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Ensaio de Saturação
Ensaio de Saturação
Centro Tecnolgico
Programa de Ps-graduao em Metrologia Cientfica e Industrial
Florianpolis, 2004.
Banca Examinadora:
AGRADECIMENTOS
Ao LABMETRO, por ter me acolhido, me proporcionado uma formao com
profissionais de indiscutvel talento e competncia, alm da oportunidade de realizar
esse trabalho que me transformou em uma profissional e pessoa muito, muito
melhor.
Ao meu amor e companheiro, Flavio, por toda a fora, apoio, pacincia, dedicao e
essencial contribuio no trabalho de arte grfica.
A minha querida me, Eliete, pela sua dedicao, luta, esforos e orientao na
minha formao.
Ao grande Professor Carlos Alberto Flesch, por todo o seu empenho, pacincia,
impecvel orientao e competncia, bom humor e valorosa contribuio neste
documento.
Aos profissionais da ELETROSUL que me apoiaram desde o incio desse trabalho e
participaram da sua estruturao com muito profissionalismo, dedicao e otimismo:
Egidio Loch, Paulo Bernardes, Clndio Radeck e Dalvir Maguerroski.
Aos profissionais do LALTE, onde foi implementado esse projeto, pela estrutura
concedida, profissionalismo, dedicao e ampliao das suas aplicaes.
Ao amigo Mestre, Csar Penz, pela grande e fundamental ajuda, competente e
tranqila, nos momentos mais difceis.
Aos amigos por todo carinho, amizade, apoio e companheirismo: Jana, Lu, Snia,
Csare, Liliana, Mario, Alex, Ana, Jaison, Gemaque, Puchalski, Fabrcio (em
memria) e todos da especial e nica turma 2002.
Somos todos anjos de uma nica asa e s podemos
voar quando abraados uns aos outros.
RESUMO
A garantia da confiabilidade dos transformadores de corrente utilizados nos
sistemas de transmisso de energia eltrica obtida atravs de ensaios. O ensaio
de saturao um deles.
Foi acompanhado o dia-a-dia de um dos mais competentes laboratrios do
Brasil na rea e foi feito um levantamento do estado-da-arte de tal ensaio no tocante
metrologia. Observou-se quase completa omisso com relao a aspectos
metrolgicos, em especial no tocante avaliao da incerteza, em publicaes,
procedimentos e normas.
Identificou-se tambm a possibilidade de automao de tal ensaio, com
investimentos de pequena monta. Desenvolveu-se um sistema automatizado com
Labview. Promoveu-se uma avaliao da incerteza e props-se uma forma de
considerar tal incerteza na anlise da conformidade dos equipamentos. A
automao permitiu auferir ganhos significativos, operacionais e de confiabilidade
metrolgica.
ABSTRACT
The guarantee of the reliability of the current transformers used in the systems
of electrical energy transmission is gotten through tests. The saturation assay is one
of them.
The day-by-day of one of the most competent Brazilian laboratories in the area
was followed and was made a survey about the state of the art in this assay that
relates to metrology. Almost complete omission with regard to metrological aspects
was observed, in special in that it relates to the uncertainty evaluation in publications,
procedures and norms.
It was also identified the possibility of automate this assay with investments of
small sum. An automated system with Labview was developed. An evaluation of the
uncertainty was promoted and a form to consider such uncertainty in the conformity
analysis of the equipment was proposed. The automatization allowed to improve
significant operational and metrological reliability profits.
LISTA DE FIGURAS
Figura 1: TC na linha de transmisso e conexo com instrumentos de medio e
proteo. ............................................................................................................18
Figura 2: Modelo do transformador de corrente ........................................................27
Figura 3: Representao fasorial do funcionamento do TC (as grandezas no esto
representadas em proporo real) [3]. ...............................................................29
Figura 4: Grfico I2 = f(I1) Corrente limite a partir da qual o TC entra em saturao.
