Universidade Federal de Santa Catarina

Centro - Blumenau

Laboratrio de Caracterizao Microestrutural-

Relatrio 1 Anlise Ao, Grupo 1A

Amanda Da Cunha Lemos

Guilherme Dias Zarur

Blumenau
2017
LISTA DE FIGURAS

Figura 1- Cortadora Metalogrfica CM-40. Fonte:

http://www.alcrisa.com.br/Cortadora_metalografica_para_corte_de_ate_40mm/prod-
3584735/................................................................................................................................ 6
Figura 2- Amostra antes do uso da lima para melhora de acabamento. Fonte: Acervo dos
alunos .................................................................................................................................... 7
Figura 3- Pea aps ter sido utilizada a lima. Fonte: Acervo dos alunos. ............................... 7
Figura 4- Embutidora modelo EM30D, TECLAGO. Fonte:
http://www.teclago.com.br/produtos/embutidoras-metalograficas/embutidora-metalografica-
em30d-manual/ ...................................................................................................................... 8
Figura 5- Maquina Politriz metalogrfica de 2 velocidades e 2 pratos PL02ED, TECLAGO.
Fonte: http://www.teclago.com.br/produtos/politrizes-metalograficas/politriz-metalografica-de-
2-velocidades-e-2-pratos/ ...................................................................................................... 9
Figura 6- Processo de orientao da amostra a ser lixada. Fonte: COLPAERT, H.,
Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns, 3. ed. So Paulo, Edgard Blucher,
1974. ................................................................................................................................... 10
Figura 7- soluo de Alumina em suspenso N 4 azul 1m. Fonte:
http://www.teclago.com.br/produtos/consumiveis-para-polimento/alumina-em-suspensao-
1%C2%B5m/ ....................................................................................................................... 11
Figura 8- Amostra aps polimento (possvel notar o efeito espelho). Fonte: Acervo dos
alunos. ................................................................................................................................. 12
Figura 9- Modo de secagem a ser realizado na amostra. Fonte: COLPAERT, H.,
Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns, 3. ed. So Paulo, Edgard Blucher,
1974. ................................................................................................................................... 12
Figura 10- Microscpio tico utilizado da marca Zeiss- AX10. Fonte:
https://www.zeiss.com/microscopy/int/products/light-microscopes/axio-vert-a1-for-
materials.html. ..................................................................................................................... 13
Figura 11- Amostra aps lixamento vista da seco transversal da amostra, 10x. Fonte:
Acervo dos alunos. .............................................................................................................. 14
Figura 12- Amostra aps polimento vista da seo transversal da amostra, 10x. Fonte:
Acervo dos alunos. .............................................................................................................. 14
Figura 13- Aps ataque quimico: a) 5x de aumento-200m; b) 10x de aumento-100m; c)
20x de aumento- 50m; d) 50x de aumento- 20m; e) 100x de aumento- 10m. Fonte:
Acervo dos alunos. .............................................................................................................. 15
Figura 14- face lateral aps ataque qumico, 20x- 50m. Fonte: Acervo dos alunos............ 16
Figura 15- Face Lateral aps ataque qumico, 50x- 20m. Fonte: Acervo dos alunos. ........ 16
Figura 16- Face lateral aps ataque qumico, 100x- 10m. Fonte: Acervo dos alunos. ....... 16
Figura 17- Diagrama Ferro-Carbono. Fonte: CHIAVERINI, V. Aos e Ferros Fundidos, 7 .
ed., So Paulo: ABM, 2005. ................................................................................................. 18
Figura 18- Face transversal com aumento de 20x com separao de fases por tons de preto
e branco. Fonte: Acervo dos alunos..................................................................................... 19
Figura 19-Diagrama de equilbrio Fe-C com microestruturas. Fonte: COLPAERT, H.,
Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns, 3. ed. So Paulo, Edgard Blucher, 1974.
............................................................................................................................................ 20
Figura 20- Microstrutura SAE - AISI 1018 como recebido para trabalho. Fonte: Md. Aminul
Islam, Tahrim Alam, Zoheir N. Farhat, Effect of microstructure on the erosion behavior of
carbon steel. ........................................................................................................................ 21
Figura 21- Tabela de propriedades mecnicas do AISI 1018. Fonte:
https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=6115, acessado 23/09 as 15:30. .................. 21
SUMRIO

