CEP Nº 0

CONTROLE ESTATÍSTICO DO PROCESSO ( Carta P ) Página 1/1

Data xxx
Produto xxx Código 0 Cliente xxx
Máquina xxx Desenvolvido por xxx

nº qtde pçs pçs

amostra amostra rejeitadas % rejeitada
1 50 12 24%
2 50 15 30% Controle por Atributo - Carta P
3 50 8 16%
4 50 10 20% 60%
5 50 4 8%
6 50 7 14%
7 50 16 32% 50%
8 50 9 18%
9 50 14 28% LSC
10 50 10 20% 40%
11 50 5 10%
12 50 6 12%
30%
13 50 17 34%
14 50 12 24%
15 50 22 44% 20%
16 50 8 16%
17 50 10 20%
18 50 5 10% 10%
19 50 13 26% LIC
20 50 11 22%
21 50 20 40% 0%
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25
22 50 18 36%
23 50 24 48%
24 50 15 30%
25 50 9 18% % Defeitos Média LSC LIC

Total pçs Rejeitadas na amostra 300

Limite Superior de Controle 0.42
Limite Inferior de Controle 0.06
Preencher somente este
espaço em vermelho
 CONTROLE ESTATÍSTICO DO PROCESSO ( C

Produto xxx Código 0

Máquina xxx Elaborado por xxx

qtde pçs pçs

nº amostra amostra rejeitadas % rejeitada
1 100 1 1%
2 100 1 1% Controle por Atr
3 100 1 1%
4 100 2 2% 6
5 100 2 2%
6 100 2 2%
7 100 2 2% 5
8 100 2 2%
9 100 1 1%
10 100 1 1% 4
11 100 1 1%
12 100 1 1%
3
13 100 1 1%
14 100 2 2%
15 100 2 2% 2
16 100 1 1%
17 100 1 1%
18 100 1 1% 1
19 100 2 2%
20 100 2 2%
21 100 2 2% 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 1
22 100 2 2%
23 100 1 1%
24 100 1 1%
25 100 1 1% Defeitos Mé

Percentual Médio de itens rejeitados:

Limite Superior de Controle
Limite Inferior de Controle
Preencher somente este
espaço em vermelho

100 1.44%
 2500 36
Total Peças Total Refugos
 CEP Nº 0 Carta np - número de defeitu
DO PROCESSO ( Carta NP ) Página 1/1
Data xxx O número de defeituosos np se define

Cliente xxx O número de defeituosos np pode est

então a 100% da produção num deter
x Isso significa que os subgrupos podem
do tamanho amostral os limites de co

Controle por Atributo - Carta NP

LSC

media

LIC
8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

Defeitos Média LSC LIC

1.44%
5.01
0.00
número de defeituosos
defeituosos np se define como o número de itens defeituosos (não conformes) na amostra.

defeituosos np pode estar referido à amostras de tamanhos fixos n coletadas regularmente ou

da produção num determinado intervalo de tempo, como por exemplo, uma hora, um dia, etc.
que os subgrupos podem, em princípio ter tamanho variável. Como consequência da variabilidade
mostral os limites de controle também terão amplitude variável.

1.44 5.01 0.00

1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
lse 1.44 5.01 0.00
5.013986 1.44 5.01 0.00
lie 1.44 5.01 0.00
-2.133986 1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 dsvp 0.4963869 1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
5.013986 1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
1.44 5.01 0.00
 CONTROLE ESTATÍSTICO DO PROCESSO (

Produto xxx Código xxx

Máquina xxx Desenvolvido por xxx

qtde pçs pçs

nº amostra amostra rejeitadas % rejeitada
1 100 20 20%
2 100 23 23% Controle por A
3 100 15 15%
4 100 12 12% 45
5 100 15 15%
6 100 5 5% 40
7 100 28 28%
8 100 20 20% 35
9 100 31 31%
10 100 25 25% 30
11 100 20 20%
25
12 100 24 24%
13 100 16 16% 20
14 100 19 19%
15 100 10 10% 15
16 100 17 17%
17 100 13 13% 10
18 100 22 22%
19 100 18 18% 5
20 100 39 39%
21 100 30 30% 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12
22 100 24 24%
23 100 16 16%
24 100 19 19%
25 100 17 17% Defeitos M