Na medio curva (1) e na proteo curva (2). ..................................................31
Figura 5: Comportamento da curva de magnetizao b=f(h) e a resposta
correspondente da corrente de excitao para 4 situaes de operao [3]. ....34
Figura 6: Regies da curva de saturao de TC VS=f(Im) (VS=Ve e Im=Ie) [2]. ..........35
Figura 7:
LISTA DE TABELAS
Tabela 1: Corrente e relaes nominais simples para TC segundo a ABNT [9].....20
Tabela 2: Cargas nominais para medio e proteo [11] [9]. .................................21
Tabela 3: Fator trmico normatizado para transformadores de corrente .................22
Tabela 4: Descrio dos itens do circuito de ensaio de saturao automatizado ....85
Tabela 5: Definio das incertezas padres do processo de calibrao com base no
fabricante ...........................................................................................................93
Tabela 6: Incertezas obtidas na calibrao do transdutor de tenso ........................95
Tabela 7: Caractersticas metrolgicas dos instrumentos de calibrao1..................96
Tabela 8: Incertezas obtidas na calibrao do transdutor de corrente ......................98
Tabela 9: Caractersticas metrolgicas dos instrumentos de calibrao...................98
Tabela 10: Especificao de exatido da placa DAQ 6024 E [91]. ........................106
Tabela 11: Faixas de medio na placa DAQ e VM correspondente ......................108
Tabela 12: Incertezas padro e expandida das cadeias de medio.....................109
SUMRIO
1 INTRODUO .......................................................................................................13
1.1 Caracterizao do escopo deste trabalho........................................................13
1.2 Objetivos do trabalho .......................................................................................14
1.3 Estrutura de apresentao do trabalho............................................................15
2 TRANSFORMADORES DE CORRENTE .............................................................17
2.1 Especificaes .................................................................................................18
2.1.1 Corrente e relao nominal .......................................................................19
2.1.2 Carga nominal ...........................................................................................20
2.1.3 Fator trmico .............................................................................................21
2.1.4 Classes de exatido ..................................................................................22
2.1.5 Tenso secundria nominal ......................................................................23
2.1.6 Impedncia secundria na proteo .........................................................23
2.1.7 Servios de proteo e medio ...............................................................24
2.2 Modelagem de TC ..........................................................................................25
2.3 A saturao em transformadores de corrente..................................................30
2.3.1 Curva de magnetizao do TC..................................................................32
2.3.2 Efeitos da saturao de TC em campo .....................................................36
2.4 Consideraes................................................................................................38
3 ENSAIO DE SATURAO EM TC .......................................................................40
3.1 Mtodo de ensaio ............................................................................................41
3.1.1 Tolerncias especificadas .........................................................................42
3.1.2 Anlise da curva de saturao ..................................................................44
3.2 Realizao de ensaio.......................................................................................45
3.2.1 Ensaio de saturao..................................................................................45
13
1 INTRODUO
1.1
14
1.2
Objetivos do trabalho
Como forma de contribuio garantia da confiabilidade metrolgica e
15
1.3
importncia da saturao.
O captulo 3 descreve os ensaios de saturao e faz consideraes acerca
dos aspectos metrolgicos inerentes.
O captulo 4 apresenta os requisitos para automao de um ensaio e
analisa as configuraes usuais em aquisio automatizada de ensaios.
O captulo 5 apresenta o desenvolvimento e implantao do sistema de
automao junto um laboratrio.
O captulo 6 mostra a avaliao das incertezas das medies e prope um
mtodo para considerar tais incertezas na anlise da conformidade de um
transformador de corrente.
O captulo 7 apresenta as concluses e sugestes de temas que possam
ser explorados em trabalhos futuros para contribuir com a disseminao da cultura
16
17
2 TRANSFORMADORES DE CORRENTE
O circuito secundrio
18
2.1 Especificaes
Transformadores de corrente possuem padronizao de suas caractersticas.
As especificaes para projeto, operao e realizao de ensaios seguem regras
determinadas em normas tcnicas.
No Brasil existem trs normas da ABNT:
referenciadas na literatura:
19
IEEE
C57.13/1993
IEEE
Standard
Requirements
for
Instruments
valores
nominais
de
corrente
primria
secundria
para
os
20
RN
IN1 (A)
RN
IN1 (A)
RN
5
10
15
20
25
30
40
50
60
75
1:1
2:1
3:1
4:1
5:1
6:1
8:1
10:1
12:1
15:1
100
150
200
250
300
400
500
600
800
20:1
30:1
40:1
50:1
60:1
80:1
100:1
120:1
160:1
1000
1200
1500
2000
2500
3000
4000
5000
6000
8000
200:1
240:1
300:1
400:1
500:1
600:1
800:1
1000:1
1200:1
1600:1
21
ABNT
IEEE
Potncia
aparente
(VA)
C 2,5
C5
C 12,5
C 22,5
C 45
C 90
B-0,1
B-0,2
B-0,5
B-0,9
B-1,8
B-3,6
2,5
5,0
12,5
22,5
45,0
90,0
Designao
Resistncia
()
Reatncia
indutiva
()
Impedncia - ZN
()
Tenso secundria
nominal [FSxIN2xZN]
(V)
0,09
0,18
0,45
0,81
1,62
3,24
0,044
0,087
0,218
0,392
0,785
1,569
0,1
0,2
0,5
0,9
1,8
3,6
10
20
50
90
180
360
Reatncia
indutiva
Impedncia - ZN
IEEE
Potncia
aparente
(VA)
Tenso secundria
nominal [FSxIN2xZN]
(V)
B-1
B-2
B-4
B-8
25
50
100
200
0,05
1,00
2,00
4,00
0,866
1,732
3,464
6,928
1,0
2,0
4,0
8,0
100
200
400
800
Designao
ABNT
C 25
C 50
C 100
C 200
22
Norma tcnica
ABNT [9]
IEEE [11]
1,0
1,0
1,2
1,33
Fator trmico
1,3
1,5
1,5
2,0
2,0
3,0
4,0
23
estabelece a corrente mxima que o TC deve suportar sem sair de sua classe de
exatido, ou seja, sem que o erro de relao exceda o valor especificado [9] [11] [5].