1- INTRODUO ...............................................................................................................................4
2- DESENVOLVIMENTO ..................................................................................................................5
2.1- OBJETIVOS GERAIS ....................................................................................... 5
2.2- OBJETIVOS ESPECIFICOS ............................................................................. 5
2.3- METODOLOGIA ............................................................................................... 5
2.3.1- CORTE .......................................................................................................... 6
2.3.2- EMBUTIMENTO ............................................................................................ 7
2.3.3 - LIXAMENTO ................................................................................................. 9
2.3.4- POLIMENTO ................................................................................................ 11
2.3.5- SECAGEM ................................................................................................... 12
2.3.6- ATAQUE QUIMICO ..................................................................................... 12
3- RESULTADOS .................................................................................................................................14
3.1- ANLISE APS LIXAMENTO ........................................................................ 14
3.2- ANLISE APS POLIMENTO ........................................................................ 14
3.3- ANLISE APS ATAQUE QUMICO ............................................................. 15
3.3.1- SEO TRANSVERSAL ............................................................................. 15
3.3.2- SEO LONGITUDINAL ............................................................................ 16
4- IDENTIFICAO DO AO E FASES PRESENTES..................................................................18
5- CONCLUSES E RECOMENDAES .........................................................................................22
6- REFERNCIAS .............................................................................................................................23
 1- INTRODUO

O entendimento da relao entre uma microestrutura, o processamento empregado

na mesma e as propriedades dos materiais o essencial para o entendimento da cincia e
engenharia de materiais. E para que se faa isso, h mtodos e tcnicas que foram
desenvolvidos a fim de examinar e interpretar estas caractersticas. Das tcnicas existentes
tem-se a materialografia como uma das principais. Esta que consiste num conjunto de
tcnicas para preparao da amostra para assim se fazer a observao microscpica junto a
programas especficos. O uso da materialografia consiste na determinao de caractersticas
em materiais. Para o estudo de metais, se diz que feito um estudo de metalografia.

Sendo a metalografia uma tcnica utilizada para determinao e verificao de

propriedades de metais nas engenharias, a introduo desta ao acadmico durante a
graduao, garante uma formao completa. Tendo isto em vista, os alunos de engenharia
de materiais- UFSC centro Blumenau, na disciplina BLU2204 (03753A) - Laboratrio de
Caracterizao de Microestrutural, ao inicio das aulas receberam uma amostra de ao, no
momento, desconhecido com o objetivo de, com auxlio de professores e tcnicos
laboratoriais, aprender e realizar as etapas de metalografia, alm da identificao do ao
utilizado e prever suas possveis propriedades.
2- DESENVOLVIMENTO

2.1- OBJETIVOS GERAIS

Como objetivos principais do estudo e anlise do material apresentado, foi o conhecimento

da tcnica de metalografia, bem como tambm os mtodos essenciais para um lixamento e
polimento de suas superfcies a fim de se identificar a amostra.

2.2- OBJETIVOS ESPECIFICOS

1. Preparao da amostra, corte, lixamento, polimento e ataque qumico;

2. Reconhecer, analisar e quantificar as fases presentes na microestrutura material;
3. Interpretar e prever propriedades inerentes das microestruturas.

2.3- METODOLOGIA

Aps uma breve leitura do livro Metalografia dos Produtos Siderrgicos Comuns, 4
ed- da Costa e Silva, Andr Luiz; o principal objetivo de um ensaio metalogrfico revelar as
interfaces do material, bem como as suas fases presentes.