Total pçs Rejeitadas na amostra

Limite Superior de Controle
Limite Inferior de Controle
Preencher somente este
espaço em vermelho
 498
Total Peças 19.92
 CEP Nº 0
Carta c - número de defeito
O DO PROCESSO ( Carta C ) Página 1/1
Data xx Dependendo do tipo de produto
Cliente xxx defeituosos. Cada unidade pode
essencial é que nas diferentes un
x
O gráfico c é empregado conside
tamanho, isto é, tiverem o mesm

Controle por Atributo - carta c

LSC
media

LIC

8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25

Defeitos Média LSC LIC

498
33.31
6.53
úmero de defeitos por amostra
o do tipo de produto é mais natural considerar o número de defeitos por unidade amostral e não o número de itens
Cada unidade pode consistir de vários itens, isto é, ela pode ser definida como sendo um subgrupo de itens. O
ue nas diferentes unidades amostrais exista a mesma chance de ocorrerem defeitos.

empregado considerando o número de defeitos por subgrupos, quando todos estes subgrupos forem do mesmo
o é, tiverem o mesmo número de itens.

media lse lie

19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
lse 19.92 33.31 6.53
33.309548 19.92 33.31 6.53
lie 19.92 33.31 6.53
6.5304518 19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 dsvp 7.098845 19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
19.92 33.31 6.53
o de itens
ns. O

mesmo
 CONTROLE ESTATÍSTICO DO PROCESSO ( Carta U )

Produto xxx Código 0 Cliente xxx

Máquina xxx Desenvolvido por xxx

pçs pçs pçs rejeitadas

lote Qtde peças rejeitadas inspecionadas por unidade
1 500 14 10 1.4
2 400 12 8 1.5 Controle por Atributo - Carta U
3 650 20 13 1.5
4 500 11 10 1.1 3
5 475 7 9 0.8
6 500 10 10 1.0
7 600 21 12 1.8 2.5
8 525 16 11 1.5
9 600 19 12 1.6
10 625 23 12 1.9 2
11 518 11 10 0.9
12 601 7 9 1.3
1.5
13 677 10 10 1.0
14 663 21 12 0.6
15 648 16 11 0.7 1
16 499 21 12 0.6
17 669 16 10 0.6
18 429 19 12 0.6 0.5
19 536 23 12 0.5
20 565 20 13 0.7
21 531 11 10 0.9 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21
22 691 7 9 1.3
23 576 10 10 1.0

Defeitos Média LSC LIC

 0
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21

24 660 21 12 0.6
25 646 16 11 0.7 Defeitos Média LSC LIC

Preencher somente este

espaço em vermelho

n= 25 382 270
u= 1.4148148148
 CEP Nº 0
Página 1/1
Carta u - taxa de defeitos por unidade
Data xxx A carta u mede o número de não-conformidades por unidade de inspeção em
subgrupos que podem ter tamanho das amostras variável. É similar à carta c,
exceto que o número de não-conformidades está expresso por uma unidade
básica. Ambas as cartas são adequadas às mesmas situações; entretanto, a carta u
pode ser usada quando a amostra contém mais que uma "unidade" e deve ser
usada quando a amostra tem seu tamanho variável no decorrer do tempo. Os
detalhes das instruções para a carta u são similares às da carta p.
media lsc lic
1.41 2.5432 0.29
arta U 1.41 2.6764 0.15
1.41 2.4045 0.43
1.41 2.5432 0.29
1.41 2.6043 0.23
1.41 2.5432 0.29
LSC 1.41 2.4449 0.38
1.41 2.4907 0.34
media 1.41 1.41 2.4449 0.38
1.41 2.4449 0.38
1.41 2.5432 0.29
1.41 2.6043 0.23
1.41 2.5432 0.29
1.41 2.4449 0.38
1.41 2.4907 0.34
1.41 2.4449 0.38
1.41 2.5432 0.29
1.41 2.4449 0.38
LIC 1.41 2.4449 0.38
1.41 2.4045 0.43
1.41 2.5432 0.29
17 18 19 20 21 22 23 24 25
1.41 2.6043 0.23
1.41 2.5432 0.29

LIC
17 18 19 20 21 22 23 24 25

1.41 2.4449 0.38

LIC 1.41 2.4907 0.34