Em [1] diz-se ainda que a classe de exatido define o quanto de tenso no
circuito secundrio o TC pode suportar sem que o ncleo do TC entre em saturao.
Essa definio pode ser melhor compreendida com as explicaes dos itens 2.1.6 e
2.3.
24
25
2.2 Modelagem de TC
O transformador de corrente ideal pode ser definido como um transformador,
no qual qualquer condio no primrio reproduzida no circuito secundrio com
exata proporo e relao de fase [6].
Uma definio alternativa, e possivelmente melhor, que o transformador de
corrente ideal possui a relao ampres-espiras (excitao) do primrio exatamente
igual magnitude da relao ampres-espiras do secundrio. Alm disso, essas
relaes esto em fases opostas [16] [6].
Sendo as excitaes dos dois enrolamentos iguais, tem-se que:
N1 I1 = N 2 I 2
(1)
I1n N 2
=
= KN
I 2 n N1
onde K N =
N2
a relao de transformao nominal do TC.
N1
(2)
26
Em caso real:
I1
= Kr
I2
(3)
n1 i1 + n2 i2 = H n dl
Ncleo
(4)
H n dl = 0
Ncleo
(5)
(6)
(7)
27
28
V1 = e1 + R1 i1 + 1
di1
dt
e2 = v2 + R2 i2 + 2
e1 = n1
di2
dt
d
dt
e2 = n2
(8)
(9)
(10)
d
dt
(11)
V1 = E 1 + (R1 + j1 ) l 1
E 2 = V 2 + R2 l 2
E1 = jn1
(12)
(13)
(14)
E 2 = jn2
(15)
l1
+l2 = le
n
(16)
l e = l a+ l m
(17)
29
30
Sendo assim, a presena de Ie vai resultar numa diferena entre I1/n e I2, tanto
na amplitude (I), como no defasamento (). O valor da diferena das correntes
R =
K N [(I 1 I 2 )] K N I 2 I 1
=
[(I 1 I 2 )]
I1
(18)
31
32
propriedades
dos
materiais
ferromagnticos
so
representadas
33
traduzida pela relao que ele impe entre o valor de induo B e o vetor campo
magntico H (figura 3) [2].
Em um dado instante esses dois vetores so ligados pela permeabilidade
magntica relativa do material magntico r, tal que:
(19)
B = o r H
O circuito magntico ento caracterizado pela curva b=f(h) chamada de
curva de magnetizao. Em regime senoidal b representa a tenso, pois:
B=
n
S
(20)
(21)
E 2 = n 2 j
(22)
V = E2
E h representa a intensidade da corrente de excitao dado que:
n2 le = H n dl
(23)
Ncleo
supondo que:
H n = H = cons tan te
(24)
n2 l e = L H
(25)
tem-se,
l
H = 0 onde, le = 0 e l 2 = 1
n
(26)
34
35
Legenda:
1- Regio no-saturada linear.
2- Regio intermediria joelho da curva.
3- Regio saturada no linear.
Figura 6: Regies da curva de saturao de TC VS=f(Im) (VS=Ve e Im=Ie) [2].
36
37
38
2.4 Consideraes
O comportamento do TC e suas especificaes para operao e ensaio so
cobertos pelas normas citadas neste documento. Contudo, elas tm o propsito de
especificar o comportamento do TC em regime permanente e em condies de falta
simtrica [15].
O comportamento do TC sob condies de faltas assimtricas apresentado
em vrios estudos. Sendo grande motivo de preocupao, elas so fruto de uma m
qualidade da energia eltrica transmitida.
Adaptaes
freqentes
na
linha,
incluso
de
novas
subestaes
39
de proteo para o caso de faltas assimtricas [22] [23] [24] [25] [26] [27] [28] [29]
[30].
Todos tratam da saturao em transformadores de corrente em um regime
que se encontra fora do escopo desse trabalho. Porm, seria omisso falar sobre
saturao em transformadores de corrente sem citar essa realidade que tange o
tema.
Para delimitar claramente a abrangncia deste trabalho acompanhou-se a
execuo de diversos ensaios e analisou-se procedimentos e relatrios.
Em comum acordo com o corpo tcnico do laboratrio em que esta
dissertao foi realizada, optou-se pelo desenvolvimento do sistema de automao
do ensaio de saturao e pela anlise da sua confiabilidade.
As razes para tal esto expostas no captulo 3.