Como visto na prtica, os materiais que so analisados, quase nunca, esto no

formato e tamanho ideal para estudo e ensaio. Para tanto necessrio que a amostra seja
preparada em etapas que se iniciam pelo corte ou desbaste do material. Em seguida feito o
embutimento, lixamento, polimento, secagem e por fim o ataque qumico. A etapa final dos
processos seria a observao da pea atravs da ajuda de um microscpio laboratorial.

Levando em conta o que fora comentado acima sobre etapas do procedimento

laboratorial, imprescindvel que se defina a rea de corte previamente de forma que seja
possvel a observao em diferentes orientaes da amostra. Fazendo isto, garante-se uma
melhor anlise quanto ao modo como foi processado o material.

Em aula foi distribuda aos estudando amostras individuais de um ao, ainda,

desconhecido, proveniente de uma barra cilndrica. Desta foram feitos cortes em formato de
moedas, e a partir das moedas o aluno deveria fazer o corte da moeda em duas partes e
por fim estud-la.
2.3.1- CORTE

Nesta etapa do processo conhecida como corte ou desbaste, tem-se como sua
finalidade a redefinio do tamanho da amostra inicial. Durante este processo, deve ser
tomado cuidado para no danificar a estrutura material, pois so envolvidas elevadas
temperatura e presses ao fazer o corte.

Em laboratrio, para as amostras distribudas de ao aos alunos, o corte foi realizado

em uma maquina cortadora metalogrfica, TECLAGO- modelo CM-40- imagem 1; com o
auxilio de um disco de corte que conta com uma refrigerao contnua. A refrigerao para o
procedimento de corte essencial para garantir que no ocorram defeitos durante o corte
como, por exemplo, queima da pea, que ocasiona na modificao da microestrutura.

Figura 1- Cortadora Metalogrfica CM-40. Fonte:

http://www.alcrisa.com.br/Cortadora_metalografica_para_corte_de_ate_40mm/prod-3584735/

Para este procedimento a amostra foi colocada na cortadora CM-40, presa com o
auxilio das presas laterais. Durante a etapa, escolheu-se a posio da amostra a qual
permitisse uma boa fixao, que garantisse uma observao ideal no microscpio. J
posicionada, liga-se o sistema de refrigerao (fluido composto de gua e leo), que tem
como finalidade a lubrificao e tambm resfriar a pea no momento de corte.

Por fim, j devidamente posicionada e com o sistema refrigerante ligado, faz-se o

corte na amostra. Este feito manualmente com o uso de uma alavanca que impulsiona o
disco de corte em cima do material. Para um corte melhor, este deve ser feito com cautela e
sempre observando nas janelas laterais da maquina cortadora para ver o estado do
procedimento. Como o procedimento pode ser considerado agressivo amostra, podendo
ocasionar em presena de rebarbas nas arestas da amostra, deve ser feito uma etapa de
eliminao de defeitos mais superficiais restantes com a ajuda da lima, fazendo assim um
corte de forma tangencial a superfcie, melhorando seu acabamento. Aps isto, a pea foi
lavada para a retirada de possveis contaminantes deixados pelo uso da lima e do corte
efetuada.

Figura 2- Amostra antes do uso da lima para melhora de acabamento. Fonte: Acervo dos alunos

Figura 3- Pea aps ter sido utilizada a lima. Fonte: Acervo dos alunos.

2.3.2- EMBUTIMENTO

Durante esta seguinte etapa, o principal objetivo a criao de um formato. Altera-se

a geometria da pea para uma mais adequada, facilitando o manuseio nos processos
seguintes. O procedimento foi realizado em uma maquina embutidora metalogrfica,
TECLAGO- EM30D- imagem 4; com o uso da baquelite como sendo a matriz de suporte para
amostra.
Figura 4- Embutidora modelo EM30D, TECLAGO. Fonte: http://www.teclago.com.br/produtos/embutidoras-
metalograficas/embutidora-metalografica-em30d-manual/

Para que se evite a possvel contaminao da amostra e, alm disso, a possvel

complicao na extrao da pea devido s presses, temperatura e atrito exercidos durante
o processo de embutimento; necessria uma higienizao previa. Aps isto, aplica-se um
spray silicone nas paredes internas da mquina para auxiliar a retirada da baquelite no fim da
cura.

