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S istemas da
Q ualidade I
8° S emestre
S andro B ertagnolli
Revisão
• Média, Mediana e Moda
∑ (x − x)
2
i= 1 Para a amostra
s =
n − 1
N 2
∑ (x − µ )
i= 1
Para a população
σ =
N
• Subgrupos
Está relacionada ao tamanho da amostra
é o seu tamanho
Dentro de um subgrupo é possível calcular amplitude e média
• Distribuição de Probabilidades
• Distribuição de Probabilidades
• Distribuição de Probabilidades
• Distribuição de Probabilidades
• Distribuição Normal
Características:
• A curva teoricamente não atinge o zero
• A curva pode ser dividida ao meio com iguais probabilidades de um valor cair de
qualquer um dos lados da distribuição
• Uma curva normal indica uma chance de variação aleatória
• O pico da curva representa o centro do processo
• A área abaixo da curva representa virtualmente 100% dos produtos que o processo
é capaz de produzir
34.13% 34.13%
13.60% 13.60%
2.14% 2.14%
0.13% 0.13%
σ = sigma
68.26% de falhas dentro de +/- 1 Sigma
95.46% de falhas dentro de +/- 2 Sigma
99.73% de falhas dentro de +/- 3 Sigma
Não
Estabilizar Processo
• CEP
Cartas de Controle
Cálculo da Capabilidade
X 1 + X 2 + ... + X n
X=
n
n = tamanho do subgrupo
R = Xmaior - Xmenor
R1 + R2 + ... + Rk X 1 + X 2 + ... + X k
R= X=
k k
k= Quantidade de Subgrupos k= Quantidade de Subgrupos
X = 393,08
R = 17,24
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Cartas de Controle
• Carta X – R: Etapas para a Construção
Desenhar a carta de controle
Calcular os limites de controle
Carta X
LSC X = X + A2 R LIC X = X − A2 R
Carta R
LSC R = D4 R LIC R = D3 R
A2, D4, D3 são constantes que variam de acordo com o tamanho do subgrupo
X = 393,08
R = 17,24
np
p=
n
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Cartas de Controle
• Carta para Atributos – Cartas “p”: Etapas para a Construção
p (1 − p)
LIC p = p − 3
n
p (1 − p)
LSC p = p + 3
n
p (1 − p ) p (1 − p )
LIC p = p − 3 LSC p = p + 3
n n
.......
u=
∑ Defeitos Encontrados (c)
∑ Quantidade Itens Inspecionados
u u
LSCu = u + 3 LICu = u − 3
n n
.......
Variação
Variação do Variação do
Processo Sistema de
Medição
Causa Causa
Comum Especial
• •
• •
• •
• •
É primordial que se garanta que o processo é capaz e após esta fase controlar
o processo
Calcular Cp
LSE − LIE
Cp = ^
6⋅σ R /d2
LSE − X
CPU = ^
3⋅ σ R /d 2
LSE - X
3 ( R / d2)
X − LIE
CPL = ^
3⋅ σ R /d 2
3 ( R / d2)
X - LIE
Determinar Cpk
LIC LSC
LIE LSE
Baixa probabilidade
de produção de itens
não conformes
Há tendência à
produção de itens
não conformes
Há produção de itens não
conformes
LIE LSE
Cp e Cpk Baixos Cp Alto, Cpk Baixo
Reduzir a No Alvo Alvo Centrar o
dispersão processo
LIE LSE
Defeitos
Cp e Cpk Altos
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Cartas de Controle
• Cálculo dos Índices de Capabilidade do Processo
Passo 5
Capaz, mas
Não Capaz fora do Alvo
Reduzir Centrar o
No Alvo Processo
dispersão
Cpk
Cp