40
3 ENSAIO DE SATURAO EM TC
41
42
43
44
45
3.2
Realizao de ensaio
46
47
% =
k N I 2 I1
100
I1
(27)
E 2 = V 2 + r2 I 2 + jx2 I 2
(28)
48
(29)
V 2 = R I 2 + jX I 2
(30)
E 2 = I 2 ( R + r2 ) 2 + ( X + x 2 ) 2
(31)
% =
Ie
100
FS I 2 N
(32)
49
3.3
Confiabilidade metrolgica
Genericamente, confiabilidade refere-se capacidade de um item (produto,
50
51
disponibilidade
de
equipamentos
possveis
de
automao
relativamente baixo;
custo
52
53
4.1
54
4.1.1 Transdutores
Transdutores
so
componentes
responsveis
pela
transformao
do
55
56
Uma tcnica muito utilizada pra medir diversos sinais com um nico
dispositivo de medio a multiplexao. O equipamento de condicionamento de
sinais analgicos geralmente prov multiplexao para uso com sinais de variao
lenta, como temperatura [43] [55] [57] [59] [60] [62] [63] [64]. Porm, empregando-se
multiplexao com chaves semicondutoras, sinais de alta freqncia tambm podem
ser multiplexados [56] [61].
Na multiplexao o conversor A/D amostra um canal, troca para o prximo e
assim sucessivamente. Para amostrar muitos canais ao mesmo tempo, a taxa de
amostragem efetiva de cada canal inversamente proporcional ao nmero de canais
amostrados [54] [60].
A taxa de aquisio mxima do sistema DAQ para um dado sinal (taxa
efetiva) depende da relao entre a taxa de aquisio do sistema e o nmero de
canais utilizados. Por exemplo, um sistema com 1MS/s (um milho de amostragens
por segundo), na utilizao de 100 canais fornecer uma taxa efetiva de 10 kS/s
(dez mil amostragens por segundo) para cada canal.
Outro tipo de condicionamento de sinal a linearizao. utilizada em
transdutores que possuem uma resposta no linear s variaes das grandezas de
medio. Muitos transdutores, como por exemplo, os termopares e os termistores
possuem essa caracterstica [43] [54].
A filtragem possui a funo de remover sinais indesejados do sinal que se
deseja medir. Filtros de rudo - passa baixas - so utilizados para sinais CC, como os
que resultam de medidas de temperatura. Eles atenuam as componentes de maior
freqncia, que em grande parte so responsveis pela disperso da medio [54]
[65].
57
58
4.2
59
60
Para melhorar sua performance, vrios outros padres foram definidos. Entre
eles destaca-se o padro IEEE 488-1975, desenvolvido dez anos depois do
barramento GPIB [71].
Em 1987 o padro IEEE 488 foi melhorado e passou a ser denominado
ANSI/IEEE 488.2. Este novo padro proporcionou uma maior facilidade de
comunicao com os instrumentos, estabeleceu um protocolo de comunicao
baseado em trocas de mensagens (SCPI), e resolveu o problema da padronizao
de comandos [71] [72].
Para melhorar a interface com o usurio de sistemas de medio baseados
em GPIB, vrios fabricantes criaram pacotes grficos de alto nvel como o
LabWindows,
LabVIEW,
Measure
Asystant
GPIB.
Esses
pacotes
vm
61
sinais de envio e de transmisso. Por isso, possui uma maior imunidade a rudo e
permitiu aumento no comprimento mximo entre os dispositivos seriais. Alm disso,
esse padro suporta at 10 dispositivos seriais conectados a uma nica porta [74].
O padro RS-485 um melhoramento do padro RS-422. Permite um nmero
mximo de 32 dispositivos e define as caractersticas eltricas necessrias para
garantir os nveis de tenso adequados durante a conexo, que pode chegar at
1000 m de distncia. Com esse padro podem-se criar redes complexas de
dispositivos com uma porta serial nica. um padro bastante usual em controle de
processos industriais [74].
O padro USB (Universal Serial Bus) uma tecnologia recente que tem
substitudo a antiga RS-232. Esse padro foi projetado inicialmente para o controle
de dispositivos perifricos, tais como teclado e mouse. Entretanto, se mostrou til
para muitas outras aplicaes, inclusive a automao da medio. O padro USB
possui as caractersticas de auto deteco e configurao dos dispositivos plug and
play e permite a conexo de at 127 dispositivos por ponto [73] [74].
62
63
como
sadas
de
sinais
analgicos,
entradas
sadas
digitais,
64
FM
G 2 n bits
Onde: FM faixa de medio
(33)
65
G ganho utilizado
66
programveis;
controla
at
14
instrumentos;
taxas
de
67
68
5.1
em 4.3, aos mdulos que iro compor o sistema de automao do ensaio. Diante
disso, iniciou-se um processo de anlise de todos os itens que compem o circuito
de ensaio.