Aps estes cuidados, so selecionadas as reas interesse da amostra, buscando obter

uma vista transversal e uma longitudinal. Uma vez feito isso, feita o posicionamento dentro
do recipiente da maquina de forma que as faces a serem observadas fiquem viradas para o
fundo do mbolo. Por fim, foi separada a quantidade necessria de baquelite para o processo
desta etapa com o auxilio da tampa do recipiente, em seguida o p foi depositado na
embutidora com o uso de um funil com cautela, visto que se ocorre um fluxo exacerbado as
amostras podem se deslocar.
Para um embutimento efetivo, alguns parmetros de processo devem ser considerados
como a temperatura e presso. Uma vez que foi tratado de um material cujo ponto de
decomposio baixo, Baquelite- ~170C, deve-se ter cuidado e caso necessrio, pressionar
o boto de emergncia. Alm da temperatura, o controle de presso tambm de suma
importncia, podendo chegar ao mximo de 110 Bar, de forma a no sobrecarregar a
mquina. Na maquina h um visor digital que informa a temperatura de uso e um visor
analgico de presso que se controla via manivela lateral. Caso acontea uma sobrepresso,
>120Bar, a mquina ir disparar um alarme sonoro, sendo necessrio um alivio de presso.
Passados 7 minutos de processo, e a temperatura e presso terem estabilizado, a
amostra estava pronta para iniciar seu resfriamento. Chegando ao fim desse ltimo processo,
foi possvel extrair a amostra da embutidora. Para melhor identificao da pea, fez-se um
corte na parte traseira com o dito 1A.

2.3.3 - LIXAMENTO

Na parte destinada ao lixamento da amostra, o objetivo principal adquirir uma

superficie mais plana e com menos defeitos de riscos multidirecionais, i.e, os riscos terem
uma nica direo, facilitando o posterior trabalho de polimento.

Para ser feita a etapa, foram utilizadas lixas dagua fixadas nos discos rotativos da
maquina Politriz metalogrfica de 2 velocidades e 2 pratos PL02ED, TECLAGO- imagem 5.
O processo se inicia com lixas de granulometria mais elevada e finaliza-se com as de menor,
que garantem o melhor acabamento. Inicialmente usou-se a lixa partindo da #120, seguindo
de #240, #320, #400, #600 e por fim #1200.

Figura 5- Maquina Politriz metalogrfica de 2 velocidades e 2 pratos PL02ED, TECLAGO. Fonte:

http://www.teclago.com.br/produtos/politrizes-metalograficas/politriz-metalografica-de-2-velocidades-e-2-
pratos/

De acordo com o Metallographic Handbook, o uso de uma fora de aplicao na lixa

juntamente de uma velocidade de rotao alta, pode causar em uma operao mais
agressiva, podendo assim ocasionar em defeitos na pea. Para tanto, devem ser
respeitados parmetros como velocidade e presso de aplicao e tambm o local de
aplicao da amostra sobre o disco rotativo.

Para iniciar o processo, necessrio que seja feito o corte semi esfrico das lixas,
para que consigam ser fixadas sobre o disco rotativo. Uma vez feito, lava-se o disco
antes de acrescentar a lixa com o uso de um fluxo contnuo de gua para evitar
possveis contaminaes na lixa. Em seguida adicionada a lixa que se fixa com a ajuda
da lmina dagua formada embaixo desta. Feito isso, o disco rotativo ligado na
configurao de baixa rotao, 300 RPM, com um fluxo contnuo de gua caindo sobre o
centro da lixa com o efeito de evitar aquecimento excessivo e remover partculas que
podem aderir a superfcie da amostra durante a etapa. Ao iniciar a parte de lixar
propriamente dita, deve-se fazer um corte de referncia em algum dos lados e chanfrar
as laterais do material embutido, pois necessrio abaular o plano circular que pode
rasgar a lixa durante o procedimento. O chanfro pode ser obtido em poucos instantes em
movimentos circulares que devem ser feitos sob um ngulo de 40-60.

