragg):
n  BC sin

Difração de radiação monocromática por fendas

 Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética
 Espalhamento (scattering)
Espalhamento Rayleigh
Causado por moléculas ou agregados de
moléculas com dimensões <<λ
Intensidade proporcional λ-4 Espalhamento é mais intenso
para as frequências mais altas:
Para partículas: r e n – raio e
Is r  n  1  cos 
6 2 2 índice refração
 (cte ) 4  2 da partícula
I0   n  2  R 2

Para moléculas: R e θ – distância e

ângulo de observação
Is  2
p sin 
2
 (cte ) 4 p – polarizabilidade
I0  R2 da partícula
• moléculas que compõe o ar: N2, O2, H2O → a frequência natural ω0 está na faixa
do ultravioleta
• como ω ≪ ω0 para o espectro visível podemos usar a aproximação de elétron
fortemente ligado no espalhamento Rayleigh da luz solar
• luz branca: policromática → como σrayleigh ∼ ω4 o espalhamento é mais intenso
para as frequências mais altas:
• logo σazul ≈ 4, 3σvermelho: a componente azul da luz solar é mais espalhada do
que a componente vermelha.

• logo σazul ≈ 4, 3σvermelho: a componente azul

da luz solar é mais espalhada do que a
componente vermelha.

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Por que o pôr-do-sol é avermelhado?

• é o efeito complementar do céu azul: no pôr-do-sol a luz que vem do sol até o
observador atravessa uma camada mais extensa da atmosfera, e tem a maior
parte da sua componente azul espalhada, restando uma luz
predominantemente vermelha, que é a componente menos espalhada.

• a luz solar durante o pôr-do-sol é mais avermelhada do que ao nascer do sol

devido à presença de mais partículas dispersas na atmosfera devido à
turbulência atmosférica que ocorreu durante o dia (intensificam o
espalhamento)

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Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

Espalhamento por moléculas grandes

Partículas com dimensões dos colóides, o espalhamento pode ser visto a
olho nu (efeito Tyndall)
Medidas da radiação espalhada usadas para determinar tamanho e forma de
partículas de moléculas poliméricas e coloidais

Espalhamento Raman
Radiação espalhada sofre variações quantizadas da frequência
Variações devido a transições entre níveis de energia vibracionais que
ocorrem nas moléculas em consequência do processo de polarização
 Propriedades ondulatórias da radiação
eletromagnética

 Efeito fotoelétrico
E  h  eV0  

Explicação do efeito fotoelétrico: pacotes de

energia discretos/partículas = fótons ou quanta

Energia do fóton incidente (E) = energia cinética do fotoelétron ejetado (eV0) + energia para
ejetar o fotoelétron da superfície irradiada (); V0 - potencial de corte (tensão para zerar a
fotocorrente no fototubo); e – carga do elétron; h – cte Planck;  – freqüência da luz
 Polarização da radiação

Representação vetorial da
radiação plano-polarizada
  Emissão de radiação
hc
E1  E0  h 

Radiação eletromagnética é produzida
quando uma partícula excitada (átomos,
íons, moléculas) relaxa para níveis de
energia mais baixo, fornecendo seu excesso
de energia como fótons

Níveis
vibracionais

Estado
eletrônico Sódio, OH, MgOH, MgO
fundamental linhas bandas

Espectro de emissão de raios X do Mo

Espectro de emissão de
solução salina obtido com
chama (O2+H2)

Radiação térmica – causa de

parte do espectro contínuo
(radiação de fundo)
  Absorção Absorção molecular
Absorção para moléculas
Absorção atômica
poliatômicas:
E=Eeletrônica+Evibracional+Erotacional

Transição entre estado fundamental e

estado eletrônico excitado: UV e visível
Transição entre níveis vibracionais do
Absorção molecular estado fundamental: IR próximo e
médio
Transição entre estado fundamental e
níveis de energia rotacionais: radiações
com λ de 0,01 a 1 cm (microondas e IR
distante)
Absorção por elétrons e núcleos em
campos magnéticos: microondas ~9,5
GHz (λ=3 cm) e ondas de rádio 30 a
500 MHz (λ=1000 a 60 cm); RSE, RMN
  Processos de relaxação
Relaxação não-radiante: perda de
energia em série de pequenas etapas, com
energia de excitação convertida em
energia cinética pela colisão com outras
moléculas
Fluorescência e fosforescência:
emissão radiante quando espécies
excitadas retornam ao estado fundamental
Fluorescência ressonante: radiação
emitida com mesma  da radiação de
excitação
Fluorescência não-ressonante: radiação
emitida tem  menor do que da absorvida,
cuja diferença é igual à energia de
excitação vibracional (deslocamento de
Stokes)
Fosforescência tem tempo de vida maior
e é acompanhada de mudança no spin
eletrônico
 Dúvidas?

Luiz Fernando G. Setz

Sala 718-1, Bloco A
luiz.setz@ufabc.edu.br

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