Foi preciso conhecer o funcionamento da fonte de tenso e criar um meio de
integr-la ao novo sistema, sem perder suas caractersticas funcionais anteriores.
69
5.2
70
71
72
73
74
Para a atuao dos rels via placa DAQ desenvolveu-se dois circuitos
idnticos em uma configurao tpica de transistores operando com saturao
forada (figura 14). A operao dos transistores de sada T3 e T4 permite a
energizao da bobina dos rels quando um sinal aplicado na base dos
transistores de entrada T1 e T2.
Para um controle mais fino o sinal aplicado base de T1 e T2 enviado em
forma de pulsos. Os pulsos so gerados por uma subrotina do programa de controle
e substituem a utilizao do
sadas digitais.
75
76
77
necessrio
para
aquisio,
processamento,
apresentao,
janela
possui
dois
indicadores
78
79
A janela possui dois botes: INICIAR e PARAR, ambos com tipo de contato
momentneo. O boto INICIAR s liberado quando as condies iniciais so
satisfeitas. Ele se refere exatamente ao incio do ensaio.
O boto PARAR pode ser acessado a qualquer momento. Seu acionamento
gera um procedimento de segurana, que semelhante ao executado quando algum
limite de controle do ensaio atingido.
80
outras
duas
janelas
foram
desenvolvidas
para
uma
calibrao
81
82
faixas
foram
definidas
empiricamente,
porm
equivalem
83
5.4
84
figura 19, o qual possui uma fonte adicional que permite elevar a tenso de sada da
fonte sob controle aos nveis exigidos para esse enrolamento.
85
Componente
Variac
Descrio
Responsvel pela reduo da tenso de alimentao da
fonte com o objetivo de aumentar a resoluo da mesma.
Autotransformador com tenso de alimentao de 220 V; 60
Transdutor de corrente
TC201
Transdutor de tenso
Transformador de corrente
Computador pessoal PC
Cabo de acionamento
10
Cabo de leitura
11
Cabo de controle: 10 m.
12
13
Cabo de medio da
corrente: 10 m.
Cabo de medio da tenso:
20 m.
14
15
16
Autotransformador elevador
de tenso
86
87
a fonte para;
88
6.1
89
VE
Transdutor
- Erro de linearidade
- Erro de zero
- Repetitividade
- Deriva com temperatura
- Tendncia
- Retroao
VM
Placa de
Mostrador
aquisio
(Interface grfica)
- Tempo de estabilizao
- Interligao
- Repetitividade
- Ganho
- Offset
- Rudo
- Deriva com temperatura;
- Resoluo
- Resoluo
- Processamento
Figura 21: Diagrama em blocos geral para as duas cadeias de medio e mapeamento das
possveis incertezas associadas
90
6.2
Fonte padro
FLUKE 5520 A
Y
Transdutor
Multmetro
FLUKE 8508 A
Y=
Yi
i =1
(34)
91
Onde:
Y - estimativa da grandeza de sada do transdutor;
Yi - valores das medies realizadas por ponto de calibrao;
n - nmero de repeties.
A relao de transformao, que corresponde sensibilidade do transdutor
obtida a partir do grfico que relaciona Y em funo de X. Com os pontos plotados,
traa-se uma reta de ajuste. O mtodo adotado nesse procedimento o dos
mnimos quadrados.
Essa reta representa uma aproximao linear da caracterstica de resposta do
transdutor. Em relao a ela so determinados: o erro de linearidade (que no caso
particular igual tendncia) e o erro de zero.
O mtodo dos mnimos quadrados indicado pelo ISO-GUM para obter a
curva de calibrao linear de um instrumento de medio [82]. Para tal anlise foi
empregado o programa Excel.
A caracterstica de resposta do transdutor assumida ento como uma
funo linear definida pela equao 35.
y = Sx + b
(35)
ErroLinear = td = Y Sx
(36)
92
Re = t s
(37)
93
Tipo
Distribuio
Divisor
upadro
EmxP
RP
EmxM
RM
B
B
B
B
Retangular
Retangular
Retangular
Retangular
3
3
3
3
u(x1) = EmxP/3
u(x2) = RP/3
u(Y1) = EmxM /3
u(Y2) = RM /3
Sendo:
EmxP = erro mximo da fonte padro
RP = resoluo da fonte padro
EmxM = erro mximo do multmetro
94
RM = resoluo do multmetro
= graus de liberdade.
u(X1) = incerteza padro do erro mximo da fonte padro.
u(X2) = incerteza padro da resoluo da fonte padro.
u(Y1) = incerteza padro do erro mximo do multmetro.
u(Y2) = incerteza padro da resoluo do multmetro.