Finalizando os cuidados, prepara-se o lixamento da amostra, prestando ateno no

corte feito para referncia. Para que se obtenha xito durante o exerccio, preciso que se
ponha a amostra paralelamente a superfcie da lixa, com o uso de presso sobre o centro
mantendo-a fixa. Ao ser retirada a amostra da lixa, observa-se se h riscos multi ou
unidirecionais, bem como a existncia de mais um de plano. No obtendo o critrio de: um
nico plano e uma direo s de riscos, no deve ser alterada a granulometria da lixa at que
sejam atingidos.

No uso da primeira lixa, pequenos planos se formaram, fazendo com que se tivesse o
uso mais prolongado da lixa #120. Com auxlio do Professor Dr. Cristiano da Silva Teixeira e
do tcnico de laboratrio Henrique Hunger Moresco, estes planos foram minimizados e
retirados, podendo dar sequncia as prximas etapas de lixamento.

Acima foi comentado sobre a existncia de planos. Estes so formados devido

presso exercida de forma inadequada na lixa ou devido aos deslizamentos da pea. Para
consertar estes erros deve-se observar em que regio da pea est no plano e tentar forar
este plano com maior intensidade que o restante da amostra na lixa. E atravs desse mtodo
esperado que o plano formado fosse desgastado, formando apenas um nico plano
novamente.

Ressalta-se a ateno na troca de lixa, ao iniciar-se o procedimento numa posio e

numa determinada lixa, a seguinte desta o posicionamento da pea deve ser rotacionado
a 90, para que ocorra assim o desbaste unidirecional dos riscos. Isto , se iniciada na
#120 na posio de referencia, a #240 deve ser rotacionada a 90 da referencia feita,
retornando na #320,...; e assim por diante at #1200.

Figura 6- Processo de orientao da amostra a ser lixada. Fonte: COLPAERT, H., Metalografia dos
Produtos Siderrgicos Comuns, 3. ed. So Paulo, Edgard Blucher, 1974.
2.3.4- POLIMENTO

Antes de iniciar a seguinte etapa, preciso que a amostra seja lavada com gua,
para que no contamine o polimento com partculas provenientes do lixamento.O uso do
polimento tem o objetivo de retirar todas as marcas visveis que possam, ainda,
existentir na amostra aps o os processos feitos anteriormente tais como, por exemplo,
o lixamento. Com isto espera-se uma melhor qualidade de observao da amostra no
microscpio tico.

Para o polimento utiliza-se o mesmo modelo de lixadeira, porm o disco desta

vez revestido em feltro, e utiliza-se uma soluo de Alumina em suspenso N 4
azul 1m, imagem 7. Tambm utiliza-se gua destilada para umedecer o feltro e
garantir uma melhor distribuio da alumina. Para obter xito ideal a realizao de
movimentos circulares da amostra no sentido contrrio ao de rotao do disco. O
polimento mais eficaz proximos as faixas brancas do feltro, destas quais apresentam
uma maior concentrao de alumina. De acordo com livros de metalografia, tal qual o
Zipperian, Donald C.-Metallographic Handbook, o ideal deixar com que o disco
permanea sempre mido, pois assim h um facilitamento no deslizamento da amostra
sobre o pano.

Figura 7- soluo de Alumina em suspenso N 4 azul 1m. Fonte:

http://www.teclago.com.br/produtos/consumiveis-para-polimento/alumina-em-suspensao-1%C2%B5m/

A etapa consiste num intervalo proximo de 2 minutos ou at que seja notada uma
superficie metalica livre de riscos, i.e, perfeitamente refletora (efeito espelho), imagem 8. E
para que possa ser melhor verificado o efeito da reflexo da superfcie deve-se enxaguar a
amostra com gua destilada, retirando possveis partculas retidas na pea.
 Figura 8- Amostra aps polimento (possvel notar o efeito espelho). Fonte: Acervo dos alunos.

