MTODOS ELTRICOS E ELETROMAGNTICOS Mtodos eltricos Os mtodos eltricos de prospeco geofsica utilizam parmetros eltricos de solos e rochas, como

condutividade, resistividade, potencial espontneo, polarizao, para investigar a geologia de subsuperfcie. Compreendem o mtodo da resistividade, o mtodo da Polarizao Induzida (IP) , o mtodo do Potencial Espontneo (SP) e os mtodos Eletromagnticos. O mtodo da resistividade o mais utilizado em geofsica aplicada. Esse mtodo emprega uma corrente eltrica artificial que introduzida no terreno atravs de dois eletrodos (denominados de A e B), com o objetivo de medir o potencial gerado em outros dois eletrodos (denominados de M e N) nas proximidades do fluxo de corrente, permitindo assim calcular a resistividade real ou aparente em subsuperfcie.

Esquema simplificado do princpio do mtodo da resistividade eltrica O parmetro resistividade o inverso da condutividade eltrica, e depende da natureza e estado fsico do material. A resistividade eltrica (e seu inverso, a condutividade eltrica) relacionam-se aos mecanismos de propagao de corrente eltrica nos materiais, sendo que condutividade em solos e rochas pode ser devida a presena de minerais metlicos e grafita (condutores) em sua matriz, o que denominado de condutividade eletrnica, ou devido ao deslocamento de ons dissolvidos na gua contida nos poros e fissuras dos solos e rochas, o que denominado de condutividade eletroltica. Em geral, a condutividade eletroltica, pois apenas em casos especficos os minerais condutores ocorrem em rochas em quantidades suficientes para aumentar sua condutividade global, sendo a resistividade afetada principalmente pela composio mineralgica, porosidade, teor em gua e quantidade e natureza dos sais dissolvidos. Os mtodos eltricos so considerados dos mais versteis dentro da geofsica aplicada, sendo extensamente aplicados em prospeco mineral, prospeco de guas subterrneas, estudos de geologia de engenharia e estudos ambientais.

Mtodos Eletromagnticos

Os mtodos eletromagnticos envolvem a propagao de campos eletromagnticos de baixa freqncia e baseiam-se nos fenmenos fsicos de eletricidade e magnetismo. Quando uma corrente eltrica passa por um fio, gerado um campo magntico nas vizinhanas desse fio. Conseqentemente, quando se estabelece uma corrente AC, por exemplo, num fio colocado sobre a superfcie do terreno, fluem correntes eltricas nos condutores subsuperficiais. Esse processo conhecido como induo eletromagntica. A corrente AC fluindo na bobina cria um campo eletromagntico primrio nas proximidades da bobina, que causa o fluxo de correntes secundrias em condutores em subsuperfcie. As correntes secundrias ao fluirem pelo condutor criam um novo campo, o campo magntico secundrio, que traz consigo informaes sobre o condutor. O campo secundrio altera o primrio e como conseqncia disso tem o campo resultante, que nada mais do que uma composio do primrio com o secundrio. O campo resultante, , assim como o secundrio, traz informaes sobre o condutor. Os equipamentos EM contam com um sistema de transmisso e outro de recepo. Do sistema de transmisso faz parte um gerador-alternador ou um oscilador transistorizado. Ligada a fonte de alimentao existe uma bobina ou um cabo longo aterrado. As bobinas podem ter ncleo de ar ou de ferrite. Do sistema de recepo faz parte uma outra bobina, inteiramente porttil, composta de muitas espiras de fio fino, que pode ter ncleo de ar ou de ferrite e cujo sinal segue para um amplificador. Essa bobina sintonizada a freqncia da fonte. Existem vrios mtodos EM, classificados de acordo com o parmetro que determinado pelo equipamento: mtodos que medem a inclinao do campo resultante, mtodos que medem as componentes do campo e mtodos que medem diretamente a condutividade ou resistividade eltrica. Nesse ltimo grupo esto os mtodos mais utilizados atualmente - o Eletromagntico Indutivo e Eletromagntico Domnio do Tempo, bastante utilizados em geologia ambiental e hidrogeologia. Alm dessas reas de aplicao, os mtodos eletromagnticos tambm so consagrados na prospeco mineral, especialmente de metais. contribuio do prof. Dr. Vagner Roberto Elis (vagnelis@iag.usp.br)