A incerteza padro combinada uc para o processo de calibrao com base em
especificaes do fabricante encontrada com a utilizao da equao (38) [83].
uc2 (cal ) = u 2 ( x1 ) + u 2 ( x2 ) + u 2 ( y1 ) + u 2 ( y2 )
(38)
(39)
95
6.2.2.1
(40)
Y (V)
0,093
0,187
0,280
0,374
0,468
0,561
0,655
0,748
0,842
0,935
1,029
1,123
1,216
1,310
1,403
1,497
s (V)
0,0000027
0,0000067
0,0000083
0,0000088
0,0000086
0,0000120
0,0000131
0,0000119
0,0000127
0,0000205
0,0000177
0,0000172
0,0000152
0,0000149
0,0000165
0,0000190
s* (V)
0,00086
0,00215
0,00266
0,00283
0,00278
0,00387
0,00423
0,00384
0,00410
0,00661
0,00571
0,00556
0,00492
0,00482
0,00531
0,00612
Re (V)
0,0019
0,0046
0,0057
0,0061
0,0060
0,0083
0,0091
0,0082
0,0088
0,0142
0,0123
0,0119
0,0106
0,0103
0,0114
0,0131
Td (V)
-0,00015
-0,00020
-0,00022
-0,00022
-0,00022
-0,00021
-0,00019
-0,00016
-0,00012
-0,00007
-0,00006
-0,00001
0,00006
0,00012
0,00018
0,00027
Ical (V)
0,011
0,018
0,028
0,035
0,042
0,049
0,056
0,063
0,070
0,078
0,132
0,143
0,154
0,165
0,176
0,186
Emx (V)
0,012
0,023
0,033
0,040
0,047
0,057
0,065
0,071
0,079
0,092
0,144
0,155
0,164
0,175
0,187
0,200
96
Accuracy
Accuracy
(30 a 330) V
(0 a 200) mV
(330 a 480) V
(0,2 a 2) V
97
0,25
0,20
0,15
Funo do erro mximo
y = 0,0004x + 0,00252
0,10
0,05
Erro (V)
0,00
-0,05
-0,10
-0,15
-0,20
-0,25
0,00
50,00
Ve X Td
100,00
Emx +
150,00
200,00
Emx -
250,00
300,00
350,00
400,00
Funo Emx
450,00
500,00
6.2.2.2
(41)
98
Ym (mV)
s (mV)
s (mA)
Re (mA)
Td (mA)
10
20
30
40
50
60
70
80
90
100
150
200
250
500
750
1000
2500
5000
7500
10000
1,00
2,00
3,00
4,00
5,00
6,00
7,00
8,00
9,00
10,00
15,01
20,01
25,01
50,02
75,02
100,04
250,07
500,13
750,18
1000,24
0,00080
0,00045
0,00071
0,00076
0,00116
0,00045
0,00046
0,00057
0,00076
0,00141
0,00087
0,00182
0,00170
0,00402
0,00621
0,01941
0,02134
0,09259
0,12939
0,18613
0,0080
0,0045
0,0071
0,0076
0,0116
0,0045
0,0046
0,0057
0,0076
0,0141
0,0087
0,0182
0,0170
0,0402
0,0621
0,1940
0,2133
0,9257
1,2937
1,8609
0,022
0,013
0,020
0,021
0,032
0,013
0,013
0,016
0,021
0,039
0,024
0,051
0,047
0,112
0,172
0,539
0,592
2,570
3,591
5,166
-0,0049
-0,0009
-0,0045
-0,0092
-0,0124
-0,0178
-0,0168
-0,0162
-0,0146
-0,0152
-0,0222
-0,0266
-0,0214
0,0100
0,0257
0,1337
0,0346
0,0160
-0,0285
-0,0090
0,10
0,10
0,10
0,10
0,11
0,09
0,10
0,10
0,11
0,13
0,13
0,17
0,20
0,47
0,65
1,23
5,15
8,73
11,40
14,70
99
100
15,00
13,00
11,00
9,00
7,00
5,00
Erro (mA)
3,00
1,00
-1,00
-3,00
-5,00
-7,00
-9,00
-11,00
-13,00
-15,00
0
1000
2000
3000
Tendncia
4000
Emx +
5000
Emx -
6000
7000
8000
9000
10000
Funo Emx
Erro (mA)
0,65
0,60
0,55
0,50
0,45
0,40
0,35
0,30
0,25
0,20
0,15
0,10
0,05
0,00
-0,05
-0,10
-0,15
-0,20
-0,25
-0,30
-0,35
-0,40
-0,45
-0,50
-0,55
-0,60
-0,65
100
Tendncia
200
Emx +
300
400
Emx -
500
Funo Emx
600
700
800
Figura 25: Curva de calibrao do transdutor de corrente de (10 a 750) mA - nvel de confiana
de 95%
101
IN
102
ZTP2 =
Vout
I out
(42)
V1
I1
(43)
ZTP1 =
I out =
N1 )
(44)
V1
(N1 N 2 )
(45)
V1
(N 2 N1 )2
I1
(46)
Vout =
ZTP2 =
I1
(N 2
(47)
VIN
(N 2 N1 )TP2 1
IN
(48)
ZTP1 =
ZTP2 =
VIN
(N 2 N1 )TP2 1 (N 2 N1 )TP2 2
IN
Sendo:
VIN = tenso de excitao do secundrio do TC sob ensaio.