2.3.5- SECAGEM

Precedentemente ao ataque qumico, a amostra deve ser devidamente limpa e

seca. Para tanto, lava-se esta com lquidos de baixo ponto de ebulio como, por
exemplo, ter, lcool etlico (utilizado em laboratrio), etc. Finalmente, seca-se com
auxlio de um soprador trmico em uma direo que proporcione o escorregamento
paralelo das gotculas em relao amostra (Imagem 9), alm do auxlio de um
algodo para limpeza final. Estas tcnicas de secagem evitam aparecimentos das
manchas de secagem, que dificultam a observao em microscpio ptico.

Figura 9- Modo de secagem a ser realizado na amostra. Fonte: COLPAERT, H., Metalografia dos
Produtos Siderrgicos Comuns, 3. ed. So Paulo, Edgard Blucher, 1974.

2.3.6- ATAQUE QUIMICO

Nesta etapa de procedimento, se tem como objetivo revelar as estruturas da

superfcie polida da amostra. Como posto em notas de aula da matria BLU2204-
03753A (Laboratrio de Caracterizao Microestrutural), lecionada pelo Prof. Dr.
Cristiano da Silva Teixeira; Para destacar e identificar caractersticas microestruturais
ou fases presentes nas amostras utilizado o ataque qumico em microscopia ptica.

Para o caso, como a anlise metalogrfica tem o objetivo de descobrir qual o

ao especfico, utilizou-se o reagente Nital (mistura de 2% de cido Ntrico e 98% de
lcool). Este o reagente mais comumente utilizado para atacar quimicamente aos e
produtos siderrgicos comuns, o que justifica a sua aplicao em aos desconhecidos.
No determinado material de classe, foi exigido 3 ataques com 5s cada.

Para realizao do procedimento adicionou-se uma pequena quantidade de Nital

em um vidro concavo (vidro relgio) de dimenses suficientes para imerso da amostra.
Finalizando o ataque, lava-se a amostra imediatamente em gua corrente com sabo a
fim de retirar qualquer resqucio do acido. Em seguida faz-se a secagem, realizada
igual ao modo citado em 2.3.5 - SECAGEM. No fim do procedimento a amostra est
mais opaca que na etapa anterior de polimento, indicando que a superfcie foi atacada.

2.3.7- ANLISE MICROSCPICA

Passadas todas as etapas de melhora superficial da amostra, esta levada ao

microscpio ptico ZEISS- AX10, (Imagem 10); onde se utilizaram lentes com
ampliao de 5x, 10x, 20x, 50x, 100x. Destas quais analisou-se em diversos aspectos
da superfcie da amostra aps o lixamento, aps o polimento e por fim imagens depois
do ataque qumico. Feito isto, foi possvel gravar snap shots e resultados a respeito da
superfcie da amostra, as fases presentes em sua microestrutura e tambm os defeitos
decorrentes dos processos anteriores realizados na amostra.

Figura 10- Microscpio tico utilizado da marca Zeiss- AX10. Fonte:

https://www.zeiss.com/microscopy/int/products/light-microscopes/axio-vert-a1-for-materials.html.
3- RESULTADOS

3.1- ANLISE APS LIXAMENTO

Nota-se na microscopia da amostra que os

riscos apresentam-se paralelamente, caracterizando
que o lixamento foi feito de forma adequada.
Alm disto, notado pequenos defeitos
existentes tais como, por exemplo o de gotas que
secaram de forma incorreta, riscos mais grosseiros
que passam perpendicularmentes pelo desbaste
excessivo da pea pelo uso das lixas.

Figura 11- Amostra aps lixamento vista da seco transversal da amostra, 10x. Fonte: Acervo dos
alunos.

3.2- ANLISE APS POLIMENTO

A partir da imagem obtida, possivel

notar que existem pequenos riscos mais fracos
que aparecem ao fundo devido ainda ao
lixamento.
Quanto aos poros existentes, estes
foram provenientes de arrancamentos
causados pelo polimento. Apesar de sua
existencia, no causam problemas na
classificao e reconhecimento do material.

Figura 12- Amostra aps polimento vista da seo transversal da amostra, 10x. Fonte: Acervo dos alunos.
3.3- ANLISE APS ATAQUE QUMICO

3.3.1- SEO TRANSVERSAL

B)
A)

C)

D)

E)

Figura 13- Aps ataque quimico: a) 5x de aumento-200m; b) 10x de aumento-100m; c) 20x de aumento-
50m; d) 50x de aumento- 20m; e) 100x de aumento- 10m. Fonte: Acervo dos alunos.

A partir das imagens acima, conclui-se que h uma distribuio uniforme de fases. Podendo
notar tambm a variao dos tamanhos de gros. Reparando na imagem E), nota-se que a
fase colorida se apresenta constituda por lamelas, que atravs do uso de recursos didticos,
define esta fase colorida como Perlita. E sendo assim, a fase branca representa a Ferrita.
3.3.2- SEO LONGITUDINAL

Figura 14- face lateral aps ataque qumico, 20x- 50m. Fonte: Acervo dos alunos.

Figura 15- Face Lateral aps ataque qumico, 50x- 20m. Fonte: Acervo dos alunos.

Figura 16- Face lateral aps ataque qumico, 100x- 10m. Fonte: Acervo dos alunos.

A anlise da seo longitudinal permite avaliaes similares ao caso

transversal apresentando no entanto melhor preciso com relao aos contornos de
 gro e menor quantidade de reas desgastadas pelos processos anteriores.

De acordo com o livro de COLPAERT, H. entende-se que o uso de nital para um

ataque qumico, em produtos siderrgicos comuns, este no ataca as fases de ferrita
nem cementita, mas acaba delineando os seus contornos e colore a fase perlitica. Este
efeito sobre a perlita ocorre devido ao reagente atacar as linhas que fazem contato entre
as lamelas de cementita a ferrita. A rea da perlita se apresenta hachurada.

A luz incidente que atinge a pea tem reflexo em sua fase branca (alpha), mas
como citado a perlita apresenta diferentes cores. E as diferenas de cores nas fases
perlticas so explicadas devido s diferentes orientaes existentes, bem como
profundidades e densidades destas. Quando a luz entra em contato com as fases, esta
refletida em diversos ngulos com graus de interferncia diferentes, gerando cores
diferentes quando observadas microscopicamente.
4- IDENTIFICAO DO AO E FASES PRESENTES

Das microestruturas, que foram expostas no tpico 3, possvel concluir qual o ao

correspondente da amostra entregue, relacionando as porcentagens de cada fase com o
diagrama Ferro-Carbono, imagem 17. Sabendo-se que a amostra basicamente composta
por Ferro e Carbono.

Figura 17- Diagrama Ferro-Carbono. Fonte: CHIAVERINI, V. Aos e Ferros Fundidos, 7 . ed., So Paulo:
ABM, 2005.

O mtodo para se estimar as porcentagens, das fases nas reas

correspondentes da microestrutura, no presente trabalho foi via softwares de imagem,
para o caso, o Image J. Onde a imagem da microestrutura editada a fim deixar ela com
tons de cinza. Utilizando uma ferramenta do software como histograma adequada esta
lhe indica a proporo de cada cor em sua imagem.

Atravs deste mtodo, obteve-se a seguinte imagem:

 Figura 18- Face transversal com aumento de 20x com separao de fases por tons de preto e branco.
Fonte: Acervo dos alunos.

Com a ajuda do programa, estimou-se que a fase escura no software correspondia a

fase ferritica, e a fase clara a perlita. Em nmeros, percebe-se que a fase escura (ferrita)
aproximadamente 78,78%, e a fase clara (perlita) de 21,22% da microestrutura.