IN = corrente de excitao do secundrio do TC sob ensaio.
ZTP1 = impedncia vista na sada do transformador 1.
ZTP2 = impedncia vista na sada de do transformador 2..
V1 = tenso de sada do transformador 1.
(49)
103
104
Z PL =
R JWC
R
Z PL =
R + 1 JWC
RJWC + 1
(51)
105
106
Noise +
Quantization
(mV)
% of Reading
Temp
Drift
Absolute
Accuracy
at Full
Scale
Averaged
(%/C)
(mV)
Gain
Positive Negative
Offset
Single
(mV)
Pt.
1 Year
FS
FS
0,5
10
-10
0,0914
6,38
3,91
0,975
0,0010
16,504
-5
0,0314
3,20
1,95
0,488
0,0005
5,263
10
0,5
-0,5
0,0914
0,340
0,195
0,049
0,0010
0,846
100
0,05
-0,05
0,0914
0,054
0,063
0,006
0,0010
0,106
107
6.3
Balano de incertezas
O balano de incertezas realizado no processamento do sistema de
valor
medido
multiplicado
pela
relao
de
108
Valor medido em
RMS (VM)
Seleo da tabela
de caractersticas
em funo do
ganho
DAQ =
VA = VM x RTR
Seleo da funo
do erro mximo
TR =
f (erromx, VA)
1,2
2
2
2
c = DAQ
+ TR
U 95VA = c 2
Ganho
Faixa de medio
da placa DAQ (V)
(- 5 a + 5)
(0,350 a 3,5)
10
(-0,500 a + 0,500)
(0,035 a 0,350)
100
(-0,050 a +0,050)
(0 a 0,035)
* VM = valor medido.
.
109
Incerteza padro na
Incerteza padro
Incerteza da
Ganho
de tenso (V)
no transdutor (V)
(113 a 1129)
(0,13 a 0,89)
(0,033 a 0,24)
(0,27 a 1,8)
10
(11 a 113)
(0,017 a 0,13)
(0,012 a 0,033)
(0,042 a 0,27)
(0 a 11)
(0,000 a 0,017)
(0,010 a 0,012)
(0,020 a 0,042)
VA no transdutor de
Incerteza padro
Incerteza padro
Incerteza da
100
*
Ganho
corrente (mA)
(3.499 a 34.993)
(4,09 a 27,63)
(3,46 a 22,36)
(10,72 a 71,09)
10
(350 a 3.499)
(0,52 a 4,09)
(0,18 a 3,46)
(1,10 a 10,72)
100
(0 a 350)
(0,0 a 0,52)
(0,06 a 0,18)
(0,12 a 1,10)
* VA = valor aplicado.
110
111
112
Im i I ref i 1,25 I MI i
(52)
onde
Imi: corrente medida para cada i-sima tenso aplicada.
Iref i: corrente de referncia, funo do valor e da incerteza de medio de
cada i-sima tenso aplicada.
IMI i: incerteza de medio da corrente para cada i-sima corrente medida.
113
I
Legenda:
VM = tenso medida; I = corrente no grfico IEEE.
VM IMV = tenso medida menos a sua incerteza.
Iref = corrente de referncia.
Lc = limite de conformidade normatizado
Lc = limite de conformidade corrigido.
Figura 30: Ilustrao da proposta para o estabelecimento do Lc.
Figura 31: Curva de saturao tpica para TC classes C ou K com ncleo fechado [11].
114
7 CONCLUSES
Reunir informaes sobre transformadores de corrente, em especial sobre
ensaios de saturao e seus aspectos metrolgicos e operacionais no foi uma
tarefa fcil. A bibliografia existente muito antiga. As normas tcnicas so poucas.
Os artigos sobre o assunto tratam de situaes muito especficas, e na maioria das
vezes so omissos com relao aos aspectos metrolgicos.
Contudo, toda a pesquisa realizada durante essa dissertao permitiu reunir
um acervo de referncias para o auxilio de profissionais e estudiosos da rea. A
contribuio desse trabalho tambm se d pela reunio de informaes na prpria
narrativa.
Muitos conceitos so encontrados de forma dispersa e s vezes at
divergente. Uma dedicao especial foi dada coleta e organizao dos dados de
forma a descrever sobre o tema com amplitude e ordenao coerentes.
A ABNT deixa bastante a desejar nas especificaes dos ensaios de uma
forma geral. Trata-se muitas vezes de menes superficiais que geram dvida na
compresso da informao. Os textos requerem suporte, no se fazem entender por
si s. Alm disso, esto totalmente em desacordo com a terminologia e com os
atuais procedimentos relativos confiabilidade metrolgica.