Para a determinao da porcentagem de carbono no ao, fez-se uso do diagrama de

equilbrio ferro-carbono, imagem 19; dando nfase para a regio que compreende os aos de
0 a 4% de carbono (uma vez que a microestrutura mais se assemelha a esta respectiva
porcentagem). Para tanto aplica-se a regra da alavanca, uma vez que sabe-se que acima da
1 tem-se respectivamente a relao entre Ferrita e Austenita fase da qual se origina a perlita
abaixo da linha 1 .
 Figura 19-Diagrama de equilbrio Fe-C com microestruturas. Fonte: COLPAERT, H., Metalografia dos
Produtos Siderrgicos Comuns, 3. ed. So Paulo, Edgard Blucher, 1974.

Calculo atravs da regra da alavanca:

% ( )
% = ( ) 100% % = 1
100

= 0, 77 %C, A = 0, 77 e B = 0, 02 segundo o diagrama. Realizando os calculos, conclui-

se que %~0,18. Com isto obteve-se o valor correspondente a um ao hipoeutetide
usado como amostra, sendo este um Ao 1018 segundo as normas da SAE-AISI.
 21

Figura 20- Microstrutura SAE - AISI 1018 como recebido para trabalho. Fonte: Md. Aminul Islam, Tahrim
Alam, Zoheir N. Farhat, Effect of microstructure on the erosion behavior of carbon steel.

Acima, imagem 20; foi apresentada uma microestrutura do ao AISI 1018 utilizado
em um trabalho cientifico, comprovando assim que as a microestrutura do presente relatrio
se assemelha muito afirmando ento que se trata mesmo desse ao.

Com relao as propriedades do ao da amostra, pode-se dizer que se trata de um

ao de baixo carbono, que oferece um bom equilbrio de dureza, fora e ductilidade. Exemplos
de aplicaes: utilizado para acessrios, placas de montagem e espaadores; usado em
processos de flexo, crimpagem e escorregamento, etc.

Figura 21- Tabela de propriedades mecnicas do AISI 1018. Fonte:

https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=6115, acessado 23/09 as 15:30.
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5- CONCLUSES E RECOMENDAES

Ao longo do desenvolvimento dessa anlise metalogrfica, o grupo tornou-se ciente de sua

importncia e ampla utilizao na rea de engenharia de materias. Aprendemos as etapas e
cuidados cruciais para obter uma amostra com o mnimo possvel de defeitos e imperfeies
gerados durante lixamento, polimento e ataque qumico realizando assim, uma anlise mais
precisa da microestrutura do material avaliado.
Conseguimos ao final de todos os processos, identificar a fases presentes bem como o teor
de carbono do ao escolido. Estes resultados foram respectivamente a presena de ferrita e
perlita, caracterizando devido a suas quantidades um ao AISI 1018.

Deve-se ater ainda nesse tipo de estudo a algumas variveis de processo. A eficcia e
rapidez nos processos de lixamento dependende da experincia do operdor bem como
sua maior capacidade de aplicao uniforme da fora no centro da pea, j que utilizou-se
uma mquina manual. Alm disso, sujeiras indesejaveis e falta de armazenamento correto
podem levar a alteraes na anlise.

Por fim, salienta-se alguns cuidados e recomendaes como a utilizao de trajes

adequados para o laboratrio como cala, jaleco,luvas, culos de proteo, evitando
possves acidentes e ferimentos. importante ainda resaltar que o armazenamento correto
da amostra , como j citado anteriormente, faz toda a diferena. Ele deve ocorrer em uma
cuba vcuo, na presena de silica gel para capturar a umidade e assim evitar a oxidao
da amostra.
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6- REFERNCIAS

AISI 1018 Mild/Low Carbon Steel. Disponvel em:

https://www.azom.com/article.aspx?ArticleID=6115. Acesso em: 23 de setembro 2017.

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