Com relao ao ensaio de saturao, apesar de ser um ensaio realizado
amplamente, no possui uma referncia normatizada sobre seu procedimento de
execuo e avaliao dos resultados.
As prescries para o ensaio so encontradas quase que exclusivamente no
mbito dos laboratrios e profissionais envolvidos no setor de transmisso de
distribuio de energia eltrica.
115
116
117
118
119
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
120
[11] IEEE Standard REQUIREMENTS FOR INSTRUMENT TRANSFORMERS IEEE Std C57.13-1993 March 4, 1994 (Revision of IEEE Std C57.13-1978).
[12] INTERNATIONAL STANDARD - Instruments Transformers Part 1: Current
Transformers IEC 60044-1 - Edition 1.2. Fev,2003.
[13] NORME INTERNATIONALE CEI Instruments Transformers Part 6
Requirements for protective current transformers for transient performance. IEC 60044-6 1992.
[14] WRIGHT, Arthur. Current Transformers Their transient and steady state
performance - Chapman and Hall, 1968.
[15] DAVID, C.Y.; CUMMINS J.C.; WANG, Z.; KOJOVIC, L.A. Correction of current
transformer distorted secondary currents due to saturation using artificial neural
networks. IEEE Transactions on power delivery, vol. 16, n 2, p.189-194, april 2001.
[16] JACOBS P., JADIN V. Mesures lectriques Courant continu, courant
alternative basse frquence. Dunod-Paris, 1968.
[17] MEDEIROS, E.P.; PINTO, O.A.P.; PAULI, A.; FERNANDEZ, L.R. Estudo de
verificao da susceptibilidade dos transformadores de corrente saturao,
mediante a corrente de curto-circuito. I SME - Seminrio de manuteno da
Eletrosul. Florianpolis, setembro 2003.
[18] GUZMN, A.; ZOCHOLL, S.; BENMOUYAL, G.; ALTUVE, H.J. A current-based
solution for transformer differential protection - part 1: problem statement. IEEE
Transactions on power delivery, vol. 16, n 4, p.485-491, october 2001.
[19] HRABLIUK, J.D.P. Optical current sensors eliminate CT saturation. NxtPhase
Corporation, V5M 1Z4, p.1478-1481, Vancouver (BC), 2002.
121
122
[28] CUMMINS, J.C.; YOON, HONG-JUN; YU, D.C.; WANG, Z.; KOJOVIC, L.A.;
STONE, D. Neural network for current transformer saturation correction. IEEE, p.441446, 1999.
[29] GALE, P.; BUNYAGUL, T.; CROSSLEY, P. Overcurrent protection using signals
derived from saturated measurement CTs. IEEE, p.103-108, 2001.
[30] HOSEMANN, G.; STEIGERWALD, H.M. Modal saturation detector for digital
differential protection. IEEE Transactions on power delivery, vol. 8, n 3, p.993-940,
july 1993.
[31] LOCCI, N.; MUSCAS, C. A digital compensation method for improving current
transformer accuracy. IEEE transactions on power delivery, vol. 15, n 4, p.11041109, october 2000.
[32] MUSCAS, C.; LOCCI, N. Hysteresis and edy currents compensation in current
transformers. IEEE transactions on power delivery, vol. 16, n 2, p.154-159, april
2001.
[33] SAWA, T.; KUROSAWA, K.; KAMINISHI, T.; YOKOTA, T. Development of
optical instrument transformers. IEEE transactions on power delivery, vol. 5, n 2,
p.884-891, april 1990.
[34] YANG, L.; DOLLOFF, P.A.; PHADKE, A.G. A microprocessor based bus relay
using a current transformer saturation detector. IEEE, p.193-202, 1990.
[35] LOCCI Nicola and MUSCAS Carlo. Histeresis and Eddy Currents Compensation
in Current Transformers, IEEE Transactions on power delivery, vol.16, no. 2, april
2001.
[36] ELETROSUL. Treinamento em equipamentos de ptio de subestaes
Mdulo: Transformadores para instrumentos, Coordenao Geral, Coordenao
Tcnica. Outubro/2001.
123
124
125
[53] CEJER, Mark. Choises, choises, choises, part.1: Open vc. Closed architectures,
proprietary
packages
and
programming
language
environments.
Site
126
Boards,
NATIONAL
INSTRUMENTS
Application
Note
068.
Site
127
Technical
Note
VXI
Bus
Overview
VXI
Technology
Site.
National
128
129
Acesso
em
maro, 2003.
[90] NATIONAL INSTRUMENTS Calibration: Accuracy and Uncertainty. Site:
www.ni.com/. Acesso em novembro, 2003.
[91] NI 6023E/6024E/6025E Family Specification Atualizado em setembro de 2003.
Site http://www.ni.com . Acesso em novembro, 2003.